JP2008136029A - 近似3次関数発生回路および温度補償型水晶発振回路 - Google Patents

近似3次関数発生回路および温度補償型水晶発振回路 Download PDF

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Abstract

【課題】温度補償型水晶発振器(TCXO)の3次関数制御電圧の調整を行いやすくする為に3次関数の係数を独立して制御でき、かつ構成が簡略化され小型化になる回路構成を提供する。
【解決手段】近似3次関数発生回路100は、一方の入力端子に1次関数信号が入力され、他方の入力端子に第1の定レベル信号が入力される第1の差動増幅器103と、一方の入力端子に1次関数信号が入力され、他方の入力端子に第2の定レベル信号が入力される第2の差動増幅器104と、第1と第2の差動増幅器103,104の電圧出力を合成し、近似3次関数成分を出力する合成回路114,115とを備える。また、差動増幅器1つで1次成分関数を構成し、その出力をN系統に分け、その出力にオフセット信号をつける回路を備え、そのN系統の出力を合成する合成回路を備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、近似3次関数発生回路、近似3次関数定数調整回路および電圧制御型水晶発振回路を用いた温度補償型水晶発振器(TCXO)に関するものである。
現在の温度補償型発振器(以下TCXO)は、温度センサとして、バンドギャップリファレンスのVtに比例した電流を使用したものや、抵抗の温度特性を使用したもの、ダイオードの順方向電圧の温度特性を使用したものが主に使用されている。
これ等の温度センサを使用して、3次関数発生回路、近似3次関数発生回路を構成しバラクタにその制御電圧を印加して、発振回路と組み合わせて温度補償を行っている。
先に本出願人が提案した近似3次関数発生回路は以下の式で表すことが出来る(例えば、特許文献1参照)。
VC=A(X)3+B(X)2+C(X)+D
=α(Ta-T0)3+β(Ta-T0)+γ ・・・(1)
α・・・3次定数
β・・・1次定数
γ・・・0次定数
T0・・・変極点
なお、VCは温度補償用の制御電圧、Taは周囲温度である。
これらの4つのパラメータを独立して調整して水晶振動子の周波数を調整することが望ましい。
特許文献1に記載の第1の実施形態の従来の温度補償回路は、図16に回路図の一例を示したように構成されている。図16において、定電圧回路(17)と温度センサ回路(18)によって、周囲温度のとり得る範囲が低温側から高温側にかけて連続する第1の温度領域、第2の温度領域、第3の温度領域、第4の温度領域及び第5の温度領域に順次分割されてなる5つの温度領域のそれぞれに対応する制御信号y1、y2、y3、y4、y5が生成される。その制御信号y1、y2、y3、y4、y5をMAX回路(19a)、及びMIN回路(19b)から構成される信号合成回路(19)へ入力することにより、周囲温度に依存した3次関数に近似される制御信号y7が生成される。
さらに、特許文献1に記載の第2の実施形態の従来の温度補償回路は図17に回路図の一例を示したように構成されている。図17に示す温度補償回路(40)は、図16の制御回路(19)と同一構成であって、定電圧回路(17)及び温度センサ回路(18)の出力を受け、温度補償用の制御電圧Vcにおいて所定温度範囲内で3次の温度特性パラメータαに対応する3次制御電圧αVcを生成するMAX/MIN回路(25)と、温度センサ回路(18)の出力を受け、温度補償用の制御電圧Vcにおいて所定温度範囲内で1次の温度特性パラメータβに対応した1次制御電圧βVcを生成する1次温度特性生成回路(22)と、定電圧回路(17)の出力を受け、温度補償用の制御電圧Vcにおいて所定温度範囲内で0次の温度特性パラメータγに対応した、すなわち、所定温度範囲内で温度に依存しない0次制御電圧γVcを生成する0次温度特性生成回路(23)と、温度センサ回路(18)の出力を受け、変移点温度Tiの値を調整し、MAX/MIN回路(25)及び1次温度特性回路(22)に出力するTi調整回路(24)とから構成されている。
特許第3160299号明細書
図18は図17の回路における温度特性パラメータ毎にパラメータのゲインを調整した図を示す。図18(a)〜(d)は特許文献1に記載の従来技術において、前述の式(1)の各パラメータを変化させた様子をそれぞれ示す。式(1)上は、各パラメータを独立して変化させることができるが、実際には、回路構成上(2)式で表せるKを調整して近似3次関数発生回路を調整することとなるために、3次係数Eと1次係数Fの両方が変化してしまい、調整し難い面があった。
VC1=K(E(Ta-T0)3+F(Ta-T0))+G ・・・(2)
なお、VC1は温度補償用の制御電圧である。
すなわち、図16に示すMAX回路19aから、y1、y2、y3の最大値がy6として出力され、MIN回路19bから、y6、y4、y5の最小値がy7として出力される。図16の出力y7は、図17のMAX/MIN回路25の出力に相当する。式(1)のα、βを調整することは、図17のMAX/MIN回路25,1次特性回路22の特性を矢印のように変化させることに相当するが、図17の回路構成の場合、実際には、図18(a)のように3次係数(振幅)を調整すると図18(b)のように1次係数(傾き)も変化してしまう。
電圧制御型水晶発振器の温度補償を行う場合、高精度な調整が要求される。このときに、3次関数発生回路が必要になるが3次関数(1)式のパラメータα、β、γ、T0を独立的に制御できることが望ましい。
また、温度補償型水晶発振器において水晶振動子発振周波数の周波数を温度変化に対して安定化をさせるために、発振回路、周波数調整用バラクタの周波数‐電圧特性の温度特性をリニアリティに注意して設計し、3次関数電圧を高精度に水晶振動子に印加する必要がある。
しかしながら、従来の近似3次関数発生回路では、上述のように、3次係数を段階的に変化させると、1次係数も変化する構成なので、パラメータを調整しにくい課題が有った。また、制御する半導体の小型化も大きな課題である。
本発明は、上記従来の事情に鑑みてなされたものであって、近似3次関数信号のパラメータを独立して制御できる近似3次関数発生回路を提供することを目的としている。また、本発明は、回路規模を小型化できる近似3次関数発生回路を提供することを目的としている。
上記課題を解決するために、差動増幅器を2個、あるいは1個と定電圧源で3次成分電圧発生回路を構成する。この構成により、1次成分を含まない近似3次成分関数を生成できる。また、3次成分電圧のみにゲイン調整回路を付加し独立して制御可能になる。
1次成分電圧発生回路として、3次成分電圧発生回路と逆極性のコンパレータを具備する。1次成分発生のみにゲイン調整回路を付加し独立して制御できるように行う。
これ等により、差動増幅器3個で3次成分、1次成分のゲイン調整回路を具備する事により、調整がしやすく小型化も容易になる。
また、本発明の近似3次関数発生回路は、一方の入力端子に1次関数信号が入力され、他方の入力端子に第1の定レベル信号が入力される第1の差動増幅器と、一方の入力端子に前記1次関数信号が入力され、他方の入力端子に第2の定レベル信号が入力される第2の差動増幅器と、前記第1と第2の差動増幅器の出力電圧を合成し、近似3次関数成分を出力する合成回路とを備えることを特徴とする。
上記構成によれば、第1と第2の差動増幅器の出力電圧を合成し、近似3次関数成分を出力することにより、3次成分のパラメータを独立して制御することができる。
また、本発明の近似3次関数発生回路は、前記第1と第2の差動増幅器の出力電圧の3次成分信号のゲインを調整する3次関数調整回路と、1次関数信号の入力を受ける1次成分入力端子と、前記1次成分入力端子から入力された1次関数信号のゲインを調整する1次関数調整回路とを備え、前記合成回路が、前記3次関数調整回路でゲインを調整した信号を合成し、前記合成回路の出力に、前記1次関数調整回路でゲインを調整した1次関数信号を合成して出力することを特徴とする。
上記構成によれば、3次関数調整回路および1次関数調整回路により、3次関数成分、1次関数成分のパラメータをそれぞれ独立して制御することができる。
また、本発明の近似3次関数発生回路は、一方の入力端子に1次関数信号が入力され、他方の入力端子に第1の定レベル信号が入力される第1の差動増幅器と、一方の入力端子に前記1次関数信号が入力され、他方の入力端子に第2の定レベル信号が入力される第2の差動増幅器と、前記第1と第2の差動増幅器の出力電流を合成し、近似3次関数成分を出力することを特徴とする。
上記構成によれば、第1および第2の差動増幅器の片側出力より電流を取り出すと、第1および第2の差動増幅器が動作していない温度領域での出力がゼロであり、信号としてオフセットが無い為に扱いやすく、容易に近似3次関数を作ることが可能である。
また、本発明の近似3次関数発生回路は、前記第1の差動増幅器の出力電流のゲインを調整する第1の3次関数調整回路と、前記第2の差動増幅器の出力電流のゲインを調整する第2の3次関数調整回路と、1次関数信号の入力を受ける1次成分入力端子と、前記1次成分入力端子から入力された1次関数信号のゲインを調整する1次関数調整回路とを備え、ゲインを調整した前記第1と第2の差動増幅器の出力に、前記1次関数調整回路でゲインを調整した1次関数信号を合成して出力することを特徴とする。
上記構成によれば、第1と第2の3次関数調整回路および1次関数調整回路により、3次関数成分、1次関数成分のパラメータを独立して制御することができる。
また、本発明の近似3次関数発生回路は、一方の入力端子に1次関数信号が入力され、他方の入力端子に第3の定レベル信号が入力され、出力を前記1次成分入力端子に入力する第3の差動増幅器と、前記合成を行う増幅器とを備えることを特徴とする。
上記構成によれば、1つの差動増幅器で、1次関数信号を生成することができる。
また、本発明の温度補償型水晶発振回路は、本発明の近似3次関数発生回路と、前記近似3次関数発生回路から近似3次関数信号が入力される電圧制御型発振回路とを備え、前記第1、第2および第3の差動増幅器に入力される1次関数信号が、温度検出回路の出力信号であることを特徴とする。
上記構成によれば、近似3次関数を発生させ、パラメータを成分ごとに独立に制御する事を実現し、更に温度補償型水晶発振回路(TCXO)を構成する場合の構成が簡単である為、小型化を実現することができる。
また、本発明の近似3次関数発生回路は、一方の入力端子に1次関数信号が入力され、他方の入力端子に定レベル信号が入力される差動増幅器と、前記差動増幅器の出力をN系統に分ける分配回路と、前記分配回路の出力にオフセット信号を印加するオフセット回路と、前記オフセット回路によりオフセットされたN系統の出力を合成し、近似3次関数成分を出力する合成回路とを備えることを特徴とする。
上記構成によれば、差動増幅器1個の構成で近似3関数発生回路を構成でき、3次関数のパラメータが独立して調整可能な構成を提供できる。また、差動増幅器1個で構成する事が出来るので、回路構成が簡単で、制御する半導体のサイズを小型にする事ができる。
また、本発明の近似3次関数発生回路は、前記オフセット回路によりオフセットされたN系統の出力のゲインを調整する3次関数調整回路と、1次関数信号の入力を受ける1次成分入力端子と、前記1次成分入力端子から入力された1次関数信号のゲインを調整する1次関数調整回路とを備えることを特徴とする。
上記構成によれば、3次関数調整回路および1次関数調整回路により、3次関数成分、1次関数成分のパラメータを独立して制御することができる。
また、本発明の温度補償型水晶発振回路は、本発明の近似3次関数発生回路と、前記近似3次関数発生回路から近似3次関数信号が入力される電圧制御型発振回路とを備え、前記差動増幅器および前記1次成分入力端子に入力される1次関数信号は、温度検出回路の出力信号であることを特徴とする。
上記構成によれば、近似3次関数を発生させ、パラメータを成分ごとに独立に制御する事を実現し、更に温度補償型水晶発振回路(TCXO)を構成する場合の構成が簡単である為に小型化を実現することができる。
また、本発明の温度補償型水晶発振モジュールは、本発明の温度補償型水晶発振回路に水晶振動子を取り付けたものである。
また、本発明の携帯端末装置は、本発明の温度補償型水晶発振モジュールを搭載したものである。
また、本発明の調整方法は、本発明の近似3次関数発生回路におけるパラメータの調整方法であって、前記3次関数調整回路と前記1次関数調整回路を独立に調整するものである。
以上説明したように、本発明にかかる近似3次関数発生回路および温度補償型水晶発振回路は、1次成分発生回路と3次成分発生回路を差動増幅器2個、あるいは1個で構成し、それぞれゲイン調整回路を設ける事により、近似3次関数信号のパラメータを成分ごとに独立に制御する事ができると共に、ICの小型化にも貢献できる。
以下、本発明の実施形態に係わる近似3次関数発生回路について、図面を参照しながら説明する。
(第1の実施形態)
図1は、本実施形態の近似3次関数発生回路100を示す。本実施形態の近似3次関数発生回路100は、低温側のコンパレータ(CLT)104と高温側のコンパレータ(CHT)103と、抵抗109,110とオペアンプ111により生成した定電圧(VB)と、コンパレータ(CLT)104とコンパレータ(CHT)103の出力電圧を合成して出力するMIN−MAX回路114を具備している。
一次の温度特性を有する温度センサ(TS)102をダイオードの順方向電圧VDを利用して形成し、差動増幅器の片側(コンパレータ103のQ3およびコンパレータ104のQ5)へ入力し、差動増幅器の反対の入力(コンパレータ103のQ4およびコンパレータ104のQ6)には、抵抗105,106,107,108により生成した温度特性の無い定電圧(VE、VD)を入力する。
例えば、低温側のコンパレータ(CLT)104の場合、温度センサ(TS)102の出力電圧VAが2個のダイオード分の温度特性を持っており、周囲温度25℃時に1.4Vであった場合、概略−4mV/℃の温度特性を持っているとすると、−25℃時の出力電圧VAは1.6Vになりコンパレータ104に入力される。
このとき定電圧VEの設定をレギュレータ(定電圧)の抵抗分割(抵抗105,106,107,108)で1.6Vの定電圧に設定した場合に以下の動作をする。
周囲温度−25℃の場合、コンパレータ(CTL)104は平衡状態にあり出力の電流ILは概略ゼロになる(T3L点の温度:図2の横軸を参照)。また、−25℃より低い場合は、温度センサの出力電圧VA>定電圧VEとなりトランジスタQ5のコレクタ電流が増加し、電流ILを引き込む。この電流ILが抵抗R2により電圧VLに変換される。このときの傾きは、図2(1)の点線VLのように温度上昇と共に電圧も上昇する右上がりの特性になる。
同じように高温側のコンパレータ(CTH)103の定電圧基準側を75℃相当の1.2Vに設定すると、図2の様にT3H点の温度で平衡が取れ低温側のコンパレータ(CTL)104と同じように右上がりの特性になる。
このように構成したコンパレータ104,103の出力電圧VL,VH、定電圧VBをMIN−MAX回路114に入力し近似3次成分関数を発生させることが出来る。
図2(1)、(2)はその時の特性図を示す。図2(1)は出力電圧VL、VH、定電圧VBの3本の直線を示す。低温側コンパレータ104の出力電圧VLを示す直線は、温度センサ102の出力電圧VAと参照電圧VEが同電位になる温度T3Lにおいて定電圧VBを示す直線と交わる直線になる。
また、高温側コンパレータ103の出力電圧VHを示す直線は、温度センサ102の出力電圧VAと参照電圧VDが同電位になる温度T3Hにおいて、定電圧VBを示す直線と交わる直線になる。電圧VBは定電圧として動作するので、電圧VBを示す直線は、温度変化に対して一定の値を示す直線となる。
図2(2)は図2(1)で生成した出力電圧VL、VH、定電圧VBをMIN−MAX回路114にて合成したときの特性である。MIN−MAX回路114の動作は、電圧VLと定電圧VBの小さい方の電圧であるMIN電圧VL1と、電圧VHとの大きい方の電圧であるMAX電圧を出力する。
図3は、MIN−MAX回路114の回路例を示す。抵抗121,122とオペアンプ123とにより、所定の動作電源を供給する。低温側コンパレータ104の出力電圧VLは、トランジスタ125のベースに入力され、定電圧VBはトランジスタ126のベースに入力される。
トランジスタ125とトランジスタ126において、出力電圧VLと定電圧VBのうち小さい電圧が入力されたトランジスタが導通する。すなわち、出力電圧VL<定電圧VBの場合はトランジスタ125が導通する。一方、定電圧VB<出力電圧VLの場合はトランジスタ126が導通する。したがって、出力電圧VLと定電圧VBのうちの小さい電圧VL1がトランジスタ127のベースに入力される。
トランジスタ127とトランジスタ129は、電圧VL1と高温側コンパレータ103の出力電圧VHを比較する。すなわち、電圧VL1>出力電圧VHの場合はトランジスタ127が導通する。一方、出力電圧VH>電圧VL1の場合はトランジスタ129が導通する。したがって、電圧VL1と出力電圧VHのうちの大きい電圧がトランジスタ129から出力され、バッファアンプ130に入力される。
図4は、温度センサの回路例およびコンパレータ103,104に入力される各電圧の特性を示す。図4(a)はダイオード71を利用した温度センサ70aで、ダイオード71の順方向電圧に定電流を流し込む事により発生する電圧を出力電圧VAとしている。なお、定電流源76には、抵抗73,74とオペアンプ75により生成した所定電圧が供給される。
図4(b)は抵抗の温度特性差を利用した温度センサ70bで、温度特性が異なる抵抗Ra1,Ra2、Rb1,Rb2をレイアウトしてカレントミラー・トランジスタ81,85,84,88を組み合わせることにより、出力電圧VAを得る事が出来る。例えば、抵抗Ra1,Ra2とRb1,Rb2の温度特性の1次係数差が3000ppm有った場合、本回路構成では6000ppmの感度を得る事が出来る。
すなわち、この構成において、抵抗Rb1と抵抗Rb2は、温度特性(1)と温度特性(2)という異なる温度特性を持つ。PNPトランジスタ88とNPNトランジスタ89のコレクタは共通接続されており、温度特性(1)と温度特性(2)の差の特性を有した電圧出力VAを取り出すことができる。
また、図4(c)に示す、定電圧特性を示す参照電圧VC、VD、VEは内部レギュレータの抵抗分割(図1の抵抗105,106,107,108)で構成している。
図5は図1の実施形態1に於ける近似3次関数発生回路100に、3次成分のゲインを調整する近似3次関数調整回路701、1次成分のゲインを調整する1次関数調整回路702を付加した近似3次関数発生回路120である。
3次関数調整回路701の調整信号はPROM信号より得て調整を行う。抵抗R1、抵抗R2をスイッチ703,704,705,706,707,708で短絡し抵抗R1、R2の抵抗値を可変する事によりゲインを調整する。1次関数調整回路702の調整信号はPROM信号より得て調整を行う。1次関数調整回路702において、抵抗R6を分割しスイッチ709,710,711で短絡することにより抵抗R6を可変してゲイン調整を行う。
(第2の実施形態)
図6は、本実施形態の近似3次関数発生回路200を示す。本実施形態の近似3次関数発生回路200は、低温側のコンパレータ(CLT)204と高温側のコンパレータ(CHT)203と、抵抗213,214により生成した定電圧(VB)を具備している。
一次の温度特性を有する温度センサ(TS)202をダイオードの順方向電圧VDを利用して形成し、差動増幅器の片側(コンパレータ204のQ7およびコンパレータ203のQ9)へ入力し、差動増幅器の反対の入力(コンパレータ204のQ8およびコンパレータ203のQ10)には、抵抗205,206,207,208により生成した温度特性の無い定電圧(VE、VD)を入力する。このように構成したコンパレータ204,203の片側出力電流をトランジスタ209,210で取り出し、バッファアンプ(ABU)215に入力し近似3次成分関数を発生させることが出来る。
低温側のコンパレータ204の片側入力に温度センサ202としての2個ダイオードを接続し、低温側のコンパレータ204のもう片方に定電圧から抵抗205,206,207,208の分割で構成した定電圧VEを設定する。出力はコンパレータ204の片側出力から取り出す形にしてPNPトランジスタ209より出力電流ILを供給する。このとき定電圧側の設定電圧T3L(図7の横軸を参照)は出力電流ILが流れ始める温度の電圧値で設定する必要がある。高温側のコンパレータ203も低温側と同じように構成される。低温側と極性を変える為コンパレータ203の出力をNPNトランジスタ212により電流を引き込む形式にする。設定電圧T3Hは出力電流ILが流れ始める温度の電圧値に設定する必要がある。
図7(1)、(2)はその時の特性図を示す。図7(1)は出力電流IL、IHの2本の直線を示す。低温側コンパレータ204の出力電流ILがゼロになる温度T3Lを交点とし、その温度は低温側コンパレータ204がOFF領域から動作領域に入る温度である。また、高温側コンパレータ203の出力電流IHがゼロになる温度T3Hを交点とし、その温度は高温側コンパレータ203がOFF領域から動作領域に入る温度である。
差動増幅器203,204の出力に関しては実施例1と異なり、片側出力の形式を取り、電流信号をバッファアンプ215に入力する。このとき、差動増幅器203,204の片側出力より電流を取り出すと差動増幅器203,204が動作していない温度領域での出力がゼロであるため信号としてオフセットが無い為に扱いやすく、容易に近似3次関数を作ることが可能である。
図7(2)は本実施例の動作を示したグラフである。図7(1)で示した出力電流IL、IHを図7(2)ではアンプ215の電圧出力VCとして示す。出力電圧VCは、VC=(IL+IH)×Rで表すことが出来る。
図8は図6の実施例2に於ける近似3次関数発生回路200に、3次成分のゲインを調整する近似3次関数調整回路801,805、1次成分のゲインを調整する1次関数調整回路825を付加した近似3次関数発生回路220である。
近似3次関数調整回路801,805の調整信号はPROM信号より得て調整を行う。PNPトランジスタ209、NPNトランジスタ212のカレントミラー回路を設け、そのカレントミラー・トランジスタ802,803,804,806,807,808をスイッチ815,816,817,809,810,811で選択する事により電流量を調整し近似3次関数発生回路220の調整を行う。
1次関数調整回路825の調整信号はPROM信号より得て調整を行う。抵抗R6を分割し1次関数電流を抵抗R6の何処の部分より入力するかをスイッチ812,813,814で選択し、ゲインの調整を行う。
図9は実施例1,2を利用した近似3次関数発生回路300の回路構成を概念的に示すブロック図である。1次関数成分を構成するために差動増幅器(1次発生回路)303を使用する。1次発生回路303の入力VAに1次関数の信号を入力し、他入力VCに定電圧の信号を入力し、1次関数成分を構成する。更にその1次関数出力は3次関数成分を構成した低温/高温側の出力の傾きと逆にして構成したものである。
例えばコンパレータ(1次発生回路)303の入力VAに2ダイオードを接続し反対の入力VCに25℃でVA電圧と等しくなる1.4Vを印加する。1次発生回路303の出力は実施例1の低温側と高温側コンパレータ103,104と逆方向より取り出す事により温度上昇に対し電圧が低下する右下がりの特性を得る事が出来る。
以上のように1次関数成分と3次関数成分をそれぞれ独立に制御することができる。図10は図1または図6で構成した3次関数成分の特性と、図9(1次発生回路303)で構成した1次関数成分の特性と、1次関数成分と3次関数成分を合成した特性(合成出力(制御電圧))を示す。
(第3の実施形態)
図11は本実施形態の近似3次関数発生回路400を示す。本実施形態の近似3次関数発生回路400は差動増幅器(434)1個で構成する例を示す。図1,図6と同じように1次関数を持った信号(VA)と定レベルの信号(VC)を入力し1次関数成分を発生させる。これを1つの差動増幅器434で構成し、出力は図のように2系統(出力1、出力2)を作る。
例えば周囲温度25℃の場合、コンパレータ434への2個ダイオードの入力は1.4Vとなり、反対側入力は1.4Vに設定する。以降、第1の実施形態と同じ動作となる。前記2系統の出力にオフセット電流としてこれ等の出力に定電流(IOFH413,IOFL416)を印加する。これにより常温付近にあった1次関数成分が低温側と高温側に各出力がシフトして、図12のような特性になる。
例えば低温側に50℃、特性をシフトさせる場合には定電流を押し込む方向に印加する。一方、高温側は定電流を引き込む方向に印加する。図12は2系統の出力が低温側と高温側に分かれた時の特性図になる。
この特性にMIN−MAX回路を付加することにより近似3次関数成分が出力される事になる。更に図11は1次関数成分の回路構成も具備している。近似3次関数成分と同じ差動増幅器434を使用し出力極性を反転させてVFより出力信号を得る。
図13は、本実施形態における近似3次関数発生回路に、3次成分の出力のゲインを調整する3次定数調整回路502と、1次成分のゲインを調整する1次定数調整回路503とを付加した回路構成を概念的に示すブロック図である。図11に示す回路で得られた信号VFを図13の構成に付加して、近似3次関数発生回路500を構成する。また、図14は、図13に示す回路の具体例であり、図11の実施例3に於ける近似3次関数発生回路400に、3次関数成分のゲインを調整する近似3次関数調整回路901、1次関数成分のゲインを調整する1次関数調整回路908を付加した近似3次関数発生回路440である。調整方法に関しては図5と同じである。この構成でも、当初の目的通りにコンパレータが1個の構成で近似3関数発生回路が構成でき、3次関数のパラメータが独立して調整が可能な構成を提供できる。また、コンパレータが1個で構成する事が出来るので、回路構成が簡単で、制御する半導体のサイズを小型にする事ができる。
(第4の実施形態)
図15は温度補償型水晶発振器600の簡単なブロック図である。本技術は近似関数発生回路に関するものである。温度補償型水晶発振器600は、電圧制御型発振回路612と、REG電圧回路601と、近似3次関数回路602と、抵抗603,604とを備え、電圧制御型発振回路612は、水晶振動子605と、抵抗606と、インバータ607と、トランジスタ608,610と、コンデンサ609,611とを含む。
近似3次関数回路602の3次電圧出力は、3次関数成分および1次関数成分が近似3次関数回路602内部の調整回路により独立して調整され、電圧制御型発振回路612に供給される。電圧制御型発振回路612は、水晶振動子605を搭載してモジュール化されるが、水晶振動子605を除いてモジュール化することもできる。この温度補償型水晶発振器600は、携帯電話機などの携帯端末装置に搭載され、装置内で基準となる周波数信号を生成する。
本発明は、近似3次関数信号のパラメータを成分ごとに独立に制御する事ができると共に、ICの小型化にも貢献できる効果を有し、近似3次関数発生回路、近似3次関数定数調整回路および電圧制御型水晶発振回路を用いた温度補償型水晶発振器(TCXO)等に有用である。
本発明の第1の実施形態を示す近似3次関数成分の回路図(1) 本発明の第1の実施形態を示す近似3次関数成分の回路図(1)の特性を示したグラフ 本発明の第1の実施形態におけるMIN―MAX回路の構成を示す図 本発明の第1の実施形態におけるコンパレータに入力される温度センサ、及びその特性図 本発明の第1の実施形態に調整回路を付加した回路図 本発明の第2の実施形態を示す近似3次関数成分の回路図(2) 本発明の第2の実施形態を示す近似3次関数成分の回路図(2)の特性を示したグラフ 本発明の第2の実施形態に調整回路を付加した回路図 本発明の第1および第2の実施形態を示す近似3次関数発生回路のブロック図 本発明の第1および第2の実施形態を示す近似3次関数発生回路の特性を示したグラフ 本発明の第3の実施形態を示す近似3次関数成分の回路図(3) 本発明の第3の実施形態を示す近似3次関数成分の回路図(3)の特性を示したグラフ 本発明の第3の実施形態を示す近似3次関数発生回路のブロック図 本発明の第3の実施形態に調整回路を付加した回路図 本発明の実施形態を使用した電圧制御型水晶発振器のブロック図 従来技術における温度補償回路のブロック図 従来技術における温度補償回路の調整回路のブロック図 従来技術における温度補償回路の調整回路の動作を説明するための図
符号の説明
100,120,200,220,300,400,440,500 近似3次関数発生回路
101 定電流源
102 温度センサ
103 高温側差動増幅器
104 低温側差動増幅器
105,106,107,108 抵抗
111 オペアンプ
114 MIN−MAX回路
115 バッファアンプ
301,501 3次発生回路
302,502 3次定数調整回路
303 1次発生回路
304,503 1次定数調整回路
434 差動増幅器
600 温度補償型水晶発振器
601 REG電圧回路
602 近似3次関数回路
605 水晶振動子
607 インバータ
608,610 トランジスタ
609,611 コンデンサ
612 電圧制御型発振回路
701,801,805 3次関数調整回路
702,825 1次関数調整回路

Claims (12)

  1. 一方の入力端子に1次関数信号が入力され、他方の入力端子に第1の定レベル信号が入力される第1の差動増幅器と、
    一方の入力端子に前記1次関数信号が入力され、他方の入力端子に第2の定レベル信号が入力される第2の差動増幅器と、
    前記第1と第2の差動増幅器の出力電圧を合成し、近似3次関数成分を出力する合成回路とを備えることを特徴とする近似3次関数発生回路。
  2. 請求項1記載の近似3次関数発生回路であって、
    前記第1と第2の差動増幅器の出力電圧の3次成分信号のゲインを調整する3次関数調整回路と、
    1次関数信号の入力を受ける1次成分入力端子と、
    前記1次成分入力端子から入力された1次関数信号のゲインを調整する1次関数調整回路とを備え、
    前記合成回路は、前記3次関数調整回路でゲインを調整した信号を合成し、
    前記合成回路の出力に、前記1次関数調整回路でゲインを調整した1次関数信号を合成して出力することを特徴とする近似3次関数発生回路。
  3. 一方の入力端子に1次関数信号が入力され、他方の入力端子に第1の定レベル信号が入力される第1の差動増幅器と、
    一方の入力端子に前記1次関数信号が入力され、他方の入力端子に第2の定レベル信号が入力される第2の差動増幅器と、
    前記第1と第2の差動増幅器の出力電流を合成し、近似3次関数成分を出力することを特徴とする近似3次関数発生回路。
  4. 請求項3記載の近似3次関数発生回路であって、
    前記第1の差動増幅器の出力電流のゲインを調整する第1の3次関数調整回路と、
    前記第2の差動増幅器の出力電流のゲインを調整する第2の3次関数調整回路と、
    1次関数信号の入力を受ける1次成分入力端子と、
    前記1次成分入力端子から入力された1次関数信号のゲインを調整する1次関数調整回路とを備え、
    ゲインを調整した前記第1と第2の差動増幅器の出力に、前記1次関数調整回路でゲインを調整した1次関数信号を合成して出力することを特徴とする近似3次関数発生回路。
  5. 請求項2または4記載の近似3次関数発生回路であって、
    一方の入力端子に1次関数信号が入力され、他方の入力端子に第3の定レベル信号が入力され、出力を前記1次成分入力端子に入力する第3の差動増幅器と、
    前記合成を行う増幅器とを備えることを特徴とする近似3次関数発生回路。
  6. 請求項5記載の近似3次関数発生回路と、
    前記近似3次関数発生回路から近似3次関数信号が入力される電圧制御型発振回路とを備え、
    前記第1、第2および第3の差動増幅器に入力される1次関数信号は、温度検出回路の出力信号であることを特徴とする温度補償型水晶発振回路。
  7. 一方の入力端子に1次関数信号が入力され、他方の入力端子に定レベル信号が入力される差動増幅器と、
    前記差動増幅器の出力をN系統に分ける分配回路と、
    前記分配回路の出力にオフセット信号を印加するオフセット回路と、
    前記オフセット回路によりオフセットされたN系統の出力を合成し、近似3次関数成分を出力する合成回路とを備えることを特徴とする近似3次関数発生回路。
  8. 請求項7記載の近似3次関数発生回路であって、
    前記オフセット回路によりオフセットされたN系統の出力のゲインを調整する3次関数調整回路と、
    1次関数信号の入力を受ける1次成分入力端子と、
    前記1次成分入力端子から入力された1次関数信号のゲインを調整する1次関数調整回路とを備えることを特徴とする近似3次関数発生回路。
  9. 請求項8記載の近似3次関数発生回路と、
    前記近似3次関数発生回路から近似3次関数信号が入力される電圧制御型発振回路とを備え、
    前記差動増幅器および前記1次成分入力端子に入力される1次関数信号は、温度検出回路の出力信号であることを特徴とする温度補償型水晶発振回路。
  10. 請求項6または9記載の温度補償型水晶発振回路に水晶振動子を取り付けた温度補償型水晶発振モジュール。
  11. 請求項10記載の温度補償型水晶発振モジュールを搭載した携帯端末装置。
  12. 請求項2、4および8のいずれか一項記載の近似3次関数発生回路におけるパラメータの調整方法であって、
    前記3次関数調整回路と前記1次関数調整回路を独立に調整する調整方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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