JP2009134432A - 電流源回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】バイポーラ素子の形成過程で、バイポーラ素子に格子欠陥等の不具合が生じても、安定的に基準電流を他の回路に供給することができる電流源回路を得ることを目的とする。
【解決手段】バンドギャップ電圧基準回路2,4を構成しているP型MOSFET14,24とカレントミラーを形成しているP型MOSFET5が、バンドギャップ電圧基準回路2,4を構成しているP型MOSFET14,24から出力される基準電流Iref1,Iref2を他の回路に供給する。
【選択図】図1
【解決手段】バンドギャップ電圧基準回路2,4を構成しているP型MOSFET14,24とカレントミラーを形成しているP型MOSFET5が、バンドギャップ電圧基準回路2,4を構成しているP型MOSFET14,24から出力される基準電流Iref1,Iref2を他の回路に供給する。
【選択図】図1
Description
この発明は、例えば、衛星通信、地上波マイクロ波通信、移動体通信などに使用されるIC上で利用される電流源回路に関するものである。
一般に、無線通信等で用いられるICにおいては、安定な動作を実現するために基準電流Irefを必要とする。
特に、Si基板上に形成するICでは、シリコンSiのバンドギャップ電圧を利用するバンドギャップ電圧基準回路が通常用いられる。
特に、Si基板上に形成するICでは、シリコンSiのバンドギャップ電圧を利用するバンドギャップ電圧基準回路が通常用いられる。
バンドギャップ電圧基準回路を用いている電流源回路は、例えば、以下の非特許文献1に開示されている。
なお、IC上に電流源回路を形成する一つの過程、即ち、SiGeプロセスにおけるバイポーラ素子の形成過程において、Si基板に対するゲルマニウムGeの打ち込みが行われる。
この過程において、バイポーラ素子に格子欠陥が生じることがあり、格子欠陥が生じた場合には、バイポーラ素子のコレクタ・エミッタ間にリーク電流が発生する。
なお、IC上に電流源回路を形成する一つの過程、即ち、SiGeプロセスにおけるバイポーラ素子の形成過程において、Si基板に対するゲルマニウムGeの打ち込みが行われる。
この過程において、バイポーラ素子に格子欠陥が生じることがあり、格子欠陥が生じた場合には、バイポーラ素子のコレクタ・エミッタ間にリーク電流が発生する。
「超LSIのためのアナログ集積回路技術 上」1990年11月30日 株式会社培風館発行 第264頁
従来の電流源回路は以上のように構成されているので、SiGeプロセスにおけるバイポーラ素子の形成過程において、バイポーラ素子に格子欠陥が生じると、バイポーラ素子のコレクタ・エミッタ間にリーク電流が発生して正常に動作しなくなり、基準電流Irefを他の回路に供給することができなくなるなどの課題があった。
この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、バイポーラ素子の形成過程で、バイポーラ素子に格子欠陥等の不具合が生じても、安定的に基準電流を他の回路に供給することができる電流源回路を得ることを目的とする。
この発明に係る電流源回路は、電流供給用トランジスタが、複数のバンドギャップ電圧基準回路を構成しているトランジスタから出力される基準電流を他の回路に供給するようにしたものである。
この発明によれば、電流供給用トランジスタが、複数のバンドギャップ電圧基準回路を構成しているトランジスタから出力される基準電流を他の回路に供給するように構成したので、いくつかのバンドギャップ電圧基準回路内のバイポーラ素子に格子欠陥等の不具合が生じても、安定的に基準電流を他の回路に供給することができる効果がある。
実施の形態1.
図1はこの発明の実施の形態1による電流源回路を示す構成図であり、図において、起動回路1は所定の閾値電圧Vth以上の電圧Vkをバンドギャップ電圧基準回路2に印加して、バンドギャップ電圧基準回路2から基準電流Iref1が出力される状態に設定する。
バンドギャップ電圧基準回路2はNPNバイポーラトランジスタ11,12、P型MOSFET13,14及び基準抵抗15から構成されており、起動回路1から閾値電圧Vth以上の電圧Vkが印加されたとき基準電流Iref1を出力する。
図1はこの発明の実施の形態1による電流源回路を示す構成図であり、図において、起動回路1は所定の閾値電圧Vth以上の電圧Vkをバンドギャップ電圧基準回路2に印加して、バンドギャップ電圧基準回路2から基準電流Iref1が出力される状態に設定する。
バンドギャップ電圧基準回路2はNPNバイポーラトランジスタ11,12、P型MOSFET13,14及び基準抵抗15から構成されており、起動回路1から閾値電圧Vth以上の電圧Vkが印加されたとき基準電流Iref1を出力する。
起動回路3は所定の閾値電圧Vth以上の電圧Vkをバンドギャップ電圧基準回路4に印加して、バンドギャップ電圧基準回路4から基準電流Iref2が出力される状態に設定する。
バンドギャップ電圧基準回路4はNPNバイポーラトランジスタ21,22、P型MOSFET23,24及び基準抵抗25から構成されており、起動回路3から閾値電圧Vth以上の電圧Vkが印加されたとき基準電流Iref2を出力する。
バンドギャップ電圧基準回路4はNPNバイポーラトランジスタ21,22、P型MOSFET23,24及び基準抵抗25から構成されており、起動回路3から閾値電圧Vth以上の電圧Vkが印加されたとき基準電流Iref2を出力する。
P型MOSFET5は電流供給用トランジスタであり、バンドギャップ電圧基準回路2,4を構成しているP型MOSFET14,24とそれぞれカレントミラーを形成しており、P型MOSFET14,24から出力される基準電流Iref1,Iref2を他の回路に供給する。
次に動作について説明する。
この実施の形態1では、バンドギャップ電圧基準回路2におけるNPNバイポーラトランジスタ11とNPNバイポーラトランジスタ12のサイズ比が1:2であり、また、バンドギャップ電圧基準回路4におけるNPNバイポーラトランジスタ21とNPNバイポーラトランジスタ22のサイズ比が1:2であるとする。
