JP2009008799A - 表示装置およびその駆動方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】画素回路の規模を増大させずに、データ電圧の振幅を効率よく利用し、高い精度で閾値補正を行う表示装置を提供する。
【解決手段】閾値補正回路20内のスイッチ23をオンさせてデータ線Sjに初期電圧Viniを与え、画素回路10内のTFT11、13をオン、TFT12をオフさせると、センス線TSjの電位は(Vini−Vth)となる。このときスイッチ21をオンさせて、コンデンサ25に駆動用TFT14の閾値電圧Vthを保持する。次にスイッチ21〜23の状態を切り替えて、データ線Sjに電圧(Vdata+Vth)を印加し、TFT11〜13の状態を切り替える。TFT11オフ後に有機EL素子16に流れる電流の量は、駆動用TFT14のゲート端子電圧(Vdata+Vth)によって定まる。これにより、駆動用TFTの閾値電圧のばらつきを補償する。
【選択図】図2

Description

本発明は、表示装置に関し、より特定的には、有機ELディスプレイやFEDなどの電流駆動素子を用いた表示装置およびその駆動方法に関する。
近年、薄型、軽量、高速応答可能な表示装置の需要が高まり、これに伴い、有機EL(Electro Luminescence)ディスプレイやFED(Field Emission Display)に関する研究開発が活発に行われている。
有機ELディスプレイに含まれる有機EL素子は、印加される電圧が高く、流れる電流が多いほど、高い輝度で発光する。ところが、有機EL素子の輝度と電圧の関係は、駆動時間や周辺温度などの影響を受けて容易に変動する。このため、有機ELディスプレイに電圧制御型の駆動方式を適用すると、有機EL素子の輝度のばらつきを抑えることが非常に困難になる。これに対して、有機EL素子の輝度は電流にほぼ比例し、この比例関係は周辺温度などの外的要因の影響を受けにくい。したがって、有機ELディスプレイには電流制御型の駆動方式を適用することが好ましい。
一方、表示装置の画素回路や駆動回路は、アモルファスシリコン、低温多結晶シリコン、CG(Continuous Grain)シリコンなどで構成されたTFT(Thin Film Transistor:薄膜トランジスタ)を用いて構成される。ところが、TFTの特性(例えば、閾値電圧や移動度)には、ばらつきが生じやすい。そこで、有機ELディスプレイの画素回路にはTFTの特性のばらつきを補償する回路が設けられ、この回路の作用により有機EL素子の輝度のばらつきが抑えられる。
電流駆動型の駆動方式においてTFTの特性のばらつきを補償する方式は、駆動用TFTに流れる電流の量を電流信号で制御する電流プログラム方式と、この電流の量を電圧信号で制御する電圧プログラム方式とに大別される。電流プログラム方式を用いれば閾値電圧と移動度のばらつきを補償することができ、電圧プログラム方式を用いれば閾値電圧のばらつきのみを補償することができる。
ところが、電流プログラム方式には、第1に、非常に微少な量の電流を扱うので画素回路や駆動回路の設計が困難である、第2に、電流信号を設定する間に寄生容量の影響を受けやすいので大面積化が困難であるという問題がある。これに対して、電圧プログラム方式では、寄生容量などの影響は軽微であり、回路設計も比較的容易である。また、移動度のばらつきが電流量に与える影響は、閾値電圧のばらつきが電流量に与える影響よりも小さく、移動度のばらつきはTFT作製工程である程度抑えることができる。したがって、電圧プログラム方式を適用した表示装置でも、十分な表示品位が得ることができる。
電流駆動型の駆動方式を適用した有機ELディスプレイについては、従来から、以下に示す画素回路が知られている。図13は、特許文献1に記載された画素回路の回路図である。図13に示す画素回路90は、駆動用TFT91、スイッチ用TFT92〜94、コンデンサ95、96、および、有機EL素子97(OLED:Organic Light Emitting Diodeともいう)を備えている。画素回路90に含まれるTFTは、いずれもPチャネル型である。
画素回路90では、電源配線Vp(電位はVDD)と共通陰極(GND)との間に、駆動用TFT91、スイッチ用TFT94および有機EL素子97が、この順序で直列に設けられている。駆動用TFT91のゲート端子とデータ線Sjとの間には、コンデンサ95とスイッチ用TFT92がこの順序で直列に設けられている。駆動用TFT91のゲート端子とドレイン端子との間にはスイッチ用TFT93が設けられ、駆動用TFT91のゲート端子と電源配線Vpとの間にはコンデンサ96が設けられている。スイッチ用TFT92、93、94のゲート端子は、それぞれ、走査線Gi、オートゼロ線AZiおよび照明線ILiに接続されている。
図14は、画素回路90に対するデータ書き込み時のタイミングチャートである。時刻t0より前では、走査線Giとオートゼロ線AZiの電位はハイレベルに、照明線ILiの電位はローレベルに、データ線Sjの電位は基準電位Vstdに制御される。時刻t0において走査線Giの電位がローレベルに変化すると、スイッチ用TFT92がオン状態に変化する。次に時刻t1においてオートゼロ線AZiの電位がローレベルに変化すると、スイッチ用TFT93がオン状態に変化する。これにより、駆動用TFT91のゲート端子とドレイン端子は同電位となる。
次に時刻t2において照明線ILiの電位がハイレベルに変化すると、スイッチ用TFT94がオフ状態に変化する。このとき、電源配線Vpから駆動用TFT91とスイッチ用TFT93を経由して駆動用TFT91のゲート端子に電流が流れ込み、駆動用TFT91のゲート端子電位は駆動用TFT91がオン状態である間は上昇する。駆動用TFT91は、ゲート−ソース間電圧が閾値電圧Vth(負の値)になる(すなわち、ゲート端子電位が(VDD+Vth)になる)と、オフ状態に変化する。したがって、駆動用TFT91のゲート端子電位は(VDD+Vth)まで上昇する。
次に時刻t3においてオートゼロ線AZiの電位がハイレベルに変化すると、スイッチ用TFT93がオフ状態に変化する。このときコンデンサ95には、駆動用TFT91のゲート端子とデータ線Sjとの電位差(VDD+Vth−Vstd)が保持される。
次に時刻t4においてデータ線Sjの電位が基準電位Vstdからデータ電位Vdataに変化すると、駆動用TFT91のゲート端子電位は、同じ量(Vdata−Vstd)だけ変化して(VDD+Vth+Vdata−Vstd)となる。次に時刻t5において走査線Giの電位がハイレベルに変化すると、スイッチ用TFT92がオフ状態に変化する。このときコンデンサ96には、駆動用TFT91のゲート−ソース間電圧(Vth+Vdata−Vstd)が保持される。次に時刻t6において、データ線Sjの電位がデータ電位Vdataから基準電位Vstdに変化する。
次に時刻t7において照明線ILiの電位がローレベルに変化すると、スイッチ用TFT94がオン状態に変化する。これにより、電源配線Vpから駆動用TFT91とスイッチ用TFT94を経由して有機EL素子97に電流が流れる。駆動用TFT91を流れる電流の量はゲート端子電位(VDD+Vth+Vdata−Vstd)に応じて増減するが、閾値電圧Vthが異なっていても電位差(Vdata−Vstd)が同じであれば電流量は同じである。したがって、閾値電圧Vthの値にかかわらず、有機EL素子97には電位Vdataに応じた量の電流が流れ、有機EL素子97はデータ電位Vdataに応じた輝度で発光する。
国際公開第98/48403号パンフレット
上述したように、図13に示す画素回路90を用いれば、駆動用TFT91の閾値電圧のばらつきを補償し、有機EL素子97を所望の輝度で発光させることができる。しかしながら、画素回路90には以下に示す問題点がある。
