JP2008147540A - 電子部品 - Google Patents
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Abstract
【課題】本発明は、電極寸法を大きくするとともにL、Qの損失が少ない、つまり実装性および電気特性の双方の劣化のない電子部品を提供することを目的とする。
【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明の電子部品は、樹脂よりなる保護部28と、この保護部28内に形成したコイル配線部39と、保護部28の両端部および両端面に外部電極部19とを備え外部電極部19側面を外部電極部19側面から保護部28に向かって延伸部50を設けた。
【選択図】図13
【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明の電子部品は、樹脂よりなる保護部28と、この保護部28内に形成したコイル配線部39と、保護部28の両端部および両端面に外部電極部19とを備え外部電極部19側面を外部電極部19側面から保護部28に向かって延伸部50を設けた。
【選択図】図13
Description
本発明は各種電子機器に使用される電子部品に関するものである。
従来の電子部品においては、図20に示す如く、素体1の両方の端部2間になる中間部3の表面に螺旋状コイル部4を形成し、この螺旋状コイル部4を端部2の表面に形成した電極部5に接続することにより電子部品を構成するものであった。
そして、電極5の寸法や、電極5と螺旋状コイル部4との距離を調整することにより任意のQ特性や実装性を確保していた。
なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては例えば特許文献1が知られている。
特開2001−015341号公報
従来の電子部品においては、特にインダクタンス素子においては、素子の小型化を図るという条件の下で、その素子の実装性を向上させようとして電極5の寸法を大きくすると、電極5によるL、Qの損失が多くなり、その反対に電極5の寸法を抑えるとL、Qの特性を維持することはできるものの、当然ながら実装性の劣化を起こすというものであった。
つまり、実装性向上と電気特性の維持とは両立し難い項目であり、これら双方を満たす構造が必要とされている課題点があった。
そこで本発明は、電極寸法を大きくするとともにL、Qの損失が少ない、つまり実装性および電気特性の双方の劣化のない電子部品を提供するものである。
そしてこの目的を達成するために、樹脂よりなる保護部と、この保護部内に形成したコイル配線部と、前記保護部の両端部および両端面に外部電極部とを備え前記外部電極側面を前記外部電極側面から前記保護部に向かって延伸したことを特徴としたものである。
本発明によれば、電極寸法を大きくするとともにL、Qの損失が少ない、つまり実装性および電気特性の双方の劣化のない電子部品の提供を可能とするものである。
以下、本発明の一実施形態における電子部品の製造方法を図を用いて説明する。図1から図5は本発明の一実施形態における電子部品の製造方法を示した断面図である。
第1の工程である部品形成工程は最初に、図1に示す如く、シリコン基板6の上にレジスト樹脂7を塗布し、その次に図2に示す如く、紫外線8をマスク9の上方から照射し、非照射部レジスト樹脂10を現像により除去し、照射部レジスト樹脂11を残して熱硬化させ、図3に示す如くシリコン基板6の上に樹脂保護部12を形成する。
その次に、図4に示す如くシリコン基板6および樹脂保護部12の上にスパッタ膜13を形成し、さらにスパッタ膜13の上に電解Cuめっき層14を形成する。ここでスパッタ膜13は、Cuスパッタのみの一層により構成するもの、或いは下側にTiスパッタと上側にCuスパッタとの二層から構成するものの、どちらであっても構わない。
その次に、電解Cuめっき層14を切削もしくは研磨することにより、図5に示す如く、樹脂保護部12と電解Cuめっき層14とを同一面状として形成し、その上側に絶縁層15を形成する。
ここでは、樹脂保護部12と電解Cuめっき層14とからなる導体層16を一層だけ形成したが、絶縁層15に接続ビア(図示せず)を設け、以上の工程を繰り返すことにより複数の導体層16を形成し、面状に形成した複数の電子部品17を構成することが可能である。
以上の工程により図6の上面図に示す如く、面状に形成した複数の電子部品17において、第1の電子部品18の外部電極部19の端面部20は隣接する第2の電子部品21の保護部22の側面に接触させ、第1の電子部品18の外部電極部19の側面部23は略正方形のダミー保護部24の一辺に接触させている。
また、ダミー保護部24の4つの頂点部25は、第1の電子部品18と、第2の電子部品21と、第3の電子部品26と、第4の電子部品27との、それぞれにおける保護部28、22、29、30の側面と外部電極部19、31、32、33との境界部34、35、36、37の保護部28、22、29、30側に接続している。
またここでは、保護部28、22、29、30の内部にはコイル配線部39を外部電極部19、31、32、33とに接続、配置している。
そして、第1の電子部品18と、第2の電子部品21と、第3の電子部品26と、第4の電子部品27をはじめとして全ての電子部品は巴状に連続配置して形成している。
また、後に示す個片化工程において、より安定した個片化を行うための配置として上面図である図7に示す如く、第1の電子部品18を構成する一部である外部電極部19と保護部28との境界部34において、外部電極部19の側面部23を保護部28側へ楔状に侵入させる延伸部38を設けている。
その次に第2の工程である剥離工程は、図8の断面図に示す如く、シリコン基板6とシリコン基板6の上に面状に形成した複数の電子部品17との接触面40に、フッ化水素酸を浸透させ、図9に示す如く、シリコン基板6とシリコン基板6の上に面状に形成した複数の電子部品17とを剥離させる。
このとき、剥離をより効率的に行うために、図8に示す如く、各電子部品の外部電極部41の間に位置するダミー保護部24に貫通孔42を設け、貫通孔42からもフッ化水素酸を浸透させることも可能である。
この貫通孔の形成方法としては、図1から図5により説明したものと同様の方法により、図10に示す如くシリコン基板6の上に面状に複数の電子部品17を形成し、その後、外部電極部41をはじめとして必要な導体部分にマスク43を施し、マスク43から露出した貫通孔導体部44をエッチングによって除去することにより設けるものである。
その次に第3の工程である個片化工程は、図11に示す如く、面状に形成した複数の電子部品17とダミー球48とを個片化用バレル45へ投入し、この個片化用バレル45を回転させることにより複数の電子部品17に衝撃を加え、図12に示す如く、個々の電子部品46とダミー保護部47とに分離させるものである。
その次に第4の工程であるめっき工程は、外部電極部41に実装性を向上させるためのSnをはじめとする金属を電気めっきなどにより、めっきを行うものである。
そして、以上の製造方法により製造した電子部品は図13に示す如く、樹脂よりなる保護部28と、この保護部28内に形成したコイル配線部39と、保護部28の両端部および両端面に外部電極部19とを備え外部電極部19の側面部49を外部電極部19の側面部49から保護部28に向かって延伸した延伸部50を形成したものである。
上記の一実施形態における電子部品について、以下その作用および効果を説明する。
本発明の一実施形態においては図11に示す如く、面状に形成した複数の電子部品17とダミー球48とを個片化用バレル45へ投入し、この個片化用バレル45を回転させるものである。
このとき、個片化用バレル45の内部においては、面状に形成した複数の電子部品17とダミー球48とは個片化用バレル45の回転によりランダムな衝撃を受けることとなる。
ここで使用するダミー球48としては、酸化アルミニウム製の球体、もしくはジルコニア製の球体などが適している。
よって切断などによる場合などに比較して切断分離部位近傍に集中して応力が加わるものではなく、個片化工程において図12に示す個々の電子部品46が受ける衝撃力は、個片化工程の時間内での累積では全方向にほぼ均一になる。
このことから、電子部品46内部における導体部の断線等を防止することが可能となるものである。
そして、電子部品46が受ける衝撃力を小さくした場合であっても、十分に個片化を進行させることができる配列が図6に示す如く、巴状に連続配置したものである。
この配置により、ダミー保護部24を分散して配置するのではなく、集中配置させることにより1箇所あたりのダミー保護部24の面積(体積)を大きくすることができる。そしてその結果として、ダミー保護部24あるいは第1の電子部品18、第2の電子部品21、第3の電子部品26、第4の電子部品27に加わる衝撃力が小さくても、ダミー保護部24と外部電極部19、31、32、33との接触部分に大きなモーメントを得ることが可能となり、個片化の促進がより容易となる。
ここで例えば別の配置の方法としては図14に示す如く、複数の電子部品51は全て同一方向に並べて形成するものも可能である。
この場合、第1の電子部品52の両端の外部電極部53側面と第2の電子部品54の両端の外部電極部55の側面との間にダミー保護部56を、第1の電子部品52の中間部にある保護部57の側面と第2の電子部品54の中間部にある保護部58の側面との間にダミー導体部59を設ける。
また、第3の電子部品60の外部電極部61の端面と第1の電子部品52の外部電極部53の端面との間にダミー保護部62を、第4の電子部品63の外部電極部64の端面と第2の電子部品54の外部電極部55の端面との間にダミー保護部62を設ける。
この配置の場合も、製造方法としては先述のものと同様であり、パターンが異なるだけである。
そして、複数の電子部品51を図11に示す個片化用バレル45へダミー球48と共に投入して個片化を行う。
そこで図15に示す如く個片化の過程における、第1の電子部品52の外部電極部53の側面にダミー保護部56が、あるいは第1の電子部品52の中間部にある保護部57の側面にダミー導体部59が付着したままとなった場合を仮定する。
その場合、ダミー保護部56およびダミー導体部59の幅d1は電子部品52の寸法に比較して小さな寸法であるため、これらに衝撃を加えても外部電極部53の側面とダミー保護部56との接触部分や保護部57の側面のダミー導体部59との接触部分には大きなモーメントを得難いものとなる。
これに対して、先に述べた図6に示す複数の電子部品17の配置を行なった場合は、図16に示す如く個片化の過程における、第1の電子部品18の外部電極部19側面にダミー保護部24が付着したままとなった場合、ダミー保護部24の幅d2は電子部品18の寸法に比較して異形度合いが大きな寸法であるため、外部電極部19側面とダミー保護部24の接触部分には大きなモーメントを得ることが可能となる。
つまり、図15に示す外部電極部53側面とダミー保護部56との接触部分や保護部57側面のダミー導体部59との接触部分の面積をそれぞれS1、S2、そしてそこに加わるモーメントをM1、M2とし、図16に示す外部電極部19側面とダミー保護部24との接触部分の面積をS3、そしてそこで加わるモーメントをM3とした場合、単位面積当りに加わるモーメントは
M3/S3>M1/S1
M3/S3>M2/S2
の関係を満たすこととなる。
M3/S3>M1/S1
M3/S3>M2/S2
の関係を満たすこととなる。
よって以上のことから、図6に示す配置が一面あたりの複数の電子部品17の取り数を多くし、かつ個片化が小さな衝撃で可能となる点から有効であることとなる。
さらに、この個片化の方法によれば電子部品17に応力が加わり難くなるだけでなく、切断には適さない寸法の小さな製品の個片化にも対応が可能となるものである。
また、ダミー保護部24の4つの頂点部25は、第1の電子部品18と、第2の電子部品21と、第3の電子部品26と、第4の電子部品27との、それぞれにおける保護部28、22、29、30の側面と外部電極部19、31、32、33との境界部34、35、36、37の保護部28、22、29、30側に接続している。
そして、より安定した個片化を行うための配置として図7に示す如く、第1の電子部品18を構成する一部である外部電極部19と保護部28との境界部34において、外部電極部19の端部側面を保護部28側へ楔状に侵入させる延伸部38を設けるのがよい。この場合、仮にパターン形成時に突端部38やコーナー部65にダレが生じても、W4の値は変動しにくくなる。よって、個片化工程においてダミー保護部24の分離をより安定して行うことができる。
ここでは、第1の電子部品18を構成する一部である外部電極部19と保護部24とについて述べたが、当然ながら第2の電子部品21と、第3の電子部品26と、第4の電子部品27とにおける外部電極部31、32、33と保護部22、29、30との境界部35、36、37においても、外部電極部31、32、33の側面部を保護部22、29、30側へ楔状に侵入させる延伸部66、67、68を設ける。
そして、この楔状の延伸部38、66、67、68は外部電極部19、31、32、33の側面部23、69、70、71を保護部28、22、29、30側へ延伸した端部側面延伸部72、73、74、75と外部電極部19、31、32、33から保護部28、22、29、30の側面へ向かうテーパー部76、77、78、79とによって構成されている。
そして、以上の製造方法により製造した電子部品は図13に示す如く、外部電極部19の側面部49に外部電極部19の側面部49から保護部28に向かう延伸部50を形成したものである。
これにより、外部電極部19に設けた延伸部50は外部電極部19の側面部49を延伸し、実装はんだとの接触面積を大きくすることとするため、より確実な実装を行うことができるものとなる。
そして、延伸部50はテーパ形状とし、延伸部50の幅T1は外部電極部19の幅T2およびT3に比較して小さくすることにより、L、Qの劣化は殆ど発生しないものとなる。これは実装面80と平行方向に積層したコイル部39により発生する、図17に示す如く磁束81の、外部電極部19および延伸部50との鎖交数は、外部電極部19および延伸部50の実装面80と平行方向の面積に比例するためであり、図13に示す如く延伸部50の幅T1は外部電極部19の幅T2およびT3に比較して小さくすることにより、延伸部50を付加することによる、図17に示す如く磁束81の鎖交数は大幅に増えることはない。要するにL、Qの劣化は殆ど発生しないことであり、これは延伸部50の幅T1は小さくする方がL、Qの劣化はより小さくすることができる。
また、延伸部50はここでは完全に尖った状態としているが、先端に平坦部を設け非鋭角なものとしても構わない。
或いは、図18に示す如く延伸部50はコイル部39との距離を有することにより、L、Qの劣化を小さくすることができるので、延伸内側部82の形状はその近傍のコイル部最外周83の形状に平行に沿うものとすればよりよいものとなる。これは図19に示す如く、近傍のコイル部最外周83に延伸内側部84に近接した場合にはL、Qの劣化を大きくしてしまう恐れがあるためであり、図18に示す延伸内側部82の形状を変化させても、延伸部50による外部電極部19の実装面積は当然ながら減るものではない。
以上の一実施形態においてはコイルパターンのインダクタを図示したが、対向する電極パターンを形成してキャパシタを形成しても同様の製造方法において対応が可能である。
あるいは、インダクタとキャパシタとを組み合わせて複合部品としても当然ながら対応が可能である。
本発明の電子部品のL、Qを殆どロスすることなく電極の寸法を大きくし、実装性を確保することができる効果を有し、各種電子部品において有用である。
19 外部電極部
28 保護部
39 コイル配線部
50 延伸部
28 保護部
39 コイル配線部
50 延伸部
Claims (2)
- 樹脂よりなる保護部と、
この保護部内に形成したコイル配線部と、
前記保護部の両端部および両端面に外部電極部とを備え
前記外部電極側面を前記外部電極側面から前記保護部に向かって延伸した
電子部品。 - 外部電極側面を外部電極側面から保護部に向かって延伸した延伸部は、
実装面と平行な平面における断面形状を前記延伸部の先端に向かうに従い細くした
請求項1に記載の電子部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006335406A JP2008147540A (ja) | 2006-12-13 | 2006-12-13 | 電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006335406A JP2008147540A (ja) | 2006-12-13 | 2006-12-13 | 電子部品 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008147540A true JP2008147540A (ja) | 2008-06-26 |
Family
ID=39607354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006335406A Pending JP2008147540A (ja) | 2006-12-13 | 2006-12-13 | 電子部品 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2008147540A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013089640A (ja) * | 2011-10-13 | 2013-05-13 | Tdk Corp | 積層コイル部品 |
JP2018137351A (ja) * | 2017-02-22 | 2018-08-30 | Tdk株式会社 | 電子部品 |
-
2006
- 2006-12-13 JP JP2006335406A patent/JP2008147540A/ja active Pending
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US11139112B2 (en) | 2017-02-22 | 2021-10-05 | Tdk Corporation | Electronic component |
JP6996087B2 (ja) | 2017-02-22 | 2022-01-17 | Tdk株式会社 | 電子部品 |
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