JP2009105586A - ラッチ回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】ラッチ回路のクロックエッジ極性を変更する信号とクロック自身との間の論理回路によりデータホールド時間の制約に圧迫を受ける問題がある。
【解決手段】本発明に基づくラッチ回路は、第1信号に応じ第2信号をゲーティングし第3信号を出力する第1データゲーティング回路と、前記第1信号に応じ前記第2信号を、上記第1データゲーティング回路に対し反転に、ゲーティングし第4信号を出力する第2データゲーティング回路と、第5信号に応じ前記第3信号と前記第4信号の何れか一方を保持信号として出力するセレクタ回路と、前記保持信号を記憶する双安定回路を具備することを特徴とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、ラッチ回路および半導体装置に関するものである。
図6は、特許文献1に記載のフリップフロップ(1)の実施図である。 符号10は一般的なDフリップフロップであり、選択回路(7)を介して単相クロックを入力する構成を採る。
選択回路(7)は、クロック入力端子(3)に入力されたクロックに対し、正転して出力する状態と反転して出力する状態とを選択端子(4)に入力する選択信号に応じ切り替える。
このようにフリップフロップ(1)は、入力されるクロックの立ち上がりで動作するか、または立ち下がりで動作するかを、容易に切り替えることができ、クロックエッジの極性変更に拠るタイミング調整を行うことができる。 なお関連するラッチ回路の記載がある特許文献2や特許文献3がある。
しかしながら上述した従来技術は、Dフリップフロップ(10)のタイミング制約、より具体的にはデータホールド時間の制約を圧迫する、という問題がある。
クロック入力端子(3)に入力されたクロックは、選択端子(4)に入力する選択信号との間で論理(すなわち選択回路(7))を構成する必要があり、従って選択回路(7)に相当する遅延時間だけDフリップフロップ(10)に到達する時間が遅れる。 この結果としてDフリップフロップ(10)は、この遅延時間の分だけ、データホールド時間を余分に確保しなければならない。
上述の課題を解決するために本発明のラッチ回路は、その第一の側面に拠れば、第1信号に応じ第2信号をゲーティングし第3信号を出力する第1データゲーティング回路と、前記第1信号に応じ前記第2信号を、上記第1データゲーティング回路に対し反転に、ゲーティングし第4信号を出力する第2データゲーティング回路と、第5信号に応じ前記第3信号と前記第4信号の何れか一方を保持信号として出力するセレクタ回路と、前記保持信号を記憶する双安定回路とを備えたことを特徴とする。
また第二の側面に拠れば、第1信号に応じゲーティングする第1データゲーティング回路と第2信号に応じゲーティングする第2データゲーティング回路とを直列に結合させて成る第1回路を有し、前記第1信号に応じ、上記第1データゲーティング回路に対し反転に、ゲーティングする第3データゲーティング回路と前記第2信号に応じ、上記第2データゲーティング回路に対し反転に、ゲーティングする第4データゲーティング回路とを直列に結合させて成る第2回路を有し、前記第1回路と前記第2回路とを並列に結合させて成る第3回路と、前記第3回路の一方の端子から第3信号を入力し他方の端子から出力する信号を保持信号として記憶する双安定回路とを備えたことを特徴とするラッチ回路である。
さらに第三の側面に拠れば、第1信号に応じスイッチングする第1導電型の第1トランジスタと第2信号に応じスイッチングする前記第1導電型の第2トランジスタとを直列に結合させて成る第1回路を有し、前記第1信号に応じスイッチングする上記第1導電型とは異なる第2導電型の第3トランジスタと前記第2信号に応じスイッチングする前記第2導電型の第4トランジスタとを直列に結合させて成る第2回路を有し、前記第1回路と前記第2回路とを並列に結合させて成る第3回路と、前記第3回路の一方の端子から第3信号を入力し他方の端子から出力する信号を保持信号として記憶する双安定回路と、を備えたことを特徴とするラッチ回路である。
本発明に拠れば、データホールド時間の制約を圧迫することなく、クロックエッジの極性変更に拠るタイミング調整ができるラッチ回路を提供することができる。
以下では、本発明を適用した具体的な実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。各図面において同一要素には同一の符号が付されており、また説明の煩雑さを回避するために必要に応じて重複説明は省略する。
図1は、本発明の一実施形態からなるラッチ回路の構成を表すブロック図である。 符号101はデータを入力する入力端子、符号102はクロックまたは選択信号を入力する入力端子、符号103は選択信号またはクロックを入力する端子、符号104はデータを出力する出力端子である。
符号210と220は反転型と正転型のデータゲーティング回路(Data Gating Circuit)であり、より具体的な回路名で言えば、双方向性があるバイラテラルゲート(Bilateral Gate)回路やパストランジスタ(Pass−Transistor)回路、単方向性ならばクロックドインバータ(Clocked Inverter)回路などである。
符号300は選択回路であり、入力端子(103)に入力される信号に応じ端子(NT1)あるいは端子(NT2)に現れる信号を出力する。 本実施例の場合は、入力端子(103)の信号がLow(以下、Lと略記する)のときに端子(NT1)の信号を出力し、入力端子(103)の信号がHigh(以下、Hと略記する)のときに端子(NT2)の信号を出力する。
符号400は双安定回路であり、選択回路(300)の出力信号を記憶すると共に出力端子(104)へ信号を出力する。
表1は、図1に示すラッチ回路の真理値表である。 遷移状態(A)と(B)は入力端子(103)にLを入力した状態を示し、更に前者の遷移状態(A)は入力端子(102)にLを入力した状態、後者の遷移状態(B)は入力端子(102)にHを入力した状態を示す。
前者の遷移状態(A)において、反転型データゲーティング回路(210)はゲートが開いた状態にあって、入力端子(101)に入力される信号を端子(NT1)へスルー(Through)させ、他方で正転型データゲーティング回路(220)はゲートが閉じた状態にあって、入力端子(101)に入力される信号に依らず、端子(NT2)に対しハイインピーダンス(High Impedanceであり以下、Zと略記する)を現す。
次に遷移状態(A)において、選択回路(300)は端子(NT2)に現れる信号あるいはその状態に依らず、端子(NT1)に現れる信号を出力すると共に、双安定回路(400)はその出力信号を記憶し且つ出力端子(104)へ出力する。 この状態をラッチ回路のスルー状態と称する。
後者の遷移状態(B)において、反転型データゲーティング回路(210)はゲートが閉じた状態にあって、入力端子(101)に入力される信号に依らず、端子(NT1)に対しZを現し、他方で正転型データゲーティング回路(220)はゲートが開いた状態にあって、入力端子(101)に入力される信号を端子(NT2)へスルーさせる。
なおデータゲーティング回路210と220は、データゲーティングの動作において、このように互いに反転の関係にある。 さらに言えば、データゲーティング回路210と220は少なくとも反転動作の関係にあれば必要充分であり、よって符号210を正転型データゲーティング回路と成し且つ符号220を反転型データゲーティング回路と成しても良い。
次に遷移状態(B)において、選択回路(300)は(遷移状態(A)と同様に)、端子(NT2)に現れる信号あるいはその状態に依らず端子(NT1)に現れる信号を出力するのであるが、この場合の端子(NT1)はZの状態にあるために、双安定回路(400)は遷移状態(B)に至る直前の記憶値を維持し且つ出力端子(104)へ出力し続ける。 この状態をラッチ回路のラッチ状態と称する。
上述の通り遷移状態(A)と(B)は、入力端子(101)をデータの入力端子、入力端子(102)を「反転クロック」の入力端子、出力端子(104)をデータの出力端子とする反転型のラッチ回路の真理値表を呈する。
遷移状態(C)と(D)は入力端子(103)にHを入力した状態を示し、更に前者の遷移状態(C)は入力端子(102)にLを入力した状態、後者の遷移状態(D)は入力端子(102)にHを入力した状態を示す。
前者の遷移状態(C)において、反転型データゲーティング回路(210)はゲートが開いた状態にあって、入力端子(101)に入力される信号を端子(NT1)へスルーさせ、他方で正転型データゲーティング回路(220)はゲートが閉じた状態にあって、入力端子(101)に入力される信号に依らず、端子(NT2)に対しZを現す。
次に遷移状態(C)において、選択回路(300)は端子(NT1)に現れる信号あるいはその状態に依らず端子(NT2)に現れる信号を出力するのであるが、この場合の端子(NT2)はZの状態にあるために、双安定回路(400)は遷移状態(C)に至る直前の記憶値を維持し且つ出力端子(104)へ出力し続ける、すなわちラッチ状態にある。
後者の遷移状態(D)において、反転型データゲーティング回路(210)はゲートが閉じた状態にあって、入力端子(101)に入力される信号に依らず、端子(NT1)に対しZを現し、他方で正転型データゲーティング回路(220)はゲートが開いた状態にあって、入力端子(101)に入力される信号を端子(NT2)へスルーさせる。
次に遷移状態(D)において、選択回路(300)は(遷移状態(C)と同様に)、端子(NT1)に現れる信号あるいはその状態に依らず、端子(NT2)に現れる信号を出力すると共に、双安定回路(400)はその出力信号を記憶し且つ出力端子(104)へ出力する、すなわちスルー状態にある。
上述の通り遷移状態(C)と(D)は、入力端子(101)をデータの入力端子、入力端子(102)を「正転クロック」の入力端子、出力端子(104)をデータの出力端子とする正転型のラッチ回路の真理値表を呈する。
このように図1に示すラッチ回路は、入力端子(103)に入力する信号に応じ、極性の異なる(反転型と正転型の)ラッチ回路へ容易に変更できる作用を備える。
さらに図1に示すラッチ回路の効果を述べる。 入力端子(102)に入力されたクロックは、入力端子(103)に入力された(ラッチ回路が反転型と正転型との間で極性を選択する)信号との間で論理を構成する必要がない。 従って、そのクロックが(ラッチ回路の機能として根源的な機能要素である)データゲーティング回路210あるいは220へ到達する時間に遅れがない為に、ラッチ回路のデータホールド時間の制約を圧迫することもなくなり、言い換えればデータホールド時間を余分に確保する必要もなくなる。
表2も図1に示すラッチ回路の真理値表であり、また表1と同等の真理値表である。 但し表2は、表1に示す遷移状態(A)乃至(D)を並び替えた表であり、すなわち遷移状態(A)、(C)、(B)、(D)の順に並び替えられている。
そこで先づ遷移状態(A)と(C)に着目するならば、入力端子(101)をデータの入力端子、「入力端子(103)を反転クロックの入力端子」、出力端子(104)をデータの出力端子とする反転型のラッチ回路の真理値表を呈する。
次に遷移状態(B)と(D)に着目するならば、入力端子(101)をデータの入力端子、「入力端子(103)を正転クロックの入力端子」、出力端子(104)をデータの出力端子とする正転型のラッチ回路の真理値表を呈する。
このように図1に示すラッチ回路は、入力端子(102)に入力する信号にも応じ、極性の異なる(反転型と正転型の)ラッチ回路へ容易に変更することができる。
図2は、本発明の他の一実施形態からなるラッチ回路の構成を表す回路図である。 ここで、図1に示した要素と同一の要素は同一の符号を附してある。
そこで先づ一つの側面から図2のラッチ回路の構成を説明する。 すなわち図1に示す選択回路(300)と同一要素である図2に示す選択回路(300)の構成を説明する。
符号310と320は反転型と正転型のデータゲーティング回路である。 なお具体的な回路名で言えば、双方向性があるバイラテラルゲート回路やパストランジスタ回路、単方向性ならばクロックドインバータ回路などである。
反転型データゲーティング回路(310)は、入力端子(103)に入力する信号に応じ、ゲートを開閉し端子(NT1)に現れる信号あるいはその状態を出力端子(104)へ出力する。 同様に、正転型データゲーティング回路(320)は、入力端子(103)に入力する信号に応じ、ゲートを開閉し端子(NT2)に現れる信号あるいはその状態を出力端子(104)へ出力する。
ここでデータゲーティング回路310と320は、データゲーティングの動作において、互いに反転の関係にある。 すなわち入力端子(103)に入力する信号に応じ、反転型データゲーティング回路(310)が開いているときは正転型データゲーティング回路(320)が閉じ、逆に反転型データゲーティング回路(310)が閉じているときは正転型データゲーティング回路(320)が開いている。 さらに言えば、データゲーティング回路310と320は少なくとも反転動作の関係にあれば必要充分であり、よって符号310を正転型データゲーティング回路と成し且つ符号320を反転型データゲーティング回路と成しても良い。
この側面に基づくならばデータゲーティング回路(210)と(310)は、入力端子(101)と出力端子(104)との間で直列な結合関係にあれば充分であり、よって位置関係を交換しても良い。 同様にデータゲーティング回路(220)と(320)も、入力端子(101)と出力端子(104)との間で直列な結合関係にあれば充分であり、よって位置関係を交換しても良い。
次に他の一つの側面から図2のラッチ回路の構成を説明する。 すなわち上述の説明はデータゲーティング回路をブロックレベルに留めていたが、さらに階層を一段階下げてトランジスタレベルにおいて構成を説明する。
反転型データゲーティング回路(210)と(310)は各々が符号211と311を附した一個のP型トランジスタで構成し、正転型データゲーティング回路(220)と(320)は各々が符号221と321を附した一個のN型トランジスタで構成する。
なお双安定回路(400)も階層を一段階下げてブロックレベルにおいて具体化した一つの構成を説明する。 符号401と402は共にインバータであり、リング状に結合して双安定回路を構成する。 双安定回路(400)は、インバータ(401)の入力端子とインバータ(402)の出力端子とを共有し且つ出力端子(104)とも共有するバルーン型である。
なお符号105を附した端子は、インバータ(401)の出力端子とインバータ(402)の入力端子とを共有する端子であり、出力端子(104)から出力される信号に対し反転した信号を出力する出力端子(105)として機能する。
図3は、本発明の他の一実施形態からなるラッチ回路の構成を表す回路図である。 ここで、図1乃至図2に示した要素と同一の要素は同一の符号を附してある。
そこで先づ一つの側面から図3のラッチ回路の構成を説明する。 符号510と520は反転型と正転型のデータゲーティング回路であり、入力端子(101)に入力する信号に応じゲートを開閉する。 また符号610と620も反転型と正転型のデータゲーティング回路であり、入力端子(102)に入力する信号に応じゲートを開閉する。
符号700は選択回路であり且つ選択回路(300)と同等である。 但し入力端子(103)の信号がLのときに端子(NT5)の信号を出力し、入力端子(103)の信号がHのときに端子(NT6)の信号を出力する。
双安定回路(400)は選択回路(700)の出力信号を記憶すると共に出力端子(105)へ信号を出力する。
表3は、図3に示すラッチ回路の真理値表である。 なお図1乃至図2に示した要素と同一である図3の要素に対する真理値表は、表1と同一であるから省略する。 また表3に示す遷移状態(A)乃至(D)は、表1に示す遷移状態(A)乃至(D)と同一の遷移状態である。
遷移状態(A)において、反転型データゲーティング回路(610)はゲートが開いた状態にあって、端子(NT3)に現れる信号あるいはその状態を端子(NT5)へスルーさせ、他方で正転型データゲーティング回路(620)はゲートが閉じた状態にあって、端子(NT4)に現れる信号あるいはその状態に依らず、端子(NT6)に対しZを現す。
また遷移状態(A)において、選択回路(700)は端子(NT6)に現れる信号あるいはその状態に依らず、端子(NT5)に現れる信号あるいはその状態を出力する。 なお端子(NT5)に現れる信号あるいはその状態は、端子(NT3)に等しい。
そこで入力端子(101)にHを入力したとき反転型データゲーティング回路(510)はゲートが閉じた状態にあって、端子(NT3)にZが現れ、他方で入力端子(101)にLを入力したとき反転型データゲーティング回路(510)はゲートが開いた状態にあって、端子(NT3)にHが現れる。 ここでVDDは電源電圧であり、論理値Highに相当する電圧値でもある。
そして入力端子(101)にHを入力したとき選択回路(700)の出力はZを現すが、他方の選択回路(300)の出力がHを現すためにインバータ(401)を介し端子(105)にLが現れる。 また入力端子(101)にLを入力したとき選択回路(700)の出力はHを現し、且つ他方の選択回路(300)の出力がLを現すためにインバータ(401)を介し端子(105)にHが現れるので、相補的に双安定回路(400)を一状態に安定させる。
次に遷移状態(B)において、反転型データゲーティング回路(610)はゲートが閉じた状態にあって、端子(NT3)に現れる信号あるいはその状態に拠らず、端子(NT5)に対しZを現し、他方で正転型データゲーティング回路(620)はゲートが開いた状態にあって、端子(NT4)に現れる信号あるいはその状態を端子(NT6)へスルーさせる。
また遷移状態(B)において、選択回路(700)は端子(NT6)に現れる信号あるいはその状態に依らず、端子(NT5)に現れる信号あるいはその状態を出力する。 すなわち端子(NT5)はZの状態にあるために、双安定回路(400)は遷移状態(B)に至る直前の記憶値を維持し且つ出力端子(105)へ出力し続け、ラッチ回路のラッチ状態にある。
遷移状態(C)において、反転型データゲーティング回路(610)はゲートが開いた状態にあって、端子(NT3)に現れる信号あるいはその状態を端子(NT5)へスルーさせ、他方で正転型データゲーティング回路(620)はゲートが閉じた状態にあって、端子(NT4)に現れる信号あるいはその状態に依らず、端子(NT6)に対しZを現す。
また遷移状態(C)において、選択回路(700)は端子(NT5)に現れる信号あるいはその状態に依らず、端子(NT6)に現れる信号あるいはその状態を出力する。 すなわち端子(NT6)はZの状態にあるために、双安定回路(400)は遷移状態(C)に至る直前の記憶値を維持し且つ出力端子(105)へ出力し続け、ラッチ回路のラッチ状態にある。
遷移状態(D)において、反転型データゲーティング回路(610)はゲートが閉じた状態にあって、端子(NT3)に現れる信号あるいはその状態に依らず、端子(NT5)に対しZを現し、他方で正転型データゲーティング回路(620)はゲートが開いた状態にあって、端子(NT4)に現れる信号あるいはその状態を端子(NT6)へスルーさせる。
また遷移状態(D)において、選択回路(700)は端子(NT5)に現れる信号あるいはその状態に依らず、端子(NT6)に現れる信号あるいはその状態を出力する。 なお端子(NT6)に現れる信号あるいはその状態は、端子(NT4)に等しい。
そこで入力端子(101)にLを入力したとき反転型データゲーティング回路(510)はゲートが開いた状態にあって、端子(NT3)にHが現れ、他方で入力端子(101)にHを入力したとき反転型データゲーティング回路(510)はゲートが閉じた状態にあって、端子(NT3)にZが現れる。 ここでGNDは接地であり、論理値Lowに相当する電圧値でもある。
そして入力端子(101)にHを入力したとき選択回路(700)の出力はLを現し、且つ他方の選択回路(300)の出力がHを現すためにインバータ(401)を介し端子(105)にLが現れるので、相補的に双安定回路(400)を一状態に安定させる。 また入力端子(101)にLを入力したとき選択回路(700)の出力はZを現すが、他方の選択回路(300)の出力がLを現すためにインバータ(401)を介し端子(105)にHが現れる。
次に他の一つの側面から図3のラッチ回路の構成を説明する。 すなわち上述の説明はデータゲーティング回路をブロックレベルに留めていたが、さらに階層を一段階下げてトランジスタレベルにおいて構成を説明する。
反転型データゲーティング回路(510)、(610)、および(710)は各々が符号511、611、および711を附した一個のP型トランジスタで構成し、正転型データゲーティング回路(520)、(620)、および(720)は各々が符号521、621、および721を附した一個のN型トランジスタで構成する。 なおインバータ(401)や(402)はCMOS型インバータが一般的である。
そこで表3の真理値表を用い図3に示すラッチ回路のトランジスタレベルの特有な動作を説明する。
遷移状態(A)において入力端子(101)にHが入力されたとき、P型トランジスタ(211)は入力端子(101)側がソースに、端子(NT1)側がドレインになり、P型トランジスタ(311)は端子(NT1)側がソースに、出力端子(104)側がドレインになる。 従って入力端子(101)に入力した論理値Highの電圧値が電源電圧VDDであるならば、出力端子(104)に現れる論理値Highの電圧値も電源電圧VDDになり、且つ出力端子(105)に現れる論理値Lowの電圧値は接地GNDとなる。
他方で遷移状態(A)において入力端子(101)にLが入力されたとき、P型トランジスタ(211)は入力端子(101)側がドレインに、端子(NT1)側がソースになり、P型トランジスタ(311)は端子(NT1)側がドレインに、出力端子(104)側がソースになる。 従って入力端子(101)に入力した論理値Lowの電圧値が接地GNDであるならば、出力端子(104)に現れる論理値Lowの電圧値は接地GNDまで下がらずにP型トランジスタ閾値の絶対値の分だけ高い電位に留まり、弱いL(Weak Low)になる。
また遷移状態(A)において入力端子(101)にLが入力されたとき、P型トランジスタ(511)は電源電圧VDD側がソースに、端子(NT3)側がドレインになり、P型トランジスタ(611)は端子(NT3)側がソースに、端子(NT5)側がドレインになり、P型トランジスタ(711)は端子(NT5)側がソースに、出力端子(105)側がドレインになる。 従って入力端子(101)に入力した論理値Highの電圧値が電源電圧VDDであるならば、出力端子(105)に現れる論理値Highの電圧値も電源電圧VDDになり、強いH(Strong High)にる。
よって遷移状態(A)において出力端子(104)は、選択回路(300)以前の回路に拠れば弱いLが出力されるが、しかし選択回路(700)以前の回路による出力端子(105)に現れる強いHが、インバータ(402)を介し出力端子(104)を強いL(Strong Low)、すなわち接地GNDまで引き下げる。
遷移状態(D)において入力端子(101)にHが入力されたとき、N型トランジスタ(221)は入力端子(101)側がドレインに、端子(NT2)側がソースになり、N型トランジスタ(321)は端子(NT2)側がドレインに、出力端子(104)側がソースになる。 従って入力端子(101)に入力した論理値Highの電圧値が電源電圧VDDであるならば、出力端子(104)に現れる論理値Highの電圧値は電源電圧VDDまで上がらずにN型トランジスタ閾値の絶対値の分だけ低い電位に留まり、弱いH(Weak High)になる。
また遷移状態(D)において入力端子(101)にHが入力されたとき、N型トランジスタ(521)は電源電圧VDD側がソースに、端子(NT4)側がドレインになり、N型トランジスタ(621)は端子(NT4)側がソースに、端子(NT6)側がドレインになり、N型トランジスタ(721)は端子(NT6)側がソースに、出力端子(105)側がドレインになる。 従って入力端子(101)に入力した論理値Highの電圧値が電源電圧VDDであるならば、出力端子(105)に現れる論理値Lowの電圧値も接地GNDになり、強いL(Strong Low)となる。
よって遷移状態(D)において出力端子(104)は、選択回路(300)以前の回路に拠れば弱いHが出力されるが、しかし選択回路(700)以前の回路による出力端子(105)に現れる強いLが、インバータ(402)を介し出力端子(104)を強いH(Strong High)、すなわち電源電圧VDDまで引き上げる。
他方で遷移状態(D)において入力端子(101)にLが入力されたとき、N型トランジスタ(221)は入力端子(101)側がソースに、端子(NT2)側がドレインになり、N型トランジスタ(321)は端子(NT2)側がソースに、出力端子(104)側がドレインになる。 従って入力端子(101)に入力した論理値Lowの電圧値が接地GNDであるならば、出力端子(104)に現れる論理値Lowの電圧値も接地GNDになり、且つ出力端子(105)に現れる論理値Highの電圧値は電源電圧VDDとなる。
以上に説明したように選択回路(300)以前の回路に対し、選択回路(700)以前の回路は相補的に機能し、出力端子(104)に現れる論理値を強くする作用を有する。
図4は、本発明の他の一実施形態からなるラッチ回路の構成を表す回路図である。 ここで、図1乃至図2に示した要素と同一の要素は同一の符号を附してある。
そこで先づ一つの側面から図4のラッチ回路の構成を説明する。 符号810と820は正転型と反転型のデータゲーティング回路であり、入力端子(102)に入力する信号に応じゲートを開閉する。 また符号910と920も正転型と反転型のデータゲーティング回路であり、入力端子(103)に入力する信号をインバータ(110)で反転した信号に応じゲートを開閉する。
符号900は選択回路であり且つ選択回路(300)と同等である。 但し入力端子(103)の信号がLのときに端子(NT7)の信号を出力し、入力端子(103)の信号がHのときに端子(NT8)の信号を出力する。
双安定回路(400)は選択回路(700)の出力信号を記憶すると共に出力端子(105)へ信号を出力する。 但し図4の双安定回路(400)は、図2や図3のそれと異なり、インバータ(401)の出力をインバータ(403)に入力し且つその出力を符号410で示すデータゲーティング回路を介し出力端子(104)へ結合させる。
表4は、図4に示すラッチ回路の真理値表である。 なお図1乃至図2に示した要素と同一である図4の要素に対する真理値表は、表1と同一であるから省略する。 また表4に示す遷移状態(A)乃至(D)は、表1に示す遷移状態(A)乃至(D)と同一の遷移状態である。 そこでデータゲーティング回路(410)を中心に表4を用い、その動作を説明する。
遷移状態(A)において、反転型データゲーティング回路(820)はゲートが開いた状態にあって、インバータ(403)の出力信号を端子(NT8)へスルーさせ、他方で正転型データゲーティング回路(810)はゲートが閉じた状態にあって、端子(NT7)に対しZを現す。
また遷移状態(A)において、選択回路(900)は端子(NT8)に現れる信号あるいはその状態に依らず、端子(NT7)に現れる状態、すなわちZを出力する。
従って選択回路(900)は出力端子(104)に対し何ら作用せず、出力端子(104)は選択回路(300)が出力信号にのみ依存する。 すなわち遷移状態(A)、つまりスルー状態においてデータゲーティング回路(410)は、出力端子(104)を介し選択回路(900)が選択回路(300)に対しバスファイト(Bus Fight)を起こすことを回避する機能を果す。
次に遷移状態(B)において、反転型データゲーティング回路(820)はゲートが閉じた状態にあって、端子(NT8)に対しZを現し、他方で正転型データゲーティング回路(810)はゲートが開いた状態にあって、インバータ(403)の出力信号を端子(NT7)へスルーさせる。
また遷移状態(B)において、選択回路(900)は端子(NT8)に現れる信号あるいはその状態に依らず、端子(NT7)に現れる信号を出力する。
従って遷移状態(B)、つまりラッチ状態においてデータゲーティング回路(410)は、インバータ(403)の出力信号を出力端子(104)にフィードバックするだけの役目を果たし、結果として双安定回路(400)は機能的にインバータ(401)とインバータ(403)をリング状に結合した、正に双安定回路として機能する。
遷移状態(C)において、反転型データゲーティング回路(820)はゲートが開いた状態にあって、インバータ(403)の出力信号を端子(NT8)へスルーさせ、他方で正転型データゲーティング回路(810)はゲートが閉じた状態にあって、端子(NT7)に対しZを現す。
また遷移状態(C)において、選択回路(900)は端子(NT7)に現れる信号あるいはその状態に依らず、端子(NT8)に現れる信号を出力する。
従って遷移状態(C)、つまりラッチ状態においてデータゲーティング回路(410)は、遷移状態(B)と同一の機能を果す。
次に遷移状態(D)において、反転型データゲーティング回路(820)はゲートが閉じた状態にあって、端子(NT8)に対しZを現し、他方で正転型データゲーティング回路(810)はゲートが開いた状態にあって、インバータ(403)の出力信号を端子(NT7)へスルーさせる。
また遷移状態(D)において、選択回路(900)は端子(NT7)に現れる信号あるいはその状態に依らず、端子(NT8)に現れる状態、すなわちZを出力する。
従って遷移状態(D)、つまりスルー状態においてデータゲーティング回路(410)は、遷移状態(A)と同一の機能を果す。
次に他の一つの側面から図4のラッチ回路の構成を説明する。 すなわち上述の説明はデータゲーティング回路をブロックレベルに留めていたが、さらに階層を一段階下げてトランジスタレベルにおいて構成を説明する。
反転型データゲーティング回路(820)と(920)は各々が符号821と921を附した一個のP型トランジスタで構成し、正転型データゲーティング回路(810)と(910)は各々が符号811と911を附した一個のN型トランジスタで構成する。 なおインバータ(403)や(110)はCMOS型インバータが一般的である。
図4に示すラッチ回路、特に双安定回路(400)は、ラッチ状態からスルー状態へ遷移する過渡期において、選択回路(300)の出力が出力端子(104)を介し選択回路(900)の出力とバスファイトを起こすことを回避する特徴を有する。 なお図4に示すデータゲーティング回路(410)を含む双安定回路(400)は、図3に示す双安定回路(400)と置換した新たなラッチ回路の構成を採っても良い。
図5は、本発明の他の一実施形態からなるラッチ回路の構成を表す回路図である。 ここで、図1乃至図2に示した要素と同一の要素は同一の符号を附してある。 そこで図2に示すラッチ回路と対比しつつ図5のラッチ回路の構成を説明する。
符号106を附した端子に入力する信号およびその信号を入力とするインバータ120の出力信号に応じた、N型トランジスタ(341A)と(341B)並びにP型トランジスタ(331B)と(341B)の動作を説明することにより、図5に示すラッチ回路の挙動を把握する。
先づ入力端子(104)にHを入力したとき、N型トランジスタ(341A)とP型トランジスタ(331A)はスイッチオン状態になり、N型トランジスタ(341B)とP型トランジスタ(331B)はスイッチオフ状態になる。 この時点で符号末尾にBを持つ構成要素は、出力端子(104)に何ら作用を及ぼさず、他方で符号末尾にAを持つ構成要素だけが、出力端子(104)に作用を及ぼす。 そこで符号末尾にAを持つ構成要素だけに着目すれば、図2に示すラッチ回路と同等の機能である。
次に入力端子(104)にLを入力したとき、N型トランジスタ(341A)とP型トランジスタ(331A)はスイッチオフ状態になり、N型トランジスタ(341B)とP型トランジスタ(331B)はスイッチオン状態になる。 この時点で符号末尾にAを持つ構成要素は、出力端子(104)に何ら作用を及ぼさず、他方で符号末尾にBを持つ構成要素だけが、出力端子(104)に作用を及ぼす。 そこで符号末尾にBを持つ構成要素だけに着目すれば、図2に示すラッチ回路と同等の機能である。
このように図5に示すラッチ回路は、入力端子(101A)をデータの入力端子、入力端子(102)をクロックの入力端子、出力端子(104)をデータの出力端子とするラッチ回路と、入力端子(101B)をデータの入力端子、入力端子(102)をクロックの入力端子、出力端子(104)をデータの出力端子とするラッチ回路とを、入力端子(106)に入力する信号に応じ選択的に切り替えることが出来るラッチ回路である。
以上に説明したように本発明に基づくラッチ回路は、データホールド時間の制約を圧迫することを回避しつつクロックエッジの極性を容易に変更することを可能とし、半導体集積論理回路に適用した場合のタイミング調整を容易に実施が可能となる。
なお本発明は上述した実施の形態のみに限定されるものではなく、既に述べた本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能であることは勿論である。 たとえば本発明に基づくラッチ回路を二個使用し、各々をマスターラッチおよびスレーブラッチとして直列に結合することによりフリップフロップを実現しても良い。
1 フリップフロップ
2 入力端子
3 クロック入力端子
4 選択端子
5 出力端子
6 選択回路(7)の出力端子
7 選択回路
8、11 インバータ
9 インバータ(8)の出力端子
10 Dフリップフロップ
12、13 AND回路
14 OR回路
101、102、103 入力端子
104、105 出力端子
NT1、NT2 端子
210、310 反転型データゲーティング回路
220、320 正転型データゲーティング回路
211、311 P型トランジスタ
221、321 N型トランジスタ
300 選択回路
400 双安定回路
401、402 インバータ
VDD 電源電圧
GND 接地
NT3、NT4、NT5、NT6 端子
510、610、710 反転型データゲーティング回路
520、620、720 正転型データゲーティング回路
511、611、711 P型トランジスタ
521、621、721 N型トランジスタ
700 選択回路
NT7、NT8 端子
810、910 正転型データゲーティング回路
820、920 反転型データゲーティング回路
811、911 N型トランジスタ
821、921 P型トランジスタ
900 選択回路
403 インバータ
410 データゲーティング回路
106 入力端子
101A 入力端子
NT1A、NT2A 端子
211A、311A P型トランジスタ
221A、321A N型トランジスタ
300A 選択回路
101B 入力端子
NT1B、NT2B 端子
211B、311B P型トランジスタ
221B、321B N型トランジスタ
300B 選択回路
120 インバータ
2 入力端子
3 クロック入力端子
4 選択端子
5 出力端子
6 選択回路(7)の出力端子
7 選択回路
8、11 インバータ
9 インバータ(8)の出力端子
10 Dフリップフロップ
12、13 AND回路
14 OR回路
101、102、103 入力端子
104、105 出力端子
NT1、NT2 端子
210、310 反転型データゲーティング回路
220、320 正転型データゲーティング回路
211、311 P型トランジスタ
221、321 N型トランジスタ
300 選択回路
400 双安定回路
401、402 インバータ
VDD 電源電圧
GND 接地
NT3、NT4、NT5、NT6 端子
510、610、710 反転型データゲーティング回路
520、620、720 正転型データゲーティング回路
511、611、711 P型トランジスタ
521、621、721 N型トランジスタ
700 選択回路
NT7、NT8 端子
810、910 正転型データゲーティング回路
820、920 反転型データゲーティング回路
811、911 N型トランジスタ
821、921 P型トランジスタ
900 選択回路
403 インバータ
410 データゲーティング回路
106 入力端子
101A 入力端子
NT1A、NT2A 端子
211A、311A P型トランジスタ
221A、321A N型トランジスタ
300A 選択回路
101B 入力端子
NT1B、NT2B 端子
211B、311B P型トランジスタ
221B、321B N型トランジスタ
300B 選択回路
120 インバータ
Claims (5)
- 第1信号に応じ第2信号をゲーティングし第3信号を出力する第1データゲーティング回路と、
前記第1信号に応じ前記第2信号を、上記第1データゲーティング回路に対し反転に、ゲーティングし第4信号を出力する第2データゲーティング回路と、
第5信号に応じ前記第3信号と前記第4信号の何れか一方を保持信号として出力するセレクタ回路と、
前記保持信号を記憶する双安定回路と、
を備えたことを特徴とするラッチ回路。 - 第1信号に応じゲーティングする第1データゲーティング回路と
第2信号に応じゲーティングする第2データゲーティング回路と
を直列に結合させて成る第1回路を有し、
前記第1信号に応じ、上記第1データゲーティング回路に対し反転に、ゲーティングする第3ゲーティング回路と
前記第2信号に応じ、上記第2データゲーティング回路に対し反転に、ゲーティングする第4ゲーティング回路と
を直列に結合させて成る第2回路を有し、
前記第1回路と前記第2回路とを並列に結合させて成る第3回路と、
前記第3回路の一方の端子から第3信号を入力し他方の端子から出力する信号を保持信号として記憶する双安定回路と、
を備えたことを特徴とするラッチ回路。 - 第1信号に応じスイッチングする第1導電型の第1トランジスタと
第2信号に応じスイッチングする前記第1導電型の第2トランジスタと
を直列に結合させて成る第1回路を有し、
前記第1信号に応じスイッチングする上記第1導電型とは異なる第2導電型の第3トランジスタと
前記第2信号に応じスイッチングする前記第2導電型の第4トランジスタと
を直列に結合させて成る第2回路を有し、
前記第1回路と前記第2回路とを並列に結合させて成る第3回路と、
前記第3回路の一方の端子から第3信号を入力し他方の端子から出力する信号を保持信号として記憶する双安定回路と、
を備えたことを特徴とするラッチ回路。 - 前記双安定回路は、
第1インバータと第2インバータとを有し、
前記第1インバータが出力する信号を前記第2インバータへ入力し、
前記第2インバータが出力する信号を前記第1インバータへ入力することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のラッチ回路。 - 前記保持信号と前記第2インバータが出力する信号とをワイアード・オア結合することを特徴とする請求項4記載のラッチ回路。
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KR20090131010A (ko) * | 2008-06-17 | 2009-12-28 | 주식회사 동부하이텍 | 듀얼 모드 에지 트리거 플립플롭 |
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2008
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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