JP2009044147A - 照明光学系、照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法 - Google Patents

照明光学系、照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2009044147A
JP2009044147A JP2008186000A JP2008186000A JP2009044147A JP 2009044147 A JP2009044147 A JP 2009044147A JP 2008186000 A JP2008186000 A JP 2008186000A JP 2008186000 A JP2008186000 A JP 2008186000A JP 2009044147 A JP2009044147 A JP 2009044147A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical system
illumination optical
illumination
fly
opening angle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008186000A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideki Komatsuda
秀基 小松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Publication of JP2009044147A publication Critical patent/JP2009044147A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/702Reflective illumination, i.e. reflective optical elements other than folding mirrors, e.g. extreme ultraviolet [EUV] illumination systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Lenses (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】 例えばEUVL露光装置に適用された場合に、照明光学系と反射型マスクとの間の光路中に平面鏡を配置することなく、被照射面としてのマスクを照明することのできる照明光学装置。
【解決手段】 照明光学装置は、波長が5nm〜50nmの照明光を供給する光源(1)からの照明光を被照射面(M)へ導く照明光学系(2)を備えている。照明光学系は、開き角制限部材と被照射面との間の光路中に配置されて開き角制限部材を介した光束を被照射面に導くコンデンサー光学系(19)を備えている。被照射面に形成される照明領域の円弧形状の回転軸が開き角制限部材の開口部の外側に位置している。コンデンサー光学系は複数の反射面を有し、複数の反射面のうち、光路に沿って最も被照射面に近い反射面の形状が凹面である。照明光学装置は、例えばEUVL露光装置に適用された場合に、照明光学系と反射型マスクとの間の光路中に平面鏡を配置することなく、被照射面としてのマスクを照明する。
【選択図】 図2

Description

本発明は、照明光学系、照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法に関する。さらに詳細には、本発明は、半導体素子、撮像素子、液晶表示素子、薄膜磁気ヘッド等のデバイスをリソグラフィ工程で製造するのに使用される露光装置に好適な反射型照明光学装置に関するものである。
従来、半導体素子などの製造に使用される露光装置では、マスク(レチクル)上に形成された回路パターンを、投影光学系を介して感光性基板(たとえばウェハ)上に投影転写する。感光性基板にはレジストが塗布されており、投影光学系を介した投影露光によりそのレジストが感光し、マスクパターンに対応したレジストパターンが得られる。露光装置の解像力は、露光光の波長と投影光学系の開口数とに依存する。
すなわち、露光装置の解像力を向上させるには、露光光の波長を短くするとともに、投影光学系の開口数を大きくすることが必要になる。一般に、投影光学系の開口数を所定値以上に大きくすることは光学設計の観点から困難であるため、露光光の短波長化が必要になる。そこで、半導体パターニングの次世代の露光方法(露光装置)として、EUVL(Extreme UltraViolet Lithography:極紫外リソグラフィ)の手法が注目されている。
EUVL露光装置は、波長が248nmのKrFエキシマレーザ光や波長が193nmのArFエキシマレーザ光を用いる従来の露光方法と比較して短い、5〜50nm程度の波長を有するEUV(Extreme UltraViolet:極紫外線)光を用いる。露光光としてEUV光を用いる場合、使用可能な光透過性の光学材料が存在しなくなる。このため、EUVL露光装置では、反射型のオプティカルインテグレータ、反射型のマスク、および反射型(catoptric)の投影光学系を用いることになる(たとえば特許文献1を参照)。
米国特許第6,452,661号公報
露光装置では、露光領域の全体に亘って露光条件(または照明条件)を同一にするために、照明光学系の射出瞳と投影光学系の入射瞳とを一致させることが一般的に行われている。ただし、EUVL露光装置では、反射型マスクを用いるため、照明光学系の射出瞳と投影光学系の入射瞳とを一致させようとすると、照明光学系と投影光学系とが同一空間に配置されて互いに干渉することになり、装置を構成することが不可能になる。
そこで、従来のEUVL露光装置では、照明光学系とマスクとの間の光路中に光路を折り曲げるための平面鏡を配置し、照明光学系の射出瞳を照明光学系の外に出すことにより装置を構成している。ところが、EUVL露光装置では、使用されるEUV光に対して100%に近い反射率を有する反射鏡を製作することは不可能であり、装置のスループットの観点から反射面の数を1つでも減らしたいという要望がある。
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたものであり、例えばEUVL露光装置に適用された場合に、照明光学系と反射型マスクとの間の光路中に平面鏡を配置することなく、被照射面を照明することのできる照明光学装置を提供することを目的とする。また、本発明は、被照射面に配置され得る反射型マスクを照明する照明光学装置を用いて、良好な露光条件の下で露光を行うことのできる露光装置を提供することを目的とする。
前記課題を解決するために、本発明の第1形態にかかる反射型照明光学系は、照明光を被照射面の円弧形状の領域へ導く反射型照明光学系であって、
照明光路に配置されて前記被照射面を照明する光束の開き角を制限する開き角制限部材と、
前記開き角制限部材と前記被照射面との間の光路中に配置されて前記開き角制限部材を介した光束を前記被照射面に導く反射型コンデンサー光学系とを備え、
前記円弧形状の回転軸が、前記開き角制限部材の開口部の外側に位置し、
前記反射型コンデンサー光学系は複数の反射面を有し、前記複数の反射面のうち、光路に沿って最も前記被照射面に近い反射面の形状が凹面である。
本発明の第2形態にかかる反射型照明光学系は、照明光を被照射面の所定形状の領域へ導く反射型照明光学系であって、
照明光路に配置されて前記被照射面を照明する光束の開き角を制限する開き角制限部材と、
前記開き角制限部材と前記被照射面との間の光路中に配置されて前記開き角制限部材を介した光束を前記被照射面に導く反射型コンデンサー光学系とを備え、
前記照明光学系の射出瞳の中心を通り且つ前記射出瞳の面に垂直な瞳軸線が、前記開き角制限部材の開口部の外側に位置し、
前記反射型コンデンサー光学系は複数の反射面を有し、前記複数の反射面のうち、光路に沿って最も前記被照射面に近い反射面の形状が凹面である。
本発明の第3形態にかかる反射型照明光学系は、照明光を被照射面の円弧形状の領域へ導く照明光学系であって、
並列に配置された複数の第1ミラー要素を有する第1フライアイ光学系と、
前記第1フライアイ光学系の前記複数の第1ミラー要素に一対一対応するように並列に配置された複数の第2ミラー要素を有する第2フライアイ光学系と、
前記複数の第2ミラー要素の各々からの光を前記円弧形状の領域へ重畳的に導き、且つ前記第2フライアイ光学系と前記被照射面との間に前記被照射面と共役な位置を形成するコンデンサー光学系とを備える。
本発明の第4形態にかかる照明光学装置は、波長が5nm〜50nmの照明光を供給する光源と、該光源からの照明光を被照射面へ導くための第1形態、第2形態または第3形態の照明光学系とを備える。
本発明の第5形態にかかる露光装置は、第4形態の照明光学装置を備え、前記被照射面に配置されたパターンを感光性基板に露光する。
本発明の第6形態にかかるデバイス製造方法は、第5形態の露光装置を用いて前記パターンを前記感光性基板に露光し、
前記パターンが転写された前記感光性基板を現像して、前記パターンに対応する形状のマスク層を前記感光性基板の表面に形成し、
前記マスク層を介して前記感光性基板の表面を加工する。
上記形態にかかる照明光学系では、被照射面に形成される円弧形状の照明領域の回転軸あるいは射出瞳の中心を通り且つ射出瞳の面に垂直な瞳軸線が、開き角制限部材の開口部の外側に位置している。その結果、例えばEUVL露光装置に適用された場合、照明光学系と反射型マスクとの間の光路中に光路を折り曲げるための平面鏡を配置しなくても、照明光学系と投影光学系とを機械的に干渉させることなく、照明光学系の射出瞳と投影光学系の入射瞳とを一致させることができる。換言すれば、照明光学系の射出瞳と投影光学系の入射瞳とを一致させたとしても、照明光学系と投影光学系とが機械的に干渉することを防止することができ、また、照明光学系の光路と投影光学系の光路とが重なり合うことも防止することができる。
すなわち、上記形態にかかる照明光学装置では、照明光学系と反射型マスクとの間の光路中に平面鏡を配置することなく、被照射面に配置され得るマスクを照明することができる。したがって、上記形態にかかる露光装置では、反射型マスクを照明する照明光学装置を用いて、良好な露光条件の下で露光を行うことにより、性能の良好なデバイスを製造することができる。
本発明の実施形態を、添付図面に基づいて説明する。図1は、本発明の実施形態にかかる露光装置の全体構成を概略的に示す図である。図2は、図1の光源、照明光学系および投影光学系の内部構成を概略的に示す図である。図1において、投影光学系の光軸方向すなわち感光性基板であるウェハの法線方向に沿ってZ軸を、ウェハ面内において図1の紙面に平行な方向にY軸を、ウェハ面内において図1の紙面に垂直な方向にX軸をそれぞれ設定している。
図1を参照すると、本実施形態の露光装置には、たとえばレーザプラズマ光源1を備える光源から露光光が供給される。光源1から射出された光は、波長選択フィルタ(不図示)を介して、照明光学系2に入射する。この波長選択フィルタは、光源1から射出された光から、所定波長(たとえば13.4nm)のEUV光だけを選択的に透過させ、他の波長の光を遮る特性を有する。波長選択フィルタを透過したEUV光は、照明光学系2を介して、転写すべきパターンが形成された反射型のマスク(レチクル)Mを照明する。
マスクMは、マスクMのパターン面がXY平面に沿って延びるように、マスクステージMSによって保持されている。マスクステージMSはY方向に沿って移動可能であり、その移動は、レーザ干渉計MIFにより計測されるように構成されている。照明されたマスクMのパターンからの光は、反射型の投影光学系PLを介して、感光性基板であるウェハW上にマスクパターンの像を形成する。すなわち、ウェハW上には、後述するように、たとえばY軸に関して対称な円弧形状の静止露光領域(実効露光領域)が形成される。
ウェハWは、ウェハWの露光面がXY平面に沿って延びるように、ウェハステージWSによって保持されている。ウェハステージWSはX方向およびY方向に沿って二次元的に移動可能であり、その移動は、マスクステージMSと同様に、レーザ干渉計WIFにより計測されるように構成されている。こうして、マスクステージMSおよびウェハステージWSをY方向に沿って移動させながら、すなわち投影光学系PLに対してマスクMおよびウェハWをY方向に沿って相対移動させながら走査露光(スキャン露光)を行うことにより、ウェハWの1つの矩形状のショット領域(露光領域)にマスクMのパターンが転写される。
このとき、投影光学系PLの投影倍率(転写倍率)が例えば1/4である場合、ウェハステージWSの移動速度をマスクステージMSの移動速度の1/4に設定して同期走査を行う。また、ウェハステージWSをX方向およびY方向に沿って二次元的に移動させながら走査露光を繰り返すことにより、ウェハWの各ショット領域にマスクMのパターンが逐次転写される。
図2を参照すると、図1に示したレーザプラズマ光源1は、レーザ光源11、集光レンズ12、ノズル14、楕円反射鏡15、ダクト16などにより構成されている。レーザ光源11から発した光(非EUV光)は、集光レンズ12を介して気体ターゲット13上に集光する。気体ターゲット13は、高圧ガス源からノズル14に供給されて、ノズル14から噴射されたガスであり、たとえばキセノン(Xe)ガスである。気体ターゲット13は、集光されたレーザ光によりエネルギーを得てプラズマ化し、EUV光を発する。なお、気体ターゲット13は、楕円反射鏡15の第1焦点に位置決めされている。
したがって、レーザプラズマ光源1から放射されたEUV光は、楕円反射鏡15の第2焦点に集光する。一方、発光を終えたガスはダクト16を介して吸引されて外部へ導かれる。楕円反射鏡15の第2焦点に集光したEUV光は、凹面反射鏡17を介してほぼ平行光束となり、一対のフライアイ光学系18aおよび18bからなるオプティカルインテグレータ18に導かれる。
第1フライアイ光学系18aは、例えば図3(a)に示すように並列に配置された円弧状の外形形状を有する複数の反射ミラー要素18aaにより構成されている。第2フライアイ光学系18bは、第1フライアイ光学系18aの複数の反射ミラー要素18aaに一対一対応付けられた、並列に配置された複数の反射ミラー要素18baにより構成されている。例えば図3(b)に示すように、各反射ミラー要素18baは矩形状の外形形状を有する並列に配置された複数の反射ミラー要素18baにより構成されている。第1フライアイ光学系18aおよび第2フライアイ光学系18bの具体的な構成および作用については、米国特許6,452,661号公報を参照し、可能な限り本発明の一部として援用する。
こうして、オプティカルインテグレータ18の射出面の近傍、すなわち第2フライアイ光学系18bの反射面の近傍には、所定の形状を有する実質的な面光源が形成される。実質的な面光源は、照明光学系2の射出瞳位置、すなわち投影光学系PLの入射瞳と光学的に共役な位置に形成される。第2フライアイ光学系18bの反射面の近傍、すなわち実質的な面光源の形成位置には、開口絞りAS(図2では不図示であるが、後述する)が配置されている。
実質的な面光源からの光は、曲面反射鏡(凸面反射鏡または凹面反射鏡)19aと凹面反射鏡19bとにより構成されたコンデンサー光学系19を介して、照明光学系2から射出される。ここで、コンデンサー光学系19は、第2フライアイ光学系18bの複数の反射ミラー要素18baの各々からの光がマスクMを重畳的に照明するように構成されている。照明光学系2から射出された光は、例えばマスクMに近接して配置された視野絞り21の円弧形状の開口部(光透過部)を介して、マスクM上に円弧形状の照明領域を形成する。このように、照明光学系2(17〜19)、および視野絞り21は、所定のパターンが設けられたマスクMをケーラー照明するための照明系を構成している。
照明されたマスクMのパターンからの光は、投影光学系PLを介して、ウェハW上の円弧形状の静止露光領域にマスクパターンの像を形成する。投影光学系PLは、マスクMのパターンの中間像を形成するための第1反射結像光学系と、マスクパターンの中間像の像(マスクMのパターンの二次像)をウェハW上に形成するための第2反射結像光学系とにより構成されている。第1反射結像光学系は4つの反射鏡Ml〜M4により構成され、第2反射結像光学系は2つの反射鏡M5およびM6により構成されている。また、投影光学系PLはウェハ側(像側)にテレセントリックな光学系である。
図4は、本実施形態における1回の走査露光を概略的に説明する図である。図4を参照すると、本実施形態の露光装置では、投影光学系PLの円弧形状の有効結像領域および有効視野に対応するように、Y軸に関して対称な円弧形状の静止露光領域(実効露光領域)ERが形成される。この円弧形状の静止露光領域ERは、1回の走査露光(スキャン露光)によりウェハWの矩形状の1つのショット領域SRにマスクMのパターンを転写する間に、図中実線で示す走査開始位置から図中破線で示す走査終了位置まで移動する。
図5は、マスクM上に形成される円弧形状の照明領域IRの回転軸IRaが照明領域IRの外側(凸側)外形線IRoutまたは内側(凹側)外形線IRinを定義する円の中心として定義される様子を示す図である。ウェハW上の円弧形状の静止露光領域ERに対応して、図5に示すように、マスクM上には円弧形状の照明領域IRが形成される。照明領域IRの円弧形状の回転軸IRaは、外側外形線IRoutまたは内側外形線IRinを定義する円の中心として定義される。より詳しくは、その中心を通り図5の面に直交する直線が回転軸IRaである。図5の例では、照明領域IRの外側外形線IRoutを定義する円の中心は内側外形線IRinを定義する円の中心と一致しているが、外側外形線IRoutを定義する円と内側外形線IRinを定義する円とが同心にならない場合には、一方の円の中心と他方の円の中心との中点を、照明領域IRの回転軸IRaとして定義しても良い。また、照明領域IRの外側(凸側)外形線を定義する曲線または内側(凹側)外形線を定義する曲線が完全な円の一部ではなく、例えば楕円の一部になるような場合は、その楕円の中心を照明領域IRの回転軸IRaと見なすことができる。本明細書では、これらを総じて「円弧形状の回転軸」または「照明領域の回転軸」と称する。後述するように、照明領域IRの円弧形状の回転軸IRaは、照明光学系の射出瞳の中心を通り且つ射出瞳の面に垂直な瞳軸線とほぼ一致する。
以下、本実施形態の照明光学系2の具体的な構成および作用の説明に先立ち、比較例としての従来の照明光学系の構成およびその不都合な点について説明する。図6は、比較例にかかる照明光学系の要部構成を概略的に示す図である。図6を参照すると、比較例の照明光学系の要部を構成するコンデンサー光学系29は、第2フライアイ光学系18bの反射面と実質的に同じ位置に配置された開口絞りASから光の入射順に、凸面反射鏡29aと、凹面反射鏡29bとにより構成されている。図6の例は、従来用いられていた平面反射鏡を取り除いた場合を示しており、投影光学系と照明光学系とが分離されていない状態を示す例である。また、図2に示す投影光学系PLのうち、最も照明光学系の近くに配置される反射ミラーM1を図示している。
図6では、無限遠物体(不図示)からの光束が、開口絞りASと第2フライアイ光学系18bとを経た後に、凸面反射鏡29aおよび凹面反射鏡29bを介してマスクM上に結像する様子を示している。図6では、開口絞りASの開口部(光透過部)の中心を通り且つ開口絞りASの面に垂直な基準軸線をz軸とし、開口絞りASの面において図6の紙面に垂直な軸線をx軸とし、開口絞りASの面において図6の紙面に平行な軸線をy軸としている。座標(x,y,z)の設定は、以下の各実施例においても同様である。
次の表(1)に、比較例にかかる照明光学系の要部の諸元の値を掲げる。表(1)の諸元は、ORA(Optical Research Associates)社の光学設計ソフトである「Code V」の書式に従って記述されている。表(1)の光線追跡設定値の欄において、EPDは開口絞りASの開口部の直径(単位:mm)を、XANは光線追跡に用いられた15本の光線の開口絞りASへの入射角度のx方向成分(単位:度)であり、YANは15本の光線の開口絞りASへの入射角度のy方向成分(単位:度)である。
表(1)のレンズデータの欄において、RDYは面の曲率半径(非球面の場合には頂点曲率半径;単位:mm)を、THIは当該面から次の面までの距離すなわち面間隔(単位:mm)を、RMDは当該面が反射面であるか屈折面であるかを、GLAは当該面から次の面までの媒質を示している。REFLは、反射面を意味する。INFINITYは無限大を意味し、RDYが INFINITYであれば、その面が平面であることを意味している。OBJは物体面としての無限遠物体の面を、STOは開口絞りASの面を、面番号2および3は第2フライアイ光学系18bの各反射ミラー要素と光学的に等価な仮想の極薄レンズを示している。つまり、第2フライアイ光学系18bは全体として正のパワーを持つ凹面ミラーと見なせるため、このパワー値を仮想の極薄レンズとして表現している。
面番号4は凸面反射鏡29aの反射面を、面番号5は凹面反射鏡29bの反射面を、面番号6およびIMGは像面としてのマスクMのパターン面を示している。SPS XYPは、その面(レンズデータでは面番号2の面)が、以下の式(1)に示すxyのベキ級数で表現される自由曲面であることを表す。SPS XYP面は、基準コーニックに追加された10次の多項式面である。多項式は、xmn(m+n≦10)の単項式に展開される。
Figure 2009044147
式(1)において、sはz軸に平行な面のサグ量(単位:mm)であり、cは頂点曲率(単位:mm-1)であり、rは頂点からの距離(x2+y2の平方根の値)(単位:mm)であり、kはコーニック定数であり、Cjは単項式xmnの係数である。表(1)のレンズデータの欄において、Kはコーニック定数kであり、Yはyの係数であり、X2はx2の係数であり、Y2はy2の係数であり、X2Yはx2yの係数であり、Y3はy3の係数であり、X4はx4の係数であり、X2Y2はx22の係数であり、Y4はy4の係数であり、X4Yはx4yの係数であり、X2Y3はx23の係数であり、Y5はy5の係数である。
第2フライアイ光学系18bでは、各反射ミラー要素が傾いて自由曲面に相当する光学面のパワーを光学系に与えるが、Code Vではこの状態をそのまま表現することができない。そこで、極端に屈折率の高いガラス'kari'により形成された仮想極薄レンズ(レンズデータでは第2面および第3面に対応)を用いて、第2フライアイ光学系18bの各反射ミラー要素と光学的に等価な状態を表現している。なお、ガラス'kari'の屈折率は、10000である。
面番号4〜6におけるXDE,YDE,およびZDEは、面の偏心のx方向成分(単位:mm)、y方向成分(単位:mm)、およびz方向成分(単位:mm)を示している。ADE,BDE,およびCDEは、面の回転のθx方向成分(x軸廻りの回転成分;単位:度)、θy方向成分(y軸廻りの回転成分;単位:度)、およびθz方向成分(z軸廻りの回転成分;単位:度)を示している。面番号4、5におけるDARは、当該面より後ろの座標(x,y,z)が変化しないことを意味している。すなわち、DARと記載してある面で偏心していても、その後側の面は偏心した新たな座標に従うことなく、DARと記載してある面だけの単独の偏心である。なお、表(1)における表記は、以降の表(2)および表(3)においても同様である。
表(1)
<<<光線追跡設定値>>>
EPD 166.40000
XAN 0.00000 0.00000 0.00000 0.46553 0.46553
0.46553 0.93110 0.93110 0.93110 1.39672
1.39672 1.39672 1.86244 1.86244 1.86244
YAN 4.73228 4.87602 5.01980 4.70990 4.85364
4.99741 4.64215 4.78588 4.92963 4.52707
4.67077 4.81450 4.36106 4.50473 4.64843

<<<レンズデータ>>>
RDY THI RMD GLA
OBJ: INFINITY INFINITY
STO: INFINITY 0.000000
2: 29753283.62 0.000000 'kari'
SPS XYP:
K: -3.4368E+08 Y: -5.7819E-06 X2: -8.3388E-09
Y2: -8.6408E-09 X2Y: 2.0799E-12 Y3: 2.0777E-12
X4: -8.2059E-17 X2Y2: -2.9658E-16 Y4: -5.1558E-17
X4Y: -1.1652E-19 X2Y3: -2.4719E-18 Y5: -3.0454E-19
3: -29753283.62 973.472162
4: 1307.30000 -788.472162 REFL
XDE: 0.000000 YDE: 69.285474 ZDE: 0.000000 DAR
ADE: 0.000000 BDE: 0.000000 CDE: 0.000000
5: 1593.85000 1149.331775 REFL
XDE: 0.000000 YDE: 145.662143 ZDE: 0.000000 DAR
ADE: 0.000000 BDE: 0.000000 CDE: 0.000000
6: INFINITY 0.000000
XDE: 0.000000 YDE: 213.343794 ZDE: 0.000000
ADE: 6.378665 BDE: 0.000000 CDE: 0.000000
IMG: INFINITY 0.000000
図6には、比較例にかかる照明光学系の射出瞳EPの中心を通り且つ射出瞳EPの面に垂直でマスクMと交わる線分を瞳軸線PAで示している。瞳軸線PAは、マスクM上に形成される照明領域IRの円弧形状の回転軸IRaとほぼ一致する。図6において、瞳軸線PAが、コンデンサー光学系の凸面反射鏡29a、および開口絞りASの開口部と交わっている。図5に示した円弧領域IRの回転軸IRaと瞳軸線PAとはほぼ同じ軸となる。また、投影光学系の入射瞳を図6に示す射出瞳EPと一致させた場合、投影光学系の光軸と、円弧領域の回転軸IRaと、瞳軸線とはほぼ同じ軸となる。
尚、照明光学系の射出瞳と投影光学系の入射瞳とを一致させるという事は、厳密に一致していない場合も含む。換言すれば、装置が要求される仕様の範囲で両者を一致させれば良い。ここで、3つの軸がほぼ同じ軸となるという意味は、前述したような円弧領域の回転軸の定義にある程度の幅があるという事に起因するズレや、入射瞳と射出瞳とが厳密には一致しない事に起因するズレを含むと言うことである。尚、投影光学系に偏心光学系を用いた場合には、厳密な意味の光軸は存在しなくなる。しかし、この場合においても、ミラーのズレ量は大きくなく、ほぼ一つの軸に沿って各ミラーが配置されているため、このような1つの軸を実質的な光軸とみなすことができ、このような実質的な光軸とも前述の回転軸と瞳軸線とはほぼ一致する。
このように、照明光学系の射出瞳と投影光学系の入射瞳とを一致させた時に照明光学系に最も近く配置される事になる反射鏡M1を、図6に示した。図6から明らかなように、照明光学系の光路中に投影光学系の反射鏡M1が配置されてしまう。したがって、比較例にかかる照明光学系と反射型マスクとの間の光路中に光路を折り曲げるための平面鏡を配置しない限り、照明光学系の射出瞳と投影光学系の入射瞳とを一致させた場合に照明光学系と投影光学系とを分離する事ができず、両者が機械的に干渉したり光路が重なったりしてしまい、露光装置として機能しなくなる。以下、本実施形態の各実施例を説明する。
[第1実施例]
図7は、第1実施例にかかる照明光学系の要部構成を概略的に示す図である。図7を参照すると、第1実施例の照明光学系2の要部を構成するコンデンサー光学系19は、第2フライアイ光学系18bの反射面と実質的に同じ位置に配置された開口絞りASから光の入射順に、凸面反射鏡19aと、凹面反射鏡19bとにより構成された反射型コンデンサー光学系である。なお、開口絞りASは第2フライアイ光学系18bの反射面とある程度の距離をおいて配置してもよい。例えば、光路に沿って第2フライアイ光学系の最も突出した位置から2mm程度離して配置しても構わない。この場合、離間距離が開口絞りの機能に影響を与え、これが問題となる場合には、その影響が緩和されるように形状を変更することができる。例えば、円形状を楕円形状にすることによって緩和する事が可能である。本明細書では、このように開口絞りを第2フライアイ光学系から若干離間して配置する場合(具体的には、開口絞りと第2フライアイ光学系との間の距離が、第2フライアイ光学系18bの反射面(複数の反射ミラー要素18ba)全体を包含する円の直径の1/10以下の距離である場合)も実質的に同じ位置に配置しているとする。図7では、無限遠物体(不図示)からの光束が、開口絞りASと第2フライアイ光学系18bとを経た後に、凸面反射鏡19aおよび凹面反射鏡19bを介してマスクM上に結像する様子を示している。
次の表(2)に、第1実施例にかかる照明光学系2の要部の諸元の値を掲げる。表(2)のレンズデータの欄において、ASPは、その面(レンズデータでは面番号4,5の面)が、以下の式(2)に示す非球面であることを表す。
s=(h2/r)/[1+{1−(1+κ)・h2/r21/2]+C4・h4
+C6・h6+C8・h8+C10・h10 (2)
式(2)において、hは光軸に垂直な方向の高さ(単位:mm)であり、sは非球面の頂点における接平面から高さhにおける非球面上の位置までの光軸に沿った距離(サグ量)(単位:mm)であり、rは頂点曲率半径(単位:mm)であり、κは円錐係数であり、Cnはn次の非球面係数である。表(2)のレンズデータの欄において、Kは円錐係数κ、Aはh4の係数C4、Bはh6の係数C6、Cはh8の係数C8、Dはh10の係数C10である。また、表(2)のレンズデータの欄において、面番号4は凸面反射鏡19aの反射面を、面番号5は凹面反射鏡19bの反射面を示している。
表(2)
<<<光線追跡設定値>>>
EPD 166.40000
XAN 0.00000 0.00000 0.00000 0.46553 0.46553
0.46553 0.93110 0.93110 0.93110 1.39672
1.39672 1.39672 1.86244 1.86244 1.86244
YAN 4.73228 4.87602 5.01980 4.70990 4.85364
4.99806 4.64215 4.78588 4.93226 4.52707
4.67077 4.82061 4.36106 4.50473 4.65987

