JP2009004661A - Substrate treating device and substrate carrier device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、液晶表示装置(LCD)等のフラットパネルディスプレイ(FPD)製造用のガラス基板や半導体ウエハなどの基板に対してドライエッチング等の処理を施す処理チャンバと、処理チャンバ内の基板載置台に対する基板の搬送を行う基板搬送装置と、搬送装置を収容する搬送室とを備えた基板処理装置および基板搬送装置に関する。 The present invention relates to a processing chamber for performing a process such as dry etching on a substrate such as a glass substrate or a semiconductor wafer for manufacturing a flat panel display (FPD) such as a liquid crystal display device (LCD), and a substrate mounting table in the processing chamber. The present invention relates to a substrate processing apparatus and a substrate transport apparatus including a substrate transport apparatus that transports a substrate to the substrate and a transport chamber that houses the transport apparatus.
液晶ディスプレイ(LCD)に代表されるフラットパネルディスプレイ(FPD)の製造過程においては、真空下でガラス基板にエッチング、アッシング、成膜等の所定の処理を施す処理チャンバを複数備えた、いわゆるマルチチャンバタイプの基板処理装置が使用されている。 In the manufacturing process of a flat panel display (FPD) typified by a liquid crystal display (LCD), a so-called multi-chamber is provided with a plurality of processing chambers for performing predetermined processing such as etching, ashing, and film formation on a glass substrate under vacuum. A type of substrate processing apparatus is used.
このような基板処理装置は、基板を搬送する搬送装置が設けられた搬送室と、その周囲に設けられた複数の処理チャンバとを有しており、搬送室内に設けられた搬送装置により、被処理基板が各処理チャンバ内に搬入されるとともに、処理済みの基板が各処理装置の処理チャンバから搬出される。そして、搬送室には、ロードロック室が接続されており、大気側の基板の搬入出に際し、処理チャンバおよび搬送室を真空状態に維持したまま、複数の基板を処理可能となっている。このようなマルチチャンバタイプの処理システムが例えば特許文献1に開示されている。
Such a substrate processing apparatus has a transfer chamber in which a transfer device for transferring a substrate is provided and a plurality of processing chambers provided around the transfer chamber. The processing substrate is loaded into each processing chamber, and the processed substrate is unloaded from the processing chamber of each processing apparatus. A load lock chamber is connected to the transfer chamber, and a plurality of substrates can be processed while maintaining the processing chamber and the transfer chamber in a vacuum state when loading and unloading the substrate on the atmosphere side. Such a multi-chamber type processing system is disclosed in
このような処理システムにおいては、ガラス基板を処理チャンバに搬入する際には、搬送装置のピック部分にガラス基板を載せ、プロセスチャンバ内の基板載置台の上方にガラス基板を搬入し、基板載置台から昇降ピンを突出することにより昇降ピン上にガラス基板を載せた後、ピック部分を搬送室内へ退避させる。その後昇降ピンを下降させてガラス基板を基板載置台に載置する。またガラス基板をプロセスチャンバから搬出する際には、載置台上のガラス基板を昇降ピンにより上昇させ、搬送装置のピック部分に受け渡す。 In such a processing system, when the glass substrate is carried into the processing chamber, the glass substrate is placed on the pick portion of the transfer device, and the glass substrate is carried above the substrate placing table in the process chamber. After the glass pins are placed on the lift pins by projecting the lift pins from the top, the pick portion is retracted into the transfer chamber. Thereafter, the lifting pins are lowered to place the glass substrate on the substrate mounting table. Further, when the glass substrate is carried out of the process chamber, the glass substrate on the mounting table is lifted by the lifting pins and transferred to the pick portion of the transfer device.
ところで、近年、ガラス基板の大型化が益々進み、それにともなって基板処理装置における各チャンバの大型化も進み、搬送装置による搬送距離(チャンバ間搬送距離)も長くなる傾向にあり、その距離が5mにも及ぶようなものも出現している。 By the way, in recent years, the increase in size of the glass substrate has been progressed, and accordingly, the increase in size of each chamber in the substrate processing apparatus has been progressed, and the transfer distance (transfer distance between chambers) by the transfer device tends to be long, and the distance is 5 m. Something like that has also appeared.
その結果、搬送装置のアームのストロークが長くなり、そのストロークの分だけ搬送室が大型化してしまう。搬送室の大型化を回避するためには、例えば、搬送装置を多段の伸縮アームを備えた構造にして基板搬送のストロークに対応することが有効であるが、多段の伸縮アームを用いた場合、アームを駆動させるための機構部も処理チャンバ内に進入せざるを得ず、その結果、処理チャンバの開口は広いものとなってしまう。 As a result, the stroke of the arm of the transfer device becomes longer, and the transfer chamber becomes larger by the stroke. In order to avoid an increase in the size of the transfer chamber, for example, it is effective to accommodate the stroke of the substrate transfer with a structure having a multi-stage telescopic arm, but when using a multi-stage telescopic arm, The mechanism for driving the arm must also enter the processing chamber, and as a result, the opening of the processing chamber becomes wide.
また、ピックがガラス基板を支持した状態で伸びて処理チャンバ内に進入した際には、ピックは片持ち梁の状態になり、その基端部のピックの機構部に対するモーメント負荷が大きなものとなるため、機構部が大型化してしまう。
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであって、搬送室の大型化を回避することができ、しかも処理チャンバの基板搬送のための開口を広くすることなく、さらに機構部に過度の負担をかけることのない基板搬送装置およびそのような基板搬送装置を搭載した基板処理装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and it is possible to avoid an increase in the size of the transfer chamber, and without increasing the opening for transferring the substrate in the processing chamber, an excessive burden is placed on the mechanism unit. It is an object of the present invention to provide a substrate transfer apparatus that does not apply the substrate and a substrate processing apparatus equipped with such a substrate transfer apparatus.
上記課題を解決するため、本発明の第1の観点では、基板載置台上の基板に所定の処理を施す処理チャンバと、前記基板載置台に基板を搬送する基板搬送装置と、前記基板搬送装置を収容し、前記処理チャンバが連結される搬送室とを具備し、前記基板搬送装置は、基板を支持した状態で前記処理チャンバ内に進入して基板を前記基板載置台に搬送するピックと、ピックを駆動する主駆動機構とを有し、前記ピックは、基部と、前記基部からフォーク状に延び基板を支持する複数の支持部材と、これら支持部材を伸縮動させる副駆動機構とを有し、前記支持部材を伸ばした状態で基板が搬送されることを特徴とする基板処理装置を提供する。 In order to solve the above problems, according to a first aspect of the present invention, a processing chamber that performs a predetermined process on a substrate on a substrate mounting table, a substrate transfer device that transfers a substrate to the substrate mounting table, and the substrate transfer device And a transfer chamber to which the processing chamber is connected, and the substrate transfer device enters the processing chamber in a state of supporting the substrate and transfers the substrate to the substrate mounting table, A main drive mechanism for driving the pick, and the pick includes a base, a plurality of support members extending in a fork shape from the base to support the substrate, and a sub-drive mechanism for extending and contracting the support members. The substrate processing apparatus is characterized in that the substrate is transported with the support member extended.
上記第1の観点において、前記支持部材は、前記基部に連結された第1部材と、前記第1部材に対して進出退避可能に設けられた第2部材とを有し、前記副駆動機構は、第2部材を駆動するようにすることができる。 In the first aspect, the support member includes a first member coupled to the base portion, and a second member provided so as to be able to advance and retreat relative to the first member. The second member can be driven.
また、前記支持部材は、前記基部に連結された第1部材と、前記第1部材に対して進出退避可能に設けられた第2部材とを有し、前記副駆動機構は、第2部材を駆動するように構成することができる。 The support member includes a first member coupled to the base portion, and a second member provided so as to be able to advance and retreat with respect to the first member, and the sub-drive mechanism includes a second member. It can be configured to drive.