また、バンドギャップ電圧基準回路2,4におけるP型MOSFET13,14,23,24及びP型MOSFET5のサイズが同一であるとする。
この実施の形態1では、バンドギャップ電圧基準回路2におけるNPNバイポーラトランジスタ11とNPNバイポーラトランジスタ12のサイズ比が1:2であり、また、バンドギャップ電圧基準回路4におけるNPNバイポーラトランジスタ21とNPNバイポーラトランジスタ22のサイズ比が1:2であるとする。
また、バンドギャップ電圧基準回路2,4におけるP型MOSFET13,14,23,24及びP型MOSFET5のサイズが同一であるとする。
このとき、起動回路1,3が所定の閾値電圧Vth以上の電圧Vkをバンドギャップ電圧基準回路2,4に印加すると、NPNバイポーラトランジスタ11,21を流れるコレクタ電流Ic1と、NPNバイポーラトランジスタ12,22を流れるコレクタ電流Ic2とは、同じエミッタ面積を有するP型MOSFET13,14からなる定電流源回路と、P型MOSFET23,24からなる定電流源回路とによって、互いに等しい値になる。
したがって、NPNバイポーラトランジスタ12,22のエミッタ電位Vxは、下記の式(1)のように表され、コレクタ電流Ic2は、下記の式(2)のように表される。
Vx=Ic2・R
=VT・ln(Ic1・Is2/Ic2・Is1)
=VT・ln2 (1)
Ic2=(VT/R)ln2 (2)
ただし、Rは基準抵抗15,25の抵抗値、VTは熱電圧、Is1はNPNバイポーラトランジスタ11,21の飽和電流、Is2はNPNバイポーラトランジスタ12,22の飽和電流である。
したがって、NPNバイポーラトランジスタ12,22のエミッタ電位Vxは、下記の式(1)のように表され、コレクタ電流Ic2は、下記の式(2)のように表される。
Vx=Ic2・R
=VT・ln(Ic1・Is2/Ic2・Is1)
=VT・ln2 (1)
Ic2=(VT/R)ln2 (2)
ただし、Rは基準抵抗15,25の抵抗値、VTは熱電圧、Is1はNPNバイポーラトランジスタ11,21の飽和電流、Is2はNPNバイポーラトランジスタ12,22の飽和電流である。
バンドギャップ電圧基準回路2,4の安定動作点は2つある。1つは電流が流れない状態であり、もう1つは、式(2)のコレクタ電流Ic2が流れる状態である。
コレクタ電流Ic2が流れる場合には、温度にのみ比例する安定な基準電流を発生することが可能である。
なお、上記の例では、P型MOSFET14,24とP型MOSFET5のサイズが同一であるので、コレクタ電流Ic2と同じ電流値の基準電流Iref1,Iref2がP型MOSFET5に出力される。
Iref1=Iref2=Ic2 (3)
コレクタ電流Ic2が流れる場合には、温度にのみ比例する安定な基準電流を発生することが可能である。
なお、上記の例では、P型MOSFET14,24とP型MOSFET5のサイズが同一であるので、コレクタ電流Ic2と同じ電流値の基準電流Iref1,Iref2がP型MOSFET5に出力される。
Iref1=Iref2=Ic2 (3)
P型MOSFET5は、バンドギャップ電圧基準回路2のP型MOSFET14から基準電流Iref1を受け、バンドギャップ電圧基準回路4のP型MOSFET24から基準電流Iref2を受けると、その基準電流Iref1,Iref2の和を他の回路に供給する。
ただし、バンドギャップ電圧基準回路2を構成しているバイポーラ素子に格子欠陥が生じてリーク電流が発生すると、バンドギャップ電圧基準回路2は動作不良となり、バンドギャップ電圧基準回路2のP型MOSFET14から基準電流Iref1が出力されなくなる。
この場合、P型MOSFET5は、バンドギャップ電圧基準回路4のP型MOSFET24から出力された基準電流Iref2だけを他の回路に供給することになるが、他の回路は継続して基準電流の供給を受けることができる。
なお、バンドギャップ電圧基準回路4を構成しているバイポーラ素子に格子欠陥が生じてリーク電流が発生した場合も同様であり、他の回路は基準電流Iref1の供給を受けることができる。
この場合、P型MOSFET5は、バンドギャップ電圧基準回路4のP型MOSFET24から出力された基準電流Iref2だけを他の回路に供給することになるが、他の回路は継続して基準電流の供給を受けることができる。
なお、バンドギャップ電圧基準回路4を構成しているバイポーラ素子に格子欠陥が生じてリーク電流が発生した場合も同様であり、他の回路は基準電流Iref1の供給を受けることができる。
以上で明らかなように、この実施の形態1によれば、バンドギャップ電圧基準回路2,4を構成しているP型MOSFET14,24とカレントミラーを形成しているP型MOSFET5が、バンドギャップ電圧基準回路2,4を構成しているP型MOSFET14,24から出力される基準電流Iref1,Iref2を他の回路に供給するように構成したので、バンドギャップ電圧基準回路2又はバンドギャップ電圧基準回路4内のバイポーラ素子に格子欠陥等の不具合が生じても、安定的に基準電流を他の回路に供給することができる効果を奏する。
なお、この実施の形態1では、2個のバンドギャップ電圧基準回路2,4を実装しているものについて示したが、N個(Nは3以上の整数)のバンドギャップ電圧基準回路を実装するようにしてもよい。
この場合、1個のバンドギャップ電圧基準回路の不良率がpであるとすると、N個の場合の不良率はp^Nとなり、不良率を低減することができる。
この場合、1個のバンドギャップ電圧基準回路の不良率がpであるとすると、N個の場合の不良率はp^Nとなり、不良率を低減することができる。
また、この実施の形態1では、P型MOSFET5に流れる電流を諸回路の基準電流とする回路に関して述べたが、バンドギャップ電圧基準回路2,4から出力される電流を電流源とする回路であれば、これに限るものではない。
実施の形態2.
