JP2008235943A - 電気的なアッセンブリ - Google Patents

電気的なアッセンブリ Download PDF

Info

Publication number
JP2008235943A
JP2008235943A JP2008173527A JP2008173527A JP2008235943A JP 2008235943 A JP2008235943 A JP 2008235943A JP 2008173527 A JP2008173527 A JP 2008173527A JP 2008173527 A JP2008173527 A JP 2008173527A JP 2008235943 A JP2008235943 A JP 2008235943A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layered
conductive member
ptc element
assembly
ptc
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008173527A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4511614B2 (ja
Inventor
Shou-Mean Fang
ショウ−ミーン・ファング
Denis Siden
デニス・サイデン
Mark Thompson
マーク・トンプソン
Michael Zhang
ツァング・マイケル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Raychem Corp
Original Assignee
Raychem Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Raychem Corp filed Critical Raychem Corp
Publication of JP2008235943A publication Critical patent/JP2008235943A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4511614B2 publication Critical patent/JP4511614B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • H01C17/28Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for applying terminals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C1/00Details
    • H01C1/14Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C1/00Details
    • H01C1/14Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors
    • H01C1/1406Terminals or electrodes formed on resistive elements having positive temperature coefficient
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • H01C17/06Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for coating resistive material on a base
    • H01C17/065Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for coating resistive material on a base by thick film techniques, e.g. serigraphy
    • H01C17/06506Precursor compositions therefor, e.g. pastes, inks, glass frits
    • H01C17/06573Precursor compositions therefor, e.g. pastes, inks, glass frits characterised by the permanent binder
    • H01C17/06586Precursor compositions therefor, e.g. pastes, inks, glass frits characterised by the permanent binder composed of organic material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • H01C7/02Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having positive temperature coefficient
    • H01C7/027Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having positive temperature coefficient consisting of conducting or semi-conducting material dispersed in a non-conductive organic material
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/182Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with components mounted in the printed circuit board, e.g. insert mounted components [IMC]
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09145Edge details
    • H05K2201/09181Notches in edge pads
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10431Details of mounted components
    • H05K2201/10439Position of a single component
    • H05K2201/10469Asymmetrically mounted component
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10621Components characterised by their electrical contacts
    • H05K2201/10666Plated through-hole for surface mounting on PCB
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0097Processing two or more printed circuits simultaneously, e.g. made from a common substrate, or temporarily stacked circuit boards
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/403Edge contacts; Windows or holes in the substrate having plural connections on the walls thereof

Abstract

【課題】回路構成部品を接続する電気導線を付加することなく、加熱の影響のない電気的なアッセンブリを提供する。
【解決手段】回路保護ディバイスにおける層状の電気的なディバイスにおいて、両者間にPTC素子を備えた2つの層状電極と、ディバイス厚を通過し、2つの電極の一方にしか接触しないクロス導電部材とを設ける。これにより、ディバイスの同じ側からの両電極への接続が可能となる。また、分割を伴い、アッセンブリから相当数のディバイスを作製することを可能となる。
【選択図】図2

Description

この発明は、電気的なアッセンブリに関する。
多くの電気的なディバイスが、2つの層状電極と、それらの間に挾み込まれた、例として、(例えば、抵抗器又はバリスタ(varistor)内にあるような)抵抗素子がある導体である、もしくは、(例えば、コンデンサー内にあるような)不導体である電気素子とを有している。このタイプの特に有用なディバイスは、2つの層状電極と、上記電極の間に挾み込まれた、PTC特性を示す層状抵抗素子とを備えた特定の回路保護ディバイスにおいては、PTC(positive temperature coefficient)特性を示す抵抗素子を有する。PTC抵抗素子は、導電ポリマー(polymer)又はセラミック、例えば、ドープ(doped)されたバリウムチタネート(barium titanate)から成り得る。ここでは、“導電ポリマー”という用語が、ポリマーと、その中で分散された(さもなければ、分布された)、粒状の導電充填剤とを含有している組成物を表すために用いられている。
米国特許第4237441号明細書 米国特許第4317027号明細書 米国特許第4238812号明細書
そのようなディバイスのほとんどにおいては、そのディバイスが、例えば、回路基板の穴部に配設された他の回路構成部品に接続され得るように、電気導線が、各層状電極に固定される。導線の付加は、付加的な消費であり、また、通常、特に導電ポリマー部材に対して、(しばしば、抵抗の変化により明白になる)ダメージを生じさせ得る(例えば、はんだ付け又は溶接の間の)加熱を必然的に伴う。
後者の問題は、導電ポリマーが再度加熱される場合に、導線が他の回路素子に接続される場合に、特に、導線がはんだ付け工程によってプリント回路基板に接続される場合に、極めて深刻である。そのようなディバイスが、プリント回路基板に取り付けられるものである場合に生じ得る更に別の問題は、それらが、所望されるよりも一層回路基板から突出することである。
本発明に関し、2つの電極間の層状電気素子を有するディバイスにおいて、電気素子を通過し、物理的に且つ電気的に一方の電極(“第1電極”)に接続されるが他方の電極(“第2電極”)に接続されない横方向の導電部材の存在によって重要な有用性が得られることが判った。そのような横方向の導電部材(ここでは、しばしば、クロス導体と呼称される)の存在は、上記ディバイスの反対側からの第1電極への電気的な接続を可能とする。その上、導電部材が、ディバイス周辺を通過するというよりむしろディバイスを貫通するので、そのようなディバイスは、様々な作業ステップが、複数のディバイスに対応し、また、工程の最終ステップとして複数のディバイスに分割されるアッセンブリの上で行なわれるプロセスによって作られ得る。この方法で、ディバイスを作製するための能力は、ディバイスの所望サイズ(つまり、抵抗)が小さくなるにつれて、益々重要になる。従って、この発明は、回路基板上に、また、ディバイスのサイズ及び抵抗がより小さくなればなるほど良好である別の環境に、取り付けられるべきディバイスを作製するのに、特に有用である。例えば、この発明は、約0.02平方インチ(13平方ミリメートル)の、あるいは、それより小さい表面領域を有する回路保護ディバイスをつくるのに使用され得る。
好適な態様においては、この発明は、(1)(a)PTC特性を示す抵抗材料から成り、(b)第1面及び第2面を有し、(c)第1面と第2面との間に通る開口を規定するPTC抵抗素子と;(2)(a)PTC素子により規定された開口の内部に位置し、(b)PTC素子の第1面と第2面との間に通り、(c)PTC素子に固定される横方向の導電部材と;(3)(a)上記PTC素子の第1面に固定され、(b)横方向の導電部材に物理的に且つ電気的に接続される第1の層状導電部材とを有している新規なアッセンブリを提供する。
この新規なアッセンブリは、(i)接続の準備が整った電気的なディバイス(上記第1層状導電部材が、そのとき第1電極を備えており、ディバイスはまた、クロス導体に電気的に接続されない第2電極を有している)であるか、もしくは(ii)(もし必要ならば、更に別の工程後に)各々が少なくとも1つのクロス導体を有する複数の電気的なディバイスに分割され得る構造物であって構わない。
また別の好適な態様においては、この発明は、(A)面上に第1及び第2の導電トレース(traces)を有するプリント回路基板と、(B)(1)(a)PTC特性を示す抵抗材料から成り、(b)第1面及び第2面を有する層状PTC抵抗素子と;(2)PTC素子の第1面に固定される第1の層状電極と;(3)PTC素子の第2面に固定される第2の層状電極と;(4)(a)PTC素子の第2面に固定され、(b)第2電極から距離を隔てられた付加的な層状導電部材と;(5)(a)開口の内部に位置し、(b)第1電極及び付加的な導電部材に物理的に且つ電気的に接続される横方向の導電部材とを備えた電気的なディバイスとを有する電気的なアッセンブリを提供する。
上記PTC素子,第1電極及び付加的な層状導電部材は、PTC素子を通じて、第1電極と付加的な導電部材との間に通る開口を規定している;上記電気的なディバイスは、プリント回路基板上に配設されており、そこで、付加的な導電部材へ物理的に且つ電気的に接続された第1の導電トレース及び第2電極へ物理的に且つ電気的に接続された第2の導電トレースに平行である。
また別の好適な態様において、この発明は、(A)複数の電気的なディバイスに対応し、(1)(i)PTC特性を示す抵抗材料から成り、且つ、(ii)第1面及び第2面を有する層状PTC抵抗素子と、(2)PTC素子の第1面に固定された第1層状導電部材と、(3)PTC素子の第2面に固定された第2層状導電部材とを有するアッセンブリを提供することと、(B)ステップ(A)において提供されたアッセンブリの厚さを通じて、規則的なパターンで配列される複数の開口をつくることと、(C)ステップ(B)と同時に、もしくは、ステップ(B)後に、第1層状導電部材に電気的に接触した状態にして、複数の横方向の導電部材を開口の内部に配置することと;(D)第1導電部材及び第2導電部材の少なくとも1つの予め決められた部分を取り除くことと;(E)ステップ(A)から(D)の後に、上記アッセンブリを複数の電気的なディバイスに分割することとを有する電気的なディバイスを製作する方法を提供する。
上記複数の電気的なディバイスは、それぞれ、(1)PTC抵抗素子の一部分と、(2)幾つかのディバイスで第1電極を、その他のディバイスで第2電極を規定している、第1層状導電部材の一部分と、(3)幾つかのディバイスで第2電極を、その他のディバイスで第1電極を規定している、第2層状導電部材の一部分と、(4)第2層状導電部材の残余の部分と、(5)該残余の部分及び第1電極に電気的に接続する、少なくとも1つの横方向の導電部材とを有している。
この方法においては、ステップ(D)は、ステップ(B)の前又は後に、もしくは、ステップ(C)の前又は後に行なわれることができる。
PTC材料が導電ポリマーである場合には、この方法は、好ましくは、本発明の部分を構成する新規なアッセンブリ、すなわち、 (1) (i)PTC特性を示す導電ポリマーから成り、(ii)第1面及び第2面を有する層状PTC抵抗素子と、 (2) PTC素子の第1面に固定される第1層状導電部材と、(3)PTC素子の第2面に固定される第2層状導電部材とを有するアッセンブリを使用する。
上記PTC素子と、第1及び第2層状導電部材とは、上記アッセンブリの厚さを通過する複数の開口を規定しており、該開口は規則的なパターンで配列されている。
このアッセンブリにおいては、好ましくは、 (a) 上記開口は、複数の直線状に配列され、(b)第1層状導電部材は、互いに且つ上記開口のラインに平行である複数のストリップの形状をしている。
とりわけ、(a)第1導電部材の各ストリップが2本の隣接した開口のラインを有し、(b)上記第2層状導電部材もまた、互いに且つ開口のラインに平行である複数のストリップの形状をしており、各ストリップは、2本の隣接した開口のラインを有しており、一方の開口のラインは、第1導電部材の第1ストリップの範囲内に下りており、他方の開口のラインは、第1導電部材の第2ストリップ範囲内に下りていることが好ましい。
本発明によれば、回路保護ディバイスにおける層状の電気的なディバイスが、両者間にPTC素子を備えた2つの層状電極と、ディバイス厚を通過し、2つの電極の一方にしか接触しないクロス導体とを有することで、ディバイスの同じ側からの両電極への接続が可能となる。また、これにより、最終ステップとして分割を伴う、相当数のディバイスの各々に対応するアッセンブリ上のそのようなディバイスを作製するためのステップを行うことが可能となる。
以下、本発明は、主に、PTC導電ポリマーから成る層状PTC素子、及び、上記PTC素子に直接に固定された2つの層状電極とを有する、PTC回路保護ディバイス及びそのようなディバイスの製造に関し記述される。しかしながら、そのような記述は、状況が許す限り、PTC導電ポリマー部材を有する他の電気的なディバイスについて、PTCセラミック素子を有する電気的なディバイスについて、また、両者間に層状電気素子を備えた2つの層状電極を有する他の電気的なディバイスについて当てはまる。
以下で記述され且つ請求されるように、また、添付図面において示されるように、本発明は相当数の特別な特徴を用いることができる。そのような特徴が、特定の状況においてあるいは特定の組合せの一部分として開示される場合に、それはまた、例えば、2つ又はそれ以上のそのような特徴の他の組合せを含めて、他の状況において、また、他の組合せにおいて、使用されることが可能である。
PTC組成物
本発明において使用されるPTC組成物は、好ましくは、結晶性ポリマー成分と、上記ポリマー成分中に分散された、例えば、カーボンブラック(carbon black)もしくは金属のような導電充填剤を含む粒状充填剤成分とを含有する導電ポリマーである。上記充填剤成分はまた、不導電充填剤を含有していても構わず、該不導電充填剤は、導電ポリマーの電気的特性だけでなく、その物理的特性をも変化させるものである。上記組成物はまた、1つ又はそれ以上の成分、例えば、酸化防止剤,架橋剤,カップリング剤もしくはエラストマー(elastomer)を含有ずることもできる。回路保護ディバイスの使用のために、上記PTC組成物は、好ましくは23℃において、50オームセンチメートルより小さな、とりわけ10オームセンチメートルより小さな、特に5オームセンチメートルより小さな抵抗率を有する。この発明で使用する適切な導電ポリマーは、例えば、米国特許番号4237441号,4304987号,4388607号,4514620号,4534889号,4545926号,4560498号,4591700号,4724417号,4774024号,4935156号及び5049850号で開示されている。
上記PTC抵抗素子は、好ましくは、層状素子であり、少なくとも1つがPTC材料から成る、1つ又はそれ以上の導電ポリマー部材から構成され得る。導電ポリマー部材が1つ以上存在ずる場合には、例えば、各組成物が、全ディバイスに広がる層状をしている場合のように、好ましくは、異なる組成物を通じて電流が順次に流れる。単一のPTC組成物が存在し、そして、PTC素子の所望厚さが、ただ一つのステップにおいて便宜的に作製され得るそれよりも大きい場合には、所望厚さのPTC素子が、PTC組成物の2つもしくはそれ以上の層、例えば、溶融押出された層を結合すること、例えば、熱及び圧力によって積層化することにより便宜的に作製され得る。1つ以上のPTC組成物が存在する場合には、PTC素子は、通常、異なる組成物の素子を結合すること、例えば、熱及び圧力によって積層化ずることにより作製され得る。例えば、PTC素子は、第1のPTC組成物から成る2つの層状素子と、それらの間に挾み込まれた、第1のものよりも高い抵抗率を有している第2のPTC組成物から成る層状素子とを有することが可能である。
PTCディバイスがトリップ(tripped)される場合には、ディバイスにわたってドロップ(dropped)される電圧のほとんどは、通常、ホットライン(hot line),ホットプレーン(hoto plane)もしくはホットゾーン(hot zone)と呼称される、ディバイスの比較的小さな部分にわたってドロップされる。本発明のディバイスにおいては、PTC素子は、通常、両電極から距離を隔てられた所望の位置で、ホットラインが形成することを助ける1つ又はそれ以上の特徴を有することが可能である。本発明の使用に関して、この種の適切な特徴は、例えば、米国特許第4317027号,4352083号,4907340号及び4924072号に開示されている。
層状電極
本発明の特に有用なディバイスは、2つの金属箔電極と、それらの間に挾み込まれたPTC導電ポリマー部材とを有しており、特に、そのようなディバイスは、回路保護ディバイスとして使用され、23℃で、一般に50オームよりも小さな、好ましくは15オームよりも小さな、より好ましくは10オームよりも小さな、とりわけ5オームよりも小さな、特に3オームよりも小さな低い抵抗値を有する。好ましくは、適切な箔電極は、特に、米国特許4689475号及び4800253号に開示されるように、特に、電着ニッケル箔、及び、ニッケルプレートの電着銅箔電極を含んでいる、微かな粗さを有する金属箔電極である。本発明に関して、変更可能な多様な層状ディバイスが、米国特許第4238812号,4255798号,4272471号,4315237号,4317027号,4330703号,4426633号,4475138号,4724417号,4780598号,4845838号,4907340号及び4924074号に開示されている。上記電極は、所望の熱効果を生じさせるために変更可能である。
開口及びクロス導体
“開口”という用語は、ここで、(a)閉じた断面、例えば、円形,楕円形もしくは一般に細長い形状の断面を有する、もしくは(b)(i)例えば、4分の1の円又は半円あるいは開ロスロットのような断面の最大幅の少なくとも0.15倍、好ましくは、少なくとも0.5倍、特に、少なくとも1.2倍の深さを有し、及び/もしくは、(ii)断面の両周縁部が互いに平行である箇所の少なくとも一部分を有する開放された凹角の断面を有する開口部のことを意味するために用いられる。
複数の電気的なディバイスに分割され得る本発明のアッセンブリにおいて、上記開口は、通常は、閉塞した断面のものであろうが、もし、1つ又はそれ以上の分割線が、閉じた断面の開口を通過すれば、そのとき、結果的なディバイスの開口は、開放した断面を有するであろう。いかなるそのような開放した断面も、前述で規定されたように、凹角の断面であることが、ディバイスの据付けあるいは使用の際に、クロス導体が損傷しない又は移動しないということを保証するために重要である。
上記開口は円形の穴であっても構わず、また、多くの目的のために、これは、個々のディバイス及びディバイスのアッセンブリの両方において満足なものである。しかしながら、もし、上記アッセンブリが、少なくとも1本の分割線によって横切られる開口を有するならば、細長い開口が、それらが分割線における正確さをあまり必要としないので好適であるかもしれない。
上記開口が分割線によって横切られない場合には、それは、必要な電流容量を有しているクロス導体にちょうど良い位に小さくても構わない。回路保護ディバイスのために、直径が、0.1から5mmの、好ましくは、0.15から1.0mmの、例えば、0.2から0.5mmの穴が一般に満足なものである。一般に、反対側のディバイスからの第1電極への電気的接続を為すために必要とされるものは、単一のクロス導体のみである。しかしながら、2つ又はそれ以上のクロス導体が、同様の接続を為すために使用されることは可能である。クロス導体の数及びサイズ、つまり、それらの熱容量は、回路保護ディバイスがトリップする速度に多少影響を及ぼし得る。
上記開口は、クロス導体が所定位置に配置される前に形成され得るか、又は、上記開口の形成とクロス導体の配置が、同時に行われることが可能である。好適な処置は、例えば、ドリルやスライシング(slicing)又はいかなる他の適切な技術によっても開口を形成すること、また、それから、鍍金する、さもなければ、開口の内面を被覆する、もしくは、充填することである。鍍金は、無電解鍍金又bbは電解鍍金、もしくは、両者の組合せによってもたらされることが可能である。鍍金は、ただ一層又は複数の層であり、単一の金属あるいは特にはんだのような合金から成り得る。鍍金はまた、しばしばアッセンブリの他の露出された導電面上に形成されもする。もし、そのような鍍金が必要とされなければ、その場合は、他の露出された導電面が、遮蔽されるか、さもなければ、減感される必要がある。しかしながら、一般に、鍍金は、そのような付加的な鍍金が、不利な影響をもたらさないような工程段階で行われる。本発明は、鍍金が、クロス導体だけでなく、ディバイスにおける層状導電部材の少なくとも一部をもたらすことを可能とする手段を有している。
