JP2009020263A - 光学素子及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光軸方向の長さが0.5〜3mmで、且つ光軸方向と垂直方向の長さが3〜5mmである光学素子であって、脂環式構造を有する重合体からなる樹脂が金型に射出されて成型された後に、該樹脂のガラス転移温度(JIS K7121に基づく示差走査熱量分析法により昇温速度10℃/minで測定された温度)より10〜30℃低い温度で15時間以上熱処理または湿熱処理されていることを特徴とする光学素子。
【選択図】なし
Description
3.前記1または2に記載の光学素子において、前記光軸方向の長さが0.7〜1.5mmであり、前記樹脂のガラス転移温度(JIS K7121に基づく示差走査熱量分析法により昇温速度10℃/minで測定された温度)より20〜30℃低い温度で15時間以上熱処理または湿熱処理されていることを特徴とする光学素子。
(1)試料の作製
上記実施形態で説明した「脂環式構造を有する重合体からなる樹脂」として、日本ゼオン社製ゼオネックス340R(ガラス転移温度122℃;JIS K7121の示差走査熱量分析(DSC)において昇温速度10℃/minで測定された値)を用い、その樹脂を所定の金型で射出成型して、その成型品を常温で放置、冷却し、HD−DVDの光ピックアップレンズを想定した複数種類の成型品を得た。
試料1−1〜1−13について、設計時の目標形状との差を顕微鏡で目視により観察した。試料1−1〜1−13の観察結果を下記表1に示す。
試料1−1〜1−13について、周知の方法を用いながら数値解析可能な干渉計(使用波長を650nmとした。)で球面収差及び非点収差を測定した。試料1−1〜1−13の測定結果を下記表1に示す。表1中、「球面収差、非点収差」の各収差の測定結果は下記の基準で評価される。
0.01以上0.02未満:使用可能であるが好ましくないレベルである
0.005以上0.01未満:使用可能である
0.005未満:十分に使用可能であり好ましいレベルである。
(1)試料の作製
上記実施形態で説明した「脂環式構造を有する重合体からなる樹脂」として、日本ゼオン社製ゼオネックス340R(ガラス転移温度122℃;JIS K7121の示差走査熱量分析(DSC)において昇温速度10℃/minで測定された値)を用い、その樹脂を所定の金型で射出成型して、その成型品を常温で放置、冷却し、BD互換性の光ピックアップレンズを想定した複数種類の成型品を得た。
試料2−1〜2−13について、実施例1と同様に評価した。結果を下記表2に示す。
試料2−1〜2−13について、実施例1と同様に評価した。結果を下記表2に示す。
2 半導体レーザ発振器
3 コリメータ
4 ビームスプリッタ
5 1/4λ波長板
6 絞り
7 対物レンズ
8 センサーレンズ群
9 センサー
10 2次元アクチュエータ
D 光ディスク
D1 保護基板
D2 情報記録面
Claims (14)
- 光軸方向の長さが0.5〜3mmで、且つ光軸方向と垂直方向の長さが3〜5mmである光学素子であって、脂環式構造を有する重合体からなる樹脂が金型に射出されて成型された後に、該樹脂のガラス転移温度(JIS K7121に基づく示差走査熱量分析法により昇温速度10℃/minで測定された温度)より10〜30℃低い温度で15時間以上熱処理または湿熱処理されていることを特徴とする光学素子。
- 請求項1に記載の光学素子において、前記脂環式構造を有する重合体からなる樹脂が下記式(1)で表される繰り返し単位〔1〕を含有する重合体ブロック〔A〕と、下記式(1)で表される繰り返し単位〔1〕並びに下記式(2)で表される繰り返し単位〔2〕及び/または下記式(3)で表される繰り返し単位〔3〕を含有する重合体ブロック〔B〕とを有し、前記重合体ブロック〔A〕中の繰り返し単位〔1〕のモル分率a(モル%)と前記重合体ブロック〔B〕中の繰り返し単位〔1〕のモル分率b(モル%)との関係がa>bであるブロック重合体からなる樹脂であることを特徴とする光学素子。
- 請求項1または2に記載の光学素子において、前記光軸方向の長さが0.7〜1.5mmであり、前記樹脂のガラス転移温度(JIS K7121に基づく示差走査熱量分析法により昇温速度10℃/minで測定された温度)より20〜30℃低い温度で15時間以上熱処理または湿熱処理されていることを特徴とする光学素子。
- 請求項1または2に記載の光学素子において、前記光軸方向の長さが1.6〜2.5mmであり、前記樹脂のガラス転移温度(JIS K7121に基づく示差走査熱量分析法により昇温速度10℃/minで測定された温度)より10〜15℃低い温度で15時間以上熱処理または湿熱処理されていることを特徴とする光学素子。
- 請求項1〜4のいずれか1項に記載の光学素子において、前記熱処理または湿熱処理の処理時間が150時間以上であることを特徴とする光学素子。
- 請求項1〜5のいずれか1項に記載の光学素子において、前記熱処理または湿熱処理が湿熱処理であり、該湿熱処理での処理温度における相対湿度が40〜80%であることを特徴とする光学素子。
- 請求項6に記載の光学素子において、前記相対湿度が55〜65%であることを特徴とする光学素子。
- 請求項1〜7のいずれか1項に記載の光学素子において、光ピックアップ装置の光ピックアップレンズとして用いられることを特徴とする光学素子。
- 請求項1〜8のいずれか1項に記載の光学素子の製造方法であって、前記脂環式構造を有する重合体からなる樹脂を金型に射出して成型し、成型後、該樹脂のガラス転移温度(JIS K7121に基づく示差走査熱量分析法により昇温速度10℃/minで測定された温度)より10〜30℃低い温度で15時間以上熱処理または湿熱処理することを特徴とする光学素子の製造方法。
- 請求項9に記載の光学素子の製造方法において、前記光軸方向の長さが0.7〜1.5mmであり、前記樹脂のガラス転移温度(JIS K7121に基づく示差走査熱量分析法により昇温速度10℃/minで測定された温度)で15時間以上熱処理または湿熱処理することを特徴とする光学素子の製造方法。
- 請求項9に記載の光学素子の製造方法において、前記光軸方向の長さが1.6〜2.5mmであり、前記樹脂のガラス転移温度(JIS K7121に基づく示差走査熱量分析法により昇温速度10℃/minで測定された温度)より10〜15℃低い温度で15時間以上熱処理または湿熱処理することを特徴とする光学素子の製造方法。
- 請求項9〜11のいずれか1項に記載の光学素子の製造方法において、前記熱処理または湿熱処理の処理時間が150時間以上であることを特徴とする光学素子の製造方法。
- 請求項9〜12のいずれか1項に記載の光学素子の製造方法において、前記熱処理または湿熱処理が湿熱処理であり、該湿熱処理での処理温度における相対湿度が40〜80%であることを特徴とする光学素子の製造方法。
- 請求項13に記載の光学素子の製造方法において、前記相対湿度が55〜65%であることを特徴とする光学素子の製造方法。
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