JP2009076719A - チップ型lc複合素子 - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明は、導体パターンが収縮してコイル部のインダクタンス値とコンデンサ部の静電容量値がばらつくのを抑制することができ、これにより、特性のばらつきの抑制が図れる信頼性の高いチップ型LC複合素子を提供することを目的とするものである。
【解決手段】本発明のチップ型LC複合素子は、保護部5を、絶縁体層8に導体パターン1a〜1cを埋設した絶縁樹脂層を積層することにより形成し、かつコイル部2とコンデンサ部3および外部電極部6は前記絶縁体層8に埋設された導体パターン1a〜1cを積層することにより形成し、さらに前記絶縁体層8は感光性樹脂を感光させて形成するとともに前記導体パターン1a〜1cはメッキにより析出された銅により形成し、かつ前記導体パターン1a〜1cと前記絶縁体層8は非焼成により形成したものである。
【選択図】図1

Description

本発明は、各種電子機器のトラップ回路またはフィルタ回路に用いられるチップ型LC複合素子に関するものである。
従来のこの種のチップ型LC複合素子としては、銀、銀−パラジウム等の導電ペーストをスパイラル状に印刷した複数のセラミックグリーンシートと、導電ペーストをコンデンサ電極状に印刷した複数のセラミックグリーンシートとを積層し、そしてチップ状の個片に分断するとともに焼成し、その後、外部電極部をメッキ等により形成するようにしたものが知られている(特許文献1参照)。
特開2003−69358号公報
上記した従来のチップ型LC複合素子は、導電ペーストの印刷にスクリーン印刷を用いているが、焼成前の導電パターンの寸法精度は悪く、また焼成時には導電パターンの収縮が生じる。さらに、導電ペーストに加えてセラミックグリーンシートも焼成時には収縮が生じるため、その影響はさらに大きくなる。
このため、収縮度を予測して導電パターンの寸法を設定する必要があるが、焼成時の条件のばらつきによって収縮度が安定しないため、所定の導体パターンを精度よく形成することは難しい。
特に、外形寸法が1mm以下である小型化されたチップ部品では、この収縮の影響が大きく所定の導体パターンが精度よく形成されないため、コイル部のインダクタンス値や、コンデンサ部の静電容量値のばらつきへの影響が大きくなり、その結果、トラップ回路やフィルター回路としての共振周波数が設定値からずれたり、除去信号の減衰特性が悪化したり、信号波形が劣化するなど特性劣化を生じて、チップ型LC複合素子の小型化ができないという課題を有していた。
本発明は上記従来の課題を解決するもので、導体パターンが収縮してコイル部のインダクタンス値とコンデンサ部の静電容量値がばらつくのを抑制することができ、これにより、特性のばらつきの抑制が図れる信頼性の高いチップ型LC複合素子を提供することを目的とするものである。
上記目的を達成するために、本発明は以下の構成を有するものである。
本発明の請求項1に記載の発明は、複数の導体パターンを螺旋状に配置して形成したコイル部と、このコイル部に対応するとともに平板状の複数の導体パターンを平行に配置して形成したコンデンサ部とにより構成されたLC回路部と、このLC回路部を埋設した保護部と、前記LC回路部と接続されるとともに一部を前記保護部から露出させた外部電極部とを備え、前記保護部を、絶縁体層に導体パターンを埋設した絶縁樹脂層を積層することにより形成し、かつ前記コイル部とコンデンサ部および外部電極部は前記絶縁体層に埋設された導体パターンを積層することにより形成し、さらに前記絶縁体層は感光性樹脂を感光させて形成するとともに前記導体パターンはメッキにより析出された銅により形成し、かつ前記導体パターンと絶縁体層は非焼成により形成したもので、この構成によれば、導体パターンと絶縁体層を非焼成により形成しているため、焼成工程時に発生する導体パターンと絶縁体層の寸法収縮をなくすることができるものである。この場合、特に、絶縁体層は感光性樹脂を感光させて形成しているため、フォトリソグラフィー工法を用い、導電パターンに合わせたマスクで絶縁体層を形成すれば、導体パターンが埋設されるパターンを高精度に絶縁体層に形成することができ、また、このパターンにメッキにより析出される銅で導体パターンを形成しているため、導電パターンが収縮することはなくなり、これにより、コイル部のインダクタンス値とコンデンサ部の静電容量値がばらつくのを抑制することができるため、トラップ回路、フィルタ回路としての特性がばらつくのも抑制することができるという作用効果を有するものである。
本発明の請求項2に記載の発明は、特に、コイル部の両端に一対の外部電極部を設けるとともに、コンデンサ部の両端に一対の外部電極部を設けたもので、この構成によれば、コイル部とコンデンサ部のそれぞれの両端に独立した外部電極部を設けているため、チップ型LC複合素子を実装する実装基板で外部電極部間を接続すれば、並列共振回路、直列共振回路として用いたり、L型のフィルター回路として用いたりすることができ、これにより、複数のバリエーションの回路素子として用いることができるという作用効果を有するものである。
本発明の請求項3に記載の発明は、特に、LC回路部を、コイル部とコンデンサ部を並列接続したものを二組接続部で直列に接続することにより構成したもので、この構成によれば、LC並列共振型のトラップ回路を二組接続部で直列に接続することにより構成しているため、1つのチップ型LC複合素子で不要な2つの特定周波数のノイズをカットしたトラップ回路として用いることができ、これにより、部品点数の増大を抑制することができるという作用効果を有するものである。
本発明の請求項4に記載の発明は、特に、螺旋状のコイル部の巻回軸方向と平行に平板状の導体パターンを配置してコンデンサ部を形成したもので、この構成によれば、平板状の導体パターンがコイル部で発生する磁束を遮ることがなくなるため、コイル部のQ特性を向上させることができ、これにより、トラップ回路、フィルタ回路としての特性を向上させることができるという作用効果を有するものである。
本発明の請求項5に記載の発明は、特に、LC回路部とこのLC回路部の両端に接続した外部電極部とを複数組一体に保護部に埋設したもので、この構成によれば、LC回路部と外部電極部とを複数組アレイ化しているため、アレイ化していないチップ型LC複合素子を複数個用いた場合に比べて、部品点数の削減が図れて実装基板の実装面積を小さくすることができるとともに、実装時の工数も削減することができるという作用効果を有するものである。
以上のように本発明のチップ型LC複合素子は、LC回路部を埋設した保護部を、絶縁体層に導体パターンを埋設した絶縁樹脂層を積層することにより形成し、かつコイル部とコンデンサ部および外部電極部は前記絶縁体層に埋設された導体パターンを積層することにより形成し、さらに前記絶縁体層は感光性樹脂を感光させて形成するとともに前記導体パターンはメッキにより析出された銅により形成し、かつ前記導体パターンと絶縁体層は非焼成により形成しているため、焼成工程時に発生する導体パターンと絶縁体層の寸法収縮をなくすることができ、また、絶縁体層は感光性樹脂を感光させて形成しているため、フォトリソグラフィー工法を用い、導電パターンに合わせたマスクで絶縁体層を形成すれば、導体パターンが埋設されるパターンを高精度に絶縁体層に形成でき、そしてまた、このパターンにメッキにより析出される銅で導体パターンを形成しているため、導電パターンが収縮することはなくなり、これにより、コイル部のインダクタンス値とコンデンサ部の静電容量値がばらつくのも抑制することができ、この結果、外形寸法を1mm以下に小型化することが可能になるという優れた効果を奏するものである。
(実施の形態1)
以下、実施の形態1を用いて、本発明の特に請求項1に記載の発明について図面を参照しながら説明する。
図1は本発明の実施の形態1におけるチップ型LC複合素子の保護部を透過した斜視図、図2は図1のA−A線断面図、図3は図1のチップ型LC複合素子を絶縁樹脂層毎に分解した状態を示す斜視図である。
この図1〜図3に示すように、本発明の実施の形態1におけるチップ型LC複合素子は、複数の導体パターン1aを螺旋状に配置して形成したコイル部2と、このコイル部2に対応するとともに平板状の複数の導体パターン1bを平行に配置して形成したコンデンサ部3とにより構成されたLC回路部4と、このLC回路部4を埋設した保護部5と、前記LC回路部4と接続されるとともに一部を前記保護部5から露出させた外部電極部6とを備えることにより、チップ型LC複合素子7を構成しているものである。