上記実施の形態1では、バンドギャップ電圧基準回路2がNPNバイポーラトランジスタ11,12、P型MOSFET13,14及び基準抵抗15から構成され、バンドギャップ電圧基準回路4がNPNバイポーラトランジスタ21,22、P型MOSFET23,24及び基準抵抗25から構成されているものについて示したが、バンドギャップ電圧基準回路2,4の回路構成は、これに限るものではない。
図2はバンドギャップ電圧基準回路2,4の他の回路構成の一例を示している。
上記実施の形態1では、バンドギャップ電圧基準回路2がNPNバイポーラトランジスタ11,12、P型MOSFET13,14及び基準抵抗15から構成され、バンドギャップ電圧基準回路4がNPNバイポーラトランジスタ21,22、P型MOSFET23,24及び基準抵抗25から構成されているものについて示したが、バンドギャップ電圧基準回路2,4の回路構成は、これに限るものではない。
図2はバンドギャップ電圧基準回路2,4の他の回路構成の一例を示している。
図2の例では、バンドギャップ電圧基準回路2はNPNバイポーラトランジスタ31〜34、P型MOSFET35,36及び基準抵抗37から構成されており、起動回路1から閾値電圧Vth以上の電圧Vkが印加されたとき基準電流Iref1を出力する。
また、バンドギャップ電圧基準回路4はNPNバイポーラトランジスタ41〜44、P型MOSFET45,46及び基準抵抗47から構成されており、起動回路2から閾値電圧Vth以上の電圧Vkが印加されたとき基準電流Iref2を出力する。
また、バンドギャップ電圧基準回路4はNPNバイポーラトランジスタ41〜44、P型MOSFET45,46及び基準抵抗47から構成されており、起動回路2から閾値電圧Vth以上の電圧Vkが印加されたとき基準電流Iref2を出力する。
この実施の形態2では、バンドギャップ電圧基準回路2におけるNPNバイポーラトランジスタ31とNPNバイポーラトランジスタ32のサイズ比が1:2であり、NPNバイポーラトランジスタ33とNPNバイポーラトランジスタ34のサイズ比が1:3であるとし、また、バンドギャップ電圧基準回路4におけるNPNバイポーラトランジスタ41とNPNバイポーラトランジスタ42のサイズ比が1:2であり、NPNバイポーラトランジスタ43とNPNバイポーラトランジスタ44のサイズ比が1:3であるとする。
また、バンドギャップ電圧基準回路2,4におけるP型MOSFET35,36,45,46及びP型MOSFET5のサイズが同一であるとする。
また、バンドギャップ電圧基準回路2,4におけるP型MOSFET35,36,45,46及びP型MOSFET5のサイズが同一であるとする。
このとき、起動回路1,3が所定の閾値電圧Vht以上の電圧Vkをバンドギャップ電圧基準回路2,4に印加すると、NPNバイポーラトランジスタ31,41を流れるコレクタ電流Ic3と、NPNバイポーラトランジスタ32,42を流れるコレクタ電流Ic4と、NPNバイポーラトランジスタ33,43を流れるコレクタ電流Ic5と、NPNバイポーラトランジスタ34,44を流れるコレクタ電流Ic6とは、同じエミッタ面積を有するP型MOSFET35,36からなる定電流源回路と、P型MOSFET45,46からなる定電流源回路とによって、互いに等しい値になる。
したがって、NPNバイポーラトランジスタ32,42のエミッタ電位Vxは、下記の式(4)のように表され、コレクタ電流Ic4は、下記の式(5)のように表される。
Vx=Ic4・R
=VT・ln(Ic1・Is2・Ic4・Is3/Ic2・Is1・Ic3・Is4)
=VT・ln6 (4)
Ic4=(VT/R)ln6 (5)
ただし、Rは基準抵抗37,47の抵抗値、VTは熱電圧、Is1はNPNバイポーラトランジスタ31,41の飽和電流、Is2はNPNバイポーラトランジスタ32,42の飽和電流、Is3はNPNバイポーラトランジスタ33,43の飽和電流、Is4はNPNバイポーラトランジスタ34,44の飽和電流である。
したがって、NPNバイポーラトランジスタ32,42のエミッタ電位Vxは、下記の式(4)のように表され、コレクタ電流Ic4は、下記の式(5)のように表される。
Vx=Ic4・R
=VT・ln(Ic1・Is2・Ic4・Is3/Ic2・Is1・Ic3・Is4)
=VT・ln6 (4)
Ic4=(VT/R)ln6 (5)
ただし、Rは基準抵抗37,47の抵抗値、VTは熱電圧、Is1はNPNバイポーラトランジスタ31,41の飽和電流、Is2はNPNバイポーラトランジスタ32,42の飽和電流、Is3はNPNバイポーラトランジスタ33,43の飽和電流、Is4はNPNバイポーラトランジスタ34,44の飽和電流である。
バンドギャップ電圧基準回路2,4の安定動作点は2つある。1つは電流が流れない状態であり、もう1つは、式(5)のコレクタ電流Ic4が流れる状態である。
コレクタ電流Ic4が流れる場合には、温度にのみ比例する安定な基準電流を発生することが可能である。
なお、上記の例では、P型MOSFET36,46とP型MOSFET5のサイズが同一であるので、コレクタ電流Ic4と同じ電流値の基準電流Iref1,Iref2がP型MOSFET5に出力される。
Iref1=Iref2=Ic4 (6)
コレクタ電流Ic4が流れる場合には、温度にのみ比例する安定な基準電流を発生することが可能である。
なお、上記の例では、P型MOSFET36,46とP型MOSFET5のサイズが同一であるので、コレクタ電流Ic4と同じ電流値の基準電流Iref1,Iref2がP型MOSFET5に出力される。
Iref1=Iref2=Ic4 (6)
P型MOSFET5は、バンドギャップ電圧基準回路2のP型MOSFET36から基準電流Iref1を受け、バンドギャップ電圧基準回路4のP型MOSFET46から基準電流Iref2を受けると、その基準電流Iref1,Iref2の和を他の回路に供給する。
ただし、バンドギャップ電圧基準回路2を構成しているバイポーラ素子に格子欠陥が生じてリーク電流が発生すると、バンドギャップ電圧基準回路2は動作不良となり、バンドギャップ電圧基準回路2のP型MOSFET36から基準電流Iref1が出力されなくなる。
この場合、P型MOSFET5は、バンドギャップ電圧基準回路4のP型MOSFET46から出力された基準電流Iref2だけを他の回路に供給することになるが、他の回路は継続して基準電流の供給を受けることができる。
なお、バンドギャップ電圧基準回路4を構成しているバイポーラ素子に格子欠陥が生じてリーク電流が発生した場合も同様であり、他の回路は基準電流Iref1の供給を受けることができる。
この場合、P型MOSFET5は、バンドギャップ電圧基準回路4のP型MOSFET46から出力された基準電流Iref2だけを他の回路に供給することになるが、他の回路は継続して基準電流の供給を受けることができる。
なお、バンドギャップ電圧基準回路4を構成しているバイポーラ素子に格子欠陥が生じてリーク電流が発生した場合も同様であり、他の回路は基準電流Iref1の供給を受けることができる。
実施の形態3.
図3はこの発明の実施の形態3による電流源回路を示す構成図であり、図において、図1及び図2と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
制御回路6は動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別して、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路だけを起動する処理を実施する。
図3はこの発明の実施の形態3による電流源回路を示す構成図であり、図において、図1及び図2と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
制御回路6は動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別して、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路だけを起動する処理を実施する。
図4はこの発明の実施の形態3による電流源回路の制御回路6を示す構成図であり、図において、入力端子51はP型MOSFET5のゲート端子と接続されている。
P型MOSFET52はP型MOSFET5と並列に接続され、ドレイン端子が電流/電圧変換回路53と接続されており、バンドギャップ電圧基準回路2から出力された基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上であればオン状態になり、所定のスレッショルド値未満であればオフ状態になる。
P型MOSFET52はP型MOSFET5と並列に接続され、ドレイン端子が電流/電圧変換回路53と接続されており、バンドギャップ電圧基準回路2から出力された基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上であればオン状態になり、所定のスレッショルド値未満であればオフ状態になる。
電流/電圧変換回路53はN型MOSFET54,55及び抵抗56から構成されており、P型MOSFET52がオン状態になると、Hレベルの信号をインバータ回路57に出力し、P型MOSFET52がオフ状態になると、Lレベルの信号をインバータ回路57に出力する。
N型MOSFET54はN型MOSFET55とカレントミラーを形成している。
抵抗56はN型MOSFET54を流れる電流が、例えば、P型MOSFET5に流れる所望の電流の半分以下になうような抵抗値に設定されている。
インバータ回路57は電流/電圧変換回路53の出力信号がHレベルの信号であれば、出力端子58からバンドギャップ電圧基準回路4の停止を指示するLレベルの制御信号を起動回路3に出力し、電流/電圧変換回路53の出力信号がLレベルの信号であれば、出力端子58からバンドギャップ電圧基準回路4の起動を指示するHレベルの制御信号を起動回路3に出力する。
N型MOSFET54はN型MOSFET55とカレントミラーを形成している。
抵抗56はN型MOSFET54を流れる電流が、例えば、P型MOSFET5に流れる所望の電流の半分以下になうような抵抗値に設定されている。
インバータ回路57は電流/電圧変換回路53の出力信号がHレベルの信号であれば、出力端子58からバンドギャップ電圧基準回路4の停止を指示するLレベルの制御信号を起動回路3に出力し、電流/電圧変換回路53の出力信号がLレベルの信号であれば、出力端子58からバンドギャップ電圧基準回路4の起動を指示するHレベルの制御信号を起動回路3に出力する。
次に動作について説明する。
上記実施の形態1では、バンドギャップ電圧基準回路2,4の双方の動作が正常であれば、P型MOSFET5からバンドギャップ電圧基準回路2,4から出力される基準電流Iref1,Iref2の和が他の回路に供給されるものについて示したが、P型MOSFET5がバンドギャップ電圧基準回路2から出力される基準電流Iref1、または、バンドギャップ電圧基準回路4から出力される基準電流Iref2のいずれか一方を他の回路に供給するようにしてもよい。
具体的には、以下の通りである。
上記実施の形態1では、バンドギャップ電圧基準回路2,4の双方の動作が正常であれば、P型MOSFET5からバンドギャップ電圧基準回路2,4から出力される基準電流Iref1,Iref2の和が他の回路に供給されるものについて示したが、P型MOSFET5がバンドギャップ電圧基準回路2から出力される基準電流Iref1、または、バンドギャップ電圧基準回路4から出力される基準電流Iref2のいずれか一方を他の回路に供給するようにしてもよい。
具体的には、以下の通りである。
起動回路1,3は、上記実施の形態1と同様に、所定の閾値電圧Vth以上の電圧Vkをバンドギャップ電圧基準回路2,4に印加して、バンドギャップ電圧基準回路2,4から基準電流Iref1,Iref2が出力されるようにする。
制御回路6は、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であるか否かを判別し、その判別結果に応じた制御信号を起動回路3に出力する。
即ち、制御回路6のP型MOSFET52は、バンドギャップ電圧基準回路2から出力された基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上であればオン状態になり、所定のスレッショルド値未満であればオフ状態になる。
したがって、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であれば、基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上になるため、P型MOSFET52はオン状態になる。
一方、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でなければ、基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値未満になるため、P型MOSFET52はオフ状態になる。
制御回路6は、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であるか否かを判別し、その判別結果に応じた制御信号を起動回路3に出力する。
即ち、制御回路6のP型MOSFET52は、バンドギャップ電圧基準回路2から出力された基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上であればオン状態になり、所定のスレッショルド値未満であればオフ状態になる。
したがって、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であれば、基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上になるため、P型MOSFET52はオン状態になる。
一方、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でなければ、基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値未満になるため、P型MOSFET52はオフ状態になる。
制御回路6の電流/電圧変換回路53は、P型MOSFET52がオン状態(バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常)になると、Hレベルの信号をインバータ回路57に出力し、P型MOSFET52がオフ状態(バンドギャップ電圧基準回路2の動作が異常)になると、Lレベルの信号をインバータ回路57に出力する。
制御回路6のインバータ回路57は、電流/電圧変換回路53の出力信号がHレベルの信号であれば、出力端子58からバンドギャップ電圧基準回路4の停止を指示するLレベルの制御信号を起動回路3に出力する。
一方、電流/電圧変換回路53の出力信号がLレベルの信号であれば、出力端子58からバンドギャップ電圧基準回路4の起動を指示するHレベルの制御信号を起動回路3に出力する。
制御回路6のインバータ回路57は、電流/電圧変換回路53の出力信号がHレベルの信号であれば、出力端子58からバンドギャップ電圧基準回路4の停止を指示するLレベルの制御信号を起動回路3に出力する。
一方、電流/電圧変換回路53の出力信号がLレベルの信号であれば、出力端子58からバンドギャップ電圧基準回路4の起動を指示するHレベルの制御信号を起動回路3に出力する。
起動回路3は、制御回路6のインバータ回路57からバンドギャップ電圧基準回路4の停止を指示するLレベルの制御信号を受けると、バンドギャップ電圧基準回路4に印加している電圧Vkを所定の閾値電圧Vth未満にして、バンドギャップ電圧基準回路4を停止させる。
これにより、バンドギャップ電圧基準回路4から基準電流Iref2がP型MOSFET5に出力されなくなり、正常に動作しているバンドギャップ電圧基準回路2から出力される基準電流Iref1のみが、P型MOSFET5から他の回路に供給されるようになる。
これにより、バンドギャップ電圧基準回路4から基準電流Iref2がP型MOSFET5に出力されなくなり、正常に動作しているバンドギャップ電圧基準回路2から出力される基準電流Iref1のみが、P型MOSFET5から他の回路に供給されるようになる。
起動回路3は、制御回路6のインバータ回路57からバンドギャップ電圧基準回路4の起動を指示するHレベルの制御信号を受けると、バンドギャップ電圧基準回路4に印加している電圧Vkを引き続き所定の閾値電圧Vth以上にして、バンドギャップ電圧基準回路4の動作を継続させる。
これにより、正常に動作しているバンドギャップ電圧基準回路4から基準電流Iref2がP型MOSFET5に出力され、P型MOSFET5から基準電流Iref2のみが他の回路に供給されるようになる。
これにより、正常に動作しているバンドギャップ電圧基準回路4から基準電流Iref2がP型MOSFET5に出力され、P型MOSFET5から基準電流Iref2のみが他の回路に供給されるようになる。
なお、この実施の形態3では、2個のバンドギャップ電圧基準回路2,4を実装しているものについて示したが、N個(Nは3以上の整数)のバンドギャップ電圧基準回路を実装して、制御回路6が、動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別し、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路だけを起動するようにしてもよい。
また、制御回路6の回路構成は図4の構成に限るものではなく、別の回路で構成してもよいことは言うまでもない。
また、制御回路6の回路構成は図4の構成に限るものではなく、別の回路で構成してもよいことは言うまでもない。
以上で明らかなように、この実施の形態3によれば、制御回路6が動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別して、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路だけを起動するように構成したので、常に同じ値の基準電流を他の回路に供給することができる効果を奏する。
実施の形態4.
