JP2008288484A - 電子部品の実装方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】電子部品の形状・高さや電子部品の間隔に関係無く、ランドに半田の追加供給が行える電子部品の実装を提供する。
【解決手段】この電子部品の実装方法は、基板100のランド101上に半田ペースト102を供給する工程(b)と、半田ペースト102の供給されたランド101上に電子部品103A−103Gを搭載する工程(c)と、電子部品103A−103Gの上方から、ランド101における電子部品103A−103Gの周囲に張り出した張出部101a上に溶融状態の半田106を吐出して、半田を追加供給する工程(d)と、熱処理により半田ペースト102と追加供給した半田106とを溶融して、電子部品103A−103Gとランド101とを半田接続する工程とを備える。
【選択図】図2
【解決手段】この電子部品の実装方法は、基板100のランド101上に半田ペースト102を供給する工程(b)と、半田ペースト102の供給されたランド101上に電子部品103A−103Gを搭載する工程(c)と、電子部品103A−103Gの上方から、ランド101における電子部品103A−103Gの周囲に張り出した張出部101a上に溶融状態の半田106を吐出して、半田を追加供給する工程(d)と、熱処理により半田ペースト102と追加供給した半田106とを溶融して、電子部品103A−103Gとランド101とを半田接続する工程とを備える。
【選択図】図2
Description
本発明は、半田により電子部品を基板に実装する方法に関するものである。
基板上にSOPやQFP等の電子部品を実装する際に、基板のランド上に半田ペーストを印刷により供給するのが一般的である。この半田ペーストの供給は、電子部品の搭載前に一様な膜厚で行われ、且つメタルマスクを用いて電子部品サイズに応じた形状および大きさのパターンとなる様に行われる。この様な電子部品の基板への実装に関する技術として特許文献1,2が知られている。
半田ペーストを印刷する場合、一様な厚さで半田の供給を行う。そのため電子部品サイズが大きい場合は、半田が不足し、良好なフィレットが形成できない。これは、電子部品の基板への実装の信頼性上問題があり、半田の追加供給が必要となる。
特許文献1では、半田の追加供給方法として、フラックスを塗布した半田チップを電子部品の上面または側面に貼り付けることにより、半田の追加供給を行っている。半田チップを電子部品上に供給する場合、電子部品の高さが不揃いであると、マウント装置による半田チップの接着は困難である。
電子部品の実装の信頼性を向上させるには、電子部品の上面よりも側面への供給が有効である。しかし電子部品の側面への半田チップの接着は、マウント装置を用いる場合、電子部品間の隙間が狭くなると、非常に困難である。また接着が行われる電子部品の側面が例えば円柱形状のような曲面の場合も、半田チップの接着は非常に困難となる。
特許文献2では、ディスペンサを用いて、電子部品上に半田ペーストを追加供給している。電子部品の側面に良好なフィレットを形成するためには、半田ペーストの溶融後、電子部品の上方から電子部品の側面に十分な量の半田が供給される必要がある。しかし、これを制御することは非常に困難である。また半田ペーストは塗布後に拡がるため、多量に供給したい場合、ランドの面積を相当大きくする必要がある。またランドから半田ペーストが溢れた場合、半田ボールや半田ブリッジが発生するという問題が生じる。
これらの先行技術から、電子部品の基板への実装の信頼性を向上させるためには、電子部品の側面への良好なフィレットの形成が必要で、電子部品の側面の高さ方向に沿って、半田供給することが最も有効である。
この発明は、上述のような課題を解消するためになされたもので、第1に、電子部品の形状・高さや電子部品の間隔に関係無く、ランドに半田の追加供給が行える電子部品の実装を提供すること、第2に、ランドをそれほど大きく拡大しなくても半田を多量に供給できる電子部品の実装方法を提供すること、第3に、半田ボールや半田ブリッジの発生を防止できる電子部品の実装方法を提供することにある。
上記課題を解決する為に、本発明の第1の形態は、基板のランド上に半田ペーストを供給する工程と、前記半田ペーストの供給された前記ランド上に電子部品を搭載する工程と、前記電子部品の上方から、前記ランドにおける前記電子部品の周囲に張り出した張出部上に溶融状態の半田を吐出して、半田を追加供給する工程と、熱処理により前記半田ペーストと前記追加供給した半田とを溶融して、前記電子部品と前記ランドとを半田接続する工程と、を備えるものである。
第1の形態によれば、溶融状態の半田106を電子部品103A−103Gの上方から吐出してランド101上に供給するので、各電子部品103A−103G間の間隔が狭くても、また各電子部品103A−103Gの高さが揃っていなくても、容易にランド101に半田を追加供給できる。
また電子部品103A−103Gの上方から溶融状態の半田106を吐出してランド101上に供給するので、溶融状態の半田106の吐出開始位置を電子部品103A−103Gの形状に合わせて移動させるだけで、電子部品103A−103Gの形状が、矩形の場合は勿論、矩形以外のどんな形状の場合であっても、容易にランド101に半田を追加供給できる。
実施の形態1.
この実施の形態に係る電子部品の実装方法は、半田により電子部品を基板に実装する方法であり、図1の様に、半田ペースト印刷工程と、部品搭載・接着工程と、溶融半田供給工程と、リフロー工程とを備えている。ここでは、電子部品は、例えば、SOPやQFP等の様に、その両側面にリード端子が配設されてパッケージングされて構成されている。
この実施の形態に係る電子部品の実装方法は、半田により電子部品を基板に実装する方法であり、図1の様に、半田ペースト印刷工程と、部品搭載・接着工程と、溶融半田供給工程と、リフロー工程とを備えている。ここでは、電子部品は、例えば、SOPやQFP等の様に、その両側面にリード端子が配設されてパッケージングされて構成されている。
半田ペースト印刷工程では、基板のランド上に半田ペーストが印刷により供給される。その際、メタルマスクを用いたスクリーン印刷等の印刷方法により、半田ペーストがランド上にパターン形成されて供給される。
部品搭載・接着工程では、前記半田ペーストの供給された前記ランド上に電子部品が搭載される。その際、半田ペーストに含有されたフラックスの作用により、電子部品が前記ランドに接着される。この接着により電子部品は、リフロー工程までの間、基板上に固定される。
溶融半田供給工程では、前記電子部品の上方から、前記ランドにおける前記電子部品の周囲に張り出した張出部上に溶融状態の半田が吐出されて、半田が追加供給される。この工程は、半田ペースト印刷工程の半田供給だけでは、半田が不足している電子部品に対してのみ行われる。
リフロー工程では、例えばリフロー炉内での熱処理により、半田ペースト印刷工程で供給された半田ペーストと、溶融半田供給工程で追加供給された半田とが同時に溶融されて、電子部品とランドとが半田接続される。この実施の形態では、このリフロー工程以外に熱処理は不要である。
次に図2を用いて、この実施の形態に係る電子部品の実装方法について具体的な説明を行う。図2では、サイズの異なる複数の電子部品103(103A−103G)を基板100に実装する場合の一例が示されている。
まず図2の工程(a)では、電子部品を実装する基板100を準備する。この基板100には、電子部品を搭載するための半田付け用のランド101が複数形成されている。各ランド101のサイズは、それに搭載される電子部品のサイズに応じて形成されている。ここでは、対向配置する一対のランド101が、1つの電子部品に対応している。
そして図2の工程(b)(即ち半田ペースト印刷工程)で、基板100の各ランド101上にメタルマスク(図示省略)を用いて半田ペースト102を印刷することで、それら各ランド101の上面全体に、均一な厚さで半田ペースト102を供給する。
その際、面積の大きいランド101では、半田ペースト102だけでは、半田の量が不足するので、半田を追加供給する必要がある。例えば、ランド101Bの面積は小さいので、半田ペースト102のみで半田は十分であるが、それ以外のランド101は面積が大きいので、電子部品の実装時に良好なフィレットが形成されるめには、半田ペースト102のみでは半田が不足する。そのため、ランド101B以外のランド101には、後の工程(d)で半田が追加供給される。
そして図2の工程(c)(即ち部品搭載・接着工程)で、各ランド101上に電子部品103A−103Gを搭載する。その際、各電子部品103A−103Gは、各ランド101に供給された半田ペースト102に含まれるフラックスの作用により、各ランド101に接着される。
そして図2の工程(d)(即ち溶融半田供給工程)で、電子部品103A,103C−103Gの搭載されたランド(即ち半田の追加供給の必要なランド)101におけるその電子部品の周囲に張り出した張出部101a上に、溶融状態の半田106を液滴状に吐出可能な吐出装置108を用いて、電子部品103A,103C−103Gの上方から溶融状態の半田106を液滴状に吐出して、各ランド101に半田106を追加供給する。ここでは、電子部品103Bの搭載されたランド101Bには、上述の通り、溶融状態の半田106は追加供給されない。
その際、各ランド101の張出部101aに追加供給される溶融状態の半田106は、そのランド101上に搭載された電子部品103A,103C−103Gの側面に沿って積み上げられて追加供給される。その際、積み上げる高さ調整することで、半田106の追加供給量の調整が行われる。
そして、吐出装置108の位置(即ち溶融状態の半田106の吐出開始位置)を電子部品の形状に合わせて横方向に移動させることで、各ランド101の張出部101a上の例えば数カ所に、上述の様にして半田106を追加供給する。
吐出装置108としては、例えば特開2000−294591に開示されているバンプ形成装置を使用しても良い。このバンプ形成装置は、図3の様に、溶融状態の半田106を貯蔵する第1のタンク3と、半田106の流入口5を有するキャビティ6と、キャビティ6の下部に配置されたノズル8と、ダイアフラム9及び圧電素子10によって構成された加圧素子と、第1のタンク3、配管4及びキャビティ6を加熱する第1のヒータ11と、不活性ガスをノズル8の開口部7に導入する不活性ガス導入管24とを備えている。
尚、図3中、符号18,20は不活性ガス導入管であり、符号19,21は不活性ガス排気管であり、符号14は個体状の半田を貯蔵する第2のタンクであり、符号13は、第2のタンク14の開口部であり、符号15は、第2のタンク14に貯蔵された半田を溶融する第2のヒータであり、符号16は、第1のタンク3内の溶融状態の半田106の液面高さを検出する液面検出器であり、符号17は、液面検出器16からの検出信号に基づいて第2のヒータ15を制御する液面制御部である。
このバンプ形成装置の主要部分の動作説明をすると、まず配管4を通じて第1のタンク3からキャビティ6に溶融状態の半田106が供給される。そして電圧印加により圧電素子10を伸張させることで、その圧電素子10と接するダイヤフラム9を変位させ、その変位によるダイヤフラム9からの圧力により、キャビティ6内の溶融状態の半田106をノズル8の開口部7から液滴状に吐出させる。その際、不活性ガス導入管24によりノズル開口部7付近に不活性ガスが導入され、その不活性ガスにより、ノズル8から吐出された溶融状態の半田106の酸化が防止される。この様にして、バンプ形成装置から溶融状態の半田106が液滴状に吐出される。
尚、吐出装置108は、上記のバンプ形成装置に限定されず、溶融状態の半田106を空中から液滴状に吐出可能なものであれば、様態は問わない。
そして最後に、リフロー工程で、この基板100を例えばリフロー炉内で熱処理することで、半田106が追加供給されたランド101では、半田ペースト102と追加供給された半田106とが同時に溶融して、その溶融半田により、それら各ランド101と各電子部品103A,103C−103Gとが半田接続され、他方、半田106が追加供給されていないランド101Bでは、半田ペースト102のみが溶融し、その溶融半田により、そのランド101Bと電子部品103Bとが半田接続される。
この様に半田接続することで、各電子部品103A−103Gの側面には、図4の様に、上記の溶融半田により良好な(即ち例えば電子部品103A−103Gの上面まで達した)フィレット107が形成される。この様にして各電子部品103A−103Gが基板100に実装される。
以上に説明した電子部品の実装方法によれば、溶融状態の半田106を電子部品103A−103Gの上方から吐出してランド101上に供給するので、各電子部品103A−103G間の間隔が狭くても、また各電子部品103A−103Gの高さが揃っていなくても、容易にランド101に半田を追加供給できる。
また電子部品103A−103Gの上方から溶融状態の半田106を吐出してランド101上に供給するので、溶融状態の半田106の吐出開始位置を電子部品103A−103Gの形状に合わせて移動させるだけで、電子部品103A−103Gの形状が、矩形の場合は勿論、矩形以外のどんな形状の場合であっても、容易にランド101に半田を追加供給できる。
また溶融状態の半田106は積み上げて供給されるので、半田106の追加供給量を、各電子部品103A−103G毎に自由に設定できると共にランド101の張出部101aが狭くても(即ちランド101をそれほど大きく拡大しなくても)多量に設定できる。
実施の形態2.
実施の形態1において、ランド101の張出部101aをランド101の周囲に部分的に形成しても良い。以下、その様にした場合の一例を図5を用いて説明する。
実施の形態1において、ランド101の張出部101aをランド101の周囲に部分的に形成しても良い。以下、その様にした場合の一例を図5を用いて説明する。
即ちその様にした場合の、半田の追加供給の必要なランド101の形状は、図5(a)の様に、電子部品の形状に応じた形状のランド本体101pと、溶融状態の半田106が供給される張出部101qとが組み合わせた形状に形成される。ここでは、張出部101qは、ランド本体101pの周囲に部分的に形成され、各張出部101qは、例えば、溶融状態の半田106の液滴程度の大きさの領域(比較的小さい領域)で且つ略半円状に形成されている。尚、図5の張出部101qの形状および大きさは、一例であり、これに限定はされず、基板100のランド101の配置から可能な形状および大きさに形成すれば良い。
またその様にした場合、半田ペースト印刷工程では、通常は、半田を多く供給するためにランド101の上面全体に半田ペースト102を供給するが、この実施の形態では、半田の追加供給の必要なランド101に対しては、図5(b)の様に、メタルマスクを用いたスクリーン印刷等の印刷方法により、半田ペースト102を、ランド本体101pにのみ供給して張出部101qには供給しない様にする。そして溶融半田供給工程では、半田ペースト102の供給されていない張出部101qに、実施の形態1の場合と同様に、溶融状態の半田106を吐出して、半田の追加供給を行う。
尚、他の工程は、実施の形態1と同様である。
以上に説明した電子部品の実装方法によれば、複数の電子部品を1枚の基板100上に実装する場合は、ランド101の面積を拡大するのは困難であるが、この実施の形態では、張出部101qをランド本体101pの周囲に部分的に形成するので、ランド101の面積が大きくなり過ぎることを防止しつつ、張出部101qを確保できる(即ち多量の半田を追加供給できる)。
また半田ペースト印刷工程では、張出部101qに半田ペースト102を供給しないので、半田ペースト102の供給量を低減できる。
尚、この実施の形態において、電子部品の間隔が狭い場合(即ち隣接するランド101の間隔が狭い場合)は、図6の様に、各ランド101の張出部101qを、隣接するランド101間Sで、互い違いに形成しても良い。この様にすれば、電子部品の間隔が狭い場合でも、各ランド101間Sで半田ブリッジが発生する事を抑制できる。
実施の形態3.
