JP2008122889A - 感光性樹脂組成物、この感光性樹脂組成物を用いたパターン形成方法及び電子部品 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】感光性樹脂組成物は、(a)下記一般式(I)で表わされる繰り返し単位から主としてなるポリマーと、(b)接着助剤として末端に酸無水物基を有するシロキサンと、及び(c)溶媒とを含む。
【化1】
[式中、R1は3価又は4価の有機基、R2は2価の有機基、Rは炭素炭素不飽和二重結合を有する一価の有機基又は炭素炭素不飽和二重結合を有する化合物がイオン結合したO-M+(M+は水素イオン又は炭素炭素不飽和二重結合を有する化合物と水素からなる陽イオンを表わす。)で表される基であり、全繰り返し単位中に炭素炭素不飽和二重結合を少なくとも1つ含み、mは2以上の整数であり、nは1又は2である。]
【選択図】 なし
Description
本発明による感光性樹脂組成物は、(a)下記一般式(I)で表わされる繰り返し単位から主としてなるポリマーと、(b)接着助剤として末端に酸無水物基を有するシロキサンと、及び(c)溶媒とを含む。
(a)成分
(a)上記一般式(I)で表わされる繰り返し単位から主としてなるポリマー(以下、(a)成分とする)において、一般式(I)中のR1は、3価又は4価の有機基である。この基は一般に、原料として使用するテトラカルボン酸(二無水物)又はトリカルボン酸(無水物)におけるカルボキシル基及び酸無水物基以外の残基であり、ベンゼン環等の芳香環を有する基であることが好ましい。具体的には後述するテトラカルボン酸二無水物の残基などが挙げられる。また、一般式(I)中のR2は2価の有機基である。この基は一般に、原料として使用するジアミンのアミノ基以外の残基であり、具体的には後述するジアミンの残基などが挙げられる。
従って、(a)成分の重量平均分子量は、10,000〜90,000であることが好ましい。なお、重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー法により測定し、標準ポリスチレン検量線を用いて換算することができる。
接着助剤として末端に酸無水物基を有するシロキサン(以下、(b)成分とする)は、現像液での現像後の接着性を向上させることができ、後述する露光後の感光性樹脂膜の現像後から硬化までの放置時間において、感光性樹脂膜とその下層、特に有機層との接着性を向上させることができる。従って、例えば有機層としてポリイミド樹脂層を有するものやステンレス製のハードディスクドライブのサスペンションなどに特に有効である。接着助剤としては、例えば2−(トリメトキシシリル)エチルスクシン酸無水物、3−(トリメトキシシリル)プロピルスクシン酸無水物、4−(トリメトキシシリル)ブチルスクシン酸無水物、2−(トリエトキシシリル)エチルスクシン酸無水物、3−(トリエトキシシリル)プロピルスクシン酸無水物、4−(トリエトキシシリル)ブチルスクシン酸無水物などのトリアルコキシシリルアルキルスクシン酸無水物等が好ましいものとして挙げられるが、この範囲には限られない。中でも特に3−(トリエトキシシリル)プロピルスクシン酸無水物が効果が高く好ましい。
本発明による感光性樹脂を合成する際に用いる溶媒(以下、(c)成分とする)としては、アセトン、メチルエチルケトン、トルエンクロロホルム、メタノール、エタノール、1−プロパノール、2−プロパノール、1−ブタノール、2−ブタノール、t−ブタノール、エチレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、キシレン、テトラヒドロフラン、ジオキサン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトン、ジメチルスルホキシド、エチレンカーボネート、プロピレンカーボネート、スルホラン等が挙げられる。これらの有機溶剤は単独で、又は二種以上組み合わせて使用される。(c)成分である溶媒は、上記(a)成分100重量部に対して100〜1000重量部添加されることが好ましい。
次に、本発明によるパターン形成方法について説明する。本発明のパターン形成方法では、上述した感光性樹脂組成物を、例えばスプレー法、スクリーン印刷法、回転塗布法等によって支持基板、例えばサスペンジョン形成用ステンレス基板上に塗布する。次に、感光性樹脂組成物中の有機溶剤を加熱、乾燥することにより除去し、粘着性のない塗膜である感光性樹脂膜を得る。この塗膜上に、所定のパターン状に活性光線を照射し、例えば、スルーホールのパターンを形成する。照射する活性光線としては、紫外線、遠紫外線、可視光線、電子線、X線などがある。活性光線の照射後、未照射部分を適当な現像液で除去することにより、所望のレリーフパターンを得ることができる。
本発明による感光性樹脂組成物は、上述したパターン形成方法によりパターンを形成するために使用され、得られたパターンは、各種実装回路形成用基板及び回路基板の層間絶縁層、下地絶縁層、又は表面保護膜層などとして電子部品に適用される。ここで、電子部品としては、半導体装置や多層配線板、各種電子デバイスを含むが、特にハードディスクドライブのサスペンションに好適である。すなわち、本発明による感光性樹脂組成物は、ハードディスクドライブ用サスペンジョン上に直接電気的信号線を形成するための部品として、回路形成用基板及び回路基板に好ましく使用される。
実施例及び比較例で用いた感光性樹脂は以下の方法で得た。まず、N−メチル−2−ピロリドン300重量部にp−フェニレンジアミン25重量部と2,2'−ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン25重量部を添加して溶解させた後、3,3',4,4'−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物50重量部を添加して重合させ、ポリアミド酸を得た。このポリアミド酸の重量平均分子量は約53,000であった。その後、このポリアミド酸の溶液に、N,N−ジメチルアミノプロピルメタクリレート50重量部、ビス(シクロペンタジエニル)ビス(2,6−ジフルオロ−3(1H−ピル−イル)フェニル)チタニウム2重量部、ジエチルアミノ−3−テノイルクマリン0.5重量部、N−フェニルベンゼンスルフォンアミド15重量部を添加して撹拌し、感光性樹脂溶液を得た。なお、前記ポリアミド酸とN,N−ジメチルアミノプロピルメタクリレートを前記配合比で配合することにより、本発明における(a)成分(一般式(I)も一般式(II)も充足するもの)が形成されていることが明らかである。
得られた感光性樹脂溶液に、3−(トリエトキシシリル)プロピルスクシン酸無水物5重量部を添加撹拌して得た感光性樹脂組成物を、ステンレス製の基板上に回転塗布し、90℃で3分間ホットプレート上で乾燥させて、膜厚12μmの感光性樹脂膜を得た。この感光性樹脂膜にフォトマスクを介して高圧水銀灯による露光を行った。この露光は、100J/m2のエネルギーを照射して行った。その後、上記基板をホットプレートにより110℃で1分間加熱した直後に、N−メチル−2−ピロリドンによる現像液に浸漬させた。上記基板上における未露光部分の感光性樹脂膜は、110秒で溶解した。
実施例1において、3−(トリエトキシシリル)プロピルスクシン酸無水物の配合量を3重量部とした以外は、全く同様にして感光性樹脂組成物を製造し、評価したところ、現像後から24時間放置後において、パターンの剥離は確認されなかった。また、この基板を350℃のオーブンに1時間投入し、膜厚約5μmのレリーフパターンを得た。得られたフィルムの吸水率は0.8%であった。
上述のようにして得られた感光性樹脂溶液に、3−(トリエトキシシリル)プロピルスクシン酸無水物を加えないで得た感光性樹脂組成物を、実施例1及び2と同様にして評価を行った。30℃/60%RHの環境下において現像後から硬化までの放置時間を1時間としたとき、形成したパターンに剥離が確認された。
2 絶縁層
3 シード層
4 レジスト
5 開口部
6 回路層
7 保護層
8 カバー
10 サスペンション
11 板状部材
12 切り込み
13 ジンバル
14 銅導体層
15 保護膜
Claims (7)
- 前記(b)接着助剤は、トリアルコキシシリルアルキルスクシン酸無水物であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の感光性樹脂組成物。
- 前記(a)ポリマー100重量部に対して、前記(b)接着助剤1〜20重量部を含むことを特徴とする請求項1から請求項3のうち、いずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
- 請求項1から請求項4のうち、いずれか1項に記載の感光性樹脂組成物を支持基板上に塗布、乾燥して感光性樹脂膜を形成する工程と、前記塗布、乾燥工程により得られた感光性樹脂膜を所定のパターンに露光する工程と、前記露光後の感光性樹脂膜を現像する工程と、及び前記現像後の感光性樹脂膜を加熱処理する工程とを含むことを特徴とするパターン形成方法。
- 請求項5に記載のパターン形成方法により得られるパターンの層を有することを特徴とする電子部品。
- 前記電子部品は、ハードディスクドライブのサスペンジョンであることを特徴とする請求項6に記載の電子部品。
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