JP2009047545A - 分析装置および光源劣化検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】受光系によって受光された通過光量の低下が光源の劣化に起因することを正確に判断することができる分析装置および光源劣化検出方法を提供すること。
【解決手段】この発明にかかる分析装置１における光源劣化検出部３４は、ブランク試料の通過光量の絶対値ではなく、ブランク試料の通過光量における長波長側の相対値変化およびブランク試料の通過光量における短波長側の相対値変化を用い、さらに各色温度における光強度の波長分布依存性にもとづいて光源劣化の有無を判断するため、受光系によって受光された通過光量の低下が光源の劣化に起因することを正確に判断することができる。
【選択図】 図１

Description

この発明は、反応管内の試料の光学的特性をもとに該試料を分析する分析装置および光源劣化検出方法に関する。

従来、血液や体液等の試料を自動的に分析する装置として、試薬が分注された反応管に試料を加え、反応管内の試薬と試料の間で生じた反応を光学的に検出する分析装置が知られている。このような分析装置では、光源と受光系とを備える測光機構を設け、光源が試料を収容した反応管に光を照射後、受光系が受光した反応管内の液体の通過光量をもとに試料の分析を行っている。

ところで、分析装置の光源には、ハロゲンランプが多く利用されている。このハロゲンランプは、長時間使用した場合、タングステンが蒸発してフィラメントが細ってしまうことからフィラメントの抵抗が増加し、このフィラメントの抵抗増加にともなって出力が下がってしまう。すなわち、長時間の使用によって、ハロゲンランプから発せられる光の光束や色温度が低下していってしまう。この結果、ハロゲンランプを用いた測定装置においては、ハロゲンランプの出力低下にともない反応管内の試料を透過する通過光量も低下してしまい、測光機構における測光性能も低下してしまう。また、分析途中で光源であるハロゲンランプが寿命を迎えてしまうと、分析途中であった試料や試薬が無駄となってしまう上に、光源の交換による分析装置のダウンタイム発生による分析処理の停滞が発生してしまう。

このため、従来においては、ブランク試料における通過光量をモニターし、この通過光量がハロゲンランプ劣化時に対応する閾値を下回った場合には、ハロゲンランプが劣化したと判断してハロゲンランプの交換を促す方法が提案されている（特許文献１および特許文献２参照）。

特開平１０−３８７９３号公報 特開平１０−２８１９７８号公報

しかしながら、反応管が不適正である場合、たとえば反応管が汚れていた場合には、この汚れによって光が吸収されてしまい、反応管を透過する通過光量が低下してしまう。具体的には、図３０の曲線Ｂｅに示すように、ハロゲンランプの劣化時間Ｔｌ経過前の時間Ｔｅ１であるにもかかわらず、曲線Ｂｌに示すようにハロゲンランプが実際に劣化した場合と同様に、反応管の汚れによる光の吸収によって通過光量が閾値Ｔを下回ってしまう場合がある。

この結果、特許文献１および特許文献２にあるように、ブランク試料の通過光量と閾値とを単に比較した場合には、反応管の汚れによって通過光量が閾値を下回った場合も、ハロゲンランプの劣化に起因して通過光量が閾値を下回った場合と同様に、ハロゲンランプ交換の警報が出力されてしまう場合があった。したがって、分析装置の使用者は、ハロゲンランプ交換の警報が出力された場合には、ハロゲンランプ劣化判断のために実際に測定が行なわれた反応管が汚れていないかどうかを目視で確認し、反応管が汚れていないと判断できた場合にハロゲンランプを交換していた。このように、従来においては、ブランク試料の通過光量の低下がハロゲンランプの劣化または反応管の汚れに起因するものであるかを区別するため、分析装置の使用者自らが反応管を目視するという煩雑な処理を行なう必要があり多くの作業負担がかかっていた。

本発明は、上記した従来技術の欠点に鑑みてなされたものであり、受光系によって受光された通過光量の低下が光源の劣化に起因することを正確に判断することができる分析装置および光源劣化検出方法を提供することを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するために、この発明にかかる分析装置は、反応管内の試料の光学的特性をもとに該試料を分析する分析装置において、光を発する光源と、前記光源から発せられブランク試料を通過した通過光量を測光する測光手段と、前記測光手段によって測定された前記ブランク試料の通過光量を各色温度における光強度の波長分布依存性をもとに、長波長側の相対値変化および短波長側の相対値変化から前記光源が劣化しているか否かを判断する判断手段と、を備えたことを特徴とする。

また、この発明にかかる分析装置は、前記光源の使用開始時における前記ブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す初期ラインと、前記光源の劣化時における前記ブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す閾値ラインと、前記光源の使用開始時に対応する色温度の波長分布依存性および前記光源の劣化時に対応する色温度の波長分布依存性をもとに設定された前記長波長側の波長範囲および前記短波長側の波長範囲とを記憶する記憶手段をさらに備えたことを特徴とする。

また、この発明にかかる分析装置は、前記判断手段は、前記測光手段によって測定されたブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す測定ラインを求め、該求めた測定ラインと、前記記憶手段に記憶された初期ラインおよび／または閾値ラインとを前記長波長側の波長範囲および／または前記短波長側の波長範囲で比較して前記光源が劣化しているか否かを判断することを特徴とする。

また、この発明にかかる分析装置は、前記通過光量相対値は、前記光源の使用開始時に対応する色温度であるときの最大通過光量を示す波長および前記光源の劣化時に対応する色温度であるときの最大通過光量を示す波長の双方が前記測光手段による測定範囲内に含まれる場合、前記光源の使用開始時におけるブランク試料の通過光量のうち最も高い通過光量に対する相対値であることを特徴とする。

また、この発明にかかる分析装置は、前記判断手段は、前記測定ラインが長波長側で前記閾値ラインを上回る場合には、前記光源は劣化していると判断することを特徴とする。

また、この発明にかかる分析装置は、前記判断手段は、前記測定ラインが長波長側で前記初期ラインを下回る場合には、前記測光手段における通過光量低下は前記反応管の不適性を示すものであると判断することを特徴とする。

また、この発明にかかる分析装置は、前記判断手段は、前記測定ラインが長波長側で前記初期ラインと前記閾値ラインの間にある場合であって前記測定ラインが短波長側で初期ラインを下回る場合には、前記光源は劣化していると判断し、前記測定ラインが長波長側で前記初期ラインと前記閾値ラインの間にある場合であって前記測定ラインが短波長側で初期ラインを下回っていない場合には、前記光源は正常であると判断することを特徴とする。

また、この発明にかかる分析装置は、前記光源の使用開始時に対応する色温度であるときの最大通過光量を示す波長および前記光源の劣化時に対応する色温度であるときの最大通過光量を示す波長の双方が前記測光手段によって測定される最長波長よりも長い場合、前記光源の使用開始時におけるブランク試料の各通過光量相対値は、前記光源の使用開始時に測定されたブランク試料の前記測光手段による測定範囲のほぼ中心の中心波長における通過光量に対する各通過光量の相対値であり、前記光源の劣化時におけるブランク試料の各通過光量相対値は、前記光源の劣化時に測定されたブランク試料の前記中心波長における通過光量に対する各通過光量の相対値であり、前記測光手段によって測定されたブランク試料の通過光量相対値は、前記測光手段によって測定されたブランク試料の前記中心波長における通過光量に対する各通過光量の相対値であることを特徴とする。

また、この発明にかかる分析装置は、前記判断手段は、前記測定ラインが短波長側で前記閾値ラインを上回る場合には、前記光源は劣化していると判断することを特徴とする。

また、この発明にかかる分析装置は、前記判断手段は、前記測定ラインが短波長側で前記初期ラインを下回る場合には、前記測光手段における通過光量低下は前記反応管の不適性を示すものであると判断することを特徴とする。

また、この発明にかかる分析装置は、前記判断手段は、前記測定ラインが短波長側で前記初期ラインと前記閾値ラインの間にある場合であって前記測定ラインが長波長側で閾値ラインを下回る場合には、前記光源は劣化していると判断し、前記測定ラインが短波長側で前記初期ラインと前記閾値ラインの間にある場合であって前記測定ラインが長波長側で初期ラインを下回っていない場合には、前記光源は正常であると判断することを特徴とする。

また、この発明にかかる分析装置は、前記判断手段が前記光源は劣化していると判断した場合、前記光源が劣化している旨を報知する警報を出力する出力手段をさらに備えたことを特徴とする。

また、この発明にかかる分析装置は、前記記憶手段は、前記閾値ラインとして、前記光源の劣化時における前記ブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す第１の閾値ラインと、所定時間後に劣化すると予測される前記光源を用いて測定した前記ブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す第２の閾値ラインとを記憶し、前記判断手段は、前記測定ラインと前記記憶手段に記憶された初期ラインおよび第１の閾値ラインとを比較して前記光源が劣化しているか否かを判断し、前記測定ラインと前記記憶手段に記憶された初期ラインおよび第２の閾値ラインとを比較して前記所定時間後の前記光源の劣化を予測することを特徴とする。

また、この発明にかかる光源劣化検出方法は、光源の劣化を検出する光源劣化検出方法において、前記光源から発せられた所定の通過部材を通過した通過光量を測光する測光ステップと、前記測光ステップにおいて測定された前記通過部材の通過光量を各色温度における光強度の波長分布依存性をもとに、長波長側の相対値変化および短波長側の相対値変化から前記光源が劣化しているか否かを判断する判断ステップと、を含むことを特徴とする。

また、この発明にかかる光源劣化検出方法は、前記光源の使用開始時における前記通過部材の通過光量相対値の波長依存性を示す初期ラインと、前記光源の劣化時における前記通過部材の通過光量相対値の波長依存性を示す閾値ラインと、前記光源の使用開始時に対応する色温度の波長分布依存性および前記光源の劣化時に対応する色温度の波長分布依存性をもとに設定された前記長波長側の波長範囲および前記短波長側の波長範囲とを取得する取得ステップと、をさらに含み、前記判断ステップは、前記測光ステップにおいて測定された通過部材の通過光量相対値の波長依存性を示す測定ラインを求め、該求めた測定ラインと前記取得ステップにおいて取得された初期ラインおよび／または閾値ラインとを前記長波長側の波長範囲および／または前記短波長側の波長範囲で比較して前記光源が劣化しているか否かを判断することを特徴とする。

本発明によれば、ブランク試料の通過光量の絶対値ではなく、ブランク試料の通過光量における長波長側の相対値変化およびブランク試料の通過光量における短波長側の相対値変化を用い、さらに各色温度における光強度の波長分布依存性にもとづいて光源が劣化しているか否かを判断するため、測光手段によって受光された通過光量の低下が光源の劣化に起因することを正確に判断することができる。

以下、図面を参照して、この発明の実施の形態である分析装置について、体液などの液体試料の通過光量をもとに試料を分析する分析装置を例に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。また、図面の記載において、同一部分には同一の符号を付している。

（実施の形態１）
まず、実施の形態１について説明する。図１は、本実施の形態１にかかる分析装置の構成を示す模式図である。図１に示すように、実施の形態１にかかる分析装置１は、分析対象である試料および試薬を反応管２１にそれぞれ分注し、分注した反応管２１内で生じる反応を光学的に測定する測定機構２と、測定機構２を含む分析装置１全体の制御を行うとともに測定機構２における測定結果の分析を行う制御機構３とを備える。分析装置１は、これらの二つの機構が連携することによって複数の試料の生化学分析を自動的に行う。

測定機構２は、大別して、試料移送機構１１と、試料分注機構１２と、反応テーブル１３と、試薬庫１４と、試薬分注機構１７と、攪拌部１８と、測光部１９と、洗浄部２０とを備える。

試料移送機構１１は、血液や尿等、液体である試料を収容した複数の試料容器１１ａを保持し、図中の矢印方向に順次移送する複数の試料ラック１１ｂを備える。試料移送機構１１上の所定位置に移送された試料容器１１ａ内の試料は、試料分注機構１２によって、反応テーブル１３上に配列して搬送される反応管２１に分注される。

試料分注機構１２は、鉛直方向への昇降および自身の基端部を通過する鉛直線を中心軸とする回転を自在に行うアーム１２ａを備える。このアーム１２ａの先端部には、試料の吸引および吐出を行うプローブが取り付けられている。試料分注機構１２は、図示しない吸排シリンジを用いた吸排機構を備える。試料分注機構１２は、上述した試料移送機構１１上の所定位置に移送された試料容器１１ａの中からプローブによって試料を吸引し、アーム１２ａを図中時計回りに旋回させ、反応管２１に試料を吐出して分注を行う。

反応テーブル１３は、反応管２１への試料や試薬の分注、反応管２１の攪拌、洗浄または測光を行うために反応管２１を所定の位置まで移送する。この反応テーブル１３は、制御部３１の制御のもと、図示しない駆動機構が駆動することによって、反応テーブル１３の中心を通る鉛直線を回転軸として回動自在である。反応テーブル１３の上方と下方には、図示しない開閉自在な蓋と恒温槽がそれぞれ設けられている。

試薬庫１４は、反応管２１内に分注される試薬が収容された試薬容器１５を複数収納できる。試薬庫１４には、複数の収納室が等間隔で配置されており、各収納室には試薬容器１５が着脱自在に収納される。試薬庫１４は、制御部３１の制御のもと、図示しない駆動機構が駆動することによって、試薬庫１４の中心を通る鉛直線を回転軸として時計回りまたは反時計回りに回動自在であり、所望の試薬容器１５を試薬分注機構１７による所定位置まで移送する。試薬庫１４の上方には、試薬の蒸発や変性を抑制するため、開閉自在な蓋（図示せず）が設けられており、試薬庫１４の下方には、恒温槽が設けられている。

試薬分注機構１７は、試料分注機構１２と同様に、試料の吸引および吐出を行うプローブが先端部に取り付けられたアーム１７ａを備える。アーム１７ａは、鉛直方向への昇降および自身の基端部を通過する鉛直線を中心軸とする回転を自在に行う。試薬分注機構１７は、試薬庫１４上の所定位置に移動された試薬容器１５内の試薬をプローブによって吸引し、アーム１７ａを図中時計回りに旋回させ、反応テーブル１３上の所定位置に搬送された反応管２１に分注する。攪拌部１８は、反応管２１に分注された試料と試薬との攪拌を行い、反応を促進させる。

測光部１９は、所定の測光位置に搬送された反応管２１に光を照射し、反応管２１内の液体を透過した光を分光し、反応液に特有の波長の通過光量を測定する。この測光部１９による測定結果は、制御部３１に出力され、分析部３３において分析される。

測光部１９は、たとえば図２に示すように、光源であるハロゲンランプ１９１と、ハロゲンランプ１９１から照射された光を反応管２１に対して集光するレンズ１９２と、反応管２１を透過した通過光量を受光する受光系１９８とを備える。受光系１９８は、たとえば、グレーティング１９５に対して集光するレンズ１９３，１９４と、レンズ１９３，１９４によって集光された光を分光するグレーティング１９５と、グレーティング１９５によって分光された光を波長ごとに絞るスリット部材１９６と、所定波長光の受光量をそれぞれ検出するフォトダイオード（以下、「ＰＤ」とする。）を１次元または２次元に配列しグレーティング１９５によって分光された各波長の光を受光するフォトダイオードアレイ（以下、「ＰＤＡ」とする。）１９７とを備える。ＰＤＡ１９７によって検出された各受光量は、各受光量に対応する電圧値に変換された後、増幅処理、デジタルデータ変換処理を経て、制御部３１に出力される。

そして、測光部１９においては、分析対象である試料のほか、ブランク試料に対しても測定処理を行なう。すなわち、ハロゲンランプ１９１は、このブランク試料に光を発し、ＰＤＡ１９７は、ハロゲンランプ１９１から発せられた光のうちブランク試料を透過した通過光量を測光する。なお、ブランク試料は、空の状態、水を収容した状態または光の透過率が固定された液体を収容した状態である。

洗浄部２０は、図示しないノズルによって、測光部１９による測定が終了した反応管２１内の混合液を吸引して排出するとともに、洗剤や洗浄水等の洗浄液を注入および吸引することで洗浄を行なう。この洗浄した反応管２１は再利用されるが、検査内容によっては１回の測定終了後に反応管２１を廃棄してもよい。

つぎに、制御機構３について説明する。制御機構３は、制御部３１と、入力部３２と、分析部３３と、光源劣化検出部３４と、記憶部３５と、出力部３７とを備える。測定機構２および制御機構３が備えるこれらの各部は、制御部３１に電気的に接続されている。

制御部３１は、ＣＰＵ等を用いて構成され、分析装置１の各部の処理および動作を制御する。制御部３１は、これらの各構成部位に入出力される情報について所定の入出力制御を行い、かつ、この情報に対して所定の情報処理を行う。

入力部３２は、キーボード、マウス等を用いて構成され、試料の分析に必要な諸情報や分析動作の指示情報等を外部から取得する。分析部３３は、測光部１９から取得した通過光量測定結果に基づいて試料の成分分析等を行う。

光源劣化検出部３４は、各色温度における光強度の波長分布依存性にもとづいて、測光部１９におけるＰＤＡ１９７によって測定されたブランク試料の通過光量における長波長側の相対値変化および測光部１９におけるＰＤＡ１９７によって測定されたブランク試料の通過光量における短波長側の相対値変化からハロゲンランプ１９１が劣化しているか否かを判断する。なお、色温度とは、発熱して発光する物体からの光の色合いを表す数値である。

記憶部３５は、情報を磁気的に記憶するハードディスクと、分析装置１が処理を実行する際にその処理にかかわる各種プログラムをハードディスクからロードして電気的に記憶するメモリとを用いて構成され、試料の分析結果等を含む諸情報を記憶する。記憶部３５は、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＰＣカード等の記憶媒体に記憶された情報を読み取ることができる補助記憶装置を備えてもよい。

記憶部３５は、ハロゲンランプ１９１の使用開始時におけるブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す初期ラインと、ハロゲンランプ１９１の劣化時におけるブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す閾値ラインとを記憶する。そして、記憶部３５は、ハロゲンランプ１９１の使用開始時に対応する色温度の波長分布依存性およびハロゲンランプ１９１の劣化時に対応する色温度の波長分布依存性をもとに予め設定された長波長側の波長範囲および短波長側の波長範囲を記憶する。初期ラインは、ハロゲンランプ１９１の使用開始時において測定されたブランク試料の通過光量をもとに計算された各波長における通過光量相対値をもとに設定されたものである。閾値ラインは、劣化したハロゲンランプ１９１を用いて予め測定されたブランク試料の通過光量をもとに計算された各波長における通過光量相対値をもとに設定されたものである。

光源劣化検出部３４は、測光部１９によって測定されたブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す測定ラインを求め、この求めた測定ラインと、記憶部３５に記憶された初期ラインおよび／または閾値ラインとを長波長側の波長範囲および／または短波長側の波長範囲で比較してハロゲンランプ１９１が劣化しているか否かを判断する。

出力部３７は、プリンタ、スピーカー、警告灯を用いて構成され、試料の分析結果を含む諸情報を出力する。出力部３７は、ディスプレイ等を用いて構成された表示部３８を有する。出力部３７は、光源劣化検出部３４がハロゲンランプ１９１は劣化していると判断した場合、ハロゲンランプ１９１が劣化している旨を報知する警報を出力する。また、出力部３７は、図示しない通信ネットワークを介して所定の形式にしたがって情報を外部に出力してもよい。

以上のように構成された分析装置１では、列をなして順次搬送される複数の反応管２１に対して、試料分注機構１２が試料容器１１ａ中の試料を分注し、試薬分注機構１７が試薬容器１５中の試薬を分注した後、測光部１９が試料と試薬とを反応させた状態の試料の分光強度測定を行い、この測定結果を分析部３３が分析することで、試料の成分分析等が自動的に行われる。また、洗浄部２０が測光部１９による測定が終了した後に搬送される反応管２１を搬送させながら洗浄することで、一連の分析動作が連続して繰り返し行われる。

この分析装置１においては、ハロゲンランプ１９１は経時劣化によって色温度が低下すること、および、各色温度によって光強度の波長分布依存性が異なることを利用して、ハロゲンランプ１９１が劣化しているか否かを判断する。

具体的に、図３を参照して、光強度の波長分布依存性の色温度による違いを説明する。図３は、色温度が３０００Ｋである場合および色温度が２２００Ｋである場合における光強度の波長分布依存性を示す図である。図３の曲線Ｃ３０００は、色温度が３０００Ｋである場合の光強度の波長分布依存性を示し、曲線Ｃ２２００は、色温度が２２００Ｋである場合における光強度の波長分布依存性を示す。なお、図３においては、色温度３０００Ｋである場合において最も強度が強い波長の光強度を１００とした相対強度で各光強度を示している。

図３の曲線Ｃ３０００および曲線Ｃ２２００に示すように、各色温度の光強度は、色温度の低下にともなって、最も強度が強い波長が長波長側にシフトするとともに、曲線によって占められる面積が小さくなっていく。これをハロゲンランプ１９１に当てはめた場合、ハロゲンランプ１９１の経時劣化にともなって光量の出力値が次第に低下し、これにともない色温度が低下していくことになる。

そして、各波長の相対強度を色温度３０００Ｋである場合と色温度２２００Ｋである場合とで比較した場合について説明する。図３に示すように、色温度３０００Ｋである場合において最も強度が強い波長および色温度２２００Ｋである場合において最も強度が強い波長の双方を含む波長範囲においては、１．４μｍよりも短波長側では、矢印Ｙ１に示すように色温度が３０００Ｋから２２００Ｋに低下することにともない光強度の相対強度も低下する。これに対し、１．４μｍよりも長波長側では、矢印Ｙ２に示すように色温度が３０００Ｋから２２００Ｋに低下することにともない光強度の相対強度は増加している。すなわち、図３に示すように、１．４μｍを境に設定した範囲Ａｓ１に示す短波長側では色温度の低下にともなって光強度の相対強度が低下し、範囲Ａｓ２に示す長波長側では色温度の低下にともなって光強度の相対強度が増加する。言い換えると、１．４μｍを境に、範囲Ａｓ１と範囲Ａｓ２とにおいては、色温度の低下にともなう光強度の相対強度の変化方向が異なるものとなる。

この色温度３０００Ｋは、たとえばハロゲンランプ１９１の使用開始時における色温度に該当し、色温度２２００Ｋは、たとえばハロゲンランプ１９１の劣化時における色温度に該当する。したがって、ハロゲンランプ１９１の使用開始時における光強度の相対強度とハロゲンランプの劣化時における光強度の相対強度とを比較した場合、１．４μｍを境とし、図３に示す波長λ１〜λ６が含まれる範囲Ａｓ１に示す短波長側では、ハロゲンランプ１９１の劣化にともなって相対強度が低下する方向に変化する。一方、図３に示す波長λ７〜λ１１が含まれる範囲Ａｓ２に示す長波長側では、ハロゲンランプ１９１の劣化にともなって相対強度が増加する方向に変化する。

実際に分析装置１において、ハロゲンランプ１９１の使用開始時および劣化時においてブランク試料に対して波長λ１〜λ１の範囲で通過光量を測定した測定結果を図４に示す。

図４においては、実際に図３に示す範囲Ａｓ１に含まれる波長λ１〜λ６および範囲Ａｓ２に含まれる各波長λ７〜λ１１について、曲線Ｌ０１に色温度３０００Ｋである使用開始時のハロゲンランプ１９１を用いた場合のブランク試料の通過光量相対強度の波長依存性を示し、曲線Ｌｔ１に色温度２２００Ｋである劣化時のハロゲンランプ１９１を用いた場合のブランク試料の通過光量相対強度の波長依存性を示す。この図４においては、図３と同様に、色温度３０００Ｋであるハロゲンランプ１９１使用開始時におけるブランク試料の通過光量のうち最も高い通過光量を１００とした通過光量相対値を演算し、この演算した通過光量相対値を縦軸の相対ブランク値としている。

図４に示すように、ハロゲンランプ１９１の劣化時に対応する曲線Ｌｔ１は、図３を用いて説明した原理に沿うように、波長λ１〜λ６が含まれる範囲Ａｓ１に示す短波長側では、矢印Ｙ３に示すように、ハロゲンランプ１９１の使用開始時に対応する曲線Ｌ０１を下回る。そして、曲線Ｌｔ１は、波長λ７〜λ１１が含まれる範囲Ａｓ２に示す長波長側では、矢印Ｙ４ａに示すように曲線Ｌ０１を上回る。ハロゲンランプ１９１が劣化した場合には、短波長側では曲線Ｌ０１を下回るように相対ブランク値が変化し、長波長側では、曲線Ｌ０１を上回るように相対ブランク値が変化する。言い換えると、ハロゲンランプ１９１が劣化する方向は、短波長側では初期ラインＬ０１を下回る方向となり、長波長側では初期ラインＬ０１を上回る方向となる。

ここで、この曲線Ｌｔ１は、ハロゲンランプ１９１劣化時に対応するものであることからハロゲンランプ１９１劣化を切り分け可能である閾値ラインとして機能する。そして、曲線Ｌ０１は、ハロゲンランプ１９１使用開始時に対応するものであることから、初期値ラインとして機能する。

したがって、図５に示すように、短波長側における曲線Ｌ０１と曲線Ｌｔ１とに囲まれる領域Ｄｓ１および長波長側における曲線Ｌ０１と曲線Ｌｔ１とに囲まれる領域Ｄｌ１の双方を満たすように、測光部１９によって測定された各波長の相対ブランク値が分布していた場合には、ハロゲンランプ１９１は劣化しておらず正常であるものと考えられる。言い換えると、測光部１９によって測定されたブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す測定ラインが領域Ｄｓ１および領域Ｄｌ１の双方にある場合には、ハロゲンランプ１９１は劣化しておらず正常であるものと考えられる。

そして、ブランク試料に対する測定ラインが、短波長側および長波長側の双方で、ハロゲンランプ１９１が劣化する方向に閾値ラインである曲線Ｌｔ１を超える場合には、ハロゲンランプ１９１が劣化していると判断できる。測定ラインがたとえば図６の曲線Ｌｄ１のように、短波長側である範囲Ａｓ１において曲線Ｌｔ１を下回っていた場合、かつ、長波長側である範囲Ａｓ２において曲線Ｌｔ１を上回っていた場合には、ハロゲンランプ１９１が劣化していると判断できる。

そして、ブランク試料に対する測定ラインが、領域Ｄｓ１および領域Ｄｌ１の双方に含まれる場合、および、曲線Ｌｄ１のように短波長側で曲線Ｌｔ１を下回りかつ長波長側で曲線Ｌｔ１を上回る場合以外であるときの、ハロゲンランプ１９１の劣化検出について説明する。

ここで、従来においてはハロゲンランプ１９１劣化状態との区別が困難であった反応管２１が不適性であった場合、たとえば反応管２１に汚れがあった場合について説明する。反応管に汚れがあった場合には、ほぼ全波長における光が吸収されるため、ほぼ全波長における通過光量自体が低下する。このため、反応管２１に汚れがあった場合に測光部１９によって測定されたブランク試料の測定ラインは、図４の曲線Ｌｓ１に示すように、波長λ１〜λ１１全体において低下する。すなわち、反応管２１に汚れがあった場合には、関係曲線Ｌｓ１のように、波長λ１〜λ６が含まれる範囲Ａｓ１に示す短波長側では矢印Ｙ３に示すように曲線Ｌ０１を下回り、さらに、波長λ７〜λ１１が含まれる範囲Ａｓ２に示す長波長側においても矢印Ｙ４ｂに示すように曲線Ｌ０１を下回る傾向を示す。なお、曲線Ｌｓ１は、反応管２１の汚れによる光の吸収が長波長側よりも短波長側のほうが大きい場合について示す。

したがって、図４に示すように、範囲Ａｓ２に示す長波長側においては、ハロゲンランプ１９１が劣化した場合と、反応管２１の汚れがあった場合とで、初期ラインである曲線Ｌ０１に対して相対ブランク値が変化する方向が異なる。すなわち、ハロゲンランプ１９１の劣化方向は、長波長側では、矢印Ｙ４ａに示すように相対ブランク値が初期ラインである曲線Ｌ０１から上昇する方向である。これに対して、反応管２１に汚れがある場合には、長波長側では、矢印Ｙ４ｂに示すように相対ブランク値が初期ラインである曲線Ｌ０１から下がっていくため、ハロゲンランプ１９１の劣化方向とは逆の方向に相対ブランク値が変化することとなる。

このため、長波長側においてブランク試料に対する測定ラインが曲線Ｌｔ１を上回る場合には、基準となる閾値ラインを超えてハロゲンランプ１９１の劣化方向に変化しているため、ハロゲンランプ１９１は劣化しているものと考えられる。

実際にハロゲンランプ１９１が長波長側で劣化した場合における測定ラインを、図７の曲線Ｌｄ１１に示す。この曲線Ｌｄ１１は、短波長側が領域Ｄｓ１にあるものの長波長側が図５に示す領域Ｄｌ１ｕにある。すなわち、曲線Ｌｄ１１は、長波長側において、閾値ラインを上回る領域にあり、ハロゲンランプ１９１の劣化方向に相対ブランク値が変化している。このことから、曲線Ｌｄ１１のように測定ラインが長波長側において閾値ラインを上回る場合には、ハロゲンランプ１９１が劣化している場合であるといえる。

そして、反応管２１が汚れている場合の測定ラインである曲線Ｌｓ１においては、長波長側において初期ラインである曲線Ｌ０１を下回る。言い換えると、曲線Ｌｓ１においては、長波長側において、ハロゲンランプ１９１の劣化方向とは逆の方向に相対ブランク値が変化している。このことから、曲線Ｌｓ１のように測定ラインが長波長側において初期ラインを下回る場合には、反応管２１に汚れがある場合であるといえる。

また、図８に、ハロゲンランプ１９１が短波長側で劣化した場合における測定ラインである曲線Ｌｄ１２および反応管２１が汚れている場合の測定ラインである曲線Ｌｓ１１を示す。

図８に示すように、曲線Ｌｓ１１は、長波長側において初期ラインを下回る。言い換えると、この曲線Ｌｓ１１においては、長波長側において、ハロゲンランプ１９１の劣化方向とは逆の方向に相対ブランク値が変化している。上述したように、ハロゲンランプ１９１が劣化する場合には、長波長側である範囲Ａｓ２においては、初期ラインを上回る方向に相対ブランク値が変化する。したがって、長波長側において、曲線Ｌｓ１１のように測定ラインがハロゲンランプ１９１の劣化方向と逆方向に変化する場合、すなわち、長波長側において、測定ラインが初期ラインを下回る場合には、反応管２１に汚れがある場合であるといえる。

そして、図８に示すように、曲線Ｌｄ１２においては、長波長側において初期ラインを上回る。言い換えると、この曲線Ｌｄ１２においては、長波長側において、ハロゲンランプ１９１の劣化方向に相対ブランク値が変化している。上述したように、ハロゲンランプ１９１が劣化する場合には、長波長側である範囲Ａｓ２で初期ラインを上回る方向に相対ブランク値が変化する。さらに、曲線Ｌｄ１２は、短波長側で相対ブランク値が低下して閾値ラインを下回ることが分かる。このため、曲線Ｌｄ１２のように、短波長側において測定ラインが閾値ラインを下回り、さらに長波長側において測定ラインが初期ラインを上回る場合には、ハロゲンランプ１９１が劣化した場合であるといえる。

上述した内容より、図６の曲線Ｌｄ１および図７の曲線Ｌｄ１１のように、長波長側において測定ラインが閾値ラインを上回る場合、すなわち図５の領域Ｄｌ１ｕにある場合には、短波長側が領域Ｄｓ１に含まれるか否かに関わらず、ハロゲンランプ１９１が劣化しているものと判断してよい。

また、図７の曲線Ｌｓ１および図８の曲線Ｌｓ１１のように、長波長側において測定ラインが初期ラインを下回る場合、すなわち図５の領域Ｄｌ１ｄにある場合には、短波長側が領域Ｄｓ１に含まれるか否かに関わらず、反応管２１の汚れがあるものと判断してよい。

そして、図８に示す曲線Ｌｄ１２のように、測定ラインが、長波長側において領域Ｄｌ１にあるものの短波長側において領域Ｄｓ１外の領域Ｄｓ１ｄにある場合には、長波長側においてハロゲンランプ劣化方向に相対ブランク値が変化しているため、ハロゲンランプ１９１が劣化しているものと判断してよい。この場合には、長波長側よりも短波長側においてハロゲンランプ１９１の劣化が進行したものと考えられる。なお、短波長側においては、ハロゲンランプ１９１が劣化した場合および反応管２１に汚れがある場合のいずれにおいても相対ブランク値が初期ラインＬ０１を下回るように変化するため、短波長側において初期ラインＬ０１を上回る領域Ｄｓ１ｕについては判断する必要がない。

分析装置１は、上述した内容にもとづいて、ＰＤＡ１９７における通過光量測定値の低下は、ハロゲンランプ１９１の劣化または反応管２１の汚れのいずれに起因するものであるかを判断している。この分析装置１のハロゲンランプの劣化検出処理について、図９および図１０を参照して説明する。

ここで、ハロゲンランプ１９１には個体差があるため、ハロゲンランプ１９１を交換するたびに、初期ラインを取得する必要がある。まず、図９を参照して、上述した初期ラインを取得するための処理について説明する。

図９に示すように、ハロゲンランプ１９１が交換された場合には、交換されたハロゲンランプ１９１の劣化検出および初期ライン取得のために、測光部１９は、制御部３１の制御のもと、ハロゲンランプ１９１からブランク試料に対して光を照射し、このブランク試料における通過光量を測定するブランク測定処理を行なう（ステップＳ１）。

次いで、光源劣化検出部３４は、測光部１９によるブランク試料に対する各波長の測定結果を取得し、この測定結果をもとに相対ブランク値を初期相対ブランク値として演算する（ステップＳ２）。光源劣化検出部３４は、この初期相対ブランク値として、各ブランク試料における通過光量のうち最も高い通過光量に対する相対値を演算する。そして、光源劣化検出部３４は、初期相対ブランク値の波長依存性を示す初期ラインを求める。

つぎに、光源劣化検出部３４は、記憶部３５から閾値ラインを取得する（ステップＳ３）。そして、光源劣化検出部３４は、演算した初期相対ブランク値をもとに求めた初期ラインと、取得した閾値ラインとを比較して、初期ラインが閾値ラインを超えたか否かを判断する（ステップＳ４）。具体的には、光源劣化検出部３４は、初期ラインが、長波長側で閾値ラインを上回るか否かを判断する。あるいは、光源劣化検出部３４は、初期ラインが、短波長側で閾値ラインを下回るか否かを判断する。初期ラインが、長波長側で閾値ラインを上回る場合には、交換した新たなハロゲンランプ１９１に初期異常が発生しているものと考えられるからである。

このため、光源劣化検出部３４が初期ラインが閾値ラインを超えたと判断した場合には（ステップＳ４：Ｙｅｓ）、交換したハロゲンランプ１９１は初期異常が発生しているものと考えられるため、制御部３１は、出力部３７に再度新たなハロゲンランプ１９１に交換する指示を出力させる（ステップＳ５）。

これに対し、光源劣化検出部３４が初期ラインが閾値ラインを超えていないと判断した場合には（ステップＳ４：Ｎｏ）、この交換したハロゲンランプ１９１は初期異常がない正常なものであると考えられるため、制御部３１は、このハロゲンランプ１９１を使用可能であると判断し、ステップＳ２において演算した初期ラインを、光源劣化検出処理において参照する初期ラインとして記憶部３５に記憶させる（ステップＳ６）。

そして、図９に示す各処理手順を行なって取得した初期ラインを用いて、現に分析装置１において使用されているハロゲンランプ１９１の劣化を検出する処理について、図１０を参照して説明する。

図１０に示すように、まず、制御部３１は、ハロゲンランプ１９１の劣化検出処理の処理タイミングであるかを判断する（ステップＳ１１）。制御部３１は、たとえば、このハロゲンランプ１９１の劣化検出処理が入力部３２を介して指示された場合、または、予め設定された一定期間経過時に、ハロゲンランプ１９１の劣化検出処理の処理タイミングであると判断する。たとえば、分析装置１の使用者の入力操作によってハロゲンランプ１９１の劣化検出処理が指示された場合のほか、前回劣化検出時から一定期間ハロゲンランプ１９１の劣化検出処理が行なわれていないときの場合など分析装置１が自動的にハロゲンランプ１９１の劣化検出処理を行なう場合などである。

制御部３１は、ハロゲンランプ１９１の劣化検出処理の処理タイミングであると判断するまでステップＳ１１の判断処理を繰り返し、制御部３１がハロゲンランプ１９１の劣化検出処理の処理タイミングであると判断した場合（ステップＳ１１：Ｙｅｓ）、測光部１９は、制御部３１の制御のもと、ハロゲンランプ１９１からブランク試料に対して光を照射し、このブランク試料における通過光量を測定するブランク測定処理を行なう（ステップＳ１２）。

次いで、光源劣化検出部３４は、測光部１９によるブランク試料に対する各波長の測定結果を取得し、この測定結果をもとに相対ブランク値を演算する（ステップＳ１３）。光源劣化検出部３４は、この相対ブランク値として、ハロゲンランプ１９１の使用開始時におけるブランク試料の通過光量のうち最も高い通過光量に対する各波長において測定されたブランク試料の通過光量の相対値を演算する。なお、ハロゲンランプ１９１の使用開始時におけるブランク試料の通過光量のうち最も高い通過光量は、予め図９に示された処理手順で求められ記憶部３５内に記憶されている。そして、光源劣化検出部３４は、相対ブランク値の波長依存性を示す測定ラインを求める。

つぎに、光源劣化検出部３４は、記憶部３５に記憶される情報のうち、初期ラインを取得し（ステップＳ１４）、閾値ラインを取得する（ステップＳ１５）。そして、光源劣化検出部３４は、演算した相対ブランク値をもとに求めた測定ラインと、取得した初期ラインおよび閾値ラインとを比較してハロゲンランプ１９１が劣化しているか否かを判断するランプ劣化検出処理を行なう（ステップＳ１６）。

つぎに、制御部３１は、光源劣化検出部３４によってハロゲンランプ１９１の劣化が検出されたか否かを判断する（ステップＳ１７）。制御部３１は、ハロゲンランプ１９１の劣化が検出されたと判断した場合には（ステップＳ１７：Ｙｅｓ）、出力部３７に対して、ハロゲンランプ１９１が劣化している旨を報知する警報を出力させて（ステップＳ１８）、ハロゲンランプ１９１の交換を促す。たとえば出力部３７は、ハロゲンランプ１９１が劣化している旨を報知する警告メッセージを音声出力するほか、ハロゲンランプ１９１が劣化している旨を報知する警告音を出力する。また、たとえば出力部３７は、ハロゲンランプ１９１が劣化している旨に点灯する回転赤色灯などの警告灯を点灯させる。また、たとえば表示部３８は、ハロゲンランプ１９１が劣化している旨を表示出力する。

一方、制御部３１がハロゲンランプ１９１の劣化が検出されていないと判断した場合（ステップＳ１７：Ｎｏ）、出力部３７は、制御部３１の制御のもと、ハロゲンランプ１９１は正常であることを出力する（ステップＳ１９）。なお、制御部３１は、光源劣化検出部３４が反応管２１の汚れを検出した場合には、ハロゲンランプ１９１は正常である旨とともに反応管２１の汚れがある旨を出力部３７に出力させて、分析装置１の使用者に反応管２１の汚れを報知してもよい。

つぎに、図１１を参照し、図１０におけるランプ劣化検出処理について説明する。図１１に示すように、ランプ劣化検出処理においては、光源劣化検出部３４は、図１０に示す相対ブランク値演算処理（ステップＳ１３）において求めた測定ラインと、閾値ラインとを比較して、測定ラインが長波長側で閾値ラインを上回るか否かを判断する（ステップＳ２２）。なお、長波長側の波長範囲は、前述した範囲Ａｓ２のように、ハロゲンランプ１９１の使用開始時に対応する色温度の波長分布依存性およびハロゲンランプ１９１の劣化時に対応する色温度の波長分布依存性が交差する点を境界として、実際に分析装置１において測定される波長範囲に対応させて設定される。

光源劣化検出部３４によって測定ラインが長波長側で閾値ラインを上回ると判断された場合（ステップＳ２２：Ｙｅｓ）について説明する。たとえば、図６の曲線Ｌｄ１および図７の曲線Ｌｄ１１に対応する場合である。この場合には、短波長側の測定ラインの状態によらず、ハロゲンランプ１９１の劣化に起因してＰＤＡ１９７が受光する通過光量が低下しているものと判断できるため、ハロゲンランプ１９１の劣化を検出する（ステップＳ２４）。

これに対し、光源劣化検出部３４は、測定ラインが長波長側で閾値ラインを上回っていないと判断した場合（ステップＳ２２：Ｎｏ）、次に反応管２１の汚れについて検討するため、測定ラインが長波長側で初期ラインを下回るか否かを判断する（ステップＳ２６）。ここで、光源劣化検出部３４は、測定ラインが長波長側で初期ラインを下回ると判断した場合（ステップＳ２６：Ｙｅｓ）、たとえば、図７の曲線Ｌｓ１および図８の曲線Ｌｓ１１に対応する場合には、短波長側における測定ラインの状態によらず、反応管２１の汚れに起因してＰＤＡ１９７が受光する通過光量が低下しているものと判断できるため、反応管２１の汚れを検出する（ステップＳ２８）。なお、測定ラインが長波長側で初期ラインを下回る場合には、反応管に汚れがある場合のほか、反応管２１が不適正であるため測定ラインが変化している場合も考えられるため、光源劣化検出部３４は、反応管２１の不適正に起因してＰＤＡ１９７が受光する通過光量が低下しているものと判断してもよい。

これに対し、光源劣化検出部３４が測定ラインが長波長側で初期ラインを下回っていないと判断した場合（ステップＳ２６：Ｎｏ）、測定ラインが短波長側で閾値ラインを下回るか否かを判断する（ステップＳ３０）。このステップＳ３０において、光源劣化検出部３４は、測定ラインの長波長側が領域Ｄｌ１にある場合について、測定ラインの短波長側が領域Ｄｓ１にあるか否かを判断する。なお、短波長側の波長範囲は、前述した範囲Ａｓ１のように、ハロゲンランプ１９１の使用開始時に対応する色温度の波長分布依存性およびハロゲンランプ１９１の劣化時に対応する色温度の波長分布依存性が交差する点を境界として、実際に分析装置１において測定される波長範囲に対応させて設定される。

光源劣化検出部３４は、測定ラインが短波長側で閾値ラインを下回ると判断した場合（ステップＳ３０：Ｙｅｓ）、たとえば、図８の曲線Ｌｄ１２のように短波長側の測定ラインが領域Ｄｓ１にない場合に対応することから、ハロゲンランプ１９１の劣化に起因してＰＤＡ１９７が受光する通過光量が低下しているものと判断できるため、ハロゲンランプ１９１の劣化を検出する（ステップＳ３２）。

これに対し、光源劣化検出部３４は、短波長側において測定ラインが閾値ラインを下回っていないと判断した場合（ステップＳ３０：Ｎｏ）、図５に示す領域Ｄｓ１および領域Ｄｌ１の双方に含まれる場合となるため、ハロゲンランプ１９１は劣化しておらず正常であると判断する（ステップＳ３４）。そして、光源劣化検出部３４は、検出結果を制御部３１に出力して（ステップＳ３６）、ランプ劣化検出処理を終了する。

このように、本実施の形態１にかかる分析装置１においては、ブランク試料の通過光量の絶対値ではなく、ブランク試料の通過光量における長波長側の相対値変化およびブランク試料の通過光量における短波長側の相対値変化を用い、さらに各色温度における光強度の波長分布依存性にもとづいて光源劣化の有無を判断するため、ＰＤＡ１９７によって受光された通過光量の低下が光源の劣化に起因するものであるかまたは反応管の汚れに起因するものであるかを正確に区別することができる。

さらに、分析装置１においては、ブランク試料の通過光量の低下がハロゲンランプの劣化または反応管の汚れに起因するものであるかを区別するために分析装置の使用者自らが反応管を目視するという煩雑な処理を行なう必要がないため、作業負担の軽減を図ることができる。そして、分析装置１においては、ブランク試料に対する通過光量に対する演算処理を行なってハロゲンランプ劣化検出を行なうため、ハロゲンランプ劣化検出のために特に新たなセンサなどを設ける必要がないことから、従来と同様の装置構成においても正確なハロゲンランプ劣化検出を実現することが可能になる。

（実施の形態２）
つぎに、実施の形態２について説明する。図１２は、本実施の形態２にかかる分析装置の構成を示す模式図である。図１２に示すように、実施の形態２にかかる分析装置２０１は、図１に示す光源劣化検出部３４に代えて光源劣化検出部２３４を有する制御機構２０３を有する。

上述した実施の形態１においては、測光部１９による測定範囲内にハロゲンランプ１９１の使用開始時に対応する色温度３０００Ｋであるときの最大通過光量を示す波長およびハロゲンランプ１９１の劣化時に対応する色温度２２００Ｋであるときの最大通過光量を示す波長の双方が含まれる場合について説明した。本実施の形態２においては、ハロゲンランプ１９１の使用開始時に対応する色温度３０００Ｋであるときの最大通過光量を示す波長およびハロゲンランプ１９１の劣化時に対応する色温度２２００Ｋであるときの最大通過光量を示す波長の双方が、測光部１９によって測定される最長波長よりも長い場合について説明する。

具体的に、実施の形態２における測光部１９の測定範囲について説明する。図１３は、色温度が３０００Ｋである場合および色温度が２２００Ｋである場合における光強度の波長分布依存性を示す図である。図１３は、図３と同様に、色温度３０００Ｋである場合において最も強度が強い波長の光強度を１００とした相対強度で各光強度を示している。

この図１３に示すように、色温度が３０００Ｋである場合には約０．９５μｍ付近にピーク波長があり、色温度が２２００Ｋである場合には約１．３５μｍ付近にピーク波長がある。そして、測光部１９の測定範囲は、図１３のλ２０１〜λ２１１に示すように、おおよそ０．５〜０．８５μｍであり、色温度３０００Ｋのピーク波長および色温度２２００Ｋのピーク波長よりも、短波長側の領域である。

ここで、ピーク波長の短波長側では、図１３の曲線Ｃ３０００における曲線の傾きａ１は、曲線Ｃ２２００における傾きａ２よりも傾きが大きい。これは、各色温度の波長分布依存性を示す曲線は、色温度の低下にともなってピーク波長が長波長側にシフトするとともに、曲線によって占められる面積が小さくなっていくためである。したがって、測光部１９における測定範囲λ２０１〜λ２１１においては、色温度３０００Ｋにおける相対強度の増加率は、色温度２２００Ｋにおける相対強度の増加率よりも高い。この色温度３０００Ｋは、ハロゲンランプ１９１の使用開始時における色温度に該当し、色温度２２００Ｋは、たとえばハロゲンランプ１９１の劣化時における色温度に該当する。したがって、図１３に示す波長λ２０１〜λ２１１の波長範囲においては、ハロゲンランプ１９１の使用開始時における相対強度の増加率は、ハロゲンランプの劣化時における相対強度の増加率よりも高くなることとなる。

実際に分析装置２０１において、ハロゲンランプ１９１の使用開始時および劣化時においてブランク試料に対して波長λ２０１〜λ２１１の範囲で通過光量を測定した測定結果を図１４に示す。

図１４においては、実際に図１３に示す範囲Ａｓ１１に含まれる波長λ２０１〜λ２０６および範囲Ａｓ２１に含まれる各波長λ２０７〜λ２１１について、曲線Ｌ０２に色温度３０００Ｋである使用開始時のハロゲンランプ１９１を用いた場合のブランク試料の通過光量相対強度である相対ブランク値の波長依存性を示し、曲線Ｌｔ２に色温度２２００Ｋである劣化時のハロゲンランプ１９１を用いた場合のブランク試料の通過光量相対強度の波長依存性を示す。

この図１４においては、各通過光量相対強度の増加傾向をそれぞれ把握するため、各状態ごとに、ブランク試料の通過光量のうち測定範囲λ２０１〜λ２１１のほぼ中心の波長λ２０６を１００とした通過光量相対値を演算し、この演算した通過光量相対値を縦軸の相対ブランク値としている。すなわち、曲線Ｌ０２に示すように、ハロゲンランプ１９１の使用開始時におけるブランク試料の各通過光量相対値は、ハロゲンランプ１９１の使用開始時に測定されたブランク試料の波長λ２０６の通過光量に対する各通過光量の相対値である。そして、曲線Ｌｔ２に示すように、ハロゲンランプ１９１の劣化時におけるブランク試料の各通過光量相対値は、ハロゲンランプ１９１の劣化時に測定されたブランク試料の波長λ２０６の通過光量に対する各通過光量の相対値である。なお、測光部１９によって測定されたブランク試料の通過光量相対値は、測光部１９によって測定されたブランク試料の波長λ２０６における通過光量に対する各通過光量の相対値である。このように、実施の形態２では、各状態ごとに、各状態における波長λ２０６の通過光量を基準とした相対値を用いる。

図１３に示すように、色温度３０００Ｋにおける光強度の相対強度の増加率は、色温度２２００Ｋにおける相対強度の増加率よりも高い。したがって、図１４に示すように、ハロゲンランプの劣化時に対応する曲線Ｌｔ２は、ハロゲンランプ１９１の使用開始時に対応する曲線Ｌ０２よりも対応する色温度が低いため、曲線Ｌ０２と比較して傾きが小さい傾向となる。このため、ハロゲンランプ１９１の劣化時に対応する曲線Ｌｔ２は、範囲Ａｓ１１に示す短波長側では矢印Ｙ１４ａに示すように曲線Ｌ０２を上回り、波長λ２０７〜λ２１１が含まれる範囲Ａｓ２１に示す長波長側では矢印Ｙ１３に示すように曲線Ｌ０２を下回る。言い換えると、ハロゲンランプ１９１が劣化した場合には、短波長側では、曲線Ｌ０２を上回るように相対ブランク値が変化し、長波長側では、曲線Ｌ０２を下回るように相対ブランク値が変化する。すなわち、ハロゲンランプ１９１が劣化する方向は、短波長側では初期ラインである曲線Ｌ０２を上回る方向となり、長波長側では初期ラインである曲線Ｌ０２を下回る方向となる。

ここで、この曲線Ｌｔ２は、ハロゲンランプ１９１劣化時に対応するものであることから、曲線Ｌｔ２はハロゲンランプ１９１劣化を切り分け可能である閾値ラインとして機能する。そして、曲線Ｌ０２は、ハロゲンランプ１９１使用開始時に対応するものであることから、初期値ラインとして機能する。

したがって、図１５に示すように、短波長側における曲線Ｌ０２と曲線Ｌｔ２とに囲まれる領域Ｄｓ２および長波長側における曲線Ｌ０２と曲線Ｌｔ２とに囲まれる領域Ｄｌ２の双方を満たすように、測光部１９によって測定された各波長の相対ブランク値が分布していた場合には、ハロゲンランプ１９１は劣化しておらず正常であるものと考えられる。言い換えると、測光部１９によって測定されたブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す測定ラインが領域Ｄｓ２および領域Ｄｌ２の双方にある場合には、ハロゲンランプ１９１は劣化しておらず正常であるものと考えられる。

そして、ブランク試料の測定ラインが、短波長側および長波長側の双方で、ハロゲンランプが劣化する方向に閾値ラインである曲線Ｌｔ２を超える場合には、ハロゲンランプ１９１が劣化していると判断できる。測定ラインがたとえば図１６の曲線Ｌｄ２のように、短波長側である範囲Ａｓ１１において曲線Ｌｔ２を上回っていた場合、かつ、長波長側である範囲Ａｓ２１において曲線Ｌｔ２を下回っていた場合には、ハロゲンランプ１９１が劣化していると判断できる。

つぎに、ブランク試料に対する測定ラインが、領域Ｄｓ２および領域Ｄｌ２の双方に含まれる場合、および、曲線Ｌｄ２のように短波長側で曲線Ｌｔ２を上回りかつ長波長側で曲線Ｌｔ２を下回る場合以外であるときの、ハロゲンランプ１９１の劣化検出について説明する。

まず、反応管２１に汚れがあった場合について説明する。反応管に汚れがあった場合には、ほぼ全波長における光が吸収されるため、ほぼ全波長における通過光量自体が低下する。そして、汚れによる光の吸収は、波長によって割合が異なる。たとえば、短波長側である範囲Ａｓ１１の波長の光が長波長側である範囲Ａｓ２１の波長の光よりも汚れによって吸収される場合には、図１４の曲線Ｌｓ２に示すように、ブランク試料に対する測定ラインは、短波長側である範囲Ａｓ１１において低下することとなる。すなわち、反応管２１に汚れがあった場合の測定ラインは、関係曲線Ｌｓ２のように、範囲Ａｓ１１に示す短波長側では矢印Ｙ１４ｂに示すように曲線Ｌ０２を下回る傾向を示す。なお、反応管２１に汚れがあった場合の測定ラインは、長波長側である範囲Ａｓ２１において低下することとなるため、矢印Ｙ１３に示すように曲線Ｌ０２を下回る傾向を示す。

したがって、図１４に示すように、範囲Ａｓ１１に示す短波長側においては、ハロゲンランプ１９１が劣化した場合と、反応管２１の汚れがあった場合とで、初期ラインである曲線Ｌ０２に対して相対ブランク値が変化する方向が異なる。すなわちハロゲンランプ１９１の劣化方向は、短波長側では、矢印Ｙ１４ａに示すように相対ブランク値が初期ラインである曲線Ｌ０２に対して上昇するように変化する方向である。これに対して、反応管２１に汚れがある場合には、短波長側では、矢印Ｙ１４ｂに示すように相対ブランク値が初期ラインである曲線Ｌ０２に対して低下するように変化し、ハロゲンランプ１９１の劣化方向とは逆の方向に相対ブランク値が変化することとなる。

このため、ブランク試料の測定ラインが短波長側において曲線Ｌｔ２を上回る場合には、通過光量相対値が、閾値ラインである曲線Ｌｔ２を超えて、ハロゲンランプの劣化方向に変化していることとなる。

たとえば、実際にハロゲンランプ１９１が短波長側で劣化した場合における測定ラインを、図１７の曲線Ｌｄ２２に示す。この曲線Ｌｄ２２においては、長波長側が領域Ｄｌ２にある場合であっても、短波長側が図１５に示す領域Ｄｓ２ｕにある。すなわち、曲線Ｌｄ２２は、短波長側において、閾値ラインを上回る領域にあり、ハロゲンランプ１９１の劣化方向に相対ブランク値が変化している。このことから、曲線Ｌｄ２２のように測定ラインが短波長側において閾値ラインを上回る領域にある場合には、ハロゲンランプ１９１が劣化している場合であるといえる。

また、図１７に、ハロゲンランプ１９１が長波長側で劣化した場合における測定ラインである曲線Ｌｄ２１を示す。図１７に示すように、曲線Ｌｄ２１においては、短波長において初期ラインＬ０２を上回る。言い換えると、この曲線Ｌｄ２１においては、短波長において、ハロゲンランプ１９１の劣化方向に相対ブランク値が変化している。上述したように、ハロゲンランプ１９１が劣化する場合には、短波長である範囲Ａｓ１１においては、初期ラインを上回る方向に相対ブランク値が変化する。さらに、曲線Ｌｄ２１においては、長波長側において相対ブランク値が低下して閾値ラインである曲線Ｌｔ２を下回り、劣化していることが分かる。このため、曲線Ｌｄ２１のように、長波長側において測定ラインが閾値ラインを下回り、さらに短波長において測定ラインが初期ラインを上回る場合には、ハロゲンランプ１９１が劣化した場合であるといえる。

そして、図１８に反応管２１が汚れている場合の測定ラインである曲線Ｌｓ２とともに、同じく反応管２１が汚れている場合の測定ラインである曲線Ｌｓ２１を示す。曲線Ｌｓ２および曲線Ｌｓ２１はともに、短波長側において初期ラインである曲線Ｌ０２を下回る。言い換えると、曲線Ｌｓ２、および曲線Ｌｓ２１においては、短波長側において、ハロゲンランプ１９１の劣化方向とは逆の方向に相対ブランク値が変化している。このことから、曲線Ｌｓ２、および曲線Ｌｓ２１のように測定ラインが短波長側において初期ラインを下回る領域にある場合には、反応管２１に汚れがある場合であるといえる。

上述した内容より、図１６の曲線Ｌｄ２および図１７の曲線Ｌｄ２２のように、測定ラインが短波長側において閾値ラインを上回る場合、すなわち図１５の領域Ｄｓ２ｕにある場合には、長波長側が領域Ｄｌ２に含まれるか否かに関わらず、ハロゲンランプ１９１が劣化しているものと判断してよい。

また、図１４および図１８の曲線Ｌｓ２、曲線Ｌｓ２１のように、測定ラインが短波長側において初期ラインを下回る場合、すなわち図１５の領域Ｄｓ２ｄにある場合には、長波長側が領域Ｄｌ２に含まれるか否かに関わらず、反応管２１に汚れがあるものと判断してよい。

そして、図１８に示す曲線Ｌｓ２１のように、測定ラインが、短波長側において領域Ｄｓ２にあるものの長波長側において領域Ｄｌ２外の領域Ｄｌ２ｄにある場合には、短波長側においてハロゲンランプ劣化方向に相対ブランク値が変化しているため、ハロゲンランプ１９１が劣化しているものと判断してよい。この場合には、短波長側よりも長波長側においてハロゲンランプ１９１の劣化が進行したものと考えられる。なお、長波長側においては、ハロゲンランプ１９１が劣化した場合および反応管２１に汚れがある場合のいずれにおいても相対ブランク値が初期ラインである曲線Ｌ０２を下回るように変化するため、長波長側の閾値ラインＬｔ２を上回る領域である領域Ｄｓ２ｕについては判断する必要がない。

このように、本実施の形態２においては、ハロゲンランプ使用開始時である色温度３０００Ｋにおける波長分布依存を示す関係曲線の傾きがハロゲンランプ劣化時である色温度２２００Ｋにおける波長分布依存を示す関係曲線の傾きよりも大きいことを利用して、ハロゲンランプ１９１の劣化を検出する。そして、光源劣化検出部２３４は、実際に測光部１９によって測定されたブランク測定の各波長の通過光量を、波長λ２０６の通過光量を基準とした相対ブランク値に演算して、この演算した相対ブランク値の波長依存性を示す測定ラインを求める。次いで、光源劣化検出部２３４は、長波長側である範囲Ａｓ２１、短波長側である範囲Ａｓ１１において、求めた測定ラインを初期ライン、閾値ラインと比較して、ハロゲンランプ１９１の劣化を検出する。なお、記憶部３５は、曲線Ｌ０２に例示する初期ラインおよび曲線Ｌｔ２に例示する閾値ラインとともに、予め設定された長波長側の波長範囲および短波長側の波長範囲を記憶する。

つぎに、この分析装置２０１のハロゲンランプの劣化検出処理について、図１９および図２０を参照して説明する。まず、実施の形態１と同様に、ハロゲンランプ１９１には個体差があるため、ハロゲンランプ１９１を交換するたびに、初期ラインを取得する必要があることから、図１９を参照して、初期ラインを取得するための処理について説明する。

図１９に示すように、ハロゲンランプ１９１が交換された場合には、交換されたハロゲンランプ１９１の劣化検出および初期ライン取得のために、図９に示すステップＳ１と同様に、この交換されたハロゲンランプ１９１を用いたブランク測定処理（ステップＳ２０１）を行なう。次いで、光源劣化検出部２３４は、ブランク測定処理（ステップＳ２０１）における各波長の測定結果を取得し、この測定結果をもとに相対ブランク値を初期相対ブランク値として演算する（ステップＳ２０２）。光源劣化検出部２３４は、この初期相対ブランク値として、得られた測定結果における中心波長の通過光量に対する各通過光量の相対値を演算する。そして、光源劣化検出部２３４は、初期相対ブランク値の波長依存性を示す初期ラインを求める。

つぎに、光源劣化検出部２３４は、記憶部３５から閾値ラインを取得し（ステップＳ２０３）、演算した初期相対ブランク値をもとに求めた初期ラインと、取得した初期ラインおよび閾値ラインとを比較して、初期ラインが閾値ラインを超えたか否かを判断する（ステップＳ２０４）。具体的には、光源劣化検出部２３４は、初期ラインが、短波長側で閾値ラインを上回るか否かを判断する。あるいは、光源劣化検出部２３４は、初期ラインが長波長側で閾値ラインを下回るか否かを判断する。初期ラインが、短波長側で閾値ラインを上回る場合には、交換した新たなハロゲンランプ１９１に初期異常が発生しているものと考えられるからである。

このため、光源劣化検出部２３４が初期ラインが閾値ラインを超えたと判断した場合には（ステップＳ２０４：Ｙｅｓ）、交換したハロゲンランプ１９１は初期異常が発生しているものと考えられるため、制御部３１は、出力部３７に再度新たなハロゲンランプ１９１に交換する指示を出力させる（ステップＳ２０５）。

これに対し、光源劣化検出部２３４が初期ラインが閾値ラインを超えていないと判断した場合には（ステップＳ２０４：Ｎｏ）、この交換したハロゲンランプ１９１は初期異常がない正常なものであると考えられるため、制御部３１は、このハロゲンランプ１９１を使用可能であると判断し、ステップＳ２０２において演算した初期ラインを、光源劣化検出処理において参照する初期ラインとして記憶部３５に記憶させる（ステップＳ２０６）。

そして、図１９に示す各処理手順を行なって取得した初期ラインを用いて、現に分析装置２０１において使用されているハロゲンランプ１９１の劣化を検出する処理について、図２０を参照して説明する。

図２０に示すように、図１０のステップＳ１１と同様に、制御部３１は、ハロゲンランプ１９１の劣化検出処理の処理タイミングであるかを判断する（ステップＳ２１１）。制御部３１は、ハロゲンランプ１９１の劣化検出処理の処理タイミングであると判断するまでステップＳ２１１の判断処理を繰り返し、制御部３１がハロゲンランプ１９１の劣化検出処理の処理タイミングであると判断した場合（ステップＳ２１１：Ｙｅｓ）、測光部１９は、ブランク測定処理を行なう（ステップＳ２１２）。光源劣化検出部２３４は、測光部１９によるブランク試料に対する各波長の測定結果を取得し、この測定結果をもとに相対ブランク値を演算する（ステップＳ２１３）。光源劣化検出部２３４は、この相対ブランク値として、得られた測定結果における中心波長の通過光量に対する各通過光量の相対値を演算する。そして、光源劣化検出部２３４は、相対ブランク値の波長依存性を示す測定ラインを求める。

次いで、光源劣化検出部２３４は、記憶部３５に記憶される情報のうち、曲線Ｌ０２に例示する初期ラインを取得し（ステップＳ２１４）、曲線Ｌｔ２に例示する閾値ラインを取得する（ステップＳ２１５）。そして、光源劣化検出部２３４は、演算した相対ブランク値をもとに求めた測定ラインと、取得した初期ラインおよび閾値ラインとを比較してハロゲンランプ１９１が劣化しているか否かを判断してハロゲンランプ１９１の劣化を検出するランプ劣化検出処理を行なう（ステップＳ２１６）。

つぎに、制御部３１は、ランプ劣化検出処理において光源劣化検出部２３４によってハロゲンランプ１９１の劣化が検出されたか否かを判断する（ステップＳ２１７）。制御部３１がハロゲンランプ１９１の劣化が検出されたと判断した場合には（ステップＳ２１７：Ｙｅｓ）、出力部３７は、図１０に示すステップＳ１８と同様の処理手順を行なって警報出力処理（ステップＳ２１８）を行なう。一方、制御部３１がランプ劣化検出処理において光源劣化検出部２３４によってハロゲンランプ１９１の劣化が検出されていないと判断した場合（ステップＳ２１７：Ｎｏ）、出力部３７は、図１０に示すステップＳ１９と同様の処理手順を行なってハロゲンランプ１９１は正常であることを出力する（ステップＳ２１９）。

つぎに、図２１を参照し、図２０におけるランプ劣化検出処理について説明する。図２１に示すように、ランプ劣化検出処理においては、光源劣化検出部２３４は、図２０に示す相対ブランク演算処理（ステップＳ２１３）において求めた測定ラインと、閾値ラインとを比較して、短波長側において測定ラインが閾値ラインを上回るか否かを判断する（ステップＳ２２２）。なお、短波長側の波長範囲は、前述した範囲Ａｓ１１のように、実際に分析装置２０１において測定される波長範囲の中心波長を境界として設定される。

光源劣化検出部２３４が短波長側において測定ラインが閾値ラインを上回ると判断した場合（ステップＳ２２２：Ｙｅｓ）について説明する。たとえば、図１６の曲線Ｌｄ２および図１７の曲線Ｌｄ２２に対応する場合である。この場合には、長波長側の測定ラインの状態によらず、ハロゲンランプ１９１の劣化に起因してＰＤＡ１９７が受光する通過光量が低下しているものと判断できるため、ハロゲンランプ１９１の劣化を検出する（ステップＳ２２４）。

これに対し、光源劣化検出部２３４は、短波長側において測定ラインが閾値ラインを上回っていないと判断した場合（ステップＳ２２２：Ｎｏ）、次に反応管２１の汚れについて検討するため、短波長側において測定ラインが初期ラインを下回るか否かを判断する（ステップＳ２２６）。ここで、光源劣化検出部２３４は、短波長側において測定ラインが初期ラインを下回ると判断した場合（ステップＳ２２６：Ｙｅｓ）、たとえば、図１８の曲線Ｌｓ２および曲線Ｌｓ２１に対応する場合には、長波長側における測定ラインの状態によらず、反応管２１の汚れに起因してＰＤＡ１９７が受光する通過光量が低下しているものと判断できるため、反応管２１の汚れを検出する（ステップＳ２２８）。なお、長波長側の波長範囲は、前述した範囲Ａｓ２１のように、実際に分析装置２０１において測定される波長範囲の中心波長を境界として設定される。また、測定ラインが短波長側で初期ラインを下回る場合には、反応管に汚れがある場合のほか、反応管２１が不適正であるため測定ラインが変化している場合も考えられるため、光源劣化検出部２３４は、反応管２１の不適正に起因してＰＤＡ１９７が受光する通過光量が低下しているものと判断してもよい。

これに対し、光源劣化検出部２３４は、短波長側において測定ラインが初期ラインを下回っていないと判断した場合（ステップＳ２２６：Ｎｏ）、長波長側において測定ラインが閾値ラインを下回るか否かを判断する（ステップＳ２３０）。このステップＳ２３０において、光源劣化検出部２３４は、測定ラインの短波長側が領域Ｄｓ２にある場合について、測定ラインの長波長側が領域Ｄｌ２にあるか否かを判断する。

光源劣化検出部２３４は、長波長側において測定ラインが閾値ラインを下回ると判断した場合（ステップＳ２３０：Ｙｅｓ）、たとえば、図１７の曲線Ｌｄ２１のように長波長側の測定ラインが領域Ｄｌ２にない場合に対応することから、ハロゲンランプ１９１の劣化に起因してＰＤＡ１９７が受光する長波長側の通過光量が低下しているものと判断できるため、ハロゲンランプ１９１の劣化を検出する（ステップＳ２３２）。

これに対し、光源劣化検出部２３４は、長波長側において測定ラインが閾値ラインを下回っていないと判断した場合（ステップＳ２３０：Ｎｏ）、図１５に示す領域Ｄｓ２および領域Ｄｌ２の双方に含まれる場合となるため、ハロゲンランプ１９１は劣化しておらず正常であると判断する（ステップＳ２３４）。そして、光源劣化検出部２３４は、検出結果を制御部３１に出力して（ステップＳ２３６）、ランプ劣化検出処理を終了する。

このように、本実施の形態２にかかる分析装置２０１によれば、ハロゲンランプ１９１の使用開始時に対応する色温度３０００Ｋであるときの最大通過光量を示す波長およびハロゲンランプ１９１の劣化時に対応する色温度２２００Ｋであるときの最大通過光量を示す波長の双方が、測光部１９によって測定される最長波長よりも長い場合も同様に、ブランク試料の通過光量における長波長側の相対値変化およびブランク試料の通過光量における短波長側の相対値変化を用い、さらに各色温度における光強度の波長分布依存性にもとづいて光源劣化の有無を判断するため、実施の形態１と同様の効果を奏する。

なお、分析装置１，２０１においては、ハロゲンランプ１９１の劣化を検出した場合には、ハロゲンランプ劣化を報知する警報を出力するのみではなく、分析動作自体を停止させてもよい。この場合、劣化したハロゲンランプ１９１による測定処理の実行を防止できるため、劣化したハロゲンランプ１９１によって誤って測定された場合に発生する試料や試薬の無駄を低減することができる。

また、分析装置１，２０１は、測光部１９に、劣化したハロゲンランプ１９１を新しいハロゲンランプ１９１に自動交換できる交換機能を持たせて、劣化したハロゲンランプ１９１を自動的に交換できるようにしてもよい。この結果、ハロゲンランプ１９１の交換のために、分析装置１，２０１における分析処理を停止する必要がないため、ハロゲンランプ１９１の交換による分析装置のダウンタイム自体が発生せず、分析処理が停滞することがない。なお、自動的にハロゲンランプ１９１が交換された場合には、出力部３７は、ランプ交換を報知する情報を出力して、使用者にハロゲンランプ１９１の交換があったことを知らせ、新たな交換用のハロゲンランプ１９１の装置内の設置を促してもよい。

また、本実施の形態１，２においては、閾値ラインをハロゲンランプ１９１の劣化時に対応するもののみを使用した場合について説明したが、もちろんこれに限らず、ハロゲンランプ１９１の劣化時におけるブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す第１の閾値ラインと、所定時間後に劣化すると予測されるハロゲンランプ１９１を用いて測定されたブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す第２の閾値ラインとを設定してもよい。この場合、記憶部３５は、この第１の閾値ラインおよび第２の閾値ラインの双方を記憶し、光源劣化検出部３４，２３４は、求めた測定ラインと初期ラインおよび第１の閾値ラインとを比較してハロゲンランプ１９１が劣化しているか否かを判断する。そして、光源劣化検出部３４，２３４は、求めた測定ラインと初期ラインおよび第２の閾値ラインとを比較して所定時間後のハロゲンランプ１９１の劣化を予測する。

具体的に、実施の形態１に適用した場合について説明する。たとえば、図２２に示す曲線Ｌｔ１２は、たとえば２４時間後にハロゲンランプ１９１劣化が予測される閾値ラインである。測定ラインが領域Ｄｓ１および領域Ｄｌ１の双方にある場合であっても図２２に示す領域Ｄｓ１２または領域Ｄｌ１２にある場合には、ハロゲンランプ１９１は２４時間後には劣化するものと判断できる。この曲線Ｌｔ１２は、ハロゲンランプ１９１の劣化速度、分析装置１の稼動率などをもとに設定される。

この場合、光源劣化検出部３４は、測定ラインを曲線Ｌｔ１および初期ラインと比較するランプ劣化検出処理とともに、測定ラインを曲線Ｌｔ１２および初期ラインと比較するランプ劣化予測処理を行なう。具体的には、分析装置１は、図２３に示すように、図１０に示すステップＳ１１〜ステップＳ１４と同様に、処理タイミング判断処理（ステップＳ３０１）、ブランク測定処理（ステップＳ３０２）、相対ブランク値演算処理（ステップＳ３０４）および初期ライン取得処理（ステップＳ３０６）を行なう。そして、光源劣化検出部３４は、まず、現にハロゲンランプ１９１が劣化しているか否かを判断するため、ランプ劣化検出用の第１の閾値ラインである曲線Ｌｔ１を記憶部３５から取得する（ステップＳ３０８）。そして、図１０に示すステップＳ１６と同様の処理手順を行なうことによって、ランプ劣化検出処理を行なう（ステップＳ３１０）。

ここで、制御部３１は、図１０に示すステップＳ１７と同様に、ランプ劣化検出処理においてハロゲンランプ１９１の劣化が検出されたか否かを判断する（ステップＳ３１２）。制御部３１がハロゲンランプ１９１の劣化が検出されたと判断した場合には（ステップＳ３１２：Ｙｅｓ）、図１０に示すステップＳ１８と同様に、出力部３７は、ハロゲンランプ１９１が現に劣化している旨を報知する警報を出力するランプ劣化警報出力処理を行なう（ステップＳ３２０）。

一方、制御部３１がハロゲンランプ１９１の劣化が検出されていないと判断した場合には（ステップＳ３１２：Ｎｏ）、ハロゲンランプ１９１の現時点における劣化がないため、つぎにハロゲンランプ１９１における所定時間経過後の劣化の予測を行なうため、光源劣化検出部３４は、ランプ劣化予測用の第２の閾値ラインである曲線Ｌｔ１２を記憶部３５から取得する（ステップＳ３１５）。そして、光源劣化検出部３４は、求めた測定ラインと、初期ラインおよび第２の閾値ラインとを比較してハロゲンランプ１９１が所定時間経過後に劣化するかを予測するランプ劣化予測処理を行なう（ステップＳ３１６）。

そして、制御部３１は、光源劣化予測検出処理においてハロゲンランプ１９１の劣化が予測されたか否かを判断する（ステップＳ３１７）。制御部３１がハロゲンランプ１９１の劣化が予測されたと判断した場合には（ステップＳ３１７：Ｙｅｓ）、出力部３７は、ハロゲンランプ１９１が所定時間経過後に劣化が予測される旨を報知する警報を出力するランプ劣化予測警報出力処理を行なう（ステップＳ３１９）。一方、制御部３１がランプ劣化予測処理において光源劣化検出部３４によってハロゲンランプ１９１の劣化が予測されていないと判断した場合（ステップＳ３１７：Ｎｏ）、出力部３７は、制御部３１の制御のもと、ハロゲンランプ１９１は正常であることを出力する（ステップＳ３１８）。

つぎに、図２４を参照して、図２３に示すランプ劣化予測処理について説明する。図２４に示すように、光源劣化検出部３４は、図２３に示す相対ブランク値演算処理（ステップＳ３０４）において求めた測定ラインと、取得した第２の閾値ラインとを比較して、長波長側において測定ラインが第２の閾値ラインを上回るか否かを判断する（ステップＳ３２２）。

光源劣化検出部３４が長波長側において測定ラインが第２の閾値ラインを上回ると判断した場合（ステップＳ３２２：Ｙｅｓ）、測定ラインは、図２２に示す領域Ｄｌ１２にあることから、所定時間経過後にハロゲンランプ１９１が劣化するものと予測できるため、ハロゲンランプ１９１の劣化を予測する判断を行なう（ステップＳ３２４）。

これに対し、光源劣化検出部３４は、長波長側において測定ラインが第２の閾値ラインを上回っていないと判断した場合（ステップＳ３２２：Ｎｏ）、次に予測の確実化を図るため、反応管２１の汚れも念のため検討する。このため、光源劣化検出部３４は、長波長側において測定ラインが初期ラインを下回るか否かを判断し（ステップＳ３２６）、長波長側において測定ラインが初期ラインを下回ると判断した場合（ステップＳ３２６：ＹｅＳ）、反応管２１の汚れを検出する（ステップＳ３２８）。なお、ステップＳ３２８においては、図１１に示すステップＳ２８と同様に、光源劣化検出部３４は、反応管２１の不適正に起因してＰＤＡ１９７が受光する通過光量が低下しているものと判断してもよい。

これに対し、光源劣化検出部３４が長波長側において測定ラインが初期ラインを下回っていないと判断した場合（ステップＳ３２６：Ｎｏ）、つぎに、短波長側における領域Ｄｓ１２に測定ラインがあるか否かを判断するため、短波長側において測定ラインが第２の閾値ラインを下回るか否かを判断する（ステップＳ３３０）。光源劣化検出部３４は、短波長側において測定ラインが第２の閾値ラインを下回ると判断した場合（ステップＳ３３０：Ｙｅｓ）、測定ラインが領域Ｄｓ１２にあることから、所定時間経過後にハロゲンランプ１９１が劣化するものと予測できるため、ハロゲンランプ１９１の劣化を予測する判断を行なう（ステップＳ３３２）。

これに対し、光源劣化検出部３４は、短波長側において測定ラインが第２の閾値ラインを下回っていないと判断した場合（ステップＳ３３０：Ｎｏ）、測定ラインは、領域Ｄｓ１２にないため、所定時間経過後であってもハロゲンランプ１９１は劣化せず正常であると予測する（ステップＳ３３４）。そして、光源劣化検出部３４は、検出結果を制御部３１に出力して（ステップＳ３３６）、ランプ劣化予測処理を終了する。

つぎに、実施の形態２に適用した場合について説明する。たとえば、図２５に示す曲線Ｌｔ２２は、たとえば２４時間後にハロゲンランプ１９１劣化が予測される閾値ラインである。測定ラインが領域Ｄｓ２および領域Ｄ１２の双方にある場合であっても図２５に示す領域Ｄｓ２２または領域Ｄｌ２２にある場合には、ハロゲンランプ１９１は２４時間後には劣化するものと判断できる。この曲線Ｌｔ２２は、ハロゲンランプ１９１の劣化速度、分析装置２０１の稼動率などをもとに設定される。

この場合、分析装置２０１は、図２６に示すように、図２０に示すステップＳ２１１〜ステップＳ２１４と同様に、処理タイミング判断処理（ステップＳ４０１）、ブランク測定処理（ステップＳ４０２）、相対ブランク値演算処理（ステップＳ４０４）および初期ライン取得処理（ステップＳ４０６）を行ない、現にハロゲンランプ１９１が劣化しているか否かを判断するため、ランプ劣化検出用の第１の閾値ラインである曲線Ｌｔ２を記憶部３５から取得する（ステップＳ４０８）。そして、分析装置２０１は、図２０のステップＳ２１６およびステップＳ２１７と同様に、ランプ劣化検出処理（ステップＳ４１０）、ランプ劣化検出有無判断処理（ステップＳ４１２）を行ない、ランプ劣化が検出された場合には、ランプ劣化を報知する警報を出力する（ステップＳ４２０）。一方、光源劣化検出部２３４は、ランプ劣化が検出されなかった場合には、曲線Ｌｔ２２に例示する第２の閾値ラインを取得して（ステップＳ４１５）、求めた測定ラインと、初期ライン、第１の閾値ラインおよび第２の閾値ラインとを比較してハロゲンランプ１９１が所定時間経過後に劣化するかを予測するランプ劣化予測処理を行なう（ステップＳ４１６）。

次いで、制御部３１は、光源劣化予測検出処理においてハロゲンランプ１９１の劣化が予測されたか否かを判断する（ステップＳ４１７）。制御部３１がハロゲンランプ１９１の劣化が予測されたと判断した場合（ステップＳ４１７：Ｙｅｓ）、出力部３７は、ハロゲンランプ１９１が所定時間経過後に劣化が予測される旨を報知する警報を出力するランプ劣化予測警報出力処理を行なう（ステップＳ４１９）。一方、制御部３１がランプ劣化予測処理において光源劣化検出部２３４によってハロゲンランプ１９１の劣化が予測されていないと判断した場合（ステップＳ４１７：Ｎｏ）、出力部３７は、制御部３１の制御のもと、ハロゲンランプ１９１は正常であることを出力する（ステップＳ４１８）。

つぎに、図２７を参照して、実施の形態２におけるランプ劣化予測処理を説明する。図２７に示すように、光源劣化検出部２３４は、求めた測定ラインと取得した第２の閾値ラインとを比較して、短波長側において測定ラインが第２の閾値ラインを上回るか否かを判断する（ステップＳ４２２）。

光源劣化検出部２３４が短波長側において測定ラインが第２の閾値ラインを上回ると判断した場合（ステップＳ４２２：Ｙｅｓ）、測定ラインは、図２５に示す領域Ｄｓ２２にあることから、所定時間経過後にハロゲンランプ１９１が劣化するものと予測できるため、ハロゲンランプ１９１の劣化を予測する判断を行なう（ステップＳ４２４）。

これに対し、光源劣化検出部２３４は、短波長側において測定ラインが第２の閾値ラインを上回っていないと判断した場合（ステップＳ４２２：Ｎｏ）、次に予測の確実化を図るため、反応管２１の汚れも念のため検討する。このため、光源劣化検出部２３４は、短波長側において測定ラインが初期ラインを下回るか否かを判断し（ステップＳ４２６）、短波長側において測定ラインが初期ラインを下回ると判断した場合（ステップＳ４２６：Ｙｅｓ）、反応管２１の汚れを検出する（ステップＳ４２８）。なお、ステップＳ４２８においては、図２１に示すステップＳ２２８と同様に、光源劣化検出部２３４は、反応管２１の不適正に起因してＰＤＡ１９７が受光する通過光量が低下しているものと判断してもよい。

これに対し、光源劣化検出部２３４が短波長側において測定ラインが初期ラインを下回っていないと判断した場合（ステップＳ４２６：Ｎｏ）、つぎに、長波長側における領域Ｄｌ２２に測定ラインがあるか否かを判断するため、長波長側において測定ラインが第２の閾値ラインを下回るか否かを判断する（ステップＳ４３０）。光源劣化検出部２３４は、長波長側において測定ラインが第２の閾値ラインを下回ると判断した場合（ステップＳ４３０：Ｙｅｓ）、測定ラインが領域Ｄｌ２２にあることから、所定時間経過後にハロゲンランプ１９１が劣化するものと予測できるため、ハロゲンランプ１９１の劣化を予測する判断を行なう（ステップＳ４３２）。

これに対し、光源劣化検出部２３４は、長波長側において測定ラインが第２の閾値ラインを下回っていないと判断した場合（ステップＳ４３０：Ｎｏ）、測定ラインは、領域Ｄｌ２２にないため、所定時間経過後であってもハロゲンランプ１９１は劣化せず正常であると予測する（ステップＳ４３４）。そして、光源劣化検出部２３４は、検出結果を制御部３１に出力して（ステップＳ４３６）、ランプ劣化予測処理を終了する。

このように、ハロゲンランプ１９１が所定時間経過後に劣化すると予測した場合には、この所定時間を経過する前にハロゲンランプ１９１を交換することによって、分析途中で光源であるハロゲンランプが寿命を迎えてしまう場合を極力防ぐことができる。たとえば、図２８に示すように、分析動作中の時間ｔ１において、ハロゲンランプ１９１の劣化を予測する警報が出力された場合、使用者は、この分析が終了した時間Ｔ２１においてハロゲンランプ１９１を新たなものに交換することによって、分析途中にハロゲンランプ１９１切れを防ぐことができ、試料や試薬の無駄および光源の交換による分析装置のダウンタイム発生を防止することができる。また、図２９に示すように、たとえ分析途中でハロゲンランプ１９１が切れてしまう場合であっても、分析装置１，２０１は、残り分析における最適タイミングでハロゲンランプ１９１を交換できるように交換タイミングを算出して、試料や試薬の無駄を極力抑えるようにしてもよい。たとえば、分析装置１，２０１は、残り分析において、同一試料の分析が終了するタイミングをハロゲンランプ１９１の交換タイミングとして出力することによって、同一試料の分析途中でのハロゲンランプ１９１の交換を防止し、同一試料に対する分析精度の同一性を保持してもよい。

また、実施の形態１，２においては、光源がハロゲンランプ１９１である場合について説明したが、もちろんハロゲンランプ１９１と同様の色温度に対する特性を有する光源に対しても同様に適用することが可能である。また、実施の形態１，２においては、説明の簡易化のため、光源の使用開始時における色温度が３０００Ｋであり、光源の劣化時の色温度を２２００Ｋである場合を例に説明したが、この使用開始時における色温度および劣化時における色温度は、ハロゲンランプ１９１の種別または光源の種別によって当然に異なるものである。このため、分析装置１，２０１において実際に使用される各光源の使用開始時の色温度および劣化時の色温度にそれぞれ対応させて、閾値ライン、長波長側の波長範囲および短波長側の波長範囲などを設定し、光源劣化検出処理、光源劣化予測処理を行なえばよい。

また、上記実施の形態で説明した分析装置１，２０１は、あらかじめ用意されたプログラムをコンピュータシステムで実行することによって実現することができる。このコンピュータシステムは、所定の記録媒体に記録されたプログラムを読み出して実行することで分析装置の処理動作を実現する。ここで、所定の記録媒体とは、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯディスク、ＤＶＤディスク、光磁気ディスク、ＩＣカードなどの「可搬用の物理媒体」の他に、コンピュータシステムの内外に備えられるハードディスクドライブ（ＨＤＤ）などのように、プログラムの送信に際して短期にプログラムを保持する「通信媒体」など、コンピュータシステムによって読み取り可能なプログラムを記録する、あらゆる記録媒体を含むものである。また、このコンピュータシステムは、ネットワーク回線を介して接続した管理サーバや他のコンピュータシステムからプログラムを取得し、取得したプログラムを実行することで分析装置の処理動作を実現する。

実施の形態１にかかる分析装置の要部構成を示す模式図である。 図１に示す測光部における要部を示す模式図である。 色温度が３０００Ｋである場合および色温度が２２００Ｋである場合における光強度の波長分布依存性を示す図である。 実施の形態１における使用開始時のハロゲンランプを用いた場合および劣化時のハロゲンランプを用いた場合のブランク試料の通過光量相対強度の波長依存性を示す図である。 実施の形態１に使用される初期ラインおよび閾値ラインを示す図である。 図１に示す光源劣化検出部が求めた測定ラインを例示する図である。 図１に示す光源劣化検出部が求めた測定ラインを例示する図である。 図１に示す光源劣化検出部が求めた測定ラインを例示する図である。 図１に示す分析装置における初期ライン取得の処理手順を示すフローチャートである。 図１に示す分析装置におけるハロゲンランプの劣化検出処理の処理手順を示すフローチャートである。 図１０におけるランプ劣化検出処理の処理手順を示すフローチャートである。 実施の形態２にかかる分析装置の要部構成を示す模式図である。 色温度が３０００Ｋである場合および色温度が２２００Ｋである場合における光強度の波長分布依存性を示す図である。 実施の形態２における使用開始時のハロゲンランプを用いた場合および劣化時のハロゲンランプを用いた場合のブランク試料の通過光量相対強度の波長依存性を示す図である。 実施の形態２に使用される初期ラインおよび閾値ラインを示す図である。 図１２に示す光源劣化検出部が求めた測定ラインを例示する図である。 図１２に示す光源劣化検出部が求めた測定ラインを例示する図である。 図１２に示す光源劣化検出部が求めた測定ラインを例示する図である。 図１２に示す分析装置における初期ライン取得の処理手順を示すフローチャートである。 図１２に示す分析装置におけるハロゲンランプの劣化検出処理の処理手順を示すフローチャートである。 図２０におけるランプ劣化検出処理の処理手順を示すフローチャートである。 実施の形態１に使用される初期ラインおよび第１、第２の閾値ラインを示す図である。 図１に示す分析装置におけるハロゲンランプの劣化検出処理の処理手順の他の例を示すフローチャートである。 図２３におけるランプ劣化検出処理の処理手順を示すフローチャートである。 実施の形態２に使用される初期ラインおよび第１、第２の閾値ラインを示す図である。 図１２に示す分析装置におけるハロゲンランプの劣化検出処理の処理手順の他の例を示すフローチャートである。 図２６におけるランプ劣化検出処理の処理手順を示すフローチャートである。 ハロゲンランプの交換タイミングを説明する図である。 ハロゲンランプの交換タイミングを説明する図である。 従来のハロゲンランプ交換方法を説明する図である。

符号の説明

１，２０１ 分析装置
２ 測定機構
３，２０３ 制御機構
１１ 試料移送機構
１１ａ 試料容器
１１ｂ 試料ラック
１２ 試料分注機構
１２ａ，１７ａ アーム
１３ 反応テーブル
１４ 試薬庫
１５ 試薬容器
１７ 試薬分注機構
１８ 攪拌部
１９ 測光部
２０ 洗浄部
２１ 反応管
３１ 制御部
３２ 入力部
３３ 分析部
３４，２３４ 光源劣化検出部
３５ 記憶部
３７ 出力部
３８ 送受信部
１９１ ハロゲンランプ
１９２，１９３，１９４ レンズ
１９５ グレーティング
１９６ スリット部材
１９７ ＰＤＡ

Claims (15)

1. 反応管内の試料の光学的特性をもとに該試料を分析する分析装置において、
   光を発する光源と、
   前記光源から発せられブランク試料を通過した通過光量を測光する測光手段と、
   前記測光手段によって測定された前記ブランク試料の通過光量を各色温度における光強度の波長分布依存性をもとに、長波長側の相対値変化および短波長側の相対値変化から前記光源が劣化しているか否かを判断する判断手段と、
   を備えたことを特徴とする分析装置。
2. 前記光源の使用開始時における前記ブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す初期ラインと、前記光源の劣化時における前記ブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す閾値ラインと、前記光源の使用開始時に対応する色温度の波長分布依存性および前記光源の劣化時に対応する色温度の波長分布依存性をもとに設定された前記長波長側の波長範囲および前記短波長側の波長範囲とを記憶する記憶手段をさらに備えたことを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
3. 前記判断手段は、前記測光手段によって測定されたブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す測定ラインを求め、該求めた測定ラインと、前記記憶手段に記憶された初期ラインおよび／または閾値ラインとを前記長波長側の波長範囲および／または前記短波長側の波長範囲で比較して前記光源が劣化しているか否かを判断することを特徴とする請求項２に記載の分析装置。
4. 前記通過光量相対値は、前記光源の使用開始時に対応する色温度であるときの最大通過光量を示す波長および前記光源の劣化時に対応する色温度であるときの最大通過光量を示す波長の双方が前記測光手段による測定範囲内に含まれる場合、前記光源の使用開始時におけるブランク試料の通過光量のうち最も高い通過光量に対する相対値であることを特徴とする請求項２または３に記載の分析装置。
5. 前記判断手段は、前記測定ラインが長波長側で前記閾値ラインを上回る場合には、前記光源は劣化していると判断することを特徴とする請求項４に記載の分析装置。
6. 前記判断手段は、前記測定ラインが長波長側で前記初期ラインを下回る場合には、前記測光手段における通過光量低下は前記反応管の不適性を示すものであると判断することを特徴とする請求項４に記載の分析装置。
7. 前記判断手段は、前記測定ラインが長波長側で前記初期ラインと前記閾値ラインの間にある場合であって前記測定ラインが短波長側で初期ラインを下回る場合には、前記光源は劣化していると判断し、前記測定ラインが長波長側で前記初期ラインと前記閾値ラインの間にある場合であって前記測定ラインが短波長側で初期ラインを下回っていない場合には、前記光源は正常であると判断することを特徴とする請求項４に記載の分析装置。
8. 前記光源の使用開始時に対応する色温度であるときの最大通過光量を示す波長および前記光源の劣化時に対応する色温度であるときの最大通過光量を示す波長の双方が前記測光手段によって測定される最長波長よりも長い場合、前記光源の使用開始時におけるブランク試料の各通過光量相対値は、前記光源の使用開始時に測定されたブランク試料の前記測光手段による測定範囲のほぼ中心の中心波長における通過光量に対する各通過光量の相対値であり、前記光源の劣化時におけるブランク試料の各通過光量相対値は、前記光源の劣化時に測定されたブランク試料の前記中心波長における通過光量に対する各通過光量の相対値であり、前記測光手段によって測定されたブランク試料の通過光量相対値は、前記測光手段によって測定されたブランク試料の前記中心波長における通過光量に対する各通過光量の相対値であることを特徴とする請求項２または３に記載の分析装置。
9. 前記判断手段は、前記測定ラインが短波長側で前記閾値ラインを上回る場合には、前記光源は劣化していると判断することを特徴とする請求項８に記載の分析装置。
10. 前記判断手段は、前記測定ラインが短波長側で前記初期ラインを下回る場合には、前記測光手段における通過光量低下は前記反応管の不適性を示すものであると判断することを特徴とする請求項８に記載の分析装置。
11. 前記判断手段は、前記測定ラインが短波長側で前記初期ラインと前記閾値ラインの間にある場合であって前記測定ラインが長波長側で閾値ラインを下回る場合には、前記光源は劣化していると判断し、前記測定ラインが短波長側で前記初期ラインと前記閾値ラインの間にある場合であって前記測定ラインが長波長側で初期ラインを下回っていない場合には、前記光源は正常であると判断することを特徴とする請求項８に記載の分析装置。
12. 前記判断手段が前記光源は劣化していると判断した場合、前記光源が劣化している旨を報知する警報を出力する出力手段をさらに備えたことを特徴とする請求項１〜１１のいずれか一つに記載の分析装置。
13. 前記記憶手段は、前記閾値ラインとして、前記光源の劣化時における前記ブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す第１の閾値ラインと、所定時間後に劣化すると予測される前記光源を用いて測定した前記ブランク試料の通過光量相対値の波長依存性を示す第２の閾値ラインとを記憶し、
    前記判断手段は、前記測定ラインと前記記憶手段に記憶された初期ラインおよび第１の閾値ラインとを比較して前記光源が劣化しているか否かを判断し、前記測定ラインと前記記憶手段に記憶された初期ラインおよび第２の閾値ラインとを比較して前記所定時間後の前記光源の劣化を予測することを特徴とする請求項３〜１２のいずれか一つに記載の分析装置。
14. 光源の劣化を検出する光源劣化検出方法において、
    前記光源から発せられた所定の通過部材を通過した通過光量を測光する測光ステップと、
    前記測光ステップにおいて測定された前記通過部材の通過光量を各色温度における光強度の波長分布依存性をもとに、長波長側の相対値変化および短波長側の相対値変化から前記光源が劣化しているか否かを判断する判断ステップと、
    を含むことを特徴とする光源劣化検出方法。
15. 前記光源の使用開始時における前記通過部材の通過光量相対値の波長依存性を示す初期ラインと、前記光源の劣化時における前記通過部材の通過光量相対値の波長依存性を示す閾値ラインと、前記光源の使用開始時に対応する色温度の波長分布依存性および前記光源の劣化時に対応する色温度の波長分布依存性をもとに設定された前記長波長側の波長範囲および前記短波長側の波長範囲とを取得する取得ステップと、
    をさらに含み、前記判断ステップは、前記測光ステップにおいて測定された通過部材の通過光量相対値の波長依存性を示す測定ラインを求め、該求めた測定ラインと前記取得ステップにおいて取得された初期ラインおよび／または閾値ラインとを前記長波長側の波長範囲および／または前記短波長側の波長範囲で比較して前記光源が劣化しているか否かを判断することを特徴とする請求項１４に記載の光源劣化検出方法。

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