JP2008277483A - 半導体装置および半導体装置の冷却方法 - Google Patents

半導体装置および半導体装置の冷却方法 Download PDF

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Abstract

【課題】電極端子と外部導体の接触面の面積を大きくすることなく、小型化が可能な半導体装置および半導体装置の冷却方法を提供することにある。
【解決手段】
本発明の半導体装置600は、半導体チップ601と、半導体チップ601が実装されるチップ実装金属電極603と、外部バスバー617と接続される電極端子607とを備えるパワーモジュール616、半導体チップ601を冷却するためのヒートシンク605およびパワーモジュール616とヒートシンク605を絶縁する絶縁シート604を有する。電極端子607は、パワーモジュール616の側面で外部バスバー617と接続される端子接続部613と、半導体チップ601またはチップ実装金属電極603と接続される通電用電極部分609と、絶縁シート604と接触する電極端子冷却部608とを備える。
【選択図】図2

Description

本発明は、モーターの制御に用いられる電力変換用インバーター等の半導体装置および半導体装置の冷却方法に関する。
モーターの制御等に用いられる従来のモーター制御システムは、主としてバッテリー、コンデンサ、電力変換用インバータおよびモーターで構成されている。当該電力変換用インバータは、IGBTなどの半導体チップ、外部導体と通電する電極端子、半導体チップと電極端子を接続するワイヤーおよびケース等を有する半導体装置(半導体パワーモジュール)を備えている(特許文献1参照)。上記電極端子と上記外部導体との接触面には接触電気抵抗が存在するため、上記接触面は発熱する。当該発熱の影響により、半導体装置の内部雰囲気温度が上昇し、半導体装置内に用いられる各種部品の制限雰囲気温度を決定づける一因となっている。そこで、上記接触面の発熱を抑制するため、上記接触面の面積を広くし、上記接触面の接触電気抵抗を低減している。
特開2004−39807号公報
しかしながら、上述した従来の半導体装置では、電極端子と外部導体との接触面の発熱による雰囲気温度の上昇を抑制するため、上記接触面の面積を広くしていることから、電極端子および外部導体が大きくなるため、半導体装置を小型化できないといった問題があった。
本発明は、こうした問題に鑑みてなされたものであり、電極端子と外部導体の接触面の面積を大きくすることなく、小型化が可能な半導体装置および半導体装置の冷却方法を提供することを目的とする。
上記目的達成のため、本発明に係る半導体装置では、電極端子は、パワーモジュールの側面で外部導体と接続される端子接続部と、半導体素子または電極と接続される通電用電極部分と、電極端子冷却部とを備えている。電極端子冷却部は絶縁部材と接触することを特徴としている。
本発明により、電極端子と外部導体の接触面の面積を大きくすることがないため、半導体装置を小型化することができる。
以下に、本発明の第1乃至第3の実施形態に係る半導体装置および半導体装置の冷却方法について、図1乃至図7を参照して説明する。
(第1の実施形態)
まず、第1の実施形態に係る半導体装置600(図2参照)を含むモーター制御システムについて図1を参照して説明する。図1は、本発明の第1の実施形態に係る半導体装置600を含むモーター制御システムの回路図である。図1に示すように、第1の実施形態に係る半導体装置600を含むモーター制御システムは、直流電源103、交流モーター105、交流モーター105を駆動するインバーター104、交流モーター105とインバーター104を接続する外部バスバー(出力側)108、直流電源103とインバーター104を接続する外部バスバー(P側)106および外部バスバー(N側)107を備えている。当該インバーター104は、電力変換用半導体素子であるIGBT101、IGBT101と逆並列接続されたFWD102、外部バスバー(P側)106と接続するP電極端子109、外部バスバー(N側)107と接続するN電極端子110および外部バスバー(出力側)108と接続する出力電極端子111を備えている。図1では、1ハーフアームにIGBT101とFWD102が対をなして接続されている。インバーター104は、1ハーフアームを一組として、6ハーフアーム分、備えている。
図2は、図1に示すインバーター104に含まれる半導体装置600の内部構造を示す側面透視図、図3は、図2に示す半導体装置600の側面図(外部バスバー617を除く)、図4は、図2に示すパワーモジュール616および絶縁シート604の斜視図である。当該半導体装置600は、図2乃至図4に示すように、IBGT101またはFWD102の半導体素子である半導体チップ601、P電極端子109、N電極端子110、出力電極端子111のいずれかである電極端子607を含むパワーモジュール616、半導体チップ601を冷却するための冷却部材であるヒートシンク605、パワーモジュール616とヒートシンク605を絶縁する絶縁部材である絶縁シート604および電極端子607と接続される外部導体である外部バスバー617から構成されている。なお、外部バスバー617は、外部バスバー(P側)106、外部バスバー(N側)107、外部バスバー(出力側)108のいずれかである。また、パワーモジュール616は、絶縁シート604と接触するチップ実装金属電極603、チップ実装金属電極603の絶縁シート接触面(以下、裏面とする。)と反対側の面(以下、表面とする。)にハンダ602により接合された半導体チップ601、後述する電極端子冷却部608、通電用電極部分609および端子接続部613からなる電極端子607、半導体チップ601と通電用電極部分609を接続するワイヤー610、チップ実装金属電極603および電極端子607を埋め込まれ、一体形成された樹脂製のモジュールケース606から構成されている。更に、電極端子607の締結物であるネジ611およびナット612により、電極端子607は外部バスバー617と電気的に接続され、交流モーター105に電力を供給する。なお、図2に示すように、パワーモジュール616では、電極端子607の端子接続部613は側面に配置されている。また、上記のように、チップ実装金属電極603の裏面は、絶縁シート604と接触させるため、モジュールケース606の裏面と同一面上に配置されており、露出している。これから、パワーモジュール616は非絶縁型パワーモジュールとなっている。
第1の実施形態に係る半導体装置600では、図2および図3に示すように、パワーモジュール616のモジュールケース606およびチップ実装金属電極603を、絶縁シート604を介してヒートシンク605に、4本のネジ615により固定させている。すなわち、ヒートシンク605とパワーモジュール616を絶縁しつつ、絶縁シート604を介して、チップ実装金属電極603の裏面をヒートシンク615に押し付けている。これから、半導体チップ601、ハンダ602、チップ実装金属電極603、絶縁シート604およびヒートシンク605からなる放熱経路により、通電により発熱する半導体チップ601は冷却される。なお、半導体チップ601の材質がSiである場合、通常150℃以下でスイッチング動作させるため、半導体チップ601の温度が150℃以下となるように放熱設計される。第1の実施形態では、絶縁シート604を傷つけないように、チップ実装金属電極603の裏面に面取り処理およびバリ取り処理を実施している。更に、例えば、モジュールケース606はPPS、ワイヤー610はAl、チップ実装金属電極603および通電用電極部分609はCu、絶縁シート604は弾性材料であるシリコーンゴムおよびヒートシンク605はAlから形成されている。
また、電極端子607の端子接続部613と外部バスバー617との接触面には接触電気抵抗が存在するため、電極端子607の通電により、上記接触面も発熱する。当該発熱の影響により、パワーモジュール616の内部雰囲気温度が上昇し、パワーモジュール616内に用いられる各種部品の制限雰囲気温度を決定づける一因となっている。そこで、第1の実施形態に係る半導体装置600の冷却方法では、半導体チップ601または半導体チップ601が実装されたチップ実装金属電極603と電極端子607の通電用電極部分609を接続してパワーモジュール616を形成し、半導体チップ601を冷却するため、絶縁シート604を介してヒートシンク605をパワーモジュール616と固定して半導体装置600を形成し、パワーモジュール616の側面で外部バスバー617と接続された電極端子607の端子接続部613の発熱をヒートシンク605に放熱するために、電極端子607の電極端子冷却部608を、絶縁シート604と接触させている。上記の冷却方法により、通電により発熱する電極端子607の端子接続部613を冷却する。
ここで、上記冷却方法を採用した半導体装置600では、導電性材料であるCuからなる長方形の平板をU字状に形成して電極端子冷却部608とし、U字状の平板の一方の平板にネジ貫通穴を空けて端子接続部613とし、U字状の平板の他方の平板を90度折り曲げて通電用電極部分609として、電極端子607を形成している。そして、U字状の電極端子冷却部608の裏面をモジュールケース606の裏面と同一面上に配置し、電極端子冷却部608の裏面を露出させている。これにより、パワーモジュール616をヒートシンク605に4本のネジ615により固定させて、チップ実装金属電極603の裏面をヒートシンク615に押し付ける際、ヒートシンク605とパワーモジュール616を絶縁しつつ、絶縁シート604を介して、電極端子冷却部608の裏面もヒートシンク615に押し付けることができる。これから、電極端子607の端子接続部613、電極端子冷却部608、絶縁シート604およびヒートシンク605からなる放熱経路614により、通電により発熱する端子接続部613を冷却することができる。よって、電極端子607の端子接続部613の雰囲気温度の上昇を抑制することができる。なお、第1の実施形態では、絶縁シート604を傷つけないように、電極端子冷却部608の裏面に面取り処理およびバリ取り処理を実施している。また、図4に示すように、端子接続部613も面取り処理およびバリ取り処理されている。
従来、端子接続部613の雰囲気温度の上昇を抑制する方法として、端子接続部613に流れる通電電流を制限する方法、外部バスバー617と端子接続部613との接触面の面積を広くし、接触電気抵抗を低減する方法、端子接続部613にメッキ等の表面処理を実施し、接触電気抵抗を低減する方法、パワーモジュール616の外部に専用のヒートシンクを設けて、外部バスバー617および端子接続部613を冷却する方法、電極端子607の通電用電極部分609、ハンダ、電極パターン、絶縁シート604およびヒートシンク615からなる放熱経路を設けて、端子接続部613を冷却する方法があるものの、端子接続部613に流れる通電電流を制限する方法では出力性能が低下するといった問題があり、外部バスバー617と端子接続部613との接触面の面積を広くする方法では外部バスバー617および端子接続部613が大きくなるといった問題、ネジ611およびナット612による面圧の低下を防止するためネジ611およびナット612が大きくなるといった問題、パワーモジュール616内の他の各種部品と電極端子607との絶縁距離を縮められないことから、各種部品および電極端子607の全体のスペースを広くする必要があるといった問題があり、端子接続部613にメッキ等の表面処理を実施する方法では製造工程が増加し、費用も増大するといった問題があり、パワーモジュール616の外部に専用のヒートシンクを設けて、外部バスバー617および端子接続部613を冷却する方法では専用のヒートシンクおよび絶縁材が必要になり、半導体装置を小型化できないといった問題があり、通電用電極部分609、ハンダ、電極パターン、絶縁シート604およびヒートシンク615からなる放熱経路を設けて、端子接続部613を冷却する方法では電極パターンと通電用電極部分609をハンダで接合する工程が増加するといった問題、雰囲気温度の変化等の温度ストレスによりハンダにクラックが発生し、上記放熱経路の熱抵抗が増加することから、冷却性能が低下するといった問題、冷却性能を上げるためにハンダ接合面積を広くした場合、温度ストレスが増加することから、冷却性能の低下が大きくなるといった問題があったが、第1の実施形態の係る半導体装置600とすることで、上記の問題を解決しつつ、電極端子607の雰囲気温度の上昇を抑制することができる。
すなわち、第1の実施形態では、通電電流を制限しないので出力性能は低下せず、外部バスバー617と端子接続部613との接触面の面積を広くしないので電極端子607を大きくする必要がなく、ネジ611およびナット612による面圧の低下が発生せず、ネジ611およびナット612を大きくする必要がなく、パワーモジュール616内の他の各種部品と電極端子607の全体のスペースを広くする必要もなく、端子接続部613の表面処理を実施しないので製造工程が増加せず、費用も増大せず、パワーモジュール616の外部に専用のヒートシンクを設けないので専用のヒートシンクおよび絶縁材が不要であり、通電用電極部分609、ハンダ、電極パターン、絶縁シート604およびヒートシンク615からなる放熱経路を設けないので電極パターンと通電用電極部分609をハンダで接合する工程が増加せず、雰囲気温度の変化等の温度ストレスによりハンダにクラックが発生することもなく、上記放熱経路の熱抵抗が増加せず、冷却性能が低下しない。更に、第1の実施形態では、電極端子冷却部608をヒートシンク615に押し付けているので、雰囲気温度の変化等の温度ストレスにより冷却性能が低下することもない。よって、電極端子607の雰囲気温度の上昇を抑制しつつ、半導体装置600を小型化することもできる。
また、電極端子冷却部608の裏面をモジュールケース606の裏面と同一面上に配置し、電極端子冷却部608の裏面を露出させることで、パワーモジュール616をヒートシンク605に4本のネジ615により固定させて、チップ実装金属電極603の裏面をヒートシンク615に押し付ける際、ヒートシンク605とパワーモジュール616を絶縁しつつ、絶縁シート604を介して、電極端子冷却部608の裏面もヒートシンク615に押し付けることができ、製造工程が増加しない。更に、第1の実施形態では、絶縁シート604は弾性材料であるシリコーンゴムからなるので、チップ実装金属電極603の裏面と電極端子冷却部608の裏面に公差により段差が発生した場合でも、絶縁シート604の弾性により、当該段差を吸収できる。これから、チップ実装金属電極603の裏面と電極端子607の電極端子冷却部608の裏面とを均一に冷却できる。
また、冷却性能を上げるために、パワーモジュール616内において、電極端子冷却部608の裏面と絶縁シート604との接触面積を広くすることもできる。また、電極端子冷却部608とヒートシンク605との間の絶縁方法は、チップ実装金属電極603とヒートシンク605との間の絶縁方法と同等であり、信頼性を保障できる。また、パワーモジュール616のモジュールケース606とヒートシンク605とを固定する4本のネジ615の間に、チップ実装金属電極603の裏面および電極端子冷却部608の裏面を配置しているので、チップ実装金属電極603の裏面および電極端子冷却部608の裏面を絶縁シート604に押し付ける際に必要な面圧を確保することができる。
(第2の実施形態)
次に、第2の実施形態に係る半導体装置900について、第1の実施形態に係る半導体装置600と異なる点を中心に図5および図6を参照して説明する。また、第2の実施形態に係る半導体装置900について、第1の実施形態に係る半導体装置600と同様の構造には同じ番号を付し、説明を省略する。図5は、本発明の第2の実施形態に係る半導体装置900の内部構造を示す側面透視図、図6は、図5に示すパワーモジュール904および絶縁シート604の斜視図である。第1の実施形態と同様に、第2の実施形態に係る半導体装置900も図1に示すインバーター104に使用される。第2の実施形態に係る半導体装置900が、第1の実施形態と異なる点は、電極端子901の形状が異なることだけである。すなわち、第2の実施形態に係る半導体装置900の冷却方法は、第1の実施形態に係る半導体装置600の冷却方法と同じである。これにより、第1の実施形態と同様の効果を取得することができる。
以下、電極端子901の形状について説明する。第2の実施形態の電極端子901は、パワーモジュール904の側面で外部バスバー617と接続される端子接続部613と、半導体チップ601またはチップ実装金属電極603と接続される通電用電極部分903と、通電により発熱する電極端子901の端子接続部613を冷却するため、ヒートシンク605に放熱するために、絶縁シート604と接触する電極端子冷却部902と、更に、端子接続部613と通電用電極部分903を接続する電極-端子間接続導体部分905を備えている。すなわち、導電性材料であるCuからなる長方形の平板をJ字状に形成して電極端子冷却部902とし、J字状の平板部分にネジ貫通穴を空けて端子接続部613とし、導電性材料であるCuからなる長方形の平板を通電用電極部分903とし、導電性材料であるCuからなる長方形の平板を電極-端子間接続導体部分905とし、端子接続部613における端子接続部613と電極端子冷却部902との接合部以外の位置に、電極-端子間接続導体部分905を接合して、電極端子901を形成している。なお、第2の実施形態でも、絶縁シート604を傷つけないように、電極端子冷却部902の裏面に面取り処理およびバリ取り処理を実施している。また、図6に示すように、端子接続部613も面取り処理およびバリ取り処理されている。
第1の実施形態では、電極端子冷却部608と通電用電極部分609を直接接続しているため、チップ実装金属電極603との絶縁距離の関係から、レイアウトの成立性が低い場合があるが、第2の実施形態の電極端子901のように、通電用電極部分903と電極端子冷却部902とを直接接続しないことで、レイアウトの自由度を上げることができる。また、第2の実施形態に係る半導体装置900と、従来の電極端子を冷却しない半導体装置とを熱シミュレーションにより確認した結果、冷却しない電極端子の熱抵抗と比較して、電極端子901の熱抵抗が約75%低減した。また、他部品への影響も低減できるため、半導体チップ601の熱抵抗で見た場合、半導体装置900では約1.5%低減した。
(第3の実施形態)
次に、第3の実施形態に係る半導体装置1100について、第2の実施形態に係る半導体装置900と異なる点を中心に図7を参照して説明する。また、第3の実施形態に係る半導体装置1100について、第2の実施形態に係る半導体装置900と同様の構造には同じ番号を付し、説明を省略する。図7は、本発明の第3の実施形態に係る半導体装置1100の内部構造を示す側面透視図である。第1および第2の実施形態と同様に、第3の実施形態に係る半導体装置1100も図1に示すインバーター104に使用される。第3の実施形態に係る半導体装置1100が、第2の実施形態と異なる点は、電極端子1101の電極端子冷却部1102の形状が異なることだけである。すなわち、第3の実施形態に係る半導体装置1100の冷却方法は、第2の実施形態に係る半導体装置900の冷却方法と同じである。これにより、第2の実施形態と同様の効果を取得することができる。
以下、電極端子1101の形状について説明する。第3の実施形態の電極端子1101は、パワーモジュール1104の側面で外部バスバー617と接続される端子接続部613と、半導体チップ601またはチップ実装金属電極603と接続される通電用電極部分903と、通電により発熱する電極端子901の端子接続部613を冷却するため、ヒートシンク605に放熱するために、絶縁シート604と接触する電極端子冷却部1102と、更に、端子接続部613と通電用電極部分903を接続する電極-端子間接続導体部分905を備えている。すなわち、導電性材料であるCuからなる長方形の平板にネジ貫通穴を空けて端子接続部613とし、上記平板の端子接続部613と反対側の端部を電極端子冷却部1102とし、導電性材料であるCuからなる長方形の平板を通電用電極部分903とし、導電性材料であるCuからなる長方形の平板を電極-端子間接続導体部分905とし、端子接続部613における端子接続部613と電極端子冷却部1102との接合部以外の位置に、電極-端子間接続導体部分905を接合して、電極端子1101を形成している。なお、第3の実施形態でも、絶縁シート604を傷つけないように、電極端子冷却部1102の裏面に面取り処理およびバリ取り処理を実施している。
第2の実施形態では、絶縁シート604に接触する電極端子冷却部902をJ字状に形成するため、曲げ加工が必要であるが、第3の実施形態の電極端子1101のように、導電性材料であるCuからなる長方形の平板の端子接続部613と反対側の端部を電極端子冷却部1102とすることで、曲げ加工が不要となり、レイアウトの自由度を上げることができる。この場合、電極端子1101の端子接続部613、電極端子冷却部1102、絶縁シート604およびヒートシンク605からなる放熱経路1103により、通電により発熱する端子接続部613を冷却する。また、第3の実施形態に係る半導体装置1100と、従来の電極端子を冷却しない半導体装置とを熱シミュレーションにより確認した結果、冷却しない電極端子の熱抵抗と比較して、電極端子1101の熱抵抗が約50%低減した。また、他部品への影響も低減できるため、半導体チップ601の熱抵抗で見た場合、半導体装置1100では約1%低減した。
なお、以上に述べた実施形態は、本発明の実施の一例であり、本発明の範囲はこれらに限定されるものでなく、特許請求の範囲に記載した範囲内で、他の様々な実施形態に適用可能である。例えば、第1乃至第3の実施形態に係る半導体装置を含むインバーター104では、6ハーフアーム分接続しているが、特にこれに限定されるものでなく、例えば、1ハーフアーム分、1アーム分(2ハーフアーム分)でも良い。また、1ハーフアームにIGBT101とFWD102が対をなして接続されているが、特にこれに限定されるものでなく、更に、他の素子を備えても良い。
また、第1乃至第3の実施形態では、例えば、モジュールケース606はPPS、ワイヤー610はAl、チップ実装金属電極603はCuおよびヒートシンク605はAlから形成されているが、特にこれに限定されるものでなく、他の材料から形成しても良い。また、絶縁シート604をシリコーンゴムから形成しているが、特にこれに限定されるものでなく、弾性材料でかつ絶縁材料であればいずれの材料から形成しても良い。更に、電極端子607、901、1101をCuから形成しているが、特にこれに限定されるものでなく、導電性材料であれば、いずれの材料から形成しても良い。
また、第1乃至第3の実施形態では、説示していないが、パワーモジュール616と絶縁シート604との間の接触熱抵抗を低減させるため、グリスを用いても良い。同様に、絶縁シート604とヒートシンク605との間の接触熱抵抗を低減させるため、グリスを用いても良い。更に、半導体チップ601とチップ実装金属電極603との間の応力を緩和するため、CuMo等の緩衝材を挿入しても良い。また、端子接続部613と外部バスバー617をネジ611で固定する場合において、端子接続部613にトルクが加わることで、電極端子607、901、1101が変形する場合、電極端子607、901、1101にリブを設け、当該リブをモジュールケース606に埋め込むようにしても良い。このような構成にすることにより、電極端子607、901、1101の変形を抑制することができる。
また、第1乃至第3の実施形態では、モジュールケース606の樹脂成形時に、チップ実装金属電極603および電極端子607、901、1101を埋め込み、一体形成しているが、特にこれに限定されるものでなく、チップ実装金属電極603および電極端子607、901、1101を埋め込まなくても良い。
また、第1乃至第3の実施形態では、チップ実装金属電極603の裏面および電極端子冷却部608、902、1102の裏面をモジュールケース606の裏面と同一面上に配置しているが、特にこれに限定されるものでなく、モジュールケース606の裏面よりも、絶縁シート604側に突出していても良い。このような構成にすることにより、チップ実装金属電極603の裏面および電極端子冷却部608、902、1102の裏面を、絶縁シート604を介して、ヒートシンク615に確実に押し付けることができる。また、チップ実装金属電極603の裏面と電極端子冷却部608、902、1102の裏面とを同一面上に配置しているが、特にこれに限定されるものでなく、異なっていても良い。
また、第1乃至第3の実施形態では、電極端子冷却部608、902、1102の裏面をチップ実装金属電極603の裏面およびモジュールケース606の裏面と同一面上に露出させ、電極端子冷却部608、902、1102の裏面を、絶縁シート604を介して、ヒートシンク615に押し付けて、電極端子607、901、1101を冷却したが、特にこれに限定されるものでなく、例えば、電極端子607、901、1101を固定するためのナット、ネジ等をチップ実装金属電極603の裏面またはモジュールケース606の裏面と同一面上に露出させ、絶縁シート604に接触させることで、電極端子607、901、1101を冷却しても良い。
また、第1の実施形態では、U字状の平板の他方の平板を90度折り曲げて通電用電極部分609としているが、特にこれに限定されるものでなく、何度でも良い。また、電極端子607は一体形成されているが、特にこれに限定されるものでなく、端子接続部613、電極端子冷却部608および通電用電極部分609を別個独立に形成し、接合しても良い。この場合、端子接続部613、電極端子冷却部608および通電用電極部分609を異なる材料で形成することもできる。
また、第2の実施形態では、端子接続部613および電極端子冷却部902を一体形成しているが、特にこれに限定されるものでなく、別個独立に形成し、接合しても良い。この場合、端子接続部613および電極端子冷却部902を異なる材料で形成することもできる。同様に、端子接続部613、通電用電極部分903および電極-端子間接続導体部分905を同一の材料Cuで形成しているが、特にこれに限定されるものでなく、異なる材料で形成しても良い。
また、第3の実施形態では、端子接続部613および電極端子冷却部1102を一体形成しているが、特にこれに限定されるものでなく、別個独立に形成し、接合しても良い。この場合、端子接続部613および電極端子冷却部1102を異なる材料で形成することもできる。同様に、端子接続部613、通電用電極部分903および電極-端子間接続導体部分905を同一の材料Cuで形成しているが、特にこれに限定されるものでなく、異なる材料で形成しても良い。
また、第1乃至第3の実施形態では、説示していないが、チップ実装金属電極603の表面および電極端子冷却部608、902、1102の表面を露出させても良い。このような構成にすることにより、モジュールケース606の樹脂成形時に、チップ実装金属電極603および電極端子607、901、1101を埋め込み、一体形成する場合に、チップ実装金属電極603および電極端子607、901、1101を上下両方から型で押さえることができる。これから、電極端子607、901、1101の位置が樹脂圧により流動することを防止でき、チップ実装金属電極603の裏面の高さと電極端子冷却部608、902、1102の裏面の高さを精度良く一致させることができるので、チップ実装金属電極603と電極端子607、901、1101を均一に冷却できる。
本発明の第1の実施形態に係る半導体装置を含むモーター制御システムの回路図 図1に示すインバーターに含まれる半導体装置の内部構造を示す側面透視図 図2に示す半導体装置の側面図(外部バスバーを除く) 図2に示すパワーモジュールおよび絶縁シートの斜視図 本発明の第2の実施形態に係る半導体装置の内部構造を示す側面透視図 図5に示すパワーモジュールおよび絶縁シートの斜視図 本発明の第3の実施形態に係る半導体装置の内部構造を示す側面透視図
符号の説明
101 IGBT、102 FWD、103 直流電源、
104 インバーター、105 交流モーター、
106 外部バスバー(P側)、107 外部バスバー(N側)、
108 外部バスバー(出力側)、109 P電極端子、110 N電極端子、
111 出力電極端子、
600 半導体装置、601 半導体チップ、602 ハンダ、
603 チップ実装金属電極、604 絶縁シート、605 ヒートシンク、
606 モジュールケース、607 電極端子、608 電極端子冷却部、
609 通電用電極部分、610 ワイヤー、611 ネジ、612 ナット、
613 端子接続部、614 放熱経路、615 ネジ、
616 パワーモジュール、617 外部バスバー、
900 半導体装置、901 電極端子、902 電極端子冷却部、
903 通電用電極部分、904 パワーモジュール、
905 電極-端子間接続導体部分、
1100 半導体装置、1101 電極端子、1102 電極端子冷却部、
1103 放熱経路、1104 パワーモジュール

Claims (10)

  1. 半導体素子と、当該半導体素子が実装される電極と、外部導体と接続される電極端子とを備えるパワーモジュール、前記半導体素子を冷却するための冷却部材および前記パワーモジュールと前記冷却部材を絶縁する絶縁部材を有する半導体装置において、
    前記電極端子は、前記パワーモジュールの側面で前記外部導体と接続される端子接続部と、前記半導体素子または前記電極と接続される通電用電極部分と、電極端子冷却部とを備え、
    前記電極端子冷却部は、前記絶縁部材と接触することを特徴とする半導体装置。
  2. 前記電極端子冷却部における絶縁部材接触面は、前記パワーモジュールにおける絶縁部材接触面と同一面上に配置されたことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記端子接続部は、前記パワーモジュールの側面で固定され、
    前記パワーモジュールを前記冷却部材に固定することにより、前記電極端子冷却部は、前記絶縁部材に押し付けられることを特徴とする請求項1または2に記載の半導体装置。
  4. 前記電極における絶縁部材接触面は、前記パワーモジュールにおける絶縁部材接触面と同一面上に配置され、
    前記パワーモジュールを前記冷却部材に固定することにより、前記電極は、前記絶縁部材に押し付けられることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の半導体装置。
  5. 前記電極および前記電極端子冷却部における絶縁部材と反対側の面も露出させることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の半導体装置。
  6. 前記絶縁部材は、弾性材料からなることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の半導体装置。
  7. 前記電極端子冷却部は、導電性材料からなる平板をU字状にして形成され、
    前記端子接続部は、前記U字状の前記平板の一方から形成され、
    前記通電用電極部分は、前記U字状の前記平板の他方を折り曲げて形成されていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の半導体装置。
  8. 前記電極端子は、前記端子接続部と前記通電用電極部分を接続する電極-端子間接続導体部分を備え、
    前記電極端子冷却部は、導電性材料からなる平板をJ字状にして形成され、
    前記端子接続部は、前記J字状の前記平板から形成され、
    前記通電用電極部分は、導電性材料からなる平板から形成され、
    前記電極-端子間接続導体部分は、導電性材料からなる平板からなり、前記端子接続部における前記端子接続部と前記電極端子冷却部との接合部以外の位置に接合されることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の半導体装置。
  9. 前記電極端子は、前記端子接続部と前記通電用電極部分を接続する電極-端子間接続導体部分を備え、
    前記端子接続部は、導電性材料からなる平板から形成され、
    前記電極端子冷却部は、前記平板の前記端子接続部と反対側の端部であり、
    前記通電用電極部分は、導電性材料からなる平板から形成され、
    前記電極-端子間接続導体部分は、導電性材料からなる平板からなり、前記端子接続部における前記端子接続部と前記電極端子冷却部との接合部以外の位置に接合されることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の半導体装置。
  10. 半導体素子または前記半導体素子が実装された電極と電極端子の通電用電極部分を接続してパワーモジュールを形成し、
    絶縁部材を介して冷却部材を前記パワーモジュールと固定して半導体装置を形成し、
    前記パワーモジュールの側面で外部導体と接続された前記電極端子の電極端子冷却部を、前記絶縁部材と接触させることを特徴とする半導体装置の冷却方法。
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