実施の形態1において、ランド101における半田ペースト102の供給領域の面積を、そのランド101に搭載される電子部品のサイズと同程度まで小さくして、そのランド101の張出部(電子部品の周囲に張り出す部分)101aに半田ペースト102を供給しない様にしても良い。以下、その様にした場合の一例を図7を用いて説明する。
実施の形態1において、ランド101における半田ペースト102の供給領域の面積を、そのランド101に搭載される電子部品のサイズと同程度まで小さくして、そのランド101の張出部(電子部品の周囲に張り出す部分)101aに半田ペースト102を供給しない様にしても良い。以下、その様にした場合の一例を図7を用いて説明する。
即ちその様にする場合、実施の形態1の半田ペースト印刷工程で、図7の様に、半田の追加供給の必要なランド101における半田ペースト102の供給領域101sの面積を、そのランド101の上面全体から、そのランド101に搭載される電子部品のサイズと略同等の面積に変更して、半田ペースト102をランド101に供給する。通常、ランドのサイズは、それに搭載される電子部品のサイズより若干大きいので、ランド101の周縁に半田ペースト102の供給されない領域が残る(これが張出部101aになる)。
そして溶融半田追加工程で、実施の形態1の場合と同様に、その張出部101aに溶融状態の半田106を追加供給する。
尚、他の工程は、実施の形態1と同様である。
以上に説明した電子部品の実装方法によれば、ランド101における半田ペースト102の供給領域101sの面積が、そのランド101に搭載される電子部品のサイズと略同等の面積に小さくされるので、半田ペースト102の供給量を低減できる。
実施の形態4.
実施の形態1において、溶融状態の半田106をランド101に追加供給する際、吐出装置108の位置を少しずつ移動させつつその半田106を吐出することで、図8の様に、その半田106を、その半田106が吐出されるランド101に搭載された電子部品103の側面103a側にもたれかかる様に積み上げて追加供給しても良い。
実施の形態1において、溶融状態の半田106をランド101に追加供給する際、吐出装置108の位置を少しずつ移動させつつその半田106を吐出することで、図8の様に、その半田106を、その半田106が吐出されるランド101に搭載された電子部品103の側面103a側にもたれかかる様に積み上げて追加供給しても良い。
尚、ランド101の張出部101aの張出幅が狭くて、溶融状態の半田106を電子部品103の側面103aにもたれかかる様に積み上げることが困難な場合は、図9の様に、溶融状態の半田106を、隣りに積み上げられた半田106sにもたれかかる様に積み上げても良い。尚、図9では、積み上げられた一対の半田106,106sが、互いにもたれあう様に積み上げられている。
この様にすることで、溶融状態の半田106を積み上げて供給した際に、その積み上げた半田106が隣りのランド101側に倒れる事を防止でき、これにより半田ブリッジや半田ボールが発生する事を防止できる。
尚、実施の形態1−4の組み合わせも、本発明の実施の形態に含まれるものとする。
100 基板、101 ランド、101a,101q 張出部、101p ランド本体、101s 半田ペーストの供給領域、102 半田ペースト、103,103A−103G 電子部品、103a 電子部品の側面、106 溶融状態の半田、107 フィレット、108 吐出装置。
Claims (6)
- 基板のランド上に半田ペーストを供給する工程と、
前記半田ペーストの供給された前記ランド上に電子部品を搭載する工程と、
前記電子部品の上方から、前記ランドにおける前記電子部品の周囲に張り出した張出部上に溶融状態の半田を吐出して、半田を追加供給する工程と、
熱処理により前記半田ペーストと前記追加供給した半田とを溶融させて、前記電子部品と前記ランドとを半田接続する工程と、
を備えることを特徴とする電子部品の実装方法。 - 前記溶融状態の半田は、積み上げられて追加供給されることを特徴とする請求項1に記載の電子部品の実装方法。
- 前記溶融状態の半田は、その半田が吐出される前記ランドに搭載された前記電子部品の側面にもたれかかる様に、または隣りに積み上げられて追加供給された前記溶融状態の半田にもたれかかる様に積み上げられることを特徴とする請求項2に記載の電子部品の実装方法。
- 前記ランドは、
前記電子部品の形状に応じた形状のランド本体と、
前記ランド本体の周囲に部分的に形成された前記張出部と、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の電子部品の実装方法。 - 前記ランドが複数存在する場合において、前記各ランドの前記張出部は、隣接するランド間で、互い違いに形成されることを特徴とする請求項4に記載の電子部品の実装方法。
- 前記ランドにおける前記半田ペーストの供給領域の面積は、当該ランドに搭載される電子部品のサイズと略同等の面積であることを特徴とする請求項1に記載の電子部品の実装方法。
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Cited By (1)
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US9815133B2 (en) | 2014-08-05 | 2017-11-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Method for producing a module |
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