JP2009128211A - プローブピン - Google Patents
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Abstract
【課題】 ワイピング機能を有しかつ低コストのプローブピンを提供する。
【解決手段】 プローブピン100は、金属製の板材から形成された上プランジャー200および下プランジャー300と、コイルスプリング400とを有する。
上プランジャー200には、一方の端部から長手方向に一定の長さで延在する開口210が形成され、それによって弾性変形可能な一対の接点部220a、220bが形成される。下プランジャー300には、一方の端部に接点拡大部320が形成され、接点拡大部320から長手方向に一定の長さで延在する開口310が形成されている。上下のプランジャーは直交するように配置され、開口210内に接点拡大部320が配置され、開口310内に上プランジャー200の延在部230が配置される。上プランジャー200が下プランジャー300に接近する方向に移動したとき、接点拡大部320が一対の接点部220a、220を広げ、被接触対象へのワイピングを可能にする。
【選択図】 図3
【解決手段】 プローブピン100は、金属製の板材から形成された上プランジャー200および下プランジャー300と、コイルスプリング400とを有する。
上プランジャー200には、一方の端部から長手方向に一定の長さで延在する開口210が形成され、それによって弾性変形可能な一対の接点部220a、220bが形成される。下プランジャー300には、一方の端部に接点拡大部320が形成され、接点拡大部320から長手方向に一定の長さで延在する開口310が形成されている。上下のプランジャーは直交するように配置され、開口210内に接点拡大部320が配置され、開口310内に上プランジャー200の延在部230が配置される。上プランジャー200が下プランジャー300に接近する方向に移動したとき、接点拡大部320が一対の接点部220a、220を広げ、被接触対象へのワイピングを可能にする。
【選択図】 図3
Description
本発明は、プローブピンに関し、特に接触対象をワイピングしつつ接触対象と電気的接触が可能なプローブピンに関する。
電子デバイス、半導体ウエハ、回路基板等に形成された微細な端子や電極との電気的接続を行う部材にプローブピンが用いられている。特許文献1は、図1に示すように、BGA21の半田ボール22と対向する絶縁性の基板1と、BGA21の半田ボール22の方向に伸縮可能な導電性のコイル状ばね4と、基板1の貫通孔2内に設けられコイル状ばね4と電気的に導通するプローブピン3とを備えている。
図2は、他の典型的なプローブピンの構成を示す図である。同図に示すように、プローブピン10は、上プランジャー12と、下プランジャー14と、上プランジャー12および下プランジャー14の各端部を摺動可能に保持する円筒状の金属製のバレル16と、バレル16内に保持され上プランジャー12と下プランジャー14とを引き離す方向に付勢するスプリング18とを含んでいる。バレル16の両端部には、内径がくびれるようなかしめ20a、20bが形成され、スプリング18によって付勢された上プランジャー12と下プランジャー14が当該かしめ20a、20bに係合しバレル16から離脱しないようになっている。
下プランジャー14を固定し、上プランジャー10を電極パッド等の接触対象に押し付けると、上プランジャー12は、スプリング18のバネ力によって接触対象と一定の接圧で接触する。上プランジャー12の先端には、尖った形状の接触部12aが形成され、この接触部12aは、接触対象の表面に形成された酸化皮膜等を破り、接触対象との電気的接続を確実にしている。
しかしながら、図2に示すようなプローブピンは、その構成部品を旋盤による切削加工により製作されるため、コストが非常に高くなってしまう。また、バレルの表面および裏面には、耐腐食性のために金メッキ等が施され、これもコスト増の一因となっている。