この場合、前記保護部5は、絶縁体層8に所定の導体パターン1a、1b、1cを埋設した絶縁樹脂層9a〜9pを積層することにより形成しており、図2における破線は絶縁樹脂層9a〜9pのそれぞれの境界を示したものである。
また、前記コイル部2は導体パターン1aを積層することにより形成し、かつコンデンサ部3は導電パターン1bを積層することにより形成し、さらに外部電極部6は導体パターン1cを積層することにより形成しているものである。
そしてまた、前記絶縁体層8は感光性樹脂11を感光させて形成するとともに導体パターン1a、1b、1cはメッキにより析出された銅により形成しており、さらにこれらの導体パターン1a、1b、1cと絶縁樹脂層9a〜9pは非焼成により形成しているものである。
ここで、前記絶縁樹脂層9a〜9pの形成方法について、図4(a)〜(d)に示す本発明の実施の形態1におけるチップ型LC複合素子の絶縁樹脂層の形成工程を示す断面図を用いて説明する。
図4(a)〜(d)は最下層の絶縁樹脂層9aを形成する工程を示しており、形成工程は次の通りである。
まず、図4(a)に示すように、剥離基板10に感光性樹脂11を所定の厚みに塗布する。
次に、図4(b)に示すように、フォトリソグラフフィー工法により、所定のマスクを用いて感光性樹脂11を感光させて絶縁体層8を形成するとともに、所定の空隙部12を形成する。
次に、図4(c)に示すように、この空隙部12を有する絶縁体層8の表面に、スパッタ工法、無電解メッキ工法、蒸着工法等により下地導体層(図示せず)を形成し、さらに、この下地導体層上に電解メッキ工法などにより銅をメッキして銅メッキ層13を形成する。
最後に、図4(d)に示すように、銅メッキ層13を少なくとも絶縁体層8の上面まで研磨することにより導体パターン1cを形成して、絶縁樹脂層9aを形成したものである。
そして、この絶縁樹脂層9aの上面に上記と同様の方法で絶縁樹脂層9b〜9pを繰り返し積層しながら形成し、最上層の絶縁樹脂層9pを形成した後、これらの絶縁樹脂層9a〜9pを積層して形成した保護部5を剥離基板10から剥離すれば、チップ型LC複合素子7を製造することができるものである。
上記のようにして製造されたチップ型LC複合素子7は、図5の本発明の実施の形態1におけるチップ型LC複合素子の等価回路図に示すように、コイル部2とコンデンサ部3を並列に接続したLC並列共振回路を構成しており、そして図6の同チップ型LC複合素子の減衰量と周波数の関係を示した特性曲線図に示すように、LC並列共振の共振周波数によって特定の周波数14の減衰量が大きい特性を有しており、この特定の周波数14のノイズを減衰させるトラップ回路などに使用される。
以上のように本発明の実施の形態1においては、LC回路部4を埋設した保護部5を、絶縁体層8に導体パターン1a、1b、1cを埋設した絶縁樹脂層9a〜9pを積層することにより形成し、かつコイル部2とコンデンサ部3と外部電極部6は絶縁体層8に埋設された導体パターン1a、1b、1cを積層することにより形成し、さらに前記絶縁体層8は感光性樹脂11を感光させて形成するとともに導体パターン1a、1b、1cはメッキにより析出された銅により形成し、かつ導体パターン1a、1b、1cと絶縁体層8は非焼成により形成しているため、セラミックグリーンシートなどの焼成工程時に発生する導体パターン1a、1b、1cと絶縁体層8の寸法収縮をなくすることができるものである。
この場合、特に、絶縁体層8は感光性樹脂を感光させて形成しているため、フォトリソグラフィー工法を用い、導電パターン1a、1b、1cに合わせたマスクで絶縁体層8を形成すれば、導体パターン1a、1b、1cが埋設されるパターンを高精度に絶縁体層8に形成することができる。
また、このパターンにメッキにより析出される銅で導体パターンを1a、1b、1cで形成しているため、導電パターン1a、1b、1cの寸法が収縮することはなくなり、これにより、コイル部2のインダクタンス値とコンデンサ部3の静電容量値がばらつくのを抑制することができるものである。これにより、共振周波数14がばらつくのを抑制することができるため、トラップ回路、フィルタ回路としての特性がばらつくのも抑制することができるものである。
そして、これらの結果から、チップ型LC複合素子7の外形寸法を1mm以下に小型化することが可能になるものである。
(実施の形態2)
以下、実施の形態2を用いて、本発明の特に請求項2に記載の発明について図面を参照しながら説明する。
図7は本発明の実施の形態2におけるチップ型LC複合素子の保護部を透過した斜視図、図8は同チップ型LC複合素子の等価回路図、図9は同チップ型LC複合素子の接続例を示した図であり、この図7〜図9においては、上記した本発明の実施の形態1における構成要素と同じものについては同一番号を付しており、その説明は省略する。
本発明の実施の形態2におけるチップ型LC複合素子7が、上記した本発明の実施の形態1におけるチップ型LC複合素子7と異なる点は、コイル部2の両端に一対の外部電極部15a、15bを設けるとともに、コンデンサ部3の両端に一対の外部電極部16a、16bを設けたものである。
この構成においては、コイル部2とコンデンサ部3のそれぞれの両端に独立した外部電極部15a、15b、16a、16bを設けているため、チップ型LC複合素子7を実装する実装基板で外部電極部15a、15b、16a、16b間を接続すれば、複数のバリエーションの回路素子として使用することができるものである。
図9(a)はLCの直列共振回路を構成したものであり、図9(b)はLC並列共振回路を構成したもの、また、図9(c)および図9(d)はL型のフィルター回路を構成したもので、トラップ回路、ローパスフィルター回路、ハイパスフィルター回路など複数のバリエーションの回路素子として使用することができるものである。
(実施の形態3)
以下、実施の形態3を用いて、本発明の特に請求項3に記載の発明について図面を参照しながら説明する。
図10は本発明の実施の形態3におけるチップ型LC複合素子の保護部を透過した斜視図、図11は図10におけるB−B線断面図、図12は本発明の実施の形態3におけるチップ型LC複合素子の等価回路図、図13は同チップ型LC複合素子の減衰量と周波数の関係を示した特性曲線図であり、この図10〜図13においては、上記した本発明の実施の形態1における構成要素と同じものについては同一番号を付しており、その説明は省略する。
本発明の実施の形態3におけるチップ型LC複合素子7が、上記した本発明の実施の形態1におけるチップ型LC複合素子7と異なる点は、LC回路部4を、コイル部2とコンデンサ部3を並列接続したものを二組接続部17で直列に接続することにより構成したものである。
この構成においては、図12に示すように、LC並列共振型のトラップ回路を二組接続部17で直列に接続した構成となるため、図13に示すように1つのチップ型LC複合素子7で不要な2つの特定周波数18、19のノイズをカットしたトラップ回路として用いることができ、これにより、部品点数の増大を抑制することができるものである。
(実施の形態4)
以下、実施の形態4を用いて、本発明の特に請求項4に記載の発明について図面を参照しながら説明する。
図14は本発明の実施の形態4におけるチップ型LC複合素子の保護部を透過した斜視図、図15は図14におけるC−C線断面斜視図、図16は本発明の実施の形態4におけるチップ型LC複合素子の等価回路図であり、この図14〜図16においては、上記した本発明の実施の形態1における構成要素と同じものについては同一番号を付しており、その説明は省略する。
本発明の実施の形態4におけるチップ型LC複合素子7が、上記した本発明の実施の形態1におけるチップ型LC複合素子7と異なる点は、螺旋状のコイル部2の巻回軸20方向と平行に平板状の導体パターン1bを配置してコンデンサ部3を形成したものである。
この構成においては、コンデンサ部3の平板状の導体パターン1bがコイル部2で発生する磁束21を遮ることがなくなるため、コイル部2のQ特性を向上させることができ、これにより、トラップ回路、フィルタ回路としての特性を向上させることができるものである。
(実施の形態5)
以下、実施の形態5を用いて、本発明の特に請求項5に記載の発明について図面を参照しながら説明する。
図17は本発明の実施の形態5におけるチップ型LC複合素子の保護部を透過した斜視図、図18は同チップ型LC複合素子の等価回路図であり、この図17、図18においては、上記した本発明の実施の形態1における構成要素と同じものについては同一番号を付しており、その説明は省略する。
本発明の実施の形態5におけるチップ型LC複合素子22が、上記した本発明の実施の形態1におけるチップ型LC複合素子7と異なる点は、LC回路部4とこのLC回路部4の両端に接続した外部電極部6とを複数組一体に保護部5に埋設したものである。
この構成においては、LC回路部4と外部電極部6(チップ型LC複合素子7に相当)を複数組設けてアレイ化することによりチップ型LC複合素子22を構成しているため、アレイ化していないチップ型LC複合素子7を複数個用いた場合に比べて、部品点数の削減が図れて実装基板の実装面積を小さくすることができるとともに、実装時の工数も削減することができるものである。
なお、上記本発明の実施の形態5においては、コイル部2とコンデンサ部3を並列接続したものを二組接続部17で直列に接続してLC回路部4を構成しているが、これに限定されるものではなく、これ以外のものとして、例えば、コイル部2とコンデンサ部3を並列接続したものを一組設けてこれでLC回路部4を構成してもよく、これらの構成の適用については、チップ型LC複合素子を使用する電子回路の条件に合わせて実施すればよいものである。
本発明に係るチップ型LC複合素子は、導体パターンが収縮してコイル部のインダクタンス値とコンデンサ部の静電容量値がばらつくのを抑制することができ、これにより、外形寸法を1mm以下に小型化することが可能になるという効果を有するものであり、特に各種電子機器のトラップ回路またはフィルタ回路に適用して有用となるものである。
本発明の実施の形態1におけるチップ型LC複合素子の保護部を透過した斜視図 図1のA−A線断面図 図1のチップ型LC複合素子を絶縁樹脂層毎に分解した状態を示す斜視図 (a)〜(d)本発明の実施の形態1におけるチップ型LC複合素子の絶縁樹脂層の形成工程を示す断面図 同チップ型LC複合素子の等価回路図 同チップ型LC複合素子の減衰量と周波数の関係を示した特性曲線図 本発明の実施の形態2におけるチップ型LC複合素子の保護部を透過した斜視図 同チップ型LC複合素子の等価回路図 (a)〜(d)同チップ型LC複合素子の接続例を示した図 本発明の実施の形態3におけるチップ型LC複合素子の保護部を透過した斜視図 図10のB−B線断面図 同チップ型LC複合素子の等価回路図 同チップ型LC複合素子の減衰量と周波数の関係を示した特性曲線図 本発明の実施の形態4におけるチップ型LC複合素子の保護部を透過した斜視図 図14のC−C線断面斜視図 同チップ型LC複合素子の等価回路図 本発明の実施の形態5におけるチップ型LC複合素子の保護部を透過した斜視図 同チップ型LC複合素子の等価回路図
符号の説明
1a 導体パターン
1b 導体パターン
1c 導体パターン
2 コイル部
3 コンデンサ部
4 LC回路部
5 保護部
6 外部電極部
7 チップ型LC複合素子
8 絶縁体層
9a〜9p 絶縁樹脂層

Claims (5)

  1. 複数の導体パターンを螺旋状に配置して形成したコイル部と、このコイル部に対応するとともに平板状の複数の導体パターンを平行に配置して形成したコンデンサ部とにより構成されたLC回路部と、このLC回路部を埋設した保護部と、前記LC回路部と接続されるとともに一部を前記保護部から露出させた外部電極部とを備え、前記保護部を、絶縁体層に導体パターンを埋設した絶縁樹脂層を積層することにより形成し、かつ前記コイル部とコンデンサ部および外部電極部は前記絶縁体層に埋設された導体パターンを積層することにより形成し、さらに前記絶縁体層は感光性樹脂を感光させて形成するとともに前記導体パターンはメッキにより析出された銅により形成し、かつ前記導体パターンと絶縁体層は非焼成により形成したチップ型LC複合素子。
  2. コイル部の両端に一対の外部電極部を設けるとともに、コンデンサ部の両端に一対の外部電極部を設けた請求項1記載のチップ型LC複合素子。
  3. LC回路部を、コイル部とコンデンサ部を並列接続したものを二組接続部で直列に接続することにより構成した請求項1記載のチップ型LC複合素子。
  4. 螺旋状のコイル部の巻回軸方向と平行に平板状の導体パターンを配置してコンデンサ部を形成した請求項1記載のチップ型LC複合素子。
  5. LC回路部とこのLC回路部の両端に接続した外部電極部とを複数組一体に保護部に埋設した請求項1または3記載のチップ型LC複合素子。
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