JP2008286925A - 露光用マスクの初期位置及び姿勢調整方法 - Google Patents

露光用マスクの初期位置及び姿勢調整方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008286925A
JP2008286925A JP2007130438A JP2007130438A JP2008286925A JP 2008286925 A JP2008286925 A JP 2008286925A JP 2007130438 A JP2007130438 A JP 2007130438A JP 2007130438 A JP2007130438 A JP 2007130438A JP 2008286925 A JP2008286925 A JP 2008286925A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exposure
mask
alignment mark
substrate
imaging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007130438A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5076233B2 (ja
Inventor
Takuro Takeshita
琢郎 竹下
Yukio Ito
行男 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
V Technology Co Ltd
Original Assignee
V Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by V Technology Co Ltd filed Critical V Technology Co Ltd
Priority to JP2007130438A priority Critical patent/JP5076233B2/ja
Publication of JP2008286925A publication Critical patent/JP2008286925A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5076233B2 publication Critical patent/JP5076233B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】マスクホルダー内の複数の露光用マスクの夫々と、露光対象基板との位置関係をチェックし、容易に複数の露光用マスクの夫々の初期位置及び姿勢をセットする方法を提供する。
【解決手段】基板Wの第2のアライメントマークを、CCDカメラ6で撮像しその画像がCCDカメラ6の画像の所定の位置に位置するようにCCDカメラ6の位置をセットしその位置における前記第2のアライメントマークのCCDカメラ6の画像上の位置データを記憶させた後マスク4aの第1のアライメントマークをCCDカメラ6で撮像して得られた、第1のアライメントマークのCCDカメラ6の画像上の位置データと上記第2のアライメントマークの位置データとを比較し第1のアライメントマークと第2のアライメントマークとの位置ズレ量が最小になるように露光用マスク4aの初期位置及び姿勢を調整する。
【選択図】図6

Description

本発明は、近接露光用マスクの初期位置及び姿勢の調整方法に関し、詳しくは、露光対象基板より小さいマスクを用いて、連続的に近接露光する露光装置における、露光用マスクの初期位置及び姿勢の調整方法に関するものである。
近年の液晶表示装置のカラーフィルター等の基板の大型化の伴い、露光に用いられる露光装置は、露光対象基板より小さい露光用マスクを、露光対象基板に近接させて露光用マスクの露光用パターンを露光対象基板に転写露光する装置(以下、「近接露光装置)という)が提案されている。
この近接露光装置では、露光対象基板を所定の露光位置にステップ移動させながら、露光する方式もの(特許文献1)と、露光対象基板を所定の露光位置に連続的に移動させながら露光する方式もの(特許文献2)があるが、いずれの方式においても、マスクホルダー下方に保持された露光対象基板に、露光用マスクの露光パターンが間欠的または連続的に転写されるため、露光用マスクと露光対象基板との位置合わせを、各ステップごと、または、連続的に行いながら、露光用マスクの露光用パターンを、露光対象基板に転写露光している。
特開2002−265810号公報 特開2006−323188号公報
しかし、露光対象基板より小さい複数の露光用マスクをマスクホルダーに平面状に並べて、1つのマスクユニットとして使用する場合は、この複数の露光用マスクの夫々の初期位置及び姿勢が、ステップ送り、または、連続送りされる露光対象基板に対して正しい位置及び姿勢でないと、その正しくない位置及び姿勢による、露光用パターンによる露光対象基板への露光が繰り返し行われてしまう問題がある。
特に、露光用マスクの露光用パターンが、図3に示すようなスリット状のものである場合、このスリットが露光対象基板の搬送方向に平行でないと、前記スリット幅より広い幅で露光対象基板が露光されてしまうため、前記連続近接露光装置の組立て時に、露光用マスクの位置及び姿勢を予め露光対象基板の搬送方向に平行で、適正位置になるようセットする必要がある。
そして、この露光用マスクの位置及び姿勢を予め露光対象基板の搬送方向に平行で、適正位置になるようセットするためには、前記連続近接露光装置の組立て時に、夫々の露光用マスクと露光対象基板との位置関係をチェックしながら、露光用マスクの初期位置をセットする必要があり、前記連続近接露光装置の組立て作業時間の短縮ができないという問題があった。
そこで、本発明は、上記従来の問題に鑑み、マスクホルダー内の少なくも1つ以上の露光用マスクと、露光対象基板との位置関係をチェックし、容易に露光用マスクの夫々の初期位置及び姿勢をセットする方法を提供することを目的としている。
本発明は、前記課題を解決するために、以下の点を特徴としている。
即ち、請求項1に係る露光用マスク設定方法は、露光用パターンが配設された露光用マスクと、前記露光用マスクを少なくとも1つ以上配列したマスクホルダーと、該露光用マスクの夫々の位置及び姿勢を該マスクホルダー内において制御するマスク駆動制御手段と、前記複数の露光用マスクの配列方向に対して直角方向に露光対象基板を連続搬送させる基板搬送手段を有し、前記露光用マスクの露光用パターンを前記露光対象基板の移動方向に沿って、連続的に露光させる、連続近接露光装置において、前記露光用マスクの遮光部に設けられた複数の第1のアライメントマークと、第1のアライメントマークと対応して、前記露光対象基板の非露光領域に設けられた複数の第2のアライメントマークと、前記露光対象基板より下方の位置に設けられて、前記複数の第1および第2のアライメントマークを撮像する複数の撮像手段と、を用いて、前記連続近接露光装置の露光用マスクの位置及び姿勢または位置の初期調整方法であって、前記露光対象基板の第2のアライメントマークを前記撮像手段の上方に移動させる工程と、前記第2のアライメントマークを前記撮像手段で撮像する工程と、該撮像された第2のアライメントマークの像が前記撮像手段の画像の所定の位置に位置するように、前記撮像手段の位置をセットする工程と、前記記撮像手段がセットされた位置における、前記第2のアライメントマークの前記撮像手段の画像上の位置データを記憶させる工程と、前記露光対象基板の第2のアライメントマークを一旦、前記撮像手段の撮像領域外に移動させる工程と、前記第1のアライメントマークを前記撮像手段で撮像する工程と、該第1のアライメントマークの前記撮像手段の画像上の位置データと、該第1のアライメントマークに対応する、前記記憶された第2のアライメントマークの前記撮像手段の画像上の位置データとを比較し、前記第1のアライメントマークと前記第2のアライメントマークとの位置ずれ量を算出する工程と、該算出された位置ずれ量に基づき、該位置ずれ量が最小になるように、前記露光用マスクを駆動制御する工程とを備えたことを特徴としている。
本発明によれば、以下の優れた効果を奏する。
請求項1に係る発明では、前述の方法とすることによって、前記露光対象基板の第2のアライメントマークを前記撮像手段の上方に移動させてから、前記第2のアライメントマークを前記撮像手段で撮像して、該撮像された第2のアライメントマークの像が前記撮像手段の画像の所定範囲内に位置するように、前記撮像手段の位置をセットするため、第2のアライメントマークの位置と前記撮像手段の概略位置合せが容易に行える。
そして、位置調整された前記撮像手段で前記露光用マスクの第1のアライメントマークを撮像することによって、前記第2のアライメントマークの位置データを基準として、前記第1のアライメントマークの位置データのズレ量が測定され、このズレ量が最小になるように、前記マスク移動手段によって、前記夫々の露光用マスクが駆動制御されるため、前記夫々の露光用マスクの初期位置及び姿勢の設定が容易に行える。
以下、添付の図面(図1〜図8)に基づいて本発明の一実施の形態に係る露光用マスク設定方法について説明する。
まず、図1は、連続近接露光装置1を示す概念図であり、本連続近接露光装置1に基づき、本発明の一実施の形態に係る露光用マスク設定方法を実施する。
連続近接露光装置1は、露光ステーション2と、露光ステーション2の下方に設けられ、露光対象基板(以下、「基板」という)Wを露光ステーション2に矢印イの方向に前進後退する基板搬送手段5と、後述の基板Wに設けられたアライメントマーク(以下、「第2のアイマーク」という。)を基板Wの下方から撮像する撮像手段6と、基板Wの露光基準となる特定部位を撮像する露光基準撮像手段(図示せず)と、基板Wを下方から照明する画像認識用光源(図示せず)と、接制御装置7とを備え、露光ステーション2において後述の露光用マスク(以下、「マスク」という。)4aの露光パターンを基板Wに転写露光するようになっている。
露光ステーション2は、露光用光源3と、露光用光源3の下方に設置されたマスクホルダー4と、を備えている。
マスクホルダー4には、図3に一例を示すように複数のマスク4a(図2)が、露光用光源3の光軸(光路)Lに直交する同一平面内に、基板Wの搬送方向に直角な方向に直列に、配置されている。
さらに、複数のマスク4aの夫々には、図示しないマスク駆動装置が取付けられており、このマスク駆動装置によって夫々のマスク4aが、マスクホルダー4内において、図2のX、Y軸方向への移動およびマスク4aに垂直な軸(図2の紙面に垂直な方向)で回転させることができるようになっている。
マスク4aは、図2cに示すごとく長方形の透明板40と、透明板40の一方の面(露光光が照射される側の面)に塗布した遮光膜41とからなり、遮光膜41には、スリット状の開口部(以下、「スリット」という)42が所定間隔をあけて、マスク4aの長辺方向(Y軸方向)に沿って、短辺方向(X軸方向)と平行に、複数設けられている他、透明板40の遮光膜41に対向する面側の角部にアライメントマーク(以下、「第1のアイマーク」という。)が設けられている(図2b)。
さらに、スリット42の長さαは、例えば、後述の基板WのピクセルWaのX軸方向(基板Wの搬送方向)における長さβと同じに設定され、幅DはピクセルW1のY軸方向における幅dよりやや大きく設定されており、スリット42,42の相互間隔PはピクセルW1の各着色層のX軸方向のピッチ間隔pと同じに設定されている。
なお、前記マスク駆動装置によって、夫々のマスク4aのスリット42,42の中心を結ぶ線が光軸L上に位置させることができる他、後述のごとく、夫々の第1のアイマークを、夫々の第1のアイマークに対応する、後述の基板Wの第2のアイマークと、一致させることができるようになっている。
また、マスクホルダー4は、図示しないサーボモータ、リニアモータや所要の伝動機構等を有するマスクホルダー駆動手段によって光軸Lに垂直な水平面内におけるX、Y軸方向への移動、位置調節およびマスクホルダー4の中央を中心とする軸(図3の紙面に垂直な方向)回りの旋回角の位置調節とを行うことができるようになっている。
また、基板搬送手段5は、露光ステーション2において光軸Lに垂直な水平面に沿って配置され、基板Wを水平面に平行に載置し、露光ステーション2に向かって矢印イの方向に前進後退可能にするものであって、サーボモータ、所要の伝動機構、基板Wの図1の矢印イの方向の位置を検出する位置センサー(いずれも図示しない)が設けられ、前記位置センサーの検出値にもとづいて基板搬送手段5の動作が後述の制御装置7によってフィードバック制御されるようになっている。
また、基板搬送手段5の下方には、マスク4aの第1のアイマークまたは基板Wの第2のアイマークを下方から撮像するためのCCDカメラ6が、基板Wの第2のアイマークの個数に等しい個数だけ設けられている。
夫々のCCDカメラ6は、対応するマスク4aの第1のアイマークまたは基板Wの第2のアイマークを含む所定の領域(二次元)を撮像するものであって、基板Wを所定に位置に搬送した際に、基板Wの第2のアイマークが全て、対応するCCDカメラ6の画像内に納まるような初期位置にセットされている。
基板Wは、例えば、カラーフィルター基板であって、図4に示すように、ブラックマトリックス中に基板Wの搬送方向(Y軸方向)に直線状に複数整列した各着色層(赤R、緑G、青B)用の矩形状の開口であるピクセル(基準パターン)Waを、前記搬送方向に直角なY軸方向に複数列配置して形成したものであり、露光ステーション2において基板Wの表面が前記露光用光源3の光軸Lに垂直な水平面に沿って移動するようになっている。
そして、基板Wの搬送方向手前側(図4の左側)の非露光領域には、複数の第2のアイマークが設けられている。
尚、この第2のアイマークは、マスク4aが基板Wに対し所定の位置及び姿勢(マスク4aのスリット42がピクセルWaに平行となる姿勢)にセットされた場合における、マスク4aの第1のアイマークに対応する基板W上の位置に設けられる。
制御装置7は、装置全体の動作を制御するものであり、基板搬送手段5、露光用光源3、前記マスク駆動装置及びマスクホルダー駆動手段、CCDカメラ6、外部入力手段(パーソナルコンピュータ)(以下、「外部PC」という)が接続されている。
そして、制御装置7には、基板搬送手段5、露光用光源3、前記マスク駆動装置、マスクホルダー駆動手段のそれぞれのコントローラ(図示せず)が備えられている他、CCDカメラ6で撮像された画像信号をデジタル信号に変換するA/D変換器(図示せず)と、このデジタル変換された画像信号を処理する画像処理部(図示せず)と、この画像処理されたデータを記憶するメモリー部(図示せず)と、このメモリーに記憶されたデータを引き出して、第1のアイマークと第2のアイマークの前記座標を比較演算する演算部(図示せず)と、が備えられている。
そして、前記演算部における比較演算によって得られた、第1のアイマークと第2のアイマークの座標データの差異(位置ズレ量)(図7cのΔx、Δy)が、予め決められている許容範囲外である場合には、この演算部から、前記マスク駆動装置のコントローラに信号が送られ、この信号に基づいて、前記マスク駆動装置のコントローラが駆動制御されるようになっている。
さらに、前記外部PCに予め記憶された、露光条件に基づき、前記夫々のコントローラが制御され、基板搬送手段5、露光用光源3、前記マスクホルダー駆動手段の動作が適正に制御されるようになっている。
次に、上記のように構成された連続近接露光装置1に基づいて、本発明の一実施の形態に係る、マスク4aの初期位置及び姿勢の調整方法について説明する。
先ず、ステップ1(S1)では、連続近接露光装置1の基板搬送手段5上に、予め第2のアイマークが設けられた基板Wを所定の位置及び姿勢で載置し、制御装置7を動作状態にして、CCDカメラ6を作動させてから、基板搬送手段5を作動させて、基板Wの第2のアイマークの像がCCDカメラ6の画面のX軸方向の略中央となる位置まで前進させて保持する(図5の破線表示)。
その後、ステップ2(S2)で、基板Wの第2のアイマークが夫々のCCDカメラ6の画面のX軸及びY軸方向の中央に位置するように、夫々のCCDカメラ6の位置を調整し(図7a,b)、その位置(図7b)で夫々のCCDカメラ6を固定し、その固定位置における、夫々の第2のアイマークの中心位置の座標を算出して、その結果を、夫々の第2のアイマークの中心座標データとして前記メモリーに記憶させる。
その後、ステップ3(S3)で、再び基板搬送手段5を作動させて、夫々のマスク4aの第1のアイマークの像が、夫々のCCDカメラ6によって撮像できるようになる位置まで基板Wを前記イとは反対方向に後退させて、基板Wを保持する。
その後、ステップ4(S4)で、夫々のマスク4aの第1のアイマークを、夫々のCCDカメラ6によって撮像し(図6)、夫々の第1のアイマークの中心位置の座標を算出し、その結果を、夫々の第1のアイマークの中心位置データとして前記メモリーに記憶させる。
その後、ステップ5(S5)で、前記演算部において、前記メモリーに記憶されている、夫々の第2のアイマークの中心座標データと、夫々の第1のアイマークの中心位置データとを比較し、前記位置ズレ量(図7cのΔx、Δy)が許容範囲内であるか否かを判断する。
前記判断で、所定範囲外と判断された場合(図6c)は、前記演算部から前記マスク駆動手段に信号が送られ、マスク駆動手段が制御され、前記位置ズレ量が許容範囲内(図6d)になるように、マスク4aの位置及び姿勢が調整される。
尚、前記ズレ量の許容範囲は、基板Wのピクセル(基準パターン)Waの露光許容幅によって、事前に決定される。
また、前記判断で、前記許容範囲内と判断された場合は、前記演算部から前記マスク駆動手段への信号は送られず、マスク4aの位置及び姿勢調整は行われない。
したがって、前記実施の形態に係る露光用設定方法によれば、基板Wを基準として、位置決め用の検出手段のCCDカメラ6の位置をセットし、その位置に固定されたCCDカメラ6を、マスク4aの第1のアイマークの検出手段として使用することができるので、小さなマスク4aを複数使用する場合であっても、基板Wに対する複数のマスク4aの夫々の初期位置及び姿勢を容易にセットすることができる。
本発明の第1の実施の形態に係る連続近接露光装置を示す概念図である。 マスクの構成を説明するための概略図である。 マスクホルダーの構成を説明するための概略図である。 ワークの構成を説明するための説明図であって、(a)、(b)、(c)はそれぞれ上面、裏面、側面から見た概略図である。 CCDカメラで基板の夫々のアイマークを撮像する方法を説明するための概略図である。 CCDカメラによる基板及びマスクの夫々のアイマークを撮像した画像を現す概略図であって、(a)は第2のアイマークを撮像した状態を示し、(b)はCCDカメラの画像の中心を台2のアイマークの略中心に位置セットした状態の画像を示し、(c)は位置セット後のCCDカメラによる第1のアイマークの画像を示し、(d)はマスク駆動手段で夫々のマスクの位置及び姿勢が制御された後の第1のアイマークの画像を示すものである。 CCDカメラでマスクホルダー内の夫々のマスクのアイマークを撮像する方法を説明するための概略図である。 マスクの初期位置及び姿勢調整手順を説明するフロー図である。
符号の説明
1 連続近接露光装置
2 露光ステーション(露光部)
3 露光用光源
4 マスク
5 基板搬送手段
6 撮像手段
7 制御装置
W ワーク
L 光軸(光路)

Claims (1)

  1. 露光用パターンが配設された露光用マスクと、前記露光用マスクを少なくとも1つ以上配列したマスクホルダーと、前記露光用マスクの夫々の姿勢または位置を前記マスクホルダー内において制御するマスク駆動制御手段と、前記露光用マスクの配列方向に対して直角方向に露光対象基板を連続搬送させる基板搬送手段を有し、前記露光用パターンを前記露光対象基板の移動方向に沿って、連続的に露光させる、連続近接露光装置における、
    前記露光用マスクの遮光部に設けられた複数の第1のアライメントマークと、第1のアライメントマークと対応して、前記露光対象基板の非露光領域に設けられた複数の第2のアライメントマークと、連続近接露光装置の、前記露光対象基板より下方の位置に設けられて、前記複数の第1および第2のアライメントマークを撮像する複数の撮像手段と、を用いて行う、前記露光用マスクの初期位置及び姿勢の調整方法であって、
    前記露光対象基板の第2のアライメントマークを前記撮像手段の上方に移動させる工程と、前記第2のアライメントマークを前記撮像手段で撮像する工程と、該撮像された第2のアライメントマークの像が前記撮像手段の画像の所定の位置に位置するように、前記撮像手段の位置をセットする工程と、前記記撮像手段がセットされた位置における、前記第2のアライメントマークの前記撮像手段の画像上の位置データを記憶させる工程と、前記露光対象基板の第2のアライメントマークを一旦、前記撮像手段の撮像領域外に移動させる工程と、前記第1のアライメントマークを前記撮像手段で撮像する工程と、該第1のアライメントマークの前記撮像手段の画像上の位置データと、該第1のアライメントマークに対応する、前記記憶された第2のアライメントマークの前記撮像手段の画像上の位置データとを比較し、前記第1のアライメントマークと前記第2のアライメントマークとの位置ずれ量を算出する工程と、該算出された位置ずれ量に基づき、該位置ずれ量が最小になるように、前記露光用マスクを駆動制御する工程とを備えた前記連続近接露光装置における露光用マスク初期位置及び姿勢の調整方法。
JP2007130438A 2007-05-16 2007-05-16 露光用マスクの初期位置及び姿勢調整方法 Expired - Fee Related JP5076233B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007130438A JP5076233B2 (ja) 2007-05-16 2007-05-16 露光用マスクの初期位置及び姿勢調整方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007130438A JP5076233B2 (ja) 2007-05-16 2007-05-16 露光用マスクの初期位置及び姿勢調整方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008286925A true JP2008286925A (ja) 2008-11-27
JP5076233B2 JP5076233B2 (ja) 2012-11-21

Family

ID=40146724

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007130438A Expired - Fee Related JP5076233B2 (ja) 2007-05-16 2007-05-16 露光用マスクの初期位置及び姿勢調整方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5076233B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010054849A (ja) * 2008-08-28 2010-03-11 Nsk Ltd スキャン露光装置およびスキャン露光方法
JP2011170144A (ja) * 2010-02-19 2011-09-01 Hitachi High-Technologies Corp フォトマスク、プロキシミティ露光装置、及びプロキシミティ露光装置のアライメントマーク検出方法
JP2012103500A (ja) * 2010-11-10 2012-05-31 V Technology Co Ltd フィルム露光方法
JP5664656B2 (ja) * 2010-09-30 2015-02-04 富士電機株式会社 半導体装置の製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10187937A (ja) * 1996-12-25 1998-07-21 Ushio Inc 帯状ワークの投影露光装置
JP2000099158A (ja) * 1998-09-18 2000-04-07 Orc Mfg Co Ltd ワークとマスクの整合機構および整合方法
JP2002333721A (ja) * 2001-05-10 2002-11-22 Adtec Engineeng Co Ltd 露光装置
JP2007102094A (ja) * 2005-10-07 2007-04-19 V Technology Co Ltd 露光装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10187937A (ja) * 1996-12-25 1998-07-21 Ushio Inc 帯状ワークの投影露光装置
JP2000099158A (ja) * 1998-09-18 2000-04-07 Orc Mfg Co Ltd ワークとマスクの整合機構および整合方法
JP2002333721A (ja) * 2001-05-10 2002-11-22 Adtec Engineeng Co Ltd 露光装置
JP2007102094A (ja) * 2005-10-07 2007-04-19 V Technology Co Ltd 露光装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010054849A (ja) * 2008-08-28 2010-03-11 Nsk Ltd スキャン露光装置およびスキャン露光方法
JP2011170144A (ja) * 2010-02-19 2011-09-01 Hitachi High-Technologies Corp フォトマスク、プロキシミティ露光装置、及びプロキシミティ露光装置のアライメントマーク検出方法
JP5664656B2 (ja) * 2010-09-30 2015-02-04 富士電機株式会社 半導体装置の製造方法
EP2624286B1 (en) * 2010-09-30 2020-11-11 Fuji Electric Co., Ltd. Method of manufacturing a semiconductor device
JP2012103500A (ja) * 2010-11-10 2012-05-31 V Technology Co Ltd フィルム露光方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP5076233B2 (ja) 2012-11-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4777682B2 (ja) スキャン露光装置
KR101136444B1 (ko) 노광 방법 및 노광 장치
US7847938B2 (en) Alignment system for optical lithography
US7812920B2 (en) Production method of substrate for liquid crystal display using image-capturing and reference position detection at corner of pixel present in TFT substrate
JPH0629170A (ja) 整合マーク
TWI781240B (zh) 兩面曝光裝置及兩面曝光方法
US20100118290A1 (en) Exposure device
JP2007310209A (ja) 露光装置
JP7430768B2 (ja) 両面露光装置
JP5076233B2 (ja) 露光用マスクの初期位置及び姿勢調整方法
TWI680356B (zh) 曝光裝置及曝光方法
JP4631497B2 (ja) 近接露光装置
JP3180004B2 (ja) 露光フィルムの整合方法及び整合装置
JP2000099159A (ja) ワークとマスクの整合機構および整合方法
JP4738887B2 (ja) 露光装置
JP4459683B2 (ja) マスクレス露光装置
JP2001022098A (ja) 露光装置におけるアライメント装置、被露光基板、及びアライメントマーク
JP5630864B2 (ja) 露光装置
JP2012027271A (ja) 露光装置、露光方法、カラーフィルタの製造方法。
JP7041201B2 (ja) 露光方法
JPH10329064A (ja) 産業ロボット装置及び産業ロボットの制御方法
CN116736643A (zh) 曝光装置以及曝光方法
JP2007316537A (ja) ステップ式近接露光方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100423

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120104

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120117

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120308

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120724

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120810

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150907

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5076233

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150907

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees