JP5650339B1 - 超音波検査装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】アレイ型プローブを備える超音波検査装置に適用して、ワークの水濡れをほぼ検査面に限定する。【解決手段】超音波検査装置100は、検査面を下に向けてワーク106を保持するワークホルダ105と、ワーク106を超音波で探触するアレイ型プローブ107と、水にアレイ型プローブ107を浸す水槽109と、ワーク106の検査面の下方にアレイ型プローブ107を相対するように保持するアーム116と、水槽109に蓄えた水の表面張力によってワーク106の検査面に液面が接触した状態で、ワーク106を水平に走査するX軸方向走査手段104A,104Bと、アレイ型プローブ107を水平に走査するY軸方向走査手段101とを備える。【選択図】図1

Description

本発明は、超音波検査装置に関する。
超音波検査装置とは、検査対象である被検体(以後、「ワーク」と記載している場合がある。)に超音波を照射し、反射または透過してきた超音波を超音波探触子(以後、「プローブ」と記載している場合がある。)で受信して画像化する装置である。例えば、ワークが電子デバイスの場合には微細な欠陥を検出する必要があり、超音波検査装置には、高い分解能が要求される。超音波検査装置は、使用する超音波の周波数が高いと、高い分解能が得られるが、その反面として減衰が大きくなりS/N比が低下する虞がある。水は空気に比べて高周波の超音波の減衰の程度が小さいため、通常は、ワークを水没させて、プローブ先端とワーク表面との間を水で満たした状態で超音波検査を行うことが多い。そして、超音波検査装置は、ワーク内部の観察対象となっている界面に焦点を合わせ、プローブ先端とワーク表面との間の距離(以後、「水距離」と記載している場合がある。)を所定値に保ったまま、プローブを走査して得られた結果を画像化する。これにより、欠陥の位置・形状・深さを知ることができる。
電子デバイスは、水に濡れると腐食や金属汚染などによる不良が発生する原因となる。そのため、従来の電子デバイスの超音波検査では、抜き取り検査が行われてきた。しかし、車載用などの電子デバイスでは、1件でも不具合があると大きな損失が生じる場合がある。万が一にも社外品質不良を発生させないため、全数検査の必要性が高まっている。すなわち、これらの重要な部品を検査するには、水に濡れることを極力避け、かつ高速で検査することが必要である。
超音波プローブは、大別すると、単一の超音波振動素子が配されたシングル型プローブと、多数の超音波振動素子が列状に配されたアレイ型プローブとがある。シングル型プローブは、単一の超音波振動素子を用いて超音波の送受信を行う。アレイ型プローブは、列状に配された超音波振動素子の内の幾つか連接する複数の超音波振動素子群で1つの超音波パルスビームを送受信する。
アレイ型プローブを備える超音波検査装置は、これら複数の超音波振動素子群を構成する各超音波振動素子に送波信号(励振信号)を与える。超音波検査装置は更に、各超音波振動子で受波信号(エコー波の受信信号)を受信する。超音波検査装置は、送波信号(励振信号)と受波信号(エコー波の受信信号)に所定の時間的ずれ(遅延パターン)を与え、いわゆるフェーズドアレイとして機能させる。これにより、超音波検査装置は、超音波ビームを集束させて、焦点を持った超音波エコーを得ることができる。各超音波振動素子の配列方向に直交する方向に曲率をつけることにより、配列方向に直交する方向についても超音波ビームを集束させて、焦点を持った超音波エコーを得ることができる。アレイ型プローブでは超音波パルスビームを送信する複数の超音波振動子群を電子的に走査することにより、高速測定が可能となる。IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)やシリコンウェハのような大きなワークを検査する場合には、スループットを高めるためにアレイ型プローブを用いることがある。
なお、水を嫌う電子デバイスなどをワークとして検査する場合、特許文献1の図1に示されるように、検査面を下に向けたワーク下方にプローブを設置し、プローブの周囲から水を噴き上げるタイプの局所水浸型のプローブが提案されている。特許文献1の第8頁には、「図1に示すように、ウェハへの超音波ビームの音響結合は、トランスデューサに近接した一つ以上の位置から流体を流すことによって維持される水または他の流体110の列によって増強される。」(参考訳)と記載されている。
米国特許第7661315号明細書
しかし、特許文献1に示すプローブは、超音波放射面が水の放出口の上に突出した形状であるため、所定の水圧で水柱を形成する必要がある。特にプローブからの超音波放射面と検査面までの水距離が長い場合には、高い水圧を必要とする。そのため、プローブの水放出口の近傍や、ワークの検査面に水柱が当たった場所に、水圧の急激な変化に伴う泡(キャビテーション)が発生しやすい。このような泡は、高周波の超音波の減衰が大きいため、検査の障碍となる。
特許文献1に示した方式は、細い水柱を形成すればよいシングル型プローブには適用可能であるが、アレイ型プローブには、太い水柱を形成して広い面積で水圧分布を安定して均一に保つ必要があり、適用困難である。
一般に超音波検査装置では、ワーク表面ではなくワーク内部の欠陥を検査する目的で使用される。そのため、水距離はプローブの焦点距離よりも短い状態で使用することが一般的で、ワークの材料や深さ方向の構造によって焦点を結ぶ深さも異なる。したがって、特許文献1に示した方式は、ワークによっては所望の深さに焦点を結ぶことが困難である。
また、検査面を上に向けたワーク上方にプローブを設置し、プローブの上方から水を供給する方式の局所水浸型のプローブも提案されている。この方式では、ワークを完全に水没させるよりも濡れる部分を減少させることはできるが、検査対象の側面や底面の一部に水が回り込む虞がある。
そこで、本発明では、アレイ型プローブを備える超音波検査装置に適用して、ワークの水濡れをほぼ検査面に限定することを課題とする。
前記した課題を解決するため、第1の発明の超音波検査装置は、平面状の検査面を下に向けて水平に被検体を保持する被検体保持機構と、前記被検体を超音波で探触する列状のアレイ型探触子と、超音波を伝播させる液体に前記アレイ型探触子を浸す槽と、前記被検体の検査面の下方に前記アレイ型探触子を相対するように前記槽と共に保持する探触子保持機構と、前記槽に蓄えた液体の表面張力によって前記被検体の検査面に液面が平行に接触した状態で、前記被検体および/または前記アレイ型探触子を水平に走査する水平走査手段と、前記被検体に対する前記槽の相対的な高さおよび前記探触子保持機構の相対的な高さをそれぞれ調整する高さ調整機構と、前記アレイ型探触子のあおり量を調整するあおり量調整機構と、を備える。
その他の手段については、発明を実施するための形態のなかで説明する。
本発明によれば、アレイ型プローブを備える超音波検査装置に適用して、ワークの水濡れをほぼ検査面に限定することが可能となる。
第1の実施形態における超音波検査装置を示す概略の構成図である。 第1の実施形態におけるアレイ型プローブ近傍の構成と動作とを示す拡大図である。 第2の実施形態における超音波検査装置を示す概略の構成図である。 第2の実施形態におけるアレイ型プローブ近傍の構成と動作とを示す拡大図である。 第3の実施形態における超音波検査装置の一部を示す概略の構成図である。 第3の実施形態におけるアレイ型プローブ近傍の構成と動作とを示す拡大図である。
以降、本発明を実施するための形態を、各図を参照して詳細に説明する。
(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態における超音波検査装置100を示す概略の構成図である。
図1に示すように、超音波検査装置100は、検査面を下に向けてワーク106(被検体)を保持するワークホルダ105(被検体保持機構)と、これを水平(X軸)方向に可動とするX軸方向走査手段104A,104B(水平走査手段)とを備える。超音波検査装置100は更に、アーム116と、このアーム116を固定するステージ103と、ステージ103を可動させるY軸方向走査手段101およびZ軸方向走査手段102を備える。
アーム116(探触子保持機構)は、その上側にアレイ型プローブ107と、その筐体108と、水槽109とを保持する。アーム116は、ワーク106の検査面の下方にアレイ型プローブ107を相対するようにアレイ型プローブ107の筺体108を保持する。アーム116は更に、上部にコネクタ114を備えている。コネクタ114には、外部の信号処理装置の信号ケーブル115が接続される。信号ケーブル115は、アレイ型プローブ107から超音波を発生させたり、ワーク106から反射されて戻ってきた超音波を検出するためのものである。
Y軸方向走査手段101(水平走査手段)は、ステージ103を水平(Y軸)方向に可動させることにより、ワーク106の検査面をアレイ型プローブ107で水平(Y軸)方向に走査する。なお、水平走査手段は、第1の実施形態に限られず、ワーク106および/またはアレイ型プローブ107を水平に走査すればよい。これにより、水平走査手段は、ワーク106の検査面に対してアレイ型プローブ107を相対的に走査可能である。
Z軸方向走査手段102は、ステージ103を高さ(Z軸)方向に可動させることにより、アーム116上の水槽109およびアレイ型プローブ107を高さ方向に可動させる。Z軸方向走査手段102は、ワーク106に対するアレイ型プローブ107および水槽109の相対的な高さを調整する高さ調整機構のひとつである。
アレイ型プローブ107(アレイ型探触子)は、長手方向がY軸方向になるように設置される。アレイ型プローブ107およびその筺体108の周囲には、水槽109(槽)が設けられる。水槽109は、水を蓄えてアレイ型プローブ107およびその筺体108を水に浸す。水槽109に蓄えられた水の表面張力によって、ワーク106の検査面には水面が接触する。これにより、検査面とアレイ型プローブ107との間が水で満たされるので、アレイ型プローブ107は、ワーク106を超音波で探触可能である。なお、検査面とアレイ型プローブ107との間を満たすのは水に限られず、超音波を伝播可能な液体であればよい。
検査面とアレイ型プローブ107との間を水で確実に満たすため、水槽109の外縁はアレイ型プローブ107の外縁よりも5mm以上広くするとよい。水槽109の側面には、給水口110と、給水口110に接続される給水チューブ111とが設けられている。給水チューブ111には、水槽109に水を供給するポンプ130が接続されている。このポンプ130は、水槽109に溜まった水117の液面が波立たない程度の水量を供給する。ポンプ130は、流量制御が可能である。しかし、これに限られず、所定流量を供給するポンプと流量制御を可能とするバルブおよびバイパス配管の組合せである流量制御機構により、水槽109の液面が波立たない程度の水量を供給してもよい。
水槽109は、調整ネジ131A,131B,131Cにより、水槽109の上縁の平行出しと高さ調整を行うことができる。これら調整ネジ131A,131B,131Cは、それぞれ調整ツマミ113A,113Bおよび不図示の調整ツマミに接続されている。調整ツマミ113A,113Bおよび不図示の調整ツマミの送り量を同量とすることで、水槽109の上縁の高さ調整を行うことができる。更に調整ツマミ113A,113Bおよび調整ツマミ113C(図2参照)の送り量をそれぞれ微妙に変えることで、水槽109に溜めた水117の表面が、検査面に対してほぼ平行となるように微調整できる。
この水槽109は、アレイ型プローブ107の筐体108にガタツキがなくスムーズに上下に動く程度の嵌め合いで取りつけられている。そのため、水槽109と筐体108の間からは、極端に水が漏れることはない。なお、水槽109と筐体108との間は、必要に応じてOリングなどでシールしてもよい。調整ネジ131A,131B,131Cと、調整ツマミ113A,113Bおよび調整ツマミ113C(図2参照)とは、ワーク106に対する水槽109の相対的な高さを調整する高さ調整機構のひとつである。
アレイ型プローブ107を使って検査を行う際には、アレイ型プローブ107の長手方向がワーク106の検査面とほぼ平行となるように、アレイ型プローブ107を設置する必要がある。アレイ型プローブ107(筐体108)の長手方向の傾き(あおり量)は、固定ネジ112A,112Bによって調整可能である。
固定ネジ112A,112Bは、アレイ型プローブ107を保持するアーム116を、ステージ103に固定している。これら固定ネジ112A,112Bは、長穴を通る。
アーム116をステージ103に固定する位置は、固定ネジ112A,112Bを止める長穴の位置を調整することにより調整可能である。よって、アレイ型プローブ107のあおり量を調整し、ワーク106の検査面との平行出しが可能である。すなわち、固定ネジ112A,112Bは、アレイ型プローブ107のあおり量を調整するあおり量調整機構である。
第1実施形態の超音波検査装置100は、以下のようにして検査を行う。
図1に示すように、検査者は先ず、ワークホルダ105に、検査面を下に向けたワーク106を載せる。この際、必要に応じてチャッキングを行う。第1実施形態のチャッキングの方法は、ワーク106を下で支えることにより、ワークホルダ105にワーク106を機械的に止めるものである。そのほかの方法として、ワーク106の上面を真空吸着して保持する方法や、ワーク106の側面から摩擦係数の高い材料を押し当てて保持する方法などが考えられる。
検査者は次に、X軸方向走査手段104A,104BおよびY軸方向走査手段101を用いて、アレイ型プローブ107を、ワーク106の検査面(検査領域)の下に移動させる。
次に、ポンプ130により、給水チューブ111と給水口110とを通じて水槽109に水を供給し、水槽109の上縁から水117がオーバフローするまで待つ。これにより、水の表面張力により、液面を水槽109の上縁を超えさせることができる。ポンプ130による給水量は、水面が波立たず、ほぼ静水面と見なせる程度とする。アレイ型プローブ107から発生した超音波が、水面が波立って発生した気泡で反射されてしまうことを防止するためである。
図2は、第1の実施形態におけるアレイ型プローブ107近傍の構成と動作とを示す拡大図であり、水槽109の縁から水117がオーバフローしている。
図2に示すように、水117は、表面張力で水面が水槽109の上縁から高さhだけ高くなっている。
この状態でZ軸方向走査手段102を用いて水117の液面が検査面に触れるまでアレイ型プローブ107を持ち上げる。このとき、水槽109の上縁の位置が高すぎたり、傾いていてワーク106の検査面に当たるようであれば、調整ツマミ113A,113B,113Cを用いて傾きを調整する。これにより、水槽109の上縁の高さ調整および平行出しが可能である。
図2に示すように、信号ケーブル115は、アーム116の内部を通り、アレイ型プローブ107と電気的に接続される。信号ケーブル115は、アーム116の内部を通っており、アレイ型プローブ107と筐体108の間および筺体108とアーム116の間をコーキングなどで埋めることにより、水濡れによるショートを防いでいる。
以下、再び図1を参照して、検査方法を説明する。
検査者は、信号ケーブル115に接続されたアレイ型プローブ107から超音波を発生させ、ワーク106の検査面に焦点を合わせる。ワーク106の検査面で反射されたエコー信号が戻ってくる時間がアレイ型プローブ107の長手方向で均一になるように固定ネジ112A,112Bを調整することで、ワーク106の検査面に対するアレイ型プローブ107の平行出しを行う。これにより、アレイ型プローブ107は、ワーク106の検査面と平行な面を超音波で探触可能である。
その後検査者は、Z軸方向走査手段102を用いてアレイ型プローブ107の焦点をワーク106の検査を行いたい所望の深度に合わせる。更に水槽109の縁と検査面の間が高さHになるように調整ツマミ113A,113B,113Cを用いて水槽109の高さ調整と平行出しとを行う。
図2に示すように、水槽109の上縁に対するワーク106の検査面の高さHは、表面張力で水面が水槽109の上縁から盛り上がる高さh以下としている。これにより、水面を波立たせることなくほぼ静水面と見なせる状態で、水117の液面を検査面に接触させることができ、気泡の発生を抑止できる。ここで高さHは、0mmを超え、かつ2mm以下に設定している。ここまでの作業でアレイ型プローブ107および水槽109の調整は完了する。
なお、水槽109の上縁の検査面と相対する面は、表面張力で水面が水槽109の上縁から盛り上がる高さhを大きくするため、水に対する濡れ性の悪い材料または濡れ性が悪くなるように表面加工した材料を用いることが望ましい。
次に、超音波検査装置100は、アレイ型プローブ107を始点に移動させ、走査を開始する。
最初、X軸方向走査手段104A,104Bは、ワーク106をX方向に送ることにより、X方向に走査する。X軸方向走査手段104A,104B(水平走査手段)は、水槽109に蓄えた水の表面張力によってワーク106の検査面に液面が接触した状態で、ワーク106を水平(X軸)方向に走査する。
X方向の1ライン分の走査を終了したならば、Y軸方向走査手段101がアレイ型プローブ107の長手方向の長さ分だけ、このアレイ型プローブ107を送る。Y軸方向走査手段101は、(水平走査手段)は、水槽109に蓄えた水の表面張力によってワーク106の検査面に液面が接触した状態で、ワーク106を水平(Y軸)方向に送る。
次にX軸方向走査手段104A,104Bは、ワーク106を、直前のX方向の走査とは逆方向に送る。X軸方向走査手段104A,104B(水平走査手段)は、水槽109に蓄えた水の表面張力によってワーク106の検査面に液面が接触した状態で、ワーク106を水平方向に走査する。
超音波検査装置100は、これらの走査手順を繰り返して、検査領域を走査する。
Y軸方向走査手段101によるアレイ型プローブ107の走査の速度は、ワーク106の検査面と水槽109との間に空気が入り込まない程度に遅くしている。これにより、検査面への気泡の侵入を防ぎ、アレイ型プローブ107による超音波の照射と受信に支障が出ないようにしている。
(第2の実施形態)
第2の実施形態は、アレイ型プローブ107の走査方向の前後にシート状の気流発生装置を設け、水が接して濡れた検査面に気流を吹きつけて、乾燥させながら走査を行うものである。これにより、ワーク106が水に濡れることによる弊害を更に防止できる。
図3は、第2の実施形態における超音波検査装置100Aを示す概略の構成図である。図1に示す第1の実施形態の超音波検査装置100と同一の要素には同一の符号を付与している。
図3に示すように、第2の実施形態の超音波検査装置100Aは、第1の実施形態の超音波検査装置100と同様な構成に加えて、エアナイフ発生装置118A,118B(気流発生装置)を設けている。
エアナイフ発生装置118A,118B(気流発生装置)は、アレイ型プローブ107の短手方向の前後にアレイ型プローブ107と平行に設けられている。エアナイフ発生装置118A,118Bは、水槽109から遠ざかる方向にシート状の気流を発生させる。このシート状の気流は、エアナイフと呼ばれる場合がある。
エアナイフ発生装置118A,118Bには、乾燥空気や乾燥窒素など、0.1[MPa]以上の高圧ガスがガス配管により供給される。エアナイフ発生装置118A,118Bは、スリット上の隙間から高圧ガスをシート状に噴き出す。
超音波検査装置100Aは、アレイ型プローブ107の通過後に、ワーク106の検査面に残った水をエアナイフによって吹き飛ばす。これにより、ワーク106が水に濡れることによる弊害を、より一層に防止可能である。エアナイフ発生装置118A,118Bは、加熱部を備えて、シート状の気流を温風として噴き出してもよい。温風のエアナイフにより、乾燥の効果を増すことができる。
図4は、第2の実施形態におけるアレイ型プローブ107近傍の構成と動作とを示す拡大図である。図2に示す第1の実施形態と同一の要素には同一の符号を付与している。
図4に示した例は、ワーク106を図の左から右へ走査する場合であり、ワーク106の検査面上に残る水滴を、エアナイフ気流121Bによって吹き飛ばしている状態を示している。
エアナイフ発生装置118Aは、高圧ガス供給口120Aを備えている。高圧ガス供給口120Aには、高圧ガス配管119Aが接続される。高圧ガスが、高圧ガス配管119Aを通じて高圧ガス供給口120Aからエアナイフ発生装置118Aに供給され、エアナイフ気流121Aとして左斜め上方にシート状に噴き出す。
エアナイフ発生装置118Bも同様に、高圧ガス供給口120Bを備えている。高圧ガス供給口120Bには、高圧ガス配管119Bが接続される。高圧ガスが、高圧ガス配管119Bを通じて高圧ガス供給口120Bからエアナイフ発生装置118Bに供給され、エアナイフ気流121Bとして右斜め上方にシート状に噴き出す。
エアナイフ発生装置118A,118Bのスリット上の隙間は、検査面に対して、水槽109から遠ざかる斜め方向に形成される。これにより、シート状の気流(エアナイフ)は、検査面に対して吹き付けてワーク106の検査面に残った水を吹き飛ばすと共に、水槽109から遠ざかる向きに斜め方向に吹き付ける。これにより、水槽109の水面は、波立つことなく安定を保つことができる。
シート状の気流(エアナイフ)は、垂直や水槽109に近づける向きに斜めに吹き付けるようにすると、水槽109の水に当たって、その水面を波立たせて不安定化させてしまい、気泡を発生させる虞があるためである。
なお、超音波検査装置100Aは、ワーク106の走査方向に応じて、エアナイフ発生装置118A,118Bを動作させてもよい。超音波検査装置100Aは、ワーク106を図の右から左へ走査する場合に、エアナイフ発生装置118Aを動作させてエアナイフ気流121Aを噴き出させる。超音波検査装置100Aは、ワーク106を図の左から右へ走査する場合に、エアナイフ発生装置118Bを動作させてエアナイフ気流121Bを噴き出させる。これにより、高圧ガスの消費量を削減できるとともに、水槽109の水面は、更に波立つことなく安定を保つことができる。
(第3の実施形態)
第3の実施形態の超音波検査装置100Bは、第1の実施形態とは異なり、ワーク106を固定させて、アレイ型プローブ107をXYZ軸で可動させる。第3の実施形態の超音波検査装置の利点は、ワーク106を固定させているため、超音波検査装置の設置スペースを小さくできることである。
図5は、第3の実施形態における超音波検査装置100Bの一部を示す概略の構成図である。図1に示す第1の実施形態の超音波検査装置100と同一の要素には同一の符号を付与している。
第3の実施形態の超音波検査装置100Bにおいて、アレイ型プローブ107と、筐体108とは、水槽109に囲われている。これらは、パン240の上に設置される。パン240は、水槽109からオーバフローする水を受けるものである。パン240には、水を排水する排水チューブ241が接続される。
パン240は、パン固定台242の上に設置される。パン固定台242は、2軸ゴニオステージ205の上に設置される。2軸ゴニオステージ205は、アレイ型プローブ107のXY方向の傾きを調整するためのものである。
2軸ゴニオステージ205は、Z軸方向走査手段202によりZ軸方向に可動される。2軸ゴニオステージ205は、X軸方向走査手段204によりX軸方向に可動される。2軸ゴニオステージ205は更に、Y軸方向走査手段201によりY軸方向に可動される。このように、第3の実施形態の超音波検査装置100Bは、アレイ型プローブ107をXYZ軸の方向に走査できるので、ワーク106(不図示)を固定させて、超音波検査装置100Bの平面投影面積を小さくできる。ワーク106を固定させて超音波で探触しているので、超音波検査装置100Bは、ワーク106の振動を減らして、より精密な超音波像を取得可能である。
図6は、第3の実施形態におけるアレイ型プローブ107近傍の構成と動作とを示す拡大図である。
給水チューブ111から供給された水は、水槽109からオーバフローして、パン240で受けられて排水245となる。排水245は、排水チューブ241を介して排出される。このような構造とすることで、X軸方向走査手段204・Y軸方向走査手段201・Z軸方向走査手段202は、水に濡れることがなくなる。
なお、排水チューブ241で排出した水は、ポンプ130に環流させて循環してもよい。これにより、水の使用量を削減可能である。
水槽109の高さおよび平行出しは、調整ツマミ113A,113Bおよびアレイ型プローブの向こう側に設置されている調整つまみ113Cによって行う。調整ツマミ113Aと調整ネジ131Aとは、シール軸受け132Aを介して接続される。調整ツマミ113Bと調整ネジ131Bとは、シール軸受け132Bを介して接続される。調整ツマミ113Cと調整ネジ131Cとは、シール軸受132Cを介して接続される。シール軸受け132A,132B,132Cは、パン240からの漏水を防止する目的で設けられている。調整ツマミ113A,113B,132Cを回すことにより、水槽109はアレイ型プローブ107の外縁に沿って上下する。
給水チューブ111から供給された水は、給水口110を介して水槽109に供給される。水槽109の上縁から溢れた水は、パン240に排水245として溜まる。この排水245は、排水口244と排水チューブ241とを介して、外部に排出される。
第3の実施形態の超音波検査装置100Bは、真空吸着機構250を備えている。真空吸着機構250は、Oリング251を備え、ワーク106の検査面の反対面からの真空吸着によりワーク106を止める。真空吸着方式は、ワーク106を機械的に止める方式に比べて、水槽109およびアレイ型プローブ107を更に検査面に近づけることができる。
(変形例)
本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば上記した実施形態は、本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることも可能である。
各実施形態に於いて、制御線や情報線は、説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には、殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
100,100A,100B 超音波検査装置
101,201 Y軸方向走査手段 (水平走査手段)
102,202 Z軸方向走査手段 (高さ調整機構)
103 ステージ (探触子保持機構)
104A、104B、204 X軸方向走査手段 (水平走査手段)
105 ワークホルダ (被検体保持機構)
106 ワーク (被検体)
107 アレイ型プローブ (アレイ型探触子)
108 筐体
109 水槽 (槽)
111 給水チューブ
112A,112B 固定ネジ (あおり量調整機構)
113A,113B,113C 調整ツマミ (水槽のあおり・高さ調整機構)
114 コネクタ
115 信号ケーブル
116 アーム (探触子保持機構)
117 水
118A,118B エアナイフ発生装置 (気流発生装置)
119A,119B 高圧ガス配管
120A,120B 高圧ガス供給口
121A,121B エアナイフ気流
130 ポンプ
131A,131B,131C 調整ネジ (水槽のあおり・高さ調整機構)
132A,132B,132C シール軸受け
205 2軸ゴニオステージ (探触子保持機構)
240 パン
241 排水チューブ
242 パン固定台
250 真空吸着機構

Claims (6)

  1. 平面状の検査面を下に向けて水平に被検体を保持する被検体保持機構と、
    前記被検体を超音波で探触する列状のアレイ型探触子と、
    超音波を伝播させる液体に前記アレイ型探触子を浸す槽と、
    前記被検体の検査面の下方に前記アレイ型探触子を相対するように前記槽と共に保持する探触子保持機構と、
    前記槽に蓄えた液体の表面張力によって前記被検体の検査面に液面が平行に接触した状態で、前記被検体および/または前記アレイ型探触子を水平に走査する水平走査手段と、
    前記被検体に対する前記槽の相対的な高さおよび前記探触子保持機構の相対的な高さをそれぞれ調整する高さ調整機構と、
    前記アレイ型探触子のあおり量を調整するあおり量調整機構と、
    を備えることを特徴とする超音波検査装置。
  2. 前記アレイ型探触子と平行に設けられ、前記槽から遠ざかる方向にシート状の気流を発生させる気流発生装置、
    を備えることを特徴とする請求項1に記載の超音波検査装置。
  3. 前記被検体保持機構は、真空吸着により上側から前記被検体を保持する、
    ことを特徴とする請求項1に記載の超音波検査装置。
  4. 前記被検体および/または前記アレイ型探触子を水平に走査するとき、前記被検体の検査面と前記槽の上縁との間隔は、0mmを超え、かつ2mm以下である、
    ことを特徴とする請求項1に記載の超音波検査装置。
  5. 前記槽に液面が波立たない流量で液体を供給するポンプまたは流量制御機構、
    を備えることを特徴とする請求項1に記載の超音波検査装置。
  6. 前記水平走査手段は、前記被検体の検査面と前記アレイ型探触子との間に空気が入らないような速度で、前記被検体および/または前記アレイ型探触子を水平に走査する、
    ことを特徴とする請求項1に記載の超音波検査装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015119063A1 (ja) * 2014-02-06 2015-08-13 株式会社日立パワーソリューションズ 超音波検査装置および超音波検査方法
CN109490422A (zh) * 2018-12-03 2019-03-19 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所 用于塑封微电路器件批量扫描的固定装置

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5963929B1 (ja) * 2015-09-04 2016-08-03 株式会社日立パワーソリューションズ 超音波検査装置、超音波検査システム、及び超音波検査方法
KR101736612B1 (ko) * 2015-12-07 2017-05-17 주식회사 포스코 높이 조절형 초음파 센서를 이용한 강판의 내부 결함 탐상 장치 및 방법
JP6745196B2 (ja) 2016-11-04 2020-08-26 浜松ホトニクス株式会社 超音波検査装置
CN106770661B (zh) * 2017-02-15 2018-02-02 吉林大学 单电机驱动的手持式焊点超声自动扫查器
JP6479243B1 (ja) * 2018-07-02 2019-03-06 株式会社日立パワーソリューションズ 超音波映像システム
CN109406626A (zh) * 2018-09-10 2019-03-01 中国电子科技集团公司第五十五研究所 超声波扫描检测装置及采用其固定待测样品的方法
US11504854B2 (en) * 2019-04-09 2022-11-22 Arizona Board Of Regents On Behalf Of Arizona State University Systems and methods for robotic sensing, repair and inspection
CN112505146A (zh) * 2020-11-26 2021-03-16 电子科技大学 一种基于超声波反射的igbt模块焊线断裂检测方法
KR20230023957A (ko) * 2021-08-11 2023-02-20 삼성전자주식회사 반도체 검사 장치 및 방법
JP7106782B1 (ja) 2022-05-19 2022-07-26 株式会社日立パワーソリューションズ 超音波映像装置および接合ウェハへの液体浸入防止方法

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4507969A (en) * 1983-03-15 1985-04-02 Martin Marietta Corporation Ultrasonic liquid jet probe
JP3107324B2 (ja) * 1992-02-20 2000-11-06 株式会社日立製作所 超音波検査装置
JPH09133663A (ja) * 1995-11-09 1997-05-20 Hitachi Constr Mach Co Ltd 超音波検査装置
US7530271B2 (en) * 2003-03-13 2009-05-12 Sonix, Inc. Method and apparatus for coupling ultrasound between an integral ultrasonic transducer assembly and an object
US7661315B2 (en) * 2004-05-24 2010-02-16 Sonix, Inc. Method and apparatus for ultrasonic scanning of a fabrication wafer
EP1762180B1 (en) * 2004-06-09 2015-04-15 Hitachi Medical Corporation Elastic image display method and ultrasonographic device
CN101263384B (zh) * 2005-08-26 2011-10-26 住友金属工业株式会社 超声波探伤方法及无缝管的制造方法
JP2007315881A (ja) * 2006-05-25 2007-12-06 Omron Corp 溶接検査機器および溶接検査装置、溶接検査方法、溶接検査プログラム、該プログラムを記録した記録媒体
US7917317B2 (en) * 2006-07-07 2011-03-29 Sonix, Inc. Ultrasonic inspection using acoustic modeling
CN1928544A (zh) * 2006-09-18 2007-03-14 中国第二重型机械集团公司 回转体工件在线超声波探伤方法及装置
US7571649B2 (en) * 2007-02-28 2009-08-11 The Boeing Company Probe for inspection of edges of a structure
WO2009124289A2 (en) * 2008-04-04 2009-10-08 Microsonic Systems Inc. Methods and apparatus for ultrasonic coupling using micro surface tension and capillary effects
TWI585806B (zh) * 2008-04-11 2017-06-01 荏原製作所股份有限公司 試料觀察方法與裝置,及使用該方法與裝置之檢查方法與裝置
JP2009276319A (ja) * 2008-05-19 2009-11-26 Choonpa Zairyo Shindan Kenkyusho:Kk 空気超音波診断装置
DE102008037516A1 (de) * 2008-11-03 2010-05-27 Ge Sensing & Inspection Technologies Gmbh Ultraschall-Prüfkopfanordnung sowie Vorrichtung zur Ultraschallprüfung eines Bauteils
JP5093699B2 (ja) * 2010-09-09 2012-12-12 住友金属工業株式会社 管端部の超音波探傷装置
US8459120B2 (en) * 2010-11-05 2013-06-11 Sonix, Inc. Method and apparatus for automated ultrasonic inspection
US9170236B2 (en) * 2010-11-23 2015-10-27 Sonoscan, Inc. Acoustic micro imaging device with a scan while loading feature
JP5172032B1 (ja) 2012-06-26 2013-03-27 株式会社日立エンジニアリング・アンド・サービス 超音波検査装置、および、超音波検査方法
JP5650339B1 (ja) * 2014-02-06 2015-01-07 株式会社日立パワーソリューションズ 超音波検査装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015119063A1 (ja) * 2014-02-06 2015-08-13 株式会社日立パワーソリューションズ 超音波検査装置および超音波検査方法
US10209228B2 (en) 2014-02-06 2019-02-19 Hitachi Power Solutions Co., Ltd. Ultrasonic testing device and ultrasonic testing method
CN109490422A (zh) * 2018-12-03 2019-03-19 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所 用于塑封微电路器件批量扫描的固定装置

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