JP2009058382A - 多重スキャンによる画像取得方法、画像取得装置および試料検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 マスク11が載置されたステージに対して、1次元画像センサのライン方向と交差するX方向の走行移動と、ライン方向であるY方向のステップ移動と、を繰り返して第1スキャン・・・第9スキャン・・・第nスキャンの多重スキャンを行い、1次元画像センサによりマスク11の2次元画像データを取得する画像取得方法において、ステップ移動量を、1次元画像センサのライン方向の画素数からなるセンサ幅Wより小さくして、マスク11の同一領域の画像を1次元画像センサのライン上の異なる画素で複数回撮像し、これ等の異なる画素で撮像して得た画像データを画素間演算し平均化処理あるいは比較処理する。
【選択図】 図2
Description
図1は、本発明の多重スキャンによる画像取得方法で使用される画像検査装置の概略構成図である。マスクを検査試料として、かかる試料上の回路パターンの画像を取得するための画像取得装置10は、マスク11が載置されるXYθステージ12、光源13、照明光学系14、拡大光学系15、1次元画像撮像手段である1次元画像センサのフォトダイオードアレイ16、センサ回路17、ステージ上の位置座標を測定するレーザ測長システム18、オートローダ19を備えている。また、XYθステージ12を駆動する、X軸モータ、Y軸モータ、θ軸モータが備えられている。ここで、フォトダイオードアレイ16は所定の1次元撮像幅を有する例えばCCDセンサ、CMOSセンサ等である。
次に、上述したような画像取得装置10における多重スキャンによる画像取得方法について図1および図2を参照して説明する。図2は本発明の多重スキャンの方法を示す概念図である。
(第1の実施形態)
本発明の第1の実施形態にかかる多重スキャンによる画像取得方法、画像取得装置および試料検査装置について説明する。以下、マスク上の回路パターンの検査をする試料検査装置について説明する。多重スキャンによる画像取得方法および画像取得装置の説明は試料検査装置の説明の中で合わせて行われる。図3は本実施形態における試料検査装置の一例を示す概略構成図である。
ここで、フォトダイオードアレイ16はTDIセンサが好適であり、このTDIセンサは、例えば1ライン数千画素程度になるセンサ幅Wとなり、数十〜数百ラインとなる任意の数の画素数およびライン数を有している。
黒部目標値=Gain*黒部入力値+Offset
白部目標値=Gain*白部入力値+Offset
次に、本発明の第2の実施形態にかかる多重スキャンによる画像取得方法、画像取得装置および試料検査装置について説明する。ここで、試料検査装置は図3に示したようなマスク上の回路パターンの欠陥検査に用いられる試料検査装置である。本実施形態の特徴は、フォトダイオードアレイ16の1次元画像センサの中で特異な画像データを生成する画素あるいは画素の集団を検出し、多重スキャンによる画像取得において使用しないようにするところにある。
次に、本発明の第3の実施形態にかかる多重スキャンによる画像取得方法、画像取得装置および試料検査装置について説明する。本実施形態の特徴は、1次元画像センサをn(正整数)等分し、多重スキャンにおいてY方向にセンサ幅W/nのステップ移動をとるところにある。
次に、本発明の第4の実施形態にかかる多重スキャンによる画像取得方法、画像取得装置および試料検査装置について説明する。本実施形態の特徴は、多重スキャンによる画像取得において動作中に比較エラーを検出し、信頼性の高いパターン検査を容易にするところにある。
第1ないし第4の実施形態では、主にダイツーダイ比較によるマスクのパターン検査の場合について説明した。第5の実施形態では、図3を参照してダイツーデータベース比較によるパターン検査について説明する。この場合には、磁気ディスク装置35あるいは磁気テープ装置36にCADシステムによるマスク設計に用いられた例えばEB描画における設計データが格納されている。
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施の形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があってもこの発明に含まれる。
11 マスク
12 XYθステージ
13 光源
14 照明光学系
15 拡大光学系
16 フォトダイオードアレイ
17 センサ回路
18 レーザ測長システム
19 オートローダ
20,31 制御計算機
21,32 バス
22 多重スキャン制御回路
23 ステージ制御回路
24 位置回路
25 補正回路
26 分割保存処理バッファメモリ
27 同一領域比較/平均化回路
28 出力画像記憶装置
29 オートローダ制御回路
30 試料検査装置
33 参照データ生成回路
34 比較回路
35 磁気ディスク装置
36 磁気テープ装置
37 フロッピー(登録商標)ディスク
38 パターンモニタ
39 プリンタ
40 端末
41 補正後の1次元画像データ
42 第1バンク
43 第2バンク
44 第3バンク
45 1次元画像データ
46 補正処理部
47 分割保存処理部
48 分割画像用バッファメモリ
49 同一領域比較/平均化処理部
50 平均化画像用バッファメモリ
51 光ビーム
52 ポリゴンミラー
52a エンコーダ
53 走査光
54 f−θレンズ
55 受光部
56 A/D変換回路
57 1次元画像生成回路
Claims (8)
- 試料が載置されたステージに対して、所定の撮像幅を有する1次元画像撮像手段の前記撮像幅の方向へのステップ移動と、前記撮像幅方向と交差する方向への走行移動とを繰り返して行い、前記1次元画像撮像手段により前記試料の2次元画像データを取得する画像取得方法において、
前記ステップ移動量を前記撮像幅より小さくして、前記1次元画像撮像手段における前記撮像幅方向の異なる撮像位置で前記試料の同一領域の画像を複数回撮像し、
前記異なる撮像位置で撮像して得た画像データを演算処理することを特徴とする多重スキャンによる画像取得方法。 - 前記演算処理は、前記異なる撮像位置で取得した画像データの比較あるいは平均化であることを特徴とする請求項1に記載の多重スキャンによる画像取得方法。
- 前記撮像幅方向の撮像位置において、周辺の撮像位置と受光特性の異なる一撮像位置あるいはその周辺の撮像位置では、前記試料の同一領域の画像を複数回撮像しないようにすることを特徴とする多重スキャンによる画像取得方法。
- 前記ステップ移動量は、前記撮像幅の正整数(n)等分量であり、前記試料の同一領域の画像を前記1次元画像撮像手段の前記異なる撮像位置によりn回撮像することを特徴とする請求項1,2又は3に記載の多重スキャンによる画像取得方法。
- 前記演算処理により、前記異なる撮像位置で取得した画像データを比較し比較エラー情報を出力することを特徴とする請求項1ないし4のいずれか一項に記載の多重スキャンによる画像取得方法。
- 前記比較エラー情報により、前記画像データの補正処理において用いられる補正パラメータを変更し前記補正処理にフィードバックすることを特徴とする請求項5に記載の多重スキャンによる画像取得方法。
- ステージを1方向に走行移動させ、前記1方向と交差する方向にステップ移動させるステージ駆動機構と、
前記ステージ上に載置された試料の2次元画像データを前記ステージ駆動機構と併用して取得する所定の撮像幅をもつ1次元画像撮像手段と、
前記試料の同一領域の画像が前記1次元画像撮像手段の前記撮像幅方向の異なる撮像位置により複数回撮像されるように前記ステップ移動量を制御する多重スキャン制御手段と、
前記撮像幅方向の異なる撮像位置で取得した画像データを演算処理する演算処理手段と、
を有することを特徴とする画像取得装置。 - ステージを1方向に連続移動させ、前記1方向と交差する方向にステップ移動させるステージ駆動機構と、
前記ステージ上に載置された試料の2次元画像を前記ステージ駆動機構と併用して取得する所定の撮像幅をもつ1次元画像撮像手段と、
前記試料の同一領域の画像が前記1次元画像撮像手段の前記撮像幅方向の異なる撮像位置により複数回撮像されるように前記ステップ移動量を制御する多重スキャン制御手段と、
前記撮像幅方向の異なる撮像位置で取得した画像データを演算処理する演算処理手段と、
前記演算処理を通して得られた画像データを基準画像データと比較照合する比較照合手段と、
を有することを特徴とする試料検査装置。
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2007
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