<<<レンズデータ>>>
RDY THI RMD GLA
OBJ: INFINITY INFINITY
STO: INFINITY 0.000000
2: INFINITY 0.000000 'kari'
SPS XYP:
Y: 1.3142E-05 X2: 2.4936E-08 Y2: 2.4830E-08
X2Y: 1.0718E-13 X2Y2: -4.5746E-15
3: INFINITY 993.569523
4: 1328.06125 -793.569523 REFL
ASP:
K: 0.000000
A:0.130995E-09 B:-0.269561E-13 C:0.125038E-17 D:-0.207780E-22
XDE: 0.000000 YDE: 35.582377 ZDE: 0.000000 DAR
ADE: 0.000000 BDE: 0.000000 CDE: 0.000000
5: 1602.12924 1150.000000 REFL
ASP:
K: 0.000000
A:0.337539E-10 B:-0.918963E-15 C:0.100831E-19 D:-0.415420E-25
XDE: 0.000000 YDE: -20.921051 ZDE: 0.000000 DAR
ADE: 0.000000 BDE: 0.000000 CDE: 0.000000
6: INFINITY 0.000000
XDE: 0.000000 YDE: -280.927289 ZDE: 0.000000
ADE: 7.792657 BDE: 0.000000 CDE: 0.000000
IMG: INFINITY 0.000000
第1実施例の照明光学系2では、コンデンサー光学系19が、回転非球面形状の反射面を有する凸面反射鏡19aと、回転非球面形状の反射面を有する凹面反射鏡19bとにより構成されている。そして、凸面反射鏡19aおよび凹面反射鏡19bの回転非球面の回転対称軸が、開口絞りASの開口部の中心を通り且つ開口絞りASの面に垂直な基準軸線zに対して角度及び/または位置がずれて配置されている。尚、回転対称軸と基準軸線とが交差してもよいが必ずしも一点で交わる必要は無い。
図7には、第1実施例にかかる照明光学系2の射出瞳EPの瞳軸線を線分PAで示している。なお、図示していないが、上述したように、マスクM上に形成される照明領域IRの円弧形状の回転軸IRaは線分PAとほぼ同軸となる。図7において、瞳軸線PAまたは照明領域の円弧形状の回転軸IRaはコンデンサー光学系19の凸面反射鏡19aおよび凹面反射鏡19bと交わることなく、且つ開口絞りASの開口部の外側に位置している。また、射出瞳EPの瞳軸線PAまたは照明領域の円弧形状の回転軸IRaは、コンデンサー光学系を構成する2つの反射鏡の外形、すなわち回転非球面形状の反射面を有する凸面反射鏡19aの外形および回転非球面形状の反射面を有する凹面反射鏡19bの外形よりも外側に位置していることも明らかである。
図7では、照明光学系の射出瞳EPに投影光学系の入射瞳を一致させた場合に最も照明光学系に近接して配置される投影光学系の反射鏡M1を示した。図7からわかるように、平面鏡を配置しなくても照明光学系と投影光学系とを分離することが可能となっている。換言すれば、投影光学系と照明光学系とを機械的に干渉させることなく配置する事が可能となり、また、照明光学系の光路中に投影光学系を構成する反射鏡が配置されない。
[第2実施例]
図8は、第2実施例にかかる照明光学系の要部構成を概略的に示す図である。図8を参照すると、第2実施例の照明光学系2の要部を構成するコンデンサー光学系19は、第2フライアイ光学系18bの反射面と実質的に同じ位置に配置された開口絞りASから光の入射順に、凹面反射鏡19aと、凹面反射鏡19bとにより構成されている。図8では、無限遠物体(不図示)からの光束が、開口絞りASと第2フライアイ光学系18bとを経て一旦結像した後に、凹面反射鏡19aおよび凹面反射鏡19bを介してマスクM上に再び結像する様子を示している。次の表(3)に、第2実施例にかかる照明光学系の要部の諸元の値を掲げる。表(3)のレンズデータの欄において、面番号4は凹面反射鏡19aの反射面を、面番号5は凹面反射鏡19bの反射面を示している。
表(3)
<<<光線追跡設定値>>>
EPD 166.40000
XAN 0.00000 0.00000 0.00000 0.46553 0.46553
0.46553 0.93110 0.93110 0.93110 1.39672
1.39672 1.39672 1.86244 1.86244 1.86244
YAN 4.73228 4.87602 5.01980 4.70990 4.85364
4.99741 4.64215 4.78588 4.92963 4.52707
4.67077 4.81450 4.36106 4.50473 4.64843

<<<レンズデータ>>>
RDY THI RMD GLA
OBJ: INFINITY INFINITY
STO: 833.13494 0.000000
2: 833.13494 0.000000 'kari'
SPS XYP:
K: 4.6188E-05 Y: 1.3338E-06 X2: -3.4240E-09
Y2: -3.2735E-09 X2Y: 6.2076E-13 Y3: 7.0758E-13
X4: -1.3820E-14 X2Y2: -3.0355E-14 Y4: -1.8768E-14
X4Y: 3.0059E-18 X2Y3: 9.8523E-18 Y5: 1.2828E-17
3: 833.22730 789.807305
4: -364.70403 -689.810205 REFL
ASP:
K: 0.000000
A:0.512135E-07 B:-0.395727E-11 C:0.982223E-16 D:-0.845328E-21
XDE: 0.000000 YDE: -108.042431 ZDE: 0.000000 DAR
ADE: -38.143024 BDE: 0.000000 CDE: 0.000000
5: 960.28537 1000.002899 REFL
ASP:
K: 0.000000
A:-0.802933E-10 B:0.357499E-15 C:-0.134622E-20 D:0.215556E-26
XDE: 0.000000 YDE: -140.131266 ZDE: 0.000000 DAR
ADE: 16.050740 BDE: 0.000000 CDE: 0.000000
6: INFINITY 0.000000
XDE: 0.000000 YDE: 363.354866 ZDE: 0.000000
ADE: -4.128691 BDE: 0.000000 CDE: 0.000000
IMG: INFINITY 0.000000
第2実施例の照明光学系2では、コンデンサー光学系19が、回転非球面形状の反射面を有する凹面反射鏡19aと、回転非球面形状の反射面を有する凹面反射鏡19bとにより構成されている。そして、凹面反射鏡19aおよび凹面反射鏡19bの回転非球面の回転対称軸が、開口絞りASの開口部の中心を通り且つ開口絞りASの面に垂直な基準軸線zに対して角度及び/または位置がずれて配置されている。尚、回転対称軸と基準軸線とが交差してもよいが必ずしも一点で交わる必要は無い。
図8には、第2実施例にかかる照明光学系2の射出瞳EPの瞳軸線を線分PAで示している。第1実施例と同様に、照明領域IRの円弧形状の回転軸IRaは線分PAとほぼ同軸となる。図8において瞳軸線PAまたは照明領域の円弧形状の回転軸IRaはコンデンサー光学系19の凹面反射鏡19aおよび凹面反射鏡19bと交わることなく、且つ開口絞りASの開口部の外側に位置している。また、射出瞳EPの瞳軸線PAまたは照明領域の円弧形状の回転軸IRaは、コンデンサー光学系を構成する2つの反射鏡の外形、すなわち回転非球面形状の反射面を有する凹面反射鏡19aの外形および回転非球面形状の反射面を有する凹面反射鏡19bの外形よりも外側に位置していることも明らかである。
図8では、照明光学系の射出瞳EPに投影光学系の入射瞳を一致させた場合に最も照明光学系に近接して配置される投影光学系の反射鏡M1を示した。図8からわかるように、平面鏡を配置しなくても照明光学系と投影光学系とを分離することが可能となっている。換言すれば、投影光学系と照明光学系とを機械的に干渉させることなく配置する事が可能となり、また、照明光学系の光路中に投影光学系を構成する反射鏡が配置されない。
また、第2実施例の照明光学系2では、コンデンサー光学系19が、第2フライアイ光学系18b(ひいては開口絞りAS)とマスクMとの間の光路中に、さらに詳細には第2フライアイ光学系18bと凹面反射鏡19aとの間の光路中に、マスクMと光学的に共役な位置Cを形成している。また、位置CとマスクMの各々の位置で形成される円弧形状の向きは、図示したように逆向きとなる。すなわち、コンデンサー光学系19は、この共役位置CにマスクM上の円弧形状の照明領域の倒立像を形成する結像光学系として機能している。このように、円弧領域の向きが逆になるので、2つの円弧領域の回転軸IRa間の距離を相対的に大きくすることができる。この回転軸IRaに沿って照明光学系や投影光学系の各光学要素は配置される。従って、倒立像を形成する本実施例の光学系を採用すると、投影光学系と照明光学系とを分離する事が容易となる。換言すれば、投影光学系の光路と照明光学系の光路との分離及び各光学要素の機械的な干渉の回避をより確実に行うことが可能となる。尚、上述したように偏心光学系を用いた場合においても、おおよそ一つの軸に沿って各反射鏡が配置されるため、照明光学系と投影光学系との分離は容易となる。
また、第2実施例では、マスクMに近接して配置される視野絞り21の一部または全部に代えて、あるいは視野絞り21の一部または全部に加えて、第2フライアイ光学系18bと凹面反射鏡19aとの間の共役位置に視野絞りを配置することもできる。
なお、第1実施例および第2実施例では、コンデンサー光学系19を構成する2つの反射鏡19aおよび19bのうち、光路に沿って最もマスク(被照射面)Mに近い反射鏡19bの反射面の形状が凹面である。マスクMから光の進行方向を逆にたどると、光束は広がりながら反射鏡19bに到達する。このため、反射鏡19bの反射面の形状を凹面にすることにより、コンデンサー光学系19を、ひいては照明光学系2をコンパクトに設計することができる。
また、第1実施例および第2実施例では、コンデンサー光学系19を構成する2つの反射鏡19aおよび19bにおいて、2枚の反射面へ入射する光線と該光線の入射位置における光学面の法線とのなす角度の最大値が30度よりも小さくなっている。具体的には、第1実施例における上記角度の最大値は8.3度であり、第2実施例における上記角度の最大値は12.7度である。このように、コンデンサー光学系19を構成する2枚の反射面へ入射する光線と光学面の法線とのなす角度の最大値を30度よりも小さく抑えることにより、コンデンサー光学系19において高い反射率を実現することができる。
ところで、第1実施例および第2実施例において、照明条件を変更するために、複数極状(2極状、4極状など)、輪帯状など様々な形状の開口部を有する開口絞りを用いることが考えられる。この場合、照明光学系2の射出瞳の瞳軸線(ひいては照明領域の円弧形状の回転軸IRa)が、開口絞りの開口部(複数極状、輪帯状などの開口部)の最外殻よりも外側に位置することが重要である。
具体的には、図9(a)〜(c)に示すように、2極状、4極状、または輪帯状の開口部AS1(図中ハッチングを施した部分)を有する開口絞りASを用いる場合、瞳軸線が2極状、4極状、または輪帯状の開口部AS1に外接する円ASaにより定義される最外殻よりも外側に位置することが重要である。本明細書では、各種形状の開口部AS1に外接する円ASaを実質的な開口絞りの開口部と定義する。照明光学系の射出瞳の中心とは、この円ASaの像の中心(すなわち円ASaの中心AScの像)として定義される。なお、開口絞りが平面と見なせない場合、例えば凹面や凸面の場合も同様に、開口部の中心を射出瞳の中心として定義可能である。
第1実施例及び第2実施例では、実質的な開口絞りの開口部ASaは開口絞りASによって提供される。しかしながら、第2フライアイ光学系18bが、実質的な開口絞りの開口部ASaを提供することもできる。例えば、図10(a)に示すように、第2フライアイ光学系18bの複数の反射ミラー要素18ba全体が、実質的な開口絞りの開口部ASaを提供する。図10(b)の例では、第2フライアイ光学系18bの複数の局所的領域に光を導く技術を採用した場合(例えば上記米国特許6,452,661号公報に加え、米国特許6,704,095号公報、米国公開公報US2004/0119961A1、米国公開公報2007/0132977A1を参照されたい。これらの文献をここに援用する。)、当該複数の局所的領域の各々が開口部AS1として機能し、当該複数の局所的領域AS1に外接する円が実質的な開口絞りの開口部ASaとして機能する。言い換えると、第2フライアイ光学系18bの一部が実質的な開口絞りの開口部ASaを提供することができる。
そこで本願明細書では、用語「実質的な開口絞り」は、開口絞りAS、第2フライアイ光学系18bの一部または全体のような、照明光路に配置されて被照射面(マスクM)を照明する光束の開き角を制限する開き角制限部材を指す。
なお、上述の第1、第2実施例ではコンデンサー光学系を構成する2枚の反射鏡として回転対称な非球面を用いたが、自由曲面を用いても構わない。自由曲面を用いた場合、回転対称な軸は存在しなくなるが、中心軸を有する自由曲面を用いる場合にはこの中心軸が上述した開口絞りの中心を通る基準軸とずれていても構わない。
なお、上述の実施形態にかかるEUVL露光装置では、EUV光を供給するための光源としてレーザプラズマ光源を用いている。しかしながら、これに限定されることなく、EUV光を供給する他の適当な光源、たとえばシンクロトロン放射(SOR)光源や放電プラズマ光源などを用いることができる。
また、上述の実施形態では、反射型マスクの代わりに、所定の電子データに基づいて所定パターンを形成するパターン形成装置を用いることができる。なお、パターン形成装置としては、たとえば所定の電子データに基づいて駆動される複数の反射素子を含む反射型空間光変調器を用いることができる。反射型空間光変調器を用いた露光装置は、例えば特開平8−313842号公報、特開2004−304135号公報に開示されている。
上述の実施形態の露光装置は、本願特許請求の範囲に挙げられた各構成要素を含む各種サブシステムを、所定の機械的精度、電気的精度、光学的精度を保つように、組み立てることで製造される。これら各種精度を確保するために、この組み立ての前後には、各種光学系については光学的精度を達成するための調整、各種機械系については機械的精度を達成するための調整、各種電気系については電気的精度を達成するための調整が行われる。各種サブシステムから露光装置への組み立て工程は、各種サブシステム相互の、機械的接続、電気回路の配線接続、気圧回路の配管接続等が含まれる。この各種サブシステムから露光装置への組み立て工程の前に、各サブシステム個々の組み立て工程があることはいうまでもない。各種サブシステムの露光装置への組み立て工程が終了したら、総合調整が行われ、露光装置全体としての各種精度が確保される。なお、露光装置の製造は温度およびクリーン度等が管理されたクリーンルームで行ってもよい。
上述の実施形態にかかる露光装置では、照明系によってマスクを照明し(照明工程)、投影光学系を用いてマスクに形成された転写用のパターンを感光性基板に露光する(露光工程)ことにより、マイクロデバイス(半導体素子、撮像素子、液晶表示素子、薄膜磁気ヘッド等)を製造することができる。以下、本実施形態の露光装置を用いて感光性基板としてのウェハ等に所定の回路パターンを形成することによって、マイクロデバイスとしての半導体デバイスを得る際の手法の一例につき図11のフローチャートを参照して説明する。
先ず、図11のステップ301において、1ロットのウェハ上に金属膜が蒸着される。次のステップ302において、その1ロットのウェハ上の金属膜上にフォトレジストが塗布される。その後、ステップ303において、本実施形態の露光装置を用いて、マスク(レチクル)上のパターンの像がその投影光学系を介して、その1ロットのウェハ上の各ショット領域に順次露光転写される。
その後、ステップ304において、その1ロットのウェハ上のフォトレジストの現像が行われた後、ステップ305において、その1ロットのウェハ上でレジストパターンをマスクとしてエッチングを行うことによって、マスク上のパターンに対応する回路パターンが、各ウェハ上の各ショット領域に形成される。その後、更に上のレイヤの回路パターンの形成等を行うことによって、半導体素子等のデバイスが製造される。上述の半導体デバイス製造方法によれば、極めて微細な回路パターンを有する半導体デバイスをスループット良く得ることができる。なお、ステップ301〜ステップ305では、ウェハ上に金属を蒸着し、その金属膜上にレジストを塗布、そして露光、現像、エッチングの各ステップを行っているが、これらのステップに先立って、ウェハ上にシリコンの酸化膜を形成後、そのシリコンの酸化膜上にレジストを塗布、そして露光、現像、エッチング等の各ステップを行っても良いことはいうまでもない。
本発明は、上記実施形態に限定されず、本発明の範囲を超えることなく、構成要素の様々な変形や改変をなすことができる。また、上記実施形態に開示された構成要素は、本発明を実施するためにあらゆる組み合わせ方法によって組み合わせられる。例えば、構成用度のいくつかは、上記実施形態で開示された全ての構成要素から省略することができる。さらに、異なる実施形態における構成要素は、適切に組み合わせられる。
本発明の実施形態にかかる露光装置の全体構成を概略的に示す図である。 図1の光源、照明光学系および投影光学系の内部構成を概略的に示す図である。 図2のオプティカルインテグレータの構成例を概略的に示す図である。 本実施形態における1回の走査露光を概略的に説明する図である。 マスク上に形成される照明領域の円弧形状の回転軸が外側円弧または内側円弧を定義する円の中心として定義される様子を示す図である。 比較例にかかる照明光学系の要部構成を概略的に示す図である。 第1実施例にかかる照明光学系の要部構成を概略的に示す図である。 第2実施例にかかる照明光学系の要部構成を概略的に示す図である。 2極状、4極状、輪帯状の開口部を有する開口絞りにおける、実質的な開口部の定義を説明する図である。 (a),(b)は実質的な開口絞りの開口部の別例を示す図である。 マイクロデバイスとしての半導体デバイスを得る際の手法の一例について、そのフローチャートを示す図である。
符号の説明
1 レーザプラズマ光源
2 照明光学系
11 レーザ光源
13 気体ターゲット
14 ノズル
15 楕円反射鏡
18a,18b フライアイ光学系
19a,19b コンデンサー光学系
21 視野絞り
M マスク
MS マスクステージ
AS 開口絞り
PL 投影光学系
W ウェハ
WS ウェハステージ
ER 静止露光領域

Claims (34)

  1. 照明光を被照射面の円弧形状の領域へ導く反射型照明光学系において、
    照明光路に配置されて前記被照射面を照明する光束の開き角を制限する開き角制限部材と、
    前記開き角制限部材と前記被照射面との間の光路中に配置されて前記開き角制限部材を介した光束を前記被照射面に導く反射型コンデンサー光学系とを備え、
    前記円弧形状は、前記開き角制限部材の開口部の外側に位置する回転軸を含んでおり、
    前記反射型コンデンサー光学系は複数の反射面を有し、前記複数の反射面のうち、光路に沿って最も前記被照射面に近い反射面の形状が凹面である照明光学系。
  2. 前記反射型コンデンサー光学系は2枚の反射面からなる請求項1に記載の照明光学系。
  3. 前記2枚の反射面は全て凹面である請求項2に記載の照明光学系。
  4. 前記2枚の反射面へ入射する光線と該光線の入射位置における光学面の法線とのなす角度の最大値が30度よりも小さい請求項3に記載の照明光学系。
  5. 前記反射型コンデンサー光学系は、前記開き角制限部材と前記被照射面との間の光路中に前記被照射面と光学的に共役な位置を形成する請求項1乃至4のいずれか1項に記載の照明光学系。
  6. 前記反射面は、回転非球面形状の反射面である請求項1乃至5のいずれか1項に記載の照明光学系。
  7. 並列に配置された複数の第1ミラー要素を有する第1フライアイ光学系と、
    前記第1フライアイ光学系と前記反射型コンデンサー光学系との間に前記複数の第1ミラー要素に一対一対応するように並列に配置された複数の第2ミラー要素を有する第2フライアイ光学系とを更に備え、
    前記反射型コンデンサー光学系は、前記複数の第2ミラー要素の各々からの光が前記被照射面を重畳的に照明するように構成されている請求項1乃至6のいずれか1項に記載の照明光学系。
  8. 前記開き角制限部材は、前記第2フライアイ光学系の反射面と実質的に同じ位置に配置されている請求項7に記載の照明光学系。
  9. 前記開き角制限部材と前記第2フライアイ光学系との間の距離は、前記第2フライアイ光学系の前記複数の第2ミラー要素全体を包含する円の直径の1/10以下である請求項7に記載の照明光学系。
  10. 前記開き角制限部材の中心軸と前記円弧形状の回転軸とは、角度を有して配置される請求項1乃至9のいずれか1項に記載の照明光学系。
  11. 前記円弧形状の回転軸は、前記反射型コンデンサー光学系の反射面が形成される反射ミラーの外形の外側に配置される請求項1乃至10のいずれか1項に記載の照明光学系。
  12. 照明光を被照射面の所定形状の領域へ導く反射型照明光学系において、
    照明光路に配置されて前記被照射面を照明する光束の開き角を制限する開き角制限部材と、
    前記開き角制限部材と前記被照射面との間の光路中に配置されて前記開き角制限部材を介した光束を前記被照射面に導く反射型コンデンサー光学系とを備え、
    前記照明光学系の射出瞳の中心を通り且つ前記射出瞳の面に垂直な瞳軸線が、前記開き角制限部材の開口部の外側に位置し、
    前記反射型コンデンサー光学系は複数の反射面を有し、前記複数の反射面のうち、光路に沿って最も前記被照射面に近い反射面の形状が凹面である照明光学系。
  13. 前記反射型コンデンサー光学系は2枚の反射面からなる請求項12に記載の照明光学系。
  14. 前記2枚の反射面は全て凹面である請求項13に記載の照明光学系。
  15. 前記2枚の反射面へ入射する光線と該光線の入射位置における光学面の法線とのなす角度の最大値が30度よりも小さい請求項13または14に記載の照明光学系。
  16. 前記反射型コンデンサー光学系は、前記開き角制限部材と前記被照射面との間の光路中に前記被照射面と光学的に共役な位置を形成する請求項12乃至15のいずれか1項に記載の照明光学系。
  17. 前記反射面は、回転非球面形状の反射面である請求項12乃至16 のいずれか1項に記載の照明光学系。
  18. 並列に配置された複数の第1ミラー要素を有する第1フライアイ光学系と、
    前記第1フライアイ光学系と前記反射型コンデンサー光学系との間に前記複数の第1ミラー要素に一対一対応するように並列に配置された複数の第2ミラー要素を有する第2フライアイ光学系とを更に備え、
    前記反射型コンデンサー光学系は、前記複数の第2ミラー要素の各々からの光が前記被照射面を重畳的に照明するように構成されている請求項12乃至17のいずれか1項に記載の照明光学系。
  19. 前記開き角制限部材は、前記第2フライアイ光学系の反射面と実質的に同じ位置に配置されている請求項18に記載の照明光学系。
  20. 前記開き角制限部材と前記第2フライアイ光学系との間の距離は、前記第2フライアイ光学系の前記複数の第2ミラー要素全体を包含する円の直径の1/10以下である請求項18に記載の照明光学系。
  21. 前記開き角制限部材の中心軸と前記瞳軸線とは、角度を有して配置される請求項12乃至20のいずれか1項に記載の照明光学系。
  22. 前記瞳軸線は、前記反射型コンデンサー光学系の反射面が形成される反射ミラーの外形の外側に配置される請求項12乃至21のいずれか1項に記載の照明光学系。
  23. 照明光を被照射面の円弧形状の領域へ導く照明光学系において、
    並列に配置された複数の第1ミラー要素を有する第1フライアイ光学系と、
    前記第1フライアイ光学系の前記複数の第1ミラー要素に一対一対応するように並列に配置された複数の第2ミラー要素を有する第2フライアイ光学系と、
    前記複数の第2ミラー要素の各々からの光を前記円弧形状の領域へ重畳的に導き、且つ前記第2フライアイ光学系と前記被照射面との間に前記被照射面と共役な位置を形成するコンデンサー光学系とを備えた照明光学系。
  24. 前記コンデンサー光学系は、前記被照射面と共役な位置と前記被照射面との関係が倒立となるように構成されている請求項23に記載の照明光学系。
  25. 前記コンデンサー光学系は複数の反射面を有し、前記複数の反射面のうち、光路に沿って最も前記被照射面に近い反射面の形状が凹面である請求項23または24に記載の照明光学系。
  26. 前記コンデンサー光学系は2枚の反射面からなる反射型コンデンサー光学系である請求項23乃至25のいずれか1項に記載の照明光学系。
  27. 前記2枚の反射面は全て凹面である請求項26に記載の照明光学系。
  28. 前記2枚の反射面へ入射する光線と該光線の入射位置における光学面の法線とのなす角度の最大値が30度よりも小さい請求項27に記載の照明光学系。
  29. 前記反射面は、回転非球面形状の反射面である請求項23乃至28のいずれか1項に記載の照明光学系。
  30. 前記照明光学系は、前記第2フライアイ光学系の反射面と実質的に同じ位置に配置されている開き角制限部材を更に備える請求項23乃至29のいずれか1項に記載の照明光学系。
  31. 前記照明光学系は、開き角制限部材を更に備え、前記開き角制限部材と前記第2フライアイ光学系との間の距離は、前記第2フライアイ光学系の前記複数の第2ミラー要素全体を包含する円の直径の1/10以下である請求項23乃至29のいずれか1項に記載の照明光学系。
  32. 波長が5nm〜50nmの照明光を供給する光源からの照明光を被照射面へ導くための請求項1乃至31のいずれか1項に記載の照明光学系とを備えている照明光学装置。
  33. 請求項32に記載の照明光学装置を備え、前記被照射面に配置されたパターンを感光性基板に露光する露光装置。
  34. 請求項33に記載の露光装置を用いて前記パターンを前記感光性基板に露光し、
    前記パターンが転写された前記感光性基板を現像して、前記パターンに対応する形状のマスク層を前記感光性基板の表面に形成し、
    前記マスク層を介して前記感光性基板の表面を加工するデバイス製造方法。
JP2008186000A 2007-08-09 2008-07-17 照明光学系、照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法 Pending JP2009044147A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US93537707P 2007-08-09 2007-08-09
US12/170,236 US20090040493A1 (en) 2007-08-09 2008-07-09 Illumination optical system, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009044147A true JP2009044147A (ja) 2009-02-26

Family

ID=39830056

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008186000A Pending JP2009044147A (ja) 2007-08-09 2008-07-17 照明光学系、照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20090040493A1 (ja)
JP (1) JP2009044147A (ja)
TW (1) TW200915017A (ja)
WO (1) WO2009020223A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012531055A (ja) * 2009-06-24 2012-12-06 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 物体視野を像視野に結像するための結像光学系及び物体視野を照明するための照明光学系

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008149178A1 (en) * 2007-06-07 2008-12-11 Carl Zeiss Smt Ag Catoptric illumination system for microlithography tool
DE102008046699B4 (de) * 2008-09-10 2014-03-13 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003506747A (ja) * 1999-07-30 2003-02-18 カール ツァイス シュティフトゥング トレイディング アズ カール ツァイス 照明光学系用の多重反射鏡光学系
JP2003224053A (ja) * 2002-01-29 2003-08-08 Canon Inc 露光装置及びその制御方法、これを用いたデバイスの製造方法
JP2004510340A (ja) * 2000-09-29 2004-04-02 カール ツァイス シュティフトゥング トレイディング アズ カール ツァイス 特にマイクロリソグラフィ用の照明光学系
JP2004266273A (ja) * 2003-02-14 2004-09-24 Canon Inc 露光装置及び露光方法
JP2005122132A (ja) * 2004-09-09 2005-05-12 Canon Inc 反射型投影光学系、当該投影光学系を有する露光装置、並びに、デバイス製造方法
JP2006019476A (ja) * 2004-07-01 2006-01-19 Nikon Corp 露光装置及びマイクロデバイスの製造方法
JP2006134974A (ja) * 2004-11-04 2006-05-25 Canon Inc 露光装置、判定方法及びデバイス製造方法
WO2006054544A1 (ja) * 2004-11-17 2006-05-26 Nikon Corporation 照明装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4238390B2 (ja) * 1998-02-27 2009-03-18 株式会社ニコン 照明装置、該照明装置を備えた露光装置および該露光装置を用いて半導体デバイスを製造する方法
US7186983B2 (en) * 1998-05-05 2007-03-06 Carl Zeiss Smt Ag Illumination system particularly for microlithography
DE10053587A1 (de) * 2000-10-27 2002-05-02 Zeiss Carl Beleuchtungssystem mit variabler Einstellung der Ausleuchtung
US6573978B1 (en) * 1999-01-26 2003-06-03 Mcguire, Jr. James P. EUV condenser with non-imaging optics
DE19935568A1 (de) * 1999-07-30 2001-02-15 Zeiss Carl Fa Steuerung der Beleuchtungsverteilung in der Austrittspupille eines EUV-Beleuchtungssystems
US20050207039A1 (en) * 2002-02-01 2005-09-22 Carl Zeiss Smt Ag Optical element for forming an arc-shaped illumination field
JPWO2006082738A1 (ja) * 2005-02-03 2008-06-26 株式会社ニコン オプティカルインテグレータ、照明光学装置、露光装置、および露光方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003506747A (ja) * 1999-07-30 2003-02-18 カール ツァイス シュティフトゥング トレイディング アズ カール ツァイス 照明光学系用の多重反射鏡光学系
JP2004510340A (ja) * 2000-09-29 2004-04-02 カール ツァイス シュティフトゥング トレイディング アズ カール ツァイス 特にマイクロリソグラフィ用の照明光学系
JP2003224053A (ja) * 2002-01-29 2003-08-08 Canon Inc 露光装置及びその制御方法、これを用いたデバイスの製造方法
JP2004266273A (ja) * 2003-02-14 2004-09-24 Canon Inc 露光装置及び露光方法
JP2006019476A (ja) * 2004-07-01 2006-01-19 Nikon Corp 露光装置及びマイクロデバイスの製造方法
JP2005122132A (ja) * 2004-09-09 2005-05-12 Canon Inc 反射型投影光学系、当該投影光学系を有する露光装置、並びに、デバイス製造方法
JP2006134974A (ja) * 2004-11-04 2006-05-25 Canon Inc 露光装置、判定方法及びデバイス製造方法
WO2006054544A1 (ja) * 2004-11-17 2006-05-26 Nikon Corporation 照明装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012531055A (ja) * 2009-06-24 2012-12-06 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 物体視野を像視野に結像するための結像光学系及び物体視野を照明するための照明光学系
US9182578B2 (en) 2009-06-24 2015-11-10 Carl Zeiss Smt Gmbh Imaging optical system and illumination optical system

Also Published As

Publication number Publication date
TW200915017A (en) 2009-04-01
US20090040493A1 (en) 2009-02-12
WO2009020223A1 (en) 2009-02-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10866522B2 (en) Image-forming optical system, exposure apparatus, and device producing method
JP4844398B2 (ja) 照明装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法
TW200403542A (en) Advanced illumination system for use in microlithography
JPWO2011125827A1 (ja) 光源装置、光学装置、露光装置、デバイス製造方法、照明方法、露光方法、および光学装置の製造方法
JP5077565B2 (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
EP1517339A2 (en) Illumination optical system and exposure apparatus
JP2009044147A (ja) 照明光学系、照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2004170869A (ja) 結像光学系、露光装置および露光方法
JP2005072513A (ja) 露光装置および露光方法
JP2011150227A (ja) 露光装置、およびデバイス製造方法
WO2010052961A1 (ja) 結像光学系、露光装置、およびデバイス製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110630

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111122

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120830

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120903

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20121225