さらに、プランジャーは、軸方向にしか変位しないため、接触部12aによる接触対象へのワイピング(軸方向と直交する方向の動き)を行い得ず、接触部12aによる電気的接続を確実にするためには、上プランジャーの接圧を高くしなければならない。このため、プローブピン数が増加すると、それに比例して大きな荷重を与えなければならず、その荷重によって薄型の半導体デバイスなどは変形したり、破損してしまうことがある。さらに、プローブピンの接圧が高いと、接触部12aの接触による磨耗が著しくなり、プローブピンの寿命が短くなってしまう。
本発明の目的は、このような従来の課題を解決し、ワイピング機能を有しかつ低コストのプローブピンを提供することを目的とする。
本発明に係るプローブピンは、金属製の板材から形成された第1の部材であって、一方の端部から長手方向に一定の長さで延在する第1の開口が形成され、当該第1の開口によって弾性変形可能な一対の接点部が形成され、当該一対の接点部は少なくとも第1の距離で離間された第1の部分と第1の距離よりも大きな第2の距離で離間された第2の部分を含み、前記一対の接点部から前記一方の端部と対向する他方の端部へ向けて延在する延在部が形成された、前記第1の部材と、金属製の板材から形成された第2の部材であって、前記第1の部材と係合する係合部が一方の端部に形成され、当該係合部から長手方向に一定の長さで延在する第2の開口が形成され、前記係合部は、前記第1の領域の第1の距離よりも大きい板厚の部分を含む、前記第2の部材と、前記第1の部材と前記第2の部材とを離れる方向に付勢するバネ部材とを有する。前記第1の部材の第1の開口内に前記第2の部材の前記係合部が位置し、前記第2の部材の第2の開口内に前記第1の部材の延在部の少なくとも一部が位置するように第1の部材と第2の部材とが交差し、前記第1の部材が前記第2の部材に接近する方向に移動したとき、前記係合部が前記一対の接点部の第2の領域から第1の領域へ移動し、前記一対の接点部が開かれる。
好ましくは、第1の部材と第2の部材はほぼ90度の角度で交差する。また、係合部は、第1の部材と第2の部材とが軸方向に相対的に接近したときに、第1の部材の一対の接点部を開かせるための接点拡大部として機能する。
好ましくは、前記第1の部材には、その短手方向の幅を変化させた第1の肩部が形成され、前記第2の部材には、その短手方向の幅を変化させた第2の肩部が形成され、前記バネ部材は、前記第1の肩部と第2の肩部との間に配置される。好ましくは、前記バネ部材はコイルスプリングであり、当該コイルスプリングの軸方向内に、前記第1の部材および前記第2の部材の少なくとも一部が位置される。
好ましくは前記係合部は、先端に向かい板厚が薄い部分を含む。好ましくは、第1の開口内の第1の部分と前記第2の部分との境界に段差を緩和する傾斜または面取りが形成されている。好ましくは、前記係合部の長さ方向の距離は、前記第1の部分の長さ方向の距離よりも小さい。好ましくは、前記一対の接点部の先端には、一対の傾斜面が形成され、前記一対の傾斜面が接触対象によって長手方向に押圧されたとき、前記一対の傾斜面が接触対象にワイピングを行う。
前記一対の傾斜面は、接近する方向に向けて上昇、または下降する。後者の場合、前記一対の傾斜面の先端が尖っていることが好ましい。
さらに他の発明に係るプローブピンは、金属製の板材から形成された第1の部材であって、一方の端部から長手方向に一定の長さで延在する第1の開口が形成され、当該第1の開口によって弾性変形可能な一対の接点部が形成され、当該一対の接点部は接近する方向に向けて下降する一対の傾斜面を先端に含み、前記一対の接点部から前記一方の端部と対向する他方の端部へ向けて延在する延在部が形成された、前記第1の部材と、金属製の板材から形成された第2の部材であって、前記第1の部材と係合する係合部が一方の端部に形成され、当該係合部から長手方向に一定の長さで延在する第2の開口が形成された、前記第2の部材と、前記第1の部材と前記第2の部材とを離れる方向に付勢するバネ部材とを有する。前記第1の部材の第1の開口内に前記第2の部材の前記係合部が位置し、前記第2の部材の第2の開口内に前記第1の部材の延在部の少なくとも一部が位置するように前記第1の部材と前記第2の部材とを交差する。
好ましくはボール状電極が前記一対の接点部に接触したとき、ボール状電極の最下支点部が前記第1の開口によって逃がされ、ボール状電極が長手方向に押下されたとき、前記一対の接点部が開かれる。
本発明のプローブピンは、好ましくはソケットに適用される。ソケットは、複数のプローブピンと、前記複数のプローブピンを保持するベース部材とを有し、前記ベース部材上に半導体装置が搭載され、半導体装置の端子がプローブピンに電気的に接続される。
本発明によれば、金属製の板材からなる第1および第2の部材を組み合わせることで、プローブピンのコストの低減を図るとともに、第1または第2の部材が長手方向に相対的に変位したときに第1の部材の一対の接点部を開かせることで、接触対象へ接圧を与えながらワイピングを行うことができ、その結果、良好な電気的接続を得ることができる。
以下、本発明の最良の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。種々の図面は、発明の理解を容易にするために異なるスケールで記載され、あるいは実際よりも強調された部分を含むことに留意すべきである。
図3は、本発明の第1の実施例に係るプローブピンを構成する各部材の斜視図である。本実施例に係るプローブピン100は、上プランジャー200、下プランジャー300、およびコイルスプリング400から構成される。上プランジャー200および下プランジャー300は、例えば、ベリリウム銅などの金属製の板材をスタンピング(打ち抜き)することにより所望の形状に加工される。好ましくは、ベリリウム銅に、厚さ1〜2μmの下地ニッケルメッキが施され、さらにその上に厚さ0.2〜0.3μmの仕上げ硬質金メッキが施される。
図4および図5は、上プランジャーおよび下プランジャーの詳細を示す側面図および平面図である。上プランジャー200には、一方の端部から長手方向(軸方向)Cに沿って延在する矩形状の開口210が形成され、開口210は短手方向に直線状の終端218で閉じている。また、開口210は、一方の端部から長さL1、間隔D1の幅狭部分212と、長さL2、間隔D1よりも大きな間隔D2の幅広部分214の2段階の間隔を有している。このような開口210の形成により、上プランジャー200の一方の端部には、弾性変形可能な一対の接点部220a、220bが形成されている。上プランジャー200は、例えば、長手方向の全体の長さが約2.2mm、短手方向の幅が約0.3mm、板厚が約0.1mmである。開口210の長手方向の全体の長さは約1.5mm、幅狭部分212の長さL1は約0.6mm、間隔D1は約0.07mm、幅広部分214の長さL2は約0.9mm、間隔D2は約0.11mmである。幅狭部分212と幅広部分214との間の境界216には、段差が形成されるが、その段差を緩和するように面取りを施すことが望ましい。段差は約0.02mmであり、約0.05mmの曲率半径で面取りがされている。面取り以外にも傾斜面を形成するようにしてもよい。
一対の接点部220a、220bは、長手方向の軸Cに関して線対称となる傾斜面222a、222bを有する。傾斜面222a、222bは、中心軸Cに向かう方向に上昇している。傾斜面222a、222bの傾斜角は、水平方向から例えば約30度である。傾斜面222a、222bは、平坦な面であってもよいが、尖った面を形成するようにしてもよい。また、一対の接点部220a、220bは、必ずしも軸Cに関して線対称である必要はない。
上プランジャー200には、開口210の終端218からさらに他方の端部へ向けて一定の幅で延在する延在部230が形成され、延在部230の端部には、スプリングコイルを受けるための肩部240a、240bが形成されている。肩部240a、240bは、短手方向の幅を小さくすることで段差を形成している。例えば、約0.5mmの段差が形成される。
下プランジャー300には、図5に示すように、短手方向に直線状の切断面を有する始端312、楕円状の切断面を有する終端314、始端312と終端314を連結する直線状の切断面を有する側端316によって規定された開口310が形成されている。開口310の始端312から下プランジャー300の一方の端部までの距離L3は、上プランジャー200の開口210の幅広部分214の長さL2に等しいかそれよりも幾分小さい。この長さL3の部分は、後述するように、上プランジャー200の一対の接点部220a、220bを開かせるための接点拡大部320として機能する。
下プランジャー300は、例えば、長手方向の全体の長さが約7.5mm、中央部分の短手方向の幅が約2.3mm、中央部分の板厚が約0.1mmである。開口310の長手方向の長さは約2.5mmであり、開口の間隔は約0.1mmである。
