JP2008191081A - コンタクトプローブ - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 162
- 238000013016 damping Methods 0.000 claims description 25
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 27
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000013017 mechanical damping Methods 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
【解決手段】ベース部2aに対してプロービング方向における相対的な移動が可能に配設された当接部5aと、ベース部2aに対して当接部5aとは別個独立してプロービング方向における相対的な移動が可能に配設されて相互に絶縁された中心電極4aおよび外側電極3aと、ベース部2aおよび当接部5aをプロービング方向において相反する向きに付勢するスプリング6a,8aと、ベース部2aおよび外側電極3aをプロービング方向において相反する向きに付勢するスプリング6aと、中心電極4aおよび外側電極3aをプロービング方向において相反する向きに付勢するスプリング7aとを備えると共に、非プロービング状態において当接部5aの当接側端部が中心電極4aおよび外側電極3aの接触側端部よりもプロービング方向側に突出している。
【選択図】図1
Description
2a〜2c ベース部
3a,3b 外側電極
4a,4b 中心電極
4c 電極
5a〜5c 当接部
6a〜6c,7a,7b,8a〜8c スプリング
9a〜9c オイルダンパ機構
15 弾性部材
X プロービング対象体
Claims (6)
- ベース部に対してプロービング方向における相対的な移動が可能に配設された当接部と、前記ベース部に対して前記当接部とは別個独立して前記プロービング方向における相対的な移動が可能に配設されて相互に絶縁された第1電極および第2電極と、前記ベース部および前記当接部を前記プロービング方向において相反する向きに付勢する第1付勢部材と、前記ベース部および前記第2電極を前記プロービング方向において相反する向きに付勢する第2付勢部材と、前記第1電極および前記第2電極を前記プロービング方向において相反する向きに付勢する第3付勢部材とを備えると共に、非プロービング状態において前記当接部の当接側端部が前記第1電極の接触側端部および前記第2電極の接触側端部よりも前記プロービング方向側に突出しているコンタクトプローブ。
- 前記第1電極および前記第2電極のいずれか一方としてのピン状の中心電極と、前記第1電極および前記第2電極のいずれか他方としての筒状の外側電極とを備えて、当該外側電極内に前記中心電極が挿入されている請求項1記載のコンタクトプローブ。
- ベース部に対してプロービング方向における相対的な移動が可能に配設された当接部と、前記ベース部に対して前記当接部とは別個独立して前記プロービング方向における相対的な移動が可能に配設された単一の電極と、前記ベース部および前記当接部を前記プロービング方向において相反する向きに付勢する第1付勢部材と、前記ベース部および前記電極を前記プロービング方向において相反する向きに付勢する第2付勢部材とを備えると共に、非プロービング状態において前記当接部の当接側端部が前記電極の接触側端部よりも前記プロービング方向側に突出しているコンタクトプローブ。
- 前記当接部は、非導電性の弾性部材が前記当接側端部に取り付けられて構成されている請求項1から3のいずれかに記載のコンタクトプローブ。
- 前記ベース部に対する前記当接部の前記プロービング方向における移動速度を低下させる減衰機構を備えている請求項1から4のいずれかに記載のコンタクトプローブ。
- 前記減衰機構としてのオイルダンパ機構を備えている請求項5記載のコンタクトプローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007027925A JP4993187B2 (ja) | 2007-02-07 | 2007-02-07 | コンタクトプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007027925A JP4993187B2 (ja) | 2007-02-07 | 2007-02-07 | コンタクトプローブ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008191081A true JP2008191081A (ja) | 2008-08-21 |
JP4993187B2 JP4993187B2 (ja) | 2012-08-08 |
Family
ID=39751306
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007027925A Expired - Fee Related JP4993187B2 (ja) | 2007-02-07 | 2007-02-07 | コンタクトプローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4993187B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010066017A (ja) * | 2008-09-08 | 2010-03-25 | Unitech Printed Circuit Board Corp | 精密プリント基板測定ジグ |
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