JP2008216258A - 試験片ディスペンサ - Google Patents

Abstract

【課題】一度に１つの試験片を供給する試験片ディスペンサを提供する。また、試験片供給システムを提供する。
【解決手段】試験片ディスペンサは、外部ハウジング内部で入れ子となる可動式の内部ハウジングを含む。
【選択図】 図１Ｂ

Description

一度に１つの試験片を供給する試験片ディスペンサに関する。さらには、試験片供給システムに関する。

生体液の成分を測定する装置および方法や、かかる装置に用いられる試験片は周知である。通常、試験片は、対象の液体成分を測定する装置から分離した使い捨て容器に保存される。公知の試験片システムでは、試験片を容器から取り出し、液状サンプルを試験片に供給し、所望の成分を分析する光度測定器または電気化学測定器に試験片を挿入する。分析完了後、試験片は測定器から抜き取られて廃棄される。

携帯型の試験片ディスペンサおよび測定器、特に視覚と手の協調関係の低下した人または触覚の低下した人が用いるディスペンサは、その使いやすさが重要となる。通常、例えば、糖尿病患者は、一方または両方の眼に視力障害があり、指の感覚が弱い。かかる人は、試験片および測定器を用い、１日に何回も血糖値を検査する必要がある。しかしながら、典型的な試験片の幅や長さは、数ミリメートルにすぎないことから、取り扱いにくい。さらに、従来の試験片は、通常、１つの試験片を容易に抜き取ることが困難である小型の円筒容器に詰められる。

したがって、出願人は、公知の試験片および上記の関連構成部品の従来の欠点を改善する発明を提供する。

一態様では、一度に１つの試験片を供給する試験片ディスペンサが提供される。試験片ディスペンサは、複数の試験片を保存するための内部空間を含み、内部空間は、試験片が供給される開口および溝を含む。試験片ディスペンサは、第１の方向に内部ハウジングを配置する付勢装置と外部ハウジングをさらに含む。この実施形態では、外部ハウジングは、試験片が通るように、内部ハウジングの開口と実質的に直線上にある開口部を含む。外部ハウジングは、内部ハウジングが第１の方向のほぼ反対方向に外部ハウジングのガイド部材に沿って移動するとき、試験片は固定された状態となるように、内部ハウジングの溝と嵌合するガイド部材をさらに含む。

さらに別の実施形態では、検査位置に試験片を送達するシステムを提供する。システムは、試験片ディスペンサおよび測定器内部で保存される複数の試験片を含む。試験片ディスペンサは、複数の試験片を保存するための内部空間を含み、内部空間は、試験片が供給される開口および溝を含む。試験片ディスペンサは、第１の方向に内部ハウジングを配置する付勢装置および外部ハウジングをさらに含む。この実施形態では、外部ハウジングは、試験片が通るように、内部ハウジングの開口と実質的に直線上にある開口部を含む。外部ハウジングは、内部ハウジングが第１の方向のほぼ反対方向に外部ハウジングのガイド部材に沿って移動するとき、試験片が固定された状態となるように、内部ハウジングの溝と嵌合するガイド部材をさらに含む。測定器は、測定器内の試験片ポートコネクタが試験片を係合すると同時に内部ハウジングがガイド部材に沿って移動するために、試験片ディスペンサの内部ハウジングを係合するように構成される試験片ポートを含む。

このような実施形態ならびに他の実施形態、特徴および利点については、添付の図面による簡単な説明とともに以下の本発明の詳細な説明によって、当業者に明らかとなる。

添付の図面は、本発明の好ましい本実施形態を示し、上記の概説および以下の詳細な説明とともに、本発明の特徴を説明する（類似の符号は類似の要素を示す）ために用いられる。

本明細書に開示する様々な実施形態が、多種多様な電気化学試験片および光度測定試験片（例えば全血、血清または血漿の測定での使用に適している試験片）の保存または送達に適した試験片を供給する方法および装置を含む。一態様では、試験片ディスペンサは、複数のかかる試験片を保存することができ、「測定器」として公知の診断装置が受け取るために個々の試験片を供給することができる。また、本明細書に開示する試験片は、試験片ディスペンサと嵌合し、試験片ディスペンサから試験片を受け取るように構成される測定器を含む試験片供給システムである。

以下の詳細な説明については、図面を参照することによって理解され、異なる図面の同様の要素には、同一の符号を付与されることに留意する。図面は、必ずしも原寸に比例しておらず、選択された実施形態を示し、本発明の範囲を限定するためのものではない。詳細な説明は、本発明の原則を示すものであり、限定するためのものではない。この説明によって、当業者は本発明を製作および使用できることは明らかであり、現在、本発明を実施する最良の形態であると考えられるものを含む本発明のいくつかの実施形態、改作例、変形例、他の実施形態およびその使用について記載する。

図１Ａ〜１Ｃおよび図２〜４は、実施形態による試験片ディスペンサ１００を示す。試験片ディスペンサ１００は、近端部１０２、遠端部１０４、外部ハウジング１０６および内部ハウジング１０８を含む。内部ハウジング１０８は、複数の試験片２００（例えば多くの試験片）を収容するように構成され、外部ハウジング１０６内でで入れ子となり、外部ハウジング内で移動可能である。外部ハウジング１０６および内部ハウジング１０８は、ほぼ矩形であり、適切な材料（例えば、アクリロニトリルブタジエンスチレン樹脂スチレン、ポリカーボネートまたはその組み合わせが好ましい）で形成してもよい。

本明細書において、図に示す様々な実施形態に用いることができる複数の試験片２００の各々は、ほぼ細長い形状であり、内部ハウジング内で装着するような寸法である。例示の実施形態では、試験片２００は、例えば、市販されているＯｎｅＴｏｕｃｈ（登録商標）ウルトラ（登録商標）ブランドグルコース試験片または他の適切な試験片であってよい。

通常、複数の試験片２００の各々は、液状サンプルが試験片ディスペンサ１００の遠端部に添加され、試験片ディスペンサ１００の遠端部に延びる遠端部を有する試験片ディスペンサ１００に保持され、電気化学試験片の場合は、試験片ディスペンサ１００の近端部の方へ延びる電気接続を含む近端部を有する試験片ディスペンサ１００に保存される。これは、１つの試験片が測定器によって試験片ディスペンサ１００から取り除かれたときに、試験片が液状サンプルを添加するための正しい方向にあることを確実にし、電気化学試験片の場合は、測定器との電気接続を確実にする。

図１Ａ〜１Ｃにおいて、外部ハウジング１０６は、第１部材１１０および第２部材１１２を含む。第２部材１１２は、内部ハウジング１０８に保存される試験片２００に近づく開口部１１４を含む。例えば、第１部材１１０および第２部材１１２は、内部ハウジングを保持する空間を形成するように、スナップフィットまたは超音波溶接で接合される。

図２および図５に示すように、外部ハウジング１０６は、第１内面１１８上のガイド部材１１６、第２内面１２２に第１凹部１２０および第３内面１２６上の任意の第２凹部１２４をさらに含む。ガイド部材１１６は、近端部１３６上のレッジ１２８および止め具１３０および内部ハウジング１０８が移動する表面１３２を含む。ガイド部材１１６は、近端部１３６に第１のばねロケータ１３４を任意に含む。図５に示す一実施形態では、ガイド部材１１６の断面図はＴ字形である。図６および図７に示す実施形態では、ガイド部材１１６は、左または右のアームがそれぞれ取り除かれたＴ字形であってもよい。

図１Ｂ、図１Ｃおよび図２に示す内部ハウジング１０８は、近端部１３８、遠端部１４０、第１側部１４２、第２側部１４４、第１端部１４６および第２端部１４８を含む。内部ハウジング１０８の近端部１３８は、試験片が供給される間に試験片が移動する開口１５２を有する突起部１５０を含む。突起部１５０は、長方形であり、開口部１１４内に外部ハウジング１０６が装着するように構成される。

内部ハウジング１０８は、ばね１５４によって試験片ディスペンサ１００の近端部１０２の方へ付勢される。ばね１５４は、図２に示すように、ガイド部材１１６に対して近位に位置してもよく、図１２に示すように、内部ハウジング１０８の近端部１３８に対して遠位で位置してもよい。ガイド部材１１６に位置するばね１５４を有することによって、小型の試験片ディスペンサ１００となる。ばね１５４がガイド部材１１６に対して近位で位置する場合、第２のばねロケータ１５６は、内部ハウジング１０８の第１端部１４６上の突起部１６２の第１側部１６０上に任意に位置する（図２および図８Ａを参照）。

図８Ａおよび図８Ｂに示すように、内部ハウジング１０８は、第１端部１４６に溝部１５８をさらに含み、溝部は、図９Ａ〜９Ｄにさらに詳述するように、試験片が供給される間、外部ハウジング１０６の第１内面１１８上のガイド部材１１６と嵌合してガイド部材上を移動する。図８Ａおよび８Ｂに示す一実施形態では、溝部１５８は、Ｔ字形であり、内部ハウジング１０８の遠端部１４０から近端部１３８の約１／４の長さである。溝部１５８が「Ｔ」断面を有することを示すが、溝部１５８は、ガイド部材１１６に嵌合してガイド部材上を移動する限り、ガイド部材１１６の形状に適合するあらゆる形状であってよい。

図１Ｂ、図２および図３に示すように、ばねを載せるプラットフォーム１６４は、内部ハウジング１０８の第１端部１４６の方へ複数の試験片２００を付勢する。プラットフォーム１６４を付勢するために用いられるばねの例は、うず巻ばね１６６である。内部ハウジング１０８の第１端部１４６の近傍にあるスロット１７０の適当な位置で、うず巻ばね１６６の第１端部１６８を保持してもよい（図１Ｂを参照）。あるいは、内部ハウジング１０８の第１端部１４６の近傍で、うず巻ばね１６６の第１端部１６８を、適切な処理（例えばプラスチックの溶接、接着または好ましくは熱かしめ）によって接続してもよい。うず巻ばね１６６の第２端部１７２は、プラットフォーム１６４のニッチ１７４でらせん体を形成する。内部ハウジング１０８の内に複数の試験片２００を適切に収容するため、うず巻ばね１６６は、内部ハウジング１０８の第１側部１４６の長手方向の空間１７６を通って任意に延びることができる。

図４に示すように、内部ハウジング１０８は、第１端部１８２および第２端部１８４を有する少なくとも１つのフリッパー１８０による試験紙詰まりを防ぐ構造をさらに含む。少なくとも１つのフリッパー１８０の第１端部１８２は、例えばヒンジ１８６によって内部ハウジング１０８の第１側部１４２に枢動可能に取り付けられる。試験片が、図１０Ｃに示すように試験片が供給される間は測定器によって係合されない場合、少なくとも１つのフリッパー１８０の第２の端部１８４は、外部ハウジング１０６の第１凹部１２０の傾斜面１９０を係合するアーム１８８を含む。

図９Ａ〜９Ｄおよび図１０Ａ〜１０Ｃには、試験片を供給する方法の一連のステップを示す。図１Ａ〜１Ｃ、図２〜４および図８Ａ〜８Ｂには、主題の方法によって用いることができる試験片ディスペンサを例示し、このような図に示す試験片ディスペンサの要素と類似の要素には同じ符号が用いられる。

実施形態によれば、主題の方法の第１のステップでは、複数の試験片２００を収容する試験片ディスペンサ１００および測定器２２０が設けられている（図９Ａおよび１０Ａを参照）。第１の試験片２０２が供給される前は、試験片ディスペンサ１００は休止位置にあり、内部ハウジング１０８の溝部１５８はガイド部材１１６の表面１３２に載置され、複数個の試験片２００はガイド部材１１６のレッジ１２８に載置される。

次に、図９Ｂおよび１０Ｂに示すように、測定器２２０の試験片ポート２２２は、外部ハウジング１０６の開口部１１４に嵌入され、内部ハウジング１０８をガイド部材１１６に沿って試験片ディスペンサ１００の遠端部１０４に対して圧接して内部ハウジング１０８の突起部１５０と係合する。内部ハウジング１０８がガイド部材１１６に沿って圧接されると、第１の試験片２０２は実質的に固定された状態であるが、残りの複数の試験片２００は試験片ディスペンサ１００の遠端部１０４の方へ移動する。内部ハウジング１０８がガイド部材１１６に沿って圧接されると、第１の試験片２０２の近端部は、側面に沿って外側に外部ハウジング１０６の内面の方へ少なくとも１つのフリッパー１８０を押して、少なくとも１つのフリッパー１８０の第２の端部１８４の傾斜を係合する。図９Ｂおよび図１０Ｂに示すように、内部ハウジング１０８が試験片ディスペンサ１００の遠端部１０４の方へ押されるまで、内部ハウジング１０８をガイド部材１１６に沿って可能な限り圧接されると、第１の試験片２０２の遠端部は、ガイド部材１１６の止め具１３０と係合し、第１の試験片２０２の近端部は、測定器２２０の試験片ポートコネクタ２２４と係合する。通常、止め具１３０の高さは、１つの試験片のみが止め具１３０と１回で係合するために、試験片の厚さよりわずかに低いことに留意する必要がある。この時点で、少なくとも１つのフリッパー１８０の第２の端部１８４上のアーム１８８は、外部ハウジング１０６の第１凹部１２０内で円滑に移動する。

試験片ポート２２２が、試験片ポートコネクタ２２４内で係止される第１の試験片２０２を有する外部ハウジング１０６の開口部１１４から取り除かれると、第１の試験片２０２は内部ハウジング１０８の突起部１５０の開口１５２を通して引っ張られ、内部ハウジング１０８は試験片ディスペンサ１００の近端部１０２の方へ付勢される（図９Ｃを参照）。その開口１５２は、一度に１つの試験片のみを収容するような寸法である点に留意する必要ある。第１の試験片２０２の遠端部が開口１５２に入るとすぐ、第２の試験片はプラットフォームによって内部ハウジング１０８の第１端部１４６に向かって供給位置へと付勢される（図示せず）。試験片ポートコネクタ２２４が第１の試験片２０２と係合されない場合、少なくとも１つのフリッパー１８０のアーム１８８は、外部ハウジング１０６の第１凹部１２０の傾斜面１９０と係合して、内部ハウジング１０８が休止位置まで戻るのを防ぎ、第２の試験片の遠端部をガイド部材１１６の止め具１３０と係合するのを防ぐ（図１０Ｃを参照）。内部ハウジング１０８は、測定器が再び内部ハウジング１０８に対して圧接され、試験片ポートコネクタ２２４が第１の試験片２０２を係合するまで、この試験紙詰まりを防ぐ位置で係止された状態のままである。

図９Ｄに示すように、第１の試験片２０２は、測定器２２０の試験片ポートコネクタ２２４内で係合させた状態で、試験片ディスペンサ１００から完全に取り除かれ、検査のために配置される。

図１１Ａ〜１１Ｃおよび図１２〜１６は、他の実施形態による試験片ディスペンサ３００を示す。試験片ディスペンサ３００は、近端部３０２、遠端部３０４、外部ハウジング３０６および内部ハウジング３０８を含む。内部ハウジング３０８は、複数の試験片４００（例えば多くの試験片）を収容するように構成され、外部ハウジング３０６内で入れ子となり、外部ハウジング内で移動可能である。外部ハウジング３０６および内部ハウジング３０８は、ほぼ矩形であり、適切な材料（例えば、アクリロニトリルブタジエンスチレン樹脂スチレン、ポリカーボネートまたはその組み合わせが好ましい）で形成してもよい。

本明細書において、図に示す様々な実施形態に用いることができる複数の試験片４００の各々は、ほぼ細長い形状であり、内部ハウジング内で装着するような寸法である。記載されている実施形態では、試験片４００が、例えば、米国特許第６，７４９，８８７号明細書に記載されているグルコース試験片であってよく、この開示内容は、援用によって本明細書の内容の一部をなす。あるいは、本明細書に記載される実施形態とともに、他の適切な市販の試験片を用いてもよい。

