JP2008224497A - 計測位置表示方法および計測装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】ユーザが意図した内容と異なる内容が教示されることによる誤計測や計測失敗が生じるのを防止する。
【解決手段】教示した計測位置45が、該計測位置25が設定された輝度プロファイルの輝度勾配部分の開始点および終了点である変曲点43,44と共に特定された状態で表示されるので、複数の輝度勾配部分が近接するような複雑な輝度プロファイルにおいて、計測位置が設定された輝度勾配部分を、目視確認することができ、これによって、ユーザが意図した輝度勾配部分とは異なる輝度勾配部分に対して計測位置の教示が行われるのを防止することができる。
【選択図】図5
【解決手段】教示した計測位置45が、該計測位置25が設定された輝度プロファイルの輝度勾配部分の開始点および終了点である変曲点43,44と共に特定された状態で表示されるので、複数の輝度勾配部分が近接するような複雑な輝度プロファイルにおいて、計測位置が設定された輝度勾配部分を、目視確認することができ、これによって、ユーザが意図した輝度勾配部分とは異なる輝度勾配部分に対して計測位置の教示が行われるのを防止することができる。
【選択図】図5
Description
本発明は、例えば、基板や部品などの計測対象を撮像した計測画像に基づいて、位置や寸法などの計測を行う計測装置、および、計測装置に対して計測位置を教示する際の表示方法に関する。
計測対象を撮像した画像データに基づいて画像処理を行うことにより計測対象を測定・評価する装置がある(例えば、特許文献1参照)。
計測対象、例えば、液晶パネルのガラス基板を撮像して、その計測画像からガラス基板上のパターンの寸法を計測する計測装置においては、予め教示用画像を用いて計測位置の教示が行われる。
図7は、計測位置の教示の手順を説明するための図である。
先ず、計測装置の表示部に、教示用画像を表示する(ステップS1)。教示用画像22は、例えば、図8に示すように、計測対象である基板の一部の計測領域、この例では、複数の線状のパターンP1〜P4およびそれらが交差する矩形状のパターンP5〜P7を含む基板の一部を予め撮像した画像であり、この教示用画像22としては、例えば、パターンの形状などが同等であるものが多数存在する計測対象を撮像した画像を用いるのが好ましい。この例では、上下に延びる右端の線状のパターンP3の線幅を計測する場合の教示について説明する。
次に、表示した教示用画像22に対して、図8に示すように、パターンP3の線幅の計測に必要な幅(座標)23,24を指定入力する(ステップS2)。これによって、指定された幅(座標)23,24の間の輝度プロファイル25が、例えば、図9に示すように表示される(ステップS3)。
この図9では、輝度プロファイル25を、説明の便宜上、簡略化して台形状として示している。
ここで、図9を用いて、輝度プロファイル25およびこの輝度プロファイル25を用いた計測の概要を説明する。図9に示すように、例えば、計測位置32,33は、輝度が単調増加している輝度勾配部分26、あるいは、単調減少している輝度勾配部分27の任意の位置に設定することができ、各輝度勾配部分26,27の開始点および終了点は、変曲点28,29;30.31として規定される。
実際の輝度プロファイルは、一般に、複数の輝度勾配部分が近接した複雑な形状であり、複数の輝度勾配部分が含まれるために、図7に示すように、計測位置を設定する前に、その計測位置の設定の前提となる輝度勾配部分を設定する必要がある(ステップS4)。
この輝度勾配部分の設定は、例えば、図10に示すように、輝度勾配の向き(正負)、輝度勾配部分の階調差である高さ32、および、無視すべき輝度勾配のノイズレベル33を指定することによって行われる。輝度勾配の向きとは、勾配の正負、すなわち、輝度が暗から明に変化するか、明から暗に変化するかをいい、図10では、輝度勾配の向きが、暗から明に変化する部分を示している。
かかる輝度勾配部分の設定の後に、図7に示すように、計測位置の設定を行う(ステップS5)。
この計測位置の設定は、例えば、図11に示すように、設定された輝度勾配部分の変曲点である開始点34から終了点35までの勾配の高さを100%として、計測位置36を、例えば、開始点34から何%の位置、あるいは、終了点35から何%の位置として指定する。図11では、50%の例を示している。
以上の設定が終了すると、計測装置は、これらの設定条件に従って、輝度プロファイルから輝度勾配部分を検索し、検索した輝度勾配部分に対する計測位置を求め、この計測位置36を、例えば、図12に示すように表示する(ステップS6)。ユーザは、この表示を見て、計測したい位置に指定できたか否かを確認することができ(ステップS7)、指定できているときには、その内容が、計測装置に登録されて計測位置の教示が終了する。また、計測したい位置に指定できていないときにき、指定をやり直すことになる。
なお、実際に計測されるパターンの線幅は、例えば、上述の図9に示すように、教示された両計測位置32,33間の距離Wとして算出される。
特許3765061号公報
なお、実際に計測されるパターンの線幅は、例えば、上述の図9に示すように、教示された両計測位置32,33間の距離Wとして算出される。
かかる従来例では、計測装置は、図12に示すように、輝度プロファイルおよび計測位置36のみを表示するものであるために、複数の輝度勾配部分が近接するような複雑な輝度プロファイルでは、ユーザは、輝度プロファイルのどの輝度勾配部分を用いて計測値が求められて表示されているかを把握できない場合がある。
例えば、図13の輝度プロファイル、この輝度プロファイルでは、二つの輝度勾配部分41,42を分かり易くするために、簡略化して示しているのであるが、かかる輝度プロファイルにおいて、ユーザの設定内容に基づいて、計測装置が検索した輝度勾配部分が、勾配の高さがAである第1の輝度勾配部分41であるのか、あるいは、勾配の高さがBである第2の輝度勾配部分42であるのかを、複雑な輝度プロファイルでは、ユーザが把握できない場合がある。
このため、ユーザが、想定していた輝度勾配部分が、例えば、第2の輝度勾配部分42であるのに対して、設定内容に基づいて、計測装置が検索した輝度勾配部分が、第1の輝度勾配部分41であるときには、輝度勾配部分の開始点あるいは終了点からの割合として設定される計測位置45がずれることになり、この結果、正しい計測が行われないという課題がある。
また、かかる場合、ユーザは、意図した輝度勾配部分とは異なる輝度勾配部分が設定されていることを把握できず、誤って教示が行われたことを認識できないのであるから、実際の計測を開始して、計測値の異常を知ったときに、実際の計測対象のパターンの線幅などの異常であるのか、教示の失敗であるかといった原因を究明するのが容易でないといった課題もある。
本発明は、上述の点に鑑みて為されたものであって、ユーザが意図した内容と異なる内容が教示されることによる誤計測や計測失敗が生じるのを防止することを目的とする。
(1)本発明の計測位置教示方法は、表示部を有する計測装置に対して、教示用画像の輝度プロファイルを用いて計測位置を教示する際に、前記計測位置を前記表示部に表示する方法であって、設定に基づいて、前記輝度プロファイルに含まれる輝度勾配部分を検索し、検索した輝度勾配部分における前記計測位置を求め、前記輝度勾配部分を含む前記輝度プロファイルを、前記輝度勾配部分の変曲点および前記計測位置を特定した状態で表示するものである。
輝度プロファイルは、前記教示用画像における計測位置を含む二点間の輝度プロファイルであるのが好ましい。
特定した状態とは、特に示した状態をいい、例えば、丸や三角等のマークや線を付した状態などをいう。
本発明の計測位置表示方法によると、設定に基づいて検索された輝度勾配部分の変曲点が特定された状態で、計測位置と共に表示されるので、ユーザが意図した輝度勾配部分に対して計測位置が設定されたか否かを目視確認できることになり、ユーザが意図してない輝度勾配部分に対して計測位置が設定されて誤計測や計測失敗が生じるのを防止することができる。したがって、ユーザの意図しない教示が行われて、ユーザがそれに気づかず、誤計測や計測失敗が生じ、その原因の究明に手間取るといったこともない。
(2)本発明の計測位置表示方法の一つの実施形態では、前記設定が、前記輝度プロファイルに含まれる前記輝度勾配部分を指定する設定および該輝度勾配部分における前記計測位置を指定する設定である。
輝度勾配部分の指定は、輝度勾配部分の勾配の向き、すなわち、勾配の正負、輝度の階調差である勾配の高さ、検索の際に無視するノイズレベルの指定などであるのが好ましい。
この実施形態によると、設定に基づいて、指定された輝度勾配部分が検索され、検索された輝度勾配部分について、指定された計測位置が求められる。
(3)本発明の計測位置表示方法の他の実施形態では、前記計測位置の指定が、前記輝度勾配部分の開始点または終了点である前記変曲点を基準として行われる。
計測位置の指定は、輝度勾配部分の開始点から終了点までの勾配の高さに対する、開始点あるいは終了点を基準とした割合として指定するのが好ましい。
この実施形態によると、計測位置の指定の基準となる輝度勾配部分の変曲点である開始点あるいは終了点が、輝度プロファイルに特定された状態で表示されるので、計測位置の指定が、ユーザの意図した通りに行われたか否かを容易に確認できる。
(4)本発明の計測位置表示方法の一つの実施形態では、前記計測装置は、計測対象を撮像した計測画像と、予め登録されている計測位置を含む計測レシピとに基づいて、計測画像の輝度プロファイルに含まれる輝度勾配部分を検索して、教示された前記計測位置を求めるものであり、前記計測画像の輝度プロファイルに含まれる前記輝度勾配部分の変曲点のデータを保存するものである。
この実施形態によると、計測画像の輝度プロファイルの輝度勾配部分の変曲点のデータを保存するので、計測が正しく行われなかった場合には、変曲点および計測位置を特定した状態の輝度勾配部分を含む輝度プロファイルを表示することにより、意図した輝度勾配部分に対して計測位置が設定されているか否かを確認できるので、原因の究明が容易となる。
(5)本発明の計測装置は、計測対象を撮像した計測画像と、予め登録されている計測位置を含む計測レシピとに基づいて、計測位置を求めて計測を行う計測装置であって、前記計測位置を教示するための教示用画像の輝度プロファイルが表示される表示部と、前記輝度プロファイルにおける前記計測位置を設定するための設定データが入力される入力部と、前記設定データに基づいて、前記輝度プロファイルに含まれる輝度勾配部分を検索して、該輝度勾配部分における前記計測位置を求める検索部とを備え、前記検索部は、検索した前記輝度勾配部分を含む前記輝度プロファイルを、前記輝度勾配部分の変曲点および前記計測位置を特定した状態で前記表示部に表示するものである。
本発明の計測装置によると、設定に基づいて検索された輝度勾配部分の変曲点が特定された状態で、計測位置と共に表示されるので、ユーザが意図した輝度勾配部分に対して計測位置が設定されたか否かを目視確認できることになり、ユーザが意図してない輝度勾配部分に対して計測位置が設定されて誤計測や計測失敗が生じるのを防止することができる。したがって、ユーザの意図しない教示が行われて、ユーザがそれに気づかず、誤計測や計測失敗が生じ、その原因の究明に手間取るといったこともない。
(6)本発明の計測装置の一つの実施形態では、前記設定データが、前記輝度プロファイルに含まれる前記輝度勾配部分を指定するデータおよび該輝度勾配部分における前記計測位置を指定するデータである。
この実施形態によると、設定に基づいて、指定された輝度勾配部分が検索され、検索された輝度勾配部分について、指定された計測位置が求められる。
(7)本発明の計測装置の他の実施形態では、前記計測位置の指定が、前記輝度勾配部分の開始点または終了点である前記変曲点を基準として行われる。
この実施形態によると、計測位置の指定の基準となる輝度勾配部分の変曲点である開始点あるいは終了点が、輝度プロファイルに特定された状態で表示されるので、計測位置の指定が、ユーザの意図した通りに行われたか否かを容易に確認できる。
(8)本発明の計測装置の更に他の実施形態では、前記検索部は、前記計測画像の輝度プロファイルに含まれる輝度勾配部分を検索して、教示された前記計測位置を求めるものであり、前記計測画像の前記輝度プロファイルに含まれる前記輝度勾配部分の変曲点のデータが、記憶される記憶部を備えている。
この実施形態によると、計測画像の輝度プロファイルの輝度勾配部分の変曲点のデータを保存するので、計測が正しく行われなかった場合には、変曲点および計測位置を特定した状態の輝度勾配部分を含む輝度プロファイルを表示することにより、意図した輝度勾配部分に対して計測位置が設定されているか否かを確認できるので、原因の究明が容易となる。
本発明によれば、設定に基づいて検索された輝度勾配部分の変曲点が特定された状態で、計測位置と共に表示されるので、ユーザが意図した輝度勾配部分に対して計測位置が設定されたか否かを目視確認できることになり、ユーザが意図してない輝度勾配部分に対して計測位置が設定されて誤計測や計測失敗が生じるのを防止することができる。したがって、ユーザの意図しない教示が行われて、ユーザがそれに気づかず、誤計測や計測失敗が生じ、その原因の究明に手間取るといったこともない。
以下、図面によって本発明の実施の形態について詳細に説明する。
(実施の形態1)
以下、図面によって本発明の実施の形態について詳細に説明する。
以下、図面によって本発明の実施の形態について詳細に説明する。
図1は、本発明の一つの実施の形態に係る計測装置の概略構成を示す斜視図である。
この実施形態の計測装置1は、計測対象である基板2の計測領域を撮像して画像を取り込むための画像取り込み装置3と、この画像取り込み装置3に相互に情報伝送可能に接続されて、取り込んだ画像を処理して計測を行なうととともに、各部の制御を行なう制御装置4とを備えており、制御装置4は、画像取り込み装置3を制御する制御プログラムを実行するコンピュータを内蔵している。
画像取り込み装置3は、基台5と、その上に設置された一対のガイドレール6に沿って移動可能なテーブル7と、このテーブル7を跨ぐ形で基台5上の固定位置に架設された門型の架台8と、この架台8内に設けられた図示しないカメラ移動機構と、カメラ移動機構に支持された撮像部としてのカメラ9とを備えている。
矩形板状のテーブル7は、図示しないリニアモータなどの駆動機構によって図のy方向に移動可能である。カメラは、y方向に直交する図のx方向を可動方向とするカメラ移動機構によって、x方向に移動可能である。
基台5上には、テーブル7の移動方向であるy方向に沿って延びるリニアスケール10が設けられる一方、テーブル7には、該テーブル7と一体的に移動する図示しないエンコーダヘッドが設置されており、リニアスケール10とエンコーダヘッドとによって、テーブル7のy方向の移動量を測定するリニアエンコーダが構成される。
各エンコーダヘッドには、投光部と受光部とが備えられ、投光部から出射されてリニアスケール10で変調された反射光を受光部で受けることにより、テーブルの移動量に応じた数のパルス信号を得ることができる。また、各リニアスケール10の1箇所には原点パターンが設けられていることにより、テーブル位置の原点信号を得ることもできる。
架台8に内蔵されるカメラ移動機構は、テーブル7上に載置された基板2を撮像するカメラ9を、x方向に移動させるものである。このカメラ移動機構は、リニアエンコーダを備えており、このリニアエンコーダでカメラ9のx方向の移動量を測定しながら、制御装置4から指令されたx座標にカメラ9を移動させる。
カメラ9は、顕微鏡のように対物レンズを有する構成となっており、2次元CCD撮像素子を備える。対物レンズの交換により撮像倍率を変更できるようになっている。
制御装置4は、キーボードやマウスなどの入力装置20と、教示用画像や輝度プロファイルなどが表示されるディスプレイなどの表示装置21とを備えており、画像取り込み装置3に対してリアルタイムに指令を送ったり、画像取り込み装置3で撮像した画像を観察したり、画像取り込み装置3を制御するプログラムを入力したりできるようになっている。画像取り込み装置3を制御するプログラムは、ネットワークを経由して、外部からダウンロードすることもできる。
図2は、図1の計測装置1の要部の構成を示すブロック図であり、図1に対応する部分には、同一の参照符号を付す。
制御装置4は、カメラ9からの画像信号が入力される画像入力部11と、計測位置を含む計測レシピおよび制御プログラムなどが記憶される記憶部12と、教示用の設定データ等の入力を行なう入力部としての入力装置20と、画像入力部11からの計測画像と記憶部12の計測レシピに基づく輝度勾配部分の検索および計測演算などを行うとともに、テーブル7やカメラ移動機構を制御するための演算を行う演算部13と、演算部13の演算結果に基づいて、表示部としての表示装置21に計測結果などを表示出力するとともに、テーブル7やカメラ9の移動機構15への制御出力を与える出力部16とを備えている。
次に、この実施形態の計測位置の教示の手順について説明する。
ここでは、上述の従来例と同様に、図8の教示用画像22における上下に延びる線状のパターンP3の線幅を計測する場合の教示について説明する。
図3は、教示の手順を説明するための図であり、上述の図7に対応する図である。
先ず、教示用画像22を表示装置21に表示し(ステップS1)、この教示用画像22に対して、図8に示すように、パターンP3の線幅の計測に必要な幅(座標)23,24を、入力装置20を操作して指定入力し(ステップS2)、上述の図9に示すように、指定された両位置の間の輝度プロファイル25を、表示装置21に表示する(ステップS3)。
次に、計測位置の指定に用いる輝度勾配部分の設定を行う(ステップS4)。この輝度勾配部分の設定は、図4に示すように、輝度勾配の向き、すなわち、輝度が暗から明へ変化するか、明から暗へ変化するかの指定を行い(ステップS4−1)、次に勾配の高さ(輝度の階調差)を指定し(ステップS4−2)、更に、無視する勾配のノイズレベルを指定する(ステップS4−3)。
次に、指定した輝度勾配部分に対して、計測位置の設定を行う(ステップS5)。この計測位置の設定は、輝度勾配部分の変曲点、すなわち、輝度勾配部分の開始点あるいは終了点を基準として、開始点から終了点までの勾配の高さを100%としたときの計測位置を、開始点、あるいは、終了点から何%として指定する。
以上の設定によって、計測装置1は、輝度プロファイルから設定された条件に合致する輝度勾配部分を検索し、検索した輝度勾配部分に対して、指定した計測位置を求める。
次に、表示装置21に、求めた計測位置を表示する(ステップS6−1)。この計測位置の表示では、例えば、図5に示すように、検索した輝度勾配部分を含む輝度プロファイルが、前記輝度勾配部分の変曲点43,44および計測位置45を特定した状態で表示される。
このように、計測位置45の設定に用いた輝度勾配部分の変曲点43,44が特定されて表示されるので、複数の輝度勾配部分が近接するような複雑な輝度プロファイルであっても、計測に用いられた輝度勾配部分を、ユーザは、一目で把握できることになり、意図した輝度勾配部分が設定されているか否かを容易に判断することができる(ステップS6−2)。
更に、ユーザは、計測位置45が、計測したい位置に設定されているか否かを確認することができる(ステップS7)。
輝度勾配部分あるいは計測位置が、ユーザが意図する通りの設定となっているときには、その内容が、計測装置1に登録されて計測位置の教示が終了する。
なお、輝度勾配部分あるいは計測位置が、ユーザが意図する設定と異なる場合には、設定をやり直す。
なお、図5では、輝度勾配部分の変曲点を、黒三角のマークで特定したけれども、これに限らず、例えば、図6に示すように、変曲点43,44に平行な線のみで表示してもよく、その他の表示であってもよい。
本発明の他の実施形態として、教示用画像の輝度勾配部分の変曲点のデータおよび計測画像の検索された輝度勾配部分の変曲点のデータを保存するようにしてもよい。
このように変曲点のデータを保存しておくことにより、計測に異常が生じた場合には、変曲点および計測位置を特定した状態の輝度勾配部分を含む輝度プロファイルを表示して、ユーザが意図した輝度勾配部分に対して計測位置が設定されているか否かを確認できることになり、計測の異常の原因の究明が容易となる。
本発明は、計測画像に基づいて、位置や寸法などを計測する計測装置などに有用である。
1 計測装置
2 基板
3 画像取り込み装置
4 制御装置
9 カメラ
2 基板
3 画像取り込み装置
4 制御装置
9 カメラ
Claims (8)
- 表示部を有する計測装置に対して、教示用画像の輝度プロファイルを用いて計測位置を教示する際に、前記計測位置を前記表示部に表示する方法であって、
設定に基づいて、前記輝度プロファイルに含まれる輝度勾配部分を検索し、
検索した輝度勾配部分における前記計測位置を求め、
前記輝度勾配部分を含む前記輝度プロファイルを、前記輝度勾配部分の変曲点および前記計測位置を特定した状態で表示することを特徴とする計測位置表示方法。 - 前記設定が、前記輝度プロファイルに含まれる前記輝度勾配部分を指定する設定および該輝度勾配部分における前記計測位置を指定する設定である請求項1に記載の計測位置表示方法。
- 前記計測位置の指定が、前記輝度勾配部分の開始点または終了点である前記変曲点を基準として行われる請求項2に記載の計測位置表示方法。
- 前記計測装置は、計測対象を撮像した計測画像と、予め登録されている計測位置を含む計測レシピとに基づいて、計測画像の輝度プロファイルに含まれる輝度勾配部分を検索して、教示された前記計測位置を求めるものであり、
前記計測画像の輝度プロファイルに含まれる前記輝度勾配部分の変曲点のデータを保存する請求項1〜3のいずれか1項に記載の計測位置表示方法。 - 計測対象を撮像した計測画像と、予め登録されている計測位置を含む計測レシピとに基づいて、計測位置を求めて計測を行う計測装置であって、
前記計測位置を教示するための教示用画像の輝度プロファイルが表示される表示部と、
前記輝度プロファイルにおける前記計測位置を設定するための設定データが入力される入力部と、
前記設定データに基づいて、前記輝度プロファイルに含まれる輝度勾配部分を検索して、該輝度勾配部分における前記計測位置を求める検索部とを備え、
前記検索部は、検索した前記輝度勾配部分を含む前記輝度プロファイルを、前記輝度勾配部分の変曲点および前記計測位置を特定した状態で前記表示部に表示することを特徴とする計測装置。 - 前記設定データが、前記輝度プロファイルに含まれる前記輝度勾配部分を指定するデータおよび該輝度勾配部分における前記計測位置を指定するデータである請求項5に記載の計測装置。
- 前記計測位置の指定が、前記輝度勾配部分の開始点または終了点である前記変曲点を基準として行われる請求項6に記載の計測装置。
- 前記検索部は、前記計測画像の輝度プロファイルに含まれる輝度勾配部分を検索して、教示された前記計測位置を求めるものであり、
前記計測画像の前記輝度プロファイルに含まれる前記輝度勾配部分の変曲点のデータが、記憶される記憶部を備える請求項5〜7のいずれか1項に記載の計測装置。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2009035112A1 (ja) | 2007-09-12 | 2009-03-19 | Mitsubishi Materials Corporation | スーパーストレート型太陽電池用の複合膜及びその製造方法、並びにサブストレート型太陽電池用の複合膜及びその製造方法 |
US9007408B2 (en) | 2012-02-03 | 2015-04-14 | Samsung Display Co., Ltd. | Method of compensating a stain, a method of driving a display panel having the method of compensating a stain and a display apparatus for performing the method of driving the display panel |
CN114878595A (zh) * | 2022-07-08 | 2022-08-09 | 山东蓝彩天下教育科技有限公司 | 一种书本印刷质量检测方法 |
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