JP2008290036A - ヘテロポリ酸塩触媒、ヘテロポリ酸塩触媒の製造方法及びアルキル芳香族化合物の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】下式(1)で表され、平均粒子径が300nm以下であるヘテロポリ酸塩結晶を主成分とするヘテロポリ酸塩触媒であって、芳香族化合物のアルキル化又はアルキル芳香族化合物のトランスアルキル化、不均化若しくは異性化反応に用いるヘテロポリ酸塩触媒。平均粒子径は以下の様にして決められる。すなわち、電子顕微鏡で式(1)のヘテロポリ酸塩触媒粒子を観察して、無作為に抽出した視野の写真から粒子1つ1つの直径を測定して、その直径の相加平均を平均粒子径とする。
H4-mZmSiY12O40 (1)
(YはW又はMoを表し、Zは(NH4)又はアルカリ金属原子を表し、mは0<m<4の任意の値を表す。)
【選択図】なし
Description
H4-mZmSiX12O40 (1)
(XはW又はMoを表し、Zは(NH4)又はアルカリ金属原子を表し、mは0<m<4の任意の値を表す。)
H4SiX12O40 (2)
(XはW又はMoを表す。)
H4SiX12O40 (2)
(XはW又はMoを表す。)
H4-mZmSiX12O40 (1)
(XはW又はMoを表し、Zは(NH4)又はアルカリ金属原子を表し、mは0<m<4の任意の値を表す。)
ヘテロポリ酸塩結晶の数量の割合は以下の様にして決められる。すなわち、電子顕微鏡でヘテロポリ酸塩触媒の結晶粒子を観察して無作為に抽出した写真数枚から1つ1つの結晶の短軸方向の径を測定して、平均粒子径が300nm未満の群と平均粒子径が300nm以上の群に分ける。この際に、平均粒子径が300nm未満の群の粒子数が全体の粒子数の60%以上であることが好ましい。
12−タングストケイ酸、12−モリブドケイ酸の塩は水溶液を用いてアルカリ金属と塩を形成した場合に大きな結晶粒子となり、高い触媒活性を示しにくいという性質がある。結晶粒子径を300nm未満とすることによって、活性の高い触媒を調製することは可能となるが、調製法によっては、結晶粒子径が小さいにもかかわらず、活性の低い触媒となる場合がある。そこで、高活性の触媒を調製するためには、できるだけ外表面酸量の多い触媒とすることが重要である。
触媒の酸量はミクロ細孔内にあるもの、外表面にあるものの2種類が知られているが、芳香族のアルキル化など、フリーデルクラフツ反応に寄与する酸点は外表面酸点であるので、外表面酸量の多い触媒を調製しなければならない。
外表面酸量を測定する方法としては、種々の方法が挙げられるが、本発明で採用したのは、2,6−ジメチルピリジン(以下2,6−DMPyと略称する)の昇温脱離法である。この方法はピリジン(以下Pyと略称する)の昇温脱離と比較して、2,6−DMPyの持つ立体障害のためにミクロ細孔に侵入しにくく、完全ではないものの、外表面酸量を反映する測定法となっている。測定法としては、触媒を窒素下で焼成した後、2,6−DMPyを吸着させて、300℃から900℃までの間に脱離した減量から、2,6−DMPyを吸着させないで、300℃から900℃までの間に脱離した減量(例えば、担体から脱離したH2Oなど)を差し引いて、2,6−DMPyの分子量で除して、触媒の酸量とする求め方である。測定を重量の減少で行っており、それをすべて2,6−DMPyとしているために厳密な正確さに欠けるが、本発明における触媒の酸量としては、この方法で求めた数値を使用した。
触媒の酸量はヘテロポリ酸塩(以下HPAと略称する)当たり、190μmol/g−HPA以上であるが、好ましくは190μmol/g−HPA以上1000μmol/g−HPA以下であり、より好ましくは280μmol/g−HPA以上1000μmol/g−HPA以下であり、さらに好ましくは300μmol/g−HPA以上1000μmol/g−HPA以下であり、さらにより好ましくは400μmol/g−HPA以上1000μmol/g−HPA以下である。詳しい測定方法は実施例において、示した。
H4-mZmSiX12O40 (1)
(XはW又はMoを表し、Zは(NH4)又はアルカリ金属原子を表し、mは0<m<4の任意の値を表す。)
H4SiX12O40 (2)
(XはW又はMoを表す。)
ヘテロポリ酸溶解工程:下式(2)で表されるヘテロポリ酸を脂肪族アルコール類を含有する飽和脂肪族炭化水素有機溶媒に溶解する工程。
アルカリ溶液調製工程:アルカリ金属化合物を脂肪族アルコール類に溶解する工程。
ヘテロポリ酸塩形成工程:ヘテロポリ酸溶解工程で調製したヘテロポリ酸溶液にアルカリ溶液調製工程で調製された溶液を加えて、ヘテロポリ酸塩を形成する工程。
溶媒蒸発工程:ヘテロポリ酸塩形成工程で調製された脂肪族アルコール類を含む懸濁液とヘテロポリ酸塩触媒の混合物から溶媒を蒸発させて触媒を固体として取り出す工程。
H4SiX12O40 (2)
(XはW又はMoを表す。)
ヘテロポリ酸担持工程:下式(2)で表されるヘテロポリ酸を担体に担持して担持ヘテロポリ酸を調製する工程。
アルカリ溶液調製工程:アンモニウム若しくはアルカリ金属化合物を脂肪族アルコール類の溶媒又は、有機溶媒および/または水溶媒を含有する脂肪族アルコールに溶解する工程。
ヘテロポリ酸塩形成工程:アルカリ溶液調製工程で調製された溶液に担持ヘテロポリ酸を加えて、ヘテロポリ酸塩を形成する工程。
溶媒蒸発工程:ヘテロポリ酸塩形成工程で調製された脂肪族アルコール類を含む懸濁液とヘテロポリ酸塩触媒の混合物から溶媒を蒸発させて触媒を固体として取り出す工程。
H4SiX12O40 (2)
(XはW又はMoを表す。)
ヘテロポリ酸担持工程:下式(2)で表されるヘテロポリ酸を担体に担持して担持ヘテロポリ酸を調製する工程。
アルカリ溶液調製工程:アルカリ金属化合物を脂肪族アルコール類を含有する飽和脂肪族炭化水素有機溶媒に溶解する工程。
ヘテロポリ酸塩形成工程:アルカリ溶液調製工程で調製された溶液に担持ヘテロポリ酸を加えて、ヘテロポリ酸塩を形成する工程。
溶媒蒸発工程:ヘテロポリ酸塩形成工程で調製された脂肪族アルコール類を含む懸濁液とヘテロポリ酸塩触媒の混合物から溶媒を蒸発させて触媒を固体として取り出す工程。
H4SiX12O40 (2)
(XはW又はMoを表す。)
1.触媒調製
市販の12−タングストケイ酸(H4SiW12O40 日本無機化学工業株式会社)990.54gを水500gに加え溶解した。ロータリーエバポレーターで、45℃に加熱しながら、水溶液を濃縮して、飽和水溶液とし、0℃で再結晶した。結晶を吸引ろ過し、486.72gの結晶を得た。母液を再度45℃に加熱して、濃縮し、0℃で再結晶した。結晶を吸引ろ過し、294.14gの結晶を得た。この操作を再度繰り返して、156.01gの結晶を得た。合計936.87gの結晶を得た後、粉砕して、風乾し、結晶粉末を得た。
シリカ担体(富士シリシア化学、CARIACT−50)を乳鉢で十分粉砕したものを350℃、2時間、焼成して、シリカ担体を得た。
水酸化セシウム(MP Biomedicals社製)10.23gを脱水エタノール100mlにメスフラスコを用いて溶解させた。CsOHの溶解しているエタノールを10mlのホールピペットで採取して、0.2mol/lのHCl標準溶液(f=1.005)で滴定したところ29.15mlを必要とした。その結果CsOHのエタノール溶液はCs+5.859×10-4mol/lと決定した。
先に調製した12−タングストケイ酸5.0gを脱水エタノール50mlに加え室温で十分攪拌し溶解した後、シリカ担体5.0gを加え、十分撹拌した。ロータリーエバポレーターで30℃でエタノールを蒸発させた。11.0gの白色固体を得た。これを乾燥機で70℃乾燥してシリカ担持12−タングストケイ酸9.1gを得た。担持量の計算値は50.0重量%であった。
脱水エタノール25mlと脱水ヘプタン25mlの混合溶媒にホールピペットおよびメスピペットを用いて、先に調製したCsOHのエタノール溶液3.15mlを溶解させた。これを十分撹拌しながら、既に調製したシリカ担持12−タングストケイ酸9.1gを加え2分間撹拌した。この懸濁液からロータリーエバポレーターを用いてエタノールとヘプタンを蒸発させた。9.32gの白色固体を得た。これを乾燥機で70℃乾燥してシリカ担持12−タングストケイ酸セシウム部分塩触媒を得た。固体の化学式は計算値から50重量%Cs1.37H2.63SiW12O40/SiO2であった。
この触媒を1〜2mmに成形して、内径10mm、外径12mmのステンレス反応管に、希釈剤のαアルミナ球(1mm)(Al2O3)4.3gと共に触媒を0.507g充填した。
触媒層を250℃に加熱して、窒素を200ml/minで流通させ、触媒の焼成を2時間行った。室温に冷却後、触媒層を所定温度に保持しながら、ベンゼンおよびプロピレンを所定圧力でアップフローで流通させ、ベンゼンのアルキル化反応を行った。
窒素下でベンゼンを8.5g/hで流通させ、プロピレンを12.5Nml/minで流通させ、反応圧を0.15MPaGに保持した。触媒層のホットスポットは49.9℃であった。
反応開始後、6時間経過したところで、反応液をサンプリングして、ガスクロマトグラフィーで分析した。プロピレン転化率は42.0%、クメン選択率は77.0%、ジイソプロピルベンゼン選択率は3異性体の合計値で17.4%であった。
反応開始後3時間から8時間の反応液をサンプリングし、反応液をICP発光分析で分析できる形態にした後、反応液に含まれるタングステン(W)の微量分析を行った。反応液に含まれるWは検出限界の0.1ppm以下であり、H4SiW12O40に換算すると0.13ppm以下であった。
触媒の外表面酸量を測定した。まず、触媒0.5gを分取して細かく粉砕して、250℃に加熱して、窒素を200ml/minで流通させながら、触媒の焼成を2時間行った。次いで、触媒をシュレンクに移し、オイルバスで加熱しながら、130℃で真空排気した。次に窒素を導入して、シュレンクを100℃に保持しながら、窒素気流中で、別の窒素気流で2,6−ジメチルピリジン(関東化学株式会社 特級 以下2,6−DMPyと略称する)をバブリングしたガスを触媒に通気して1分間2,6−DMPyを吸着させた。次いで、100℃で1時間真空排気した。この触媒の熱重量分析(TG)を行うために装置(Rigaku Thermo plus TG 8120)にサンプルを11.491mg載せた。サンプルを10℃/minの速度で昇温し1000℃まで測定した。300℃までの減少量は0.133mgであった。900℃までの減少量は0.552mgであった。サンプル重量は10.939mgに減少した。さらに、2,6−DMPyを吸着させていない触媒を16.956mg装置に載せ、同様に測定した。300℃までの減少量は0.419mgであった。900℃までの減少量は0.565mgであった。サンプル重量は16.391mgに減少した。以上から、2,6−DMPyを吸着させた触媒の吸着物が脱離した重量当たりの脱離量と2,6−DMPyを吸着させていない触媒の吸着物が脱離した重量当たりの脱離量を計算することができる。ただし、触媒のTGでは300℃までに物理吸着している吸着物、例えば水などが脱離すると考えて計算している。また、触媒の300℃から900℃までの脱離量はシリカ担体の表面OHと考えている。さらに、2,6−DMPyを吸着させた触媒の300℃から900℃までの脱離量はすべて2,6−DMPyとシリカ担体の表面OHであると考えて、これらの測定値から、請求項に表現している外表面酸量を計算している。触媒のミクロ細孔に吸着した2,6−DMPyもあると考えられるが、ここでは、請求項の外表面酸量をここで計算した値とした。
2,6−DMPyを吸着させた触媒の吸着物が脱離した触媒重量当たりの脱離量は
(0.552mg−0.133mg)/10.939mg
=0.419/10.939=38.30mg/g−catである。
2,6−DMPyを吸着させていない触媒の吸着物が脱離した重量当たりの脱離量は
(0.565mg−0.419mg)/16.391mg
=0.146/16.391=8.91mg/g−catである。
触媒に吸着している2,6−DMPyの量は上記2つの測定の差であり、
38.30−8.91=29.39mg/g−catである。
2,6−DMPyの分子量は107.15であるから、触媒の酸量は
29.39mg/g−cat/107.15
=0.274mmol/g−cat=274μmol/g−catであった。
12−タングストケイ酸セシウム部分塩の含量は50重量%であるからヘテロポリ酸塩(以後HPAと略称する)当たりの酸量は
274μmol/g−cat/0.5=549μmol/g−HPAであった。
次に、触媒(50重量%Cs1.37H2.63SiW12O40/SiO2)を走査電子顕微鏡(以後SEMと略称する。HITACHI FE−SEM S−4700)で10万倍で観察した。図1に示した。測定条件は、加速電圧5kVであった。図1から分かるように12−タングストケイ酸セシウム部分塩は短軸方向の平均粒子径42.2nmの結晶粒子からなるものであった。この値は25個の粒子の平均値である。この触媒においては、SEM観察の結果、この平均粒子径を上回る大きな粒子が見当たらなかったので、この平均粒子径の粒子が全体に占める割合はほぼ90%以上であった。