図5はこの発明の実施の形態4による電流源回路を示す構成図であり、図において、図3と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
制御回路7は動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別し、スイッチ8,9の中で、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路に接続されているスイッチだけを投入する処理を実施する。
スイッチ8はバンドギャップ電圧基準回路2を構成しているP型MOSFET14(または、P型MOSFET36)とP型MOSFET5の間に挿入されている。
スイッチ9はバンドギャップ電圧基準回路4を構成しているP型MOSFET24(または、P型MOSFET46)とP型MOSFET5の間に挿入されている。
なお、スイッチ8,9としては、例えば、PNPバイポーラトランジスタやNPNバイポーラトランジスタなどを使用することができる。
図5はこの発明の実施の形態4による電流源回路を示す構成図であり、図において、図3と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
制御回路7は動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別し、スイッチ8,9の中で、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路に接続されているスイッチだけを投入する処理を実施する。
スイッチ8はバンドギャップ電圧基準回路2を構成しているP型MOSFET14(または、P型MOSFET36)とP型MOSFET5の間に挿入されている。
スイッチ9はバンドギャップ電圧基準回路4を構成しているP型MOSFET24(または、P型MOSFET46)とP型MOSFET5の間に挿入されている。
なお、スイッチ8,9としては、例えば、PNPバイポーラトランジスタやNPNバイポーラトランジスタなどを使用することができる。
図6はこの発明の実施の形態4による電流源回路の制御回路7を示す構成図であり、図において、図4と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
図6の例では、出力端子58からスイッチ9を制御する制御信号が出力され、出力端子59からスイッチ8を制御する制御信号が出力される。
図6の例では、出力端子58からスイッチ9を制御する制御信号が出力され、出力端子59からスイッチ8を制御する制御信号が出力される。
次に動作について説明する。
起動回路1,3は、上記実施の形態1と同様に、所定の閾値電圧Vth以上の電圧Vkをバンドギャップ電圧基準回路2,4に印加して、バンドギャップ電圧基準回路2,4から基準電流Iref1,Iref2が出力されるようにする。
起動回路1,3は、上記実施の形態1と同様に、所定の閾値電圧Vth以上の電圧Vkをバンドギャップ電圧基準回路2,4に印加して、バンドギャップ電圧基準回路2,4から基準電流Iref1,Iref2が出力されるようにする。
制御回路7は、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であるか否かを判別し、その判別結果に応じた制御信号をスイッチ8,9に出力する。
即ち、制御回路7のP型MOSFET52は、バンドギャップ電圧基準回路2から出力された基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上であればオン状態になり、所定のスレッショルド値未満であればオフ状態になる。
したがって、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であれば、基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上になるため、P型MOSFET52はオン状態になる。
一方、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でなければ、基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値未満になるため、P型MOSFET52はオフ状態になる。
即ち、制御回路7のP型MOSFET52は、バンドギャップ電圧基準回路2から出力された基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上であればオン状態になり、所定のスレッショルド値未満であればオフ状態になる。
したがって、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であれば、基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上になるため、P型MOSFET52はオン状態になる。
一方、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でなければ、基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値未満になるため、P型MOSFET52はオフ状態になる。
制御回路7の電流/電圧変換回路53は、P型MOSFET52がオン状態(バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常)になると、Hレベルの信号をインバータ回路57及び出力端子59に出力し、P型MOSFET52がオフ状態(バンドギャップ電圧基準回路2の動作が異常)になると、Lレベルの信号をインバータ回路57及び出力端子59に出力する。
制御回路7のインバータ回路57は、電流/電圧変換回路53の出力信号がHレベルの信号であれば、出力端子58から非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号をスイッチ9に出力する。
このとき、出力端子59からは、投入(オン)を指示するHレベルの制御信号がスイッチ8に出力される。
制御回路7のインバータ回路57は、電流/電圧変換回路53の出力信号がHレベルの信号であれば、出力端子58から非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号をスイッチ9に出力する。
このとき、出力端子59からは、投入(オン)を指示するHレベルの制御信号がスイッチ8に出力される。
制御回路7のインバータ回路57は、電流/電圧変換回路53の出力信号がLレベルの信号であれば、出力端子58から投入(オン)を指示するHレベルの制御信号をスイッチ9に出力する。
このとき、出力端子59からは、非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号がスイッチ8に出力される。
このとき、出力端子59からは、非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号がスイッチ8に出力される。
スイッチ8は、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であるために、制御回路7から投入(オン)を指示するHレベルの制御信号を受けるとオン状態になり、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でないために、制御回路7から非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号を受けるとオフ状態になる。
スイッチ9は、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であるために、制御回路7から非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号を受けるとオフ状態になり、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でないために、制御回路7から投入(オン)を指示するHレベルの制御信号を受けるとオン状態になる。
スイッチ9は、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であるために、制御回路7から非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号を受けるとオフ状態になり、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でないために、制御回路7から投入(オン)を指示するHレベルの制御信号を受けるとオン状態になる。
これにより、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であれば、バンドギャップ電圧基準回路2から出力された基準電流Iref1のみがP型MOSFET5に出力されて、P型MOSFET5から基準電流Iref1のみが他の回路に供給されるようになる。
一方、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でなければ、バンドギャップ電圧基準回路4から出力された基準電流Iref2のみがP型MOSFET5に出力されて、P型MOSFET5から基準電流Iref2のみが他の回路に供給されるようになる。
一方、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でなければ、バンドギャップ電圧基準回路4から出力された基準電流Iref2のみがP型MOSFET5に出力されて、P型MOSFET5から基準電流Iref2のみが他の回路に供給されるようになる。
なお、この実施の形態4では、2個のバンドギャップ電圧基準回路2,4を実装しているものについて示したが、N個(Nは3以上の整数)のバンドギャップ電圧基準回路を実装して、制御回路7が、動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別し、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路に接続されているスイッチだけを投入するようにしてもよい。
また、制御回路7の回路構成は図6の構成に限るものではなく、別の回路で構成してもよいことは言うまでもない。
また、制御回路7の回路構成は図6の構成に限るものではなく、別の回路で構成してもよいことは言うまでもない。
以上で明らかなように、この実施の形態4によれば、制御回路7が動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別して、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路に接続されているスイッチだけを投入するように構成したので、常に同じ値の基準電流を他の回路に供給することができる効果を奏する。
実施の形態5.
図7はこの発明の実施の形態5による電流源回路を示す構成図であり、図において、図5と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
制御回路10は図3の制御回路6の機能と、図5の制御回路7の機能とを有している回路である。即ち、制御回路10は動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別して、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路だけを起動するとともに、上記バンドギャップ電圧基準回路に接続されているスイッチだけを投入する処理を実施する。
なお、制御回路10の回路構成は、図5の制御回路7の回路構成と同じであり(図6を参照)、出力端子58から起動回路3及びスイッチ9を制御する制御信号が出力され、出力端子59からスイッチ8を制御する制御信号が出力される。
図7はこの発明の実施の形態5による電流源回路を示す構成図であり、図において、図5と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
制御回路10は図3の制御回路6の機能と、図5の制御回路7の機能とを有している回路である。即ち、制御回路10は動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別して、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路だけを起動するとともに、上記バンドギャップ電圧基準回路に接続されているスイッチだけを投入する処理を実施する。
なお、制御回路10の回路構成は、図5の制御回路7の回路構成と同じであり(図6を参照)、出力端子58から起動回路3及びスイッチ9を制御する制御信号が出力され、出力端子59からスイッチ8を制御する制御信号が出力される。
次に動作について説明する。
起動回路1,3は、上記実施の形態1と同様に、所定の閾値電圧Vth以上の電圧Vkをバンドギャップ電圧基準回路2,4に印加して、バンドギャップ電圧基準回路2,4から基準電流Iref1,Iref2が出力されるようにする。
起動回路1,3は、上記実施の形態1と同様に、所定の閾値電圧Vth以上の電圧Vkをバンドギャップ電圧基準回路2,4に印加して、バンドギャップ電圧基準回路2,4から基準電流Iref1,Iref2が出力されるようにする。
制御回路10は、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であるか否かを判別し、その判別結果に応じた制御信号を起動回路3及びスイッチ8,9に出力する。
即ち、制御回路10のP型MOSFET52は、バンドギャップ電圧基準回路2から出力された基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上であればオン状態になり、所定のスレッショルド値未満であればオフ状態になる。
したがって、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であれば、基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上になるため、P型MOSFET52はオン状態になる。
一方、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でなければ、基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値未満になるため、P型MOSFET52はオフ状態になる。
即ち、制御回路10のP型MOSFET52は、バンドギャップ電圧基準回路2から出力された基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上であればオン状態になり、所定のスレッショルド値未満であればオフ状態になる。
したがって、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であれば、基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値以上になるため、P型MOSFET52はオン状態になる。
一方、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でなければ、基準電流Iref1の電流値が所定のスレッショルド値未満になるため、P型MOSFET52はオフ状態になる。
制御回路10の電流/電圧変換回路53は、P型MOSFET52がオン状態(バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常)になると、Hレベルの信号をインバータ回路57及び出力端子59に出力し、P型MOSFET52がオフ状態(バンドギャップ電圧基準回路2の動作が異常)になると、Lレベルの信号をインバータ回路57及び出力端子59に出力する。
制御回路10のインバータ回路57は、電流/電圧変換回路53の出力信号がHレベルの信号であれば、出力端子58からバンドギャップ電圧基準回路4の停止を指示するLレベルの制御信号を起動回路3に出力するとともに、非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号をスイッチ9に出力する。
このとき、出力端子59からは、投入(オン)を指示するHレベルの制御信号がスイッチ8に出力される。
制御回路10のインバータ回路57は、電流/電圧変換回路53の出力信号がHレベルの信号であれば、出力端子58からバンドギャップ電圧基準回路4の停止を指示するLレベルの制御信号を起動回路3に出力するとともに、非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号をスイッチ9に出力する。
このとき、出力端子59からは、投入(オン)を指示するHレベルの制御信号がスイッチ8に出力される。
制御回路10のインバータ回路57は、電流/電圧変換回路53の出力信号がLレベルの信号であれば、出力端子58からバンドギャップ電圧基準回路4の起動を指示するHレベルの制御信号を起動回路3に出力するとともに、投入(オン)を指示するHレベルの制御信号をスイッチ9に出力する。
このとき、出力端子59からは、非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号がスイッチ8に出力される。
このとき、出力端子59からは、非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号がスイッチ8に出力される。
起動回路3は、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であるために、制御回路10からバンドギャップ電圧基準回路4の停止を指示するLレベルの制御信号を受けると、バンドギャップ電圧基準回路4に印加している電圧Vkを所定の閾値電圧Vth未満にして、バンドギャップ電圧基準回路4を停止させる。
起動回路3は、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であるために、制御回路10からバンドギャップ電圧基準回路4の起動を指示するHレベルの制御信号を受けると、バンドギャップ電圧基準回路4に印加している電圧Vkを引き続き所定の閾値電圧Vth以上にして、バンドギャップ電圧基準回路4の動作を継続させる。
起動回路3は、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であるために、制御回路10からバンドギャップ電圧基準回路4の起動を指示するHレベルの制御信号を受けると、バンドギャップ電圧基準回路4に印加している電圧Vkを引き続き所定の閾値電圧Vth以上にして、バンドギャップ電圧基準回路4の動作を継続させる。
スイッチ8は、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であるために、制御回路10から投入(オン)を指示するHレベルの制御信号を受けるとオン状態になり、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でないために、制御回路10から非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号を受けるとオフ状態になる。
スイッチ9は、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であるために、制御回路10から非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号を受けるとオフ状態になり、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でないために、制御回路10から投入(オン)を指示するHレベルの制御信号を受けるとオン状態になる。
スイッチ9は、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であるために、制御回路10から非投入(オフ)を指示するLレベルの制御信号を受けるとオフ状態になり、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でないために、制御回路10から投入(オン)を指示するHレベルの制御信号を受けるとオン状態になる。
これにより、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であれば、バンドギャップ電圧基準回路2から出力された基準電流Iref1のみがP型MOSFET5に出力されて、P型MOSFET5から基準電流Iref1のみが他の回路に供給されるようになる。
一方、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でなければ、バンドギャップ電圧基準回路4から出力された基準電流Iref2のみがP型MOSFET5に出力されて、P型MOSFET5から基準電流Iref2のみが他の回路に供給されるようになる。
一方、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常でなければ、バンドギャップ電圧基準回路4から出力された基準電流Iref2のみがP型MOSFET5に出力されて、P型MOSFET5から基準電流Iref2のみが他の回路に供給されるようになる。
なお、この実施の形態5では、2個のバンドギャップ電圧基準回路2,4を実装しているものについて示したが、N個(Nは3以上の整数)のバンドギャップ電圧基準回路を実装して、制御回路10が、動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別し、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路だけを起動するとともに、そのバンドギャップ電圧基準回路に接続されているスイッチだけを投入するようにしてもよい。
また、制御回路10の回路構成は図6の構成に限るものではなく、別の回路で構成してもよいことは言うまでもない。
また、制御回路10の回路構成は図6の構成に限るものではなく、別の回路で構成してもよいことは言うまでもない。
以上で明らかなように、この実施の形態5によれば、制御回路10が動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別して、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路だけを起動するとともに、そのバンドギャップ電圧基準回路に接続されているスイッチだけを投入するように構成したので、常に同じ値の基準電流を他の回路に供給することができる効果を奏する。
また、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であれば、バンドギャップ電圧基準回路4の動作を停止することができるので、消費電力を低減することができる効果を奏する。
また、バンドギャップ電圧基準回路2の動作が正常であれば、バンドギャップ電圧基準回路4の動作を停止することができるので、消費電力を低減することができる効果を奏する。
1 起動回路、2 バンドギャップ電圧基準回路、3 起動回路、4 バンドギャップ電圧基準回路、5 P型MOSFET(電流供給用トランジスタ)、6,7,10 制御回路、8,9 スイッチ、11,12 NPNバイポーラトランジスタ、13,14 P型MOSFET、15 基準抵抗、21,22 NPNバイポーラトランジスタ、23,24 P型MOSFET、25 基準抵抗、31〜34 NPNバイポーラトランジスタ、35,36 P型MOSFET、37 基準抵抗、41〜44 NPNバイポーラトランジスタ、45,46 P型MOSFET、47 基準抵抗、51 入力端子、52 P型MOSFET、53 電流/電圧変換回路、54,55 N型MOSFET、56 抵抗、57 インバータ回路、58,59 出力端子。
Claims (4)
- 基準電流を出力する複数のバンドギャップ電圧基準回路と、上記複数のバンドギャップ電圧基準回路を構成しているトランジスタとそれぞれカレントミラーを形成しており、上記トランジスタから出力される基準電流を他の回路に供給する電流供給用トランジスタとを備えた電流源回路。
- 基準電流を出力する複数のバンドギャップ電圧基準回路と、上記複数のバンドギャップ電圧基準回路を構成しているトランジスタとそれぞれカレントミラーを形成しており、上記トランジスタから出力される基準電流を他の回路に供給する電流供給用トランジスタと、上記複数のバンドギャップ電圧基準回路の中で、動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別して、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路だけを起動する制御回路とを備えた電流源回路。
- 基準電流を出力する複数のバンドギャップ電圧基準回路と、上記複数のバンドギャップ電圧基準回路を構成しているトランジスタとそれぞれカレントミラーを形成しており、上記トランジスタから出力される基準電流を他の回路に供給する電流供給用トランジスタと、上記複数のバンドギャップ電圧基準回路を構成しているトランジスタと上記電流供給用トランジスタの間にそれぞれ挿入された複数のスイッチと、上記複数のバンドギャップ電圧基準回路の中で、動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別し、上記複数のスイッチの中で、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路を構成しているトランジスタに接続されているスイッチだけを投入する制御回路とを備えた電流源回路。
- 基準電流を出力する複数のバンドギャップ電圧基準回路と、上記複数のバンドギャップ電圧基準回路を構成しているトランジスタとそれぞれカレントミラーを形成しており、上記トランジスタから出力される基準電流を他の回路に供給する電流供給用トランジスタと、上記複数のバンドギャップ電圧基準回路の中で、動作が正常なバンドギャップ電圧基準回路を判別して、動作が正常である1つのバンドギャップ電圧基準回路だけを起動するとともに、上記複数のスイッチの中で、上記バンドギャップ電圧基準回路を構成しているトランジスタに接続されているスイッチだけを投入する制御回路とを備えた電流源回路。
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JP2007308929A JP2009134432A (ja) | 2007-11-29 | 2007-11-29 | 電流源回路 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012243023A (ja) * | 2011-05-18 | 2012-12-10 | Mitsubishi Electric Corp | 電流源回路 |
KR101309399B1 (ko) | 2011-12-28 | 2013-09-17 | 성균관대학교산학협력단 | 두 개의 밴드갭 코어를 이용하여 공급전압을 레귤레이팅 하는 밴드갭 레퍼런스 회로 |
CN115167596A (zh) * | 2022-07-22 | 2022-10-11 | 湘潭大学 | 一种新型分段补偿带隙基准电路 |
-
2007
- 2007-11-29 JP JP2007308929A patent/JP2009134432A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012243023A (ja) * | 2011-05-18 | 2012-12-10 | Mitsubishi Electric Corp | 電流源回路 |
KR101309399B1 (ko) | 2011-12-28 | 2013-09-17 | 성균관대학교산학협력단 | 두 개의 밴드갭 코어를 이용하여 공급전압을 레귤레이팅 하는 밴드갭 레퍼런스 회로 |
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CN115167596B (zh) * | 2022-07-22 | 2023-08-29 | 湘潭大学 | 一种新型分段补偿带隙基准电路 |
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