JP2008216810A - Liquid crystal panel inspecting device and liquid crystal panel inspection method - Google Patents

Liquid crystal panel inspecting device and liquid crystal panel inspection method Download PDF

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Yasuhiro Tsuno
康宏 津野
Atsushi Osada
厚 長田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid crystal panel inspection device and a liquid crystal panel inspection method for easily and surely repairing (correcting) defects of a liquid crystal panel without making a polarizing plate useless. <P>SOLUTION: Lighting inspection of a liquid crystal panel 10 is made possible without polarizing plates on the liquid crystal panel 10 by irradiating the liquid crystal panel 10 with light from a backlight 32 provided with a polarizing plate 32B, whereby defects can be repaired (corrected) without removing polarizing plates when being confirmed on the liquid crystal panel 10 by lighting inspection. Further, since polarizing plates placed in defective parts are not discarded, uselessness of polarizing plates can be prevented to reduce the manufacturing cost of the liquid crystal panel 10. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、パソコンや液晶薄型テレビなどに用いられる液晶パネルの欠陥(不良)の有無を検査する液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法に関する。   The present invention relates to a liquid crystal panel inspection apparatus and a liquid crystal panel inspection method for inspecting the presence or absence of defects (defects) in a liquid crystal panel used in a personal computer, a liquid crystal flat panel television, and the like.

近年、パソコンの表示装置や液晶薄型テレビとして液晶ディスプレイの需要が拡大している。液晶ディスプレイの一部品である液晶パネルの製造工程では、画素不良、走査線及び信号線の断線やショート、表示斑などの欠陥を調べるため、液晶パネルの点灯検査を行っている。この点灯検査は、液晶パネルを点灯させ、点灯状態を目視検査またはカメラを用いた自動検査により実施するものである。点灯検査は、セル工程の最終検査として行われ、液晶の注入・封止、偏光板の貼付後に行われる。点灯検査によって検出された欠陥は、偏光板を剥がしてから欠陥部分を修復し、再度、新しい偏光板を取り付けている。   In recent years, the demand for liquid crystal displays is expanding as display devices for personal computers and liquid crystal flat-screen televisions. In the manufacturing process of a liquid crystal panel which is a component of a liquid crystal display, a lighting inspection of the liquid crystal panel is performed in order to investigate defects such as pixel defects, disconnection or short of scanning lines and signal lines, and display spots. This lighting inspection is performed by turning on the liquid crystal panel and checking the lighting state by visual inspection or automatic inspection using a camera. The lighting inspection is performed as a final inspection of the cell process, and is performed after liquid crystal injection / sealing and application of a polarizing plate. The defect detected by the lighting inspection is removed by removing the polarizing plate, repairing the defective portion, and attaching a new polarizing plate again.

ここで、液晶パネルの点灯検査方法について、具体的に説明する。図6に示すように、従来の点灯検査方法の対象となる液晶パネル100は、カラーフィルタ基板102とアレイ基板104との間に液晶(材料)106を封止するとともに、カラーフィルタ基板102の表面とアレイ基板104の表面に偏光板108、110が接着剤などによりそれぞれ貼り付けられたものである。このように、液晶パネル100には、表面と裏面に偏光板108、110がそれぞれ貼り付けられた状態で、光源となるバックライト112(偏光機能がないもの)から光が照射されて検査される。   Here, the lighting inspection method for the liquid crystal panel will be described in detail. As shown in FIG. 6, a liquid crystal panel 100 that is a target of a conventional lighting inspection method seals a liquid crystal (material) 106 between a color filter substrate 102 and an array substrate 104, and the surface of the color filter substrate 102. The polarizing plates 108 and 110 are respectively attached to the surface of the array substrate 104 with an adhesive or the like. As described above, the liquid crystal panel 100 is inspected by being irradiated with light from the backlight 112 (which does not have a polarizing function) as a light source with the polarizing plates 108 and 110 attached to the front and back surfaces, respectively. .

そして、図7に示すように、具体的な検査工程として、先ず、アレイ基板104を製造するアレイ基板製造工程S200とカラーフィルタ基板102を製造するカラーフィルタ工程S210の終了後、アレイ基板104とカラーフィルタ基板102の配向膜をそれぞれ形成する配向膜工程S220、スペーサ105を形成するスペーサ形成工程S230、液晶を封入・封止する液晶封入・封止工程S240、偏光板108、110を貼り付ける偏光板貼付工程S250の順番で実施されていく。なお、従来の検査方法では、配向膜工程S220と、スペーサ形成工程S230と、液晶封入・封止工程S240と、偏光板貼付工程S250と、がセル製造工程S260になる。その後、点灯検査工程S270において、バックライト112を用いた点灯検査が実施され、液晶パネル100に欠陥(不良)が発生すれば、偏光板108、110が剥がされる偏光板剥離工程S280が実施され、欠陥(不良)を修正する不良修正工程S290が実行される。そして、再度、偏光板108、110を貼り付ける偏光板貼付工程S300が行われ、再点灯検査工程S310において再点灯検査が実施される。なお、液晶パネル100に不良が発生していない場合又は不良が修正された場合には、ドライバー実装工程S320が実行され、次の工程へと進んでいく。   As shown in FIG. 7, as a specific inspection process, first, after the array substrate manufacturing process S200 for manufacturing the array substrate 104 and the color filter process S210 for manufacturing the color filter substrate 102, the array substrate 104 and the color are processed. An alignment film step S220 for forming an alignment film of the filter substrate 102, a spacer formation step S230 for forming the spacer 105, a liquid crystal sealing / sealing step S240 for sealing and sealing liquid crystal, and a polarizing plate for attaching the polarizing plates 108 and 110 It is carried out in the order of the pasting step S250. In the conventional inspection method, the alignment film step S220, the spacer formation step S230, the liquid crystal encapsulation / sealing step S240, and the polarizing plate pasting step S250 become the cell manufacturing step S260. Thereafter, in a lighting inspection step S270, a lighting inspection using the backlight 112 is performed, and if a defect (defect) occurs in the liquid crystal panel 100, a polarizing plate peeling step S280 is performed in which the polarizing plates 108 and 110 are peeled off, A defect correction step S290 for correcting a defect (defect) is performed. Then, a polarizing plate attaching step S300 for attaching the polarizing plates 108 and 110 is performed again, and a relighting inspection is performed in the relighting inspection step S310. If no defect has occurred in the liquid crystal panel 100 or if the defect has been corrected, the driver mounting step S320 is executed, and the process proceeds to the next step.

なお、上記従来技術は公用の技術であり、本発明は公用の技術をもとに開発したものである。このため、出願人は、特許出願の時において本発明に関連する文献公知発明の存在を知らず、文献公知発明の名称その他の文献公知発明に関する情報の所在の記載を省略する。   Note that the above prior art is a public technique, and the present invention has been developed based on the public technique. For this reason, the applicant does not know the existence of a document known invention related to the present invention at the time of filing a patent application, and omits the description of the name of the document known invention and the location of other information related to the document known invention.

ところで、従来の点灯検査方法では、液晶パネル100がドライバーICに接続する前の状態(図6に示す符号100の状態)でなければ、検査することができなかった。そのため、液晶パネル100に欠陥があった場合に、その欠陥を修復するために偏光板108、110を剥離しなければならなかった。このため、偏光板108、110を剥離する工程が増えるとともに、剥離した偏光板108、110を廃棄することになるので、液晶パネル100の製造コストも大幅に増加していた。   By the way, in the conventional lighting inspection method, it is impossible to inspect unless the liquid crystal panel 100 is in a state before being connected to the driver IC (a state indicated by reference numeral 100 in FIG. 6). Therefore, when the liquid crystal panel 100 has a defect, the polarizing plates 108 and 110 have to be peeled in order to repair the defect. For this reason, the number of steps for peeling off the polarizing plates 108 and 110 is increased, and the peeled polarizing plates 108 and 110 are discarded, so that the manufacturing cost of the liquid crystal panel 100 is also greatly increased.

また、液晶パネル100に対してバックライト112により光を照射して欠陥の有無を人の目で確認する目視検査では、欠陥の位置を正確に記憶することができないため、欠陥の位置の特定に手間取ったり、あるいは欠陥位置を間違えたりすることがある。このため、欠陥を修復するまでに多くの時間が必要となっていた。そこで、この時間の問題を解決するために、検査対象となる液晶パネル100に直接、マーキングを付けて欠陥位置を示す方法がとられていたが、液晶パネル100の欠陥位置を容易に特定できても、欠陥を修復した後、マーキングを消し忘れたり、マーキングが汚れとなり、新たな不良を引き起こすという別の問題が生じていた。   Further, in the visual inspection in which the liquid crystal panel 100 is irradiated with light from the backlight 112 and the presence or absence of a defect is confirmed with the human eye, the position of the defect cannot be accurately stored. It may take time, or the wrong position may be wrong. For this reason, much time is required to repair the defect. Thus, in order to solve this time problem, a method of directly marking the liquid crystal panel 100 to be inspected to indicate the defect position has been adopted, but the defect position of the liquid crystal panel 100 can be easily specified. However, after repairing the defect, another problem arises that forgetting to erase the marking or that the marking becomes dirty and causes a new defect.

さらに、液晶パネル100に対してバックライト112により光を照射して欠陥の有無をカメラで確認する自動検査では、液晶パネル100の欠陥位置を正確に記憶できるものの、検査装置の構成が複雑かつ大型化するため、検査装置の導入コストが高くなり、かつ検査時間も長くなるという問題が生じていた。   Further, in the automatic inspection in which the liquid crystal panel 100 is irradiated with light from the backlight 112 and the presence or absence of a defect is confirmed with a camera, the defect position of the liquid crystal panel 100 can be accurately stored, but the configuration of the inspection apparatus is complicated and large. Therefore, there has been a problem that the introduction cost of the inspection apparatus is high and the inspection time is long.

そこで、本発明は、上記事情を考慮し、偏光板を無駄にすることなく、液晶パネルの欠陥を容易かつ確実に修復(修正)することができる液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法を提供することを目的とする。   In view of the above circumstances, the present invention provides a liquid crystal panel inspection apparatus and a liquid crystal panel inspection method capable of easily and reliably repairing (correcting) defects in a liquid crystal panel without wasting a polarizing plate. For the purpose.

また、本発明は、上記事情を考慮し、液晶パネル検査装置の大型化及び複雑化を抑制し、液晶パネルの製造コスト及び液晶パネル検査装置の導入コストを低減させることができる液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法を提供することを目的とする。   In addition, in consideration of the above circumstances, the present invention suppresses the enlargement and complexity of the liquid crystal panel inspection apparatus, and can reduce the manufacturing cost of the liquid crystal panel and the introduction cost of the liquid crystal panel inspection apparatus, and An object is to provide a liquid crystal panel inspection method.

請求項1に記載の発明は、ガラス基板に液晶を封入して構成した液晶パネルに対して光を照射し検査する液晶パネル検査装置であって、発光する光源部と、前記光源部からの光を偏光させて前記液晶パネルに照射する偏光部と、を有することを特徴とする。   The invention described in claim 1 is a liquid crystal panel inspection apparatus that inspects a liquid crystal panel configured by enclosing liquid crystal in a glass substrate and irradiating the liquid with a light source unit that emits light and light from the light source unit And a polarizing part for irradiating the liquid crystal panel with polarized light.

請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の液晶パネル検査装置において、前記液晶パネルを透過可能な任意のマークを前記偏光部に表示させる制御部と、前記マークを前記液晶パネルの欠陥の位置に移動させ、前記マークの位置を確定する操作部と、を有し、前記操作部により確定された前記マークの位置が前記制御部に入力されることを特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, in the liquid crystal panel inspection apparatus according to the first aspect, a control unit that causes the polarizing unit to display an arbitrary mark that can be transmitted through the liquid crystal panel, and a defect of the liquid crystal panel. And an operation unit for determining the position of the mark, and the position of the mark determined by the operation unit is input to the control unit.

請求項3に記載の発明は、ガラス基板に液晶を封入して構成した液晶パネルに対して光を照射し検査する液晶パネル検査方法であって、偏光された光を発光部から前記液晶パネルに対して照射する光照射工程と、前記液晶パネルに照射されて前記液晶パネルを透過した光に基づいて前記液晶パネルの欠陥の有無を検査する欠陥検査工程と、を有することを特徴とする。   The invention according to claim 3 is a liquid crystal panel inspection method for inspecting a liquid crystal panel configured by enclosing a liquid crystal in a glass substrate by irradiating light to the liquid crystal panel. A light irradiating step for irradiating the liquid crystal panel; and a defect inspection step for inspecting the liquid crystal panel for the presence or absence of defects based on the light that has been applied to the liquid crystal panel and transmitted through the liquid crystal panel.

請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の液晶パネル検査方法において、前記発光部に表示された任意のマークを前記液晶パネルに透過させ、前記液晶パネル上の前記マークを操作部により前記液晶パネルの欠陥部位に移動させて前記液晶パネルの欠陥の位置を特定する操作工程と、前記操作部により特定された前記液晶パネルの欠陥の位置を制御部に入力する入力工程と、を有することを特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, in the liquid crystal panel inspection method according to the third aspect, an arbitrary mark displayed on the light emitting unit is transmitted through the liquid crystal panel, and the mark on the liquid crystal panel is moved by the operation unit. An operation step of identifying the position of the defect of the liquid crystal panel by moving to a defect portion of the liquid crystal panel, and an input step of inputting the position of the defect of the liquid crystal panel identified by the operation unit to the control unit It is characterized by that.

請求項1に記載の発明によれば、光源部からの光が偏光部により偏光されて液晶パネルに照射される。これにより、液晶パネルに偏光板が貼り付けられていない場合でも、液晶パネルを透過する光を目視して液晶パネルの傷などの欠陥(不良)を確認することができる。この結果、液晶パネルに欠陥が確認された場合でも、偏光板を剥がす工程を省略することができ、作業負担を軽減させることができる。また、剥がした偏光板を廃棄することがないので、偏光板が無駄になることを防止でき、製造コストを低減させることができる。さらに、液晶パネル検査装置は、光源部と偏光部で構成されているだけなので、大型化かつ複雑化することがなく、液晶パネル検査装置の導入コストを低減させることができる。   According to the first aspect of the present invention, the light from the light source unit is polarized by the polarizing unit and applied to the liquid crystal panel. Thereby, even when the polarizing plate is not affixed on the liquid crystal panel, the light transmitted through the liquid crystal panel can be visually observed to confirm defects (defects) such as scratches on the liquid crystal panel. As a result, even when a defect is confirmed in the liquid crystal panel, the step of peeling the polarizing plate can be omitted, and the work load can be reduced. Moreover, since the peeled polarizing plate is not discarded, it is possible to prevent the polarizing plate from being wasted and to reduce the manufacturing cost. Furthermore, since the liquid crystal panel inspection apparatus is composed only of the light source section and the polarization section, the introduction cost of the liquid crystal panel inspection apparatus can be reduced without increasing the size and complexity.

請求項2に記載の発明によれば、制御部により偏光部に任意のマークが表示される。このマークは、液晶パネルを透過する。このため、作業者は、偏光部に表示されたマークを液晶パネル上で視認することができる。そして、液晶パネルに欠陥を発見した場合には、操作部を操作してマークがその欠陥部位と重なるようにマークを移動させ、欠陥部位と重なったマークの位置を確定する。そして、操作部により確定されたマークの位置が制御部に入力される。これにより、このマークの位置が液晶パネルの欠陥の位置になる。この結果、液晶パネルの欠陥の位置を容易かつ正確に特定することができる。   According to the second aspect of the present invention, an arbitrary mark is displayed on the polarization unit by the control unit. This mark is transmitted through the liquid crystal panel. For this reason, the operator can visually recognize the mark displayed on the polarizing portion on the liquid crystal panel. When a defect is found in the liquid crystal panel, the operation unit is operated to move the mark so that the mark overlaps the defective part, and the position of the mark overlapping the defective part is determined. Then, the position of the mark determined by the operation unit is input to the control unit. Thereby, the position of this mark becomes the position of the defect of the liquid crystal panel. As a result, the position of the defect in the liquid crystal panel can be easily and accurately specified.

請求項3に記載の発明によれば、光照射工程において、偏光された光が発光部から液晶パネルに対して照射される。欠陥検査工程において、液晶パネルに照射されて液晶パネルを透過した光に基づいて液晶パネルの欠陥の有無が検査される。これにより、液晶パネルに偏光板が貼り付けられていない場合でも、液晶パネルを透過する光を目視して液晶パネルの傷などの欠陥(不良)を確認することができる。この結果、液晶パネルに欠陥が確認された場合でも、偏光板を剥がす工程を省略することができ、作業負担を軽減させることができる。また、剥がした偏光板を廃棄することがないので、偏光板が無駄になることを防止でき、製造コストを低減させることができる。さらに、液晶パネル検査装置は、光源部と偏光部で構成されているだけなので、大型化かつ複雑化することがなく、液晶パネル検査装置の導入コストを低減させることができる。   According to the invention described in claim 3, in the light irradiation step, the polarized light is irradiated from the light emitting portion to the liquid crystal panel. In the defect inspection process, the presence or absence of a defect in the liquid crystal panel is inspected based on the light irradiated to the liquid crystal panel and transmitted through the liquid crystal panel. Thereby, even when the polarizing plate is not affixed on the liquid crystal panel, the light transmitted through the liquid crystal panel can be visually observed to confirm defects (defects) such as scratches on the liquid crystal panel. As a result, even when a defect is confirmed in the liquid crystal panel, the step of peeling the polarizing plate can be omitted, and the work load can be reduced. Moreover, since the peeled polarizing plate is not discarded, it is possible to prevent the polarizing plate from being wasted and to reduce the manufacturing cost. Furthermore, since the liquid crystal panel inspection apparatus is composed only of the light source section and the polarization section, the introduction cost of the liquid crystal panel inspection apparatus can be reduced without increasing the size and complexity.

請求項4に記載の発明によれば、操作工程において、発光部に表示された任意のマークが液晶パネルに透過され、液晶パネル上のマークを操作部により液晶パネルの欠陥の位置と重なる位置に移動させて液晶パネルの欠陥の位置が特定される。入力工程において、操作部により特定された液晶パネルの欠陥の位置が制御部に入力される。これにより、このマークの位置が液晶パネルの欠陥の位置になる。この結果、液晶パネルの欠陥の位置を容易かつ正確に特定することができる。   According to the fourth aspect of the present invention, in the operation step, an arbitrary mark displayed on the light emitting unit is transmitted to the liquid crystal panel, and the mark on the liquid crystal panel is placed at a position overlapping the defect position of the liquid crystal panel by the operation unit. The position of the defect of the liquid crystal panel is specified by moving. In the input step, the position of the defect of the liquid crystal panel specified by the operation unit is input to the control unit. Thereby, the position of this mark becomes the position of the defect of the liquid crystal panel. As a result, the position of the defect in the liquid crystal panel can be easily and accurately specified.

次に、本発明の一実施形態に係る液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法について、図面を参照して説明する。   Next, a liquid crystal panel inspection apparatus and a liquid crystal panel inspection method according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

先ず、検査対象となる液晶パネルの構造について説明する。   First, the structure of the liquid crystal panel to be inspected will be described.

図1に示すように、液晶パネル10は、アレイ基板12と、カラーフィルタ基板14と、を備えており、アレイ基板12とカラーフィルタ基板14との間には液晶(液晶材料)16が封入・封止されて、構成されている。このため、検査対象となる液晶パネル10には、偏光板が貼り付けられていない。   As shown in FIG. 1, the liquid crystal panel 10 includes an array substrate 12 and a color filter substrate 14, and a liquid crystal (liquid crystal material) 16 is enclosed between the array substrate 12 and the color filter substrate 14. It is sealed and configured. For this reason, the polarizing plate is not affixed on the liquid crystal panel 10 to be inspected.

アレイ基板12とは、TFT(Thin−Film−Transistor)基板といわれるものであり、後述のバックライト32である白色光を通したり通さなかったりする基板である。具体的には、アレイ基板12は、アレイ製造工程において、ガラス基板12Aの液晶側の上面にトランジスタ12Bを形成することにより製造される。なお、トランジスタ12Bの液晶側の上面には、配向膜12Cが形成されている。   The array substrate 12 is referred to as a TFT (Thin-Film-Transistor) substrate, and is a substrate through which white light, which will be described later, passes or does not pass. Specifically, the array substrate 12 is manufactured by forming the transistor 12B on the upper surface of the glass substrate 12A on the liquid crystal side in the array manufacturing process. Note that an alignment film 12C is formed on the upper surface of the transistor 12B on the liquid crystal side.

液晶16は、ネマティック液晶である。この液晶は、一般に、ダイレクタ(director)と呼ばれる分子の統計平均的な配向方向と誘電的性質及び光学的性質とが密接に関連しており、液晶パネルにおいては、この液晶の性質が積極的に利用される。通常液晶パネルに用いられるネマティック液晶の誘電率は、ダイレクタ方向に大きくダイレクタに垂直な方向に小さい場合(ポジ型液晶)と、ダイレクタ方向に小さく、ダイレクタに垂直な方向に大きい場合(ネガ型液晶)がある。また、光学的性質としては、屈折率がダイレクタ方向の光電場に対して大きく、ダイレクタに垂直な方向の光電場に対しては小さい物の利用が一般的である。液晶パネルでは、ガラス等の基板に電極を設けて、基板近傍に配置された液晶材料の配向方向を、電極間に与えた電界によって制御し、その配向方向と屈折率の関係から所望の表示を得る。   The liquid crystal 16 is a nematic liquid crystal. In general, this liquid crystal is closely related to a statistical average orientation direction of molecules called a director, and dielectric properties and optical properties. In a liquid crystal panel, the properties of this liquid crystal are positive. Used. The dielectric constant of the nematic liquid crystal normally used for liquid crystal panels is large in the director direction and small in the direction perpendicular to the director (positive liquid crystal), and small in the director direction and large in the direction perpendicular to the director (negative liquid crystal). There is. In addition, as an optical property, it is common to use a material whose refractive index is large with respect to the photoelectric field in the director direction and small with respect to the photoelectric field in the direction perpendicular to the director. In a liquid crystal panel, electrodes are provided on a substrate such as glass, and the alignment direction of the liquid crystal material disposed in the vicinity of the substrate is controlled by an electric field applied between the electrodes, and a desired display is obtained from the relationship between the alignment direction and the refractive index. obtain.

カラーフィルタ基板14は、CF(Color Filter)基板であり、白色光をR・G・B(赤・緑・青)の三色に変えるための基板である。カラーフィルタ基板14は、カラーフィルタ製造工程において、画素に対応させてガラス基板14Aの液晶側の上面にR(赤)・G(緑)・B(青)の光を透過させる着色層14Bを形成することにより製造される。このため、各画素の通過光をR、G、Bに着色することができ、カラー表示を実現することができる。各画素の電圧を制御することで、スクリーン上の任意の一点で任意の発色が可能になる(非発色=黒も可能)。なお、着色層14Bの液晶側の上面には、配向膜14Cが形成されている。   The color filter substrate 14 is a CF (Color Filter) substrate, and is a substrate for changing white light into three colors of R, G, and B (red, green, and blue). The color filter substrate 14 is formed with a colored layer 14B that transmits R (red), G (green), and B (blue) light on the liquid crystal side upper surface of the glass substrate 14A in correspondence with the pixels in the color filter manufacturing process. It is manufactured by doing. For this reason, the passing light of each pixel can be colored R, G, and B, and color display can be realized. By controlling the voltage of each pixel, arbitrary color development is possible at an arbitrary point on the screen (non-color generation = black is also possible). An alignment film 14C is formed on the upper surface of the colored layer 14B on the liquid crystal side.

上記液晶パネル10では、アレイ基板12とカラーフィルタ基板14を、スペーサ形成工程で得たスペーサ18を介して、両者の配向膜12C、14Cが対向するようにして合わせ、その後、アレイ基板12とカラーフィルタ基板14との間に形成された隙間に液晶を封入し、シール部材20により液晶を封止する。このようにして、液晶パネル10が製造される。   In the liquid crystal panel 10, the array substrate 12 and the color filter substrate 14 are aligned with the alignment films 12 </ b> C and 14 </ b> C facing each other via the spacer 18 obtained in the spacer formation step, and then the array substrate 12 and the color filter substrate 14 are aligned. Liquid crystal is sealed in a gap formed between the filter substrate 14 and the liquid crystal is sealed by a seal member 20. In this way, the liquid crystal panel 10 is manufactured.

次に、液晶パネル検査装置について説明する。   Next, a liquid crystal panel inspection apparatus will be described.

図1及び図2に示すように、液晶パネル検査装置30は、バックライト32を備えている。図3に示すように、バックライト32は、発光する光源部32Aと、光源部32Aからの光を偏光させる偏光板32Bと、で構成されている。すなわち、バックライト32は、偏光機能を備えた光源であり、偏光された光を上述した液晶パネル10に対して照射させることができる。   As shown in FIGS. 1 and 2, the liquid crystal panel inspection apparatus 30 includes a backlight 32. As shown in FIG. 3, the backlight 32 includes a light source unit 32A that emits light and a polarizing plate 32B that polarizes light from the light source unit 32A. That is, the backlight 32 is a light source having a polarization function, and can irradiate the above-described liquid crystal panel 10 with polarized light.

ここで、光を偏光する偏光板の基本原理は、従来から周知のものであるが、複数の隙間が形成されており、一定方向に振動する光のみを透過させるものである。例えば、2枚のスモーク偏光板を重ねて、一方を他方に対して90度回転させて両者の隙間の方向(位相)を平行又は垂直にすることにより、視覚的に、透明にしたり、あるいは黒色にしたりすることができる。これは、隙間の方向(位相)が平行の場合、一定方向に振動する光は2枚の偏光板を透過して人の目で認識することができるが、隙間の方向(位相)が垂直の場合、一定方向に振動する光は1枚の偏光板を透過しても、他の1枚の偏光板を透過することができず、人の目で認識することができないことによる。また、例えば、赤色のカラー偏光板とカラー偏光板を重ねて、一方を他方に対して90度回転させて両者の隙間の方向(位相)を平行又は垂直にすることにより、視覚的に、透明にしたり、あるいは赤色にしたりすることができる。   Here, although the basic principle of a polarizing plate that polarizes light is conventionally known, a plurality of gaps are formed and only light that vibrates in a certain direction is transmitted. For example, by overlapping two smoke polarizing plates and rotating one of them by 90 degrees with respect to the other, the direction (phase) of the gap between them is made parallel or perpendicular to make it visually transparent or black Can be. This is because when the direction (phase) of the gap is parallel, the light oscillating in a certain direction can be recognized by the human eye through the two polarizing plates, but the direction (phase) of the gap is vertical. In this case, even if light oscillating in a certain direction passes through one polarizing plate, it cannot pass through the other polarizing plate and cannot be recognized by human eyes. Further, for example, a red color polarizing plate and a color polarizing plate are overlapped, and one of them is rotated 90 degrees with respect to the other so that the direction (phase) of the gap between the two is parallel or vertical, so that it is visually transparent. Or it can be red.

本発明に用いられるバックライト32としては、パソコンなどに用いられている液晶ディスプレイ(LCD、PDP、EL、など)が好ましい。液晶ディスプレイは、偏光板として機能する光学フィルタを備えている。光学フィルタは、偏光板は自然光を直線偏光に変える素子であり、一般的な機能は入射する光を直交する偏光成分の一方のみを通過させ、他方を吸収(あるいは反射・散乱)により遮蔽するものである。現在特にLCD用に量産実用化されている偏光板の多くは基材フィルム(ポリビニルアルコール:PVA)にヨウ素や有機染料などの二色性の材料を染色・吸着させ、高度に延伸・配向させることで吸収二色性を発現させているものである。偏光板の光学特性は透過率(T)、偏光度(P)、色相の3種のパラメータで表すことが出来る。特にT、P値はLCDの輝度、コントラストに直接関係するため重要な特性であり、これを可視光領域で十分に確保することが要求される。   The backlight 32 used in the present invention is preferably a liquid crystal display (LCD, PDP, EL, etc.) used in a personal computer or the like. The liquid crystal display includes an optical filter that functions as a polarizing plate. An optical filter is an element that converts natural light into linearly polarized light. The general function is to pass incident light through only one of the orthogonal polarization components and shield the other by absorption (or reflection / scattering). It is. Many of the polarizing plates that are currently in mass production and practical use for LCDs are made by dyeing and adsorbing dichroic materials such as iodine and organic dyes on a base film (polyvinyl alcohol: PVA), and then highly stretching and orienting them. In this, absorption dichroism is expressed. The optical characteristics of the polarizing plate can be represented by three parameters: transmittance (T), polarization degree (P), and hue. In particular, the T and P values are important characteristics because they are directly related to the brightness and contrast of the LCD, and it is required to sufficiently ensure them in the visible light region.

また、図2及び図4に示すように、バックライト32には、パソコン等の制御機器34が電気的に接続されている。この制御機器34は、欠陥(不良)の種類(例えば、傷、斑、短絡、など)、欠陥の程度、欠陥部位(欠陥位置)を表示する表示部(モニタ)36と、所定の情報を入力し、あるいはカーソルやポインタなどの任意のマークAをバックライト32の表面に表示させる操作部38と、所定のプログラムが格納され所定の演算処理が実行されるとともに、得られた値をデータとして記憶可能な制御本体部40と、を有している。操作部38を操作することにより、バックライト32の表面にカーソルやポインタなどのマークAを変動表示させることができ、カーソルやポインタなどのマークAの位置を制御本体部40に入力することができる。なお、制御機器34は、他の制御機器、通信装置、サーバなどに接続可能になっており、得られた値を他の制御機器などにおいて共有することができるようになっている。   Further, as shown in FIGS. 2 and 4, a control device 34 such as a personal computer is electrically connected to the backlight 32. The control device 34 inputs a defect (defect) type (for example, scratches, spots, short circuits, etc.), a defect level, a display part (monitor) 36 that displays a defect part (defect position), and predetermined information. Alternatively, an operation unit 38 for displaying an arbitrary mark A such as a cursor or a pointer on the surface of the backlight 32, a predetermined program is stored, a predetermined calculation process is executed, and the obtained value is stored as data. And a control main body 40 that can be used. By operating the operation unit 38, the mark A such as a cursor or a pointer can be variably displayed on the surface of the backlight 32, and the position of the mark A such as the cursor or the pointer can be input to the control main body 40. . The control device 34 can be connected to other control devices, communication devices, servers, and the like, and the obtained values can be shared by other control devices.

次に、本実施形態の液晶パネル検査装置30を用いた液晶パネル検査方法について説明する。   Next, a liquid crystal panel inspection method using the liquid crystal panel inspection apparatus 30 of the present embodiment will be described.

図5に示すように、アレイ製造工程S10において、アレイ基板12が製造される。アレイ基板12は、ガラス板12Aの上面に任意のトランジスタ12Bを形成することにより製造される。また、カラーフィルタ製造工程S20において、カラーフィルタ基板14が製造される。カラーフィルタ基板14は、ガラス板14Aの上面にR(赤)・G(緑)・B(青)の着色層14Bを形成することにより製造される。   As shown in FIG. 5, the array substrate 12 is manufactured in the array manufacturing step S10. The array substrate 12 is manufactured by forming an arbitrary transistor 12B on the upper surface of the glass plate 12A. In the color filter manufacturing step S20, the color filter substrate 14 is manufactured. The color filter substrate 14 is manufactured by forming a colored layer 14B of R (red), G (green), and B (blue) on the upper surface of the glass plate 14A.

次に、配向膜形成工程S30において、アレイ基板12のトランジスタ12Bとカラーフィルタ基板14の着色層14Bの上面に配向膜12C、14Cがそれぞれ形成される。次に、スペーサ形成工程S40において、アレイ基板12とカラーフィルタ基板14との間に配置させるスペーサ18が形成される。次に、液晶封入・封止工程S50において、アレイ基板12の配向膜12Cとカラーフィルタ基板14の配向膜14Cとが相互に対向かつ近接するように配置され、アレイ基板12とカラーフィルタ基板14との間に形成された隙間に液晶16が封入される。そして、シール部材20によりシールされて液晶16が封止される。これにより、検査対象となる液晶パネル10が製造される。本実施形態では、配向膜形成工程S30と、スペーサ形成工程S40と、液晶封入・封止工程S50と、でセル製造工程S60が構成されている。この点、図7に示すように、偏光板貼付工程が含まれていた従来技術のセル製造工程S260と比較して、本実施形態のセル製造工程S60の中には、偏光板貼付工程が削除された簡易な工程になっている。   Next, in alignment film formation step S30, alignment films 12C and 14C are formed on the upper surfaces of the transistors 12B of the array substrate 12 and the colored layer 14B of the color filter substrate 14, respectively. Next, in the spacer forming step S40, the spacer 18 to be disposed between the array substrate 12 and the color filter substrate 14 is formed. Next, in the liquid crystal encapsulation / sealing step S50, the alignment film 12C of the array substrate 12 and the alignment film 14C of the color filter substrate 14 are disposed so as to face each other and close to each other. Liquid crystal 16 is sealed in a gap formed between the two. Then, the liquid crystal 16 is sealed by being sealed by the seal member 20. Thereby, the liquid crystal panel 10 to be inspected is manufactured. In this embodiment, the cell manufacturing process S60 is composed of the alignment film forming process S30, the spacer forming process S40, and the liquid crystal sealing / sealing process S50. In this regard, as shown in FIG. 7, the polarizing plate pasting step is deleted in the cell manufacturing step S <b> 60 of the present embodiment as compared with the cell manufacturing step S <b> 260 of the prior art that included the polarizing plate pasting step. It has become a simple process.

次に、点灯検査工程S70において、上記セル製造工程S60で得られた液晶パネル10を用いた点灯検査が実施される。すなわち、バックライト32の前方に、液晶パネル10のアレイ基板12側が近接するように設定し、バックライト32から液晶パネル10に対して光を照射させる。なお、上述した通り、バックライト32からの光は、偏光調整された状態で液晶パネル10に照射される。液晶パネル10に照射された光は、液晶パネル10のアレイ基板12、液晶16、カラーフィルタ基板14の順番に透過していくことになる。   Next, in the lighting inspection step S70, a lighting inspection is performed using the liquid crystal panel 10 obtained in the cell manufacturing step S60. That is, it is set so that the array substrate 12 side of the liquid crystal panel 10 is close to the front of the backlight 32, and the liquid crystal panel 10 is irradiated with light from the backlight 32. As described above, the light from the backlight 32 is applied to the liquid crystal panel 10 in a state where the polarization is adjusted. The light applied to the liquid crystal panel 10 is transmitted in the order of the array substrate 12, the liquid crystal 16, and the color filter substrate 14 of the liquid crystal panel 10.

作業者は、液晶パネル10のカラーフィルタ基板14側から液晶パネル10を目視により検査する。目視検査では、液晶パネル10に、傷、埃、輝度斑、などの欠陥(不良)が存在するか否かを確認する。このとき、図4に示すように、バックライト32の偏光板32B上に表示されているマークAが液晶パネル10を透過して液晶パネル10上に表示される。そして、液晶パネル10に、傷、埃、輝度斑、などの欠陥(不良)が確認されると、作業者が操作部38を操作してその欠陥位置にマークAが位置するように移動させ、欠陥位置にマークAを合わせて(重ねて)確定操作することにより、その欠陥位置が制御本体部40に入力されて記憶されるとともに、その欠陥の情報(種類、位置、大きさ)が表示部36に表示される。なお、マークAはバックライト32上に表示されるものであるが、マークAを示す光が液晶パネル10を透過するため作業者に視認することができるようになっている。また、欠陥の種類(例えば、傷、埃、輝度斑、など)は、操作部38において種類別の入力ボタンあるいは入力情報が区分けされており、作業者が欠陥の種類に対応する入力ボタンあるいは入力情報を入力することにより容易に特定することができる。さらに、制御本体部40に記憶された欠陥情報は、他の通信機器にも接続可能とされて共有化される。また、欠陥の種類や位置が所定の欠陥に偏った場合などには、液晶パネル10の欠陥部位を製造する生産ラインを特定することができ、かつ、その特定した生産ラインを適宜メンテナンスすることにより、以後に発生し得る欠陥を未然に防止することが可能になる。   The operator visually inspects the liquid crystal panel 10 from the color filter substrate 14 side of the liquid crystal panel 10. In the visual inspection, it is confirmed whether or not the liquid crystal panel 10 has defects (defects) such as scratches, dust, and luminance spots. At this time, as shown in FIG. 4, the mark A displayed on the polarizing plate 32 </ b> B of the backlight 32 is transmitted through the liquid crystal panel 10 and displayed on the liquid crystal panel 10. Then, when defects (defects) such as scratches, dust, luminance spots, etc. are confirmed on the liquid crystal panel 10, the operator operates the operation unit 38 to move the mark A to be located at the defect position, By aligning (overlapping) the mark A with the defect position and confirming the defect position, the defect position is input and stored in the control main body 40, and information (type, position, size) of the defect is displayed on the display unit. 36. The mark A is displayed on the backlight 32, but the light indicating the mark A is transmitted through the liquid crystal panel 10 so that it can be visually recognized by the operator. Further, the type of defect (for example, scratch, dust, luminance spot, etc.) is classified into input buttons or input information according to type in the operation unit 38, and the operator inputs an input button or input corresponding to the type of defect. It can be easily specified by inputting information. Furthermore, the defect information stored in the control main body 40 is made connectable to other communication devices and shared. In addition, when the type or position of the defect is biased toward a predetermined defect, a production line for manufacturing the defective part of the liquid crystal panel 10 can be specified, and the specified production line is appropriately maintained. Thus, it is possible to prevent defects that may occur thereafter.

上記点灯検査工程S70における点灯検査の結果、欠陥が発見されなかった場合には、偏光板貼付工程S80において、液晶パネル10のアレイ基板12の表面とカラーフィルタ基板14の表面に偏光板がそれぞれ貼り付けられる。その後、液晶パネル10は、ドライバー実装工程S90を経て別の工程に送られる。   If no defect is found as a result of the lighting inspection in the lighting inspection step S70, polarizing plates are respectively attached to the surface of the array substrate 12 and the surface of the color filter substrate 14 of the liquid crystal panel 10 in the polarizing plate attaching step S80. Attached. Thereafter, the liquid crystal panel 10 is sent to another process through the driver mounting process S90.

一方、上記点灯検査工程S70における点灯検査の結果、欠陥が発見された場合には、不良修正工程S100において、液晶パネル10の欠陥(不良)が修復(修正)される。そして、再点灯検査工程S110において点灯検査が実施され、欠陥が修復(修正)された場合には、偏光板貼付工程S80で偏光板が貼り付けられる。その後、液晶パネル10は、ドライバー実装工程S90を経て別の工程に送られる。   On the other hand, if a defect is found as a result of the lighting inspection in the lighting inspection step S70, the defect (defective) of the liquid crystal panel 10 is repaired (corrected) in the defect correcting step S100. When the lighting inspection is performed in the relighting inspection step S110 and the defect is repaired (corrected), the polarizing plate is attached in the polarizing plate attaching step S80. Thereafter, the liquid crystal panel 10 is sent to another process through the driver mounting process S90.

以上のように、本実施形態の液晶パネル検査装置30を用いた液晶パネル検査方法によれば、液晶パネル10に偏光板が貼り付けられていない状態で液晶パネル10の点灯検査が実施されるため、点灯検査において液晶パネル10に欠陥(不良)が確認された場合に、偏光板を剥がすことなく、欠陥(不良)を修復(修正)することができる。これにより、偏光板を剥がす工程を省略することができ、欠陥を修復する労力が軽減される。また、欠陥部分に位置する偏光板が廃棄されることがないので、偏光板を無駄にすることを防止でき、液晶パネル10の製造コストが低減される。   As described above, according to the liquid crystal panel inspection method using the liquid crystal panel inspection apparatus 30 of the present embodiment, the lighting inspection of the liquid crystal panel 10 is performed in a state where the polarizing plate is not attached to the liquid crystal panel 10. When a defect (defect) is confirmed in the liquid crystal panel 10 in the lighting inspection, the defect (defect) can be repaired (corrected) without peeling off the polarizing plate. Thereby, the process which peels a polarizing plate can be skipped, and the effort which repairs a defect is reduced. Moreover, since the polarizing plate located in the defective part is not discarded, it is possible to prevent the polarizing plate from being wasted, and the manufacturing cost of the liquid crystal panel 10 is reduced.

また、点灯検査において人による目視検査が実施されるが、従来技術のように作業者が欠陥位置を記憶する方法と異なり、欠陥の種類、位置及び程度が操作部38を介して制御本体部40に入力されるため、欠陥に関する正確な情報を容易に記録することができる。また、従来技術のように液晶パネルに欠陥位置をマーキングする必要もないので、マーキングの消し忘れや、マーキングにより新たな欠陥(不良)が発生することも防止できる。   In addition, a visual inspection by a person is performed in the lighting inspection, but unlike the method in which the operator stores the defect position as in the conventional technique, the type, position, and degree of the defect are controlled via the operation unit 38. Therefore, accurate information regarding the defect can be easily recorded. Further, since there is no need to mark the defect position on the liquid crystal panel as in the prior art, it is possible to prevent the marking from being forgotten to be erased or a new defect (defect) from occurring due to the marking.

さらに、欠陥に関する正確な情報をデーターベース化することができ、欠陥に関するデータを有効に活用することにより、作業者の作業負担を軽減することができるとともに、点灯検査時間を短縮することができ、また検査精度を高めることができる。また、記憶された欠陥にするデータに基づいて、生産ラインを見直すことにより、液晶パネル10及びその部品の不良解析、歩留まり改善及び品質管理にも役立てることができる。   In addition, accurate information on defects can be made into a database, and by effectively utilizing data on defects, it is possible to reduce the work burden on the operator and shorten the lighting inspection time, In addition, the inspection accuracy can be increased. Further, by reviewing the production line based on the stored defect data, it can be used for defect analysis, yield improvement and quality control of the liquid crystal panel 10 and its components.

また、本実施形態の液晶パネル検査装置30は、バックライト32と制御機器34で構成されているため、検査装置自体が大型化及び複雑化することを防止でき、ひいては検査装置の導入コストが高くなることも防止できる。   In addition, since the liquid crystal panel inspection apparatus 30 of the present embodiment includes the backlight 32 and the control device 34, the inspection apparatus itself can be prevented from becoming large and complicated, and the introduction cost of the inspection apparatus is high. Can also be prevented.

なお、本実施形態において、点灯検査の対象となる液晶パネル10にカラーフィルタ基板14とアレイ基板12とが貼り付けられた構成を示したが、この構成に限られるものではなく、例えば、液晶とアレイ基板のみ(カラーフィルタ基板が無い)で構成された液晶パネルに対して点灯検査を実施してもよい。これにより、欠陥が確認された場合でも、カラーフィルタ基板も無駄にすることがなく、一層経済的になる。液晶とカラーフィルタ基板のみ(アレイ基板が無い)で構成された液晶パネルに対して点灯検査を実施してもよい。これにより、欠陥が確認された場合でも、アレイ基板も無駄にすることがなく、一層経済的になる。また、液晶を2枚のガラス基板の間に封入しただけの液晶パネルに対して点灯検査を実施してもよい。これにより、欠陥が確認された場合でも、カラーフィルタ基板とアレイ基板の両方を無駄にすることがなく、一層経済的になる。さらに、液晶とアレイ基板とカラーフィルタ基板で構成される液晶パネルに対してカラーフィルタ基板のみに偏光板を貼り付けて、アレス基板に偏光板を貼り付けない状態で点灯検査を実施してもよい。   In the present embodiment, the configuration in which the color filter substrate 14 and the array substrate 12 are attached to the liquid crystal panel 10 to be inspected for lighting is shown. However, the present invention is not limited to this configuration. A lighting test may be performed on a liquid crystal panel composed of only an array substrate (no color filter substrate). Thereby, even when a defect is confirmed, the color filter substrate is not wasted and becomes more economical. A lighting test may be performed on a liquid crystal panel composed of only a liquid crystal and a color filter substrate (no array substrate). Thereby, even when a defect is confirmed, the array substrate is not wasted and it becomes more economical. In addition, a lighting test may be performed on a liquid crystal panel in which liquid crystal is simply sealed between two glass substrates. Thereby, even when a defect is confirmed, both the color filter substrate and the array substrate are not wasted, and it becomes more economical. Furthermore, a lighting test may be performed in a state where a polarizing plate is attached only to the color filter substrate and a polarizing plate is not attached to the Ares substrate with respect to a liquid crystal panel composed of a liquid crystal, an array substrate, and a color filter substrate. .

本発明の一実施形態に係る液晶パネル検査装置で検査される液晶パネルの構成を示した構成図である。It is the block diagram which showed the structure of the liquid crystal panel test | inspected with the liquid crystal panel test | inspection apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る液晶パネル検査装置の構成を示した構成図である。It is the block diagram which showed the structure of the liquid crystal panel test | inspection apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る液晶パネル検査装置に用いられるバックライトの構成を示した構成図である。It is the block diagram which showed the structure of the backlight used for the liquid crystal panel test | inspection apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る液晶パネル検査装置のバックライトに表示されたマークが液晶パネルに透過して液晶パネル上に表示されている状態を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed the state which the mark displayed on the backlight of the liquid crystal panel test | inspection apparatus which concerns on one Embodiment of this invention permeate | transmits a liquid crystal panel, and is displayed on the liquid crystal panel. 本発明の一実施形態に係る液晶パネル検査装置の検査対象となる液晶パネルの製造工程、検査工程及び欠陥修正工程を示した工程図である。It is process drawing which showed the manufacturing process of the liquid crystal panel used as the test object of the liquid crystal panel inspection apparatus which concerns on one Embodiment of this invention, an inspection process, and a defect correction process. 従来の液晶パネル検査装置で検査される液晶パネルの構成を示した構成図である。It is the block diagram which showed the structure of the liquid crystal panel test | inspected with the conventional liquid crystal panel test | inspection apparatus. 従来の液晶パネル検査装置の検査対象となる液晶パネルの製造工程、検査工程及び欠陥修正工程を示した工程図である。It is process drawing which showed the manufacturing process, inspection process, and defect correction process of the liquid crystal panel used as the test object of the conventional liquid crystal panel inspection apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

10 液晶パネル
12 アレイ基板(ガラス基板)
14 カラーフィルタ基板(ガラス基板)
16 液晶
30 液晶パネル検査装置
32 バックライト(発光部)
32A 光源部(バックライト)
32B 偏光板(偏光部、バックライト)
38 操作部
40 制御本体部(制御部)
10 Liquid crystal panel 12 Array substrate (glass substrate)
14 Color filter substrate (glass substrate)
16 Liquid crystal 30 Liquid crystal panel inspection device 32 Backlight (light emitting part)
32A Light source (backlight)
32B Polarizing plate (polarizing part, backlight)
38 Operation section 40 Control body section (control section)

Claims (4)

ガラス基板に液晶を封入して構成した液晶パネルに対して光を照射し検査する液晶パネル検査装置であって、
発光する光源部と、
前記光源部からの光を偏光させて前記液晶パネルに照射する偏光部と、
を有することを特徴とする液晶パネル検査装置。
A liquid crystal panel inspection device that inspects a liquid crystal panel configured by enclosing liquid crystal in a glass substrate and irradiating light,
A light source that emits light;
A polarizing unit that polarizes light from the light source unit and irradiates the liquid crystal panel;
A liquid crystal panel inspection apparatus comprising:
前記液晶パネルを透過可能な任意のマークを前記偏光部に表示させる制御部と、
前記マークを前記液晶パネルの欠陥の位置に移動させ、前記マークの位置を確定する操作部と、
を有し、
前記操作部により確定された前記マークの位置が前記制御部に入力されることを特徴とする請求項1に記載の液晶パネル検査装置。
A control unit that causes the polarizing unit to display an arbitrary mark that can be transmitted through the liquid crystal panel;
An operation unit for moving the mark to the position of the defect on the liquid crystal panel and determining the position of the mark;
Have
The liquid crystal panel inspection apparatus according to claim 1, wherein the position of the mark determined by the operation unit is input to the control unit.
ガラス基板に液晶を封入して構成した液晶パネルに対して光を照射し検査する液晶パネル検査方法であって、
偏光された光を発光部から前記液晶パネルに対して照射する光照射工程と、
前記液晶パネルに照射されて前記液晶パネルを透過した光に基づいて前記液晶パネルの欠陥の有無を検査する欠陥検査工程と、
を有することを特徴とする液晶パネル検査方法。
A liquid crystal panel inspection method for irradiating and inspecting a liquid crystal panel configured by enclosing liquid crystal in a glass substrate,
A light irradiation step of irradiating the liquid crystal panel with polarized light from the light emitting unit;
A defect inspection step for inspecting the presence or absence of defects in the liquid crystal panel based on the light that has been applied to the liquid crystal panel and transmitted through the liquid crystal panel;
A liquid crystal panel inspection method comprising:
前記発光部に表示された任意のマークを前記液晶パネルに透過させ、前記液晶パネル上の前記マークを操作部により前記液晶パネルの欠陥部位に移動させて前記液晶パネルの欠陥の位置を特定する操作工程と、
前記操作部により特定された前記液晶パネルの欠陥の位置を制御部に入力する入力工程と、
を有することを特徴とする請求項3に記載の液晶パネル検査方法。
An operation of transmitting an arbitrary mark displayed on the light emitting unit to the liquid crystal panel, and moving the mark on the liquid crystal panel to a defective part of the liquid crystal panel by an operation unit to specify the position of the defect on the liquid crystal panel Process,
An input step of inputting the position of the defect of the liquid crystal panel specified by the operation unit to the control unit;
The liquid crystal panel inspection method according to claim 3, further comprising:
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