JP2009128718A - 光スイッチ - Google Patents

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【課題】導波路を相変化材料で構成して屈折率変化量を大きくすることでスイッチを小型化し、さらに、スイッチング時にのみ電力を消費するので低電力化ができる光スイッチを提供すること。
【解決手段】光スイッチは、相変化材料で構成される導波路101、Si導波路102、SiO2クラッド103、Si基板104、及び相変化材料で構成される導波路101に電流を流す配線105からなる。これにより一種の方向性結合器型光スイッチを構成している。
【選択図】図1

Description

本発明は、光通信ネットワークノードにおけるスイッチング処理回路に適用して有効な光スイッチに関する。
図5は、従来の典型的な方向性結合器型光スイッチの構成を示す図である。図5(a)は、上面図である。従来の典型的な光スイッチは、入力導波路201、S字導波路部202、導波路近接部203、出力導波路204、近接部の導波路の屈折率を制御するための電極205から構成される。図5(b)は、図5(a)のB−B’における断面図である。n-InP基板206上に、n-InP下部クラッド207、i-InGaAsPコア208、p-InP上部クラッド209からなる導波路を構成し、近接部の片側の導波路には電流注入のためのp-InGaAs上部コンタクト層210、Au/AuZnNi電極層211を形成し、n-InP基板206下面にもAu/AuGeNi電極212を形成する。
電流を注入すると注入キャリアによるプラズマ効果のためにi-InGaAsPコア208の屈折率が最大0.5%程度変化する。このため、方向性結合部の結合長が変化し、入射信号の出力ポートを切り替えることができる。
しかしながら、従来の光スイッチは屈折率変化量が高々0.5%であるため、方向性結合部長を少なくとも100μm以上とする必要がある。そのため、2×2スイッチの全長は数百μm以上となる。
また、他の従来技術として、石英導波路で構成された2×2スイッチでは、熱光学効果による屈折率変化が0.05%程度であるため、スイッチ全長は数mmになる。
さらに、これらのスイッチは、屈折率変化を維持するために、常に電流を流し続ける必要があるため、スイッチの消費電力は数百mWとなる。またさらに、基板温度上昇を抑えるためのペルチェ素子を基板下面に取り付ける必要があり、消費電力の増大につながる。
そこで、本発明者らは、相変化材料を光スイッチに用いることを提案している(例えば、特許文献1参照。)。これによって、屈折率変化を維持するために、常に電流を流し続ける必要はなくなった。
特開2006−184345号公報
しかし、相変化材料を用いる特許文献1の発明においても、その相変化材料によって導波路近傍の屈折率を変化させるものであるので、等価屈折率変化量が小さいため、小型化することができなかった。あるいは、導波路中に相変化材料を挿入して配置するため、光散乱損失が大きかった。
本発明は、上記問題点に鑑み、導波路を相変化材料で構成して等価屈折率変化量を大きくすることでスイッチを小型化し、さらに、スイッチング時にのみ電力を消費するので低電力化ができる光スイッチを提供することを目的とする。
本発明の光スイッチは、基板と、該基板上に形成され入力導波路及び第1出力導波路に接続される第1導波路と、前記基板上に形成され前記第1導波路と所定の間隔を空けて第1導波路と平行に配置され、相変化材料で構成される第2導波路と、前記基板上に形成され前記第1導波路とで第2導波路を挟むように第2導波路と所定の間隔を空けて第2導波路と平行に配置され、第2出力導波路に接続される第3導波路とを備えることを特徴とする。
また、前記第1乃至第3導波路は、前記基板に対して平行に並んで配置されていることで、簡単な製造プロセスで製造することができる。
また、前記第1乃至第3導波路は、前記基板に対して垂直に並んで配置されていることで、一般に厚さ方法の形状精度は高いので、設計に近い形状のスイッチを作りやすい利点がある。
また、前記相変化材料は、テトラヘドラル系材料、Ge-Sb-Te系カルコゲナイド系材料、Sb-Te系カルコゲナイド系材料、又は、カルコゲナイド材料を含むことが望ましい。
また、前記第1及び第3導波路は、シリコン、窒化シリコン、シリコンゲルマニウム、リン化インジウム、ヒ素化ガリウム、窒化ガリウム、リン化ヒ素化インジウムガリウム、ヒ素化インジウムアルミニウム、ヒ素化インジウムガリウム、又は、ヒ素化窒化ガリウムを含むことが望ましい。
また、前記光スイッチが、該光スイッチを駆動する電子回路基板上に形成されていることで、光スイッチを駆動する回路を集積化し、小型な光スイッチモジュールを構成することができる。
本発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである。
(1) 相変化材料の屈折率変化量が大きいので、全長十数μmの超小型光スイッチを構成することができる。
(2) 相変化材料はメモリ性を有しているため、スイッチング時にのみ電力を消費するので低電力化ができる。結果として温度制御用のペルチェ素子が不要になる。
(3) 基板垂直方向に方向性結合回路を構成することで素子作成の精度を高め、歩留まり良くスイッチを構成することができる。
(4) 電子回路基板上に構成し、駆動回路も一体化して小型なスイッチモジュールを構成することが可能である。
以下、添付図面を参照しながら本発明を実施するための最良の形態について詳細に説明する。なお、実施例を説明するための全図において、同一の機能を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。
図1は、本発明の実施例1による光スイッチの構成を示す図である。図1(a)は、その斜視図、図1(b)は、上面図、図1(c)は、図1(a)のC−C’における断面図である。本実施例1の光スイッチは、相変化材料で構成される導波路101、Si導波路102、SiO2クラッド103、Si基板104、及び相変化材料で構成される導波路101に電流を流す配線105からなる。これにより一種の方向性結合器型光スイッチを構成している。波長1.55μmの通信波長帯において、GeSbTe系カルコゲナイド系材料の結晶状態及びアモルファス状態の複素屈折率は、それぞれ、5.1+0.5i、3.6+0.01iである。Si導波路102及びSiO2クラッド103の複素屈折率は、それぞれ、3.46+0.00i、1.45+0.00iである。
図2は、本発明の実施例1による光スイッチの動作を説明する図である。図1(b)における、W、D、Lの値を、それぞれ、0.19μm、4.1μm、0.16μmと仮定する。図2は、これらの値を元に光スイッチの動作をビーム伝搬法によって計算した結果を示す。相変化材料の屈折率変化に伴い、導波路間の光結合が変化し、相変化材料が結晶状態の場合(図2(a))、スイッチはBAR状態(Port1から入射した光がPortA、Port2から入射した光がPortBから出力)になり、逆に相変化材料がアモルファス状態の場合(図2(b))、スイッチはCROSS状態(Port1から入射した光がPortB、Port2から入射した光がPortAから出力)となる。なお、従来の方向性結合型光スイッチでは、屈折率変化量が僅かであったため、屈折率変化に伴う結合長の変化によってスイッチングしていたが、相変化材料では屈折率変化量が大きいため、結合係数そのものが大きく変化してスイッチングしているので、スイッチング原理も異なる。もちろん、結合長の変化に基づくスイッチ構成も可能であることは言うまでもない。スイッチ寸法は、約3μm×14μmとすることができる。例としてSi導波路を利用する場合を示したが、他材料の導波路でも同様のスイッチを構成できることは言うまでもない。また、電流パルスで駆動する構成を示したが、相変化材料は光パルスの照射によっても、結晶状態とアモルファス状態を遷移させることができるので、光パルス駆動型にすることができることも言うまでもない。
図3は、本発明の実施例2による光スイッチの構成を示す図である。図3(a)は、その斜視図、図3(b)は、図3(a)のB−B’における断面図である。実施例1の光スイッチは、基板に対して平行に導波路を近接させて並べて方向性結合部を構成したが、本実施例2の光スイッチは、基板に対して垂直に導波路を近接させて並べて方向性結合部を構成した点が実施例1と相違する。一般に厚さ方法の形状精度は高いので、設計に近い形状のスイッチを作りやすい利点がある。実施例2の光スイッチの動作は実施例1と同様である。
図4は、本発明の実施例3による光スイッチの構成を示す斜視図である。実施例1の光スイッチは、基板をSi基板としたが、本実施例2の光スイッチは、基板を電子回路が形成されている電子回路基板106で構成した点が実施例1と相違する。これによって、光スイッチを駆動する回路を集積化し、小型な光スイッチモジュールを構成することができる。また、多段構成の例を示したが、光スイッチ単体の動作は、実施例1と同様である。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではない。
本発明の実施例1による光スイッチの構成を示す図である。 本発明の実施例1による光スイッチの動作を説明する図である。 本発明の実施例2による光スイッチの構成を示す図である。 本発明の実施例3による光スイッチの構成を示す斜視図である。 従来の典型的な方向性結合器型光スイッチの構成を示す図である。
符号の説明
101 導波路
102 Si導波路
103 SiO2クラッド
104 Si基板
105 配線
106 電子回路基板
201 入力導波路
202 S字導波路部
203 導波路近接部
204 出力導波路
205 電極
206 n-InP基板
207 n-InP下部クラッド
208 i-InGaAsPコア
209 p-InP上部クラッド
210 p-InGaAs上部コンタクト層
211 Au/AuZnNi電極層
212 Au/AuGeNi電極

Claims (6)

  1. 基板と、
    該基板上に形成され入力導波路及び第1出力導波路に接続される第1導波路と、
    前記基板上に形成され前記第1導波路と所定の間隔を空けて第1導波路と平行に配置され、相変化材料で構成される第2導波路と、
    前記基板上に形成され前記第1導波路とで第2導波路を挟むように第2導波路と所定の間隔を空けて第2導波路と平行に配置され、第2出力導波路に接続される第3導波路と
    を備えることを特徴とする光スイッチ。
  2. 前記第1乃至第3導波路は、前記基板に対して平行に並んで配置されていることを特徴とする請求項1記載の光スイッチ。
  3. 前記第1乃至第3導波路は、前記基板に対して垂直に並んで配置されていることを特徴とする請求項1記載の光スイッチ。
  4. 前記相変化材料は、テトラヘドラル系材料、Ge-Sb-Te系カルコゲナイド系材料、Sb-Te系カルコゲナイド系材料、又は、カルコゲナイド材料を含むことを特徴とする請求項1乃至3いずれかに記載の光スイッチ。
  5. 前記第1及び第3導波路は、シリコン、窒化シリコン、シリコンゲルマニウム、リン化インジウム、ヒ素化ガリウム、窒化ガリウム、リン化ヒ素化インジウムガリウム、ヒ素化インジウムアルミニウム、ヒ素化インジウムガリウム、又は、ヒ素化窒化ガリウムを含むことを特徴とする請求項1乃至4いずれかに記載の光スイッチ。
  6. 前記光スイッチが、該光スイッチを駆動する電子回路基板上に形成されていることを特徴とする請求項1乃至5いずれかに記載の光スイッチ。
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