JP2008117003A - 不揮発性半導体記憶装置およびその制御方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】データ管理領域への書き換え回数の集中を安全に回避することができる不揮発性半導体記憶装置およびその制御方法を実現する。
【解決手段】本発明の不揮発性半導体記憶装置およびその制御方法は、不揮発性メモリセルからりなるセルアレイ15を有する不揮発性メモリ11と、データが格納されるデータ格納領域14と、データ格納領域14の管理情報が格納されるデータ管理領域13と、データ管理領域13をセルアレイ15に設定するために第1のコマンド群を処理し、不揮発性メモリ11に対して所定の制御信号を出力するコマンド群A処理部17と、データ管理領域13に管理情報を書き込み、または、データ管理領域13の管理情報を読み出し、または、データ管理領域13の管理情報を消去するために第2のコマンド群を処理し、不揮発性メモリ11に対して所定の制御信号を出力するコマンド群B処理部を有する。
【選択図】図1
【解決手段】本発明の不揮発性半導体記憶装置およびその制御方法は、不揮発性メモリセルからりなるセルアレイ15を有する不揮発性メモリ11と、データが格納されるデータ格納領域14と、データ格納領域14の管理情報が格納されるデータ管理領域13と、データ管理領域13をセルアレイ15に設定するために第1のコマンド群を処理し、不揮発性メモリ11に対して所定の制御信号を出力するコマンド群A処理部17と、データ管理領域13に管理情報を書き込み、または、データ管理領域13の管理情報を読み出し、または、データ管理領域13の管理情報を消去するために第2のコマンド群を処理し、不揮発性メモリ11に対して所定の制御信号を出力するコマンド群B処理部を有する。
【選択図】図1
Description
本発明は、不揮発性半導体記憶装置およびその制御方法にかかわり、特に一括消去機能を有する不揮発性半導体記憶装置およびその制御方法に関する。
近年、電気的に書き換え可能な不揮発性半導体記憶装置(以下、「EEPROM」という。)の大容量化に伴い、従来は磁気ディスク等に記憶していたファイルデータをEEPROMに記憶するメモリカードなどの補助記憶装置が製品化されている。特に、NAND型フラッシュメモリは、大容量を低コストで実現できるためデジタルカメラや携帯電話などの用途に多く使用されるようになっている。
しかしながら、従来のEEPROMでは、既にデータが書き込まれている領域に対しそのデータの更新が必要な場合に、予めその更新が必要な領域を含む領域を消去し、書き換える必要があった。このため、外部から同じ領域への書き込みが繰り返し行われた場合、その領域へのダメージが累積し他の領域が十分書き込み可能であっても特定の領域が使用不能になったことで、装置そのものが使用不能になるという問題があった。
これを解決するために、データ格納領域とは別にこのデータを管理するデータ管理領域を設け、データ格納領域のある領域への書き込み操作を毎回同領域内の異なる領域への書き込みに置き換えて実行できるようにし、この時指定された領域と内部で書き込みを実行した領域との対応表をデータ管理のためのデータ管理領域内に保存することで、このダメージを軽減する方法(例えば、「特許文献1」を参照。)が考えられる。ここで、データ格納領域とデータ管理領域とをEEPROMの内部に設定する際に、例えば以下の二つの方法が考えられる。
一つは、EEPROM内に場所を固定して二つの領域をとり、それらそれぞれをデータ格納領域、データ管理領域とする方法。もう一つは二つの領域を確保するが、時間と共にそれらの領域を任意のアルゴリズムを用いて入れ替えていく方法である。しかし、前者の方法の場合、データ管理領域は必要最小限の大きさを確保することが望ましいため、小容量のデータの書き込みを繰り返し行うとそれに伴いデータ管理領域の更新が頻繁に起こり、データ管理領域の繰り返し書き込みによる同領域のダメージ累積が急速に進むという問題があった。また、後者の場合、任意の時間間隔をおいてデータ格納領域とデータ管理領域とを入れ替えることを行うので前記のような書き込みの集中を免れることができるが、データ格納領域とデータ管理領域との入れ替えアルゴリズムが装置外部に任されており、装置外部に依存する負荷が大きくなり、かつ、EEPROMでは両領域へのアクセスを分離しないため、外部回路に起因する機能不全、特にデータ管理領域の破壊を伴うような書き込み等を抑止することができないという問題があった。
特開平11−53248号公報
本発明は、外部からの専用コマンドによりデータ管理領域を設定および移動することができる不揮発性半導体記憶装置およびその制御方法を提供する。