始端312の切断面は、板厚方向に直角であってもよいが、板厚方向の段差を緩和するために傾斜を持つように切断されてもよい。好ましくは、始端312は、60度の傾斜面を持つように切断される。開口310の側端316は、上プランジャー200の延在部230の表面および裏面と摺動するため、抜きスジや段差がなく滑らかであることが望ましい。開口310の終端314は、長手方向に沿って徐々にその間隔が狭くなり、最終的にはR面取りされた切断面となっている。
接点拡大部320は、一方の端部に先端に向かって徐々にその幅が狭くなり、例えば、先端から約0.55mmの位置から幅が狭くなる。そして、接点拡大部320の最終的な幅は約0.12mmとなる。さらに接点係合部320の板厚は、先端に向けて徐々に薄くすることができ、最終的な先端の板厚が約0.04mmとなるように約30度で傾斜される。
下プランジャー300には、終端314からさらに長手方向に一定の幅で延在する延在部330が形成され、延在部330と下プランジャー300の他方の端部との間に、幅広の肩部340a、340bが形成されている。肩部340a、340bは、スプリングコイル400を受ける座として機能する。肩部340a、340bの幅は約0.32mmである。下プランジャー300の他方の端部は、好ましくは先端が尖った形状に加工されている。これは、回路基板のスルーホールや電極パッドへの接続を容易にするためである。
図6Aに上下のプランジャーとコイルスプリングの組立工程を示す。同図(a)に示すように、下プランジャー300の一方の端部からコイルスプリング400を挿入する。コイルスプリング400の内径は、下プランジャー300の延在部の幅よりも僅かに大きく設定されている。コイルスプリング400の一端は、同図(b)に示すように下プランジャー300の肩部340a、340bに接続される。このとき、コイルスプリング400の他端は、下プランジャー300の一方の端部よりも僅かに下方にある。
次に、同図(c)に示すように、コイルスプリング400を圧縮させ、下プランジャー300の開口310を完全に露出させ、下プランジャー300と直交する位置関係で上プランジャー200を開口310内に挿入すると、同図(d)のようになる。そして、コイルスプリングを開放すると、図6Bに示すような組み立てられたプローブピンを得る。図6Bでは、便宜上下プランジャー300をハッチングで表示してある。
図6Bに示すように、上プランジャー200と下プランジャー300とは、ほぼ90度の角度で直交するような位置関係にあり、上プランジャー200の開口210の幅広部分214内に下プランジャー300の接点拡大部320が位置し、下プランジャー300の開口310内に上プランジャー200の延在部230が位置している。
コイルスプリング400の一端は、上プランジャー200の肩部240a、240bに当接し、その他端は、下プランジャー300の肩部340a、340bに当接する。下プランジャー300の大部分は、コイルスプリング400の内側に収容され、上プランジャー200と下プランジャー300は、コイルスプリング400のバネ力によって互いに離れる方向に付勢された状態にある。これにより、上プランジャー200の開口210の終端218が下プランジャー300の開口310の始端312にバネ圧によって当接され、このとき、接点拡大部320は、開口210の境界216から僅かなクリアランスで離間されている。
次に、プローブピンの動作について説明する。図7は、1つのプローブピンをICパッケージの裏面に形成された電極に接触する例を示しており、図8は、図7の要部拡大図である。先ず、図7(a)および図8(a)に示すように、プローブピンに対してICパッケージ500が位置決めされる。このとき、下プランジャー300の他方の端部はプリント基板等に固定されているものとする。次に、ICパッケージ500をプローブピンの軸方向(長手方向)へ降下させ、電極510を上プランジャー200の一対の接点部200a、200bに接触させる。
引き続き、スプリングコイル400のバネ圧よりも大きな力がICパッケージに与えられ、ICパッケージがさらに下方に降下すると、上プランジャー200がスプリングコイル400に抗して軸方向に下降する(図8(b)を参照)。幅広部分214内に位置していた接点拡大部320は、境界216を越えて幅狭部分212内に進入する。境界216には、面取りまたは傾斜が形成されているため、接点拡大部320は、幅狭部分212内にスムーズに入り込むことができる。接点拡大部320の板厚は、幅狭部分212の間隔D1よりも幾分大きいため、接点拡大部320の進行に伴い上プランジャー200の一対の接点部220a、220bの間隔が徐々に拡大する。これにより、一対の接点部220a、220bは、ICパッケージの電極500に対して軸方向に一定の接圧を与えながら、水平方向に開きワイピングを行う。一対の接点部220a、220bには、傾斜面222a、222bが形成されているため、電極500の表面に形成された酸化皮膜等が効果的に破れ、一対の接点部220a、220bと電極510との良好な電気的接続が行われる。
一対の接点部220a、220bは弾性変形するため、下プランジャーの接点拡大部320は、一定の接圧をもって幅狭部分212内を摺動する。このため、上プランジャー200と下プランジャー300との電気的な接続も確実となる。
ICパッケージの押圧を解除し、あるいはICパッケージを上方に持ち上げると、スプリングコイル400のバネ圧の作用によって上プランジャー200が上方に持ち上げられ、接点拡大部320は、幅狭部分212から幅広部分214へ移動し、図7(a)および図8(a)に示す元の位置に戻る。同様に、一対の接点部220a、220bも元の状態に戻る。
次に、本発明の第2の実施例に係るプローブピンについて説明する。第2の実施例に係るプローブピンは、第1の実施例の上プランジャーの一対の接点部の形状を変更したものである。図9に第2の実施例に係るプローブピンを示し、図10にその要部の拡大図を示す。第1の実施例と同一構成については同一参照番号を付してある。図9および図10に示すように、第2の実施例では、一対の接点部220a、220bの先端の傾斜面224a、224bが、線対称の軸に向買う方向に下降するように傾斜している。このような傾斜面224a、224bは、ICパッケージ500のボール状電極(例えば、はんだボール)520との接触において好適である。
図9(a)および図10(a)に示すように、ICパッケージ500がプローブピンに対して位置決めされた後、図9(b)および図10(b)に示すように、ICパッケージ500が押し下げられ、一対の接点部220a、220bがボール状電極520に接触する。一対の接点部220a、220b間の開口210は、ボール状電極520の最下点に対応し、当該最下点の逃げを形成する。
ICパッケージ500がさらに押し下げられると、上プランジャー200がコイルスプリング400の付勢力に抗して下方に変位する。これにより、第1の実施例と同様に接点拡大部320が上プランジャー200の開口210の幅狭部分212内に突入し、一対の接点部220a、220bが水平方向に拡がるが、接点部220a、220bの傾斜面224a、224bが逆ハの字型になっているため、一対の接点部220a、220bに軸方向の荷重がかかったときに、傾斜面を利用してよりワイピングがされ易くなる。
また、上記のような傾斜面224a、224bにすることで、ボール状電極520との接触は平面での接触となり、単位面積当たりの接触荷重が低くなると、ボール状電極520の表面に形成された酸化皮膜等を効果的に削り取ることができなくなる。これを回避するため、傾斜面224a、224bの表面を尖らせ、単位面積当たりの接触荷重を大きくなるようにしてもよい。例えば、図11に示すように、傾斜面224a、224bの断面が三角形となるように尖らせる。これにより、ワイピング時に、接触対象の表面に形成された酸化皮膜等が削り易くなる。
さらに第1および第2の実施例では、上プランジャーの開口が2つの異なる間隔D1、D2を持つ例を示したが、図12に示すように、更なる幅狭部分を持つように段差219を形成しても良い。これにより、ボール状電極の大きさや形状に合わせて、最適な逃げを形成するような開口210の間隔を調整することができる。
次に、本発明の第3の実施例について説明する。第3の実施例は、第1および第2の実施例と異なり、上プランジャーの開口内に幅狭部分または幅広部分を形成することなく開口を一様な間隔にしている。図13に第3の実施例のプローブピンを示し、図14にその要部の拡大図を示す。なお、第1および第2の実施例と同一構成については同一参照番号を付してある。
上プランジャー200に形成された開口210Aは、同図に示すように、一定の間隔で長さ方向に終端218まで延在している。また、一対の接点部220a、220bの傾斜面224a、224bは、第2の実施例と同様に、接近する方向に下降している。図13(b)および図14(b)に示すように、ICパッケージ500が押し下げられ、ボール状電極520が一対の接点部220a、220bに接触をし、さらにICパッケージが押し下げられると、一対の接点部220a、220bは、その傾斜面224a、224bがボール状電極520の曲面に倣うように拡がり、ボール状電極520に対してワイピングが行われる。従って、第3の実施例では、接点拡大部320は、実質的に接点を拡大する機能を果たさないため、接点拡大部320の板厚は一様であっても良い。
図15は、本発明の第1の実施例に係るプローブピンをソケットに適用したときの概略断面図である。ソケット600は、ベース部材610は、コンタクトとして図3に示すプローブピン100を取り付けている。プローブピン100は、例えばBGAパッケージ500のはんだボールピッチに対応するように配列される。ベース部材610上には、往復動可能なカバー部材620が取り付けられ、カバー部材620の動きに連動して開閉するラッチ部材630が取り付けられている。ラッチ部材は、BGAパッケージの表面を押さえつける。このようなポップアップタイプのソケットは公知である。また、プローブピンは、ポップアップタイプ以外の、カバーをベースに回転可能に取り付けるクラムシェルタイプにも適用することができる。
本発明の実施例に係るプローブピンは、上記のソケット以外にも、電子デバイスやウエハー等の電気的測定または計測用の端子として広く利用することができる。
上記実施例で示したプローブピンの各部の寸法や形状等は、当業者であれば、測定対象や使用環境に応じて適宜変更することができることが理解されよう。また、上記実施例では、被接触対象として、平坦な電極510やボール状電極520を例示したが、端子の形状は、半円状、円錐状、矩形状等のバンプであってもよい。
以上、本発明の好ましい実施の形態について詳述したが、本発明に係る特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
100:プローブピン
200:上プランジャー
210、210A:開口
212:幅狭部分
214:幅広部分
216:境界
219:終端
220a、220b:接点部
222a、222b:傾斜面
230:延在部
240a、240b:肩部
300:下プランジャー
310:開口
312:始端
314:終端
316:側端
320:接点拡大部
330:延在部
340a、340b:肩部
400:コイルスプリング
500:ICパッケージ
510:電極
520:ボール状電極
200:上プランジャー
210、210A:開口
212:幅狭部分
214:幅広部分
216:境界
219:終端
220a、220b:接点部
222a、222b:傾斜面
230:延在部
240a、240b:肩部
300:下プランジャー
310:開口
312:始端
314:終端
316:側端
320:接点拡大部
330:延在部
340a、340b:肩部
400:コイルスプリング
500:ICパッケージ
510:電極
520:ボール状電極
Claims (13)
- 金属製の板材から形成された第1の部材であって、一方の端部から長手方向に一定の長さで延在する第1の開口が形成され、当該第1の開口によって弾性変形可能な一対の接点部が形成され、当該一対の接点部は少なくとも第1の距離で離間された第1の部分と第1の距離よりも大きな第2の距離で離間された第2の部分を含み、前記一対の接点部から前記一方の端部と対向する他方の端部へ向けて延在する延在部が形成された、前記第1の部材と、
金属製の板材から形成された第2の部材であって、前記第1の部材と係合する係合部が一方の端部に形成され、当該係合部から長手方向に一定の長さで延在する第2の開口が形成され、前記係合部は、前記第1の領域の第1の距離よりも大きい板厚の部分を含む、前記第2の部材と、
前記第1の部材と前記第2の部材とを離れる方向に付勢するバネ部材とを有し、
前記第1の部材の第1の開口内に前記第2の部材の前記係合部が位置し、前記第2の部材の第2の開口内に前記第1の部材の延在部の少なくとも一部が位置するように第1の部材と第2の部材とが交差し、
前記第1の部材が前記第2の部材に接近する方向に移動したとき、前記係合部が前記一対の接点部の第2の領域から第1の領域へ移動し、前記一対の接点部が開かれる、プローブピン。 - 前記第1の部材には、その短手方向の幅を変化させた第1の肩部が形成され、前記第2の部材には、その短手方向の幅を変化させた第2の肩部が形成され、前記バネ部材は、前記第1の肩部と第2の肩部との間に配置される、請求項1に記載のプローブピン。
- 前記バネ部材はコイルスプリングであり、当該コイルスプリングの軸方向内に、前記第1の部材および前記第2の部材の少なくとも一部が位置される、請求項1に記載のプローブピン。
- 前記係合部は、先端に向かい板厚が薄い部分を含む、請求項1に記載のプローブピン。
- 前記第1の開口内の第1の部分と前記第2の部分との境界に段差を緩和する傾斜または面取りが形成されている、請求項1に記載のプローブピン。
- 前記係合部の長さ方向の距離は、前記第1の部分の長さ方向の距離よりも小さい、請求項1に記載のプローブピン。
- 前記一対の接点部の先端には、一対の傾斜面が形成され、前記一対の傾斜面が接触対象によって長手方向に押圧されたとき、前記一対の傾斜面が接触対象にワイピングを行う、請求項1に記載のプローブピン。
- 前記一対の傾斜面は、接近する方向に向けて上昇する、請求項7に記載のプローブピン。
- 前記一対の傾斜面は、接近する方向に向けて下降する、請求項7に記載のプローブピン。
- 前記一対の傾斜面の先端が尖っている、請求項9に記載のプローブピン。
- 金属製の板材から形成された第1の部材であって、一方の端部から長手方向に一定の長さで延在する第1の開口が形成され、当該第1の開口によって弾性変形可能な一対の接点部が形成され、当該一対の接点部は接近する方向に向けて下降する一対の傾斜面を先端に含み、前記一対の接点部から前記一方の端部と対向する他方の端部へ向けて延在する延在部が形成された、前記第1の部材と、
金属製の板材から形成された第2の部材であって、前記第1の部材と係合する係合部が一方の端部に形成され、当該係合部から長手方向に一定の長さで延在する第2の開口が形成された、前記第2の部材と、
前記第1の部材と前記第2の部材とを離れる方向に付勢するバネ部材とを有し、
前記第1の部材の第1の開口内に前記第2の部材の前記係合部が位置し、前記第2の部材の第2の開口内に前記第1の部材の延在部の少なくとも一部が位置するように前記第1の部材と前記第2の部材とを交差する、プローブピン。 - ボール状電極が前記一対の接点部に接触したとき、ボール状電極の最下支点部が前記第1の開口によって逃がされ、ボール状電極が長手方向に押下されたとき、前記一対の接点部が開かれる、請求項11に記載のプローブピン。
- 請求項1ないし12いずれか1つに記載の複数のプローブピンと、
前記複数のプローブピンを保持するベース部材とを有し、
前記ベース部材上に半導体装置を搭載可能とするソケット。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101455174B1 (ko) * | 2013-04-23 | 2014-10-28 | (주)마이크로컨텍솔루션 | 포고 핀 및 그 제조방법 |
JP2016003921A (ja) * | 2014-06-16 | 2016-01-12 | オムロン株式会社 | プローブピン |
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KR101749711B1 (ko) * | 2015-11-30 | 2017-06-21 | 주식회사 대성엔지니어링 | 테스트 소켓 |
TWI677687B (zh) * | 2017-04-21 | 2019-11-21 | 日商日本麥克隆尼股份有限公司 | 電性連接裝置 |
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