この結晶粒子の分析電顕(EDX(energy dispersive X−ray spectrometer))のスペクトル(図8)から分かるように、Cs元素、W元素が検出されていることから、結晶粒子は12−タングストケイ酸セシウム部分塩であることが分かる。
さらに、触媒を電界放出形走査透過電子顕微鏡(FE−STEM)で50万倍で観察した。観察の暗視野像(図2)においては、通常の透過電子顕微鏡の明視野像と異なり、重元素ほど輝度が明るく観察される結果となる。観察に用いた機種、条件は以下の通りである。メーカーは日本電子株式会社、型式はJEM−2200FSおよびJED−2300T(EDX)である。条件は、加速電圧200kV、ビーム径1.5nm、カメラ長4cm、試料傾斜角15°であった。観察した結果、SiO2粒子に担持されているヘテロポリ酸塩粒子はタングステン、セシウムなどの重元素がSiO2上に一様に担持されて白く輝いている像となっていることが分かる。また本観察と同時に行った元素マッピングにおいても、Si、O、とCs、Wはほぼ同様の分布となっており、このことからも12−タングストケイ酸セシウム部分塩はSiO2上に一様に担持されていることが分かる。
1.触媒調製
シリカ担体(富士シリシア化学、CARIACT−50)を乳鉢で十分粉砕したものを350℃、2時間、焼成して、シリカ担体を得た。
実施例1で調製した12−タングストケイ酸5.02gを脱水エタノール100mlと脱水ヘプタン100mlの混合溶媒に溶解した。十分攪拌しながら、シリカ担体5.0gを溶液に懸濁させた。十分攪拌しながら、実施例1で調製した水酸化セシウム6.26mlを16分で滴下した。滴下終了後、17分間攪拌した。次いで、白色懸濁液の溶媒をロータリーエバポレーターを用いて、30℃から50℃で留去した。白色固体10.0gを得た。固体の化学式は計算値から50重量%Cs2.5H1.5SiW12O40/SiO2であった。白色固体を乾燥機で70℃において十分乾燥し、9.9gの白色固体を得た。次いで、残留しているヘプタンを洗浄するために、脱水ヘキサン100mlを加え、十分撹拌して、上澄みを捨て、残存ヘキサンをロータリーエバポレーターを用いて、30℃から50℃で留去した。9.8gの白色固体を得た。これを乾燥機で70℃で十分乾燥して、シリカ担持12−タングストケイ酸セシウム部分塩触媒9.7gを得た。
この触媒を1〜2mmに成形して、実施例1に示した方法でベンゼンのアルキル化反応を行った。
触媒を0.51g使用し、ベンゼンの流量は、9.7g/h、プロピレンの流量は12.5Nml/min、反応圧は0.15MPaG、触媒層のホットスポットは50.0℃であった。
反応開始後、6時間経過したところで、反応液をサンプリングして、ガスクロマトグラフィーで分析した。プロピレン転化率は13.0%、クメン選択率は88.9%、ジイソプロピルベンゼン選択率は3異性体の合計値で8.16%であった。
実施例1に示した方法と同様にして、触媒の外表面酸量を測定した。結果を示す。
2,6−DMPyを吸着させたサンプル15.838mgをTGに載せた。
さらに、2,6−DMPyを吸着させていない触媒16.577mgをTGに載せた。
2,6−DMPyを吸着させた触媒の吸着物が脱離した触媒重量当たりの脱離量は
(0.544mg−0.173mg)/15.294mg
=0.371/15.294=24.26mg/g−catである。
2,6−DMPyを吸着させていない触媒の吸着物が脱離した重量当たりの脱離量は
(0.568mg−0.414mg)/16.009mg
=0.154/16.009=9.62mg/g−catである。
触媒に吸着している2,6−DMPyの量は上記2つの測定の差であり、
24.26−9.62=14.64mg/g−catであり、
2,6−DMPyの分子量は107.15であるから、触媒の酸量は
14.64mg/g−cat/107.15
=0.137mmol/g−cat=137μmol/g−catであった。
12−タングストケイ酸セシウム部分塩の含量は50重量%であるからヘテロポリ酸塩(HPA)当たりの酸量は
137μmol/g−cat/0.5=273μmol/g−HPAであった。
触媒(50重量%Cs2.5H1.5SiW12O40/SiO2)を走査電子顕微鏡(SEM)にて、実施例1と同様に観察した。図3に示した。図3から分かるように12−タングストケイ酸セシウム部分塩は短軸方向の平均粒子径46.9nmの結晶粒子からなるものであった。この値は22個の粒子の平均値である。この触媒においては、SEM観察の結果、この平均粒子径を上回る大きな粒子が見当たらなかったので、この平均粒子径の粒子が全体に占める割合はほぼ90%以上であった。
この結晶粒子の分析電顕(EDX)のスペクトル(図9)から分かるように、Cs元素、W元素が検知されていることから、結晶粒子は12−タングストケイ酸セシウム部分塩であることが分かる。
さらに実施例1と同様に触媒を電界放出形走査透過電子顕微鏡(FE−STEM)で50万倍で観察した。観察の暗視野像(図4)においては、通常の透過電子顕微鏡の明視野像と異なり、重元素ほど輝度が明るく観察される結果となる。観察した結果、SiO2粒子に担持されているヘテロポリ酸塩粒子はタングステン、セシウムなどの重元素がSiO2上に一様に担持されて白く輝いている像となっていることが分かる。また本観察と同時に行った元素マッピングにおいても、Si、O、とCs、Wはほぼ同様の分布となっており、このことからも12−タングストケイ酸セシウム部分塩はSiO2上に一様に担持されていることが分かる。
1.触媒調製
実施例1で調製した12−タングストケイ酸を使用した。以下実施例1と同様に触媒を調製した。
シリカ担体(富士シリシア化学、CARIACT−50)を乳鉢で十分粉砕したものを350℃、2時間、焼成して、シリカ担体を得た。
水酸化セシウム(MP Biomedicals社製)14.29gを脱水エタノール100mlにメスフラスコを用いて溶解させた。CsOHの溶解しているエタノールを10mlのホールピペットで採取して、0.2mol/lのHCl標準溶液(f=1.005)で滴定したところ40.9mlを必要とした。その結果CsOHのエタノール溶液はCs+8.221×10-4mol/lと決定した。
先に調製した12−タングストケイ酸5.0gを脱水エタノール50mlに加え室温で十分攪拌し溶解した後、シリカ担体5.0gを加え、十分撹拌した。ロータリーエバポレーターで25℃でエタノールを蒸発させた。11.4gの白色固体を得た。これを乾燥機で70℃で乾燥してシリカ担持12−タングストケイ酸9.4gを得た。担持量の計算値は50.0重量%であった。
脱水エタノール25mlと脱水ヘキサン25mlの混合溶媒にメスピペットを用いて、先に調製したCsOHのエタノール溶液2.23mlを溶解させた。これを十分撹拌しながら、既に調製したシリカ担持12−タングストケイ酸9.4gを加え2分間撹拌した。この懸濁液からロータリーエバポレーターを用いてエタノールとヘキサンを蒸発させた。11.9gの白色固体を得た。これを乾燥機で70℃乾燥してシリカ担持12−タングストケイ酸セシウム部分塩触媒9.4gを得た。固体の化学式は計算値から50重量%Cs1.30H2.70SiW12O40/SiO2であった。
この触媒を1〜2mmに成形して、内径10mm、外径12mmのステンレス反応管に触媒を5.0g充填した。
触媒層を250℃に加熱して、窒素を200ml/minで流通させ、触媒の焼成を2時間行った。室温に冷却後、触媒層を所定温度に保持しながら、以下の組成の原料を所定圧力でアップフローで流通させ、反応を行った。p−ジイソプロピルベンゼン(以下PDBと略称する)97.15wt%、o−ジイソプロピルベンゼン(以下ODBと略称する)2.17wt%、m−ジイソプロピルベンゼン(以下MDBと略称する)0.16wt%、その他0.52wt%であった。
窒素下で原料を11.9g/hで流通させ、反応圧を0.15MPaGに保持した。
反応開始後、22時間経過したところで、反応液をサンプリングした。触媒層のホットスポットは110℃であった。反応液をガスクロマトグラフィーで分析したところ、以下の組成であった。クメン5.59%、MDB16.02%、ODB0.14%、PDB68.46%、トリイソプロピルベンゼン9.15%、その他0.64%であった。以上から、ODBの転化率は93.5%であった。
1.触媒調製
シリカ担体(富士シリシア化学、CARIACT−50)を乳鉢で十分粉砕したものを350℃、2時間、焼成して、シリカ担体を得た。
実施例1で調製した12−タングストケイ酸10.0gを脱水エタノール100mlに加え室温で十分攪拌した後、シリカ担体10.0gを加え、撹拌した。ロータリーエバポレーターで30℃でエタノールを蒸発させた。22.0gの白色固体を得た。これを乾燥機で70℃乾燥してシリカ担持12−タングストケイ酸18.8gを得た。担持量の計算値は50.0重量%であった。
蒸留水50mlにホールピペットおよびメスピペットを用いて、実施例1で調製したCsOHのエタノール溶液3.15mlを溶解させた。これを十分撹拌しながら、既に調製したシリカ担持12−タングストケイ酸9.4gを加え5分間撹拌した。この懸濁液からロータリーエバポレーターを用いて水およびエタノールを蒸発させた。9.74gの白色固体を得た。これを乾燥機で70℃乾燥してシリカ担持12−タングストケイ酸セシウム部分塩触媒を得た。固体の化学式は計算値から50重量%Cs1.33H2.67SiW12O40/SiO2であった。
触媒(50重量%Cs1.33H2.67SiW12O40/SiO2)を走査電子顕微鏡にて、実施例1と同様に観察した。図5に示した。図5から分かるように短軸方向の平均粒子径47.5nmの結晶粒子からなるものであった。この値は35個の粒子の平均値である。しかし希に図6に示した様に、短軸方向の粒子径が300nm以上の粒子も存在する。
この結晶粒子の分析電顕(EDX)のスペクトルから分かるように、図5に相当するEDX(図10)からはCs元素が検出されず、W元素が検出されていることから、結晶粒子は12−タングストケイ酸セシウム部分塩ではないことが分かる。また、図6に相当するEDX(図11)からはCs元素、W元素が検知されていることから、300nm以上の大きな結晶粒子は12−タングストケイ酸セシウム部分塩であることが分かる。
1.触媒調製
シリカ担体(富士シリシア化学、CARIACT G−10)を乳鉢で十分粉砕したもの21.0gを350℃、2時間、焼成して、シリカ担体を得た。
実施例1で調製した12−タングストケイ酸4.6gを蒸留水150mlに加え室温で十分攪拌した後、シリカ担体10.0gを加えて十分撹拌した。ロータリーエバポレーターで50℃で水を蒸発させた。22.35gの白色固体を得た。これを乾燥機で70℃乾燥してシリカ担持12−タングストケイ酸14.3gを得た。担持量の計算値は結晶水を除いた値で28.6重量%であった。
この触媒を1〜2mmに成形して、実施例1に示した方法でベンゼンのアルキル化反応を行った。
触媒を0.50g使用し、ベンゼンの流量は、10.5g/h、プロピレンの流量は12.5Nml/min、反応圧は0.15MPaG、触媒層のホットスポットは53.0℃であった。
反応開始後22.5時間から25.5時間の反応液をサンプリングし、反応液をICP発光分析で分析できる形態にした後、反応液に含まれるタングステン(W)の微量分析を行った。反応液に含まれるWは1.7ppmであり、H4SiW12O40に換算すると2.2ppmであった。なお検出限界はWとして、0.1ppmであった。
1.触媒調製
シリカ担体(富士シリシア化学、CARIACT G−10)を乳鉢で十分粉砕したもの15.4gを350℃、2時間、焼成して、14.7gのシリカ担体を得た。
炭酸セシウム(ナカライテスク株式会社特級)6.40gを450℃、2時間窒素中で焼成して、6.297gの無水炭酸セシウムを得た。これを100mlのメスフラスコを用いて蒸留水に溶解して、Cs+3.865×10-4mol/lの水溶液を調製した。
実施例1で調製した12−タングストケイ酸18.29gを100mlの蒸留水に溶解し、十分攪拌しながら、先に調製した炭酸セシウム35.4mlを21分で滴下した。滴下終了後、十分攪拌して、1夜放置した。次いで、白色懸濁液の水をロータリーエバポレーターを用いて、40℃で留去した。白色固体18.61gを得た。固体の化学式は計算値からCs2.5H1.5SiW12O40であった。白色固体を乾燥機で70℃において十分乾燥した。
得られたCs2.5H1.5SiW12O401.0gとシリカ担体1.52gを蒸留水50mlに懸濁させ、十分攪拌した後、白色懸濁液の水をロータリーエバポレーターを用いて、40℃で留去した。白色固体2.55gを得た。さらに白色固体を乾燥機で70℃において十分乾燥して2.53gのシリカ担持12−タングストケイ酸セシウム部分塩触媒(40%Cs2.5H1.5SiW12O40/SiO2)を得た。
この触媒を1〜2mmに成形して、実施例1に示した方法でベンゼンのアルキル化反応を行った。
触媒を0.50g使用し、ベンゼンの流量は、10.9g/h、プロピレンの流量は12.5Nml/min、反応圧は0.15MPaG、触媒層のホットスポットは49.7℃であった。
反応開始後、6時間経過したところで、反応液をサンプリングして、ガスクロマトグラフィーで分析した。プロピレン転化率は11.8%、クメン選択率は89.4%、ジイソプロピルベンゼン選択率は3異性体の合計値で3.79%であった。
12−タングストケイ酸セシウム部分塩の形状を電子顕微鏡で観察するために同様にしてCs2.5H1.5SiW12O40を調製した。
炭酸セシウム9.75gを同様に焼成して、9.634gの無水炭酸セシウムを得た。これを水溶液にして、Cs+5.913×10-4mol/lの水溶液を調製した。
実施例1で調製した12−タングストケイ酸9.09gを蒸留水50mlに溶解して、十分撹拌しながら、炭酸セシウム11.5mlを加えた。滴下終了後、十分攪拌して、1夜放置した。次いで、白色懸濁液の水をロータリーエバポレーターを用いて、40℃で留去した。白色固体を得た。固体の化学式は計算値からCs2.5H1.5SiW12O40であった。白色固体を乾燥機で70℃において十分乾燥した。
白色固体(Cs2.5H1.5SiW12O40)を走査電子顕微鏡(SEM)にて、実施例1と同様に観察した。図7に示した。図7から分かるように12−タングストケイ酸セシウム部分塩は短軸方向の平均粒子径430nmの結晶粒子からなるものであった。この値は4個の粒子の平均値である。この触媒においては、SEM観察の結果、この平均粒子径を上回る大きな粒子が見当たらなかったので、この平均粒子径の粒子が全体に占める割合はほぼ90%以上であった。
触媒の調製
触媒の電子顕微鏡観察に使用した白色固体(Cs2.5H1.5SiW12O40)1.00gとシリカ担体(富士シリシア化学、CARIACT G−10)を乳鉢で十分粉砕し、350℃、2時間焼成したもの1.00gを水50mlに懸濁させて十分撹拌した後、ロータリーエバポレーターで加熱して水を蒸発させ2.0gの白色固体(50%Cs2.5H1.5SiW12O40/SiO2)を得た。次いで、乾燥機で70℃で十分乾燥させた。
実施例1に示した方法と同様にして、触媒の外表面酸量を測定した。結果を示す。
2,6−DMPyを吸着させたサンプル19.319mgをTGに載せた。
さらに、2,6−DMPyを吸着させていない触媒12.549mgをTGに載せた。
2,6−DMPyを吸着させた触媒の吸着物が脱離した触媒重量当たりの脱離量は
(0.561mg−0.193mg)/18.758mg
=0.368/18.758=19.62mg/g−catである。
2,6−DMPyを吸着させていない触媒の吸着物が脱離した重量当たりの脱離量は
(0.429mg−0.305mg)/12.120mg
=0.124/12.120=10.23mg/g−catである。
触媒に吸着している2,6−DMPyの量は上記2つの測定の差であり、
19.62−10.23=9.39mg/g−catであり、
2,6−DMPyの分子量は107.15であるから、触媒の酸量は
9.39mg/g−cat/107.15
=0.0876mmol/g−cat=87.6μmol/g−catであった。
12−タングストケイ酸セシウム部分塩の含量は50重量%であるからヘテロポリ酸塩(HPA)当たりの酸量は
87.6μmol/g−cat/0.5=175μmol/g−HPAであった。
1.触媒
市販のモルデナイト(東ソー株式会社 HSZ−690HOD1A、SiO2/Al2O3=230、1.5mm押し出し)を使用した。
この触媒を内径10mm、外径12mmのステンレス反応管に5.0g充填した。
触媒層を250℃に加熱して、窒素を200ml/minで流通させ、触媒の焼成を2時間行った。室温に冷却後、触媒層を所定温度に保持しながら、実施例3と同じ組成の原料を所定圧力でアップフローで流通させ、実施例3と同様に反応を行った。
窒素下で原料を12.2g/hで流通させ、反応圧を0.15MPaGに保持した。
反応開始後、16時間経過したところで、反応液をサンプリングした。触媒層のホットスポットは170℃であった。反応液をガスクロマトグラフィーで分析したところ、以下の組成であった。クメン0.78%、MDB17.54%、ODB2.12%、PDB78.33%、トリイソプロピルベンゼン0.48%、その他0.75%であった。以上から、ODBの転化率は2.3%であった。
Claims (13)
- 下式(1)で表され、結晶の短軸方向の平均粒子径が300nm未満であるヘテロポリ酸塩結晶を主成分とするヘテロポリ酸塩触媒であって、ヘテロポリ酸塩重量当たり190μmol/g以上の外表面酸量を有する触媒であって、芳香族化合物のアルキル化又はアルキル芳香族化合物のトランスアルキル化、不均化若しくは異性化反応に用いるヘテロポリ酸塩触媒。
H4-mZmSiX12O40 (1)
(XはW又はMoを表し、Zは(NH4)又はアルカリ金属原子を表し、mは0<m<4の任意の値を表す。) - 触媒の外表面酸量がヘテロポリ酸塩重量当たり280μmol/g以上である請求項1記載のヘテロポリ酸塩触媒。
- 請求項1で表されるヘテロポリ酸塩触媒の製造方法であって、下式(2)で表されるヘテロポリ酸または担体に担持されたヘテロポリ酸を脂肪族アルコール類の溶媒又は有機溶媒および/または水溶媒を含有する脂肪族アルコール類の存在下、アンモニウム若しくはアルカリ金属化合物の溶液から塩形成によって調製するヘテロポリ酸塩触媒の製造方法。
H4SiX12O40 (2)
(XはW又はMoを表す。) - 塩形成の方法が以下の方法である請求項3のヘテロポリ酸塩触媒の製造方法。
ヘテロポリ酸溶解工程:下式(2)で表されるヘテロポリ酸を脂肪族アルコール類を含有する飽和脂肪族炭化水素有機溶媒に溶解する工程。
アルカリ溶液調製工程:アルカリ金属化合物を脂肪族アルコール類に溶解する工程。
ヘテロポリ酸塩形成工程:ヘテロポリ酸溶解工程で調製したヘテロポリ酸溶液にアルカリ溶液調製工程で調製された溶液を加えて、ヘテロポリ酸塩を形成する工程。
溶媒蒸発工程:ヘテロポリ酸塩形成工程で調製された脂肪族アルコール類を含む溶液とヘテロポリ酸塩触媒の混合物から溶媒を蒸発させて触媒を固体として取り出す工程。
H4SiX12O40 (2)
(XはW又はMoを表す。) - 塩形成の方法が以下の方法である請求項3のヘテロポリ酸塩触媒の製造方法。
ヘテロポリ酸担持工程:下式(2)で表されるヘテロポリ酸を担体に担持して担持ヘテロポリ酸を調製する工程。
アルカリ溶液調製工程:アンモニウム若しくはアルカリ金属化合物を脂肪族アルコール類の溶媒又は、有機溶媒および/または水溶媒を含有する脂肪族アルコールに溶解する工程。
ヘテロポリ酸塩形成工程:アルカリ溶液調製工程で調製された溶液に担持ヘテロポリ酸を加えて、ヘテロポリ酸塩を形成する工程。
溶媒蒸発工程:ヘテロポリ酸塩形成工程で調製された脂肪族アルコール類を含む溶液とヘテロポリ酸塩触媒の混合物から溶媒を蒸発させて触媒を固体として取り出す工程。
H4SiX12O40 (2)
(XはW又はMoを表す。) - 請求項1または2記載のヘテロポリ酸塩触媒の存在下、芳香族化合物とオレフィンを接触させることを特徴とする、アルキル化によるアルキル芳香族化合物の製造方法。
- 請求項1または2記載のヘテロポリ酸塩触媒の存在下、芳香族化合物とオレフィンを接触させてアルキル化反応を行う際、ヘテロポリ酸の溶出が反応液中の濃度として2wtppm以下であることを特徴とする、アルキル芳香族化合物の製造方法。
- 請求項1または2記載のヘテロポリ酸塩触媒の存在下、芳香族化合物及び/又はアルキル芳香族化合物をポリアルキル芳香族化合物と接触させることを特徴とする、トランスアルキル化反応又は不均化反応によるアルキル芳香族化合物の製造方法。
- 請求項1または2記載のヘテロポリ酸塩触媒の存在下、芳香族化合物及び/又はアルキル芳香族化合物をポリアルキル芳香族化合物と接触させてトランスアルキル化反応又は不均化反応を行う際、ヘテロポリ酸の溶出が反応液中の濃度として2wtppm以下であることを特徴とする、アルキル芳香族化合物の製造方法。
- 請求項1または2記載のヘテロポリ酸塩触媒の存在下、2置換以上のアルキル芳香族化合物のアルキル基の置換位置異性化反応を行わせることを特徴とする、2置換以上のアルキル芳香族化合物の製造方法。
- 請求項1または2記載のヘテロポリ酸塩触媒の存在下、2置換以上のアルキル芳香族化合物のアルキル基の置換位置異性化反応を行わせる際、ヘテロポリ酸の溶出が反応液中の濃度として2wtppm以下であることを特徴とする、2置換以上のアルキル芳香族化合物の製造方法。
- 請求項1または2記載のヘテロポリ酸塩触媒の存在下、ベンゼンとプロピレンを接触させることを特徴とする、クメン及び/又はジイソプロピルベンゼンの製造方法。
- 請求項1または2記載のヘテロポリ酸塩触媒の存在下、ベンゼンとプロピレンを接触させる際、ヘテロポリ酸の溶出が反応液中の濃度として2wtppm以下であることを特徴とする、クメン及び/又はジイソプロピルベンゼンの製造方法。
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