本発明の一態様によれば、不揮発性メモリセルが行および列方向に繰り返し配置されたセルアレイを有する記憶手段と、外部から入力されたデータが前記不揮発性メモリセルに格納されるデータ格納領域と、前記データ格納領域の管理情報が前記不揮発性メモリセルに格納されるデータ管理領域と、前記データ管理領域を前記セルアレイに設定するために外部から入力される第1のコマンド群を処理し、前記記憶手段に対して所定の制御信号を出力する第1のコマンド群処理手段と、前記データ管理領域に前記管理情報を書き込み、または、前記データ管理領域に格納されている前記管理情報を読み出し、または、前記データ管理領域に格納されている前記管理情報を消去するために外部から入力される第2のコマンド群を処理し、前記記憶手段に対して所定の制御信号を出力する第2のコマンド群処理手段を有することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置が提供される。
また、本発明の別の一態様によれば、不揮発性メモリセルが行および列方向に繰り返し配置されたセルアレイを備えた不揮発性半導体記憶装置の制御方法であって、データ格納領域の管理情報が格納されるデータ管理領域を前記セルアレイに設定するために外部から入力された第1のコマンドに基づいて、前記セルアレイのブロックタグに当該ブロックが前記データ管理領域の候補であることを示す候補フラグを設定する第1のステップと、前記第1のステップで確保された前記データ管理領域に前記管理情報を書き込むために外部から入力された第2のコマンドに基づいて、当該データ管理領域に前記管理情報の初期値を書き込む第2のステップと、前記第2のステップで前記初期値が書き込まれた前記データ管理領域を確定するために外部から入力された第3のコマンドに基づいて、当該データ管理領域の前記ブロックタグに確定フラグを設定する第3のステップを有することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置の制御方法が提供される。
さらに、本発明の別の一態様によれば、不揮発性メモリセルが行および列方向に繰り返し配置されたセルアレイを備えた不揮発性半導体記憶装置の制御方法であって、データ格納領域の管理情報が格納されるデータ管理領域を前記セルアレイに設定するために外部から入力された第1のコマンドに基づいて、前記セルアレイのブロックタグに当該ブロックが前記データ管理領域の候補であることを示す候補フラグを設定する第1のステップと、外部から入力された第2のコマンドに基づいて、すでに前記管理情報が格納されている別の前記データ管理領域から当該管理情報を読み出す第2のステップと、外部から入力された第3のコマンドに基づいて、前記第2のステップで読み出された前記管理情報を前記第1のステップで確保された前記データ管理領域に書き込む第3のステップと、前記第3のステップで前記管理情報が書き込まれた前記データ管理領域を確定するために外部から入力された第4のコマンドに基づいて、前記第3のステップで前記管理情報が書き込まれた前記データ管理領域の前記ブロックタグに確定フラグを設定する第4のステップと、外部から入力される第5のコマンドに基づいて、前記第2のステップで前記管理情報が読み出された前記データ管理領域をデータ消去する第5のステップを有することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置の制御方法が提供される。
本発明によれば、外部からの専用コマンドによりデータ管理領域を設定および移動するので、外部からの不当なアクセスによるデータ管理領域の管理情報の破壊を防止しつつ安全にデータ管理領域への書き換え回数の集中を回避することができる。
以下、図面を参照しながら、本発明の実施例を説明する。
図1は、本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置を示す回路ブロック図である。ここでは、主に、不揮発性メモリ11とそのアクセスにかかわる部分を示した。
本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置は、データが格納される不揮発性メモリ11、および外部コマンドにしたがって不揮発性メモリ11を制御する制御回路12を備えている。
制御回路12の第1の入出力では外部との間でコマンドおよびデータが入出力され、第2の入出力では不揮発性メモリ11との間で制御信号、管理情報、およびデータが入出力される。
不揮発性メモリ11は、図1に示したように、データ管理領域13とデータ格納領域14が設定されるセルアレイ15と、セルアレイ15からデータを読み出し、セルアレイ15にデータを書き込むための読み出し/書き込み回路16とを備えている。
セルアレイ15は、不揮発性メモリセルが行および列方向に繰り返し配置され、複数の不揮発性メモリセルからなるブロック単位でデータの読み出し、書き込み、および消去が行われる。
ブロックは、例えば、NAND型フラッシュメモリの場合は、一括消去できるページを単位として構成する。すなわち、1ページを1ブロックとして構成しても良いし、複数のページを1ブロックとして構成しても良い。
ブロックには、通常のデータを格納するデータ領域の他にブロックの論理情報(例えば、ブロックの論理アドレス、ECC(Error Correction Code)など。)を格納するための冗長領域が設けられており、ここにそのブロックがデータ格納領域14であるかデータ管理領域13であるかを示すブロックタグが設定されている。
データ格納領域14は、外部から入力されたデータが格納される領域であり、データ管理領域13は、データ格納領域14の管理情報が格納される領域である。管理情報には、データ格納領域14に格納される一連のデータに係わる論理アドレスやデータサイズなどが含まれる。
読み出し/書き込み回路16は、セルアレイ15に格納されているデータまたは管理情報を読み出し、あるいは、セルアレイ15にデータまたは管理情報を書き込むための回路である。読み出し/書き込み回路16は、通常の不揮発性メモリ11に備えられているものと同様であり、データ管理領域13とデータ格納領域14を区別しない。
すなわち、制御回路12から入力される制御信号、管理情報、およびデータに基づいて、セルアレイ15の指定された論理アドレスのブロックに管理情報またはデータを書き込み、または、それらを読み出して制御回路12へ出力する。
制御回路12は、図1に示したように、3種類のコマンド群をそれぞれ実行処理するコマンド群A処理部17、コマンド群B処理部18、およびコマンド群C処理部19を備えている。
制御回路12は、外部から入力されたコマンドおよびデータに基づいて、不揮発性メモリ11に対して必要な制御信号、管理情報、およびデータを出力して、不揮発性メモリ11に管理情報またはデータを書き込み、あるいは、不揮発性メモリ11から管理情報またはデータを読み出して外部へ出力する。
図2は、本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置のコマンド体系を示す図である。
本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置のコマンド体系は、データ管理領域13を設定するコマンド群A、データ管理領域13にアクセスするコマンド群B、およびデータ格納領域14にアクセスするコマンド群Cを備えている。
本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置のコマンド体系は、データ管理領域13を設定するコマンド群A、データ管理領域13にアクセスするコマンド群B、およびデータ格納領域14にアクセスするコマンド群Cを備えている。
コマンド群Aには、図2に示したように、データ格納領域14の未使用部分(有効データを含まないブロック)からデータ管理領域13の候補を選択し設定するコマンドa1、データ管理領域13の確定を指示するコマンドa2、およびデータ格納領域14から有効データの有無に関わらずデータ管理領域13の候補を選択し設定するコマンドa3があり、これらはコマンド群A処理部17で実行処理される。
コマンドa1が入力されると、コマンド群A処理部17は、不揮発性メモリ11に対してデータ管理領域13の候補ブロックを指示するために、指定されたブロックのブロックタグにそのブロックがデータ管理領域13の候補であることを示す候補フラグを設定するよう不揮発性メモリ11に必要な制御信号、および論理アドレスデータを出力する。
コマンドa2が入力されると、コマンド群A処理部17は、不揮発性メモリ11に対してデータ管理領域13の確定を指示するために、指定されたブロックのブロックタグにそのブロックがデータ管理領域13であることを示す確定フラグを設定するよう不揮発性メモリ11に対して必要な制御信号、および論理アドレスデータを出力する。
コマンドa3が入力されると、コマンド群A処理部17は、まず、不揮発性メモリ11に対してコマンドa1と同様の制御信号および論理アドレス信号を出力し、データ管理領域13の候補ブロックを確保する。
次に、コマンド群A処理部17は、確保した候補ブロックに有効なデータが格納されていないかを判定するために、必要な制御信号および論理アドレスデータを不揮発性メモリ11に対して出力する。
コマンドa1とコマンドa2、およびコマンドa3とコマンドa2は常にそれぞれセットで使用されるので、データ管理領域13の整合性は保証されている。詳細については、図3、図5、および図6の動作フローを用いて後述する。
コマンド群Bには、データ管理領域13から管理情報を読み出すコマンド、データ管理領域13に管理情報を書き込むコマンド、およびデータ管理領域13の管理情報を消去するコマンドがあり、コマンド群B処理部18で実行処理される。
コマンド群B処理部18は、コマンド入力タイプの不揮発性メモリ11における通常のコマンド処理部と同様の回路構成である。違いは、コマンド群Bによるデータ格納領域14へのアクセスはできないことである。すなわち、コマンド群B処理部18では、コマンド群Aでデータ管理領域13またはその候補として設定されたブロックに対するコマンドだけが正当なものとして実行され、指定されたブロックのブロックタグにデータ管理領域13またはその候補であることを示すフラグが設定されていない場合には、そのコマンドは不当アクセスであるとして実行されない。
コマンド群Cには、データ格納領域14からデータを読み出すコマンド、データ格納領域14にデータを書き込むコマンド、およびデータ格納領域14のデータを消去するコマンドがあり、コマンド群C処理部19で実行処理される。
コマンド群C処理部19は、コマンド群B処理部18と同様の回路構成である。違いは、コマンド群Cによるデータ管理領域13へのアクセスはできないことである。すなわち、コマンド群C処理部19では、ブロックタグにデータ管理領域13またはその候補であることを示すフラグが設定されていないブロックに対するコマンドだけが正当なものとして実行され、指定されたブロックがコマンド群Aでデータ管理領域13またはその候補として設定されている場合には、そのコマンドは不当アクセスであるとして実行されない。
このように、制御回路12は、データ管理領域13へのアクセスコマンド(コマンド群B)とデータ格納領域14へのアクセスコマンド(コマンド群C)を分離して、それらを排他的に実行処理するように構成されている。
次に、上述した構成を持つ不揮発性半導体記憶装置の制御方法について説明する。
図3は、本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置の制御方法におけるデータ管理領域13の初期化を示すフロー図である。
図3は、本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置の制御方法におけるデータ管理領域13の初期化を示すフロー図である。
本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置の制御方法におけるデータ管理領域13の初期化は、コマンドa1によりデータ管理領域13を割り付けるステップ(ST31)、コマンド群Bによりデータ管理領域13に管理情報の初期値を書き込むステップ(ST32)、およびコマンドa2によりデータ管理領域13を確定するステップ(ST33)を備えている。
ST31では、コマンドa1が制御回路12に入力され、コマンド群A処理部17が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、および論理アドレスデータを出力し、ブロックタグに候補フラグを設定してデータ管理領域13の候補ブロックを確保する。
ST32では、コマンド群Bの書き込みコマンドが制御回路12に入力され、コマンド群B処理部18が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、論理アドレスデータ、および初期値データを出力し、ST31で確保した候補ブロックに管理情報の初期値を書き込み、データ管理領域13を初期化する。
ST33では、コマンドa2が制御回路12に入力され、コマンド群A処理部17が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、および論理アドレスデータを出力し、ST31で確保した候補ブロックのブロックタグに確定フラグを設定してデータ管理領域13を確定する。
これらにより確定されたデータ管理領域13は、以後、コマンド群Bによってのみアクセスすることができる。
図4は、本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置の制御方法におけるデータ格納領域14のデータ更新を示すフロー図である。ここでは、データ格納領域14の書き換え回数を均一化するために、更新されたデータをデータ格納領域14の別のブロックに書き込む場合、なおかつ、データ管理領域13の移動を伴わない場合を説明する。
本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置の制御方法におけるデータ格納領域14のデータ更新は、コマンド群Bによりデータ管理領域13の管理情報を読み出すステップ(ST41)、コマンド群Cによりデータ格納領域14のデータを読み出すステップ(ST42)、コマンド群Cにより別のデータ格納領域14にデータを書き込むステップ(ST43)、およびコマンド群Bによりデータ管理領域13に新しい管理情報を書き込むステップ(ST44)を備えている。
ST41では、コマンド群Bの読み出しコマンドが制御回路12に入力され、コマンド群B処理部18が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、および論理アドレスデータを出力し、所望のデータに対応する管理情報をデータ管理領域13から読み出し、外部に出力する。
ST42では、ST41で読み出された管理情報に基づいてコマンド群Cの読み出しコマンドが制御回路12に入力され、コマンド群C処理部19が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、および論理アドレスデータを出力し、ST41で読み出した管理情報に対応した所望のデータをデータ格納領域14から読み出し、外部に出力する。
ST42で外部に読み出されたデータを更新して再度不揮発性半導体記憶装置に書き込むために、ST43では、更新されたデータとコマンド群Cの書き込みコマンドが制御回路12に入力され、コマンド群C処理部19が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、論理アドレスデータ、および更新されたデータを出力し、更新されたデータをデータ格納領域14に書き込む。
この時、ブロックの書き換え回数を均一化するために、更新されたデータは元のデータが格納されていたブロックとは異なるブロックに書き込まれる。したがって、更新されたデータに対応する管理情報も更新される必要がある。
ST44では、ST43でデータ格納領域14に書き込まれたデータに対応するデータ管理領域13の管理情報を更新するために、更新する管理情報とコマンド群Bの書き込みコマンドが制御回路12に入力され、コマンド群B処理部18が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、論理アドレスデータ、および更新する管理情報を出力し、更新する管理情報をデータ管理領域13へ書き込む。
図5は、本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置の制御方法におけるデータ管理領域13の移動を示すフロー図である。ここでは、データ格納領域14のデータ移動を伴わない場合を示した。
本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置の制御方法におけるデータ管理領域13の移動は、コマンドa1により新しいデータ管理領域13を割り付けるステップ(ST51)、コマンド群Bによりデータ管理領域13の管理情報を読み出すステップ(ST52)、コマンド群Bにより管理情報を新しいデータ管理領域13に書き込むステップ(ST53)、コマンドa2により新しいデータ管理領域13を確定するステップ(ST54)、およびコマンド群Bによりデータ管理領域13の管理情報を消去するステップ(ST55)を備えている。
ST51の動作は、図3のST31と同様であるので、詳しい説明は省略する。ST31との違いは、ST51ではすでにデータ管理領域13が存在しており、これとは別に新しいデータ管理領域13の候補ブロックを確保していることである。この新しいデータ管理領域13は、データ格納領域14の未使用領域に割り付けられる。
ST52では、コマンド群Bの読み出しコマンドが制御回路12に入力され、コマンド群B処理部18が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、および論理アドレスデータを出力し、すべての管理情報をすでに存在するデータ管理領域13から読み出し、外部に出力する。
ST52で外部に読み出された管理情報を再度不揮発性半導体記憶装置に書き込むために、ST53では、管理情報とコマンド群Bの書き込みコマンドが制御回路12に入力され、コマンド群B処理部18が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、論理アドレスデータ、および管理情報を出力し、ST51で確保された新しいデータ管理領域13に管理情報を書き込む。
ST54の動作は、図3のST33と同様であるので、詳しい説明は省略する。
ST55では、ST52で管理情報が読み出された元のデータ管理領域13を未使用状態にするために、コマンド群Bの消去コマンドが制御回路12に入力され、コマンド群B処理部18が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、および論理アドレスデータを出力し、元のデータ管理領域13を消去する。
図6は、本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置の制御方法における別のデータ管理領域13の移動を示すフロー図である。ここでは、データ格納領域14のデータ移動を伴う場合を示した。
本発明の実施例に係わる不揮発性半導体記憶装置の制御方法における別のデータ管理領域13の移動は、コマンドa3により新しいデータ管理領域13を割り付けるステップ(ST61)、新しいデータ管理領域13のデータを判定するステップ(ST62)、コマンド群Cによりデータ格納領域14のデータを移動するステップ(ST63)、コマンド群Bによりデータ管理領域13の管理情報を読み出すステップ(ST64)、コマンド群Bにより管理情報を新しいデータ管理領域13に書き込むステップ(ST65)、コマンドa2により新しいデータ管理領域13を確定するステップ(ST66)、およびコマンド群Bによりデータ管理領域13の管理情報を消去するステップ(ST67)を備えている。
ST61の動作は、図3のST31と同様であるので、詳しい説明は省略する。ST31との違いは、コマンドa1の替わりにコマンドa3が入力されることと、ST61ではすでにデータ管理領域13が存在しており、このデータ管理領域13の一部を移動するために、別に新しいデータ管理領域13の候補ブロックを確保していることである。
この新しいデータ管理領域13は、データ格納領域14に割り付けられるが、図5のST51とは異なり、必ずしも未使用領域に割り付けられるとは限らない。
ST62では、ST61で確保した新しいデータ管理領域13に元のデータ格納領域14の有効データが存在していないかが判定される。すなわち、コマンド群A処理部17は、必要な制御信号および論理アドレスデータを不揮発性メモリ11に対して出力し、新しいデータ管理領域13からデータを読み出す。
