JP2009117713A - プラズマ処理装置および被処理物搬送方法 - Google Patents
プラズマ処理装置および被処理物搬送方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009117713A JP2009117713A JP2007291183A JP2007291183A JP2009117713A JP 2009117713 A JP2009117713 A JP 2009117713A JP 2007291183 A JP2007291183 A JP 2007291183A JP 2007291183 A JP2007291183 A JP 2007291183A JP 2009117713 A JP2009117713 A JP 2009117713A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- plasma processing
- levitation
- guide plate
- workpiece
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67161—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
- H01L21/67173—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers in-line arrangement
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67784—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations using air tracks
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
【解決手段】ガイドプレート7には、搬送方向に直交する方向へ1列に7個、搬送方向に平行な方向へ16列に配置された合計112個の円形ガス噴出孔8が形成されている。112個のガス噴出孔8は、2列である14個ごとに独立した8つの帯状噴出孔群9に分けられている。制御機能部は、被処理物搬入室1、プラズマ処理室2および被処理物搬出室3における被処理物5,6の浮上に関与している噴出孔群9のガス噴出孔8から浮上用ガスを順次噴出させるとともに、被処理物5,6の浮上に関与しなくなった噴出孔群9ガス噴出孔8からの浮上用ガスの噴出を順次停止する。
【選択図】図1
Description
2・・・第2真空室(プラズマ処理室)
3・・・第3真空室(被処理物搬出室)
4・・・ゲートバルブ
5・・・被処理物(トレー)
6・・・被処理物(基板)
7・・・ガイドプレート
8・・・ガス噴出孔
9・・・ガス噴出孔群
10・・・内部溝
11・・・浮上用ガス供給管
11a・・本体部
11b・・延出部
11c・・流量調整用バルブ
12・・・浮上用ガス供給源
13・・・浮上用ガス供給バルブ
14・・・真空ポンプ
15・・・被処理物搬入用扉
16a・・開閉バルブ
16b・・圧力調整バルブ
17・・・被処理物搬出用扉
18・・・カソード電極
19・・・反応ガス導入管
20・・・リークガス導入管
21・・・コンデンサ
22・・・整合回路
23・・・高周波電源
24・・・搬送アーム
24a・・ベース部
24b・・ガイド部
24c・・アーム部
25・・・プーリ
26・・・ワイヤー
27・・・モータ
28・・・レール
29・・・スプリング
51・・・係止部
52・・・嵌合孔
Claims (10)
- 開閉可能な隔離用ゲートバルブを隔てて互いに隣接された複数の真空室と、それぞれの真空室に設けられ、複数の浮上用ガス噴出孔を有する浮上搬送用ガイドプレートと、それぞれのガイドプレートへ浮上用ガスを供給するガス供給源とを備えてなり、
複数の真空室は、少なくとも1つが板状の被処理物にプラズマ処理を行うためのプラズマ処理室であり、プラズマ処理室のガイドプレートは、プラズマ処理用アノード電極を兼ねており、このアノード電極の上方には対向状にプラズマ処理用カソード電極が設けられ、プラズマ処理室は、プラズマ処理用反応ガスを導入するための反応ガス導入部と、反応ガスを排出するための反応ガス排出部と、ガイドプレートに載置された被処理物を外力により複数の真空室の間でガイドプレートに沿って搬送する搬送機能部と、所定の制御を行う制御機能部とに接続され、
ガイドプレートにおける複数のガス噴出孔は、互いに独立した複数の噴出孔群からなり、これらの噴出孔群は、搬送方向に対して横断状に、かつ、搬送方向へ所定間隔を置いて形成されており、
制御機能部は、ゲートバルブを開放して隣接する真空室を連通させ、これらの真空室のガイドプレートにおけるガス噴出孔から浮上用ガスを噴出させ、噴出した浮上用ガスにより浮上した被処理物を搬送機能部によりガイドプレートに沿って搬送させる浮上搬送制御に際して、これらの真空室のガイドプレートにおける被処理物の浮上に関与している噴出孔群から浮上用ガスを順次噴出させるとともに、被処理物の浮上に関与しなくなった噴出孔群からの浮上用ガスの噴出を順次停止するように制御する、ことを特徴とするプラズマ処理装置。 - ガイドプレートは、前記ガス供給源に接続される浮上用ガス供給管を有する長方形板状体からなり、ゲートバルブを隔てて互いに隣接された複数の真空室において、搬送方向に沿って一線状に配置されている、請求項1記載のプラズマ処理装置。
- 板状体は、搬送方向に対して横断状に、かつ、搬送方向へ互いに所定間隔を置いて形成された複数の内部溝と、これらの内部溝のそれぞれに連通状に接続された複数の浮上用ガス供給管と、これらの内部溝の上方に連通状に形成された複数の浮上用ガス噴出孔とを備え、これらのガス噴出孔は、互いに独立した複数の帯状噴出孔群からなっている、請求項2記載のプラズマ処理装置。
- 搬送中の被処理物の位置を検出するセンサーをさらに備え、それぞれの浮上用ガス供給管は、板状体の内部で一方端部が前記内部溝に接続された本体部と、この本体部の他方端部から板状体の外部へ延出された延出部と、この延出部に設けられた流量調整用バルブとを備えている、請求項3記載のプラズマ処理装置。
- 制御機能部は、前記センサーにより検出された搬送中の被処理物の位置に応じて前記バルブを操作し、それによって、被処理物の浮上に関与している噴出孔群から浮上用ガスを順次噴出させるとともに、被処理物の浮上に関与しなくなった噴出孔群からの浮上用ガスの噴出を順次停止するように制御する、請求項4に記載のプラズマ処理装置。
- 制御機能部は、ゲートバルブに最も近いガス噴出孔群から噴出させる浮上用ガスが、他のガス噴出孔群から噴出させる浮上用ガスよりも高い噴出圧力になるように制御する、請求項1に記載のプラズマ処理装置。
- ゲートバルブに最も近いガス噴出孔群におけるガス噴出孔の面積密度は、他のガス噴出孔群におけるそれよりも高くされている、請求項1に記載のプラズマ処理装置。
- 少なくとも1つが板状の被処理物にプラズマ処理を行うためのプラズマ処理室である複数の真空室を互いに隣接するように設け、それぞれの真空室に複数の浮上用ガス噴出孔を有する浮上搬送用ガイドプレートを設け、ガイドプレートに設けられたガス噴出孔から、ガイドプレートに載置される被処理物の下面へ浮上用ガスを噴出させて被処理物を浮上させ、浮上した被処理物を外力により搬送する、プラズマ処理装置の被処理物搬送方法であって、
ガイドプレートにおける複数のガス噴出孔を、搬送方向に対して横断状に、かつ、搬送方向へ所定間隔を置いた、互いに独立した複数の噴出孔群から構成し、浮上搬送時に、これらの噴出孔群のうち搬送中の被処理物の直下に位置するガス噴出孔群のみから浮上用ガスを噴出させることで、プラズマ処理室においては、プラズマ処理用アノード電極を兼ねているガイドプレートに対向状に設けられたプラズマ処理用カソード電極に浮上用ガスが直接当たらないようにする、ことを特徴とするプラズマ処理装置の被処理物搬送方法。 - 被処理物が、ガイドプレートに載置されるトレーとこのトレーに搭載されるプラズマ処理用基板とからなるものであるか、または、ガイドプレートに直接載置されるプラズマ処理用基板である、請求項8に記載のプラズマ処理装置の被処理物搬送方法。
- 真空室の圧力を制御することにより、その真空室におけるガイドプレートのガス噴出孔群から噴出させる浮上用ガスの噴出圧力を制御する、請求項8に記載のプラズマ処理装置の被処理物搬送方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007291183A JP4876055B2 (ja) | 2007-11-08 | 2007-11-08 | プラズマ処理装置および被処理物搬送方法 |
PCT/JP2008/070314 WO2009060943A1 (ja) | 2007-11-08 | 2008-11-07 | プラズマ処理装置および被処理物搬送方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007291183A JP4876055B2 (ja) | 2007-11-08 | 2007-11-08 | プラズマ処理装置および被処理物搬送方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009117713A true JP2009117713A (ja) | 2009-05-28 |
JP4876055B2 JP4876055B2 (ja) | 2012-02-15 |
Family
ID=40625829
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007291183A Expired - Fee Related JP4876055B2 (ja) | 2007-11-08 | 2007-11-08 | プラズマ処理装置および被処理物搬送方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4876055B2 (ja) |
WO (1) | WO2009060943A1 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07228342A (ja) * | 1994-02-17 | 1995-08-29 | Hitachi Ltd | 気流搬送装置およびその制御方法 |
JP2006264939A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-10-05 | Tokyo Electron Ltd | 基板の搬送システムおよび基板の搬送方法 |
JP2007182305A (ja) * | 2006-01-06 | 2007-07-19 | Tokyo Electron Ltd | 基板搬送装置、基板搬送方法及びコンピュータプログラム |
-
2007
- 2007-11-08 JP JP2007291183A patent/JP4876055B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-11-07 WO PCT/JP2008/070314 patent/WO2009060943A1/ja active Application Filing
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07228342A (ja) * | 1994-02-17 | 1995-08-29 | Hitachi Ltd | 気流搬送装置およびその制御方法 |
JP2006264939A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-10-05 | Tokyo Electron Ltd | 基板の搬送システムおよび基板の搬送方法 |
JP2007182305A (ja) * | 2006-01-06 | 2007-07-19 | Tokyo Electron Ltd | 基板搬送装置、基板搬送方法及びコンピュータプログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2009060943A1 (ja) | 2009-05-14 |
JP4876055B2 (ja) | 2012-02-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4542043B2 (ja) | 半導体製造装置およびそれを用いた半導体製造方法 | |
JP2010037082A (ja) | 基板搬送装置および基板搬送方法 | |
JP2763222B2 (ja) | 化学気相成長方法ならびにそのための化学気相成長処理システムおよび化学気相成長装置 | |
JP4571525B2 (ja) | 基板処理装置及び基板処理方法 | |
KR102337428B1 (ko) | 레이저 어닐 장치, 레이저 어닐 처리용 연속 반송로, 레이저광 조사 수단 및 레이저 어닐 처리 방법 | |
JP2013151720A (ja) | 真空成膜装置 | |
JPH0131298B2 (ja) | ||
JP2008159782A (ja) | 減圧乾燥装置 | |
JP2009147260A (ja) | 基板処理装置 | |
KR101478151B1 (ko) | 대면적 원자층 증착 장치 | |
US20110189400A1 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
JP5654796B2 (ja) | 連続拡散処理装置 | |
JP4876055B2 (ja) | プラズマ処理装置および被処理物搬送方法 | |
KR101754260B1 (ko) | 건조 장치 및 건조 처리 방법 | |
JP2000031235A (ja) | 基体の移載装置及びその操作方法 | |
KR101796627B1 (ko) | 배기장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 | |
JP2008153007A (ja) | プラズマ発生装置 | |
JP4857312B2 (ja) | 基板搬送装置 | |
JP2010159164A (ja) | 真空処理装置、真空処理システムおよび処理方法 | |
KR20140085947A (ko) | 기판처리장치 및 기판처리방법 | |
JP4360545B2 (ja) | 連続熱処理炉 | |
JP2013157418A (ja) | エッチング装置 | |
KR102619046B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
JP5985576B2 (ja) | 連続拡散処理装置 | |
KR101507556B1 (ko) | 대면적 기판용 수평형 원자층 증착장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110426 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110621 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111101 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111128 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141202 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |