KR102031681B1 - apparatus for repairing a liquid crystal display panel and methods thereof - Google Patents

apparatus for repairing a liquid crystal display panel and methods thereof Download PDF

Info

Publication number
KR102031681B1
KR102031681B1 KR1020120140397A KR20120140397A KR102031681B1 KR 102031681 B1 KR102031681 B1 KR 102031681B1 KR 1020120140397 A KR1020120140397 A KR 1020120140397A KR 20120140397 A KR20120140397 A KR 20120140397A KR 102031681 B1 KR102031681 B1 KR 102031681B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
liquid crystal
crystal display
display panel
pixel
foreign material
Prior art date
Application number
KR1020120140397A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20140072991A (en
Inventor
김종순
유용진
추성홍
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020120140397A priority Critical patent/KR102031681B1/en
Publication of KR20140072991A publication Critical patent/KR20140072991A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102031681B1 publication Critical patent/KR102031681B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136259Repairing; Defects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8848Polarisation of light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513Liquid crystal panels

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

본 발명의 일 실시예에서는 액정표시 패널을 스테이지에 안착시키는 단계와, 상기 액정표시 패널에 편광된 빛을 공급하는 단계와, 상기 편광된 빛을 이용해서 검사 이미지를 획득하는 단계와, 상기 검사 이미지로부터 불량 픽셀에 속한 이물의 위치를 획득하는 단계와, 획득된 이물 위치를 참조로, 픽셀을 다수로 분할해 분할된 영역만을 선택적으로 암점화시키는 다수의 레시피 중에서 적어도 어느 하나를 선택하는 단계와, 상기 선택된 레시피에 맞춰 상기 불량 픽셀에 레이저를 조사해 암점화하는 단계를 포함하는 액정표시 패널의 수리 방법을 개시한다.According to an embodiment of the present invention, a method of mounting a liquid crystal display panel on a stage, supplying polarized light to the liquid crystal display panel, acquiring an inspection image using the polarized light, and performing the inspection image Obtaining at least one position of a foreign object belonging to the bad pixel, and selecting at least one of a plurality of recipes for dividing the pixel into a plurality and selectively darkening only the divided region with reference to the obtained foreign object position; Disclosed is a repairing method of a liquid crystal display panel including irradiating a laser to the defective pixel to darken it according to a selected recipe.

Description

액정표시 패널의 수리 장치 및 그 방법 {apparatus for repairing a liquid crystal display panel and methods thereof}Apparatus for repairing a liquid crystal display panel and methods

본 발명은 이물질이 포함된 액정표시 패널의 픽셀을 암점화하는 수리 장치와 그 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a repair apparatus and a method for darkening a pixel of a liquid crystal display panel containing foreign matter.

액정표시장치는 액정의 특정한 분자 배열에 전압을 인가하여 다른 분자 배열로 변환시키고 이러한 분자 배열에 의해 발광하는 액정 셀의 복굴절성, 선광성 및 광산란 특성 등의 광학적 성질의 변화를 시각 변화로 변환하는 것으로, 액정 셀에 의한 빛의 변조를 이용한 표시장치이다.A liquid crystal display device converts a change in optical properties such as birefringence, photoreactivity, and light scattering characteristics of a liquid crystal cell that emits light by applying a voltage to a specific molecular array of the liquid crystal, and converts it into another molecular array. And a display device using modulation of light by a liquid crystal cell.

이러한 액정표시장치는 브라운관에 비하여 소형화가 가능하여 퍼스널 컴퓨터와 노트북 컴퓨터의 모니터는 물론, 복사기 등의 사무자동화기기, 휴대전화기나 호출기 등의 휴대기기까지 광범위하게 이용되고 있다.Such a liquid crystal display device can be miniaturized compared to the CRT, and is widely used not only for monitors of personal computers and notebook computers, but also for office automation devices such as copying machines, and portable devices such as mobile phones and pagers.

이중에서 가장 널리 사용되는 액티브 매트릭스 구동 방식의 액정표시장치의 액정 패널 제조공정은 기판 세정과, 기판 패터닝, 배향막 형성, 기판 합착/액정 주입, 실장 공정으로 나누어질 수 있다.The liquid crystal panel manufacturing process of the active matrix driving type liquid crystal display device, which is most widely used, may be divided into substrate cleaning, substrate patterning, alignment layer formation, substrate bonding / liquid crystal injection, and mounting processes.

기판 세정 공정에서는 상부 및 하부 기판의 패터닝 전후에 기판들의 이물질을 세정제를 이용하여 제거하게 된다. 기판 패터닝 공정에서는 상부 기판의 패터닝과 하부 기판의 패터닝으로 나누어진다. 상부 기판에는 칼라필터, 공통전극, 블랙 매트릭스 등이 형성된다. 하부 기판에는 데이터라인과 게이트라인 등의 신호라인이 형성되고, 데이터라인과 게이트라인의 교차부에 박막트랜지스터(TFT)가 형성되며, 박막트랜지스터(TFT)의 소스 전극에 접속되도록 데이터라인과 게이트라인 사이의 화소 영역에 화소전극이 형성된다.In the substrate cleaning process, foreign substances on the substrates are removed using a cleaning agent before and after patterning the upper and lower substrates. In the substrate patterning process, the upper substrate is patterned and the lower substrate is patterned. A color filter, a common electrode, a black matrix, and the like are formed on the upper substrate. Signal lines such as data lines and gate lines are formed on the lower substrate, and thin film transistors (TFTs) are formed at intersections of the data lines and gate lines, and the data lines and gate lines are connected to the source electrodes of the thin film transistors (TFTs). The pixel electrode is formed in the pixel area between them.

기판 합착/액정주입 공정에서는 하부 기판 상에 배향막을 도포하고 러빙하는 공정에 이어서, 실(Seal) 재를 이용한 상부 및 하부 기판의 합착 공정, 액정 주입, 주입구 봉지, 세정, 연마(grinding), 검사 공정이 순차적으로 이루어져 액정표시 패널이 완성된다.In the substrate bonding / liquid crystal injection process, the alignment film is coated and rubbed on the lower substrate, followed by the bonding process of the upper and lower substrates using sealant, liquid crystal injection, injection hole encapsulation, cleaning, grinding, and inspection. The process is performed sequentially to complete the liquid crystal display panel.

한편, 상기 액정표시 패널에는 각각의 액정표시 패널 제조 공정에서 발생하는 오류 또는 제조 불량으로 인해 전체 또는 일부 영역에 이물이 들어가 휘점 불량이 발생할 수 있다. 검사에서, 불량으로 판정된 픽셀은 픽셀에 대응하는 컬러필터를 레이저로 기판과 컬러필터 사이에 공간을 형성하고, 레이저로 블랙 메트릭스를 녹여 기판과 컬러필터의 사이에 형성된 공간을 이 블랙 메트릭스로 채워 암점화하는 방식으로 이뤄졌다.
On the other hand, in the liquid crystal display panel, foreign matter may enter the whole or a part of the liquid crystal display panel due to an error or a manufacturing defect occurring in each liquid crystal display panel manufacturing process, thereby causing a bright point defect. In the inspection, a pixel determined as defective is formed by forming a space between the substrate and the color filter with a laser using a color filter corresponding to the pixel, and melting the black matrix with a laser to fill the space formed between the substrate and the color filter with the black matrix. It was done by darkening.

본 발명은 이 같은 배경에서 창안된 것으로, 전체 픽셀을 암점화하는 대신에 이물의 위치를 정확히 판정해 해당하는 부분만 암점화시켜 양품화 효율을 향상하는데 있다.
The present invention has been devised in such a background, and instead of darkening the entire pixel, the position of the foreign material is accurately determined, and only the corresponding portion is darkened to improve the quantification efficiency.

본 발명의 일 실시예에서는, 액정표시 패널을 지지하는 스테이지와, 상기 액정표시 패널에 편광된 빛을 공급하는 백라이트와, 상기 액정표시 패널로부터 검사 이미지를 획득하는 카메라부와, 상기 액정표시 패널 중 불량 픽셀을 암점화하는 레이저부와, 픽셀을 다수로 분할해 분할된 영역만을 선택적으로 암점화시키는 다수의 레시피를 포함하며, 상기 불량 픽셀 속 이물의 위치에 따라 상기 레시피를 선택해 상기 레이저부를 동작 제어하는 제어부를 포함하는 액정표시 패널의 수리 장치를 개시한다.In one embodiment of the present invention, a stage for supporting a liquid crystal display panel, a backlight for supplying polarized light to the liquid crystal display panel, a camera unit for obtaining a test image from the liquid crystal display panel, and the liquid crystal display panel And a laser unit for darkening a bad pixel, and a plurality of recipes for selectively darkening only the divided region by dividing the pixel into a plurality of pixels, and selecting the recipe according to the position of the foreign material in the bad pixel to control the operation of the laser unit. A repairing apparatus for a liquid crystal display panel including a control unit is disclosed.

상기 레시피는 상기 픽셀을 6등분 분할해, 각각의 분할된 영역을 암점화시키는 제1 내지 제6 레시피와, 픽셀 전체를 암점화시키는 제7 레시피를 포함한다.The recipe includes six to sixth dividing the pixels to darken each divided area, and a seventh recipe to darken the entire pixel.

상기 제어부는 상기 이물이 분할된 영역의 경계에 위치하면, 상기 이물이 속하는 분할된 영역 모두에 대응하는 복수의 레시피를 선택한다.When the foreign material is located at the boundary of the divided region, the controller selects a plurality of recipes corresponding to all the divided regions to which the foreign material belongs.

상기 제어부는 상기 이물이 불량 픽셀의 가운데에 위치하면, 상기 제7 레시피를 선택한다.The controller selects the seventh recipe when the foreign material is located in the middle of the bad pixel.

본 발명의 다른 실시예에서는 액정표시 패널을 스테이지에 안착시키는 단계와, 상기 액정표시 패널에 편광된 빛을 공급하는 단계와, 상기 편광된 빛을 이용해서 검사 이미지를 획득하는 단계와, 상기 검사 이미지로부터 불량 픽셀에 속한 이물의 위치를 획득하는 단계와, 획득된 이물 위치를 참조로, 픽셀을 다수로 분할해 분할된 영역만을 선택적으로 암점화시키는 다수의 레시피 중에서 적어도 어느 하나를 선택하는 단계와, 상기 선택된 레시피에 맞춰 상기 불량 픽셀에 레이저를 조사해 암점화하는 단계를 포함하는 액정표시 패널의 수리 방법을 개시한다.
In another embodiment of the present invention, the method comprising: mounting a liquid crystal display panel on a stage; supplying polarized light to the liquid crystal display panel; acquiring an inspection image using the polarized light; Obtaining at least one position of a foreign object belonging to the bad pixel, and selecting at least one of a plurality of recipes for dividing the pixel into a plurality and selectively darkening only the divided region with reference to the obtained foreign object position; Disclosed is a repairing method of a liquid crystal display panel including irradiating a laser to the defective pixel to darken it according to a selected recipe.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 이물의 크기 및 위치에 따라 액정 전체를 암점화하거나, 아니면 부분적으로만 암점화해서 불량 픽셀이더라도 수리해 사용할 수 있도록 함으로써, 양품화 효율을 향상시킬 수 있다.
According to an embodiment of the present invention, the entire liquid crystal is darkened according to the size and position of the foreign material, or only partially darkened so that even a defective pixel can be repaired and used, thereby improving the yield efficiency.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시 패널 수리 장치의 개략적인 구성을 보여주는 도면이다.
도 2는 레시피를 설명하는 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 방법을 설명하는 도면이다.
도 4 내지 도 6은 검사 방법을 모식적으로 설명하는 도면이다.
1 is a view showing a schematic configuration of a liquid crystal display panel repair apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a diagram for explaining a recipe.
3 is a view for explaining a test method according to an embodiment of the present invention.
4 to 6 are diagrams schematically illustrating the inspection method.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like numbers refer to like elements throughout. In the following description, when it is determined that a detailed description of known functions or configurations related to the present invention may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 수리 장치의 개략적인 구성을 보여주는 도면이다.1 is a view showing a schematic configuration of a repair apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1에서, 일 실시예의 수리 장치는 카메라부(10), 스테이지(20), 백라이트(30), 레이저부(40), 제어부(50)를 포함해서 구성된다.In FIG. 1, the repair apparatus of one embodiment includes a camera unit 10, a stage 20, a backlight 30, a laser unit 40, and a control unit 50.

카메라부(10)는 CCD 카메라로 구성되며, 액정표시 패널(21)의 이미지를 획득한다. 카메라부(10)는 렌즈부(11)를 더 포함해서 구성되며, 렌즈부(11)에 포함된 렌즈의 배율에 따라 카메라의 해상도는 결정된다. 렌즈부(11)는 편광판(13)을 더 포함해서 구성될 수 있으며, 이 편광판(13)은 원편광판 또는 선편광판을 포함한다.The camera unit 10 is configured of a CCD camera and acquires an image of the liquid crystal display panel 21. The camera unit 10 further includes a lens unit 11, and the resolution of the camera is determined according to the magnification of the lens included in the lens unit 11. The lens unit 11 may further include a polarizing plate 13, and the polarizing plate 13 may include a circular polarizing plate or a linear polarizing plate.

스테이지(20)는 액정표시 패널(21)을 지지하는 구성으로, 투명한 판재로 이뤄져 있다. 이 스테이지(20)는 고정된 상태에서 액정표시 패널(21)을 지지해, 액정표시 패널(21)이 검사동안 움직이지 않도록 한다.The stage 20 supports the liquid crystal display panel 21 and is made of a transparent plate. This stage 20 supports the liquid crystal display panel 21 in a fixed state so that the liquid crystal display panel 21 does not move during the inspection.

백라이트(30)는 액정표시 패널(21)에 빛을 공급하는 수단으로, 발광 다이오드, 형광 램프 등 다양한 광원이 이용된다. 이 백라이트(30)는 빛의 진행 경로상 액정표시 패널(21)과 백라이트(30) 사이에 위치하는 편광판(31)을 더 포함해서 구성된다.The backlight 30 is a means for supplying light to the liquid crystal display panel 21, and various light sources such as a light emitting diode and a fluorescent lamp are used. The backlight 30 further includes a polarizer 31 positioned between the liquid crystal display panel 21 and the backlight 30 on a path of light.

편광판(31)은 백라이트(30)에서 공급된 빛을 선편광 또는 원편광시켜서 액정표시 패널(21)로 공급한다. 액정표시 패널(21)은 액정의 배열 방향에 따른 빛의 투과율 차이에 의해 이미지를 표시하는 디스플레이인데, 이물이 포함되는 경우에 이물이 있는 곳에 배열된 액정의 배열 방향과 그렇지 않은 부분의 액정 배열 방향은 다르다. 따라서, 일 방향으로 편광된 빛이 이물이 있는 곳을 투과하는 경우와, 그렇지 않은 곳을 투과하는 경우에 있어 위상 지연이 발생해 이물의 위치를 정확히 검출할 수가 있다.The polarizing plate 31 linearly or circularly polarizes the light supplied from the backlight 30 and supplies the light to the liquid crystal display panel 21. The liquid crystal display panel 21 is a display which displays an image by a difference in the light transmittance according to the arrangement direction of the liquid crystal. In the case where foreign matter is included, the liquid crystal arrangement direction of the liquid crystal arranged where the foreign matter is present and the liquid crystal arrangement direction of the other portion Is different. Therefore, in the case where the light polarized in one direction is transmitted through the place where the foreign matter exists, and when it passes through the place where the foreign matter is not present, a phase delay occurs to accurately detect the position of the foreign matter.

레이저부(40)는 제어부(50)의 동작 제어 하에 액정표시 패널의 픽셀 중 불량인 픽셀을 암점화시킨다. 이때, 레이저부(40)는 이물이 있는 위치에 따라 픽셀의 암점화를 다르게 실시해서 픽셀 전체를 암점화시키거나, 또는 픽셀 중 일부만을 암점화시킨다.The laser unit 40 darkens the defective pixel among the pixels of the liquid crystal display panel under the control of the operation of the controller 50. At this time, the laser unit 40 darkens the entire pixel or darkens only part of the pixels by differently darkening the pixels according to the position of the foreign material.

제어부(50)는 레이저부(40)를 동작 제어해서 불량 픽셀을 암점화시킨다. 제어부(50)는 이를 위해 레시피(51)를 포함해서 구성된다. 레시피(51)는 레이저부(40)의 동작을 제어하는 알고리즘으로, 하나의 픽셀을 6등분해서 각 분할 영역만을 선택적으로 암점화하는 제1 내지 제7 레시피를 포함한다.The controller 50 controls the laser unit 40 to darken the defective pixels. The controller 50 includes a recipe 51 for this purpose. The recipe 51 is an algorithm for controlling the operation of the laser unit 40. The recipe 51 includes first to seventh recipes for dividing one pixel into six equal parts to selectively darken only each divided region.

레시피(51)에 대해서 도 2를 가지고 보다 상세히 설명하면 다음과 같다. 픽셀은 도 2에서 예시하는 바처럼 6개의 분할 영역으로 나눠진다. 제1 분할 영역(①)은 좌측 상단 부분이고, 제2 분할 영역(②)은 제1 분할 영역에 이웃한 우측 상단 분이다. 그리고, 제3 분할 영역(③)은 좌측 중간 부분이고, 제4 분할 영역(④)은 제3 분할 영역에 이웃한 우측 중간 부분이다. 그리고, 제5 분할 영역(⑤)은 좌측 하단 부분이고, 제6 분할 영역은 제5 분할 영역에 이웃한 우측 하단 부분(⑥)이다. The recipe 51 is described in more detail with reference to FIG. 2 as follows. The pixel is divided into six divided regions as illustrated in FIG. 2. The first divided region ① is the upper left portion, and the second divided region ② is the upper right portion adjacent to the first divided region. The third divided area ③ is the left middle part, and the fourth divided area ④ is the right middle part adjacent to the third divided area. The fifth divided area ⑤ is the lower left part, and the sixth divided area is the lower right part 6 adjacent to the fifth divided area.

레시피(51) 중 제1 레시피는 제1 분할 영역(①)을 관장하는 레시피로, 제1 레시피에 따르면 제1 분할 영역(①)만을 암점화하도록 레이저부(40)가 제어된다. 제2 레시피는 제2 분할 영역(②)을 관장하는 레시피로, 제2 레시피에 따르면 제2 분할 영역(①)만을 암점화하도록 레이저부(40)가 제어된다. 제3 레시피 내지 제 6 레시피 역시 마찬가지로, 각각의 레시피에 따르면, 제3 분할영역(③) 내지 제6 분할 영역(⑥)만을 암점화하도록 레이저부가 제어된다. 그리고, 제7 레시피는 픽셀 전체를 관장하는 레시피로, 제7 레시피에 따르면 픽셀 전체를 암점화하도록 레이저부(40)가 제어된다.The first recipe of the recipe 51 is a recipe governing the first divided region ①, and according to the first recipe, the laser unit 40 is controlled to darken only the first divided region ①. The second recipe is a recipe governing the second divided region ②, and according to the second recipe, the laser unit 40 is controlled to darken only the second divided region ①. Likewise, in the third to sixth recipes, according to the respective recipes, the laser unit is controlled to darken only the third divided area ③ to the sixth divided area ⑥. The seventh recipe is a recipe that controls the entire pixel, and according to the seventh recipe, the laser unit 40 is controlled to darken the entire pixel.

이하, 이처럼 구성되는 수리 장치를 이용해서 액정표시 패널의 불량 화소를 수리하는 방법에 대해서 도 1 및 도 3을 통해 설명한다. 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 수리 방법을 설명하는 흐름도이다.Hereinafter, a method of repairing defective pixels of the liquid crystal display panel using the repair apparatus configured as described above will be described with reference to FIGS. 1 and 3. 3 is a flowchart illustrating a repair method according to an embodiment of the present invention.

도 3에서, S11 단계에서, 액정표시 패널(21)을 스테이지(20)에 안착시키고, 백라이트(30)를 턴온한다. 이에 따라, 편광판(31)에 의해 일 방향으로 편광된 빛이 액정표시 패널(21)로 공급된다. 편광된 빛은 이물이 있는 곳과 그렇지 않은 곳에서 위상 지연되면서 이물이 있는 위치를 정확히 알 수 있도록 한다.In FIG. 3, in step S11, the liquid crystal display panel 21 is seated on the stage 20, and the backlight 30 is turned on. Accordingly, light polarized in one direction by the polarizing plate 31 is supplied to the liquid crystal display panel 21. The polarized light is phase-delayed in the presence and absence of the foreign material so that the exact location of the foreign material is known.

S12 단계에서, 카메라부(10)는 액정표시 패널(21)을 투과하는 빛에 반응해 도 4의 (A)에서 예시하는 이미지를 획득한다. 획득된 이미지를 바탕으로, 불량 픽셀에서 이물 사이즈의 크기 및 위치가 확인된다. 이물 사이즈의 크기 및 위치는 장치에 내장된 분석 알고리즘에 의해 제어부(50)에 의해 수행될 수도 있고, 작업자가 육안 검사를 통해 행해질 수도 있다. 작업자는 검사 이미지가 표시되는 모니터를 통해서 이물 사이즈 및 픽셀 내 이물 위치를 확인해 그 결과를 장치에 입력할 수 있다.In operation S12, the camera unit 10 acquires the image illustrated in FIG. 4A in response to light passing through the liquid crystal display panel 21. Based on the acquired image, the size and position of the foreign material size in the bad pixel are confirmed. The size and position of the foreign material size may be performed by the controller 50 by an analysis algorithm embedded in the apparatus, or may be performed by the operator through visual inspection. The operator can check the foreign material size and the foreign material position in the pixel through the monitor on which the inspection image is displayed and input the result into the device.

제어부(50)는 분석 알고리즘 또는 작업자에 의해 구해진 불량 픽셀 중 이물의 위치 및 크기에 따라 수리형태를 결정한다.The controller 50 determines the repair form according to the position and size of the foreign material among the defective pixels obtained by the analysis algorithm or the operator.

이물의 사이즈가 정해진 크기보다 크다고 판단되면(S13 단계), 제어부(50)는 제7 레시피를 선택해 레이저부(40)를 동작 제어한다. 이처럼, 제7 레시피가 선택되면, 불량 픽셀은 이물의 위치에 상관없이 전체가 암점화된다(S131 단계). 암점화는 상술한 바처럼 불량 픽셀에 대응하는 컬러 필터를 레이저로 공간을 형성하고, 그 공간에 블랙 메트릭스를 녹여 채우는 형태로 이뤄진다.If it is determined that the size of the foreign material is larger than the predetermined size (step S13), the controller 50 selects the seventh recipe to control the operation of the laser unit 40. As such, when the seventh recipe is selected, the entire defective pixel is darkened regardless of the position of the foreign matter (step S131). As described above, the darkening is performed by forming a space with a color filter corresponding to a bad pixel with a laser, and melting and filling the black matrix in the space.

만일 이물 사이즈가 정해진 크기보다 작다면, 제어부(50)는 이물의 위치에 따른 레시피를 선택해 불량 픽셀을 수리한다(S14 단계 및 S15 단계).If the foreign material size is smaller than the predetermined size, the controller 50 selects a recipe according to the position of the foreign material and repairs the defective pixel (steps S14 and S15).

도 4의 (A)처럼 이물이 우측 상단에 해당하는 제2 분할 영역에 존재한다면, 제어부(50)는 제2 분할 영역을 관정하는 제2 레시피를 선택해서 레이저부(40)를 동작 제어한다.If the foreign material exists in the second divided area corresponding to the upper right side as shown in FIG. 4A, the controller 50 selects a second recipe for controlling the second divided area to control the operation of the laser unit 40.

이에 따라 도 4의 (B)에서 예시하는 바처럼, 블루 픽셀 중 우측 상단에 대해서만 암점화가 이뤄진다. Accordingly, as illustrated in FIG. 4B, darkening is performed only on the upper right side among the blue pixels.

한편, 이물 사이즈가 정해진 크기보다 작고, 이물의 위치가 도 5의 (A)에서 예시하는 바처럼 분할 영역의 경계에 위치하면, 제어부(50)는 이물이 속한 모든 영역을 관장하는 레시피를 선택한다. 도 5의 (A)처럼 제4 분할영역 및 제6 분할 영역의 경계에 이물이 위치하면, 제어부(50)는 제4 분할영역 및 제6 분할영역을 관장하는 제4 레시피 및 제6 레시피를 선택해서, 제4 분할영역 및 제6 분할영역 모두를 암점화시킨다. On the other hand, if the foreign material size is smaller than the predetermined size and the position of the foreign material is located at the boundary of the divided region as illustrated in FIG. 5A, the controller 50 selects a recipe for managing all the regions to which the foreign material belongs. . When the foreign material is located at the boundary between the fourth and sixth divided regions as shown in FIG. 5A, the controller 50 selects the fourth recipe and the sixth recipe that manage the fourth and sixth divided regions. Thus, both the fourth and sixth partitions are darkened.

그리고, 이물 사이즈가 정해진 크기보다 작지만, 이물의 위치가 도 6의 (A)처럼 정가운데에 위치하는 경우, 제어부(50)는 제7 레시피를 선택해 레이저부(40)를 동작 제어한다. 이처럼, 제7 레시피가 선택됨에 따라, 불량 픽셀은 전체가 암점화된다(도 6의 (B)참조).When the foreign material size is smaller than the predetermined size, but the foreign material is located at the center as shown in FIG. 6A, the controller 50 selects the seventh recipe to control the operation of the laser unit 40. As such, as the seventh recipe is selected, the defective pixel is darkened in its entirety (see FIG. 6B).

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.

Claims (8)

액정표시 패널을 지지하는 스테이지와,
상기 액정표시 패널에 편광된 빛을 공급하는 백라이트와,
상기 액정표시 패널로부터 검사 이미지를 획득하는 카메라부와,
상기 액정표시 패널 중 불량 픽셀을 암점화하는 레이저부와,
픽셀을 다수로 분할해 분할된 영역만을 선택적으로 암점화시키는 다수의 레시피와 픽셀 전체를 암점화시키는 레시피를 포함하며, 상기 불량 픽셀 속 이물의 위치에 따라 상기 레시피를 선택해 상기 레이저부를 동작 제어하는 제어부를 포함하고,
상기 제어부는,
상기 이물이 분할된 영역의 경계에 위치하면 상기 이물이 속하는 분할된 영역 모두에 대응하는 복수의 레시피를 선택하고, 상기 이물이 상기 불량 픽셀의 가운데에 위치하면 상기 불량 픽셀 전체를 암점화 시키는 레시피를 선택하는 액정표시 패널의 수리 장치.
A stage supporting the liquid crystal display panel,
A backlight for supplying polarized light to the liquid crystal display panel;
A camera unit obtaining an inspection image from the liquid crystal display panel;
A laser unit for darkening a defective pixel of the liquid crystal display panel;
And a plurality of recipes for selectively darkening only the divided region by dividing the pixels into a plurality of recipes, and a recipe for darkening the entire pixel. and,
The control unit,
When the foreign material is located at the boundary of the divided region, a plurality of recipes corresponding to all the divided regions to which the foreign material belongs is selected, and when the foreign material is located in the middle of the bad pixel, a recipe for darkening the entire bad pixel is provided. Repair device of liquid crystal display panel to choose.
제1항에 있어서,
상기 레시피는 상기 픽셀을 6등분 분할해, 각각의 분할된 영역을 암점화시키는 제1 내지 제6 레시피와, 픽셀 전체를 암점화시키는 제7 레시피를 포함하는 액정표시 패널의 수리 장치.
The method of claim 1,
And the recipe comprises first to sixth recipes for dividing the pixel into six equal parts to darken each divided region, and a seventh recipe for darkening the entire pixel.
삭제delete 삭제delete 액정표시 패널을 스테이지에 안착시키는 단계와,
상기 액정표시 패널에 편광된 빛을 공급하는 단계와,
상기 편광된 빛을 이용해서 검사 이미지를 획득하는 단계와,
상기 검사 이미지로부터 불량 픽셀에 속한 이물의 위치를 획득하는 단계와,
획득된 이물 위치를 참조로, 픽셀을 다수로 분할해 분할된 영역만을 선택적으로 암점화시키는 다수의 레시피 중에서 적어도 어느 하나를 선택하는 단계와,
상기 선택된 레시피에 맞춰 상기 불량 픽셀에 레이저를 조사해 암점화하는 단계와
상기 이물의 크기가 정해진 크기보다 크면, 불량 픽셀 전체를 암점화하는 단계
를 포함하는 액정표시 패널의 수리 방법.
Mounting the liquid crystal panel on the stage;
Supplying polarized light to the liquid crystal display panel;
Acquiring a test image using the polarized light;
Obtaining a position of a foreign object belonging to a bad pixel from the inspection image;
Selecting at least one of a plurality of recipes for dividing a pixel into a plurality and selectively darkening only the divided region with reference to the obtained foreign object position;
Irradiating a dark spot by irradiating a laser to the defective pixel according to the selected recipe;
Darkening the entire bad pixel when the size of the foreign material is larger than a predetermined size
Repair method of the liquid crystal display panel comprising a.
삭제delete 제5항에 있어서,
상기 이물 위치가 분할된 영역의 경계에 위치하면, 상기 이물이 속한 분할된 영역 모두에 대응하는 복수의 레시피를 선택하는 액정표시 패널의 수리 방법.
The method of claim 5,
And a plurality of recipes corresponding to all of the divided regions to which the foreign material belongs, when the foreign material position is located at the boundary of the divided region.
제5항에 있어서,
상기 이물 위치가 분할된 영역의 경계에 위치하면, 불량 픽셀 전체를 암점화하는 액정표시 패널의 수리 방법.
The method of claim 5,
Repairing the liquid crystal display panel when the foreign material position is located at the boundary of the divided region;
KR1020120140397A 2012-12-05 2012-12-05 apparatus for repairing a liquid crystal display panel and methods thereof KR102031681B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120140397A KR102031681B1 (en) 2012-12-05 2012-12-05 apparatus for repairing a liquid crystal display panel and methods thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120140397A KR102031681B1 (en) 2012-12-05 2012-12-05 apparatus for repairing a liquid crystal display panel and methods thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140072991A KR20140072991A (en) 2014-06-16
KR102031681B1 true KR102031681B1 (en) 2019-10-15

Family

ID=51126641

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120140397A KR102031681B1 (en) 2012-12-05 2012-12-05 apparatus for repairing a liquid crystal display panel and methods thereof

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102031681B1 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104793366B (en) * 2015-04-23 2018-01-16 深圳市华星光电技术有限公司 Liquid crystal panel and its bright spot restorative procedure after bright spot is repaired
KR101738981B1 (en) * 2015-06-11 2017-05-26 참엔지니어링(주) Method and Apparatus for Repairing Film

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100937848B1 (en) * 2004-12-14 2010-01-21 엘지디스플레이 주식회사 Appartus And Method for Repairing Liquid Crystal Display Panel
KR20080105656A (en) * 2007-05-31 2008-12-04 엘지전자 주식회사 Apparatus and method for automatically repairing defect of liquid crystal display panel, and method for manufacturing liquid crystal display panel

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140072991A (en) 2014-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101286534B1 (en) inspection apparatus of Liquid crystal display apparatus and inspection method using the same
JP5624743B2 (en) Switch control unit, liquid crystal cell post-assembly inspection apparatus and method
KR101291843B1 (en) Apparatus for inspection of liquid crystal display device and inspecting method thereof
JP5709457B2 (en) Liquid crystal display device and method for inspecting liquid crystal display device
KR101234088B1 (en) Array test apparatus
KR101232136B1 (en) Method of repair an Liquid Crystal Cell, method of manufacturing Liquid Crystal Display Device using the same, and Liquid Crystal Display repaired using the same
KR20060102145A (en) Liquid crystal display device and method for repairing bright spot of the same
KR20060038116A (en) Repairing method for liquid crystal display panel
KR102031681B1 (en) apparatus for repairing a liquid crystal display panel and methods thereof
KR20100006460A (en) Method for repairing defect cell of liquid crystal display panel
KR100839031B1 (en) Method for repair of plat display panel
KR102296768B1 (en) Display panel and method for testing of display panel
JP2008216810A (en) Liquid crystal panel inspecting device and liquid crystal panel inspection method
KR101988617B1 (en) Light-leakage preventing jig and visual inspection apparatus using the same
KR100891877B1 (en) Method for repair of plat display panel
KR101163398B1 (en) Liquid crystal display device without bad pixel and method of removing bad pixel
JP2006322973A (en) Image display panel restoration method
WO2011043065A1 (en) Apparatus and method for inspecting display defect of display panel
KR101192072B1 (en) Liquid crystal display device
KR20090006456A (en) Apparatus for inspecting liquid crystal display panel and method for inspecting it
KR100819865B1 (en) Substrate for liquid crystal display device
KR100823096B1 (en) Method for repairing of liquid crystal display
WO2012115004A1 (en) Inspection device and inspection method for liquid crystal panels
JP2010256673A (en) Bright spot defect repairing method for liquid crystal display panel, and liquid crystal display panel
JP2019040021A (en) Display device, television receiver, and display device manufacturing method

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant