JP2009085694A - 分析装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 撮影した試験片表面の繊維構造の画像情報からピントぼけ量を検出することにより、それに応じた測定領域の決定が可能な分析装置を提供する。
【解決手段】 繊維構造をもった試験片1と、試験片1の画像情報を取得する撮像素子7と、試験片1に光を照射する発光素子4と、撮像素子7表面に試験片1の情報を結像させる光学素子11から成り、撮影した画像情報より得られる試験片1表面の凹凸情報と光学系のピントぼけ量の関係を求めることで、ピントぼけ量に応じた測定領域の決定が可能となる。
【選択図】 図2
【解決手段】 繊維構造をもった試験片1と、試験片1の画像情報を取得する撮像素子7と、試験片1に光を照射する発光素子4と、撮像素子7表面に試験片1の情報を結像させる光学素子11から成り、撮影した画像情報より得られる試験片1表面の凹凸情報と光学系のピントぼけ量の関係を求めることで、ピントぼけ量に応じた測定領域の決定が可能となる。
【選択図】 図2
Description
本発明は、分析装置に関し、より詳細には、撮影した試験片表面の繊維構造の画像情報から光学系のピントぼけ量を算出する技術に関する。
従来、装置を大型化することなく、試験片の呈色部の検出を確実に行うことが可能な分析装置がある。(例えば特許文献1参照。)従来の分析装置について、以下図面を用いて説明する。
図10に示すように、従来の発明に係る免疫クロマト試験片の測定装置は、試験片1に測定光を照射する照射光学系2と、測定光の照射による試験片1からの光を検出する検出光学系3を備え、照射光学系2は、発光素子4と、発光素子4から出力された光をミキシングするミキシングロッド5とを有し、ミキシングロッド5から出射した光を測定光として試験片1に照射し、検出光学系3は、試験片1からの光を結像させる結像レンズ6と、結像レンズ6により試験片1からの光が結像される位置に配設される撮像素子7とを有し、撮像素子7により試験片1からの光を受光して呈色部8の情報を検出することを特徴としている。
特開2001−296245号公報
しかしながら、前記従来の構成では、試験片の抜き差しや装置落下等により光学系のずれが生じピントぼけが発生すると、イメージセンサ等の撮像素子にて取得された画像情報(画素出力値)においては試験片内の面積を持った呈色部の濃度を算出する際に呈色部8周辺の情報(呈色部とは無関係な情報)が混ざってくるため、呈色部境界に近い程画素出力値の誤差が大きくなる。例えば呈色部8周辺が呈色部8より薄い色の場合、その境界付近では呈色部8の画素出力値と呈色部8周辺の画素出力値が平均化された値になり、これは本来の濃度とは違った値である。また、ピントを調整するのにオートフォーカス方式を用いると、位置センサやレンズ駆動系などの追加機構が必要となり、装置が大型化してしまう。
本発明は、前記従来の課題を解決するもので、撮影した試験片表面の繊維構造の画像情報からピントぼけ量を検出することにより、それに応じた測定領域の決定が可能な分析装置を提供することを目的とする。
前記従来の課題を解決するために、本発明の分析装置は、毛細管現象により液体サンプルを均一に展開する繊維構造をもった試験片と、前記試験片の画像情報を取得する撮像素子と、前記試験片に光を照射する発光素子と、前記撮像素子表面に前記試験片の情報を結像させる光学素子から成り、前記撮像素子で取得した画像情報を一時的に記憶するメモリと、前記メモリから画像情報を読み出し画素位置に対する画素出力として連続的にグラフ化するグラフ化手段と、前記グラフ化手段を用いてグラフ化されたデータより前記試験片表面の凹凸の振幅量を算出し、前記振幅量より光学系のピントぼけ量を算出するピントぼけ量算出手段を備えたことを特徴としたものである。
また、本発明は、前記ピントぼけ量算出手段において、試験片内に白黒の境界がはっきりしたマーカーを用意しておき、前記グラフ化手段により得られる前記境界部分の変化に要する画素の数を画素幅として定量化する画素定量化手段を有し、ピントぼけ量を画素幅として定量化するようにしたことを特徴としたものである。
さらに、分析装置において、前記画素幅と前記振幅量の関係を事前に算出しておき、測定の際に前記振幅量を算出することでピントぼけ量を画素幅として定量化するようにしたことを特徴としたものである。
さらに、分析装置において、前記試験片内の面積を持った呈色部分の濃度を算出する際、前記ピントぼけ量に応じて測定領域を決定する手段を備えたことを特徴としたものである。
本発明の分析装置によれば、オートフォーカス等の機構(位置センサや駆動系等)を追加することなく、ピントぼけに影響しない安定した測定値を得ることができる。
以下に、本発明の分析装置の実施の形態を図面とともに詳細に説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の第1の実施の形態における試験片1の構造図である。図1において、試験片1の表面は繊維構造から成るメンブレン9で形成されており、その表面は数umの凹凸が存在している。また、メンブレン9の領域の一部には呈色部8が存在しており、この呈色部8は例えば免疫反応などによって色がつく部分である。
(実施の形態1)
図1は、本発明の第1の実施の形態における試験片1の構造図である。図1において、試験片1の表面は繊維構造から成るメンブレン9で形成されており、その表面は数umの凹凸が存在している。また、メンブレン9の領域の一部には呈色部8が存在しており、この呈色部8は例えば免疫反応などによって色がつく部分である。
次に、図2は本発明の第1の実施の形態における分析装置の構造図である。図2において、発光素子4によって照射された試験片1の情報は反射光として、結像レンズ6及び絞り10から成る光学素子11を通過し、撮像素子7に結像することで取得することができる。ここで、撮像素子7がイメージセンサの場合、試験片1の画像情報はイメージセンサの各画素の出力値と位置関係を読み取ることで取得が可能である。各画素の出力値は順にメモリ12に格納される。
次に、呈色部8のグラフ化手段13の例を図3に説明する。イメージセンサで取得し、メモリ12に格納されている画素出力値のうち、例えば図3(a)に示すようなに試験片1内呈色部8付近に対応する画素を表示すると図3(b)のようになる。これはピントぼけや光学系収差が画素の大きさ以内に収まった理想的な状態の場合であり、その時、呈色部8の明暗の変化を例えば画素位置(X座標)に対してグラフ化すると、図3(c)に示すような明暗の境界がはっきりしたグラフになる。
しかしながら、光学素子11や試験片1の位置ずれによってピントぼけが大きくなると、図4(b)に示すように、呈色部8の周囲の境界は数画素にまたがって明暗が変化していく。その明暗の変化を画素位置(X座標)に対する各画素の出力値としてグラフ化すると、図4(c)に示すように呈色部8の境界は滑らかな曲線近似となる。
例えばピントぼけが大きな状態で取得した画素出力値を用いて呈色部8の濃度14を求める場合、呈色部8中心付近の画素から得られる濃度14はピントぼけの少ない理想的な状態に比べても同等の値を得ることができる。しかしながら呈色部8中心から離れていくと呈色部8周辺のデータが混ざってくるため、呈色部8境界に近づいていくにつれて、画素出力値はだんだん大きくなっていき、本来の濃度14とは違った値を取得する。したがって、例えば図3(b)に示す測定領域16内の画素ごとの出力値を平均化した場合に、ピントぼけが大きな状態では図4(b)に示すように測定領域16内の画素にも呈色部8周辺の情報が混ざり、平均画素出力値は実際の値より高めの値となってしまう。また、ピントぼけの度合いが分からないため、呈色部8中心からどこまでの画素の出力値が正確な濃度14の値として扱えるかを決定するのは困難である。
よって本発明では上記課題を解決するために、ピントぼけ量算出手段15によりピントぼけ量を定量化する方法について以下に説明する。
ピントぼけ量の定量化のための第1のステップとして、まずは図5に示すようなぼけ量算出用試験片18を用いる。図1と同様、表面に凹凸を持つメンブレン9で形成されており、ぼけ量算出用試験片18の一部には白と黒の境界がはっきりした表面凹凸のない基準マーカー17が設けられている。
図2に示す分析装置にて撮影し、図6(a)に示す基準マーカー境界領域19の画素を抜き取り(図6(b))、グラフ化手段13により画素位置に対する画素出力値についてグラフ化すると図6(c)のようなグラフになる。ピントぼけ量により境界付近のグラフの滑らかさが変わることを利用して、図7に示すようにグラフの滑らかさの幅の画素数を画素幅20として定義し、ピントぼけ量と画素幅20の関係を求める。たとえば白レベルから変化が始まる画素と黒レベルから変化が始まる画素をそれぞれ見つけ、その画素間の画素数を画素幅20とすることにより、ピントぼけ量が小さい順に、図7(a)の場合は2画素、図7(b)の場合は4画素、図7(c)の場合は6画素となる。これらのデータをグラフ化することで、図7(d)に示すようにピントぼけ量を画素幅20として定量化することができる。
次にピントぼけ量の定量化のための第2のステップとして、ピントぼけ量に対応するメンブレン9からの情報を得るための手段について図8を用いて説明する。前述のように、メンブレン9は表面に数um程度の凹凸を持っており、ピントが合った状態でメンブレン9を撮影するとその凹凸情報が正確に再現されるため、例えばグラフ化手段により画素位置に対する画素出力値についてグラフ化すると、図8(a)に示すように凹凸情報が画素間の振幅量21として現れる。またピントぼけが発生するとメンブレン9の凹凸情報取得が粗くなるため振幅量21は小さくなり(図8(b))、ピントぼけ量がより大きくなればなるほど振幅量21は小さくなっていく(図8(c))。この関係より図8(d)に示すようにピントぼけ量はメンブレン9の振幅量21として定量化することができる。
以上、第1のステップ及び第2のステップで示した2通りのピントぼけ量定量化方法を用いて、ぼけ量算出用試験片18にて事前に基準マーカー17境界の画素幅20とメンブレン9の振幅量21の関係を求めておくと、その関係は図9のようにグラフ化される。このグラフより、メンブレン9の振幅量21から画素幅20が求まるため、実際に図1に示す試験片1を測定する際には試験片1のメンブレン9の振幅量21から画素幅20を求め、その画素幅20に応じて測定領域16を決定することが可能である。
本発明にかかる分析装置は、オートフォーカスに必要な機構(位置センサや駆動系等)を追加することなく、ピントぼけに影響しない安定した測定値を得ることができるため、小型で精度が必要な生化学分析装置等に有用である。
1 試験片
2 照射光学系
3 検出光学系
4 発光素子
5 ミキシングロッド
6 結像レンズ
7 撮像素子
8 呈色部
9 メンブレン
10 絞り
11 光学素子
12 メモリ
13 グラフ化手段
14 濃度
15 ピントぼけ量算出手段
16 測定領域
17 基準マーカー
18 ぼけ量算出用試験片
19 基準マーカー境界領域
20 画素幅
21 振幅量
2 照射光学系
3 検出光学系
4 発光素子
5 ミキシングロッド
6 結像レンズ
7 撮像素子
8 呈色部
9 メンブレン
10 絞り
11 光学素子
12 メモリ
13 グラフ化手段
14 濃度
15 ピントぼけ量算出手段
16 測定領域
17 基準マーカー
18 ぼけ量算出用試験片
19 基準マーカー境界領域
20 画素幅
21 振幅量
Claims (4)
- 毛細管現象により液体サンプルを均一に展開する繊維構造をもった試験片と、前記試験片の画像情報を取得する撮像素子と、前記試験片に光を照射する発光素子と、前記撮像素子表面に前記試験片の情報を結像させる光学素子から成り、前記撮像素子で取得した画像情報を一時的に記憶するメモリと、前記メモリから画像情報を読み出し画素位置に対する画素出力として連続的にグラフ化するグラフ化手段と、前記グラフ化手段を用いてグラフ化されたデータより前記試験片表面の凹凸の振幅量を算出し、前記振幅量より光学系のピントぼけ量を算出するピントぼけ量算出手段を備えた分析装置。
- 前記ピントぼけ量算出手段において、試験片内に白黒の境界がはっきりしたマーカーを用意しておき、前記グラフ化手段により得られる前記境界部分の変化に要する画素の数を画素幅として定量化する画素定量化手段を有し、ピントぼけ量を画素幅として定量化するようにした請求項1に記載の分析装置。
- 前記画素幅と前記振幅量の関係を事前に算出しておき、測定の際に前記振幅量を算出することでピントぼけ量を画素幅として定量化するようにした請求項1、2に記載の分析装置。
- 前記試験片内の面積を持った呈色部分の濃度を算出する際、前記ピントぼけ量に応じて測定領域を決定する手段を備えた請求項1乃至3に記載の分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007254035A JP2009085694A (ja) | 2007-09-28 | 2007-09-28 | 分析装置 |
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JP2007254035A Pending JP2009085694A (ja) | 2007-09-28 | 2007-09-28 | 分析装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013076964A1 (ja) * | 2011-11-22 | 2013-05-30 | パナソニック株式会社 | 測定方法、測定装置、カメラ、コンピュータ・プログラムおよび記録媒体 |
-
2007
- 2007-09-28 JP JP2007254035A patent/JP2009085694A/ja active Pending
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WO2013076964A1 (ja) * | 2011-11-22 | 2013-05-30 | パナソニック株式会社 | 測定方法、測定装置、カメラ、コンピュータ・プログラムおよび記録媒体 |
US9183456B2 (en) | 2011-11-22 | 2015-11-10 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Measurement method, measurement apparatus, camera, and storage medium having stored therein computer program |
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