第1の問題点は、表示信号出力回路のダイナミックレンジ(データ電圧の振幅)を効率よく利用できないことである。画素回路90では、容量カップリングによるデータ書き込みが行われるので、画素回路の外部からあるデータ電圧を書き込んでも、オーバードライブ電圧として実際に駆動用TFTに印加される電圧は、そのCc/(Cc+Cs+Cgs)倍になる(ただし、Ccはコンデンサ95の容量、Csはコンデンサ96の容量、Cgsは駆動用TFT91のゲート−ソース間容量)。このようにデータ電圧の振幅を効率よく利用できないので、データドライバ回路の消費電力が増大する。カップリング容量Ccを極めて大きくすれば、データ電圧の振幅を効率よく利用できるが、そうすると画素回路の面積が増大する。また、高い精度で制御できない寄生容量Cgsが駆動電圧に影響を及ぼすことも問題となる。
第2の問題点は、画素回路の規模が大きくなることである。上述したように、寄生容量対策としてカップリング容量Ccを大きくすると、画素回路のレイアウトにおいてコンデンサ95の占める面積が大きくなる。このため、光を基板下部から取り出すボトムエミッション構成の有機ELディスプレイでは、開口率が低下する。また、回路面積の増大は製造時の歩留まり低下の要因になるので、画素回路の面積や素子数を削減する必要がある。
第3の問題点は、閾値補正の精度が低いことである。上述したように、実際の駆動電圧は外部から与えた電圧のCc/(Cc+Cs+Cgs)倍になるので、閾値補正の効果もCc/(Cc+Cs+Cgs)倍になる。このため、閾値電圧を完全に補正することは困難である。
それ故に、本発明は、画素回路の規模を増大させずに、データ電圧の振幅を効率よく利用し、高い精度で閾値補正を行う表示装置を提供することを目的とする。
第1の発明は、電流駆動型の表示装置であって、
複数の走査線と複数のデータ線との各交差点に対応して配置され、それぞれが電気光学素子と、制御端子がスイッチング素子を介して前記データ線に接続された駆動素子とを含み、前記駆動素子の閾値電圧をセンス線に出力する機能を有する複数の画素回路と、
前記走査線を用いて書き込み対象の画素回路を選択すると共に、選択した画素回路から前記センス線に前記閾値電圧が出力されるように制御する走査信号出力回路と、
表示データに対応したデータ電圧に前記センス線に出力された閾値電圧を加算または減算した電圧を前記データ線に印加する走査信号出力回路とを備える。
第2の発明は、第1の発明において、
前記画素回路は、
前記駆動素子の制御端子と一方の導通端子とに接続された容量をさらに含み、
前記駆動素子に対する電源供給を遮断したときに、前記容量に接続された導通端子を前記センス線に接続することを特徴とする。
第3の発明は、第1の発明において、
前記電気光学素子および前記駆動素子は、前記画素回路内で第1および第2の電源配線間に直列に設けられており、
前記画素回路は、
前記駆動素子の制御端子と一方の導通端子とに接続された容量と、
前記駆動素子の制御端子と前記データ線に接続された第1のスイッチング素子と、
前記駆動素子の一方の導通端子と前記第1の電源配線とに接続された第2のスイッチング素子と、
前記容量に接続された導通端子と前記センス線とに接続された第3のスイッチング素子とをさらに含むことを特徴とする。
第4の発明は、第3の発明において、
前記画素回路は、前記駆動素子の制御端子と前記第1の電源配線以下の電位を有する第3の電源配線とに接続された第4のスイッチング素子をさらに含み、
前記第1のスイッチング素子がオフ状態である期間の一部において、前記第4のスイッチング素子がオン状態になることを特徴とする。
第5の発明は、第3の発明において、
前記駆動素子および前記第1〜第3のスイッチング素子は薄膜トランジスタであり、
前記第2および第3のスイッチング素子のうち一方はPチャネル型、他方はNチャネル型であり、両者の制御端子は共通の走査線に接続されていることを特徴とする。
第6の発明は、第1の発明において、
前記データ線のそれぞれに対応して、前記センス線が複数設けられていることを特徴とする。
第7の発明は、複数の走査線と複数のデータ線との各交差点に対応して配置され、それぞれが電気光学素子と、制御端子がスイッチング素子を介して前記データ線に接続された駆動素子とを含み、前記駆動素子の閾値電圧をセンス線に出力する機能を有する複数の画素回路を備えた表示装置の駆動方法であって、
前記走査線を用いて書き込み対象の画素回路を選択すると共に、選択した画素回路から前記センス線に前記閾値電圧が出力されるように制御するステップと、
表示データに対応したデータ電圧に前記センス線に出力された閾値電圧を加算または減算した電圧を前記データ線に印加するステップとを備える。
上記第1または第7の発明によれば、選択された画素回路から駆動素子の閾値電圧を読み出し、データ電圧に閾値電圧を加算または減算した電圧を駆動素子の制御端子に与えることができる。したがって、駆動素子の閾値電圧を検出して閾値電圧のばらつきを補償し、電気光学素子を所望の輝度で発光させることができる。また、閾値補正回路を画素回路の外部に設けることにより、画素回路の規模を小さくすることができる。また、閾値電圧を電圧信号として検出することにより、電流信号を帰還する場合とは異なり電流電圧変換素子が不要になるので、補正効果のばらつきを抑えることができる。また、検出した閾値電圧をデータ電圧にそのまま加算または減算することにより、高い精度で閾値補正を行うことができる。また、カップリング容量を介さずに駆動素子の制御端子に所望の電圧を与えられるので、データ電圧の振幅を有効に利用し、消費電力を低減することができる。
上記第2の発明によれば、駆動素子の閾値電圧を正確に検出する画素回路を小さな回路規模で実現することができる。
上記第3の発明によれば、少数の素子を用いて画素回路を構成することにより、表示装置の歩留まりを高くすることができる。
上記第4の発明によれば、駆動素子の閾値電圧を検出するときにセンス線に一定の電位を与えることにより、閾値電圧を高い精度で検出し、閾値補正の精度を高くすることができる。
上記第5の発明によれば、第2および第3のスイッチング素子は排他的にオン状態になるので、駆動素子の閾値電圧をセンス線に出力する機能を有する表示装置を、走査線を削減して構成することができる。
上記第6の発明によれば、駆動素子の閾値電圧を読み出すときに複数のセンス線を用いることにより、閾値電圧の検出期間を長くし、閾値補正の精度を高くすることができる。
図1〜図12を参照して、本発明の第1〜第5の実施形態に係る表示装置について説明する。以下に示す表示装置は、電気光学素子や複数のスイッチング素子を含む画素回路を備えている。画素回路に含まれるスイッチング素子は、低温ポリシリコンTFTやCGシリコンTFTやアモルファスシリコンTFTなどで構成することができる。これらTFTの構成や作成プロセスは公知であるため、ここではその説明を省略する。また、画素回路に含まれる電気光学素子は、有機EL素子であるとする。有機EL素子の構成も公知であるので、ここではその説明を省略する。以下、第1〜第5の実施形態に共通する表示装置の全体構成について説明し、その後に各実施形態に係る表示装置の画素回路と閾値補正回路について説明する。
(表示装置の全体構成)
図1は、本発明の第1〜第5の実施形態に係る表示装置の構成を示すブロック図である。図1に示す表示装置1は、(m×n)個の画素回路Aij(ただし、mおよびnは2以上の整数、iは1以上n以下の整数、jは1以上m以下の整数)、表示制御回路2、ゲートドライバ回路3、および、ソースドライバ回路4を備えている。ゲートドライバ回路3は走査信号出力回路として機能し、ソースドライバ回路4は表示信号出力回路として機能する。
表示装置1には、互いに平行なn本の走査線Giと、これに直交する互いに平行なm本のデータ線Sjとが設けられる。画素回路Aijは、走査線Giとデータ線Sjの各交差点に対応してマトリクス状に配置されている。また、互いに平行なn本の制御線Riが走査線Giと平行に配置され、互いに平行なm本のセンス線TSjがデータ線Sjと平行に配置されている。走査線Giと制御線Riはゲートドライバ回路3に接続され、データ線Sjとセンス線TSjはソースドライバ回路4に接続される。さらに、画素回路Aijの配置領域には、図示しない電源配線Vp(電位はVDD)と共通陰極Vcomが配置されている。電源配線Vpは第1の電源配線に相当し、共通陰極Vcomは第2の電源配線に相当する。なお、共通陰極Vcomに代えて、陰極配線CAiを配置してもよい。
表示制御回路2は、ゲートドライバ回路3に対して出力イネーブル信号OE、スタートパルスYIおよびクロックYCKを出力し、ソースドライバ回路4に対してスタートパルスSP、クロックCLK、表示データDA、および、ラッチパルスLPを出力する。また、表示制御回路2は、閾値補正回路9に接続されるa本(aは1以上の整数)の制御線SCAN1〜SCANaの電位を制御する。
ゲートドライバ回路3は、シフトレジスタ回路、論理演算回路、および、バッファ(いずれも図示せず)を含んでいる。シフトレジスタ回路は、クロックYCKに同期してスタートパルスYIを順次転送する。論理演算回路は、シフトレジスタ回路の各段から出力されたパルスと出力イネーブル信号OEとの間で論理演算を行う。論理演算回路の出力は、バッファを経由して、対応する走査線Giと制御線Riに与えられる。1本の走査線Giにはm個の画素回路Aijが接続されており、画素回路Aijは走査線Giを用いてm個ずつ一括して選択される。
ソースドライバ回路4は、mビットのシフトレジスタ5、レジスタ6、ラッチ7、m個のD/A変換器8、および、m個の閾値補正回路9を含み、1行分の画素回路Aijにデータを同じタイミングで送信する線順次走査を行う。より詳細には、シフトレジスタ5は、縦続接続されたm個のレジスタを有し、初段のレジスタに供給されたスタートパルスSPをクロックCLKに同期して転送し、各段のレジスタからタイミングパルスDLPを出力する。タイミングパルスDLPの出力タイミングに合わせて、レジスタ6には表示データDAが供給される。レジスタ6は、タイミングパルスDLPに従い、表示データDAを記憶する。レジスタ6に1行分の表示データDAが記憶されると、表示制御回路2はラッチ7に対してラッチパルスLPを出力する。ラッチ7は、ラッチパルスLPを受け取ると、レジスタ6に記憶された表示データを保持する。
D/A変換器8と閾値補正回路9は、データ線Sjに対応して設けられる。D/A変換器8は、ラッチ7に保持された表示データをアナログ信号電圧に変換し、対応する閾値補正回路9に出力する。閾値補正回路9は、データ線Sjとセンス線TSjに接続されている。センス線TSjには、ゲートドライバ回路3によって選択された画素回路Aijから、駆動用TFTの閾値電圧が出力される。閾値補正回路9は、センス線TSjに出力された電圧に基づき、D/A変換器8の出力電圧に駆動用TFTの閾値電圧を加算または減算した電圧をデータ線Sjに印加する。閾値補正回路9の作用により、画素回路Aijに含まれる駆動用TFTの閾値電圧のばらつきを補償することができる(詳細は後述)。
なお、ソースドライバ回路4は、線順次走査に代えて、各画素回路に1つずつ順にデータを送信する点順次走査を行ってもよい。点順次走査を行うときには、ある走査線Giが選択されている間、データ線Sjの電圧はデータ線Sjの容量によって保持される。点順次走査を行うソースドライバ回路の構成は公知であるので、ここでは説明を省略する。
(第1の実施形態)
図2は、本発明の第1の実施形態に係る表示装置に含まれる画素回路と閾値補正回路の回路図である。図2に示す画素回路10と閾値補正回路20は、図1では画素回路Aijと閾値補正回路9に相当する。画素回路10は、スイッチ用TFT11〜13、駆動用TFT14、コンデンサ15、および、有機EL素子16を備えている。スイッチ用TFT11、13はNチャネル型、スイッチ用TFT12と駆動用TFT14はPチャネル型である。
画素回路10は、電源配線Vp、共通陰極Vcom、走査線Gi、制御線Ri、データ線Sj、および、センス線TSjに接続されている。共通陰極Vcomは、表示装置内のすべての有機EL素子16の共通電極となる。画素回路10では、電源配線Vpと共通陰極Vcomを結ぶ経路上に、電源配線Vp側から順に、スイッチ用TFT12、駆動用TFT14、および、有機EL素子16が直列に設けられている。駆動用TFT14のゲート端子とデータ線Sjの間には、スイッチ用TFT11が設けられている。スイッチ用TFT11と駆動用TFT14の接続点を節点A、スイッチ用TFT12と駆動用TFT14の接続点を節点Bという。節点Aと節点Bの間にはコンデンサ15が設けられ、節点Bとセンス線TSjの間にはスイッチ用TFT13が設けられている。スイッチ用TFT11のゲート端子は走査線Giに接続され、スイッチ用TFT12、13のゲート端子は制御線Riに接続されている。走査線Giと制御線Riの電位はゲートドライバ回路3によって制御され、データ線Sjの電位はソースドライバ回路4によって制御される。
閾値補正回路20は、スイッチ21〜24、コンデンサ25、および、アナログバッファ26を備えている。スイッチ21〜24はいずれもNチャネル型のトランジスタであり、アナログバッファ26はボルテージホロワ回路(ユニティゲインアンプ)である。センス線TSjはスイッチ21、24の一端に接続され、スイッチ21の他端にはスイッチ22の一端とコンデンサ25の一方の電極が接続されている。コンデンサ25の他方の電極には、スイッチ23の一端とアナログバッファ26が接続されている。スイッチ22の他端にはD/A変換器8から出力されたデータ電圧Vdataが与えられ、スイッチ23の他端には初期電圧Viniが与えられ、スイッチ24の他端にはViniよりも高く、VDD以下の予備電圧ViniHが与えられる。閾値補正回路20は2本の制御線SCAN1、SCAN2を用いて制御される。スイッチ21、23のゲート端子は制御線SCAN1に接続され、スイッチ22、24のゲート端子は制御線SCAN2に接続されている。
図3は、画素回路10に対するデータ書き込み時のタイミングチャートである。以下、図3を参照して、走査線Giとデータ線Sjに接続された画素回路10にデータ電圧Vdataを書き込むときの動作を説明する。図3では、時刻t0から時刻t2までが画素回路10の選択期間となる。時刻t0から時刻t1では駆動用TFT14の閾値電圧を検知する処理が行われ、時刻t1から時刻t2では補正後のデータ電圧を書き込む処理が行われる。以下、駆動用TFT14の閾値電圧をVth(負の値)とし、スイッチ21とコンデンサ25の接続点を節点C、スイッチ23とコンデンサ25の接続点を節点Dという。
時刻t0より前では、走査線Giと制御線Riの電位はローレベルに制御され、スイッチ用TFT11、13はオフ状態、スイッチ用TFT12はオン状態にある。このとき、コンデンサ15には前回のデータ書き込み時に与えられた電荷が蓄積されており、駆動用TFT14はオン状態にある。このため、電源配線Vpからスイッチ用TFT12と駆動用TFT14を経由して有機EL素子16に電流が流れ、有機EL素子16は発光する。
時刻t0において走査線Giと制御線Riの電位がハイレベルに変化すると、スイッチ用TFT11、13はオン状態、スイッチ用TFT12はオフ状態に変化する。時刻t0から時刻t1では、データ線Sjの電位はViniであるので(理由は後述)、節点Aの電位もViniとなる。
時刻t0以降、コンデンサ15に蓄積されていた電荷は駆動用TFT14と有機EL素子16を経由して放電され、節点Bの電位は駆動用TFT14がオン状態である間は下降する。駆動用TFT14は、ゲート−ソース間電圧が閾値電圧Vthになる(すなわち、節点Bの電位が(Vini−Vth)になる)と、オフ状態に変化する。したがって、節点Bの電位は(Vini−Vth)まで下降する。このときスイッチ用TFT13はオン状態であるので、センス線TSjの電位も(Vini−Vth)まで下降する。閾値補正回路20は、以下に示すように、センス線TSjに出力された電位(Vini−Vth)に基づき動作する。
制御線SCAN1の電位は、時刻t0から時刻t1ではハイレベルに、時刻t1から時刻t2ではローレベルに制御される。制御線SCAN2の電位は、時刻t0から時刻t1ではローレベルに、時刻t1から時刻t2ではハイレベルに制御される。このため、時刻t0から時刻t1では、スイッチ21、23はオン状態、スイッチ22、24はオフ状態となり、時刻t1から時刻t2ではその逆になる。
時刻t0から時刻t1では、スイッチ23はオン状態であるので、節点Dの電位はViniとなり、データ線Sjの電位もViniとなる。このときスイッチ21はオン状態であるので、節点Cの電位はセンス線TSjの電位と同じく(Vini−Vth)となる。
時刻t1において、スイッチ21がオフ状態、スイッチ22がオン状態に変化すると、節点Cの電位は(Vini−Vth)からVdataに変化する。コンデンサ25に蓄積された電荷の量は時刻t1の前後で変化しないので、節点Dの電位は節点Cの電位と同じ量(Vdata−Vini+Vth)だけ変化して(Vdata+Vth)となる。このとき、データ線Sjの電位も(Vdata+Vth)となる。
時刻t1において、制御線Riの電位がローレベルに変化すると、スイッチ用TFT12はオン状態、スイッチ用TFT13はオフ状態に変化する。また、時刻t1において、スイッチ24がオン状態に変化すると、センス線TSjの電位はViniHとなる。なお、予備電圧ViniHは、時刻t1の前後でセンス線TSjの電位がほぼ同じになる(すなわち、ViniH≒(Vini−Vth)となる)ように決定することが好ましい。
時刻t1以降も、走査線Giの電位はハイレベルであるので、スイッチ用TFT11はオン状態を保つ。このため、節点Aの電位は、データ線Sjの電位と同じく(Vdata+Vth)となる。制御線Riに与えられるオン電位(ローレベル電位)は、スイッチ用TFT12が深い線形領域で動作するように決定される。スイッチ用TFT12における電圧降下を無視すると、節点Bの電位はVDDとなる。
時刻t2において、走査線Giの電位がローレベルに変化すると、スイッチ用TFT11はオフ状態に変化する。このときコンデンサ15には、節点Aと節点Bの間の電位差(VDD−Vdata−Vth)が保持される。時刻t2以降、コンデンサ15に保持された電圧は変化しないので、節点Aの電位は(Vdata+Vth)のままである。したがって、時刻t2以降、次に同じ画素回路10に対するデータ書き込みが行われるまで、電源配線Vpからスイッチ用TFT12と駆動用TFT14を経由して有機EL素子16に電流が流れ、有機EL素子16は発光する。このとき駆動用TFT14を流れる電流の量は節点Aの電位(Vdata+Vth)に応じて増減するが、以下に示すように、閾値電圧Vthが異なっていてもデータ電圧Vdataが同じであれば電流量は同じになる。
駆動用TFT14を飽和領域で動作させたとき、ドレイン−ソース間を流れる電流IELは、深い線形領域で動作するスイッチ用TFT12における電圧降下を無視すれば、次式(1)で与えられる。
EL=1/2・W/L・Cox・μ(VDD−Vg+Vth)2 …(1)
ただし、上式(1)において、W/Lは駆動用TFT14のアスペクト比、Coxはゲート容量、μは移動度、Vgはゲート端子電位(節点Aの電位)である。
式(1)に示す電流IELは、閾値電圧Vthに応じて変動する。本実施形態に係る表示装置では、ゲート端子電位Vgが(Vdata+Vth)となるので、電流IELは次式(2)に示すようになる。
EL=1/2・W/L・Cox・μ(VDD−Vdata)2 …(2)
式(2)に示す電流IELは、閾値電圧Vthには依存しない。したがって、閾値電圧Vthの値にかかわらず、有機EL素子16にはデータ電圧Vdataに応じた量の電流が流れ、有機EL素子16はデータ電圧Vdataに応じた輝度で発光する。本実施形態に係る表示装置では、閾値補正は閾値補正回路20で行われるが、閾値補正回路20に複雑な論理回路やメモリなどを設ける必要がない。
以下、アナログバッファ26について説明する。データ線Sjの容量がコンデンサ25の容量と比べて無視できる程度に小さい場合には、閾値補正回路20にアナログバッファ26を設ける必要はない。一方、数インチ以上の表示パネルでは、データ線Sjの容量は数pF以上になる場合が多いので、このような場合にはアナログバッファ26を設ける必要がある。この場合、アナログバッファ26としてボルテージホロワ回路(ユニティゲインアンプ)を用いれば、回路規模の増大を最小限に抑えながら駆動能力を高めることができる。
また、アナログバッファ26に一般的な差動増幅器を用いた場合、差動対を形成するトランジスタの特性がばらつき、アナログバッファ26の特性がばらつくことがある。このようなばらつきが発生すると、表示画面には筋状のむらが現れ、表示品位が低下する。そこで、この不具合を防止するためには、アナログバッファ26を表示パネル上に形成せずに、表示パネル外の周辺ICに内蔵すればよい。周辺ICに内蔵される回路は、典型的には単結晶シリコンによるトランジスタで形成される。したがって、周辺ICに内蔵すれば、特性のばらつきが極めて小さいアナログバッファ26を得ることができる。
また、上記の不具合を防止するために、アナログバッファ26として、オフセットキャンセル機能を有するバッファ(図4を参照)を用いてもよい。図4(a)に示すバッファでは、差動増幅器31の正側入力端子、負側入力端子および出力端子は、それぞれ、バッファの入力端子、コンデンサ32の一方の電極、および、バッファの出力端子に接続されている。コンデンサ32の他方の電極とバッファの入力端子との間には、スイッチ33が設けられている。差動増幅器31の負側入力端子と出力端子との間には、スイッチ34が設けられている。コンデンサ32の他方の電極と差動増幅器31の出力端子との間には、スイッチ35が設けられている。スイッチ33、34は制御信号SC_Aによって制御され、スイッチ35は制御信号SC_Bによって制御される。
制御信号SC_A、SC_Bは、図4(b)に示すように排他的にスイッチをオン状態にするレベル(ここでは、ハイレベルとする)になる。制御信号SC_Aがハイレベルである間(図4(c)を参照)、スイッチ33、34はオン状態、スイッチ35はオフ状態となる。このとき、差動増幅器31の正側入力端子と負側入力端子の間には、差動増幅器31のオフセット電圧Voffが現れる。オフセット電圧Voffは、コンデンサ32に保持される。
制御信号SC_Bがハイレベルである間(図4(d)を参照)、スイッチ33、34はオフ状態、スイッチ35はオン状態となる。これに伴い、差動増幅器31の負側入力電圧はオフセット電圧Voffだけ変化し、差動増幅器31の出力電圧(バッファの出力電圧)も同じ量だけ変化して入力電圧Vinに等しくなる。このように、図4(a)に示すバッファを用いれば、差動増幅器31のオフセット電圧をキャンセルすることができる。なお、オフセットキャンセル機能を有するバッファを表示パネル外の周辺ICに内蔵してもよい。
以上に示すように、本実施形態に係る表示装置は、駆動用TFT14の閾値電圧Vthをセンス線TSjに出力する機能を有する画素回路10と、走査線Giを用いて書き込み対象の画素回路10を選択すると共に、選択した画素回路10からセンス線TSjに駆動用TFT14の閾値電圧Vthが出力されるように制御するゲートドライバ回路3と、データ電圧Vdataからセンス線TSjに出力された閾値電圧Vthの絶対値を減算した電圧(Vdata+Vth)をデータ線Sjに印加するソースドライバ回路4を備えている。
したがって、本実施形態に係る表示装置によれば、ゲートドライバ回路3によって選択された画素回路10から駆動用TFT14の閾値電圧Vthを読み出し、電圧(Vdata+Vth)を駆動用TFT14のゲート端子に与えることができる。一般に、Pチャネル型の駆動用TFTでは、閾値電圧の絶対値を減算した電圧をゲート端子に与えれば、閾値電圧のばらつきを補償することができる。よって、本実施形態に係る表示装置によれば、駆動用TFT14の閾値電圧を検出して閾値電圧のばらつきを補償し、有機EL素子16を所望の輝度で発光させることができる。
また、閾値補正回路20を画素回路の外部に設け、センス線TSjを用いて閾値電圧を検出することにより、画素回路10の規模を縮小することができる。また、閾値電圧を電圧信号として検出することにより、電流信号を帰還する場合とは異なり電流電圧変換素子が不要になるので、補正効果のばらつきを抑えることができる。また、検出した閾値電圧Vthをデータ電圧Vdataにそのまま加算することにより、高い精度で閾値補正を行うことができる。また、カップリング容量を介さずに駆動用TFT14のゲート端子に所望の電圧を与えられるので、データ電圧Vdataの振幅を有効に利用し、消費電力を低減することができる。
また、画素回路10は、駆動用TFT14のゲート端子とドレイン端子に接続されたコンデンサ15を含み、スイッチ用TFT12をオフ状態にして駆動用TFT14に対する電源供給を遮断したときに、駆動用TFT14のドレイン端子(駆動用TFT14の導通端子のうち、コンデンサ15に接続されたほう)をセンス線TSjに接続する。これにより、駆動用TFT14の閾値電圧を正確に検出する画素回路を小さな回路規模で実現することができる。また、図2に示す画素回路10を用いることにより、少数の素子を用いて画素回路を構成し、表示装置の歩留まりを高くすることができる。
(第2の実施形態)
図5は、本発明の第2の実施形態に係る表示装置に含まれる画素回路と閾値補正回路の回路図である。第2の実施形態に係る表示装置は、図1から制御線Riを除いた構成を有する。画素回路Aijの配置領域には、初期電圧Viniが印加された電源配線(図示せず。以下、第3の電源配線という)がさらに配置されている。図5に示す画素回路40と閾値補正回路50は、図1では画素回路Aijと閾値補正回路9に相当する。以下に示す各実施形態では、各実施形態の構成要素のうち第1の実施形態と同一の要素については、同一の参照符号を付して説明を省略する。
画素回路40は、第1の実施形態に係る画素回路10に対して、スイッチ用TFT41を追加し、スイッチ用TFT12、13のゲート端子を走査線Gi−1(走査線Giの1本上に配置された走査線)に接続する変更を施したものである。スイッチ用TFT41は、Nチャネル型である。スイッチ用TFT41は、節点Aと第3の電源配線(電位はVini)に接続されている。スイッチ用TFT41のゲート端子は、スイッチ用TFT12、13のゲート端子と共に走査線Gi−1に接続されている。
閾値補正回路50は、スイッチ51a〜b、52a〜b、53a〜b、54a〜b、55、コンデンサ56、57、および、アナログバッファ26を備えている。閾値補正回路50に含まれる9個のスイッチは、いずれもNチャネル型のトランジスタである。センス線TSjはスイッチ51a、54a、55の一端に接続されている。スイッチ51aの他端にはスイッチ52aの一端とコンデンサ56の一方の電極が接続されている。コンデンサ56の他方の電極にはスイッチ51b、52bの一端が接続されている。スイッチ52aの他端にはD/A変換器8から出力されたデータ電圧Vdataが与えられ、スイッチ51bの他端には初期電圧Viniが与えられ、スイッチ52bの他端にはアナログバッファ26が接続されている。スイッチ53a〜b、54a〜b、および、コンデンサ57の接続形態もこれと同様である。スイッチ55の他端には、予備電圧ViniHが与えられる。
閾値補正回路50は、5本の制御線SCAN1〜SCAN5を用いて制御される。スイッチ51a〜bのゲート端子は制御線SCAN1に接続され、スイッチ52a〜bのゲート端子は制御線SCAN2に接続され、スイッチ53a〜bのゲート端子は制御線SCAN3に接続され、スイッチ54a〜bのゲート端子は制御線SCAN4に接続され、スイッチ55のゲート端子は制御線SCAN5に接続されている。
図6は、画素回路40に対するデータ書き込み時のタイミングチャートである。以下、図6を参照して、走査線Giとデータ線Sjに接続された画素回路40にデータ電圧Vdataを書き込むときの動作を説明する。図6では、時刻t4から時刻t6までが画素回路40の選択期間となり、時刻t0から時刻t2までが1つ上の画素回路の選択期間となる。時刻t0から時刻t2では駆動用TFT14の閾値電圧を検知する処理が行われ、時刻t4から時刻t6では補正後のデータ電圧を書き込む処理が行われる。以下、駆動用TFT14の閾値電圧をVth(負の値)とし、スイッチ51aとコンデンサ56の接続点を節点C、スイッチ51bとコンデンサ56の接続点を節点D、スイッチ54aとコンデンサ57の接続点を節点E、スイッチ54bとコンデンサ57の接続点を節点Fという。
走査線Gi−1の電位は、時刻t0から時刻t2ではハイレベル、それ以外ではローレベルに制御される。走査線Giの電位は、時刻t4から時刻t6ではハイレベル、それ以外ではローレベルに制御される。制御線SCAN1の電位は、時刻t1でハイレベルからローレベルに変化する。制御線SCAN2の電位は、時刻t3でローレベルからハイレベルに変化し、時刻t6でローレベルに変化する。制御線SCAN3の電位は、時刻t2でハイレベルからローレベルに変化する。制御線SCAN4の電位は、時刻t3でローレベルからハイレベルに変化し、時刻t5でローレベルに変化する。制御線SCAN5の電位は、時刻t0でハイレベルからローレベルに変化し、時刻t3でハイレベルに変化し、時刻t4でローレベルに変化する。画素回路40に含まれる4個のスイッチ用TFTと閾値補正回路50に含まれる9個のスイッチは、これら信号線の電位に応じて、オン状態またはオフ状態となる。
時刻t0から時刻t2では、スイッチ用TFT11、12はオフ状態、スイッチ用TFT13、41はオン状態となる。このため、節点Aの電位はViniとなり、時刻t1では節点Bおよびセンス線TSjの電位は(Vini−Vth)となる。
時刻t0から時刻t1では、スイッチ51a、51bはオン状態、スイッチ52a、52bはオフ状態となる。このため、節点Dの電位はViniとなり、接点Cの電位はセンス線TSjnの電位と同じく(Vini−Vth)となる。時刻t1においてスイッチ51a、51bはオフ状態に変化し、時刻t3においてスイッチ52a、52bはオン状態に、スイッチ53bはオフ状態に変化する。このため、節点Cの電位は(Vini−Vth)からVdataに変化し、節点Dの電位は節点Cの電位と同じ量だけ変化して(Vdata+Vth)となる。時刻t3以降、データ線Sjの電位は(Vdata+Vth)となる。
時刻t4において、スイッチ用TFT11はオン状態に変化する。このとき、節点Aの電位は(Vdata+Vth)となる。時刻t6において、スイッチ用TFT11はオフ状態に変化する。このときコンデンサ15には、節点Aと節点Bの電位差(VDD−Vdata−Vth)が保持される。時刻t6以降、有機EL素子16は、閾値電圧Vthの値にかかわらず、データ電圧Vdataに応じた輝度で発光する。
時刻t3から時刻t6では、1つ下の画素回路に含まれる駆動用TFTの閾値電圧(以下、Vth’という)を検知する処理が行われる。より詳細には、時刻t3から時刻t4では、スイッチ55がオン状態となり、センス線TSjの電位はViniHとなる。時刻t5では、センス線TSjの電位は(Vini−Vth’)となる。時刻t4から時刻t5では、スイッチ53a、53bはオフ状態、スイッチ54a、54bはオン状態となる。このため、節点Fの電位はViniとなり、節点Eの電位はセンス線TSjの電位と同じく(Vini−Vth’)となる。コンデンサ57に保持された電位差は、1つ下の画素回路にデータ電圧を書き込むときに使用される。
第1の実施形態に係る表示装置は、駆動用TFTの閾値電圧を検出する処理を、画素回路の選択期間からデータ電圧の書き込み期間を引いた時間内に行う。このため、閾値電圧のばらつきが大きいときには、閾値電圧の検出期間が不足し、閾値電圧を正しく検出できないことがある。
これに対して、本実施形態に係る表示装置は、駆動用TFTの閾値電圧を検出する処理を1つ上の行の画素回路の選択期間内に行う。これにより、閾値電圧の検出期間を長くし、閾値補正の精度を高くすることができる。
また、本実施形態に係る表示装置は、画素回路40の内部に、駆動用TFT14のゲート端子と第3の電源配線に接続され、スイッチ用TFT11がオフ状態である期間の一部(ここでは、1つ上の行の画素回路の選択期間)でオン状態となるスイッチ用TFT41を備えている。これにより、駆動用TFT14の閾値電圧を検出するときにセンス線TSjに一定の電位を与えて、閾値電圧を高い精度で検出し、閾値補正の精度を高くすることができる。
(第3の実施形態)
図7は、本発明の第3の実施形態に係る表示装置に含まれる画素回路と閾値補正回路の回路図である。第3の実施形態に係る表示装置は、図1に対して走査線Giと平行なn本の制御線RiBを追加した構成を有する。図7に示す画素回路60と閾値補正回路20は、図1では画素回路Aijと閾値補正回路9に相当する。
画素回路60は、スイッチ用TFT61〜63、駆動用TFT64、コンデンサ15、および、有機EL素子16を備えている。画素回路60に含まれる4個のTFTは、いずれもNチャネル型である。画素回路60では、電源配線Vpと共通陰極Vcomを結ぶ経路上に、電源配線Vp側から順に、スイッチ用TFT62、駆動用TFT64、および、有機EL素子16が直列に設けられている。駆動用TFT64のゲート端子とデータ線Sjの間には、スイッチ用TFT61が設けられている。スイッチ用TFT61と駆動用TFT64の接続点を節点P、駆動用TFT64と有機EL素子16の接続点を節点Qという。節点Pと節点Qの間にはコンデンサ15が設けられ、節点Qとセンス線TSjの間にはスイッチ用TFT63が設けられている。スイッチ用TFT61〜63のゲート端子は、それぞれ、走査線Gi、制御線RiBおよび制御線Riに接続されている。走査線Giと制御線Ri、RiBの電位はゲートドライバ回路3によって制御され、データ線Sjの電位はソースドライバ回路4によって制御される。
図8は、画素回路60に対するデータ書き込み時のタイミングチャートである。図8に示すように、走査線Giおよび制御線Ri、SCAN1、SCAN2の電位は、図3と同じように変化する。制御線RiBの電位は、制御線Riの電位がローレベルのときにはハイレベル、制御線Riの電位がハイレベルのときにはローレベルとなる。本実施形態に係る表示装置は、第1の実施形態に係る表示装置と同様に動作し、同様の効果を奏する。なお、一般に、Nチャネル型の駆動用TFTでは、閾値電圧の絶対値を加算した電圧をゲート端子に与えれば、閾値電圧のばらつきを補償することができる。
(第4の実施形態)
図9は、本発明の第4の実施形態に係る表示装置に含まれる画素回路と閾値補正回路の回路図である。第4の実施形態に係る表示装置は、第1の実施形態に係る表示装置と同じ構成を有する。図9に示す画素回路70と閾値補正回路20は、図1では画素回路Aijと閾値補正回路9に相当する。画素回路70は、第3の実施形態に係る画素回路60に対して、スイッチ用TFT62を削除し、駆動用TFT64のドレイン端子を電源配線Vpに接続する変更を施したものである。
有機EL素子16には、印加電圧が所定レベル(発光開始電圧と呼ばれる)よりも低いときには、電流が流れず、発光しないという性質(ダイオード性)がある。本実施形態に係る表示装置では、初期電圧Viniは、駆動用TFT64の閾値電圧を検出している間に、有機EL素子16への印加電圧が発光開始電圧より低くなるように決定される。具体的には、有機EL素子16の閾値電圧Vth(正の値)を検出するときに、節点Qの電位は(Vini−Vth)となる。初期電圧Viniは、このときの節点Qと共通陰極Vcomの電位差が有機EL素子16の発光開始電圧よりも低くなるように決定される。
図10は、画素回路70に対するデータ書き込み時のタイミングチャートである。図10に示すように、走査線Giおよび制御線Ri、SCAN1、SCAN2の電位は、図3と同様に変化する。本実施形態に係る表示装置は、第1の実施形態に係る表示装置と同様に動作し、同様の効果を奏する。また、上記のように初期電圧Viniを決定すれば、駆動用TFT64の閾値電圧を検出している間、有機EL素子16にほとんど電流が流れない。したがって、スイッチ用TFT62を削除しても、駆動用TFT64の閾値電圧を検知し、閾値補正を行うことができる。
(第5の実施形態)
図11は、本発明の第5の実施形態に係る表示装置におけるセンス線の接続形態を示す図である。本実施形態に係る表示装置は、各データ線に対応して複数(ここでは、2本)のセンス線を備えている。図11において、画素回路80は上述した画素回路10、40、60、70などであり、スイッチ用TFT81は上述したスイッチ用TFT13、63などである。センス線TSj1、TSj2は、図1ではセンス線TSjに相当する。
第1の例(図11(a))では、2本のセンス線TSj1、TSj2は、画素回路80の1列分とほぼ同じ長さを有し、互いに平行に配置されている。奇数行目の画素回路80に含まれるスイッチ用TFT81のゲート端子はセンス線TSj1に接続され、偶数行目の画素回路80に含まれるスイッチ用TFT81のゲート端子はセンス線TSj2に接続されている。このように各データ線に対応して2本のセンス線TSj1、TSj2を設けることにより、画素回路80に含まれる駆動用TFTの閾値電圧の検出期間を長くすることができる。
第2の例(図11(b))では、2本のセンス線TSj1、TSj2は、画素回路80の1列分の半分とほぼ同じ長さを有し、同一直線上に配置されている。(m×n)個の画素回路80は、1行目から(n/2)行目までと(n/2+1)行目からn行目までに2分割される。上半分の画素回路80に含まれるスイッチ用TFT81のゲート端子はセンス線TSj1に接続され、下半分の画素回路80に含まれるスイッチ用TFT81のゲート端子は他方のセンス線TSj2に接続されている。
この場合、ゲートドライバ回路3は、上半分の画素回路80と下半分の画素回路80を1行ずつ交互に選択する。これにより、画素回路80は、1行目、(n/2+1)行目、2行目、(n/2+2)行目、…の順に選択される。このように各データ線に対応して2本のセンス線TSj1、TSj2を同一直線上に設けることにより、センス線TSjのレイアウト面積を増やさずに、画素回路80に含まれる駆動用TFTの閾値電圧の検出期間を長くすることができる。なお、図11(b)に示すセンス線の接続形態を有する表示装置では、ソースドライバ回路4は、画素回路80の配置領域の上側と下側に分けて配置される(図12を参照)。
以上に示すように、各データ線に対応して複数のセンス線を備えた本実施形態に係る表示装置によれば、駆動用TFTの閾値電圧の検出期間を長くし、閾値補正の精度を高くすることができる。
なお、第1〜第5の実施形態では、画素回路は電気光学素子として有機EL素子を含むこととしたが、有機EL素子以外の電流駆動型の電気光学素子(例えば、半導体LEDやFEDの発光部など)を含んでいてもよい。また、画素回路は、電気光学素子の駆動素子として、ガラス基板などの絶縁基板上に形成されたMOSトランジスタ(シリコンゲートMOS構造を含む)であるTFTを含むこととしたが、閾値電圧を有する任意の電圧制御型の素子(すなわち、制御端子に印加された制御電圧に応じて出力電流が変化し、制御電圧が所定値以上または以下になると出力電流を遮断する素子)を含んでいてもよい。したがって、画素回路は、駆動素子として、半導体基板上に形成されるMOSトランジスタなども含む、一般の絶縁ゲート型電界効果トランジスタを含んでいてもよい。
また、本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、種々の変更が可能である。異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態も、本発明の技術的範囲に含まれる。
本発明の第1〜第5の実施形態に係る表示装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第1の実施形態に係る表示装置に含まれる画素回路と閾値補正回路の回路図である。 本発明の第1の実施形態に係る表示装置における画素回路に対するデータ書き込み時のタイミングチャートである。 オフセットキャンセル機能を有するバッファの回路図、タイミングチャートおよび動作を説明するための図である。 本発明の第2の実施形態に係る表示装置に含まれる画素回路と閾値補正回路の回路図である。 本発明の第2の実施形態に係る表示装置における画素回路に対するデータ書き込み時のタイミングチャートである。 本発明の第3の実施形態に係る表示装置に含まれる画素回路と閾値補正回路の回路図である。 本発明の第3の実施形態に係る表示装置における画素回路に対するデータ書き込み時のタイミングチャートである。 本発明の第4の実施形態に係る表示装置に含まれる画素回路と閾値補正回路の回路図である。 本発明の第4の実施形態に係る表示装置における画素回路に対するデータ書き込み時のタイミングチャートである。 本発明の第5の実施形態に係る表示装置におけるセンス線の接続形態を示す図である。 図11(b)に示すセンス線の接続形態を有する表示装置の構成を示すブロック図である。 従来の表示装置に含まれる画素回路の回路図である。 図13に示す画素回路に対するデータ書き込み時のタイミングチャートである。
符号の説明
1…表示装置
2…表示制御回路
3…ゲートドライバ回路
4…ソースドライバ回路
5…シフトレジスタ
6…レジスタ
7…ラッチ
8…D/A変換器
9、20、50…閾値補正回路
Aij、10、40、60、70、80…画素回路
11〜13、41、61〜63、81…スイッチ用TFT
14、64…駆動用TFT
15、25、56、57…コンデンサ
16…有機EL素子
21〜24、51〜55…スイッチ
26…アナログバッファ
Gi…走査線
Sj…データ線
Ri、SCAN1〜a…制御線
TSj…センス線

Claims (7)

  1. 電流駆動型の表示装置であって、
    複数の走査線と複数のデータ線との各交差点に対応して配置され、それぞれが電気光学素子と、制御端子がスイッチング素子を介して前記データ線に接続された駆動素子とを含み、前記駆動素子の閾値電圧をセンス線に出力する機能を有する複数の画素回路と、
    前記走査線を用いて書き込み対象の画素回路を選択すると共に、選択した画素回路から前記センス線に前記閾値電圧が出力されるように制御する走査信号出力回路と、
    表示データに対応したデータ電圧に前記センス線に出力された閾値電圧を加算または減算した電圧を前記データ線に印加する走査信号出力回路とを備えた、表示装置。
  2. 前記画素回路は、
    前記駆動素子の制御端子と一方の導通端子とに接続された容量をさらに含み、
    前記駆動素子に対する電源供給を遮断したときに、前記容量に接続された導通端子を前記センス線に接続することを特徴とする、請求項1に記載の表示装置。
  3. 前記電気光学素子および前記駆動素子は、前記画素回路内で第1および第2の電源配線間に直列に設けられており、
    前記画素回路は、
    前記駆動素子の制御端子と一方の導通端子とに接続された容量と、
    前記駆動素子の制御端子と前記データ線に接続された第1のスイッチング素子と、
    前記駆動素子の一方の導通端子と前記第1の電源配線とに接続された第2のスイッチング素子と、
    前記容量に接続された導通端子と前記センス線とに接続された第3のスイッチング素子とをさらに含むことを特徴とする、請求項1に記載の表示装置。
  4. 前記画素回路は、前記駆動素子の制御端子と前記第1の電源配線以下の電位を有する第3の電源配線とに接続された第4のスイッチング素子をさらに含み、
    前記第1のスイッチング素子がオフ状態である期間の一部において、前記第4のスイッチング素子がオン状態になることを特徴とする、請求項3に記載の表示装置。
  5. 前記駆動素子および前記第1〜第3のスイッチング素子は薄膜トランジスタであり、
    前記第2および第3のスイッチング素子のうち一方はPチャネル型、他方はNチャネル型であり、両者の制御端子は共通の走査線に接続されていることを特徴とする、請求項3に記載の表示装置。
  6. 前記データ線のそれぞれに対応して、前記センス線が複数設けられていることを特徴とする、請求項1に記載の表示装置。
  7. 複数の走査線と複数のデータ線との各交差点に対応して配置され、それぞれが電気光学素子と、制御端子がスイッチング素子を介して前記データ線に接続された駆動素子とを含み、前記駆動素子の閾値電圧をセンス線に出力する機能を有する複数の画素回路を備えた表示装置の駆動方法であって、
    前記走査線を用いて書き込み対象の画素回路を選択すると共に、選択した画素回路から前記センス線に前記閾値電圧が出力されるように制御するステップと、
    表示データに対応したデータ電圧に前記センス線に出力された閾値電圧を加算または減算した電圧を前記データ線に印加するステップとを備えた、表示装置の駆動方法。
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Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010175779A (ja) * 2009-01-29 2010-08-12 Seiko Epson Corp 単位回路の駆動方法及び電気光学装置の駆動方法
KR20110030210A (ko) * 2009-09-17 2011-03-23 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 표시장치 및 그 구동방법
CN103177686A (zh) * 2011-12-20 2013-06-26 佳能株式会社 显示装置
JP2013225077A (ja) * 2012-04-23 2013-10-31 Canon Inc 表示装置及び表示装置の駆動方法
JP2013242524A (ja) * 2012-04-23 2013-12-05 Canon Inc 発光素子の駆動装置および表示装置
US8830147B2 (en) 2007-06-19 2014-09-09 Canon Kabushiki Kaisha Display apparatus and electronic device using the same
JP2014532896A (ja) * 2011-11-01 2014-12-08 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司 Amoled駆動補償回路、方法及びその表示装置
WO2014203810A1 (ja) * 2013-06-20 2014-12-24 シャープ株式会社 表示装置およびその駆動方法
JP2015079241A (ja) * 2013-09-13 2015-04-23 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
KR20160036418A (ko) * 2014-09-25 2016-04-04 엘지디스플레이 주식회사 유기전계 발광소자 및 그 제조방법
WO2016129463A1 (ja) * 2015-02-10 2016-08-18 シャープ株式会社 表示装置およびその駆動方法
WO2017056646A1 (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 ソニー株式会社 表示素子、表示素子の駆動方法、表示装置、及び、電子機器
JP2017120405A (ja) * 2015-12-30 2017-07-06 エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド 画素、これを含むディスプレイ装置及びその制御方法
US9747841B2 (en) 2013-05-16 2017-08-29 Samsung Display Co., Ltd. Electro-optical device and driving method thereof
CN109147660A (zh) * 2018-09-19 2019-01-04 武汉天马微电子有限公司 一种显示面板及显示装置
JP2021096418A (ja) * 2019-12-19 2021-06-24 セイコーエプソン株式会社 表示装置および電子機器

Cited By (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8830147B2 (en) 2007-06-19 2014-09-09 Canon Kabushiki Kaisha Display apparatus and electronic device using the same
JP2010175779A (ja) * 2009-01-29 2010-08-12 Seiko Epson Corp 単位回路の駆動方法及び電気光学装置の駆動方法
KR20110030210A (ko) * 2009-09-17 2011-03-23 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 표시장치 및 그 구동방법
KR101596961B1 (ko) 2009-09-17 2016-02-23 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 표시장치 및 그 구동방법
US8970644B2 (en) 2011-11-01 2015-03-03 Boe Technology Group Co., Ltd. AMOLED driving and compensating circuit and method, and AMOLED display device
JP2014532896A (ja) * 2011-11-01 2014-12-08 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司 Amoled駆動補償回路、方法及びその表示装置
CN103177686A (zh) * 2011-12-20 2013-06-26 佳能株式会社 显示装置
US8847934B2 (en) 2011-12-20 2014-09-30 Canon Kabushiki Kaisha Displaying apparatus
CN103177686B (zh) * 2011-12-20 2015-10-28 佳能株式会社 显示装置
JP2013242524A (ja) * 2012-04-23 2013-12-05 Canon Inc 発光素子の駆動装置および表示装置
JP2013225077A (ja) * 2012-04-23 2013-10-31 Canon Inc 表示装置及び表示装置の駆動方法
US9747841B2 (en) 2013-05-16 2017-08-29 Samsung Display Co., Ltd. Electro-optical device and driving method thereof
WO2014203810A1 (ja) * 2013-06-20 2014-12-24 シャープ株式会社 表示装置およびその駆動方法
US10453398B2 (en) 2013-06-20 2019-10-22 Sharp Kabushiki Kaisha Display apparatus and driving method thereof
JP2015079241A (ja) * 2013-09-13 2015-04-23 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
JP2019091089A (ja) * 2013-09-13 2019-06-13 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
JP2020160472A (ja) * 2013-09-13 2020-10-01 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
KR20160036418A (ko) * 2014-09-25 2016-04-04 엘지디스플레이 주식회사 유기전계 발광소자 및 그 제조방법
KR102262567B1 (ko) * 2014-09-25 2021-06-07 엘지디스플레이 주식회사 유기전계 발광소자 및 그 제조방법
WO2016129463A1 (ja) * 2015-02-10 2016-08-18 シャープ株式会社 表示装置およびその駆動方法
US10319305B2 (en) 2015-02-10 2019-06-11 Sharp Kabushiki Kaisha Display device and drive method therefor
US10636354B2 (en) 2015-09-30 2020-04-28 Sony Corporation Display element, method for driving display element, display device, and electronic device to display image with reduced luminance unevenness
WO2017056646A1 (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 ソニー株式会社 表示素子、表示素子の駆動方法、表示装置、及び、電子機器
US10262588B2 (en) 2015-12-30 2019-04-16 Lg Display Co., Ltd. Pixel, display device including the same, and driving method thereof
KR20170080883A (ko) * 2015-12-30 2017-07-11 엘지디스플레이 주식회사 화소, 이를 포함하는 표시 장치 및 그 제어 방법
JP2017120405A (ja) * 2015-12-30 2017-07-06 エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド 画素、これを含むディスプレイ装置及びその制御方法
KR102630078B1 (ko) 2015-12-30 2024-01-26 엘지디스플레이 주식회사 화소, 이를 포함하는 표시 장치 및 그 제어 방법
CN109147660A (zh) * 2018-09-19 2019-01-04 武汉天马微电子有限公司 一种显示面板及显示装置
CN109147660B (zh) * 2018-09-19 2021-01-29 武汉天马微电子有限公司 一种显示面板及显示装置
JP2021096418A (ja) * 2019-12-19 2021-06-24 セイコーエプソン株式会社 表示装置および電子機器

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