JP2008172714A - 光変調装置および光変調方法 - Google Patents

Abstract

【課題】ＩＱアーム間の位相差およびＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を高精度に補償すること。
【解決手段】発振回路１０１、位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂは、２つのデータ信号の位相を所定周波数で変動させる。位相変調器１０６は、所定周波数で位相が変動する２つのデータ信号に基づいて位相変調を行う。監視部１１４、ＴＩＡ１１７、バンドパスフィルタ１１８および同期検波部１１９は、位相変調器１０６によって変調された信号から所定周波数の成分を抽出する。位相制御部１２０は、抽出された信号の成分に基づいて２つのデータ信号の位相を制御する。
【選択図】図１

Description

この発明は、位相変調を行う光変調装置および光変調方法に関する。

近年、伝送トラフィックの増加に伴い、次世代の４０Ｇｂｐｓ光伝送システム導入の要求が高まっている。しかも、４０Ｇｂｐｓ光伝送システムにおいて、従来の１０Ｇｂｐｓ光伝送システムと同等の伝送距離や周波数利用効率が求められている。その実現手段として、光信号対雑音比（ＯＳＮＲ：Ｏｐｔｉｃａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｎｏｉｓｅ Ｒａｔｉｏ）耐力、非線形性耐力に優れたＲＺ−ＤＰＳＫ（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ Ｐｈａｓｅ Ｓｈｉｆｔ Ｋｅｙｉｎｇ）やＣＳＲＺ−ＤＰＳＫ変調方式といった変調方式の研究開発が活発になっている。

図２１は、従来の光変調装置の構成を示すブロック図である。図２１に示す光変調装置２１００は、４０ＧｂｐｓのＲＺ−ＤＱＰＳＫ変調方式を採用した光変調装置である。ＲＺ−ＤＱＰＤＫ変調方式は、狭スペクトル（高周波数利用効率）の特徴を持つため、次世代の光伝送システムの変調方式の有力候補として期待されている（たとえば、下記特許文献１参照。）。

位相変調器２１１０は、ＩアームおよびＱアームを構成する２つのマッハツェンダ型干渉計を有し、４値の位相変調を行うＤＱＰＳＫ変調器である。ＩアームおよびＱアームは、それぞれに入力されるデータ信号に基づいて２値の位相変調を行う。位相変調器２１１０は、ＩアームおよびＱアームが変調した信号を合波して、ＤＱＰＳＫ変調信号としてＲＺ変調器２１２０へ出力する。

ＲＺ変調器２１２０は、位相変調器２１１０から出力された４値の位相変調信号に対して、入力されるクロック信号に基づいてＲＺ変調を行う。ＲＺ変調器２１２０は、ＲＺ変調を行った信号をＲＺ−ＤＱＰＳＫ変調信号として外部へ出力する。

特表２００４−５１６７４３号公報

しかしながら、上述した光変調装置２１００では、温度変動や経時変動によって、回路中の位相遅延量が変化し、回路中の各部の位相にずれが生じるという問題がある。特に、Ｉアーム、Ｑアームへデータ信号を出力する回路における温度変動や経時変動によって、図２１の符号２１１１で示すＩアームにおける位相と、符号２１１２で示すＱアームにおける位相と、の差異（以下、「ＩＱアーム間の位相差」）が生じる。

また、Ｉアーム、Ｑアームへデータ信号を出力する回路や、ＲＺ変調器２１２０へクロック信号を出力する回路における温度変動や経時変動によって、図２１の符号２１２１で示す位相変調器２１１０から出力されるＤＱＰＳＫ変調信号の位相と、符号２１２２で示すＲＺ変調器２１２０のクロック信号の位相と、の差異（以下、「Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差」）が生じる。

図２２−１は、ＩＱアーム間の位相差が０ｐｓの場合の位相変調器の出力波形を示すグラフである。図２２−２は、ＩＱアーム間の位相差が−１０ｐｓの場合の位相変調器の出力波形を示すグラフである。図２２−３は、ＩＱアーム間の位相差が＋１０ｐｓの場合の位相変調器の出力波形を示すグラフである。

図２２−１〜図２２−３において、横軸は時間［ｐｓ］を、縦軸は強度［ｕＷ］を示している（図２３−１〜図２４−３において同様）。また、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差は０ｐｓであるとする（図２３−１〜図２３−３において同様）。図２２−２および図２２−３に示すように、ＩＱアーム間の位相差が生じた場合の位相変調器２１１０の出力波形は、図２２−１に示すＩＱアーム間の位相差がない場合の位相変調器２１１０の出力波形と比較して劣化する。

図２３−１は、ＩＱアーム間の位相差が０ｐｓの場合のＲＺ変調器の出力波形を示すグラフである。図２３−２は、ＩＱアーム間の位相差が−１０ｐｓの場合のＲＺ変調器の出力波形を示すグラフである。図２３−３は、ＩＱアーム間の位相差が＋１０ｐｓの場合のＲＺ変調器の出力波形を示すグラフである。図２３−２および図２３−３に示すように、ＩＱアーム間の位相差が生じた場合のＲＺ変調器２１２０の出力波形は、図２３−１に示すＩＱアーム間の位相差がない場合のＲＺ変調器２１２０の出力波形と比較して劣化する。

図２４−１は、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差が０ｐｓの場合のＲＺ変調器の出力波形を示すグラフである。図２４−２は、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差が−５ｐｓの場合のＲＺ変調器の出力波形を示すグラフである。図２４−３は、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差が＋５ｐｓの場合のＲＺ変調器の出力波形を示すグラフである。

図２４−１〜図２４−３において、ＩＱアーム間の位相差はほぼ０ｐｓであるとする。図２４−２および図２４−３に示すように、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差が生じた場合のＲＺ変調器２１２０の出力波形は、図２４−１に示すＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差がない場合のＲＺ変調器２１２０の出力波形と比較して劣化する。

図２５は、光変調装置における位相差とＱ値ペナルティとの関係を示すグラフである。図２５において、横軸は位相差［ｐｓ］を、縦軸はＱ値ペナルティ［ｄＢ］を示している。特性２５０１は、ＩＱアーム間の位相差によるＱ値ペナルティの変化を示している。特性２５０２は、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差によるＱ値ペナルティの変化を示している。

図２５に示すように、ＩＱアーム間の位相差によるＱ値ペナルティおよびＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差によるＱ値ペナルティは、位相差が大きくなるにつれて大きくなる。このため、温度変動や経時変動で生じるＩＱアーム間およびＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差により、光送信装置の送信性能を劣化させる。

符号２５０３は、Ｑ値ペナルティが０．１ｄＢとなるしきい値を示している。Ｑ値ペナルティを０．１ｄＢまで許容するとした場合、許容されるＩＱアーム間の位相差の範囲は−１０ｐｓ〜＋１０ｐｓ、許容されるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差の範囲は−６ｐｓ〜＋６ｐｓとなる。

これに対して、温度モニタ情報を用いて複数の変調器の駆動信号間の位相差を補償することが考えられる。しかし、この場合、温度モニタ情報によるフィードフォワード制御のため、あらかじめ温度依存性、経時変動特性、個体ばらつきなどの情報が必要となり、高精度な位相差制御は困難であるという問題がある。

この発明は、上述した問題点を解消するものであり、ＩＱアーム間の位相差およびＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を高精度に補償して光送信装置の送信性能を向上させることができる光変調装置および光変調方法を提供することを目的とする。

この発明にかかる光変調装置は、２つのデータ信号の位相を所定周波数で変動させる変動手段と、前記所定周波数で位相が変動する２つのデータ信号に基づいて位相変調を行う多値位相変調手段と、前記多値位相変調手段によって変調された信号から前記所定周波数の成分を抽出する抽出手段と、前記抽出手段によって抽出された前記信号の成分に基づいて前記２つのデータ信号の位相を制御する位相制御手段と、を備えることを特徴とする。

上記構成によれば、変動手段によって２つのデータ信号の位相を所定周波数で変動させ、多値位相変調手段によって変調された信号から抽出手段によって抽出された所定周波数の成分に基づいて２つのデータ信号の位相をフィードバック制御することでＩＱアーム間の位相差を高精度に補償することができる。

また、この発明にかかる光変調装置は、２つのデータ信号に基づいて位相変調を行う多値位相変調手段と、クロック信号の位相を所定周波数で変動させる変動手段と、前記所定周波数で位相が変動するクロック信号に基づいてＲＺ変調を行うＲＺ変調手段と、前記ＲＺ変調手段によって変調された信号から前記所定周波数の成分を抽出する抽出手段と、前記抽出手段によって抽出された前記信号の成分に基づいて前記クロック信号の位相を制御する位相制御手段と、を備えることを特徴とする。

上記構成によれば、変動手段によってクロック信号の位相を所定周波数で変動させ、ＲＺ変調手段によって変調された信号から抽出手段によって抽出された所定周波数の成分に基づいてクロック信号の位相をフィードバック制御することでＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を高精度に補償することができる。

以上説明したように、この発明によれば、ＩＱアーム間の位相差およびＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を高精度に補償して光送信装置の送信性能を向上させることができるという効果を奏する。

以下に添付図面を参照して、この発明にかかる光変調装置および光変調方法の好適な実施の形態を詳細に説明する。

（実施の形態１）
図１は、実施の形態１にかかる光変調装置の構成を示すブロック図である。光変調装置１００は、４値の位相変調を行い、さらにＲＺ変調を行うＲＺ−ＤＱＰＳＫ変調装置である。また、光変調装置１００は、４０Ｇｂｐｓのビットレート（２０ＧＨｚのボーレート）で変調を行うとする。図１において、実線はデータ信号、太線はクロック信号、点線は制御信号をそれぞれ示している。

図１に示すように、実施の形態１にかかる光変調装置１００は、発振回路１０１と、乗算回路１０２（１０２ａおよび１０２ｂ）と、位相シフタ１０３（１０３ａおよび１０３ｂ）と、ＤＦＦ１０４（１０４ａおよび１０４ｂ）と、ドライバアンプ１０５（１０５ａおよび１０５ｂ）と、光源１０７と、位相変調器１０６と、ドライバアンプ１１２と、ＲＺ変調器１１３と、監視部１１４と、ＴＩＡ１１７と、バンドパスフィルタ１１８と、同期検波部１１９と、位相制御部１２０と、を備えている。

発振回路１０１は、所定周波数の信号を発振する。所定周波数の信号とは、光変調装置１００におけるクロック信号に対して十分に低い周波数ｆ０（たとえば１ｋＨｚ）の低周波信号である。発振回路１０１は、発振した低周波信号を、乗算回路１０２ａおよび乗算回路１０２ｂを介して位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂへ出力する。発振回路１０１は、乗算回路１０２ａおよび乗算回路１０２ｂへ等しい振幅の低周波信号を出力する。

ここでは、発振回路１０１には反転部１０１ｃが設けられている。反転部１０１ｃは、発振回路１０１が乗算回路１０２ｂへ出力する低周波信号を反転させる。すなわち、発振回路１０１は、乗算回路１０２ｂへ出力する低周波信号の位相を、乗算回路１０２ａへ出力する低周波信号の位相に対して１８０度ずらす。この場合も、発振回路１０１は、乗算回路１０２ａおよび乗算回路１０２ｂへ等しい振幅の低周波信号を出力する。また、発振回路１０１は、発振した低周波信号を同期検波部１１９へ出力する。

乗算回路１０２ａは、発振回路１０１から出力された低周波信号と、位相制御部１２０から出力された位相シフタ１０３ａに対する制御信号と、を乗算する。乗算回路１０２ａは、乗算した信号を位相シフタ１０３ａへ出力する。乗算回路１０２ｂは、発振回路１０１から出力された低周波信号と、位相制御部１２０から出力された位相シフタ１０３ｂに対する制御信号と、を乗算する。乗算回路１０２ｂは、乗算した信号を位相シフタ１０３ｂへ出力する。

位相シフタ（ＰＳ：Ｐｈａｓｅ Ｓｈｉｆｔｅｒ）１０３ａは、クロック信号（ここでは２０ＧＨｚ）を入力してＤＦＦ１０４ａへ出力する。また、位相シフタ１０３ａは、乗算回路１０２ａから出力された信号に基づいて、ＤＦＦ１０４ａへ出力するクロック信号の位相を周波数ｆ０で変動させる。また、位相シフタ１０３ａは、位相制御部１２０から乗算回路１０２ａを介して出力された制御信号に基づいて、ＤＦＦ１０４ａへ出力するクロック信号の位相を調節する。

位相シフタ（ＰＳ）１０３ｂは、クロック信号（ここでは２０ＧＨｚ）を入力してＤＦＦ１０４ｂへ出力する。また、位相シフタ１０３ｂは、乗算回路１０２ｂから出力された信号に基づいて、ＤＦＦ１０４ｂへ出力するクロック信号の位相を周波数ｆ０で変動させる。また、位相シフタ１０３ｂは、位相制御部１２０から乗算回路１０２ｂを介して出力された制御信号に基づいて、ＤＦＦ１０４ｂへ出力するクロック信号の位相を調節する。

ＤＦＦ（Ｄｅｌａｙ Ｆｌｉｐ−Ｆｌｏｐ）１０４ａは、データ信号（ここでは２０Ｇｂｐｓ）を入力する。また、ＤＦＦ１０４ａは、位相シフタ１０３ａから出力されたクロック信号を駆動信号として、入力したデータ信号をドライバアンプ１０５ａへ出力する。ＤＦＦ１０４ｂは、データ信号（ここでは２０Ｇｂｐｓ）を入力する。また、ＤＦＦ１０４ｂは、位相シフタ１０３ｂから出力されたクロック信号を駆動信号として、入力したデータ信号をドライバアンプ１０５ｂへ出力する。

ドライバアンプ１０５ａは、ＤＦＦ１０４ａから出力されたデータ信号を適宜増幅して位相変調器１０６へ出力する。ドライバアンプ１０５ｂは、ＤＦＦ１０４ｂから出力されたデータ信号を適宜増幅して位相変調器１０６へ出力する。光源（ＬＤ）１０７は、連続光を生成して位相変調器１０６へ出力する。光源１０７は、ここではＬＤ（Ｌａｓｅｒ Ｄｉｏｄｅ）によって構成されている。

位相変調器１０６は、ＩアームとＱアームとを構成する２つのマッハツェンダ型干渉計を備えるＤＱＰＳＫ変調器である。位相変調器１０６は、分岐部１０８と、位相変調部１０９ａと、位相変調部１０９ｂと、遅延部１１０と、合波部１１１と、を備えている。分岐部１０８は、光源１０７から出力された連続光を分岐する。分岐部１０８は、分岐した連続光を位相変調部１０９ａおよび位相変調部１０９ｂへ出力する。

位相変調部１０９ａは、ＤＰＱＳＫ変調器におけるＩアームを構成するマッハツェンダ型干渉計である。位相変調部１０９ａは、分岐部１０８から出力された連続光に対して、ドライバアンプ１０５ａから出力されたデータ信号に基づいて２値の位相変調を行う。位相変調部１０９ａは、位相変調を行った光信号を合波部１１１へ出力する。

位相変調部１０９ｂは、ＤＰＱＳＫ変調器におけるＱアームを構成するマッハツェンダ型干渉計である。位相変調部１０９ｂは、分岐部１０８から出力された連続光に対して、ドライバアンプ１０５ｂから出力されたデータ信号に基づいて２値の位相変調を行う。位相変調部１０９ｂは、位相変調を行った光信号を遅延部１１０へ出力する。

遅延部１１０は、位相変調部１０９ｂから出力された光信号に対して、位相をπ／２だけ遅延させる。遅延部１１０は、遅延させた光信号を合波部１１１へ出力する。合波部１１１は、位相変調部１０９ｂから出力された光信号と、遅延部１１０から出力された光信号と、を合波する。合波部１１１は、合波した光信号をＲＺ変調器１１３へ出力する。

ドライバアンプ１１２は、クロック信号（ここでは２０ＧＨｚ）を入力してＲＺ変調器１１３へ出力する。ＲＺ変調器１１３は、ドライバアンプ１１２から出力されたクロック信号に基づいて、位相変調器１０６から出力された光信号に対してＲＺ変調を行う。ＲＺ変調器１１３は、ＲＺ変調を行った光信号を監視部１１４へ出力する。

監視部１１４は、ＲＺ変調器１１３から出力された光信号を監視する。監視部１１４は、光カプラ１１５と、受光部（ＰＤ）１１６と、を備えている。光カプラ１１５は、ＲＺ変調器１１３から出力された光信号を分岐する。光カプラ１１５は、分岐した光信号の一方を装置外部へ出力し、他方を受光部１１６へ出力する。

受光部１１６は、光カプラ１１５から出力された光信号を受光して電気信号に変換する。受光部１１６は、変換した電気信号をモニタ信号としてＴＩＡ１１７へ出力する。受光部１１６は、ここではＰＤ（Ｐｈｏｔｏ Ｄｅｔｅｃｔｏｒ）によって構成されている。ＴＩＡ（Ｔｒａｎｓ Ｉｍｐｅｄａｎｃｅ Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）１１７は、監視部１１４から出力されたモニタ信号を適宜増幅してバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）１１８へ出力する。

バンドパスフィルタ（ＢＰＦ：Ｂａｎｄ Ｐａｓｓ Ｆｉｌｔｅｒ）１１８は、ＴＩＡ１１７から出力されたモニタ信号のうち、周波数がｆ０付近の成分を抽出する。これにより、ＴＩＡ１１７から出力されたモニタ信号のノイズを低減することができる。バンドパスフィルタ１１８は、抽出したモニタ信号を同期検波部１１９へ出力する。なお、バンドパスフィルタ１１８はここでは省略可能である。

同期検波部１１９は、発振回路１０１から出力された低周波信号と、バンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号と、に基づいて同期検波を行う。同期検波部１１９は、同期検波を行うことにより、バンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号から、低周波信号と同じ周波数ｆ０の成分を抽出する。同期検波部１１９は、抽出したモニタ信号のｆ０成分を位相制御部１２０へ出力する。

位相制御部１２０は、同期検波部１１９から出力されたモニタ信号のｆ０成分に基づいて、位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂによる位相差調節を制御する。具体的には、バンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度が最小となる、あるいは、同期検波部１１９から出力された同期検波特性が０（ゼロ）近傍の値となるように位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂの少なくとも一方を制御する。位相制御部１２０は、位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂを制御する制御信号をそれぞれ乗算回路１０２ａおよび乗算回路１０２ｂを介して位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂへ出力する。

なお、ここでは、位相変調器１０６およびＲＺ変調器１１３とは別に監視部１１４を設けて光信号を監視するとして説明したが、ＲＺ変調器１１３の一例として出力部にＭＭＩカプラを有するマッハツェンダ型干渉計を用いた場合、ＭＭＩの一方の出力をＰＤに接続し、ＰＤによって検出した正相または逆相の信号をモニタ信号としてＴＩＡ１１７へ出力する構成としてもよい。

また、図１では位相シフタ１０３によってＤＦＦ１０４を駆動するクロック信号の位相を制御したが、位相シフタ１０３をＤＦＦ１０４とドライバアンプ１０５の間、あるいは、ドライバアンプ１０５と位相変調器１０６の間に挿入してデータ信号の位相を制御してもよい。

図２は、実施の形態１にかかる光変調装置の位相差補償動作を示すフローチャートの一例である。図２に示すように、まず、発振回路１０１が、周波数ｆ０の低周波信号を発振し（ステップＳ２０１）、位相シフタ１０３へ出力する。具体的には、発振回路１０１は、低周波信号を、乗算回路１０２ａを介して位相シフタ１０３ａへ出力する。また、発振回路１０１は、位相シフタ１０３ａへ出力した低周波信号に対して反転した低周波信号を、乗算回路１０２ｂを介して位相シフタ１０３ｂへ出力する。

つぎに、位相シフタ１０３が、クロック信号の位相を周波数ｆ０で変動させる（ステップＳ２０２）。具体的には、位相シフタ１０３ａが、発振回路１０１から乗算回路１０２ａを介して出力された低周波信号に基づいて、ＤＦＦ１０４ａへ出力するクロック信号の位相を周波数ｆ０で変動させる。また、位相シフタ１０３ｂが、発振回路１０１から乗算回路１０２ｂを介して出力された低周波信号に基づいて、ＤＦＦ１０４ｂへ出力するクロック信号の位相を周波数ｆ０で変動させる。

つぎに、ＤＦＦ１０４が、データ信号を位相変調器１０６へ出力する（ステップＳ２０３）。具体的には、ＤＦＦ１０４ａが、位相シフタ１０３ａから出力されたクロック信号を駆動信号として、ドライバアンプ１０５ａを介して位相変調部１０９ａへデータ信号を出力する。また、ＤＦＦ１０４ｂが、位相シフタ１０３ｂから出力されたクロック信号を駆動信号として、ドライバアンプ１０５ｂを介して位相変調部１０９ｂへデータ信号を出力する。

ここで、ＤＦＦ１０４ａおよびＤＦＦ１０４ｂを駆動するクロック信号の位相は周波数ｆ０で変動するため、ＤＦＦ１０４ａおよびＤＦＦ１０４ｂが出力するデータ信号の位相も周波数ｆ０で変動する。また、ＤＦＦ１０４ｂが出力するデータ信号の位相の変動は、ＤＦＦ１０４ａが出力するデータ信号の位相の変動に対して位相が１８０度ずれている。

つぎに、位相変調器１０６が、ドライバアンプ１０５から出力されたデータ信号に基づいて位相変調を行う（ステップＳ２０４）。ここで、ドライバアンプ１０５ａから出力されたデータ信号の位相は周波数ｆ０で変動するため、位相変調部１０９ａの変調による位相も周波数ｆ０で変動する。また、ドライバアンプ１０５ｂから出力されたデータ信号の位相は周波数ｆ０で変動するため、位相変調部１０９ｂの変調による位相も周波数ｆ０で変動する。

また、ＤＦＦ１０４ｂが出力するデータ信号の位相の変動は、ＤＦＦ１０４ａが出力するデータ信号の位相の変動に対して位相が１８０度ずれているため、位相変調部１０９ｂの変調による位相も、位相変調部１０９ａの変調による位相に対して１８０度ずれる。このため、位相変調部１０９ａと位相変調部１０９ｂとの間の位相差が周波数ｆ０で変動する。

つぎに、ＲＺ変調器１１３が、位相変調器１０６によって位相変調された光信号に対してＲＺ変調を行う（ステップＳ２０５）。つぎに、監視部１１４が、ＲＺ変調器１１３によってＲＺ変調された光信号を監視し（ステップＳ２０６）、モニタ信号を出力する。つぎに、同期検波部１１９が、監視部１１４から出力されたモニタ信号に対して同期検波を行う（ステップＳ２０７）。具体的には、同期検波部１１９が、監視部１１４から出力されたモニタ信号から、周波数ｆ０の成分を抽出する。

ここで、上述したように、位相変調器１０６において、位相変調部１０９ａと位相変調部１０９ｂとの間の位相差は周波数ｆ０で変動している。このため、同期検波部１１９が抽出するモニタ信号のｆ０成分の強度は、位相変調部１０９ａと位相変調部１０９ｂとの間の位相差の情報を示す。

つぎに、位相制御部１２０が、ステップＳ２０７によって抽出されたバンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度が最小か否か、あるいは、同期検波部１１９から出力された同期検波特性が０（ゼロ）近傍の値か否かを判断する（ステップＳ２０８）。

ステップＳ２０７によって抽出されたモニタ信号のｆ０成分の強度が最小あるいは、同期検波特性が０（ゼロ）近傍の値でなかった場合（ステップＳ２０８：Ｎｏ）、位相制御部１２０が、位相シフタ１０３の移相量を調節するように位相シフタ１０３を制御し（ステップＳ２０９）、ステップＳ２０１に戻って処理を続行する。

ステップＳ２０７によって抽出されたモニタ信号のｆ０成分の強度が最小、あるいは同期検波特性が０（ゼロ）近傍の値であった場合（ステップＳ２０８：Ｙｅｓ）、一連の位相差補償動作を終了する。なお、図２はアルゴリズムの一例であり、異なるアルゴリズムの適用も可能である。

図３−１は、実施の形態１において位相シフタ１０３ａから出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。図３−２は、実施の形態１において位相シフタ１０３ｂから出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。図３−１および図３−２において、横軸は時間を示している。図３−１において、縦軸は位相シフタ１０３ａによるクロック信号の移相量を示している。図３−２において、縦軸は位相シフタ１０３ｂによるクロック信号の移相量を示している。

上述したように、発振回路１０１が低周波信号を発振し、位相シフタ１０３が低周波信号に基づいてクロック信号の移相量を変動させる。これにより、図３−１および図３−２に示すように、位相シフタ１０３ａから出力されたクロック信号３０１の移相量および位相シフタ１０３ｂから出力されたクロック信号３０２の移相量はそれぞれ周波数ｆ０で変動している。

また、発振回路１０１から出力された低周波信号のうち一方は他方に対して反転しているため、クロック信号３０１の移相量とクロック信号３０２の移相量とは互いに１８０度ずれている。ここで、クロック信号３０１の移相量をＴ１、クロック信号３０２の移相量をＴ２とする。また、クロック信号３０１およびクロック信号３０２の位相変動の振幅をΔとする。

図４−１は、実施の形態１におけるＩＱアーム間の位相差の変動を示すグラフである。図４−１において、横軸は時間を、縦軸はＩＱアーム間の位相差を示している。ＩＱアーム間の位相差４０１は、クロック信号３０１とクロック信号３０２との移相量の差分Ｔ２−Ｔ１に相当する。図３−１および図３−２に示したように、クロック信号３０１の移相量とクロック信号３０２の移相量とは互いに１８０度ずれている。このため、図４−１に示すように、ＩＱアーム間の位相差４０１は、周波数ｆ０で変動し振幅が２×Δとなる。

図４−２は、実施の形態１におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差の変動を示すグラフである。図４−２において、横軸は時間を、縦軸はＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を示している。Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２は、クロック信号３０１およびクロック信号３０２の移相量の平均と、ＲＺ変調器１１３のクロック信号の移相量との差分に相当する。ここでは、ＲＺ変調器１１３のクロック信号の移相量を変動させていないので、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２は（Ｔ２＋Ｔ１）／２となる。

図３−１および図３−２に示したように、クロック信号３０１の移相量とクロック信号３０２の移相量とは互いに１８０度ずれているため、クロック信号３０１の移相量とクロック信号３０２の移相量とは互いに相殺する。このため、図４−２に示すように、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２の変動は常に０となる。

図４−１および図４−２に示すように、発振回路１０１が位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂへ出力するそれぞれの低周波信号を振幅が同じで位相が反転することで、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２を変動させずにＩＱアーム間の位相差４０１を周波数ｆ０で変動させることができる。さらに、ＩＱアーム間の位相差変動の振幅を、低周波信号の２倍の２×Δとすることができる。これにより、同期検波部１１９によるＩＱアーム間の位相差４０１の検出が容易となる。

図５は、実施の形態１におけるＩＱアーム間の位相差とモニタ信号のｆ０成分の強度との関係を示すグラフである。図５において、横軸は、ＩＱアーム間の位相差を示している。縦軸は、バンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度［５ｄＢ／ｄｉｖ］を示している。

図５に示すように、モニタ信号のｆ０成分の強度が最小となる点５０１でＩＱアーム間の位相差が０となる。このため、位相制御部１２０は、モニタ信号のｆ０成分の強度が最小となるように位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂの少なくとも一方を制御することでＩＱアーム間の位相差を最適な状態に補償することができる。

このように、実施の形態１にかかる光変調装置１００によれば、位相シフタ１０３によって２つのデータ信号の位相を周波数ｆ０で変動させ、２つのデータ信号の位相をフィードバック制御することができる。これにより、実施の形態１にかかる光変調装置１００によれば、ＩＱアーム間の位相差を高精度に補償して光送信装置の送信性能を向上させることができる。

（実施の形態２）
図６は、実施の形態２にかかる光変調装置の構成を示すブロック図である。図６において、図１に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。実施の形態２にかかる光変調装置１００は、ＤＦＦ１０４へ出力するクロック信号の位相を変動させず、ＲＺ変調器１１３へ出力するクロック信号の位相を変動させる。このため、実施の形態１で説明した位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂは省いてもよい。また、実施の形態１と同様にバンドパスフィルタ１１８は省力可能である。

実施の形態２にかかる光変調装置１００は、実施の形態１にかかる光変調装置１００の構成に加えて乗算回路６０１と位相シフタ６０２とを備えている。発振回路１０１は、周波数ｆ０の低周波信号を乗算回路６０１を介して位相シフタ６０２へ出力する。乗算回路６０１は、発振回路１０１から出力された低周波信号と位相制御部１２０から出力された制御信号とを乗算する。乗算回路６０１は、乗算した信号を位相シフタ６０２へ出力する。

位相シフタ６０２は、クロック信号を入力してドライバアンプ１１２へ出力する。また、位相シフタ６０２は、乗算回路６０１から出力された信号に基づいて、ドライバアンプ１１２へ出力するクロック信号の位相を周波数ｆ０で変動させる。ドライバアンプ１１２は、乗算回路６０１から出力されたクロック信号をＲＺ変調器１１３へ出力する。また、位相シフタ６０２は、位相制御部１２０から乗算回路６０１を介して出力された制御信号に基づいて、ドライバアンプ１１２へ出力するクロック信号の位相を調節する。

位相制御部１２０は、同期検波部１１９から出力されたモニタ信号のｆ０成分に基づいて、位相シフタ６０２による位相差調節を制御する。具体的には、バンドパスフィルタ１１８から出力されるモニタ信号のｆ０成分が最小となる、あるいは、同期検波部１１９から出力された同期検波特性が０（ゼロ）近傍の値となるように位相シフタ６０２を制御する。位相制御部１２０は、位相シフタ６０２を制御する制御信号を乗算回路６０１を介して位相シフタ６０２へ出力する。

このように、実施の形態２にかかる光変調装置１００によれば、位相シフタ６０２によってクロック信号の位相を周波数ｆ０で変動させ、クロック信号の位相をフィードバック制御することができる。これにより、実施の形態２にかかる光変調装置１００によれば、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を高精度に補償して光送信装置の送信性能を向上させることができる。

（実施の形態３）
図７は、実施の形態３にかかる光変調装置の構成を示すブロック図である。図７において、図１または図６に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。実施の形態３にかかる光変調装置１００は、実施の形態１にかかる光変調装置１００の構成に加えて実施の形態２で説明した乗算回路６０１および位相シフタ６０２を備えている。また、実施の形態１と同様にバンドパスフィルタ１１８は省略可能である。

実施の形態３にかかる光変調装置１００は、ＩＱアーム間の位相差の調節とＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差の調節とを時分割して行う。たとえば、位相制御部１２０は、まず、バンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度が最小となるように位相シフタ６０２を制御することでＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を補償する。この場合、位相制御部１２０は、位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂがＩＱアーム間の位相差を変動させないように制御する。

つぎに、位相制御部１２０は、バンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度が最小となるように位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂの少なくとも一方を制御することでＩＱアーム間の位相差を補償する。この場合、位相制御部１２０は、位相シフタ６０２がクロック信号の位相を調節させないように制御する。なお、ここではＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差、ＩＱアーム間の位相差の順に補償を行ったが、ＩＱアーム間の位相差、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差の順に補償を行ってもよい。

図８−１は、実施の形態３におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差補償時のバンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度を示すグラフである。図８−１は、位相制御部１２０が、位相シフタ６０２における移相量を０とし、位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂの移相量を変化させたときのモニタ信号のｆ０成分の強度を示している。横軸は、Ｑアームの位相Ｔ１、すなわち位相制御部１２０の制御による位相シフタ１０３ａの移相量を示している。縦軸は、Ｑアームの位相Ｔ２、すなわち位相制御部１２０の制御による位相シフタ１０３ｂの移相量を示している（図９−１において同様）。

領域８０１〜領域８１１は、モニタ信号のｆ０成分の強度が、１Ｅ−１１−１．１Ｅ−１１ａ．ｕ．，９Ｅ−１２−１Ｅ−１１ａ．ｕ．，８Ｅ−１２−９Ｅ−１２ａ．ｕ．，７Ｅ−１２−８Ｅ−１２ａ．ｕ．，６Ｅ−１２−７Ｅ−１２ａ．ｕ．，５Ｅ−１２−６Ｅ−１２ａ．ｕ．，４Ｅ−１２−５Ｅ−１２ａ．ｕ．，３Ｅ−１２−４Ｅ−１２ａ．ｕ．，２Ｅ−１２−３Ｅ−１２ａ．ｕ．，１Ｅ−１２−２Ｅ−１２ａ．ｕ．および０−１Ｅ−１２ａ．ｕ．となる領域をそれぞれ示している。直線８２０は、ＩＱアーム間の位相差Ｔ２−Ｔ１を０とした場合の、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差依存性を示している。

図８−２は、実施の形態３におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差とバンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度との関係を示すグラフである。図８−２は、図８−１における直線８２０を抽出した特性を示している。図８−２に示すように、モニタ信号のｆ０成分の強度が最小となる点８３０でＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差が０となる。このため、位相制御部１２０は、モニタ信号のｆ０成分の強度が最小となるように位相シフタ１０３ａ、位相シフタ１０３ｂおよび位相シフタ６０２の少なくとも一つを制御することでＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を最適な状態に補償することができる。

図９−１は、実施の形態３におけるＩＱアーム間の位相差補償時のバンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度を示すグラフである。領域９０１〜領域９０９は、モニタ信号のｆ０成分の強度が、８Ｅ−１１−９Ｅ−１１ａ．ｕ．，７Ｅ−１１−８Ｅ−１１ａ．ｕ．，６Ｅ−１１−７Ｅ−１１ａ．ｕ．，５Ｅ−１１−６Ｅ−１１ａ．ｕ．，４Ｅ−１１−５Ｅ−１１ａ．ｕ．，３Ｅ−１１−４Ｅ−１１ａ．ｕ．，２Ｅ−１１−３Ｅ−１１ａ．ｕ．，１Ｅ−１１−２Ｅ−１１ａ．ｕ．および０−１Ｅ−１１ａ．ｕ．となる領域をそれぞれ示している。直線９２０は、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を０とした場合の、ＩＱアーム間の位相差依存性を示している。

図９−２は、実施の形態３におけるＩＱアーム間の位相差とバンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度との関係を示すグラフである。図９−２は、図９−１における直線９２０を抽出した特性を示している。図９−２に示すように、モニタ信号のｆ０成分の強度が最小となる点９３０でＩＱアーム間の位相差が０となる。このため、位相制御部１２０は、モニタ信号のｆ０成分の強度が最小となるように位相シフタ１０３ａ、位相シフタ１０３ｂおよび位相シフタ６０２の少なくとも一つを制御することでＩＱアーム間の位相差を最適な状態に補償することができる。

このように、実施の形態３にかかる光変調装置１００によれば、位相シフタ１０３によって２つのデータ信号の位相を周波数ｆ０で変動させ、２つのデータ信号の位相をフィードバック制御することができる。また、位相シフタ６０２によってクロック信号の位相を周波数ｆ０で変動させ、クロック信号の位相をフィードバック制御することができる。これにより、実施の形態３にかかる光変調装置１００によれば、ＩＱアーム間の位相差およびＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を時分割で補償して光送信装置の送信性能を向上させることができる。

（実施の形態４）
図１０は、実施の形態４にかかる光変調装置の構成を示すブロック図である。図１０において、図１に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。実施の形態４にかかる光変調装置１００は、ＩＱアーム間の位相差の調節とＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差の調節とを時分割して行う。光変調装置１００は、実施の形態１の構成に加えて論理反転回路１００１を備えている。また、実施の形態１において説明した、発振回路１０１に設けられた反転部１０１ｃはここでは省かれている。また、実施の形態１と同様にバンドパスフィルタ１１８は省略可能である。

発振回路１０１は、低周波信号を乗算回路１０２ｂおよび論理反転回路１００１へ出力する。論理反転回路１００１は、発振回路１０１から出力された低周波信号を反転させ、または反転させずに乗算回路１０２ａへ出力する。位相制御部１２０は、低周波信号に対する論理反転回路１００１による反転／非反転を切り替える。たとえば、位相制御部１２０は、まず、論理反転回路１００１が乗算回路１０２ａへ出力する低周波信号を反転させないように論理反転回路１００１を制御する。

図１１−１は、実施の形態４において位相シフタ１０３ａから出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。図１１−２は、実施の形態４において位相シフタ１０３ｂから出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。図１１−１および図１１−２において、図３−１および図３−２に示した符号については説明を省略する。

論理反転回路１００１が乗算回路１０２ａへ出力する低周波信号を反転させない場合、図１１−１および図１１−２に示すように、位相シフタ１０３ａから出力されたクロック信号３０１の移相量および位相シフタ１０３ｂから出力されたクロック信号３０２の移相量はそれぞれ周波数ｆ０で変動する。また、クロック信号３０１とクロック信号３０２とは互いに位相がずれず、クロック信号３０１とクロック信号３０２の移相量の変動は常に一致する。

図１２−１は、実施の形態４におけるＩＱアーム間の位相差の変動を示すグラフである。図１２−１において、横軸は時間を、縦軸はＩＱアーム間の位相差を示している。図１１−１および図１１−２に示したように、クロック信号３０１の移相量とクロック信号３０２の移相量とが互いにずれていない場合、クロック信号３０１の移相量とクロック信号３０２の移相量とは互いに相殺する。このため、ＩＱアーム間の位相差４０１の変動は、図１２−１に示すように常に０となる。

図１２−２は、実施の形態４におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差の変動を示すグラフである。図１２−２において、横軸は時間を、縦軸はＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を示している。図１１−１および図１１−２に示したように、クロック信号３０１の移相量とクロック信号３０２の移相量とが互いにずれていない場合、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２は、図１２−１に示すように周波数ｆ０で変動する。

図１２−１および図１２−２に示すように、論理反転回路１００１が乗算回路１０２ａへ出力する低周波信号を反転させない場合、ＩＱアーム間の位相差４０１を変動させずにＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２を周波数ｆ０で変動させることができる。これにより、位相制御部１２０は、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２を補償することができる。

Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２を補償した後、位相制御部１２０は、論理反転回路１００１が乗算回路１０２ａへ出力する低周波信号を反転させるように論理反転回路１００１を制御する。この場合、図３−１〜図４−２において説明したように、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２を変動させずにＩＱアーム間の位相差４０１を周波数ｆ０で変動させることができる。これにより、位相制御部１２０は、ＩＱアーム間の位相差４０１を補償することができる。

このように、実施の形態４にかかる光変調装置１００によれば、論理反転回路１００１が乗算回路１０２ａへ出力する低周波信号を反転させないように論理反転回路１００１を制御することで、ＩＱアーム間の位相差４０１を変動させずにＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２を周波数ｆ０で変動させることができる。

また、実施の形態４にかかる光変調装置１００によれば、論理反転回路１００１が乗算回路１０２ａへ出力する低周波信号を反転させるように論理反転回路１００１を制御することで、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２を変動させずにＩＱアーム間の位相差４０１を周波数ｆ０で変動させることができる。これにより、実施の形態４にかかる光変調装置１００によれば、ＩＱアーム間の位相差およびＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を時分割で補償することができる。

また、実施の形態４にかかる光変調装置１００によれば、実施の形態３と比較して位相シフタ６０２を省略することができる。位相シフタ６０２は２０ＧＨｚに対応する高速な位相シフタであるのに対し、実施の形態４にかかる光変調装置１００が備える論理反転回路１００１は低周波信号に対応する低速な回路である。このため、実施の形態４にかかる光変調装置１００によれば、ＩＱアーム間の位相差およびＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を時分割で補償して光送信装置の送信性能を向上させつつ、装置全体として低コスト化を図ることができる。

（実施の形態５）
図１３は、実施の形態５にかかる光変調装置の構成を示すブロック図である。図１３において、図１または図６に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。実施の形態５にかかる光変調装置１００は、ＩＱアーム間の位相差４０１の調節とＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２の調節とを時分割で、または同時に行う。

図１３に示すように、実施の形態５にかかる光変調装置１００は、実施の形態１にかかる光変調装置１００が備える発振回路１０１と、バンドパスフィルタ１１８と、同期検波部１１９と、位相制御部１２０と、に代えて、発振回路１３０１ａおよび発振回路１３０１ｂと、バンドパスフィルタ１３０２ａおよびバンドパスフィルタ１３０２ｂと、同期検波部１３０３ａおよび同期検波部１３０３ｂと、位相制御部１３０４ａおよび位相制御部１３０４ｂと、乗算回路６０１と、位相シフタ６０２と、を備えている。

発振回路１３０１ａは、発振した低周波信号を、乗算回路１０２ａおよび乗算回路１０２ｂを介して位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂへ出力する。また、発振回路１３０１ａは、発振した低周波信号を同期検波部１３０３ａへ出力する。ここでは、発振回路１３０１ａには反転部１０１ｃが設けられている。反転部１０１ｃは、乗算回路１０２ｂへ出力する低周波信号を反転させる。

発振回路１３０１ｂは、発振した低周波信号を、乗算回路６０１を介して位相シフタ６０２へ出力する。また、発振回路１３０１ｂは、発振した低周波信号を同期検波部１３０３ｂへ出力する。ここで、発振回路１３０１ａは周波数ｆ１の低周波信号を発振し、発振回路１３０１ｂは周波数ｆ０（≠ｆ１）の低周波信号を発振する。

ＴＩＡ１１７は、監視部１１４から出力されたモニタ信号を適宜増幅してバンドパスフィルタ１３０２ａおよびバンドパスフィルタ１３０２ｂへ出力する。バンドパスフィルタ１３０２ａは、ＴＩＡ１１７から出力されたモニタ信号のうち、周波数がｆ１付近の成分を抽出する。バンドパスフィルタ１３０２ａは、抽出したモニタ信号を同期検波部１３０３ａへ出力する。

バンドパスフィルタ１３０２ｂは、ＴＩＡ１１７から出力されたモニタ信号のうち、周波数がｆ０付近の成分を抽出する。バンドパスフィルタ１３０２ｂは、抽出したモニタ信号を同期検波部１３０３ｂへ出力する。なお、バンドパスフィルタ１３０２ａおよびバンドパスフィルタ１３０２ｂはここでは省略可能である。

同期検波部１３０３ａは、発振回路１３０１ａから出力された低周波信号と、バンドパスフィルタ１３０２ａから出力されたモニタ信号と、に基づいて同期検波を行う。同期検波部１３０３ａは、同期検波を行うことにより、バンドパスフィルタ１３０２ａから出力されたモニタ信号から、低周波信号と同じ周波数ｆ１の成分を抽出する。同期検波部１３０３ａは、抽出したモニタ信号のｆ１成分を位相制御部１３０４ａへ出力する。

同期検波部１３０３ｂは、発振回路１３０１ｂから出力された低周波信号と、バンドパスフィルタ１３０２ｂから出力されたモニタ信号と、に基づいて同期検波を行う。同期検波部１３０３ｂは、同期検波を行うことにより、バンドパスフィルタ１３０２ｂから出力されたモニタ信号から、低周波信号と同じ周波数ｆ０の成分を抽出する。同期検波部１３０３ｂは、抽出したモニタ信号のｆ０成分を位相制御部１３０４ｂへ出力する。

位相制御部１３０４ａは、同期検波部１３０３ａから出力されたモニタ信号のｆ１成分に基づいて、位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂによる位相差調節を制御する。具体的には、バンドパスフィルタ１３０２ａから出力されたモニタ信号のｆ１成分の強度が最小となる、あるいは、同期検波部１３０３ａから出力された同期検波特性が０（ゼロ）近傍の値となるように位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂの少なくとも一方を制御する。位相制御部１３０４ａは、位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂを制御する制御信号をそれぞれ乗算回路１０２ａおよび乗算回路１０２ｂを介して位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂへ出力する。

位相制御部１３０４ｂは、同期検波部１３０３ｂから出力されたモニタ信号のｆ０成分に基づいて、位相シフタ６０２による位相差調節を制御する。具体的には、バンドパスフィルタ１３０２ｂから出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度が最小となる、あるいは、同期検波部１３０３ｂから出力された同期検波特性が０（ゼロ）近傍の値となるように位相シフタ６０２を制御する。位相制御部１３０４ｂは、位相シフタ６０２を制御する制御信号を乗算回路６０１を介して位相シフタ６０２へ出力する。なお、位相制御部１３０４ａと位相制御部１３０４ｂとは一体的に構成してもよい。

図１４−１は、実施の形態５において位相シフタ１０３ａから出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。図１４−２は、実施の形態５において位相シフタ１０３ｂから出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。図１４−３は、実施の形態５において位相シフタ６０２から出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。

図１４−１〜図１４−３において、横軸は時間を示している。図１４−１において、縦軸は位相シフタ１０３ａによるクロック信号の移相量Ｔ１を示している。図１４−２において、縦軸は位相シフタ１０３ｂによるクロック信号の移相量Ｔ２を示している。図１４−３において、縦軸は位相シフタ６０２によるクロック信号の移相量Ｔ３を示している。

上述したように、発振回路１３０１ａが低周波信号を発振し、位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂが低周波信号に基づいてクロック信号の移相量を周波数ｆ１で変動させる。これにより、図１４−１および図１４−２に示すように、位相シフタ１０３ａから出力されたクロック信号３０１の移相量および位相シフタ１０３ｂから出力されたクロック信号３０２の移相量はそれぞれ周波数ｆ１で変動する。

また、発振回路１０１から出力された低周波信号のうち一方は他方に対して反転しているため、クロック信号３０１の移相量とクロック信号３０２の移相量とは互いに１８０度ずれている。ここで、クロック信号３０１およびクロック信号３０２の位相変動の振幅をΔとする。

また、発振回路１３０１ｂが低周波信号を発振し、位相シフタ６０２が低周波信号に基づいてクロック信号の移相量を周波数ｆ０で変動させる。これにより、図１４−３に示すように、位相シフタ６０２から出力されたクロック信号１４０１の移相量は周波数ｆ０（≠ｆ１）で変動する。ここで、クロック信号１４０１の位相変動の振幅をΔ’とする。

図１５−１は、実施の形態５におけるＩＱアーム間の位相差の変動を示すグラフである。図１５−１において、横軸は時間を、縦軸はＩＱアーム間の位相差を示している。ＩＱアーム間の位相差４０１は、クロック信号３０１とクロック信号３０２との移相量の差分Ｔ２−Ｔ１に相当する。図１４−１および図１４−２に示したように、クロック信号３０１の移相量とクロック信号３０２の移相量とは互いに１８０度ずれている。このため、ＩＱアーム間の位相差４０１は、図１５−１に示すように、周波数ｆ１で変動し、振幅が２×Δとなる。

図１５−２は、実施の形態５におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差の変動を示すグラフである。図１５−２において、横軸は時間を、縦軸はＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を示している。Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２は、クロック信号３０１およびクロック信号３０２の移相量の平均と、クロック信号１４０１の移相量Ｔ３と、の差に相当する。

図１４−１および図１４−２に示したように、クロック信号３０１の移相量とクロック信号３０２の移相量とは互いに１８０度ずれているため、クロック信号３０１の移相量とクロック信号３０２の移相量とは互いに相殺する。このため、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２はクロック信号１４０１の移相量Ｔ３により変動する。このため、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２は、図１５−２に示すように、周波数ｆ０で変動し、振幅がΔ’となる。

図１５−１および図１５−２に示すように、発振回路１３０１ａが位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂへ出力するそれぞれの低周波信号の周波数をｆ１とし、発振回路１３０１ｂが位相シフタ６０２へ出力する低周波信号の周波数をｆ０とすることで、ＩＱアーム間の位相差４０１は周波数ｆ１で変動し、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２は周波数ｆ０で変動する。

これにより、同期検波部１３０３ａはモニタ信号の周波数がｆ１の成分を、同期検波部１３０３ｂはモニタ信号の周波数がｆ０の成分をそれぞれ抽出することができる。このため、位相制御部１３０４ａおよび位相制御部１３０４ｂは、ＩＱアーム間の位相差４０１およびＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２をそれぞれ同時に調節することができる。

図１６−１は、実施の形態５におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差補償時のバンドパスフィルタ１３０２ｂから出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度を示すグラフである。図１６−１は、位相制御部１３０４ａおよび位相制御部１３０４ｂが、位相シフタ６０２における移相量を０とし、位相シフタ１０３ａおよび位相シフタ１０３ｂの移相量を変化させたときのモニタ信号のｆ０成分の強度を示している。横軸は、Ｑアームの位相Ｔ１、すなわち位相制御部１３０４ａの制御による位相シフタ１０３ａの移相量を示している。縦軸は、Ｑアームの位相Ｔ２、すなわち位相制御部１３０４ａの制御による位相シフタ１０３ｂの移相量を示している（図１７−１において同様）。

領域１６０１〜領域１６１２は、モニタ信号のｆ０成分の強度が、１．１Ｅ−１３−１．２Ｅ−１３ａ．ｕ．，１Ｅ−１３−１．１Ｅ−１３ａ．ｕ．，９Ｅ−１４−１Ｅ−１３ａ．ｕ．，８Ｅ−１４−９Ｅ−１４ａ．ｕ．，７Ｅ−１４−８Ｅ−１４ａ．ｕ．，６Ｅ−１４−７Ｅ−１４ａ．ｕ．，５Ｅ−１４−６Ｅ−１４ａ．ｕ．，４Ｅ−１４−５Ｅ−１４ａ．ｕ．，３Ｅ−１４−４Ｅ−１４ａ．ｕ．，２Ｅ−１４−３Ｅ−１４ａ．ｕ．，１Ｅ−１４−２Ｅ−１４ａ．ｕ．および０−１Ｅ−１４ａ．ｕ．となる領域をそれぞれ示している。直線１６２０は、ＩＱアーム間の位相差Ｔ２−Ｔ１を０とした場合の、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差依存性を示している。

図１６−２は、実施の形態５におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差とバンドパスフィルタ１３０２ｂから出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度との関係を示すグラフである。図１６−２は、図１６−１における直線１６２０を抽出した特性を示している。図１６−２に示すように、モニタ信号のｆ０成分の強度が最小となる点１６３０でＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差が０となる。このため、位相制御部１３０４ａおよび位相制御部１３０４ｂは、モニタ信号のｆ０成分の強度が最小となるように位相シフタ１０３ａ、位相シフタ１０３ｂおよび位相シフタ６０２の少なくとも一つを制御することでＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を最適な状態に補償することができる。

図１７−１は、実施の形態５におけるＩＱアーム間の位相差補償時のバンドパスフィルタ１３０２ａから出力されたモニタ信号のｆ１成分の強度を示すグラフである。領域１７０１〜領域１７０９は、モニタ信号のｆ０成分の強度が、８Ｅ−１１−９Ｅ−１１ａ．ｕ．，７Ｅ−１１−８Ｅ−１１ａ．ｕ．，６Ｅ−１１−７Ｅ−１１ａ．ｕ．，５Ｅ−１１−６Ｅ−１１ａ．ｕ．，４Ｅ−１１−５Ｅ−１１ａ．ｕ．，３Ｅ−１１−４Ｅ−１１ａ．ｕ．，２Ｅ−１１−３Ｅ−１１ａ．ｕ．，１Ｅ−１１−２Ｅ−１１ａ．ｕ．および０−１Ｅ−１１ａ．ｕ．となる領域をそれぞれ示している。直線１７２０は、Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を０とした場合の、ＩＱアーム間の位相差依存性を示している。

図１７−２は、実施の形態５におけるＩＱアーム間の位相差とバンドパスフィルタ１３０２ａから出力されたモニタ信号のｆ１成分の強度との関係を示すグラフである。図１７−２は、図１７−１における直線１７２０を抽出した特性を示している。図１７−２に示すように、モニタ信号のｆ１成分の強度が最小となる点１７３０でＩＱアーム間の位相差が０となる。このため、位相制御部１３０４ａおよび位相制御部１３０４ｂは、モニタ信号のｆ１成分の強度が最小となるように位相シフタ１０３ａ、位相シフタ１０３ｂおよび位相シフタ６０２の少なくとも一つを制御することでＩＱアーム間の位相差を最適な状態に補償することができる。

このように、実施の形態５のかかる光変調装置１００によれば、同期検波部１３０３ａはモニタ信号の周波数がｆ１の成分を、同期検波部１３０３ｂはモニタ信号の周波数がｆ０の成分をそれぞれ抽出することができる。このため、実施の形態５のかかる光変調装置１００によれば、ＩＱアーム間の位相差４０１およびＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差４０２をそれぞれ同時に補償して光送信装置の送信性能を向上させることができる。

なお、上述した各実施の形態においては、同期検波部１１９、同期検波部１３０３ａおよび同期検波部１３０３ｂは、監視部１１４から出力されたモニタ信号から周波数がｆ０の成分を抽出したが、同期検波部１１９、同期検波部１３０３ａおよび同期検波部１３０３ｂは、監視部１１４から出力されたモニタ信号の強度の変化分から周波数がｆ０の成分を抽出してもよい。この場合、たとえば、ＴＩＡ１１７から出力されたモニタ信号を入力する位置に、モニタ信号の強度の変化分をモニタするパワーディテクタを設ける。

図１８は、実施の形態１にかかる光変調装置の構成例の変形例を示すブロック図である。図１８において、図１に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。ここでは、光変調装置１００は、実施の形態１にかかる光変調装置１００の構成に加えてパワーディテクタ１８０１を備えている。ＴＩＡ１１７は、監視部１１４から出力されたモニタ信号を適宜増幅してパワーディテクタ１８０１へ出力する。

パワーディテクタ１８０１は、ＴＩＡ１１７から出力されたモニタ信号の強度の変化分に相当する電気信号をバンドパスフィルタ１１８を介して同期検波部１１９へ出力する。同期検波部１１９は、パワーディテクタ１８０１から出力された電気信号から周波数がｆ０の成分を抽出する。また、受光部１１６とＴＩＡ１１７との間に容量１８０２を挿入してもよい。なお、実施の形態１と同様にバンドパスフィルタ１１８は省略可能である。

図１９−１は、ＰＤによって検出されるモニタ信号のパワーの変動を示すグラフである。図１９−２は、パワーディテクタによって検出されるモニタ信号のパワーの変動を示すグラフである。図１９−１および図１９−２において、横軸は時間を示しており、縦軸はモニタ信号のパワーを示している。

図１９−１に示すように、受光部１１６によって検出されるモニタ信号には、ＤＣ成分１９０１およびＡＣ成分１９０２が含まれている。ＤＣ成分１９０１は、光変調装置１００の出力の平均パワーに相当する。ＡＣ成分１９０２は、低周波信号をデータ信号に重畳したことによるパワー変化分に相当する。ＡＣ成分１９０２は、ＤＣ成分１９０１と比べて小さいため、ＤＣ成分１９０１に埋もれやすい。

これに対して、図１９−２に示すように、たとえば容量１８０２によってＤＣ成分１９０１カットし、パワーディテクタ１８０１によってＡＣ成分１９０２のみを検出する。これにより、監視部１１４の受光部１１６に低速のＰＤを用いても同期検波を十分に行うことができる。

また、上述した各実施の形態においては、光源１０７から出力された連続光を位相変調器１０６が位相変調し、位相変調器１０６が位相変調した信号をＲＺ変調器１１３がＲＺ変調するとして説明したが、光源１０７から出力された連続光をＲＺ変調器１１３がＲＺ変調し、ＲＺ変調器１１３がＲＺ変調した信号を位相変調器１０６が位相変調する構成としてもよい。

図２０は、実施の形態１にかかる光変調装置の構成例の別の変形例を示すブロック図である。図２０において、図１に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。図２０に示すように、ＲＺ変調器１１３は、光源１０７から出力された連続光に対してＲＺ変調を行う。ＲＺ変調器１１３は、ＲＺ変調を行った信号を位相変調器１０６へ出力する。分岐部１０８は、ＲＺ変調器１１３から出力された連続光を分岐する。合波部１１１は、合波した光信号を監視部１１４へ出力する。なお、実施の形態１と同様にバンドパスフィルタ１１８は省略可能である。

以上説明したように、この発明にかかる光変調装置および光変調方法によれば、２つのデータ信号の位相を周波数ｆ０で変動させ、２つのデータ信号の位相をフィードバック制御することができる。また、クロック信号の位相を周波数ｆ０で変動させ、クロック信号の位相をフィードバック制御することができる。

したがって、温度変動や経時変動によって生じるＩＱアーム間の位相差およびＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差を高精度に補償することができる。このため、この発明にかかる光変調装置および光変調方法によれば、温度変動や経時変動によるＱ値ペナルティの増加を補償し、光送信装置の送信性能を向上させることができる。

（付記１）２つのデータ信号の位相を所定周波数で変動させる変動手段と、
前記所定周波数で位相が変動する２つのデータ信号に基づいて位相変調を行う多値位相変調手段と、
前記多値位相変調手段によって変調された信号から前記所定周波数の成分を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された前記信号の成分に基づいて前記２つのデータ信号の位相を制御する位相制御手段と、
を備えることを特徴とする光変調装置。

（付記２）前記変動手段は、
前記所定周波数の信号を発振する発振回路と、
前記所定周波数の信号に基づいて前記２つのデータ信号の位相をそれぞれ変動させる第１、第２位相シフタと、
を備えることを特徴とする付記１に記載の光変調装置。

（付記３）前記発振回路によって発振され、前記第１、第２位相シフタのそれぞれへ出力される前記所定周波数の信号のうちの一方の信号を反転させる反転手段をさらに備えることを特徴とする付記２に記載の光変調装置。

（付記４）前記抽出手段は、
前記発振回路から出力される前記所定周波数の信号に基づいて前記所定周波数の成分を抽出することを特徴とする付記２または３に記載の光変調装置。

（付記５）前記所定周波数の信号に基づいてクロック信号の位相を変動させる第３位相シフタと、
前記所定周波数で位相が変動するクロック信号に基づいてＲＺ変調を行うＲＺ変調手段と、
をさらに備え、
前記抽出手段は、前記ＲＺ変調手段によって変調された信号から前記所定周波数の成分を抽出し、
前記位相制御手段は、前記抽出手段によって抽出された前記信号の成分に基づいて前記クロック信号の位相を制御することを特徴とする付記２〜４のいずれか一つに記載の光変調装置。

（付記６）前記位相制御手段は、前記２つのデータ信号の位相の制御と、前記クロック信号の位相の制御と、を時分割によって行うことを特徴とする付記５に記載の光変調装置。

（付記７）前記所定周波数で位相が変動するクロック信号に基づいてＲＺ変調を行うＲＺ変調手段と、
前記発振回路によって発振され、前記第１、第２位相シフタのそれぞれへ出力される前記所定周波数の信号のうちの一方の信号を反転または非反転に切り替える第２反転手段をさらに備えることを特徴とする付記２に記載の光変調装置。

（付記８）前記位相制御手段は、前記第２反転手段による前記信号の反転または非反転の切替を時分割で行うことを特徴とする付記７に記載の光変調装置。

（付記９）クロック信号の位相を前記所定周波数とは異なる第２周波数で変動させる第２変動手段と、
前記第２周波数で位相が変動するクロック信号に基づいてＲＺ変調を行うＲＺ変調手段と、
前記ＲＺ変調手段によって変調された信号から前記第２周波数の成分を抽出する第２抽出手段と、
前記第２抽出手段によって抽出された前記信号の成分に基づいて前記クロック信号の位相を制御する第２位相制御手段と、
を備えることを特徴とする付記１〜４のいずれか一つに記載の光変調装置。

（付記１０）前記多値位相変調手段は、２つのマッハツェンダ型干渉計を有するＤＱＰＳＫ変調器であり、
前記２つのマッハツェンダ型干渉計は、それぞれ前記２つのデータ信号に基づいて２値の位相変調を行うことを特徴とする付記１〜９のいずれか一つに記載の光変調装置。

（付記１１）前記位相制御手段は、前記抽出手段によって抽出された前記信号の成分が０（ゼロ）近傍の値となるように前記２つのデータ信号または前記クロック信号の遅延量を制御することを特徴とする付記１〜１０のいずれか一つに記載の光変調装置。

（付記１２）前記多値位相変調手段は、出力部分にＭＭＩカプラを有するマッハツェンダ型干渉計であり、
前記抽出手段は、前記ＭＭＩカプラの出力部分の一方から出力される信号から前記所定周波数の成分を抽出することを特徴とする付記１〜１１のいずれか一つに記載の光変調装置。

（付記１３）前記ＲＺ変調手段は、出力部分にＭＭＩカプラを有するマッハツェンダ型干渉計であり、
前記抽出手段は、前記ＭＭＩカプラの出力部分の一方から出力される信号から前記所定周波数の成分を抽出することを特徴とする付記５〜９のいずれか一つに記載の光変調装置。

（付記１４）前記抽出手段は、
前記多値位相変調手段または前記ＲＺ変調手段によって変調された信号の一部を分岐する分岐手段と、
前記分岐手段によって分岐された前記一部の信号を受光して電気信号に変換する受光手段と、
前記受光手段によって変換された電気信号に対して、前記所定周波数に基づいて同期検波を行う同期検波手段と、
を備えることを特徴とする付記１〜１３のいずれか一つに記載の光変調装置。

（付記１５）前記受光手段によって変換された電気信号から前記所定周波数付近の周波数の成分を抽出するフィルタ手段をさらに備え、
前記同期検波手段は、前記フィルタ手段によって抽出された成分に対して同期検波を行うことを特徴とする付記１４に記載の光変調装置。

（付記１６）前記受光手段によって変換された電気信号の強度の変化分を検出する検出手段をさらに備え、
前記同期検波手段は、前記検出手段によって検出された前記電気信号の強度の変化分の信号に対して同期検波を行うことを特徴とする付記１４に記載の光変調装置。

（付記１７）２つのデータ信号に基づいて位相変調を行う多値位相変調手段と、
クロック信号の位相を所定周波数で変動させる変動手段と、
前記所定周波数で位相が変動するクロック信号に基づいてＲＺ変調を行うＲＺ変調手段と、
前記ＲＺ変調手段によって変調された信号から前記所定周波数の成分を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された前記信号の成分に基づいて前記クロック信号の位相を制御する位相制御手段と、
を備えることを特徴とする光変調装置。

（付記１８）２つのデータ信号の位相を所定周波数で変動させる変動工程と、
前記所定周波数で位相が変動する２つのデータ信号のそれぞれに基づいて位相変調を行う多値位相変調工程と、
前記多値位相変調工程によって変調された信号から前記所定周波数の成分を抽出する抽出工程と、
前記抽出工程によって抽出された前記信号の成分に基づいて前記２つのデータ信号の位相を制御する位相制御工程と、
を含むことを特徴とする光変調方法。

（付記１９）２つのデータ信号に基づいて位相変調を行う多値位相変調工程と、
クロック信号の位相を所定周波数で変動させる変動工程と、
前記所定周波数で位相が変動するクロック信号に基づいてＲＺ変調を行うＲＺ変調工程と、
前記ＲＺ変調工程によって変調された信号から前記所定周波数の成分を抽出する抽出工程と、
前記抽出工程によって抽出された前記信号の成分に基づいて前記クロック信号の位相を制御する位相制御工程と、
を含むことを特徴とする光変調方法。

以上のように、この発明にかかる光変調装置および光変調方法は、ＤＱＰＳＫ変調方式によって光伝送を行う光伝送装置に有用であり、特に、ＲＺ−ＤＱＰＳＫ変調方式によって光伝送を行う場合に適している。

実施の形態１にかかる光変調装置の構成を示すブロック図である。 実施の形態１にかかる光変調装置の位相差補償動作を示すフローチャートの一例である。 実施の形態１において位相シフタ１０３ａから出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。 実施の形態１において位相シフタ１０３ｂから出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。 実施の形態１におけるＩＱアーム間の位相差の変動を示すグラフである。 実施の形態１におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差の変動を示すグラフである。 実施の形態１におけるＩＱアーム間の位相差とモニタ信号のｆ０成分の強度との関係を示すグラフである。 実施の形態２にかかる光変調装置の構成を示すブロック図である。 実施の形態３にかかる光変調装置の構成を示すブロック図である。 実施の形態３におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差補償時のバンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度を示すグラフである。 実施の形態３におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差とバンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度との関係を示すグラフである。 実施の形態３におけるＩＱアーム間の位相差補償時のバンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度を示すグラフである。 実施の形態３におけるＩＱアーム間の位相差とバンドパスフィルタ１１８から出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度との関係を示すグラフである。 実施の形態４にかかる光変調装置の構成を示すブロック図である。 実施の形態４において位相シフタ１０３ａから出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。 実施の形態４において位相シフタ１０３ｂから出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。 実施の形態４におけるＩＱアーム間の位相差の変動を示すグラフである。 実施の形態４におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差の変動を示すグラフである。 実施の形態５にかかる光変調装置の構成を示すブロック図である。 実施の形態５において位相シフタ１０３ａから出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。 実施の形態５において位相シフタ１０３ｂから出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。 実施の形態５において位相シフタ６０２から出力されたクロック信号の位相の変動を示すグラフである。 実施の形態５におけるＩＱアーム間の位相差の変動を示すグラフである。 実施の形態５におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差の変動を示すグラフである。 実施の形態５におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差補償時のバンドパスフィルタ１３０２ｂから出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度を示すグラフである。 実施の形態５におけるＤａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差とバンドパスフィルタ１３０２ｂから出力されたモニタ信号のｆ０成分の強度との関係を示すグラフである。 実施の形態５におけるＩＱアーム間の位相差補償時のバンドパスフィルタ１３０２ａから出力されたモニタ信号のｆ１成分の強度を示すグラフである。 実施の形態５におけるＩＱアーム間の位相差とバンドパスフィルタ１３０２ａから出力されたモニタ信号のｆ１成分の強度との関係を示すグラフである。 実施の形態１にかかる光変調装置の構成例の変形例を示すブロック図である。 ＰＤによって検出されるモニタ信号のパワーの変動を示すグラフである。 パワーディテクタによって検出されるモニタ信号のパワーの変動を示すグラフである。 実施の形態１にかかる光変調装置の構成例の別の変形例を示すブロック図である。 従来の光変調装置の構成を示すブロック図である。 ＩＱアーム間の位相差が０ｐｓの場合の位相変調器の出力波形を示すグラフである。 ＩＱアーム間の位相差が−１０ｐｓの場合の位相変調器の出力波形を示すグラフである。 ＩＱアーム間の位相差が＋１０ｐｓの場合の位相変調器の出力波形を示すグラフである。 ＩＱアーム間の位相差が０ｐｓの場合のＲＺ変調器の出力波形を示すグラフである。 ＩＱアーム間の位相差が−１０ｐｓの場合のＲＺ変調器の出力波形を示すグラフである。 ＩＱアーム間の位相差が＋１０ｐｓの場合のＲＺ変調器の出力波形を示すグラフである。 Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差が０ｐｓの場合のＲＺ変調器の出力波形を示すグラフである。 Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差が−５ｐｓの場合のＲＺ変調器の出力波形を示すグラフである。 Ｄａｔａ−Ｃｌｋ間の位相差が＋５ｐｓの場合のＲＺ変調器の出力波形を示すグラフである。 光変調装置における位相差とＱ値ペナルティとの関係を示すグラフである。

符号の説明

１００ 位相変調装置
１０１ 発振回路
１０１ｃ 反転部
１０２ａ，１０２ｂ，６０１ 乗算回路
１０３ａ，１０３ｂ，６０２ 位相シフタ
１０６ 位相変調器
１０７ 光源
１０９ａ，１０９ｂ 位相変調部
１１０ 遅延部
１１３ ＲＺ変調器
１１４ 監視部
１１６ 受光部
１１７ ＴＩＡ
１１８ バンドパスフィルタ
１１９ 同期検波部
１２０ 位相制御部
１００１ 論理反転回路

Claims (11)

1. ２つのデータ信号の位相を所定周波数で変動させる変動手段と、
   前記所定周波数で位相が変動する２つのデータ信号に基づいて位相変調を行う多値位相変調手段と、
   前記多値位相変調手段によって変調された信号から前記所定周波数の成分を抽出する抽出手段と、
   前記抽出手段によって抽出された前記信号の成分に基づいて前記２つのデータ信号の位相を制御する位相制御手段と、
   を備えることを特徴とする光変調装置。
2. 前記変動手段は、
   前記所定周波数の信号を発振する発振回路と、
   前記所定周波数の信号に基づいて前記２つのデータ信号の位相をそれぞれ変動させる第１、第２位相シフタと、
   を備えることを特徴とする請求項１に記載の光変調装置。
3. 前記発振回路によって発振され、前記第１、第２位相シフタのそれぞれへ出力される前記所定周波数の信号のうちの一方の信号を反転させる第１反転手段をさらに備えることを特徴とする請求項２に記載の光変調装置。
4. 前記抽出手段は、
   前記発振回路から出力される前記所定周波数の信号に基づいて前記所定周波数の成分を抽出することを特徴とする請求項２または３に記載の光変調装置。
5. 前記所定周波数の信号に基づいてクロック信号の位相を変動させる第３位相シフタと、
   前記所定周波数で位相が変動するクロック信号に基づいてＲＺ変調を行うＲＺ変調手段と、
   をさらに備え、
   前記抽出手段は、前記ＲＺ変調手段によって変調された信号から前記所定周波数の成分を抽出し、
   前記位相制御手段は、前記抽出手段によって抽出された前記信号の成分に基づいて前記クロック信号の位相を制御することを特徴とする請求項２〜４のいずれか一つに記載の光変調装置。
6. 前記所定周波数で位相が変動するクロック信号に基づいてＲＺ変調を行うＲＺ変調手段と、
   前記発振回路によって発振され、前記第１、第２位相シフタのそれぞれへ出力される前記所定周波数の信号のうちの一方の信号を反転または非反転に切り替える第２反転手段をさらに備えることを特徴とする請求項２に記載の光変調装置。
7. 前記位相制御手段は、前記第２反転手段による前記信号の反転または非反転の切替を時分割で行うことを特徴とする請求項６に記載の光変調装置。
8. クロック信号の位相を前記所定周波数とは異なる第２周波数で変動させる第２変動手段と、
   前記第２周波数で位相が変動するクロック信号に基づいてＲＺ変調を行うＲＺ変調手段と、
   前記ＲＺ変調手段によって変調された信号から前記第２周波数の成分を抽出する第２抽出手段と、
   前記第２抽出手段によって抽出された前記信号の成分に基づいて前記クロック信号の位相を制御する第２位相制御手段と、
   を備えることを特徴とする請求項１〜４のいずれか一つに記載の光変調装置。
9. 前記多値位相変調手段は、２つのマッハツェンダ型干渉計を有するＤＱＰＳＫ変調器であり、
   前記２つのマッハツェンダ型干渉計は、それぞれ前記２つのデータ信号に基づいて２値の位相変調を行うことを特徴とする請求項１〜８のいずれか一つに記載の光変調装置。
10. 前記ＲＺ変調手段は、出力部分にＭＭＩカプラを有するマッハツェンダ型干渉計であり、
    前記抽出手段は、前記ＭＭＩカプラの出力部分の一方から出力される信号から前記所定周波数の成分を抽出することを特徴とする請求項５〜８のいずれか一つに記載の光変調装置。
11. ２つのデータ信号の位相を所定周波数で変動させる変動工程と、
    前記所定周波数で位相が変動する２つのデータ信号のそれぞれに基づいて位相変調を行う多値位相変調工程と、
    前記多値位相変調工程によって変調された信号から前記所定周波数の成分を抽出する抽出工程と、
    前記抽出工程によって抽出された前記信号の成分に基づいて前記２つのデータ信号の位相を制御する位相制御工程と、
    を含むことを特徴とする光変調方法。

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