JP2009115532A - Pattern inspecting apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、例えばTAB(Tape Automated Bonding)法に用いられるテープキャリア上に形成された配線パターンの検査装置、特に光学的に配線パターンの形状を検査するパターン検査装置に関するものである。 The present invention relates to an inspection device for a wiring pattern formed on a tape carrier used in, for example, a TAB (Tape Automated Bonding) method, and more particularly to a pattern inspection device for optically inspecting the shape of a wiring pattern.
従来から、TCP(Tape Carrier Package)やCOF(Chip On Film)など、樹脂フィルムを基材とした長尺のテープにICチップを実装して外部端子を設ける集積回路の生産方法が広く利用されている。このテープはテープキャリアと称され、このようなテープキャリアを製造するには、一般に次のような工程を経る。 2. Description of the Related Art Conventionally, integrated circuit production methods such as TCP (Tape Carrier Package) and COF (Chip On Film), in which an IC chip is mounted on a long tape based on a resin film and external terminals are provided, have been widely used. Yes. This tape is referred to as a tape carrier, and generally, the following process is performed to manufacture such a tape carrier.
まず、絶縁基材となる例えばポリイミドフィルムを所望の形状となるようにパンチングしたあと、銅箔を接着剤を介して貼着する。次に銅箔上にフォトレジストを塗布し、フォトマスクを使用して露光、現像しエッチングにより配線パターンを形成する。 そして、配線および配線間を保護するために、配線パターンのうち接続端子となる部分を除いてソルダ−レジストが印刷される。次にソルダ−レジストを乾燥、硬化させたあと露出した接続端子部分に錫めっきや金めっき等の所望のめっき処理が行なわれる。 First, after punching, for example, a polyimide film serving as an insulating base material into a desired shape, a copper foil is attached via an adhesive. Next, a photoresist is coated on the copper foil, exposed and developed using a photomask, and a wiring pattern is formed by etching. And in order to protect between wiring and wiring, a soldering resist is printed except for the part used as a connection terminal among wiring patterns. Next, after the solder resist is dried and cured, a desired plating process such as tin plating or gold plating is performed on the exposed connection terminal portion.
このような工程を経た後、テープキャリアにICチップが実装されるが、この実装の前であって配線パターンが形成された後の工程で、配線パターンが所望の形状に形成されているか否かを全ピース(ピースは一つの最終製品に使用される配線パターン領域の単位)に対して検査する必要がある。配線パターンの欠陥には、断線、短絡、欠損、突起、飛び散り、ピンホール等様々な形態があり、その他に完全に断線に至っていないパターン幅の細りや、完全に短絡に至っていないパターン幅の太り等の状態も検査の対象として求められているため、これらを総合的に検査可能な光学的な検査手段が広く採用されつつある。 After such a process, the IC chip is mounted on the tape carrier. Whether or not the wiring pattern is formed in a desired shape before the mounting and after the wiring pattern is formed. Must be inspected for all pieces (a piece is a unit of a wiring pattern area used for one final product). There are various forms of wiring pattern defects such as disconnection, short circuit, defect, protrusion, scatter, pinhole, etc. Other narrow pattern width that does not lead to complete disconnection, and wide pattern width that does not result in complete short circuit Therefore, optical inspection means that can comprehensively inspect these conditions are being widely adopted.
そして、光学的手段を用いた検査方法は、検査対象であるテープキャリア上に形成された配線パターンの画像を取得し、この画像と、予め記憶させた良品のパターン画像或いは当該配線パターンのCADデータとを画像処理手段により比較し判断する方法が一般的である。また、高精細な検査対象の画像を取得するために、撮像素子を1列に並べて配置したラインセンサを使用し、テープキャリア上の検査対象ピースをテープキャリアの搬送方向或いは搬送方向と直交する方向に走査して画像を取得する方法が多く採用されている。そして、前記ラインセンサで配線パターンを撮像する際に、テープキャリアの表面が平面になるように支持して撮像を行なう方法と、テープキャリアの表面が搬送方向に湾曲するように支持して撮像を行なう方法がある。 The inspection method using optical means acquires an image of a wiring pattern formed on a tape carrier to be inspected, and this image and a good pattern image stored in advance or CAD data of the wiring pattern. Is generally determined by image processing means. In addition, in order to obtain a high-definition inspection target image, a line sensor in which imaging elements are arranged in a row is used, and the inspection target piece on the tape carrier is transported in the tape carrier or in a direction perpendicular to the transport direction. Many methods of scanning and acquiring images are employed. Then, when the line pattern is imaged by the line sensor, a method of performing imaging while supporting the surface of the tape carrier to be flat, and a method of imaging while supporting the surface of the tape carrier to be curved in the transport direction. There is a way to do it.
配線パターンが形成されたテープキャリアは、その基材となるポリイミドフィルム等の樹脂層と配線パターンとなる銅等の金属層が接着されて形成されたものであるが、両者の熱膨張係数の差から、通常テープキャリアの幅方向に反りが発生する。この反りは前記ラインセンサと検査対象との距離に意図せぬ変化を与えるものであり、ラインセンサを組み込んだカメラと検査対象の全域とを、可能な限り等距離で撮像できるようにする工夫が必要となる。そこで、撮像対象となるテープキャリアの表面を平面に支持するために特許文献1では、テープの幅方向両端にあるパーフォレーションエリアを機械的に把持し、テープを幅方向に引っ張る手段を開示している。
The tape carrier on which the wiring pattern is formed is formed by adhering a resin layer such as a polyimide film as the base material and a metal layer such as copper as the wiring pattern. Therefore, warpage usually occurs in the width direction of the tape carrier. This warpage gives an unintentional change in the distance between the line sensor and the inspection object, and a device that enables the camera incorporating the line sensor and the entire area of the inspection object to be imaged at the same distance as much as possible. Necessary. Therefore, in order to support the surface of the tape carrier to be imaged on a flat surface,
また、テープキャリアをテープの搬送方向に湾曲させても、テープの幅方向の反りを抑制することができるので、特許文献2では図6で示すように検査用ドラム51の湾曲した側面の上部側に沿ってテープキャリアが搬送されるようにしている。ここで、図6に基づいて従来の技術を説明する。図6(a)は従来のパターン検査装置の正面図、図6(b)は図6(a)において、カメラ52の方向から検査対象を見た様子を描いてある。図6(a)において、符号53は巻き出し部、54は検査部、55は巻き取り部である。そして検査対象のテープキャリア56は、巻き出し部53に装着した巻き出しリール57から巻き出され、検査部54を通った後巻き取り部55に装着された巻き取りリール58に収納される。
Further, even if the tape carrier is curved in the tape transport direction, warpage in the tape width direction can be suppressed, so in
検査部54におけるテープキャリア56の搬送は、案内ローラ59、59′、テンションローラ60、60′及び検査ドラム51によって行われ、テンションローラ60、60′は上下動可能な軸に支持され、所定の荷重でテープキャリア56を下方へ押圧することにより、検査ドラム51上のテープキャリア56に適度なテンションを付与している。また、符号50はリング型の照明であり、拡散光を検査ドラム上の検査対象に照射し、その反射光をカメラ52が撮像し、検査対象ピースに形成された配線パターンの画像を取得する。
The
図6(b)は検査対象を上方からみた図であり、検査ドラム51がシャフト61を中心に回転可能に支持されている様子が描かれている。ここで、62、62′は前記シャフト61を回転自在に支持する軸受けであり、63はシャフト61に回転力を与えるモータである。そして、検査ドラム51の回転に同期して巻き出しリール57及び巻き取りリール58が回転するとともに、カメラ52はテープキャリアの移動距離に同期して画素単位の周期でテープ表面の検査対象ピースを撮像する。符号64で示すラインが固定されたカメラ52によって撮像されるライン状の領域である。
FIG. 6B is a view of the inspection target as viewed from above, and shows a state in which the
また、図6では前記ライン64で示したように1台のカメラ52に設けられたラインセンサの撮像領域(撮像ラインの長さ)が検査対象ピース全幅をカバーできる場合を示したが、現実には微細な画素に対応する撮像素子を多数並べたラインセンサのライン長さにも市場への流通という意味で限界があり、これに対して検査対象であるテープキャリアの幅は益々拡大方向に移行している。そこで、図7に示すような方法が公知技術となっている。図7(a)には符号65、65′で示す2台のカメラとそれぞれに対応する照明66、66′が、相対的に傾斜角度を有して検査部に備わっており、これら以外の構成要素は図10(a)と同等であるので、符号を付した詳細な説明は省略する。
6 shows a case where the imaging area (length of the imaging line) of the line sensor provided in one
ここで、2台のカメラは相対的に傾斜角度を有して設けられているのと同時に、図7(a)を見て前後方向に位置をずらして設けてあり、カメラ65は図7(b)において符号67で示すラインをその撮像領域とし、カメラ65′は同図において符号67′で示すラインをその撮像領域としており、それぞれのカメラで検査領域をキャリアテープの幅方向に分担するようにしている。この例示では2台のカメラを用いて説明したが、更に多数のカメラを用いることも可能である。
Here, the two cameras are provided with a relatively inclined angle, and at the same time, the two cameras are shifted in the front-rear direction as seen in FIG. In b), the line indicated by
これまで述べた従来技術を考察すると、特許文献1のように、撮像対象となる領域のテープキャリアを平面に支持するようにした場合、ラインセンサによる走査の方向をテープの搬送方向に行なうこともテープの幅方向に行なうことも可能であり、テープの一方の面側にカメラと照明を配置して反射光による画像を取得することも、テープの一方の面側にカメラを配置し、他方の面側に照明を配置して透過光による画像を取得することも可能である。
Considering the prior art described so far, as in
これに対して、テープの幅方向にカメラと照明を精密に移動させながら走査するという、テープの搬送に加えて大掛りな駆動系を必要とする方法を切り捨てた場合、従来の課題であったキャリアテープの幅方向の反りを矯正するには、図6及び図7に基づいて説明した特許文献2に係る検査ドラムを用いる方法は、検査装置の低コスト化に非常に有利であるという特徴がある。しかしながら、この検査ドラムを用いた方式では、反射光を利用した撮像には前記メリットを有するが、透過光を利用した撮像が困難であり、検査対象の様々な品種に適した撮像方法を提供するという面では問題を有していた。
On the other hand, if a method that requires a large drive system in addition to transporting the tape, that is, scanning while accurately moving the camera and illumination in the width direction of the tape, was a conventional problem. In order to correct the warp in the width direction of the carrier tape, the method using the inspection drum according to
本発明は第1の態様として、電子部品実装用のテープキャリアに形成された配線パターンの形状を光学的に取得して検査するパターン検査装置において、テープキャリアを湾曲状態に保持し、このテープキャリアに形成された配線パターンをラインセンサの撮像領域に次々に配置するドラム体を設け、さらにこのドラム体の内部に照明手段を備えることで、この照明手段が出射して前記テープキャリアを透過した光が、前記ドラム体の外側に配置された前記ラインセンサによって撮像されることを特徴とするパターン検査装置を提供する。 As a first aspect of the present invention, in a pattern inspection apparatus for optically acquiring and inspecting the shape of a wiring pattern formed on a tape carrier for mounting electronic components, the tape carrier is held in a curved state, and the tape carrier A drum body is provided for successively arranging the wiring patterns formed in the imaging region of the line sensor, and further provided with illumination means inside the drum body, so that the illumination means emits light transmitted through the tape carrier. Provides a pattern inspection apparatus in which an image is picked up by the line sensor arranged outside the drum body.
また本発明は第2の態様として、前記ドラム体は、前記テープキャリアの幅方向両端近傍に接触して、テープキャリアの搬送と共に回転する一対の回転円板と、前記一対の回転円板の内側に設けられ、少なくとも前記一対の回転円板が前記テープキャリアと接触する円弧状の角度範囲内では円板形状をなす一対の固定板と、前記一対の固定板の間に回転自在に支持され、搬送される前記テープキャリアの被検査領域の裏面に転接する複数の回転ローラと、前記一対の固定板の間隙に設けられ、前記複数の回転ローラの間隙からこのドラム体の外側に向けて光を出射する照明手段とで構成されることを特徴とする第1の態様として記載のパターン検査装置を提供する。 According to a second aspect of the present invention, the drum body is in contact with the vicinity of both ends in the width direction of the tape carrier and rotates with the conveyance of the tape carrier, and the inside of the pair of rotation disks. A pair of fixed plates having a disk shape within at least an arcuate angular range in which the pair of rotating disks contact the tape carrier, and a pair of fixed plates that are rotatably supported and conveyed. A plurality of rotary rollers that are in rolling contact with the back surface of the inspection area of the tape carrier and a gap between the pair of fixed plates, and emit light from the gap between the plurality of rotary rollers toward the outside of the drum body. The pattern inspection apparatus according to the first aspect, characterized in that the pattern inspection apparatus is configured with illumination means.
さらに本発明は第3の態様として、前記ドラム体に設けられた前記一対の固定板は、
前記円弧状の角度範囲以外の部分に立設された隔壁を有し、この隔壁は前記一対の固定板の間隙側の空間とその外側の空間とを分離するものであり、前記一対の固定版の間隙の空間には、前記ドラム体の外部から引き込んだ気体を噴出する噴出口を備えることを特徴とする第2の態様として記載のパターン検査装置を提供する。
Furthermore, as a third aspect of the present invention, the pair of fixing plates provided on the drum body includes:
The partition wall is erected in a portion other than the arcuate angular range, and the partition wall separates the space on the gap side of the pair of fixing plates and the space outside thereof, and the pair of fixed plates The pattern inspection apparatus according to the second aspect is provided with an ejection port for ejecting a gas drawn from the outside of the drum body in the space of the gap.
本発明の第1の態様によれば、ラインセンサの撮像範囲に位置するテープキャリアを、ドラム体を用いて搬送方向に湾曲させるので、大掛りな駆動機構を設けなくてもテープの幅方向の反りが矯正できる。また、ドラム体内部に照明手段を設けてテープキャリアを透過した透過光をラインセンサで撮像することができる。また、ドラム体の外側に設けたラインセンサに加えて、従来どおりドラム体の外側に照明手段を設けておくことで、検査対象の品種や検査方法に応じて、反射光による撮像と透過光による撮像を選択することが可能になる。さらにテープキャリアを往復搬送させることで、同一の検査対象に対して反射光による撮像と透過光による撮像との両方の撮像結果を取得できる。 According to the first aspect of the present invention, since the tape carrier located in the imaging range of the line sensor is curved in the transport direction using the drum body, the tape width direction can be obtained without providing a large drive mechanism. Warp can be corrected. Further, the illumination means is provided inside the drum body, and the transmitted light that has passed through the tape carrier can be imaged by the line sensor. Moreover, in addition to the line sensor provided outside the drum body, the illumination means is provided outside the drum body as in the past, so that imaging by reflected light and transmission light are performed according to the type of inspection object and the inspection method. It becomes possible to select imaging. Furthermore, by reciprocating the tape carrier, it is possible to acquire both imaging results of reflected light and transmitted light for the same inspection object.
また本発明の第2の態様によれば、テープキャリアの幅方向両端近傍を一対の回転円板を用いてテープの搬送方向に円弧状に支持し、それ以外の部分(テープの幅方向中央部近傍)は複数の回転ローラを用いてテープの搬送方向に略円弧状に支持することができる。したがって、テープキャリアを全体としてテープの搬送方向に湾曲して保持することができる。またこのような構造にすることで、内部に設けた照明手段が発する光を、回転ローラの間隙を通過させてドラム体の外側に出射できる。 Further, according to the second aspect of the present invention, the vicinity of both ends in the width direction of the tape carrier is supported in an arc shape in the tape transport direction by using a pair of rotating disks, and the other portion (the central portion in the width direction of the tape) The vicinity) can be supported in a substantially arc shape in the tape transport direction using a plurality of rotating rollers. Therefore, the tape carrier can be held curved as a whole in the tape transport direction. Further, with such a structure, the light emitted from the illumination means provided inside can be emitted to the outside of the drum body through the gap between the rotating rollers.
さらに本発明の第3の態様によれば、テープキャリアが薄く、しかも幅方向に広い品種であっても、ドラム体の外部から引き込んだ気体を一対の固定板の間隙の空間で噴出させ内圧を高めることができるので、一対の固定板の間に支持された複数の回転ローラの間隙に位置するテープキャリアに対して湾曲の内側から圧力を加えることができる。したがって、ラインセンサによる撮像位置も含めた回転ローラの間隙に位置するテープキャリアが湾曲の内側方向に凹むことなく、テープキャリアを全体としてテープの搬送方向に湾曲して保持することができる。 Further, according to the third aspect of the present invention, even if the tape carrier is thin and wide in the width direction, the gas drawn from the outside of the drum body is blown out in the space between the pair of fixed plates, and the internal pressure is reduced. Therefore, pressure can be applied from the inside of the curve to the tape carrier located in the gap between the plurality of rotating rollers supported between the pair of fixed plates. Therefore, the tape carrier positioned in the gap between the rotating rollers including the imaging position by the line sensor can be held as a whole curved in the tape transport direction without being dented inwardly of the curve.
次に添付図面を参照して本発明に係るパターン検査装置の実施形態を詳細に説明する。 Next, an embodiment of a pattern inspection apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
まず図1に基づいて本発明に係るパターン検査装置の全体構成を説明する。図1において、符号1は巻き出し部、2は検査部、3は巻き取り部である。そして、装置全体の動作を制御する制御部、取得した画像から検査結果を導き出す画像処理部及び検査演算部、検査結果等を表示する表示部も全体構成に含まれるが、ここでは図示を省略する。また、図1では必要最小限の構成を示しており、実際の検査ラインでは検査部2と巻き取り部3との間に、検査部2で欠陥候補とされたピースを顕微鏡で拡大して再確認する顕微鏡ベリファイ部や欠陥ピースと判断されたピースに欠陥を意味するマーキングを行なうマーキング部等が設けられる場合がある。
First, the overall configuration of the pattern inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 1,
まず図を見て左から、巻き出し部1には巻き出しリール4が装着されており、この巻き出しリール4には未検査のテープキャリア5が収納されている。テープキャリア5は配線パターン面が図を見て上側になった状態で検査部2へと搬送される。そして検査部2に搬送されたテープキャリア5は回転自在に支持された案内ローラ6の上部を通り、次にテンションローラ7の下部を通る。このテンションローラ7は上下動可能な軸に支持され、所定の荷重でテープキャリア5を下方へ押圧することにより、もう一つのテンションローラ7′と共にドラム体8の上部を通るテープキャリア5に適度なテンションを付与している。そしてドラム体8の上部を通りテンションローラ7′の下部を通ったテープキャリア5は、巻き取り部3に装着された巻き取りリール9に巻き取られ収納される。
First, from the left of the figure, the unwinding
符号10で示すのはカメラであり、内部にはテープキャリア5の幅方向にライン状に撮像素子を並べたラインセンサが備えられている。そして撮像レンズはドラム体上部に湾曲して保持されたテープキャリア5に向けられ、撮像対象である配線パターンにフォーカスを合わせてある。ここで、一点鎖線で描き符合11を付してあるのはリング形照明手段であり、本発明にかかるドラム体8の内部に収納した照明手段用いて透過光の撮影を行なうだけでなく、反射光の撮影も行なう場合を考慮して設けてある。また、図1ではカメラ10を1台のみ描いてあるが、図7に基づいて従来の技術を説明したように、幅広のテープキャリアに対応するため、ドラム体の回転軸に撮像レンズを向けて複数のカメラを設けることができる。
次に図2に基づいてドラム体8の構造について説明する。図2は図1に示したドラム体8を同じ方向から見た正面図でありテープキャリア5がドラム体8の上部に接触し、湾曲した状態を示している。本実施形態の場合はドラム体8の上部半分である中心角180度の円弧部分にテープキャリア5が接触しているが、これは180度に限るものではなく増減させてもよい。また、正面に見える手前側の回転円板12は図示しない背面側の回転円板と対をなすものであり、これに隠れて点線で描かれた6つの回転ローラ13がテープキャリア5の被検査範囲の裏面に転接しつつ回転自由に支持されている。また、これも点線で描かれた照明手段14が、ドラム体8の内部から上方に向けて拡散光を出射している。
Next, the structure of the
ベース15には軸受け16が立設されており、この軸受け16には駆動軸17が回転自在に支持されると共に固定板の筒状突起18Aが固定されている。また、手前側の回転円板12に固定された第1のタイミングプーリ19と駆動軸17に固定された第2のタイミングプーリ20とにタイミングベルト21が懸架されている。
A
次に図3に基づいてドラム体8の構造を説明する。図3はドラム体8の右側面を描いた側面図であり、図を見て左側が正面側、右側が背面側である。前述した回転円板12と対をなすのが背面側に配置されたもう一つの回転円板12′でありそれぞれの外周には若干の段差を置いてリング状の突起12A、12A′が立設されている。また、これら突起12A、12A′の内側に隠れるように一対の固定板18、18′が設けられており、一方の固定板18に備わる筒状突起18Aは軸受け16に、他方の固定板18′に備わる筒状突起18A′は軸受け16′にそれぞれ固定されている。
Next, the structure of the
また、一対の回転円板12、12′は前述の一対の固定板に備わる筒状突起18、18′にそれぞれ回転自在に軸着されており、背面側の第1のタイミングプーリ19′と第2のタイミングプーリ20′にも、タイミングベルト21′が懸架されている。従って、モータ22が駆動して駆動軸17が回転することにより、一対の回転円板12、12′は同一方向に同一角度の回転を行なう。そして、一対の回転円板12、12′が回転しても静止状態を保つ一対の固定板18、18′は、互いの間隙の上部において6つの回転ローラ13を回転自在に支持しており、それ以外の下部においては、その外周に互いの方向に立設した隔壁18B、18B′が設けられており、両外壁の先端が当接した状態となっている。
The pair of
次に図4に基づいてさらにドラム体8の構造を説明する。図4(a)はドラム体8を正面から見て、内部が分かりやすいように正面側の回転円板12、固定板18及び駆動系部材の図示を省略したものである。図4(a)において背面側の回転円板12′にはリング状の突起12A′が立設されており、その外周面が回転ローラ13の表面と符号アの部分で一致するようになっている。したがって、搬送すべきテープキャリア5の幅方向両端のパーフォレーションエリアにはリング状の突起12A′の外周面が接触して回転すると共に、テープキャリア5の幅方向両端近傍以外の部分、つまり検査対象領域の裏面には、回転ローラ13が転接する。
Next, the structure of the
そして照明手段14は、背面側の固定板18′の手前側、つまり一対の固定板18、18′の間隙に配置されている。ここで、符号14Aは円柱状の光源ランプ、14Bはリフレクタ、14Cは光源ランプ14Aが出射する指向性の強い光を拡散光に返還する拡散レンズである。また本実施形態では、ランプの発光のための電源ケーブル14Dを固定板18′に設けた筒状突起18A′の穴から引き入れているが、この穴から光ファイバーの束であるライトガイドを引き入れてドラム体8の内部に光出射部を設ければ、光源装置をドラム体8の外部に設けることができる。
The illumination means 14 is disposed on the front side of the fixed plate 18 'on the back side, that is, in the gap between the pair of fixed
図4(b)は図4(a)に示す断面イ−イを見た図である。ただしこの断面図では、図4(a)で図示を省略した正面側の回転円板12や固定板18等を描いてある。ここで、符号23は正面側の固定板18に備わる筒状突起18Aの穴に連設したノズルであり、連設部と対向する一端が閉止され、側面に複数の噴出口23Aを備えている。そして前記筒状突起18Aの開口部から気体を注入し、噴出口23Aから噴出させるものである。このドラム体8は下部が一対の固定板18、18′に立設した隔壁18B、18B′によって覆われているので、その内圧が高まると、湾曲状態のテープキャリア5の内面に圧力を加える。
FIG. 4B is a view of the cross section Ei shown in FIG. However, in this cross-sectional view, the
テープキャリア5が薄く幅広であっても上記のような作用を奏するので、テープキャリア5に局所的な変形が発生せず、テープの搬送方向に素直に湾曲した状態を作り出すことができる。また、本実施形態では一対の固定板は完全な円板形状をなし、隔壁18B、18B′もその外周にそって円弧形状となっているが、回転ローラ13が配置される円弧状の角度範囲以外の部分は円板形状である必要はなく、図4(a)と対応させて描いた図5に示すような形状としても同様の効果を奏する。さらに、本実施形態ではドラム体8の正面側から気体を注入し、背面側から照明手段用の電源あるいはライトガイドを導入するように説明したが、これが前後逆であってもよいし、前記隔壁18B、18B′に導入口を穿設し、これらをドラム体8内に引き入れてもよい。
Even if the
1 巻き出し部
2 検査部
3 巻き取り部
4 巻き出しリール
5 テープキャリア
6、6′ 案内ローラ
7、7′ テンションローラ
8 ドラム体
9 巻き取りリール
10 カメラ
11 リング形照明手段
12、12′ 回転円板
13 回転ローラ
14 照明手段
15 ベース
16、16′ 軸受け
17 駆動軸
18、18′ 固定板
19、19′ 第1のタイミングプーリ
20、20′ 第2のタイミングプーリ
21、21′ タイミングベルト
22 モータ
23 ノズル
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013072825A (en) * | 2011-09-29 | 2013-04-22 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Image acquisition device |
KR101256510B1 (en) | 2009-12-21 | 2013-05-02 | 주식회사 포스코 | Apparatus for measuring luster of steel pipe |
JP2014230063A (en) * | 2013-05-22 | 2014-12-08 | オノ・アンド・ジーアイテイー株式会社 | Film scanning device |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004028597A (en) * | 2002-06-21 | 2004-01-29 | Ushio Inc | Pattern inspecting apparatus |
JP2004301752A (en) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Tdk Corp | Method and apparatus for detecting surface defect |
JP2005003645A (en) * | 2003-06-16 | 2005-01-06 | Inspeck Kk | Pattern inspection device |
JP2005513436A (en) * | 2001-12-18 | 2005-05-12 | カーベーアー−ジオリ ソシエテ アノニム | Equipment for inspecting materials |
JP2007127651A (en) * | 2005-11-03 | 2007-05-24 | Lg Electronics Inc | Device and method for inspecting tape product |
-
2007
- 2007-11-05 JP JP2007287112A patent/JP2009115532A/en active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005513436A (en) * | 2001-12-18 | 2005-05-12 | カーベーアー−ジオリ ソシエテ アノニム | Equipment for inspecting materials |
JP2004028597A (en) * | 2002-06-21 | 2004-01-29 | Ushio Inc | Pattern inspecting apparatus |
JP2004301752A (en) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Tdk Corp | Method and apparatus for detecting surface defect |
JP2005003645A (en) * | 2003-06-16 | 2005-01-06 | Inspeck Kk | Pattern inspection device |
JP2007127651A (en) * | 2005-11-03 | 2007-05-24 | Lg Electronics Inc | Device and method for inspecting tape product |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101256510B1 (en) | 2009-12-21 | 2013-05-02 | 주식회사 포스코 | Apparatus for measuring luster of steel pipe |
JP2013072825A (en) * | 2011-09-29 | 2013-04-22 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Image acquisition device |
JP2014230063A (en) * | 2013-05-22 | 2014-12-08 | オノ・アンド・ジーアイテイー株式会社 | Film scanning device |
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