JP2008191078A - Psd素子の検出値の補正方法およびこれを用いるレール変位量測定装置 - Google Patents
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Abstract
PSD対応にPSDの検出値の補正することにより位置検出精度を向上させることができるPSDの検出値の補正方法を提供することにある。
【解決手段】
この発明は、実際に用いているPSDについて二次関数の各係数A,B,Cの値を得ておき、実際に用いているPSDでレール(測定対象)を測定して検出値yaを得て、前記の一次式の係数a,bからレール変位量xを求め、さにらこのxからΔY=Ax2+Bx+Cを求めて検出値yaをΔYで補正して補正した検出値ybを得るものである。
【選択図】 図1
Description
このPSDを用いてレールの左右の変位量を測定する装置としては出願人によるレール変位量測定装置がすでに公知である(特許文献1)。
単純な補正として、従来、PSDの受光位置に対して補正値テーブルを設けることが行われているが、受光位置の分解能を高くすると、その分、補正値テーブルの容量が大きくなり、かつ、補正処理に時間がかかる問題がある。そこで、ある程度の範囲を直線近似あるいは折れ線近似で補正する近似方式が採られている。しかし、レール変位量の測定仕様として±40mm以下で誤差を±0.5mm以内に納めるとなると、現在のところ軌道検測車を走行させた状態でのレール変位量測定は難しいところである。
一方、前記のような仕様の要請に応えるために、PSD以外のCCD等を用いるレーザ測長装置などにすると軌道検測車上に搭載する装置としては大型化しかつ高価にならざるを得ない。
この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決するものであり、PSD対応にPSDの検出値の補正することにより位置検出精度を向上させることができるPSDの検出値の補正方法を提供することにある。
この発明の他の目的は、PSD対応にPSDの検出値の補正することによりレール変位量の測定精度を向上させることができるレール変位量測定装置を提供することにある。
既知のレールの変位量xに対する実測値yaとの関係から前記一次関数の各係数a,bを求め、さらに少なくとも3点のレール変位量xに対する検出値yaとy=kxとからこれらの間の誤差ΔY(=y−ya)を二次関数ΔY= Ax2+Bx+Cとして既知のレールの変位量xに対する実測値yaとの関係からこの二次関数の各係数A,B,Cを求めて、
測定時におけるPSDの検出値yaからya=ax+bの式に従うレール変位量xを求め、さらにこのレール変位量xから論理的な検出値yとPSDの検出値yaとの誤差ΔYをΔY=Ax2+Bx+Cにより得てPSDの検出値yaをya+ΔYに補正するものである。
そこで、この発明にあっては、実際に用いているPSDについて二次関数の各係数A,B,Cの値を得ておき、実際に用いているPSDでレール(測定対象)を測定して検出値yaを得て、前記の一次式の係数a,bからレール変位量xを求め、さらにこのxからΔY=Ax2+Bx+Cを求めて検出値yaをΔYで補正して補正した検出値ybを得るものである。
これにより、誤差のない論理的な検出値yに近い検出値ybを得て、実際の測定値としてのレール変位量xを誤差のない論理的な一次関数式y=kxに従って算出することができる。
このように一次関数ya=ax+bから得られるレール変位量xから二次関数ΔY=Ax2+Bx+Cで検出値yaをさらに誤差補正することで、検出値yaを補正して得た検出値ybは、PSDの受光位置とは直線的な関係で1: 1に近い対応関係となるので、位置検出精度を向上させることができる。
その結果、PSDの検出精度を向上させることができ、レール変位量測定装置のレール変位量の測定精度を向上させることができる。
図1において、10は、軌道検測車に搭載されるレール変位量測定装置であって、軌道検測車の搭載状態と同じ条件で一次関数,二次関数の各係数の測定装置4に設置されている。
すなわち、レール変位量測定装置10は、所定の長さの測定レール1に対して斜め上方に投光器5と受光器6とを有する光学測定部7とレール変位検出部8、そしてデータ処理・制御装置9を有し、一次関数,二次関数の各係数の測定装置4の測定レール1を測定する関係に配置されている。この測定レール1とレール変位量測定装置10との関係は、軌道検測車における走行レールとの位置関係に一致している。
光学測定部7は、投光器5から帯状のレーザパルス光Lを測定レール1に直行する方向に照射し、その反射光Rを受光器6に設けられたPSD63で受けて反射光RのPSD63上の受光位置に応じた2つの検出信号を得てレール変位量(レール移動量)xに対応する検出値を発生する。
5は投光器であって、投光器5のレーザ光源52には強力な、例えば数百〜千数百Wで極めて短い時間幅のレーザパルスを発生するLDを使用し、これをレール変位検出部8のパルス駆動回路により励起する。このパルス駆動回路は、図2(a)に示すレール変位検出部8の投光回路部に設けられたパルスジェネレータ回路81とドライバ回路82により構成される。
レーザ光源52からのレーザは、投光レンズ53を通してシリンドリカルレンズ54により光帯とされ、測定レールに対して所定の角度で投光される。
なお、ここでは、測定レールは、初期位置に設定され、前後±40mm移動させるものとする。
レールにより反射されたレーザは、ミラー61により受光方向に反射され、集束レンズ62により測定レールの変位に対応したPSD63の受光位置に結像される。
PSD63の2端子A,B(図2(a),(b)参照)からの検出信号は、レール変位検出部8の受光回路に送出される。受光回路は、図2(a)に示すように、PSD63の2端子A,Bにそれぞれ接続されたプリアンプ64a,64b、サンプルホールド回路65a,65bと、サンプルホールド回路65a,65bの出力をA/D変換する16ビットA/D変換回路66、そしてA/D変換されたデータをデータ処理・制御装置9に送信する光ファイバモジュール送信回路67とからなる。
なお、符号に付加したa,bはそれぞれ図2(b)に示すPSD63の2端子A,Bに対応して設けられている回路である。A/D変換回路67は、PSD63の2端子A,Bからの受光信号を時分割で交互にデジタル値に変換してデータ処理・制御装置9に送出する。
レール変位検出部8の投光回路と受光回路は、それぞれデータ処理・制御装置9に接続されて制御される。
なお、レール変位検出部8は、光学測定部7の内部に設けられていてもよい。また、ミラー61の手前にはレーザの波長を透過させるノイズ除去用の透過フィルタが設けられてもよい。
メモリ92には、受光位置算出プログラム92aと、レール移動測定プログラム92b、PSD一次関数算出プログラム92c、PSD二次関数算出プログラム92d、レール変位量算出プログラム92e、そして補正検出値算出プログラム92f等が格納され、パラメータ領域92g、作業領域92hとが設けられている。
ya=(VA−VB)/(VA+VB)
ただし、yaは、端子Aからの距離、VAは、端子Aから得られるピーク電圧値、VBは、端子Bから得られるピーク電圧値である(図2(b)参照)。なお、PSD63の2端子A,Bから電流値が得られるものでは、VA,VBはそれぞれ電流値IA,IBに置き換わる。なお、以下では電圧値で説明する。
ここで、移動台2上の測定レールの初期位置は、ya=0の位置でVA=VBとなるPSD63の中央位置に来るように位置設定されているが、実際には、VA=VBとはならない。この測定レールの初期位置に対応するPSD63の受光位置を基準位置として端子B側方向を−側(測定レールが内側に変位)とし、中央位置から端子A側方向を+側(測定レールが外側に変位)としてPSD63上の受光位置yaを検出(算出)する。
MPU91は、さらに、以上の測定を複数回繰り返し、順次記憶されたレール変位の各測定位置についてレール移動位置が同一の位置における複数個の測定値の平均値を算出して、各位置に対応する平均値多数、例えば、16個を得て作業領域92hへ記憶した後にコール元のメインプログラムにリターンする。
PSD63上の受光位置yaは、レール移動量をXとすると、誤差がない場合には、これらは一対一に対応して図3(a)に示すような、y=k・xの直線状に載るはずである。なお、縦軸は、VA=VBとなるPSD63の中央位置を原点として受光位置yaを1mmを1000として1000倍率で表している。
横軸は、測定レールの移動量X[mm]である。なお、y=k・xの傾きkは、誤差のない論理的なPSDの検出値yと前記レールの変位量xとの間に成立する関数を原点を通る直線関係で対応させたもので、前記の1000倍を加えた係数である。これは、実際に複数個あるいは多数のレール変位量測定装置に使用される同一製品のPSDを測定して理想直線を描くことで得られる。パラメータ領域92gにkはあらかじめ記憶されている。
しかし、実際に検測車に搭載されたレール変位量測定装置の搭載された個別のPSD63の実測データの受光位置yaと測定レールの移動量X(レール変位量xに対応)との関係は、図3(b)に示す特性グラフAのように、理想的なものではない。
そこで、PSD63から受光位置yaと測定レールの移動量Xとを得て、これが直線上に乗るものとして関数をy=ax+bとして傾きaとy軸上の切片bとを求める。
その直線は、例えば、x=30mmのときのyaの値とx=−30mmのときのyaの値の2点から算出できる。
例えば、x=30mmのときのyaは、ya=4.5、x=−30mmのときのyaは、ya=−2.8であったとする。yaは、前記したように1000倍して関数式を求めるので、
4500=a×30+b …(1)
−2800=a×−30+b …(2)
の2式を解くと、傾きa=730/6,切片b=850となる。
MPU91は、PSD一次関数算出プログラム92cを実行して算出した傾きa=730/6と切片b=850とを作業領域92hに記憶し、PSD二次関数算出プログラム92dをコールする。
なお、PSD一次関数算出プログラム92cの実行時に、x=30mmのときのyaの値とx=−30mmのときのyaの値の2点の1000倍値を作業領域92hに記憶しておけば、y=ax+bの算出をする必要はない。したがって、レール移動量の値を同じ2点とすれば、一次関数の算出は不要である。
次に、MPU91は、x=30mm,x=−30mmのときの差値ΔY=y−yaを算出する。このΔYは、誤差のない論理的なPSDの検出値yと実際のPSDの検出値yaとの誤差に相当する。この発明では、この誤差を二次曲線近似をして算出する。
ΔY1=ya3−ya1 …(3)
ΔY2=ya4−ya2 …(4)
補正関数を図(c)に示す二次曲線関数ΔY=Ax2+Bx+Cとして、Y=0のときの係数Cをまず求め、さらにこの式にx=30mm,ya=ΔY1,x=−30mm,ya=ΔY2からこの式における係数A,Bを得る。
次に、以上により得られた一次関数の係数a,bと二次関数の係数A,B,Cとをそれぞれメモリ92のパラメータ領域92gに記憶する。
レール変位量測定装置10を搭載した軌道検測車の走行状態において、レール変位量算出プログラム92eは、キーボード95における測定開始の機能キー入力があったときに、軌道検測車の車輪の回転に応じて発生する距離パルスを受けてコールされて、MPU91により実行される。これをMPU91が実行して、MPU91は、受光位置算出プログラム12bをコールして実行して受光位置の算出値を検出信号yaとして得る。このときの検出信号yaは、軌道検測車の走行状態における実際のレールの変位に対応して検出される検出信号である。
さらに、メモリ92のパラメータ領域92gに記憶された一次関数の係数a,bを読出してこれに基づいて検出値yaから前記関数ya=ax+bに基づいてxを求める。次にメモリ92のパラメータ領域92gに記憶された二次関数の係数A,B,Cを読出してこれに基づいて誤差ΔY=Ax2+Bx+Cを算出して実際のPSDの検出値yaに誤差ΔY=Ax2+Bx+Cを加えて補正し、これにyaを加えて、誤差のない論理的なPSDの検出値yに近い補正検出値ybを得る。あるいはyb=ya+Ax2+Bx+Cにより補正検出値yb得る。算出された補正検出値ybから最後にyb=kxに基づいて実際の測定されるレール変位量xをレール変位量として算出する。
その結果、距離パルスに応じてレール変位量xが算出され、現在の走行位置に応じてレール変位量xがHDD97の所定の領域に記録される。
3…ボールスクリュウ移動機構、
4…一次関数,二次関数の各係数の測定装置、
4a…ステッピングモータ、4b…駆動回路、
5…投光器、52…レーザ光源、
53…投光レンズ、54…シリンドリカルレンズ、
6…受光器、61…ミラー、62…集束レンズ、
63…PSD、64a,64b…プリアンプ,
65a、65b…サンプルホールド回路、
66…A/D変換回路、
7…光学測定部、8…レール変位検出部、
81…パルスジェネレータ回路、82…ドライバ回路、
9…データ処理・制御装置、91…MPU、
92…メモリ、93…インタフェース、
94…ディスプレイ、95…キーボード、96…バス、
97…外部記憶装置(HDD)、
92a…受光位置算出プログラムと、
92b…レール移動測定プログラム、
92c…PSD一次関数算出プログラム、
92d…PSD二次関数算出プログラム、
92e…レール変位量算出プログラム、
92f…補正検出値算出プログラム、
92g…パラメータ領域、92h…作業領域。
Claims (4)
- 軌道検測車に搭載され、レールに対して斜め上方に投光器および受光器を設けて前記投光器から帯状のレーザパルス光を前記レールに直行する方向に照射し、その反射光を前記受光器に設けられたPSD素子で受けて前記反射光の前記PSD素子上の受光位置に応じた2つの検出信号を得てレール変位量に対応する検出値を算出するPSD素子の検出値の算出方法において、
前記誤差のない論理的なPSD素子の検出値yと前記レールの変位量xとの間に成立する関数を一次関数式y=kx(ただし、kは係数)として原点を通る直線に対応させ、実際に用いているPSD素子の検出値yaと前記レールの変位量xとの間に成立する前記一次関数に対応する関数をya=ax+bとして、
既知の前記レールの変位量xに対する実測値yaとの関係から前記一次関数の各係数a,bを求め、さらに少なくとも3点のレール変位量xに対する検出値yaと前記y=kxとからこれらの間の誤差ΔY(=y−ya)を二次関数ΔY= Ax2+Bx+Cとして既知の前記レールの変位量xに対する実測値yaとの関係からこの二次関数の各係数A,B,Cを求めて、
測定時におけるPSD素子の検出値yaからya=ax+bの式に従うレール変位量xを求め、さらにこのレール変位量xから前記論理的な検出値yと前記PSD素子の検出値yaとの誤差ΔYをΔY=Ax2+Bx+Cにより得て前記PSD素子の検出値yaをya+ΔYに補正するPSD素子の検出値の補正方法。 - 前記PSD素子上の受光位置が次の式から算出される請求項2記載のPSD素子の検出値の補正方法。
ya=(VA−VB)/(VA+VB)
ただし、VA,VBは、前記PSD素子の両端から得られるピークを持つ前記2つの検出信号についての電圧である。 - 軌道検測車に搭載され、レールに対して斜め上方に投光器および受光器を設けて前記投光器から帯状のレーザパルス光を前記レールに直行する方向に照射し、その反射光を前記受光器に設けられたPSD素子で受けて前記反射光の前記PSD素子上の受光位置に応じた2つの検出信号を得てレール変位量に対応する検出値を算出するレール変位量測定装置において、
前記誤差のない論理的なPSD素子の検出値yと前記レールの変位量xとの間に成立する関数を一次関数式y=kx(ただし、kは係数)として原点を通る直線に対応させ、実際に用いているPSD素子の検出値yaと前記レールの変位量xとの間に成立する前記一次関数に対応する関数をya=ax+bとして、
既知の前記レールの変位量xに対する実測値yaとの関係から前記一次関数の各係数a,bを求め、さらに少なくとも3点のレール変位量xに対する検出値yaと前記y=kxとからこれらの間の誤差ΔY(=y−ya)を二次関数ΔY= Ax2+Bx+Cとして既知の前記レールの変位量xに対する実測値yaとの関係からこの二次関数の各係数A,B,Cを求めたこれらa,b,A,B,Cを記憶するメモリと、
前記実際に用いているPSD素子によりあるレールについて検出された検出値yaから前記関数ya=ax+bに基づいてxを求め、さらにyb=Ax2+Bx+C+yaによりybを求め、最後にyb=kxに基づいて検出されるレール変位量xを求めるレール変位量測定装置。 - 前記PSD素子上の受光位置が次の式から算出される請求項3記載のレール変位量測定装置。
ya=(VA−VB)/(VA+VB)
ただし、VA,VBは、前記PSD素子の両端から得られるピークを持つ前記2つの検出信号についての電圧である。
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