通常、複数の試験片４００の各々は、液状サンプルが試験片ディスペンサ１００の遠端部に添加され、試験片ディスペンサ１００の遠端部に延びる遠端部を有する試験片ディスペンサ１００に保持され、電気化学試験片の場合は、試験片ディスペンサ３００の遠端部３０４の方へ延びる電気接続を含む近端部３０２を有する試験片ディスペンサ３００に保存される。これは、１つの試験片が測定器によって試験片ディスペンサ３００から取り除かれたときに、試験片が、液状サンプルを添加するための正しい方向にあることを確実にし、電気化学試験片の場合は、測定器との電気接続を確実にする。

図１１Ａ〜１１Ｃに示すように、外部ハウジング３０６は、第１部材３１０および内部ハウジング３０８に保存される試験片に近づく開口部３１４を有する第２部材３１２を含む。例えば、第１部材３１０および第２部材３１２は、内部ハウジングを保持するの空間を形成するように、スナップフィットまたは超音波溶接で接合される。図１２〜１４に示すように、外部ハウジング３０６は、第１内面３１８上のガイド部材３１６と、第２内面３２０上の任意のばねロケータ３３４をさらに含む。一実施形態では、ガイド部材３１６は、Ｔ字形であり、レッジ３２２と、近端部３３６上の止め具３２４と、内部ハウジング３０８が移動する表面３２６を含む。他の実施形態では、ガイド部材３１６は、左または右のアームがそれぞれ取り除かれたＴ字形であってもよい（図示せず）。

図１１Ｂ〜１１Ｃに再び言及して、内部ハウジング３０８は、例えば、複数個の試験片４００を収容するように構成されるように空間を形成するために、ネジまたは超音波溶接によって接合される第１の部分３３０および第２の部分３３２を含む。内部ハウジング３０８を、１つの成形体で形成してもよい。図１１Ｃに示す組立形では、内部ハウジングは、近端部３３８、遠端部３４０、第１側部３４２、第２側部３４４、第１端部３４６および第２端部３４８を含む。内部ハウジング３０８の近端部３３８は、試験片が供給される間に試験片が移動する開口３５２を有する突起部３５０を含む。突起部３５０は、長方形であり、開口部３１４内に外部ハウジング３０６が装着するように構成される。

内部ハウジング３０８は、ばね３５４によって試験片ディスペンサ３００の近端部３０２の方へ付勢される。図１２に示すように、ばね３５４は、内部ハウジング３０８の近端部３３８に対して遠位に設置される。内部ハウジング３０８は、ばね３５４の端部を設置させるために遠端部３４０上の凹部３５６を任意に含んでもよい（図１２および１図５を参照）。

図１５に示すように、内部ハウジング３０８は、第１端部３４６に溝部３５８をさらに含み、溝部は、図１７Ａ〜１７Ｄでさらに詳しく示すように、試験片が供給される間、外部ハウジング３０６の第１内面３１８上のガイド部材１１６と嵌合してガイド部材上を移動する。図１５に示す一実施形態では、溝部３５８がＴ字形であってよく、内部ハウジング３０８の第１端部３４６と同じ長さである。あるいは、溝部３５８は、ガイド部材３１６の形状に適合するあらゆる形状であってよい。

図１６に示すように、内部ハウジング３０８は、複数の試験片４００が供給される前と間に載置される第１の棚３６０と、供給される試験片が供給される間に落下する第１内面３６４上の第２の棚３６２をさらに含む。さらに、内部ハウジング３０８は、後述するように、複数の試験片４００を係合する内部ハウジング３０８の近端部３３８の近位で第２内面３６８から突き出るアーム３６６を含む。また、アーム３６６は、１つの試験片のみを一度に移動させることができるチャンネル３６７の一面を形成する。チャンネル３６７の他面は、第２の棚３６２によって形成される。

図１１Ｂ、図１２および図１３に示すように、ばねを載せるプラットフォーム３０７は、内部ハウジング３０８の第１端部３４６の方へ複数の試験片４００を付勢する。プラットフォームを付勢するために用いられるばねの例は、うず巻ばね３７２である。内部ハウジング３０８の第１端部３４６の近傍にあるスロット３７６の適当な位置で、うず巻ばね３７２の第１端部３７４を保持してもよい。あるいは、内部ハウジング３０８の第１端部３４６の近傍で、うず巻ばね３７２の第１端部３７４を、熱かしめなどの処理によって付着してもよい。うず巻ばね３７２の第２端部３７８は、プラットフォーム３７０のニッチ３８０でらせん体を形成する。内部ハウジング３０８の内に複数の試験片４００のとまりばめを収容するため、うず巻ばね３７２は、内部ハウジング３０８の第１側部３４６の長手方向の空間（図示せず）を通って任意に延びてもよい。

内部ハウジング３０８は、内部ハウジング３０８内に留まる試験片の数を視認する（図１１Ｂを参照）のためのウインドウ３８２を第１側部３４２または第２側部３４４に任意に含んでもよい。あるいは、ディスペンサ内に留まる試験片の数を視認可能にするため、通常、内側ハウジングおよび外部ハウジングを透明材料または半透明材料で形成してもよい。

図１７Ａ〜１７Ｄおよび図１８Ｃでは、試験片を供給する方法の一連のステップを示す。図１１Ａ〜１１Ｃ、図１２〜１６には、主題の方法によって用いることができる試験片ディスペンサを例示し、このような図に示す試験片ディスペンサの要素と類似の要素には同じ符号が用いられる。

実施形態によれば、主題の方法の第１のステップでは、複数の試験片３００を収容する試験片ディスペンサ４００および測定器４２０が設けられている（図１７Ａを参照）。第１の試験片４０２が供給される前に、試験片ディスペンサ３００は休止位置にあり、内部ハウジング３０８の溝部３５８の一部はガイド部材３１６の表面３２６に載置され、複数の試験片４００は、内部ハウジング３０８の第１内面３６４の第１の棚３６０に載置される（図１８の第１の棚３６０を参照）。

次に、図１７Ｂに示すように、測定器４２０の試験片ポート４２２は、外部ハウジング３０６の開口部３１４に嵌入され、内部ハウジング３０８をガイド部材３１６に沿って試験片ディスペンサ３００の遠端部３０４に対して圧接して内部ハウジング３０８の突起部３５０と係合する。内部ハウジング３０８がガイド部材３１６に沿って圧接されると同時に、内部ハウジング３０８の第２内面３６８から突き出たアーム３６６は、複数の試験片４００のうち第１の試験片４０２を除くすべてを係合する。第１の試験片４０２は実質的に固定された状態であるが、残りの複数の試験片４００が試験片ディスペンサ３００の遠端部３０４の方へ移動する。内部ハウジング３０８は、試験片ディスペンサ３００の遠端部３０４の方へ可能な限り押されるまでガイド部材３１６に沿って圧接された状態であり、第１の試験片４０２が内部ハウジング３０８の第１内面３６４上の第２の棚３６２の上に落下すると、第１の試験片４０２の遠端部は、ガイド部材３１６の止め具３２４と係合される（図１７Ｂおよび図１８を参照）。第１の試験片４０２の遠端部がガイド部材３１６の止め具３２４と係合されるとほぼ同時に、第１の試験片４０２の近端部は、測定器４２０の試験片ポートコネクタ４２４と係合される。第１の試験片４０２は第２の棚３６２上に落下し、試験片ディスペンサ３００の遠端部３０４の方へ移動する残りの複数の試験片４００への圧力を解放し、試験片ポートコネクタ４２４によって必要とされる把持力を減少させる。

図１７Ｃ図では、試験片は、測定器４２０のポート４２２は、試験片ポートコネクタ４２４内と係合する第１の試験片４０２を有する外部ハウジング３０６の開口部３１４から取り除かれるため、第１の試験片４０２は、チャンネル３６７を通して引っ張られ、その後内部ハウジング３０８の突起部３５０の開口３５２を通して引っ張られる。第１の試験片がチャンネル３６７および開口３５２を通して引っ張られると、内部ハウジング３０８は試験片ディスペンサ３００の近端部３０２の方へ付勢される。

図１７Ｄに示すように、第１の試験片４０２は、測定器４２０の試験片ポートコネクタ４２４内で係合させた状態で、試験片ディスペンサ３００から完全に取り除かれ、検査のために配置される。

本発明は、特定の変形例および例証を示す図によって記載されているが、当業者は、本発明が記載されている変形例または図に限定されるものではないことを認識する。さらに、上記の方法およびステップが、特定の順序で発生する特定の事象を示す場合、当業者は、特定のステップの順序を変更することができ、かかる変更は本発明の変形例と等価であることを認識する。さらに、特定のステップは、上記の通りに順序どおり実施されるが、可能であれば並列処理で同時に実施してもよい。したがって、本発明の開示の精神または本願請求の範囲に記載された本発明の等価物の範囲内である本発明の変形例である限り、本発明はそのような変形例を含む。最後に、本明細書に引用されるすべての公報及び特許出願の内容全体は、個々の刊行物または特許出願を特別かつ個々に本明細書に開示するかのように、援用によって本明細書の内容の一部をなす。

実施形態による試験片ディスペンサの斜視図である。 実施形態による試験片ディスペンサの分解図である。 実施形態による試験片ディスペンサの部分的な分解図である。 図１Ａに示す試験片ディスペンサの断面図である。 図１Ａに示す試験片ディスペンサの断面図である。 図１Ａに示す試験片ディスペンサの断面図である。 図１Ａ〜１Ｃに示す試験片ディスペンサの外部ハウジングの部分的な斜視断面図である。 他の実施形態による試験片ディスペンサの外部ハウジングの部分的な斜視断面図である。 他の実施形態による試験片ディスペンサの外部ハウジングの部分的な斜視断面図である。 図１Ａ〜１Ｃに示す試験片ディスペンサの内部ハウジングの第１端部の斜視断面図である。 図１Ａ〜１Ｃに示す試験片ディスペンサの内部ハウジングの近端部の斜視断面図である。 試験片ディスペンサから測定器の検査位置まで試験片を供給する処理で用いられる一連のステップの部分的な概略垂直断面図である。 試験片ディスペンサから測定器の検査位置まで試験片を供給する処理で用いられる一連のステップの部分的な概略垂直断面図である。 試験片ディスペンサから測定器の検査位置まで試験片を供給する処理で用いられる一連のステップの部分的な概略垂直断面図である。 試験片ディスペンサから測定器の検査位置まで試験片を供給する処理で用いられる一連のステップの部分的な概略垂直断面図である。 試験紙詰まりを防ぐ処理で用いられる一連のステップの概略水平断面図である。 試験紙詰まりを防ぐ処理で用いられる一連のステップの概略水平断面図である。 試験紙詰まりを防ぐ処理で用いられる一連のステップの概略水平断面図である。 試験片ディスペンサの斜視図である。 試験片ディスペンサの分解図である。 試験片ディスペンサの部分的な分解図である。 図１１Ａ〜１１Ｃに示す試験片ディスペンサの断面図である。 図１１Ａ〜１１Ｃに示す試験片ディスペンサの断面図である。 図１１Ａ〜１１Ｃに示す試験片ディスペンサの内部ハウジングの第１端部の部分的な斜視断面図である。 図１１Ａ〜１１Ｃに示す試験片ディスペンサの内部ハウジングの第１端部の斜視断面図である。 図１１Ｂに示す内部ハウジングの第２の部分の内面の拡大斜視図である。 試験片ディスペンサから検査位置まで試験片を供給する処理で用いられる一連のステップの部分的な概略垂直断面図である。 試験片ディスペンサから検査位置まで試験片を供給する処理で用いられる一連のステップの部分的な概略垂直断面図である。 試験片ディスペンサから検査位置まで試験片を供給する処理で用いられる一連のステップの部分的な概略垂直断面図である。 試験片ディスペンサから検査位置まで試験片を供給する処理で用いられる一連のステップの部分的な概略垂直断面図である。 試験片を供給する処理の間、供給される試験片の位置を示している図１１Ｂに示す内部ハウジングの第２の部分の内面の拡大斜視図である。

Claims (20)

1. 複数の試験片を保存するための内部空間を有するとともに、前記試験片が供給される開口を有し、溝部を含む内部ハウジングと、第１の方向に前記内部ハウジングを付勢する付勢装置と、前記試験片が通るように、前記内部ハウジングの開口と実質的に直線上にある開口部を有するとともに、前記内部ハウジングが、前記外部ハウジングのガイド部材に沿って前記第１の方向のほぼ反対方向に移動するとき、前記試験片が固定された状態となるように、前記内部ハウジングの前記溝部と嵌合するガイド部材を有する外部ハウジングとを含む試験片ディスペンサ。
2. 前記溝部は、Ｔ字状の断面を含む、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
3. 前記溝部は、前記内部ハウジングの第１端部に位置する、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
4. 前記ガイド部材は、Ｔ字状のレールを含む、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
5. 前記ガイド部材は、前記外部ハウジングの第１内面に位置する、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
6. 前記内部ハウジングは、前記試験片が供給される前記開口の近傍にチャンネルをさらに含み、前記チャンネルは、一度に１つの前記試験片を収容するように構成される、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
7. 前記外部ハウジングの前記開口部にキャップをさらに含む、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
8. 前記内部ハウジングの近端部の方へ複数の前記試験片を付勢する前記内部ハウジング内のばねを装着するプラットフォームをさらに含む、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
9. 前記内部ハウジングは、第２の部分に接合される第１の部分からなる、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
10. 前記外部ハウジングは、第２部材に接合される第１部材からなる、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
11. 前記付勢装置は、ばねを含む、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
12. 前記付勢装置は、前記ガイド部材に対して近位に位置する、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
13. 前記付勢装置は、前記内部ハウジングの近端部に対して遠位に位置する、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
14. 前記外部ハウジングの第２内面の凹部と係合する前記内部ハウジングの外面上に回動可能に取り付けられる少なくとも１つのフリッパーからなる試験紙詰まりを防ぐ構造をさらに含む、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
15. 前記ガイド部材の近端部上にばねロケータをさらに含む、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
16. 前記内部ハウジングの近端部上にばねロケータをさらに含む、請求項１に記載の試験片ディスペンサ。
17. 試験片を供給するシステムであって複数の試験片と、複数の試験片を保存するための内部空間を有するとともに、前記試験片が供給される開口を有し、溝部を含む内部ハウジングと、第１の方向に前記内部ハウジングを付勢するばねと、前記試験片が通るように、前記内部ハウジングの開口と実質的に直線上にある開口部を有するとともに、前記内部ハウジングが、前記外部ハウジングのガイド部材に沿って前記第１の方向のほぼ反対方向に移動するとき、前記試験片が固定された状態となるように、前記内部ハウジングの前記溝部と嵌合するガイド部材を有する外部ハウジングを含む試験片ディスペンサと、前記試験片ディスペンサの前記内部ハウジングを係合するように構成される試験片ポートと、前記試験片ポートコネクタであり、前記試験片ポートコネクタが前記試験片を係合すると、前記ディスペンサの前記内部ハウジングが前記ガイド部材に沿って移動するように前記試験片ポートに配置される前記試験片ポートコネクタを含む検査測定器とを含むシステム。
18. 前記試験片ポートは、前記検査測定器の近端部から突出し、１つの方向に前記試験片ディスペンサを係合するように構成される、請求項１７に記載のシステム。
19. 前記試験片ポートは、Ｄ字状の部材を含む、請求項１８に記載のシステム。
20. 前記第１の方向に対して直角の方向に複数の前記試験片に付勢するばねをさらに含む、請求項１７に記載のシステム。

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