前記副駆動機構は、前記主駆動機構による前記ピックのスライド移動に連動して、前記第2部材を進出駆動するように構成することができる。この場合に、前記基板搬送装置は、前記ピックがスライド可能なベースをさらに有し、前記ピックは前記ベース上をスライドして前記搬送室から前記処理チャンバ内に進入可能であるように構成することができる。また、前記ピックは、前記複数の第2部材を連結する連結部を有し、前記副駆動機構は、前記基部または第1部材から前記ベースに向けて吊持され、前記ピックのスライド移動に伴って回転する第1プーリと、前記基部または第1部材上に配置され、前記第1プーリの回転に伴って、回転する第2プーリと、前記基部または第1部材上に配置され、前記第2プーリの回転に伴って、ベルトを介して回転する第3プーリと、前記ベルトに設けられ、前記第2部材に機械的に連結され、前記ベルトの移動に伴って移動して、前記複数の第2部材を一括して移動させるクランプ部材とを有する構成とすることができる。この構成において、前記第1プーリと前記第2プーリの間に、減速機を介装させてもよい。 The sub-drive mechanism can be configured to advance the second member in conjunction with slide movement of the pick by the main drive mechanism. In this case, the substrate transfer apparatus further includes a base on which the pick can slide, and the pick slides on the base so as to be able to enter the processing chamber from the transfer chamber. Can do. The pick includes a connecting portion that connects the plurality of second members, and the sub-drive mechanism is suspended from the base or the first member toward the base, and the pick is slid. A first pulley that rotates and is disposed on the base or the first member, and is disposed on the base or first member that rotates as the first pulley rotates, and the second pulley that rotates. A third pulley that rotates via a belt as the pulley rotates, and is provided on the belt, mechanically connected to the second member, moves as the belt moves, and moves the plurality of second pulleys. It can be set as the structure which has a clamp member which moves 2 members collectively. In this configuration, a speed reducer may be interposed between the first pulley and the second pulley.
前記副駆動機構は、前記ピックの移動と独立して、前記第2部材を進出駆動するように構成することができる。この場合に、前記副駆動機構は、前記基部または第1部材上に配置され、伸縮ロッドを有する伸縮用シリンダーと、前記基部または第1部材上に配置され、前記伸縮ロッドの移動に伴って、回転する第4プーリと、前記基部または第1部材上に配置され、前記第4プーリの回転に伴って、ベルトを介して回転する第5プーリと、前記ベルトに設けられ、前記第2部材に機械的に連結され、前記ベルトの移動に伴って移動して、前記第2部材を移動させるクランプ部材とを有する構成とすることができる。このような構成において、前記第4プーリは、前記伸縮ロッドの移動に伴って回転する小プーリと、前記小プーリと共に回転し、前記ベルトが掛け渡された大プーリとを有する構成とすることができる。また、前記副駆動機構は、前記基部または前記第1部材上に配置され、前記第2部材が前記第1部材から進出し、前記第1部材上に復帰するように、前記第2部材を移動させる伸縮ロッドを有する伸縮用シリンダーを備えている構成とすることができる。さらに、前記副駆動機構は、前記加圧された気体を導入することにより、前記第1部材から突出し、それにともなって前記第2部材を前記第1部材上から進出させるベローズと、前記ベローズの内部が減圧された際に、前記第2部材が前記第1部材上に復帰するように、弾性的に付勢するバネとを有する構成とすることができる。そして、これらのようなピックの移動と独立して第2部材を進出駆動する構成においても、前記基板搬送装置は、前記ピックがスライド可能なベースをさらに有し、前記ピックは前記ベース上をスライドして前記搬送室から前記処理チャンバ内に進入可能である構成とすることができる。 The sub-drive mechanism can be configured to drive the second member forward independently of movement of the pick. In this case, the sub-driving mechanism is disposed on the base or the first member, and is disposed on the base or the first member with the telescopic cylinder having the telescopic rod, and with the movement of the telescopic rod, A fourth pulley that rotates, a fifth pulley that is disposed on the base or the first member and that rotates via the belt as the fourth pulley rotates, and is provided on the belt; A clamp member that is mechanically coupled and moves with the movement of the belt to move the second member may be employed. In this configuration, the fourth pulley includes a small pulley that rotates as the telescopic rod moves, and a large pulley that rotates together with the small pulley and on which the belt is stretched. it can. The sub-drive mechanism is disposed on the base or the first member, and moves the second member so that the second member advances from the first member and returns onto the first member. It can be set as the structure provided with the cylinder for expansion / contraction which has an expansion-contraction rod to be made. In addition, the sub-drive mechanism protrudes from the first member by introducing the pressurized gas, and accordingly, the bellows for advancing the second member from the first member, and the interior of the bellows And a spring that elastically biases the second member so that the second member returns onto the first member when the pressure is reduced. Even in the configuration in which the second member is advanced and driven independently of the movement of the pick, the substrate transport apparatus further includes a base on which the pick can slide, and the pick slides on the base. Thus, it can be configured to be able to enter the processing chamber from the transfer chamber.
上記第1の観点において、前記複数の支持部材の間に、前記処理チャンバの基板載置台から昇降する昇降ピンの通挿を許容する通挿スペースが形成されている構成とすることができる。また、前記搬送室には複数の処理チャンバが接続されている構成とすることができる。 In the first aspect, an insertion space that allows insertion of an elevating pin that moves up and down from the substrate mounting table of the processing chamber may be formed between the plurality of support members. Further, a plurality of processing chambers may be connected to the transfer chamber.
本発明の第2の観点では、基板を搬送する基板搬送装置であって、基板を支持した状態で基板を搬送するピックと、ピックを駆動する主駆動機構とを有し、前記ピックは、基部と、前記基部からフォーク状に延び基板を支持する複数の支持部材と、これら支持部材を伸縮動させる副駆動機構とを有し、前記支持部材を伸ばした状態で基板が搬送されることを特徴とする基板搬送装置を提供する。 According to a second aspect of the present invention, there is provided a substrate transport apparatus for transporting a substrate, comprising: a pick that transports the substrate while supporting the substrate; and a main drive mechanism that drives the pick; And a plurality of support members extending in a fork shape from the base to support the substrate, and a sub-driving mechanism for expanding and contracting the support members, and the substrate is transported with the support member extended. A substrate transfer apparatus is provided.
上記第2の観点において、前記支持部材は、前記基部に連結された第1部材と、前記第1部材に対して進出退避可能に設けられた第2部材とを有し、前記副駆動機構は、第2部材を駆動するようにすることができる。 In the second aspect, the support member includes a first member coupled to the base, and a second member provided so as to be able to advance and retreat with respect to the first member. The second member can be driven.
また、前記支持部材は、前記基部に連結された第1部材と、前記第1部材に対して進出退避可能に設けられた第2部材とを有し、前記副駆動機構は、第2部材を駆動するように構成することができる。 The support member includes a first member coupled to the base portion, and a second member provided so as to be able to advance and retreat with respect to the first member, and the sub-drive mechanism includes a second member. It can be configured to drive.
前記副駆動機構は、前記主駆動機構による前記ピックのスライド移動に連動して、前記第2部材を進出駆動するように構成することができる。この場合に、前記ピックがスライド可能なベースをさらに有し、前記ピックは前記ベース上をスライドして基板を搬送する構成することができる。また、前記ピックは、前記複数の第2部材を連結する連結部を有し、前記副駆動機構は、前記基部または第1部材から前記ベースに向けて吊持され、前記ピックのスライド移動に伴って回転する第1プーリと、前記基部または第1部材上に配置され、前記第1プーリの回転に伴って、回転する第2プーリと、前記基部または第1部材上に配置され、前記第2プーリの回転に伴って、ベルトを介して回転する第3プーリと、前記ベルトに設けられ、前記第2部材に機械的に連結され、前記ベルトの移動に伴って移動して、前記複数の第2部材を一括して移動させるクランプ部材とを有する構成とすることができる。この構成において、前記第1プーリと前記第2プーリの間に、減速機を介装させてもよい。 The sub-drive mechanism can be configured to advance the second member in conjunction with slide movement of the pick by the main drive mechanism. In this case, the pick may further include a slidable base, and the pick may be configured to slide on the base to transport the substrate. The pick includes a connecting portion that connects the plurality of second members, and the sub-drive mechanism is suspended from the base or the first member toward the base, and the pick is slid. A first pulley that rotates and is disposed on the base or the first member, and is disposed on the base or first member that rotates as the first pulley rotates, and the second pulley that rotates. A third pulley that rotates via a belt as the pulley rotates, and is provided on the belt, mechanically connected to the second member, moves as the belt moves, and moves the plurality of second pulleys. It can be set as the structure which has a clamp member which moves 2 members collectively. In this configuration, a speed reducer may be interposed between the first pulley and the second pulley.
前記副駆動機構は、前記ピックの移動と独立して、前記第2部材を進出駆動するように構成することができる。この場合に、前記副駆動機構は、前記基部または第1部材上に配置され、伸縮ロッドを有する伸縮用シリンダーと、前記基部または第1部材上に配置され、前記伸縮ロッドの移動に伴って、回転する第4プーリと、前記基部または第1部材上に配置され、前記第4プーリの回転に伴って、ベルトを介して回転する第5プーリと、前記ベルトに設けられ、前記第2部材に機械的に連結され、前記ベルトの移動に伴って移動して、前記第2部材を移動させるクランプ部材とを有する構成とすることができる。このような構成において、前記第4プーリは、前記伸縮ロッドの移動に伴って回転する小プーリと、前記小プーリと共に回転し、前記ベルトが掛け渡された大プーリとを有する構成とすることができる。また、前記副駆動機構は、前記基部または前記第1部材上に配置され、前記第2部材が前記第1部材から進出し、前記第1部材上に復帰するように、前記第2部材を移動させる伸縮ロッドを有する伸縮用シリンダーを備えている構成とすることができる。さらに、前記副駆動機構は、前記加圧された気体を導入することにより、前記第1部材から突出し、それにともなって前記第2部材を前記第1部材上から進出させるベローズと、前記ベローズの内部が減圧された際に、前記第2部材が前記第1部材上に復帰するように、弾性的に付勢するバネとを有する構成とすることができる。そして、これらのようなピックの移動と独立して第2部材を進出駆動する構成においても、前記ピックがスライド可能なベースをさらに有し、前記ピックは前記ベース上をスライドして基板を搬送する構成とすることができる。 The sub-drive mechanism can be configured to drive the second member forward independently of movement of the pick. In this case, the sub-driving mechanism is disposed on the base or the first member, and is disposed on the base or the first member with the telescopic cylinder having the telescopic rod, and with the movement of the telescopic rod, A fourth pulley that rotates, a fifth pulley that is disposed on the base or the first member and that rotates via the belt as the fourth pulley rotates, and is provided on the belt; A clamp member that is mechanically coupled and moves with the movement of the belt to move the second member may be employed. In this configuration, the fourth pulley includes a small pulley that rotates as the telescopic rod moves, and a large pulley that rotates together with the small pulley and on which the belt is stretched. it can. The sub-drive mechanism is disposed on the base or the first member, and moves the second member so that the second member advances from the first member and returns onto the first member. It can be set as the structure provided with the cylinder for expansion / contraction which has an expansion-contraction rod to be made. In addition, the sub-drive mechanism protrudes from the first member by introducing the pressurized gas, and accordingly, the bellows for advancing the second member from the first member, and the interior of the bellows And a spring that elastically biases the second member so that the second member returns onto the first member when the pressure is reduced. Even in the configuration in which the second member is driven to advance independently of the movement of the pick as described above, the pick further has a slidable base, and the pick slides on the base to carry the substrate. It can be configured.
上記第2の観点において、前記複数の支持部材の間に、前記処理チャンバの基板載置台から昇降する昇降ピンの通挿を許容する通挿スペースが形成されている構成とすることができる。また、基板載置台上の基板に所定の処理を施す処理チャンバに接続された搬送室内に設けられ、前記処理チャンバ内に設けられた基板載置台に基板を搬送するように構成することができる。 In the second aspect, an insertion space that allows insertion of an elevating pin that moves up and down from the substrate mounting table of the processing chamber may be formed between the plurality of support members. Further, it can be configured to be provided in a transfer chamber connected to a processing chamber for performing a predetermined process on the substrate on the substrate mounting table, and to transfer the substrate to the substrate mounting table provided in the processing chamber.
本発明によれば、ピックを、基部と、前記基部からフォーク状に延びる複数の支持部材と、これら支持部材を伸縮動させる副駆動機構とを有し、前記支持部材を伸ばした状態で基板が載置されるように構成したので、ピックが搬送室内に退避している際には、支持部材を短くし、ピックが処理チャンバに進入した際には支持部材が進出した状態となるようにすることができる。このため、搬送室内ではピック自体を小さくすることができ、搬送室の小型化を図ることができるとともに、基板の搬送の際にはピックの支持部材自体を伸ばすだけでよいので、処理チャンバ内に従来のようなピックを駆動する機構部を挿入する必要がなく、支持部材を伸縮するだけの簡易で薄型の機構部のみが挿入され、処理チャンバの開口を広くすることが回避される。さらに、ピックが処理チャンバ内に進入した際には、支持部材の進出量はその長さの半分以下の短い距離でよく、支持部材からピックの基端部には、曲げモーメントはほとんどかからないので、副駆動機構等の機構部にかかる負荷を低負荷にすることができる。 According to the present invention, the pick has a base, a plurality of support members extending in a fork shape from the base, and a sub-drive mechanism for expanding and contracting these support members, and the substrate is in a state where the support member is extended. Since it is configured to be placed, the support member is shortened when the pick is retracted into the transfer chamber, and the support member is advanced when the pick enters the processing chamber. be able to. For this reason, the pick itself can be reduced in the transfer chamber, the transfer chamber can be reduced in size, and the pick support member itself can be extended only when the substrate is transferred. There is no need to insert a mechanism for driving a pick as in the prior art, and only a simple and thin mechanism that only expands and contracts the support member is inserted, thereby avoiding widening the opening of the processing chamber. Further, when the pick enters the processing chamber, the advancement amount of the support member may be a short distance that is less than half of its length, and there is almost no bending moment from the support member to the proximal end of the pick. A load applied to a mechanism unit such as a sub drive mechanism can be reduced.
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい形態について説明する。ここでは、本発明の基板処理装置の一実施形態である、FPD用のガラス基板Gに対してプラズマエッチングを行なうプラズマエッチング装置を搭載したマルチチャンバタイプのプラズマエッチングシステムを例にとって説明する。ここで、FPDとしては、液晶ディスプレイ(LCD)、エレクトロルミネセンス(Electro Luminescence;EL)ディスプレイ、プラズマディスプレイパネル(PDP)等が例示される。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. Here, a multi-chamber type plasma etching system equipped with a plasma etching apparatus that performs plasma etching on an FPD glass substrate G, which is an embodiment of the substrate processing apparatus of the present invention, will be described as an example. Here, as FPD, a liquid crystal display (LCD), an electroluminescence (Electro Luminescence; EL) display, a plasma display panel (PDP), etc. are illustrated.
図1は本発明の基板処理装置の一実施形態に係るマルチチャンバタイプのプラズマエッチング装置を概略的に示す斜視図、図2はその内部を概略的に示す水平断面図である。 FIG. 1 is a perspective view schematically showing a multi-chamber type plasma etching apparatus according to an embodiment of the substrate processing apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a horizontal sectional view schematically showing the inside thereof.
このプラズマエッチング装置1は、その中央部に搬送室20とロードロック室30とが連設されている。搬送室20の周囲には、3つのプラズマエッチングを行うための処理チャンバ10が接続されている。
The
搬送室20とロードロック室30との間、搬送室20と各処理チャンバ10との間、およびロードロック室30と外側の大気雰囲気とを連通する開口部には、これらの間を気密にシールし、かつ開閉可能に構成されたゲートバルブ22がそれぞれ介挿されている。
An opening that communicates between the
ロードロック室30の外側には、2つのカセットインデクサ41が設けられており、その上にそれぞれガラス基板Gを収容するカセット40が載置されている。これらカセット40は、例えばその一方に未処理基板を収容し、他方に処理済み基板を収容することができる。これらカセット40は、昇降機構42により昇降可能となっている。
Two
これら2つのカセット40の間には、支持台44上に搬送機構43が設けられており、この搬送機構43は上下2段に設けられたピック45,46、ならびにこれらを一体的に進出退避および回転可能に支持するベース47を具備している。
Between these two
搬送室20は、真空処理室と同様に所定の減圧雰囲気に保持することが可能であり、その中には、図2に示すように、搬送装置50が配設されている。そして、この搬送装置50により、ロードロック室30および3つのプラズマエッチング装置10の間でガラス基板Gが搬送される。搬送装置50は、旋回可能および上下動可能なベース51上に、2つのスライドピック52、53が前後動可能に設けられている。搬送装置50の詳細な構造は後述する。
Similarly to the vacuum processing chamber, the
ロードロック室30は、各処理チャンバ10および搬送室20と同様所定の減圧雰囲気に保持されることが可能である。また、ロードロック室30は、大気雰囲気にあるカセット40と減圧雰囲気の処理チャンバ10との間でガラス基板Gの授受を行うためのものであり、大気雰囲気と減圧雰囲気とを繰り返す関係上、極力その内容積が小さく構成されている。さらに、ロードロック室30は、基板収容部31が上下2段に設けられており(図2では上段のみ図示)、各基板収容部31内にはガラス基板Gを支持するためのバッファ32とガラス基板Gの位置合わせを行うポジショナー33が設けられている。
The
処理チャンバ10内には、図3の断面図に示すように、エッチング処理を行うための構成を備えている。処理チャンバ10は例えば表面がアルマイト処理(陽極酸化処理)されたアルミニウムからなる角筒形状に成形されており、この処理チャンバ10内の底部には被処理基板であるガラス基板Gを載置するための基板載置台であるサセプタ101が設けられている。このサセプタ101には、その上へのガラス基板Gのローディングおよびアンローディングを行うための昇降ピン130が昇降可能に挿通されている。この昇降ピン130はガラス基板Gを搬送する際には、サセプタ101の上方の搬送位置まで上昇され、それ以外のときにはサセプタ101内に没した状態となる。サセプタ101は、絶縁部材104を介して処理チャンバ10の底部に支持されており、金属製の基材102と基材102の周縁に設けられた絶縁部材103とを有している。
As shown in the cross-sectional view of FIG. 3, the
サセプタ101の基材102には、高周波電力を供給するための給電線123が接続されており、この給電線123には整合器124および高周波電源125が接続されている。高周波電源125からは例えば13.56MHzの高周波電力がサセプタ101に供給される。
A
前記サセプタ101の上方には、このサセプタ101と平行に対向して上部電極として機能するシャワーヘッド111が設けられている。シャワーヘッド111は処理チャンバ10の上部に支持されており、内部に内部空間112を有するとともに、サセプタ101との対向面に処理ガスを吐出する複数の吐出孔113が形成されている。このシャワーヘッド111は接地されており、サセプタ101とともに一対の平行平板電極を構成している。
Above the
シャワーヘッド111の上面にはガス導入口114が設けられ、このガス導入口114には、処理ガス供給管115が接続されており、この処理ガス供給管115には、バルブ116およびマスフローコントローラ117を介して処理ガス供給源118が接続されている。処理ガス供給源118からは、エッチングのための処理ガスが供給される。処理ガスとしては、ハロゲン系のガス、O2ガス、Arガス等、通常この分野で用いられるガスを用いることができる。
A
処理チャンバ10の底部には排気管119が形成されており、この排気管119には排気装置120が接続されている。排気装置120はターボ分子ポンプなどの真空ポンプを備えており、これにより処理チャンバ10内を所定の減圧雰囲気まで真空引き可能なように構成されている。また、処理チャンバ10の側壁には基板搬入出口121が設けられており、この基板搬入出口121が上述したゲートバルブ22により開閉可能となっている。そして、このゲートバルブ22を開にした状態で搬送室20内の搬送装置50によりガラス基板Gが搬入出されるようになっている。
An
図2に示すように、プラズマエッチング装置1の各構成部は、マイクロプロセッサを備えたプロセスコントローラ70により制御される構成となっている。このプロセスコントローラ70には、オペレータがプラズマエッチング装置1を管理するためのコマンドの入力操作等を行うキーボードや、プラズマエッチング装置1の稼働状況を可視化して表示するディスプレイ等からなるユーザーインターフェース71が接続されている。また、プロセスコントローラ70には、プラズマエッチング装置1で実行される各種処理をプロセスコントローラ70の制御にて実現するための制御プログラムや、処理条件に応じてプラズマエッチング装置1に所定の処理を実行させるための制御プログラムすなわちレシピ、さらには各種データベース等が格納された記憶部72が接続されている。記憶部72は記憶媒体を有しており、レシピ等はその記憶媒体に記憶されている。記憶媒体は、ハードディスクや半導体メモリであってもよいし、CDROM、DVD、フラッシュメモリ等の可搬性のものであってもよい。そして、必要に応じて、ユーザーインターフェース71からの指示等にて任意のレシピを記憶部72から呼び出してプロセスコントローラ70に実行させることで、プロセスコントローラ70の制御下で、プラズマエッチング装置1での所望の処理が行われる。
As shown in FIG. 2, each component of the
上記のように構成されるプラズマエッチング装置1における処理動作について以下に説明する。
まず、搬送機構43の2枚のピック45、46を進退駆動させて、未処理基板を収容した一方のカセット40から2枚のガラス基板Gをロードロック室30の2段の基板収容室31に搬入する。
The processing operation in the
First, the two
ピック45,46が退避した後、ロードロック室30の大気側のゲートバルブ22を閉じる。その後、ロードロック室30内を排気して、内部を所定の真空度まで減圧する。真空引き終了後、ポジショナー33により基板を押圧することによりガラス基板Gの位置合わせを行なう。
After the
以上のように位置合わせされた後、搬送室20とロードロック室30との間のゲートバルブ22を開いて、搬送室20内の搬送装置50により、ロードロック室30の基板収容部31に収容されたガラス基板Gを受け取り、処理チャンバ10に搬入して、サセプタ101上にガラス基板Gを載置する。
After the alignment as described above, the
その後、ゲートバルブ22を閉じ、排気装置120によって、処理チャンバ10内を所定の真空度まで真空引きする。そして、バルブ116を開放して、処理ガス供給源118から処理ガスを、マスフローコントローラ117によってその流量を調整しつつ、処理ガス供給管115、ガス導入口114を通ってシャワーヘッド111の内部空間112へ導入し、さらに吐出孔113を通って基板Gに対して均一に吐出し、排気量を調節しつつ処理チャンバ10内を所定圧力に制御する。
Thereafter, the
この状態で処理ガス供給源118から所定の処理ガスをチャンバ10内に導入するとともに、高周波電源125から高周波電力をサセプタ104に印加し、下部電極としてのサセプタ101と上部電極としてのシャワーヘッド111との間に高周波電界を生じさせて、処理ガスのプラズマを生成し、このプラズマによりガラス基板Gにエッチング処理を施す。
In this state, a predetermined processing gas is introduced into the
このようにしてエッチング処理を施した後、高周波電源125からの高周波電力の印加を停止し、処理ガス導入を停止する。そして、処理チャンバ10内に残った処理ガスを排気し、昇降ピン130によりガラス基板Gを搬送位置まで上昇させる。この状態でゲートバルブ22を開放して、搬送装置50により、ガラス基板Gを処理チャンバ10内から搬送室20へ搬出する。
After performing the etching process in this way, the application of the high frequency power from the high
処理チャンバ10から搬出されたガラス基板Gは、ロードロック室30に搬送され、搬送機構43によりカセット40に収容される。このとき、元のカセット40に戻してもよいし、他方のカセット40に収容するようにしてもよい。
The glass substrate G unloaded from the
以上のような一連の動作をカセット40に収容されたガラス基板Gの枚数分繰り返し、処理が終了する。
A series of operations as described above are repeated for the number of glass substrates G accommodated in the
次に、搬送室20の搬送装置50について詳細に説明する。
まず、第1の実施形態について説明する。
図4は、第1の実施形態に係るピック部がスライド移動する搬送装置を示す概略構成図であり、図5は、図4に示した搬送装置により搬送室から処理ユニットへガラス基板を搬送する際の概略構成断面図であり、図6は、図4及び図5に示した搬送装置を示す斜視図であり、(a)はスライドピックが搬送室内の原点位置に位置しているときの状態、(b)は、スライドピックが処理チャンバ内に進入しているときの状態を示すものである。
Next, the
First, the first embodiment will be described.
FIG. 4 is a schematic configuration diagram illustrating a transport device in which the pick unit according to the first embodiment slides, and FIG. 5 transports the glass substrate from the transport chamber to the processing unit by the transport device illustrated in FIG. 4. FIG. 6 is a perspective view showing the transfer device shown in FIGS. 4 and 5, and FIG. 6A is a state when the slide pick is located at the origin position in the transfer chamber. (B) shows the state when the slide pick enters the processing chamber.
図4に示すように、搬送装置50は、長尺のベース51と、ベース51上を独立してスライド可能に上下2段に設けられたスライドピック52、53と、ベース51を回転駆動(θ駆動)させるとともに昇降(Z駆動)させ、かつスライドピック52を駆動させる駆動機構54と、駆動機構54による駆動を制御して搬送装置の搬送を制御する搬送制御部55とを有している。
As shown in FIG. 4, the
スライドピック52は、ベース51上を移動し、処理チャンバ10内に進入可能に設けられており、本体部56と、本体部56から進出退避可能な進出退避部57とを備えている。また、スライドピック53は、ベース51上を移動し、処理チャンバ10内に進入可能に設けられており、本体部256と、本体部256から進出退避可能な進出退避部257とを備えている。なお、スライドピック52,53は同様に構成されているため、説明の便宜上、以下、主にスライドピック52について説明する。
The
図6に示すように、スライドピック52を構成する本体部56は、ベース51との連結部を含む基部56bと、基部56bからフォーク状に水平に延びる長尺状をなす複数の第1支持部材56aとを有している。また、進出退避部57は、これら複数の第1支持部材56aにそれぞれ進出退避可能に連結された複数の第2支持部材57aを有している。そして、第1支持部材56aと第2支持部材57aとで、伸縮可能な支持部材が構成されており、第2支持部材57aの上にガラス基板Gが配置される。これら複数の第1支持部材56aおよび第2支持部材57aの間に、昇降ピン130の通挿を許容する通挿スペース131が形成されている。なお、支持部材の本数は、適宜自由に設定することができ、図6では、支持部材の一部が省略して描かれている。
As shown in FIG. 6, the
複数の第2支持部材57aは、連結部材57bにより機械的に連結されており、一体的に移動可能となっている。
The plurality of
また、ベース51内には、本体部56を駆動するための主駆動機構60が設けられている。主駆動機構60は、ベース51の基端部に設けられた駆動側のプーリ62と、ベース51の先端部に設けられた従動側のプーリ64と、プーリ62、64に巻き掛けられたベルト63(タイミングベルト)と、ベルト63に設けられ、本体部56に機械的に連結され、ベルト63の移動に伴って移動して、本体部56を移動するクランプ部材65とを備えている。駆動側のプーリ62は、駆動機構54に属するモータ61(図7等参照)により回転される。なお、ベルト63は、タイミングベルト以外に、スティールワイヤ(ベルト)、その他のものであってもよい。
In addition, a
図6(b)に示すように、本体部56は、図示した距離Lmだけ移動し、進出退避部57は、図示した距離Lsだけ移動する。スライドピック52が処理チャンバ10内に進入した際、進出退避部57は、その全長の半分以下の長さが本体部56から進出すればよい。
As shown in FIG. 6B, the
次に、第1の実施形態の搬送装置のスライドピックの機構部の詳細について説明する。図7、8は、本発明の第1実施の形態に係る搬送装置のスライドピックの機構部を示す模式図であり、図7はスライドピック52が搬送室20の原点位置にある状態を示す図であり、図8はスライドピック52が処理チャンバ10内に進入している状態を示す図である。また、図9(a)は、図7のIXa線に沿った断面図であり、(b)は、図7のIXb線に沿った断面図である。なお、これら図面においても、2つのスライドピック52、53のうち、スライドピック52のみについて説明する。
Next, the detail of the mechanism part of the slide pick of the conveying apparatus of 1st Embodiment is demonstrated. 7 and 8 are schematic views showing a slide pick mechanism of the transfer apparatus according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a view showing a state in which the
本実施形態の搬送装置50では、スライドピック52の本体部56を駆動するための上述した主駆動機構60がベース51内に設けられている他、進出退避部57をスライド駆動するための副駆動機構80が設けられている。
In the
副駆動機構80は、本体部56の基部56bに設けられた基盤81を有している。また、副駆動機構80は、本体部56からベース51に向けて吊持され、本体部56の移動に伴って回転する第1プーリ82aを有している。すなわち、主駆動機構60のベルト63に設けられた一対のアイドラ82b、82bがベルト63と共に移動しながら回転し、それに伴って、第1プーリ82aは、ベルト63と本体部56の移動に伴って、移動しながら回転する。
The
第1プーリ82aは、減速機83を介して、基盤81上に配置された第2プーリ84に連結されている(図9(b)参照)。
The
副駆動機構80は、さらに、基盤81上に配置され、第2プーリ84の回転に伴ってベルト85(タイミングベルト)を介して回転する第3プーリ86と、ベルト85に設けられ、進出退避部57に機械的に連結され、ベルト85の移動に伴って移動して、進出退避部57を移動するクランプ部材87と、を有している。なお、ベルト85は、タイミングベルト以外に、スティールワイヤ(ベルト)、その他のものであってもよい。
The
さらに、図9(a)(b)に最もよく示すように、ベース51の両側上面と、本体部56の基部56bの下面との間には、一対のガイド部材88,88が介装されている。また、副駆動機構80の基盤81の両側上面と、進出退避部57の連結部材57bの下面との間には、一対のガイド部材89a,89aが介装されている。 本体部56の第1支持部材56aの上面と、第2支持部材57aの下面との間には、それぞれ、薄型のガイド部材89b,…が介装されている。
Furthermore, as best shown in FIGS. 9A and 9B, a pair of
以上のように構成された搬送装置50では、図5に示すように、進出退避部57がガラス基板Gを載置した状態で、スライドピック52が処理チャンバ10内に進入し、進出退避部57が本体部56から進出した状態とされる。
In the
次いで、昇降ピン130が上昇され、進出した進出退避部57からガラス基板Gを受け取る。その後、スライドピック52が処理チャンバ10から搬送室20に退出すると共に、昇降ピン130が降下して、サセプタ101上にガラス基板Gが載置される。一方、昇降ピン130から進出退避部57に処理済みの基板Gを受け渡す際には、上述した場合と逆の工程により行う。
Next, the elevating
このように搬送装置50によりガラス基板Gを処理チャンバ10に搬送する際には、図6および図7に示すように、主駆動機構60のモータ61を駆動させて、プーリ62を回転させ、これにより、ベルト63とプーリ64を回転させる。このとき、ベルト63に設けたクランプ部材65が移動して、このクランプ部材65に機械的に連結したスライドピック52の本体部56が移動する。
As described above, when the glass substrate G is transferred to the
本実施形態では、副駆動機構80は、上記のように、その駆動源が主駆動機構60と同じであるため、本体部56の移動に連動して、進出退避部57が移動される。
In the present embodiment, the
また、副駆動機構80は、その駆動部が主駆動機構60と同様の構成であるが、動力の伝達経路に、上述した減速機83が介装されていることから、進出駆動部57は、本体部56の動作量の減速された分進むようになっている。
The
すなわち、副駆動機構80では、本体部56の移動に伴って、本体部56から吊持した第1プーリ82aは、ベルト63と本体部56の移動に伴って移動しながら回転され、第1プーリ82aの回転は、減速機83により減速されながら、第2プーリ84に伝達され、これにより第2プーリ84および第3プーリ86に巻き掛けられたベルト85が移動し、その移動にともなってベルト85に設けられたクランプ部材87が移動して、このクランプ部材87に機械的に連結した進出退避部57が移動し、本体部56から進出する。
That is, in the
このようにガラス基板Gが載置された進出退避部57が進出することにより、処理ユニット10内の所望の位置にガラス基板Gを搬送することが可能となる。
As the advance /
この場合に、スライドピック52は、搬送室20内に位置している時には、本体部56の上に進出退避部57が位置してこれらが重なった状態になることから、搬送室20を小型化することができる。
In this case, when the
また、この場合に、ガラス基板Gを処理チャンバ10へ搬送する際には、進出退避部57を進出させて、第1支持部材56aおよび第2支持部材57aからなる支持部材自体を伸ばすだけでよいので、処理チャンバ10内に従来のようなピックを駆動する機構部を挿入する必要がなく、支持部材を伸縮するための簡易で薄型の機構部のみが処理チャンバ10に挿入されることとなり、処理チャンバ10の開口を広くすることが回避される。
Further, in this case, when the glass substrate G is transported to the
さらに、スライドピック52が処理チャンバ10内に進入した際に、進出退避部57は、その全長の半分以下の長さが本体部56から進出すればよいため、進出退避部57から本体部56には、主として下向きの荷重がかかるのみであり、曲げモーメントを小さくすることができる。したがって、本体部56に設けられる副駆動機構80の機構部にかかる負荷を小さくすることができ、これにより、副駆動機構80等の構造の簡略化を図ることができる。
Further, when the
また、進出退避部57の重量および抵抗を小さく抑えることにより、駆動のためのベルト85(タイミングベルト)のサイズも小さくすることができるため、搬送機構をコンパクトものとすることができる。
Moreover, since the size of the belt 85 (timing belt) for driving can be reduced by suppressing the weight and resistance of the advancement /
次に、搬送装置50の第2の実施形態について説明する。
本実施形態は搬送装置の概略構成は第1の実施形態と同様であるが、スライドピックの機構部の構造のみが異なっている。
Next, a second embodiment of the
In this embodiment, the schematic configuration of the transport apparatus is the same as that of the first embodiment, but only the structure of the mechanism portion of the slide pick is different.
図10は、第2の実施形態に係るピック部がスライド移動する搬送装置のスライドピックの機構部を示す模式図であり、スライドピックが処理チャンバ内に進入している状態を示す。なお、この図においても2つあるスライドピックのうちスライドピック52を中心に説明する。
FIG. 10 is a schematic diagram showing a slide pick mechanism part of a transport apparatus in which the pick part according to the second embodiment slides, and shows a state where the slide pick enters the processing chamber. In this figure, the
本実施形態では、スライドピック52の本体部56の基部56b上に配置され、伸縮ロッド91aを有する伸縮用シリンダー91(エアシリンダー)を備えた副駆動機構90を用いている。
In the present embodiment, a
本体部56の基部56b上には、プーリ92と、小プーリ93aを有する第4プーリ(大プーリ)93と、プーリ92と小プーリ93aとの間に掛け渡されたベルトと94が設けられている。伸縮用シリンダー91(エアシリンダー)の伸縮ロッド91aは、ベルト94に連結されている。
A
副駆動機構90は、さらに、第4プーリ93(大プーリ)の回転に伴ってベルト96(タイミングベルト)を介して回転する第5プーリ97と、ベルト96に設けられ、進出退避部57に機械的に連結され、ベルト96の移動に伴って移動して、進出退避部57を移動するクランプ部材98と、を有している。なお、ベルト96は、タイミングベルト以外に、スティールワイヤ(ベルト)、その他のものであってもよい。
The
したがって、伸縮用シリンダー91(エアシリンダー)に加圧エアを供給すると、伸縮ロッド91aが移動し、ベルト94が移動し、小プーリ93aが回転する。これにより、第4プーリ93(大プーリ)が回転し、ベルト96と第5プーリ97が回転する。ベルト96に設けたクランプ部材98が移動して、このクランプ部材98に機械的に連結した進出退避部57が移動する。
Therefore, when pressurized air is supplied to the telescopic cylinder 91 (air cylinder), the
本実施形態では、副駆動機構90は、上記のように、その駆動源が主駆動機構60と別であるため、本体部56の移動と独立して、進出退避部57を移動させるようになっている。
In the present embodiment, as described above, since the drive source of the
また、副駆動機構90は、動力の伝達経路に、上述した第4プーリ93(大プーリ)と、その小プーリ93aとを有している。そのため、進出退避部57は、伸縮ロッド91aの動作量より、第4プーリ93(大プーリ)と小プーリ93aと増速比分だけ増速して進むようになっている。
The
図11は、第2実施の形態に係るピック部がスライド移動する搬送装置の模式的断面図である。ここでは、2段に設けられたスライドピック52,53の両方を示している。
下側のスライドピック52は、上述したように、ベース51の両側上面と、本体部56の基部56bの下面との間に一対のガイド部材88,88が介装され。さらに、本体部56の第1支持部材56aの上面と、進出退避部57の第2支持部材57aの下面との間には、それぞれ、薄型のガイド部材89b,…が介装されている。
FIG. 11 is a schematic cross-sectional view of the transport device in which the pick unit according to the second embodiment slides. Here, both slide picks 52 and 53 provided in two stages are shown.
As described above, the
上側のスライドピック53では、詳細には図示しないが、同様の構造の主駆動機構を備えており、ベース51の両側上面と、支持部材201の下面との間には、一対のガイド部材288,288が介装してある。支持部材201の側方には、構造部材202を介して、本体部256が連結されている。
Although not shown in detail in the
すなわち、構造部材202には、基部256bが支持されており、基部256bからは、本体部256の図示しない複数本の第1支持部材が延在している。
That is, the
本体部256の第1支持部材の上面と、進出退避部257の第2支持部材257aの下面との間には、それぞれ、薄型のガイド部材289b,…が介装されている。
また、図11には、上側の進出退避部257を移動するための伸縮用シリンダー291(エアシリンダー)と、第4プーリ293とが図示されている。
Further, FIG. 11 shows an expansion / contraction cylinder 291 (air cylinder) for moving the upper advancement /
ベース51の左側方には、スライドピック52の進出退避部57のための伸縮用シリンダー91(エアシリンダー)に加圧エアを供給するエアチューブ99aのためのケーブルベア99bが設けられている。
On the left side of the
同様に、ベース51の右側方には、スライドピック53の進出退避部257のための伸縮用シリンダー291(エアシリンダー)に加圧エアを供給するエアチューブ299aのためのケーブルベア299bが設けられている。
Similarly, on the right side of the
次に、搬送装置の第3の実施形態について説明する。
図12は、第3実施の形態に係るピック部がスライド移動する搬送装置を示す斜視図であり、(a)はスライドピックが搬送室内の原点位置に位置しているときの状態、(b)は、スライドピックが処理チャンバ内に進入しているときの状態を示すものである。なお、この図においてはスライドピック52、53のうち、スライドピック52のみを示す。
Next, a third embodiment of the transfer device will be described.
12A and 12B are perspective views showing a transport device in which the pick unit according to the third embodiment slides. FIG. 12A shows a state when the slide pick is located at the origin position in the transport chamber. FIG. Shows the state when the slide pick is entering the processing chamber. In this figure, of the slide picks 52 and 53, only the
本実施の形態では、本体部56の基部56b上に配置され、その伸縮ロッド311を進出退避部57の連結部57bに連結した伸縮用シリンダー310(エアシリンダー)を備えた副駆動機構300を用いている。
In the present embodiment, a
したがって、伸縮用シリンダー310(エアシリンダー)に加圧エアを供給すると、伸縮ロッド311が移動し、この伸縮ロッド311に機械的に連結した進出退避部57が移動する。
Accordingly, when pressurized air is supplied to the expansion / contraction cylinder 310 (air cylinder), the expansion /
本実施の形態では、副駆動機構300は、上記のように、その駆動源が主駆動機構60と別であるため、本体部56の移動に独立して、進出退避部57を移動するようになっている。
In the present embodiment, as described above, since the drive source of the
図12(b)に波線で示す領域(P)には、進出退避部57のための伸縮用シリンダー310(エアシリンダー)に加圧エアを供給するエアチューブ(図示略)のためのケーブルベアが設けられている。
In a region (P) indicated by a wavy line in FIG. 12B, there is a cable bear for an air tube (not shown) for supplying pressurized air to the expansion / contraction cylinder 310 (air cylinder) for the advancement /
次に、搬送装置の第4の実施形態について説明する。
図13は、第4実施の形態に係るピック部がスライド移動する搬送装置を示す斜視図であり、(a)はスライドピックが搬送室内の原点位置に位置しているときの状態、(b)は、スライドピックが処理チャンバ内に進入しているときの状態を示すものである。なお、この図においてもスライドピック52、53のうち、スライドピック52のみを示す。
Next, a fourth embodiment of the transfer device will be described.
FIG. 13 is a perspective view showing a transport device in which the pick unit according to the fourth embodiment slides, (a) is a state when the slide pick is located at the origin position in the transport chamber, and (b). Shows the state when the slide pick is entering the processing chamber. In this figure, only the
本実施の形態では、進出退避部57の複数本の第2支持部材57a内に設けられた複数個のベローズ410と、1つの第2支持部材57aの基端部と本体部56の1つの第1支持部材56aの基端部との間に設けられたバネ420とを備えた副駆動機構400を用いる。
In the present embodiment, the plurality of
ベローズ410は、エア配管430に接続されており、エア配管430は、ソレノイドバルブ431を介して、エア供給源432と、真空ポンプ433に接続されている。
The bellows 410 is connected to an
したがって、進出退避部57を移動して処理室10内に進入する際には、ソレノイドバルブ431をエア供給源432側に切り換える。エア供給源432からエア配管430等を介して、ベローズ410に圧縮空気が供給され、ベローズ410は、内部を加圧された気体(圧縮空気)により、本体部56上から進出するように、進出退避部57を移動する。なお、この進出退避部57が進出するように移動する際、バネ420は、その弾性付勢力に抗して延伸する。
Therefore, when the advancement /
一方、進出退避部57を移動して処理室10から退出する際には、ソレノイドバルブ431を真空ポンプ433側に切り換える。真空ポンプ433からエア配管430等を介して、ベローズ410の内部が減圧し、ベローズ410は収縮する。この際、延伸したバネ420は、その弾性付勢力により、進出退避部57を本体部56上に戻す。
On the other hand, the
本実施の形態では、副駆動機構400は、上記のように、その駆動源が主駆動機構60と別であるため、本体部56の移動に独立して、進出退避部57を移動することができる。
In the present embodiment, as described above, since the drive source of the
なお、本発明は上記実施形態に限定されることはなく、種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では、進出退避部の複数の第2支持部材が連結部にて連結されているが、各第2支持部材が副駆動機構を有する場合は連結部は不要である。また、基板を支持するピック部がスライド移動するスライドピックを有する搬送機構を用いたが、関節を有するスカラー型の搬送機構のピック等、他の搬送機構であってもよい。また、上記実施形態では、真空中での搬送を行う場合について説明したが、これに限らず、大気中搬送を行う搬送装置に適用することも可能である。 In addition, this invention is not limited to the said embodiment, A various deformation | transformation is possible. For example, in the above-described embodiment, the plurality of second support members of the advancement / retraction portion are connected by the connection portions, but the connection portions are not necessary when each second support member has a sub-drive mechanism. Further, although the transport mechanism having the slide pick in which the pick portion supporting the substrate slides is used, other transport mechanisms such as a pick of a scalar transport mechanism having a joint may be used. Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where the conveyance in a vacuum was performed, it is not restricted to this, It is also possible to apply to the conveying apparatus which conveys in air | atmosphere.
さらに、上記実施形態では、本発明をエッチング装置に適用したが、エッチング処理に限らず、成膜等の他の処理にも適用可能なことはいうまでもない。また、上記実施形態では、マルチチャンバタイプの装置を例にとって説明したが、処理チャンバが一台のみのシングルチャンバタイプの装置であっても適用可能である。 Furthermore, in the above embodiment, the present invention is applied to the etching apparatus. However, it is needless to say that the present invention is not limited to the etching process and can be applied to other processes such as film formation. In the above embodiment, the multi-chamber type apparatus has been described as an example. However, the present invention can be applied to a single-chamber type apparatus having only one processing chamber.
さらにまた、上記実施形態では、基板としてFPD用ガラス基板を用いた例を示したが、これに限定されず半導体ウエハ等の他の基板であってもよい。 Furthermore, in the above-described embodiment, an example in which a glass substrate for FPD is used as the substrate has been shown, but the present invention is not limited to this, and another substrate such as a semiconductor wafer may be used.
1;プラズマエッチング装置
10;処理チャンバ
20;搬送室
22;ゲートバルブ
30;ロードロック室
50;搬送装置
51;ベース
52,53;スライドピック
56;本体部
57;進出退避部
54;駆動機構
55;搬送制御部
60;主駆動機構
70;プロセスコントローラ
80;副駆動機構
82a;第1プーリ
83;減速機
84;第2プーリ
85;ベルト
86;第3プーリ
87;クランプ部材
90;副駆動機構
91;伸縮用シリンダー
93;第4プーリ
96;ベルト
97;第5プーリ
98;クランプ部材
101;サセプタ
130;昇降ピン
131;通挿スペース
300;副駆動機構
310;伸縮用シリンダー
400;副駆動機構
410;ベローズ
420;バネ
G;ガラス基板
DESCRIPTION OF
Claims (28)
前記基板載置台に基板を搬送する基板搬送装置と、
前記基板搬送装置を収容し、前記処理チャンバが連結される搬送室と
を具備し、
前記基板搬送装置は、基板を支持した状態で前記処理チャンバ内に進入して基板を前記基板載置台に搬送するピックと、ピックを駆動する主駆動機構とを有し、
前記ピックは、基部と、前記基部からフォーク状に延び基板を支持する複数の支持部材と、これら支持部材を伸縮動させる副駆動機構とを有し、前記支持部材を伸ばした状態で基板が搬送されることを特徴とする基板処理装置。 A processing chamber for performing predetermined processing on the substrate on the substrate mounting table;
A substrate transfer device for transferring a substrate to the substrate mounting table;
Containing the substrate transfer device, and having a transfer chamber to which the processing chamber is connected,
The substrate transport apparatus has a pick that enters the processing chamber while supporting a substrate and transports the substrate to the substrate mounting table, and a main drive mechanism that drives the pick,
The pick includes a base, a plurality of support members extending in a fork shape from the base to support the substrate, and a sub-drive mechanism for extending and contracting the support members, and the substrate is conveyed in a state in which the support member is extended. A substrate processing apparatus.
前記副駆動機構は、
前記基部または第1部材から前記ベースに向けて吊持され、前記ピックのスライド移動に伴って回転する第1プーリと、
前記基部または第1部材上に配置され、前記第1プーリの回転に伴って、回転する第2プーリと、
前記基部または第1部材上に配置され、前記第2プーリの回転に伴って、ベルトを介して回転する第3プーリと、
前記ベルトに設けられ、前記第2部材に機械的に連結され、前記ベルトの移動に伴って移動して、前記複数の第2部材を一括して移動させるクランプ部材と
を有することを特徴とする請求項4に記載の基板処理装置。 The pick has a connecting portion that connects the plurality of second members,
The sub-drive mechanism is
A first pulley suspended from the base or the first member toward the base and rotating in accordance with the sliding movement of the pick;
A second pulley disposed on the base or the first member and rotating in accordance with the rotation of the first pulley;
A third pulley disposed on the base or the first member and rotating via a belt with the rotation of the second pulley;
And a clamp member that is provided on the belt, mechanically connected to the second member, and moves with the movement of the belt to collectively move the plurality of second members. The substrate processing apparatus according to claim 4.
前記基部または第1部材上に配置され、伸縮ロッドを有する伸縮用シリンダーと、
前記基部または第1部材上に配置され、前記伸縮ロッドの移動に伴って、回転する第4プーリと、
前記基部または第1部材上に配置され、前記第4プーリの回転に伴って、ベルトを介して回転する第5プーリと、
前記ベルトに設けられ、前記第2部材に機械的に連結され、前記ベルトの移動に伴って移動して、前記第2部材を移動させるクランプ部材と
を有することを特徴とする請求項7に記載の基板処理装置。 The sub-drive mechanism is
A telescopic cylinder disposed on the base or the first member and having a telescopic rod;
A fourth pulley that is disposed on the base or the first member and rotates with the movement of the telescopic rod;
A fifth pulley disposed on the base or the first member and rotating via a belt with the rotation of the fourth pulley;
The clamp member is provided on the belt, mechanically connected to the second member, and moved along with the movement of the belt to move the second member. Substrate processing equipment.
前記伸縮ロッドの移動に伴って回転する小プーリと、
前記小プーリと共に回転し、前記ベルトが掛け渡された大プーリと
を有することを特徴とする請求項8に記載の基板処理装置。 The fourth pulley is
A small pulley that rotates as the telescopic rod moves,
The substrate processing apparatus according to claim 8, further comprising a large pulley that rotates together with the small pulley and on which the belt is stretched.
前記基部または前記第1部材上に配置され、前記第2部材が前記第1部材から進出し、前記第1部材上に復帰するように、前記第2部材を移動させる伸縮ロッドを有する伸縮用シリンダーを備えていることを特徴とする請求項7に記載の基板処理装置。 The sub-drive mechanism is
An expansion / contraction cylinder disposed on the base or the first member and having an expansion / contraction rod that moves the second member so that the second member advances from the first member and returns onto the first member. The substrate processing apparatus according to claim 7, further comprising:
前記加圧された気体を導入することにより、前記第1部材から突出し、それにともなって前記第2部材を前記第1部材上から進出させるベローズと
前記ベローズの内部が減圧された際に、前記第2部材が前記第1部材上に復帰するように、弾性的に付勢するバネと
を有することを特徴とする請求項7に記載の基板処理装置。 The sub-drive mechanism is
When the pressurized gas is introduced, the bellows protrudes from the first member, and the second member moves forward from the first member. The substrate processing apparatus according to claim 7, further comprising a spring that elastically biases the two members so as to return to the first member.
基板を支持した状態で基板を搬送するピックと、
ピックを駆動する主駆動機構とを有し、
前記ピックは、基部と、前記基部からフォーク状に延び基板を支持する複数の支持部材と、これら支持部材を伸縮動させる副駆動機構とを有し、前記支持部材を伸ばした状態で基板が搬送されることを特徴とする基板搬送装置。 A substrate transfer device for transferring a substrate,
A pick for transporting the substrate while supporting the substrate;
A main drive mechanism for driving the pick,
The pick includes a base, a plurality of support members extending in a fork shape from the base to support the substrate, and a sub-drive mechanism for extending and contracting the support members, and the substrate is conveyed in a state in which the support member is extended. A substrate transfer apparatus.
前記副駆動機構は、
前記基部または第1部材から前記ベースに向けて吊持され、前記ピックのスライド移動に伴って回転する第1プーリと、
前記基部または第1部材上に配置され、前記第1プーリの回転に伴って、回転する第2プーリと、
前記基部または第1部材上に配置され、前記第2プーリの回転に伴って、ベルトを介して回転する第3プーリと、
前記ベルトに設けられ、前記第2部材に機械的に連結され、前記ベルトの移動に伴って移動して、前記複数の第2部材を一括して移動させるクランプ部材と
を有することを特徴とする請求項18に記載の基板搬送装置。 The pick has a connecting portion that connects the plurality of second members,
The sub-drive mechanism is
A first pulley suspended from the base or the first member toward the base and rotating in accordance with the sliding movement of the pick;
A second pulley disposed on the base or the first member and rotating in accordance with the rotation of the first pulley;
A third pulley disposed on the base or the first member and rotating via a belt with the rotation of the second pulley;
And a clamp member that is provided on the belt, mechanically connected to the second member, and moves with the movement of the belt to collectively move the plurality of second members. The substrate transfer apparatus according to claim 18.
前記基部または第1部材上に配置され、伸縮ロッドを有する伸縮用シリンダーと、
前記基部または第1部材上に配置され、前記伸縮ロッドの移動に伴って、回転する第4プーリと、
前記基部または第1部材上に配置され、前記第4プーリの回転に伴って、ベルトを介して回転する第5プーリと、
前記ベルトに設けられ、前記第2部材に機械的に連結され、前記ベルトの移動に伴って移動して、前記第2部材を移動させるクランプ部材と
を有することを特徴とする請求項21に記載の基板搬送装置。 The sub-drive mechanism is
A telescopic cylinder disposed on the base or the first member and having a telescopic rod;
A fourth pulley that is disposed on the base or the first member and rotates with the movement of the telescopic rod;
A fifth pulley disposed on the base or the first member and rotating via a belt with the rotation of the fourth pulley;
The clamp member provided on the belt, mechanically connected to the second member, and moved along with the movement of the belt to move the second member. Substrate transfer device.
前記伸縮ロッドの移動に伴って回転する小プーリと、
前記小プーリと共に回転し、前記ベルトが掛け渡された大プーリと
を有することを特徴とする請求項22に記載の基板搬送装置。 The fourth pulley is
A small pulley that rotates as the telescopic rod moves,
23. The substrate transfer apparatus according to claim 22, further comprising a large pulley that rotates together with the small pulley and on which the belt is stretched.
前記基部または前記第1部材上に配置され、前記第2部材が前記第1部材から進出し、前記第1部材上に復帰するように、前記第2部材を移動させる伸縮ロッドを有する伸縮用シリンダーを備えていることを特徴とする請求項21に記載の基板搬送装置。 The sub-drive mechanism is
An expansion / contraction cylinder disposed on the base or the first member and having an expansion / contraction rod that moves the second member so that the second member advances from the first member and returns onto the first member. The substrate transfer apparatus according to claim 21, comprising:
前記加圧された気体を導入することにより、前記第1部材から突出し、それにともなって前記第2部材を前記第1部材上から進出させるベローズと
前記ベローズの内部が減圧された際に、前記第2部材が前記第1部材上に復帰するように、弾性的に付勢するバネと
を有することを特徴とする請求項21に記載の基板搬送装置。 The sub-drive mechanism is
When the pressurized gas is introduced, the bellows protrudes from the first member, and the second member moves forward from the first member. The substrate transfer apparatus according to claim 21, further comprising a spring that elastically biases the two members so as to return to the first member.
16. The apparatus according to claim 15, wherein the substrate is provided in a transfer chamber connected to a processing chamber for performing a predetermined process on the substrate on the substrate mounting table, and the substrate is transferred to the substrate mounting table provided in the processing chamber. Item 28. The substrate transfer apparatus according to any one of Items 27.
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KR (1) | KR100993453B1 (en) |
CN (1) | CN101329995B (en) |
TW (1) | TWI442504B (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011119327A (en) * | 2009-12-01 | 2011-06-16 | Tokyo Electron Ltd | Substrate conveyance device, and substrate processing system |
CN102862772A (en) * | 2012-09-19 | 2013-01-09 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Loading device and storage device of LCD (liquid crystal display) cassette |
JP2015058499A (en) * | 2013-09-18 | 2015-03-30 | 株式会社Tarama | Transport device |
CN107265071A (en) * | 2017-07-06 | 2017-10-20 | 深圳市海目星激光科技有限公司 | A kind of material carries streamline |
CN112110206A (en) * | 2020-09-10 | 2020-12-22 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | Bearing equipment and arm tooth fork thereof |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
PL3134338T3 (en) * | 2014-04-24 | 2021-09-27 | Quantum Workhealth Programmes Pty Ltd | A device for lifting and transporting sheet material |
CN105110006B (en) * | 2015-09-10 | 2017-06-09 | 京东方科技集团股份有限公司 | A kind of conveyer method of mechanical arm and substrate |
CN106429149B (en) * | 2016-11-04 | 2019-04-23 | 广东易库智能仓储设备科技有限公司 | A kind of intelligent storage tunnel robot mechanical arm |
CN106516742A (en) * | 2016-11-23 | 2017-03-22 | 成都中光电科技有限公司 | Glass sheet pulling-out device and method |
CN112447548A (en) * | 2019-09-03 | 2021-03-05 | 中微半导体设备(上海)股份有限公司 | Semiconductor processing equipment and transfer port structure between chambers |
KR102174162B1 (en) * | 2020-03-30 | 2020-11-04 | 김종식 | An Apparatus for Supplying and Discharging a Lead Frame Cassette |
CN115744265A (en) * | 2022-12-15 | 2023-03-07 | 无锡爱尔华光电科技有限公司 | Vacuum transfer robot |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000200810A (en) * | 1999-01-07 | 2000-07-18 | Micronics Japan Co Ltd | Prober |
JP2003246412A (en) * | 2002-02-22 | 2003-09-02 | Daifuku Co Ltd | Article transfer device and article storage facility equipped with article transfer device |
JP2004214689A (en) * | 2004-01-16 | 2004-07-29 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate treatment device |
JP2006131383A (en) * | 2004-11-09 | 2006-05-25 | Nippon Yusoki Co Ltd | Lifting carriage |
JP2007073599A (en) * | 2005-09-05 | 2007-03-22 | Tokyo Electron Ltd | Conveyance chamber, substrate processing apparatus, and method for detecting fault of substrate |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1110577A (en) | 1997-06-27 | 1999-01-19 | Mitsubishi Electric Corp | Rectilinear working device |
JP4254087B2 (en) | 2001-09-17 | 2009-04-15 | 株式会社安川電機 | Wafer transfer mechanism, vacuum chamber and wafer processing apparatus |
JP2004165579A (en) | 2002-09-18 | 2004-06-10 | Seiko Instruments Inc | Vacuum processor |
JP2006016144A (en) | 2004-07-01 | 2006-01-19 | Daihen Corp | Transfer robot |
-
2007
- 2007-06-22 JP JP2007165663A patent/JP5013987B2/en active Active
-
2008
- 2008-06-20 KR KR1020080058429A patent/KR100993453B1/en active IP Right Grant
- 2008-06-20 TW TW097123074A patent/TWI442504B/en not_active IP Right Cessation
- 2008-06-23 CN CN2008101248494A patent/CN101329995B/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000200810A (en) * | 1999-01-07 | 2000-07-18 | Micronics Japan Co Ltd | Prober |
JP2003246412A (en) * | 2002-02-22 | 2003-09-02 | Daifuku Co Ltd | Article transfer device and article storage facility equipped with article transfer device |
JP2004214689A (en) * | 2004-01-16 | 2004-07-29 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate treatment device |
JP2006131383A (en) * | 2004-11-09 | 2006-05-25 | Nippon Yusoki Co Ltd | Lifting carriage |
JP2007073599A (en) * | 2005-09-05 | 2007-03-22 | Tokyo Electron Ltd | Conveyance chamber, substrate processing apparatus, and method for detecting fault of substrate |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011119327A (en) * | 2009-12-01 | 2011-06-16 | Tokyo Electron Ltd | Substrate conveyance device, and substrate processing system |
KR101250584B1 (en) * | 2009-12-01 | 2013-04-03 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | Substrate conveying apparatus and substrate processing system |
CN102862772A (en) * | 2012-09-19 | 2013-01-09 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Loading device and storage device of LCD (liquid crystal display) cassette |
JP2015058499A (en) * | 2013-09-18 | 2015-03-30 | 株式会社Tarama | Transport device |
CN107265071A (en) * | 2017-07-06 | 2017-10-20 | 深圳市海目星激光科技有限公司 | A kind of material carries streamline |
CN107265071B (en) * | 2017-07-06 | 2023-03-21 | 海目星激光科技集团股份有限公司 | Material handling assembly line |
CN112110206A (en) * | 2020-09-10 | 2020-12-22 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | Bearing equipment and arm tooth fork thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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