絶縁回路基板じゅうに導体のバイア(via)を作製するために用いられる鍍金技術が、本発明で利用されることが可能である。しかしながら、この発明において、鍍金されたバイアが、他の構成部品との良好な電気的接触を為す必要があるのに対して、鍍金は、単に、ディバイスを通過する電流を伝達するために役立つものである。結果的には、この発明において必要とされる鍍金の質は、バイアに必要なそれよりも劣っていてもよい。
クロス導体を備えるためのまた別の技術は、予め形成された開口に、成形し得る、あるいは、液体の導電組成物を位置させること、そして、もし、望ましいかあるいは必要であれば、所望の特性のクロス導体をもたらすために、組成物が開口内にある間に、上記組成物を処理することである。必要ならば、上記組成物がアッセンブリに粘着しないように、少なくとも幾らかのアッセンブリを予め処理した後に、上記組成物は、例えば、スクリーン(screen)によって開口へ選択的に、もしくは、アッセンブリのすべてに供給されることが可能である。例えば、もし、必要ならば、波動はんだ付けの技術を利用して、例としてはんだがある溶解した導電組成物は、この方法で使用されることが可能であろう;PTCセラミック素子の開口は、注入された、さもなければ、その場所に凝固された導電セラミックペーストで充填されることができるであろう。
上記クロス導体はまた、例えば、金属のロッド(rod)又はチューブ、例としてリベット(rivet)がある予め形成された素子によっても提供され得る。そのような予め形成された部材が使用される場合には、それがディバイスにおける所定位置に配置されるときに、開口をもたらすことが可能である。
上記クロス導体は、部分的に又は完全に開口を充填し得る。上記開口が部分的に充填される場合には、それは、特に、はんだ付けの工程によって、ディバイスが他の電気的な構成部品へ接続される工程の間に、(完全に充填されるのも含めて)更に充填され得る。このことは、上記開口内及び周囲に付加的なはんだを提供することにより、特に、上記開口内及び周囲にはんだの鍍金を有することにより促進され得る。通常、クロス導体の少なくとも一部分が、ディバイスが他の電気的な構成部品に接続される前に、所定位置に取り付けられることになる。しかしながら、本発明は、例えば、はんだ付けの工程の間にはんだの毛管作用によって、上記クロス導体が、そのような接続工程の間に形成されることを可能とする手段を有している。
アッセンブリ
簡単に上述したように、本発明のアッセンブリは、他の電気的な構成部品への接続用に用意されたディバイスと、(もし、必要ならば、別の工程の後に)複数の電気的なディバイスに分割され得る構造物との両方を含む。
接続用に用意されたディバイスにおいて、(クロス導体が物理的に且つ電気的に接続される)“第1層状導電部材”は、第1電極を規定し、上記ディバイスはまた、一般に、第1電極又はクロス導体に接続されない、第2電極を規定する第2層状導電部材を有している。上記第1及び第2電極は、一般に、直接に又は間接に、層状PTC素子の両面に固定されており、上記PTC素子の電流負荷部分は、2つの電極の間にある部分である。好ましくは、上記ディバイスはまた、第3層状導電部材をも有する。第3層状導電部材は、(a)開口領域においてPTC素子の第2面に固定され、(b)クロス導体へ電気的に接続され、(c)第2電極から距離を隔てられる。その結果、この第3部材は、(クロス導体を介する)第1電極への接続が為され、また、クロス導体のみに対するよりも接続を為すのが容易である、導電パッド(pad)を提供している。この第3部材は、好ましくは、特に、2つの層状導電部材とそれらの間のPTC素子とを有しているアッセンブリの層状導電部材の1つから、層状導電部材の一部分を取り除くことにより形成される残りの部材である;上記導電部材の他の部分は第2電極を規定している。第3部材の形状、及び、第3部材と第2電極との間のギャップの形状は、ディバイスの所望の特性に適合するために、また、生産の簡易性のために変えられることが可能である。その結果、例えば、図1及び図2に示されるように、第3部材は、便宜的に、角形のディバイスの一端側で小さな長方形をしており、長方形のギャップによって第2電極から距離を隔てられる;しかし、他の配置が可能である。例えば、上記第3部材が、閉塞した断面のギャップによって第2電極から隔離された孤立した部分であっても構わない。もし、並列した2つ又はそれ以上のディバイスが必要ならば、PTC素子の第1面上にあり、クロス導体を介して接続が為されている単一の第1電極と共に、PTC素子の第1面上の、2つ又はそれ以上の第2電極が存在しても構わない。直列した2つ又はそれ以上のディバイスが必要な場合には、あるディバイスの第3部材は、隣接したディバイスの第2電極へ接続され得る;上記ディバイスは、PTC導電ポリマー素子の電流の負荷されない部分によって、さもなければ、別の手段で結合され得る。
最も単純なディバイスには、単一の第1電極,単一のクロス導体,単一の第3部材及び単一の第2電極がある。そのようなディバイスが、図1及び図2に示されている。そうしたディバイスの不利な点は、それが、回路基板に正しく配置されなければならないことである。この不利な点は、2つの第3部材(一つが各電極に連結している)と、2つのクロス導体(一つが各第3部材に連結している)とを有ずるディバイスを作ることにより(付加的な素子及び加工費を費やして)克服できる。そのようなディバイスが、図5及び図6に示されている。
この発明の特に好適な実施態様は、15オームより小さな、好ましくは10オームより小さな、とりわけ5オームより小さな、特に1オームより小さな抵抗値を有し、(1)(a)25℃で50オームーセンチメートルより小さな、好ましくは10オームーセンチメートルより小さな、特に5オームーセンチメートルより小さな抵抗率を有し、且つ、PTC特性を示し、(b)第1面及び第2面を有する層状PTC抵抗素子と;(2)PTC素子の第1面に接触する第1金属箔電極と;(3)PTC素子の第2面に接触する第2金属箔電極と;(4)PTC素子の第2面に接触し、第2電極から距離を隔てられた付加的な金属箔導電部材と;(5)(a)金属から成り、(b)上記開口の内部に位置し、(c)物理的に且つ電気的に、第1電極及び上記付加的な導電部材へ接続されている横方向の導電部材とを有する回路保護ディバイスであり、上記PTC素子と第1電極及び付加的な導電部材とは、上記PTC素子を通じて第1電極と付加的な導電部材との間に通る開口を規定している。
接続に有用な本発明のディバイスは、適切であれば、いかなる寸法にも対応し得る。しかしながら、非常に小さなディバイスが容易に作製され得るということは、本発明の重要な利点である。本発明の好適なディバイスは、せいぜい12mm、好ましくはせいぜい7mmの最大寸法、及び/又は、せいぜい30mm2、好ましくはせいぜい20mm2、特にせいぜい15mm2の表面領域を有する。
もし、必要ならば、また別の工程の後に、複数のディバイスに分割され得る本発明のアッセンブリにおいて、(a)上記PTC抵抗素子は、PTC素子の第1及び第2面の間に通る複数の開口を規定し、(b)複数の横方向の導電部材が存在し、各横方向の部材が上記開口の一つの内部に位置し、(c)上記開口及び横方向の部材が規則的なパターンで配列されている。
通常、上記アッセンブリは更に、(3)(a)PTC素子の第1面に固定され、(b)物理的に且つ電気的にすべての横方向の部材に接続された第1層状導電部材と; (4)PTC素子の第2面に固定される第2層状導電部材とを有している。
上記横方向の部材はまた、第2層状導電部材へ物理的に且つ電気的に接続され得る。第1及び/又は第2導電部材は、アッセンブリが分割される前に、また、横方向の部材が所定位置に配置される前もしくは後に、好ましくは、複数のストリップの形状で、上記アッセンブリが、該ストリップに平行な線に沿って、第1及び第2電極と、該第2電極とPTC素子の同じ面上にあるが、第2電極には接続されない第3部材とを有するディバイスに分割され得るように配置される。
プロセス
本発明のディバイスは、いかなる手段によっても作製され得る。しかしながら、本発明の好適な方法は、あらゆる又はほとんどの工程段階を、大きな積層板上で行い、それから、該積層板を、複数の個々のディバイスへ、もしくは、物理的に接続され且つ電気的に互いに接続され得る、比較的小さなディバイスのグループへ、直列に又は並列にもしくはその両方で、分割することによって、非常に経済的にディバイスを作製することを可能とする。上記積層板の分割は、層状導電部材の1つ又は両方を通過する、もしくは、どちらも通過しない、あるいは、ひとつもクロス導体を通過しない、もしくは、幾らか又はすべてのクロス導体を通過する線に沿って行なわれることができる。分割前の工程のステップは、一般に、便宜的であれば、いかなる順序によっても実行され得る。
本発明は添付図面に示されており、そこでは、開口のサイズ及び構成部品の厚さは、明瞭さのために誇張されている。図1は、本発明の回路保護ディバイスの平面図であり、図2は、図1のII−II線に沿った断面図である。上記ディバイスは、第1層状電極13が取り付けられる第1面と第2層状電極15が取り付けられる第2面とを備えている層状PTC素子17を有している。電気的に電極15には接続されない付加的な層状導電部材49がまた、第2面に取り付けられている。クロス導体51が、第1電極13,PTC素子17及び付加的な素子49により規定された開口の内部に位置している。上記クロス導体は、また、結果的に鍍金工程の間に露出されたディバイスの表面上に鍍金52をもたらす鍍金工程によって形成された中空管である。
図3及び図4は、図2に類似しているが、金属ロッド(図3)又はリベット(rivet)(図4)の形状をしたクロス導体を示している。
図5は、回路基板にはんだ付けされた本発明の他の回路保護ディバイスの平面図であり、図6は、図5のVI−VI線に沿った断面図である。上記ディバイスは、図1及び図2で示されたものに類似しているが、それが、回路基板上にどちら向きでも配置されることが可能なように対称にされたものである。その結果、上記ディバイスは、第2電極15を第2の付加的な素子35に接続する第2クロス導体31を有している。該クロス導体は、その開口(及び他の露出面)を、まず、銅で、その後、はんだで鍍金することにより作られる。上記ディバイスは、絶縁基板9上のトレース41及び43にはんだ付けされる。はんだ付け工程の間に、上記ディバイス上のはんだ鍍金が流れて開口を完全に充填する。
図7は、図1及び図2に示されているように、相当数の各ディバイスへ分割され得る本発明のアッセンブリの一部の平面図であり、図8は、図7のVIII−VIII線に沿った断面図である。上記アッセンブリは、第1層状導電部材3が取り付けられた第1面と、第2層状導電部材5が取り付けられた第2面とを有している層状PTC素子7を有する。上記導電部材3及び5は連続するものでないが、並列したストリップの形状をしており、該ストリップの形状は、対応する連続的な部材から、電極材料のストリップを取り除くことにより、例えば、エッチングすることにより形成される。その材料は、製品における物理的応力のバランスをとるために、互い違いにされたストリップで、アッセンブリの両側から交互に取り外される。エッヂングのステップの前に、規則的なパターンで配列される複数の穴が、PTC素子7と層状部材3及び5とに空けられ、上記アッセンブリは、各開口における管状のクロス導体1(及びアッセンブリの他の露出面上の鍍金2)を備えるために鍍金されている。上記アッセンブリは、それをCと記された線に沿って分割することにより、複数のディバイスにコンバートされることが可能である。アッセンブリの周縁には、PTC素子7と層状部材3及び5とに空けられるべき穴を位置設定する場合に、また、分割線Cを位置設定する場合に使用するための位置合せ穴4がある。
本発明は、次の実施態様によって説明される。
実施態様
導電ポリマー組成物は、48.6%の重量を占める高密度ポリエチレン(ユーエスアイ(USI)から入手可能なペトロセンエルビー832(Petrothene LB 832))と、51.4%の重量を占めるカーボンブラック(コロンビアンケミカル(Columbian Chemicals)から入手可能なレイベン430(Raven 430)とを予め調合し、その調合物をバンバリーミキサー(Banbury mixer)で混合し、混合した配合物をペレット(pellets)にして押出し、そして、0.25ミリメートル(0.010インチ)厚のシートを作製するために、3.8センチメートル(1.5インチ)の押出機を通じて、そのペレットを押出することによって作製された。その押出されたシートは、0.31×0.41メートル(12×16インチ)の角片に切断され、各々の角片は、0.025ミリメートル(0.001インチ)厚の(フクダ(Fukuda)から入手可能な)電着ニッケル箔の2枚のシートの間に積み重ねられた。その層は、約0.25ミリメートル(0.010インチ)厚のプラク(plaque)を形成するために、熱及び圧力下で積層化された。各プラクが、10メガラド(Mrad)まで放射線を照射された。各プラクは、約7000のディバイスを作製するために使用され、それぞれが、図1及び図2で示された配置を有していた。
直径0.25ミリメートル(0.010インチ)の穴は、各ディバイス用に穴を備えるために、規則的なパターンでプラクの厚みを通じて空けられた。各穴は、ばりを取られ洗浄された。ニッケル箔層及び空けられた穴を取り囲む導電ポリマーの両面は、パラジウム(palladium)/銅の溶液を用いて感光性を与えられた。
約0.076ミリメートル(0.003インチ)厚の銅の層は、その感光性を与えられた表面上に無電解鍍金され、それから、0.025ミリメートル(0.001インチ)厚の錫−鉛のはんだの層は、銅の表面上に無電解鍍金された。パターンは、次の標準的なフォトレジスト(photoresist)の工程を用いて、上記プラク上にエッチングされた。第1に、乾燥したフィルム(マイラー ポリエステル(Mylar polyester))のレジスト(resist)が、プラクの両表面上に積層化され、その後、図7及び図8に示されたようなパターンを生成するために紫外線を当てられた。第2に、パターンを化学的にエッチングするために、塩化[第二]鉄の溶液が使用された。このステップの間に、上記プラクの各側面上の交互のセクションは、はんだを露出させて、機械的応力の高まりを軽減するために、エッチングされた。第3に、エッチングされたプラクが濯ぎ洗いされ、塗膜が取り剥がされた。
上記プラクは、別々の角形の電気的なディバイスを作製するために、剪断され、さいの目に切られた。各ディバイスは、4.57×3.05×0.51ミリメートル(0.180×0.120×0.020インチ)の寸法を有した。通し穴は、ディバイスの短い方の周縁部から約3.81ミリメートル(0.015インチ)に位置させられた。0.51×3.05ミリメートル(0.020×0.120インチ)の露出された導電ポリマーのストリップは、上記通し穴から0.38ミリメートル(0.015インチ)、ディバイスの短い方の周縁部から1.02ミリメートル(0.040インチ)に位置していた。各ディバイスは約300ミリオームの抵抗値を有した。
本発明の回路保護ディバイスの平面図である。 図1のII−II線に沿った断面図である。 金属ロッドの形状をしたクロス導体を示す図である。 リベット(rivet)の形状をしたクロス導体を示す図である。 回路基板にはんだ付けされた本発明の他の回路保護ディバイスの平面図である。 図5のVI−VI線に沿った断面図である。 相当数の各ディバイスへ分割され得る本発明のアッセンブリの一部の平面図である。 図7のVIII−VIII線に沿った断面図である。
符号の説明
3…第1層状導電部材,5…第2層状導電部材,7,17…層状PTC素子,13…第1層状電極,15…第2層状電極,49…付加的な層状導電部材。

Claims (8)

  1. (1)(a)PTC特性を示す、ポリマー成分と導電充填剤とを含む導電ポリマーから成る抵抗材料から成り、(b)第1面及び第2面を有し、(c)(i)第1面と第2面との間に通る複数の開口であって、それぞれ上記アッセンブリを平面視した場合に(i)細長く、(ii)全体として矩形をなし、また、(iii)複数の直線状に配列されている開口を規定するPTC素子と;
    (2)それぞれ(a)上記PTC素子により規定された開口の1つの内部に位置し、(b)PTC素子の第1面と第2面との間に通り、(c)上記PTC素子に固定されるとともに、上記開口と規則的なパターンで複数の直線状に配列される複数のクロス導電部材と;
    (3)(a)上記PTC素子の第1面に固定され、(b)上記クロス導電部材へ物理的に且つ電気的に接続される第1層状導電部材とを有しており、
    複数の回路保護ディバイスに分割され得る、ことを特徴とする電気的なアッセンブリ。
  2. 回路保護ディバイスであるアッセンブリであって、(a)上記PTC素子が層状素子であり、(b)上記ディバイスが、
    (4)上記PTC素子の第2面に固定されておりクロス導電部材に電気的に接続されていない第2層状導電部材を有することを特徴とする請求項1記載のアッセンブリ。
  3. (5)(a)上記開口領域で上記PTC素子の第2面に固定され、(b)上記クロス導電部材に電気的に接続され、(c)上記第2層状導電部材から距離を隔てられた第3層状導電部材を有している請求項2記載のアッセンブリ。
  4. 上記クロス導電部材が、
    (a)上記開口を規定する上記PTC素子の表面上の金属鍍金と、
    (b)はんだと、
    (c)予め成形された金属のロッド又はチューブの内の少なくとも1つを有することを特徴とする上記請求の範囲第1項〜請求の範囲第3項のいずれか一に記載のアッセンブリ。
  5. 上記PTC素子が導電ポリマーから成る層状素子であり、上記第1層状導電部材が、(a)上記PTC素子の第1面に固定され、(b)あらゆるクロス導電部材に物理的に且つ電気的に接続され;上記アッセンブリが、更に、
    (3)上記PTC素子の第2面に固定される第2層状導電部材を有することを特徴とする請求項1記載のアッセンブリ。
  6. 上記第1及び第2層状導電部材の各々が、複数の平行なストリップから成ることを特徴とする請求項5記載のアッセンブリ。
  7. (A)(1)(i)PTC特性を示す、ポリマー成分と導電充填剤を含む粒状充填剤成分とを含有している導電ポリマーから成る抵抗材料から成り、(ii)第1面及び第2面を有する、層状PTC素子と、
    (2)上記PTC素子の第1面に固定される第1層状導電部材と、
    (3)上記PTC素子の第1面に固定される第2層状導電部材と
    を有するアッセンブリを作製し、
    (B)ステップ(A)で作製されたアッセンブリの厚さを通じて、上記アッセンブリを平面視した場合に(i)細長く、(ii)全体として矩形をなし、また、(iii)規則的なパターンで複数の直線状に配列される複数の開口を作り、
    (C)ステップ(B)と同時に、又は、ステップ(B)の後に、上記第1層状導電部材と電気的に接触した状態にして、複数のクロス導電部材を開口の内部に配置し、
    (D)第1及び第2導電部材の内の予め決められた少なくとも一部分を取り除き、
    (E)ステップ(A)から(D)の後に、上記アッセンブリを複数の電気ディバイスに分割するステップを有しており、
    上記各ディバイスが、
    (1)PTC素子の一部と、
    (2)幾つかのディバイスで第1電極を、その他のディバイスで第2電極を備える第1層状導電部材の一部と、
    (3)幾つかのディバイスで第2電極を、その他のディバイスで第1電極を備える第2層状導電部材の一部と、
    (4)第2層状導電部材の残余の部分と、
    (5)上記残余の部分と第1電極とに電気的に接続する少なくとも1つのクロス導電部材と、を有していることを特徴とする電気ディバイスを作る方法。
  8. (1)(i)PTC特性を示す導電ポリマーから成り、(ii)第1面及び第2面を有する、層状PTC素子と、
    (2)PTC素子の第1面に固定される第1層状導電部材と、
    (3)PTC素子の第2面に固定される第2層状導電部材とを有しており、
    上記PTC素子と上記第1及び第2層状導電部材が、アッセンブリ厚を通過する複数の開口を規定し、該開口が、上記アッセンブリを平面視した場合に(i)細長く、(ii)全体として矩形をなし、また、(iii)規則的なパターンで複数の直線状に配列されていることを特徴とするアッセンブリ。
JP2008173527A 1993-09-15 2008-07-02 電気的なアッセンブリ Expired - Fee Related JP4511614B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12171793A 1993-09-15 1993-09-15

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005253276A Division JP4339295B2 (ja) 1993-09-15 2005-09-01 電気的なアッセンブリ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008235943A true JP2008235943A (ja) 2008-10-02
JP4511614B2 JP4511614B2 (ja) 2010-07-28

Family

ID=22398385

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7509252A Pending JPH09503097A (ja) 1993-09-15 1994-09-13 Ptc抵抗素子を有する電気的なアッセンブリ
JP2005253276A Expired - Fee Related JP4339295B2 (ja) 1993-09-15 2005-09-01 電気的なアッセンブリ
JP2008173527A Expired - Fee Related JP4511614B2 (ja) 1993-09-15 2008-07-02 電気的なアッセンブリ

Family Applications Before (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7509252A Pending JPH09503097A (ja) 1993-09-15 1994-09-13 Ptc抵抗素子を有する電気的なアッセンブリ
JP2005253276A Expired - Fee Related JP4339295B2 (ja) 1993-09-15 2005-09-01 電気的なアッセンブリ

Country Status (10)

Country Link
EP (2) EP0719442B1 (ja)
JP (3) JPH09503097A (ja)
KR (1) KR100327876B1 (ja)
CN (3) CN1145979C (ja)
AU (1) AU692471B2 (ja)
BR (1) BR9407542A (ja)
CA (1) CA2171749C (ja)
DE (2) DE69434557T2 (ja)
TW (1) TW359862B (ja)
WO (1) WO1995008176A1 (ja)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5852397A (en) * 1992-07-09 1998-12-22 Raychem Corporation Electrical devices
KR100327876B1 (ko) * 1993-09-15 2002-10-12 타이코 일렉트로닉스 코포레이션 Ptc저항소자를포함하는전기어셈블리
CA2190361A1 (en) * 1994-05-16 1995-11-23 Michael Zhang Electrical devices comprising a ptc resistive element
CN1113369C (zh) 1994-06-09 2003-07-02 雷伊化学公司 包含正温度系数导电聚合物元件的电路保护器件和制造该器件的方法
US5900800A (en) * 1996-01-22 1999-05-04 Littelfuse, Inc. Surface mountable electrical device comprising a PTC element
US5907272A (en) * 1996-01-22 1999-05-25 Littelfuse, Inc. Surface mountable electrical device comprising a PTC element and a fusible link
US5884391A (en) * 1996-01-22 1999-03-23 Littelfuse, Inc. Process for manufacturing an electrical device comprising a PTC element
US5699607A (en) * 1996-01-22 1997-12-23 Littelfuse, Inc. Process for manufacturing an electrical device comprising a PTC element
CN1154119C (zh) * 1996-09-20 2004-06-16 松下电器产业株式会社 Ptc热敏电阻
EP0955643B1 (en) * 1996-12-26 2005-10-05 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd Ptc thermistor and method for manufacturing the same
CN1135570C (zh) * 1997-06-04 2004-01-21 泰科电子有限公司 电路保护器件
KR100507457B1 (ko) 1997-07-07 2005-08-10 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 칩형 폴리머 ptc 서미스터 및 그 제조 방법
US6020808A (en) * 1997-09-03 2000-02-01 Bourns Multifuse (Hong Kong) Ltd. Multilayer conductive polymer positive temperature coefficent device
US6172591B1 (en) * 1998-03-05 2001-01-09 Bourns, Inc. Multilayer conductive polymer device and method of manufacturing same
EP1030316B1 (en) * 1998-07-08 2007-05-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for manufacturing chip ptc thermister
US6124781A (en) * 1998-10-06 2000-09-26 Bourns, Inc. Conductive polymer PTC battery protection device and method of making same
JP2000188205A (ja) 1998-10-16 2000-07-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd チップ形ptcサ―ミスタ
JP4419214B2 (ja) * 1999-03-08 2010-02-24 パナソニック株式会社 チップ形ptcサーミスタ
US6300859B1 (en) 1999-08-24 2001-10-09 Tyco Electronics Corporation Circuit protection devices
US6854176B2 (en) * 1999-09-14 2005-02-15 Tyco Electronics Corporation Process for manufacturing a composite polymeric circuit protection device
KR100485890B1 (ko) * 2002-10-22 2005-04-29 엘에스전선 주식회사 표면실장형 정온계수 전기 장치 및 그 제조 방법
CN100382204C (zh) * 2002-10-23 2008-04-16 深圳市固派电子有限公司 表面贴装式高分子正温度系数自恢复保险丝及其制造方法
US20100038357A1 (en) * 2007-01-22 2010-02-18 Panasonic Corporation Ptc resistor
KR100922471B1 (ko) 2007-09-27 2009-10-21 삼성에스디아이 주식회사 이차전지용 보호회로기판 및 이를 이용한 이차 전지
WO2017056988A1 (ja) * 2015-09-28 2017-04-06 Littelfuseジャパン合同会社 保護素子
TWI702617B (zh) * 2017-11-24 2020-08-21 富致科技股份有限公司 正溫度係數電路保護裝置及其製備方法
CN109065769A (zh) * 2018-09-25 2018-12-21 华霆(合肥)动力技术有限公司 软包电池及电池模组
CN110223811A (zh) * 2019-04-23 2019-09-10 深圳市金瑞电子材料有限公司 二次安全保护元件的制造方法、芯片及设备

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5297448U (ja) * 1976-01-19 1977-07-21
JPS55126601U (ja) * 1979-03-05 1980-09-08
JPS6242402A (ja) * 1986-08-11 1987-02-24 日東電工株式会社 電流制限素子
JPS6313302A (ja) * 1986-07-04 1988-01-20 三菱マテリアル株式会社 チツプ型抵抗素子
JPS63211701A (ja) * 1987-02-27 1988-09-02 日本メクトロン株式会社 Ptc素子
JPH01302803A (ja) * 1988-04-05 1989-12-06 Philips Gloeilampenfab:Nv チップ抵抗およびその製造方法
JPH0387001A (ja) * 1989-05-18 1991-04-11 Fujikura Ltd Ptcサーミスタの製造方法
JPH03138994A (ja) * 1989-10-24 1991-06-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd スルーホールを有する回路基板
JP4339295B2 (ja) * 1993-09-15 2009-10-07 レイケム・コーポレイション 電気的なアッセンブリ

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3775725A (en) * 1970-04-30 1973-11-27 Hokuriku Elect Ind Printed resistor
JPS5742163Y2 (ja) * 1978-04-25 1982-09-17
JPS5757502U (ja) * 1980-09-19 1982-04-05
DE3204207C2 (de) * 1982-02-08 1985-05-23 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Elektrischer Widerstand mit einem keramischen PTC-Körper und Verfahren zu seiner Herstellung
JPS6110203A (ja) * 1984-06-25 1986-01-17 株式会社村田製作所 有機正特性サ−ミスタ
JPH0685361B2 (ja) * 1985-08-12 1994-10-26 松下電器産業株式会社 正抵抗温度係数発熱体樹脂組成物の製造方法
JPH0322883Y2 (ja) * 1985-08-13 1991-05-20
US4689475A (en) * 1985-10-15 1987-08-25 Raychem Corporation Electrical devices containing conductive polymers
JPS635601U (ja) * 1986-06-26 1988-01-14
JPH0746629B2 (ja) * 1986-12-09 1995-05-17 松下電器産業株式会社 正抵抗温度係数発熱体
US4924074A (en) * 1987-09-30 1990-05-08 Raychem Corporation Electrical device comprising conductive polymers
DE8716103U1 (ja) * 1987-12-05 1988-01-21 Degussa Ag, 6000 Frankfurt, De
JPH0195714U (ja) * 1987-12-18 1989-06-26
JPH0616442B2 (ja) * 1988-04-06 1994-03-02 株式会社村田製作所 有機正特性サーミスタ
JPH02148681A (ja) * 1988-11-30 1990-06-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 正抵抗温度係数発熱体
CN2110908U (zh) * 1991-11-06 1992-07-22 曾宪富 柔性导电高分子复合材料热敏电阻器

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5297448U (ja) * 1976-01-19 1977-07-21
JPS55126601U (ja) * 1979-03-05 1980-09-08
JPS6313302A (ja) * 1986-07-04 1988-01-20 三菱マテリアル株式会社 チツプ型抵抗素子
JPS6242402A (ja) * 1986-08-11 1987-02-24 日東電工株式会社 電流制限素子
JPS63211701A (ja) * 1987-02-27 1988-09-02 日本メクトロン株式会社 Ptc素子
JPH01302803A (ja) * 1988-04-05 1989-12-06 Philips Gloeilampenfab:Nv チップ抵抗およびその製造方法
JPH0387001A (ja) * 1989-05-18 1991-04-11 Fujikura Ltd Ptcサーミスタの製造方法
JPH03138994A (ja) * 1989-10-24 1991-06-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd スルーホールを有する回路基板
JP4339295B2 (ja) * 1993-09-15 2009-10-07 レイケム・コーポレイション 電気的なアッセンブリ

Also Published As

Publication number Publication date
AU692471B2 (en) 1998-06-11
CA2171749C (en) 2005-11-08
DE69431757T2 (de) 2003-08-14
JP4511614B2 (ja) 2010-07-28
JPH09503097A (ja) 1997-03-25
WO1995008176A1 (en) 1995-03-23
EP0719442B1 (en) 2002-11-20
BR9407542A (pt) 1996-12-31
KR960705328A (ko) 1996-10-09
TW359862B (en) 1999-06-01
EP1235233B1 (en) 2005-11-23
EP0719442A1 (en) 1996-07-03
KR100327876B1 (ko) 2002-10-12
JP2006005377A (ja) 2006-01-05
DE69431757D1 (de) 2003-01-02
EP1235233A3 (en) 2004-01-14
CN1045134C (zh) 1999-09-15
CN1722315A (zh) 2006-01-18
CN1130955A (zh) 1996-09-11
AU7723694A (en) 1995-04-03
DE69434557D1 (de) 2005-12-29
CN1215896A (zh) 1999-05-05
CN1722315B (zh) 2010-06-16
EP1235233A2 (en) 2002-08-28
DE69434557T2 (de) 2006-08-10
JP4339295B2 (ja) 2009-10-07
CN1145979C (zh) 2004-04-14
CA2171749A1 (en) 1995-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4511614B2 (ja) 電気的なアッセンブリ
US6651315B1 (en) Electrical devices
EP0760157B1 (en) Electrical devices comprising a ptc resistive element
US6172591B1 (en) Multilayer conductive polymer device and method of manufacturing same
JP5210480B2 (ja) 電気デバイス及びそのようなデバイスを製造する方法
TW419678B (en) Electrical devices
US6242997B1 (en) Conductive polymer device and method of manufacturing same
US6236302B1 (en) Multilayer conductive polymer device and method of manufacturing same
US7326999B2 (en) Chip resistor and method for manufacturing same
JP2004006963A (ja) 回路保護デバイス
US20020058208A1 (en) Polymeric substrate circuit protection device and method of making the same
MXPA00010065A (en) Electrical devices

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080730

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090915

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20091215

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20091218

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100108

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100114

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100215

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100218

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100312

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100406

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100506

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130514

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140514

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees