JP2008139309A - 超音波検査システム、方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】超音波検査システム(10)は、結合流体(40)内に浸漬するようになった選択トランスデューサ(20)及び選択音響ミラー(18)を支持するための支持構造体(13)を有する装置(12)を含む。超音波放射線の総検査経路距離は、トランスデューサ−ミラー距離によって定まる第1の部分とミラー−対象物距離を含む第2の部分とを含む。第1及び第2の部分は、一定の総検査経路距離の範囲内で、超音波放射線を所望の水中深度において集束させるように相対的に調整することができる。トランスデューサ(20)の選択は、少なくとも部分的に所望の検査ゾーンの水中深度に応じて決まる。音響ミラーの選択は、少なくとも部分的に選択トランスデューサ(20)、総検査経路距離、及び検査対象物(24)の入射表面(26)の曲率に応じて決まる。
【選択図】 図1
Description
12 検査装置
13 支持構造体
14 ミラーホルダ
16 トランスデューサホルダ
18 音響ミラー
20 トランスデューサ
22 超音波放射線
24 対象物
26 湾曲入射表面
32 焦点
34 クリップ
36 クリップ
38 タンク
40 流体
48 支持面
50 ガイドロッド
52 ガイドロッド
54 ネジ棒
56 第1の端部(54)
58 第2の端部(54)
60 第1のノブ
62 第2のノブ
64 目盛
82 ゾーン1
84 ゾーン2
Claims (10)
- 装置(12)を備える検査システム(10)であって、
前記装置(12)が、
トランスデューサホルダ(16)内に選択トランスデューサ(20)を支持するようになった支持構造体(13)と、
前記支持構造体に支持結合状態で取付けられたミラーホルダ(14)と、
複数の音響ミラーから選択した選択的交換可能音響ミラーであって、前記選択トランスデューサによって発生された超音波放射線(22)を成形しかつ反射するように作動可能でありまた前記ミラーホルダに支持関係状態で着脱可能に取付けられた音響ミラー(18)と、を含み、
前記選択トランスデューサ及び選択音響ミラーの少なくとも1つが、前記支持構造体に移動可能な関係状態で取付けられて、トランスデューサ−ミラー距離が調整可能である
ことを特徴とする検査システム(10)。 - 少なくとも前記選択音響ミラー(18)から第1の検査対象物(24)まで延びるミラー−対象物距離をさらに含み、
前記ミラー−対象物距離が調整可能であり、また総検査経路距離が前記トランスデューサ−ミラー距離によって定まる第1の部分と前記ミラー−対象物距離によって定まる第2の部分とを含みかつ予め定めた距離である、
請求項1記載の検査システム。 - 前記複数の音響ミラーが、少なくとも、前記第1の検査対象物の入射表面曲率に全体的に関連する第1の音響ミラーと第2の検査対象物の入射表面曲率に全体的に関連する第2の音響ミラーとを含む、請求項2記載の検査システム。
- 前記第1の検査対象物が、少なくとも第1及び第2の検査ゾーン(82、84)を含み、
前記第1の検査ゾーン(82)が第1の総検査経路距離に関連し、また前記第2の検査ゾーン(84)が第2の総検査経路距離に関連する、
請求項2記載の検査システム。 - トランスデューサ選択、入射表面曲率、総検査経路距離、音響ミラー選択及び超音波放射線速度の少なくとも2つに関するアルゴリズムをさらに含む、請求項2、請求項3及び請求項4のいずれか1項記載の検査システム。
- 第1の検査対象物(24)の検査される第1のゾーン(82)の深度に少なくとも部分的に応じて、複数のトランスデューサからトランスデューサ(20)を選択するステップと、
前記選択トランスデューサを支持構造体(13)に支持結合状態で取付けるステップと、
前記第1の検査対象物の入射表面曲率に少なくとも部分的に応じて、複数の音響ミラーから音響ミラー(18)を選択するステップと、
前記選択トランスデューサ及び選択音響ミラーが初期トランスデューサ−ミラー距離に配置されまた前記トランスデューサ−ミラー距離が調整可能でありかつ予め定めた一定の総検査経路距離の第1の部分を定めるように前記選択音響ミラー(18)を前記支持構造体(13)に支持結合状態で取付けるステップと、
前記選択トランスデューサによって発生された超音波放射線を前記選択音響ミラーで前記第1のゾーン(82)に向けて成形しかつ反射するステップと、
前記一定の総検査経路距離の範囲内で前記トランスデューサ−ミラー距離を調整するステップと、
を特徴とする方法。 - 前記超音波放射線を成形しかつ反射するステップに先立って、前記第1の検査対象物(24)を収容した結合流体(40)内に前記選択トランスデューサ及び選択音響ミラーを、前記第1の検査対象物が少なくとも前記選択音響ミラーから該第1の検査対象物まで延びる初期ミラー−対象物距離に配置されまた前記ミラー−対象物距離が調整可能でありかつ前記総検査経路距離の第2の部分を定めるように浸漬するステップをさらに含む、請求項6記載の方法。
- 前記一定の総検査経路距離の範囲内で前記ミラー−対象物距離を調整するステップをさらに含む、請求項7記載の方法。
- 前記第1の検査対象物(24)の検査される次のゾーン(84)の深度に少なくとも部分的に応じて、前記選択トランスデューサ(20)を第2のトランスデューサと交換すること及び前記選択音響ミラー(18)を第2の音響ミラーと交換することの少なくとも1つを選択的に行うステップをさらに含む、請求項6、請求項7及び請求項8のいずれか1項記載の方法。
- 前記第1の検査対象物(24)を、その入射表面曲率が該第1の検査対象物の入射表面曲率とは異なる第2の検査対象物と選択的に置き換えるステップと、
前記第2の検査対象物の検査されるゾーンの深度に少なくとも部分的に応じて、前記選択トランスデューサ(20)を前記複数のトランスデューサから選択した第2のトランスデューサと交換すること及び前記選択音響ミラー(18)を前記複数の音響ミラーから選択した第2の音響ミラーと交換することの少なくとも1つを選択的に行うステップと、
をさらに含む、請求項6、請求項7、請求項8及び請求項9のいずれか1項記載の方法。
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