JP2009059795A - 基板処理装置および基板処理方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】スピンベース13の上方の上方空間USとカップ2の内部にスピンベース13の周囲を取り囲むように形成された内部空間S1との間に気流制御ドラム6の下端が配置され、上方空間USから内部空間S1に向かう気流を制御することが可能となっている。基板Sを回転させて基板Sを乾燥させる際に、内部空間S1の圧力値(内圧値)とカップ2の外部空間S2の圧力値(外圧値)をモニタリングしながら気流制御ドラム6を昇降させることによって外圧値から内圧値を引いた差圧値が零または正の値となるように気流制御ドラム6とスピンベース13との間隔が調整される。これにより、カップ2の内部雰囲気がカップ2の外部に漏れ出すのを防止することができる。
【選択図】図1
Description
図1はこの発明にかかる基板処理装置の第1実施形態を示す図である。図2は図1の基板処理装置を上方から見た平面図である。図3は図1の基板処理装置の制御構成を示すブロック図である。この基板処理装置は、長方形の角型基板である液晶表示器(LCD)用ガラス基板S(以下、単に「基板S」という)に希フッ酸等の薬液を供給して基板Sに対して薬液処理を施した後、基板Sに純水等のリンス液を供給して基板Sに対してリンス処理を施し、その後に基板Sを高速回転させて基板Sを乾燥(スピンドライ)させる装置である。
図7はこの発明にかかる基板処理装置の第2実施形態を示す図である。この第2実施形態にかかる基板処理装置が第1実施形態と大きく相違する点は、基板Sの乾燥のステップを2段階に分けて実行することにより、気流制御ドラム6の昇降範囲の拡大を図っている点である。なお、その他の構成および動作は基本的に第1実施形態と同様であるため、ここでは同一符号を付して説明を省略する。
なお、本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて上述したもの以外に種々の変更を行うことが可能である。例えば上記実施形態では、高さ方向(鉛直方向)においてスピンベース13を固定した状態で気流制御ドラム6を昇降させることにより気流制御ドラム6とスピンベース13との間隔を調整しているが、これに限定されない。例えば、気流制御ドラム6を固定配置した状態でスピンベース13を昇降させて気流制御ドラム6とスピンベース13との間隔を調整してもよい。また、気流制御ドラム6とスピンベース13の両方を昇降させて気流制御ドラム6とスピンベース13との間隔を調整してもよい。
6…気流制御ドラム(気流制御手段)
8…制御ユニット(制御手段)
12…チャック回転機構(回転手段)
13…スピンベース(回転支持部)
71…内部圧力センサ(内圧測定手段)
72…外部圧力センサ(外圧測定手段)
Pd…下方位置
Pu…上方位置
S…基板
S1…内部空間
S2…外部空間
US…上方空間
V1…第1回転速度
V2…第2回転速度
Claims (6)
- 基板を回転させて前記基板を乾燥させる基板処理装置において、
前記基板を支持するとともに回転可能に構成された回転支持部と、
前記回転支持部を回転させる回転手段と、
内部に前記回転支持部の周囲を取り囲むように内部空間が形成され、該内部空間の雰囲気が排気されるカップと、
下端が前記回転支持部の上方の上方空間と前記内部空間との間に配置されるように前記回転支持部に対して相対的に昇降自在に立設され、前記上方空間から前記内部空間に向かう気流を制御する気流制御手段と、
前記気流制御手段を前記回転支持部に対して相対的に昇降させる昇降手段と、
前記内部空間の圧力値を測定する内圧測定手段と、
前記カップの外部空間の圧力値を測定する外圧測定手段と、
前記昇降手段を制御して前記外部空間の圧力値から前記内部空間の圧力値を引いた差圧値が零または正の値となるように前記気流制御手段と前記回転支持部との間隔を調整する制御手段と
を備えたことを特徴とする基板処理装置。 - 前記制御手段は、前記基板を乾燥させている間、前記差圧値が零または正の値となるように前記昇降手段をリアルタイムで制御する請求項1記載の基板処理装置。
- 前記制御手段は、前記基板を乾燥させる直前に、前記差圧値が零または正の値となるように前記昇降手段を制御する請求項1記載の基板処理装置。
- 前記基板上の液滴状の液体を振り切って前記基板から除去する請求項1記載の基板処理装置であって、
前記制御手段は、前記気流制御手段の下端が前記基板の上面よりも上方の上方位置に位置するように前記気流制御手段を位置決めした状態で前記回転支持部を第1回転速度で回転させて前記基板上の前記液体の大部分を振り切った後、前記気流制御手段の下端が前記基板上面と同一高さまたは前記基板上面よりも下方の下方位置に位置するように前記気流制御手段を移動させ、前記回転支持部を前記第1回転速度よりも高速の第2回転速度で回転させながら前記差圧値が零または正の値となるように前記昇降手段を制御する基板処理装置。 - 基板を支持するとともに回転可能に構成された回転支持部と、前記回転支持部を回転させる回転手段と、内部に前記回転支持部の周囲を取り囲むように内部空間が形成されたカップとを備えた基板処理装置を用いて、前記基板を回転させて前記基板を乾燥させる基板処理方法において、
前記内部空間の雰囲気を排気する排気工程と、
前記内部空間の圧力値を測定する内圧測定工程と、
前記カップの外部空間の圧力値を測定する外圧測定工程と、
前記基板の乾燥直前または乾燥処理中に前記外部空間の圧力値から前記内部空間の圧力値を引いた差圧値が零または正の値となるように前記回転支持部の上方の上方空間から前記内部空間に向かう気流を制御する気流制御工程と
を備えたことを特徴とする基板処理方法。 - 前記気流制御工程では、下端が前記上方空間と前記内部空間との間に配置されるように立設された気流制御手段を前記回転支持部に対して相対的に昇降させて前記気流制御手段と前記回転支持部との間隔を調整することで前記上方空間から前記内部空間に向かう気流を制御する請求項5記載の基板処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
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JP2009059795A true JP2009059795A (ja) | 2009-03-19 |
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