もし、読み出したデータが無効なデータ、つまり、消去状態であれば(“OK”)、コマンド群A処理部17は有効データが存在しないことを示す信号をデータとして外部に出力し、動作はST64に移行する。
また、読み出したデータが有効なデータであれば(“NG”)、コマンド群A処理部17は有効データが存在することを示す信号をデータとして外部に出力し、動作はST63に移行する。
ST62で有効データが存在した場合には、これをデータ格納領域14の他のブロックへ移動するために、ST63では、まず、コマンド群Cの読み出しコマンドが制御回路12に入力され、コマンド群C処理部19が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、および論理アドレスデータを出力し、すべての有効データを新しいデータ管理領域13から読み出し、外部に出力する。
次に、外部に読み出された有効データを再度不揮発性半導体記憶装置に書き込むために、有効データとコマンド群Cの書き込みコマンドが制御回路12に入力され、コマンド群C処理部19が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、論理アドレスデータ、および有効データを出力し、新しいデータ格納領域14に有効データを書き込む。
ST64では、ST61で確保された新しいデータ管理領域13に移動すべき元のデータ管理領域13にある管理情報を読み出すために、コマンド群Bの読み出しコマンドが制御回路12に入力され、コマンド群B処理部18が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、および論理アドレスデータを出力し、移動すべき管理情報をデータ管理領域13から読み出し、外部に出力する。
ST64で外部に読み出された管理情報を再度不揮発性半導体記憶装置に書き込むために、ST65では、管理情報とコマンド群Bの書き込みコマンドが制御回路12に入力され、コマンド群B処理部18が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、論理アドレスデータ、および管理情報を出力し、ST61で確保された新しいデータ管理領域13に管理情報を書き込む。
ST66の動作は、図3のST33と同様であるので、詳しい説明は省略する。
ST67では、ST64で移動すべき管理情報が読み出された元のデータ管理領域13を未使用状態にするために、コマンド群Bの消去コマンドが制御回路12に入力され、コマンド群B処理部18が不揮発性メモリ11に必要な制御信号、および論理アドレスデータを出力し、元のデータ管理領域13を消去する。
上記実施例によれば、外部からの専用コマンドによりデータ管理領域13を設定および移動することができるので、外部からの不当なアクセスによるデータ管理領域13の管理情報の破壊を防止しつつ安全にデータ管理領域13への書き換え回数の集中を回避することができる。
また、上記実施例によれば、データ管理領域13の移動または拡張がコマンド群Aによって制御されるので、データ管理領域13の移動または拡張を安全に実行することができる。
さらに、上記実施例によれは、データ管理領域13へのアクセスコマンドとデータ格納領域14へのアクセスコマンドが分離されており、かつ、それらが排他的に実行処理されるので管理情報やデータの書き換え、およびデータ管理領域13の移動などにおいてそれらの整合性を容易にかつ安全に保持することができる。
さらに、上記実施例によれば、有効なデータを有するデータ格納領域14をデータ管理領域13に変更することができるので、データ格納領域14とデータ管理領域13の交換を安全に実行でき、ブロックごとの書き込み回数の均一化を容易に実現することができる。
上述の実施例では、不揮発性メモリ11は、一例として、NAND型フラッシュメモリであるとしたが、本発明はこれに限られるものではなく、原理的には電気的に書き換え可能な不揮発性メモリ(EEPROM)であれば適用可能である。
また、上述の実施例では、データ管理領域13は、連続したアドレスで確保することを想定して説明したが、本発明はこれに限られるものではなく、例えば、不連続なアドレスを有する複数の領域をデータ管理領域13として使用することもできる。
さらに、上述の実施例では、ブロックは一括消去の単位であるページを基本としているが、本発明はこれに限られるものではない。
さらに、上述の実施例では、有効データの判定は消去状態を基準としているが、本発明はこれに限られるものではなく、例えば、冗長領域にそのブロックにおけるデータの有効性を示すフラグを設定することで判定するように構成することもできる。
11 不揮発性メモリ
12 制御回路
13 データ管理領域
14 データ格納領域
15 セルアレイ
16 読み出し/書き込み回路
17 コマンド群A処理部
18 コマンド群B処理部
19 コマンド群C処理部
12 制御回路
13 データ管理領域
14 データ格納領域
15 セルアレイ
16 読み出し/書き込み回路
17 コマンド群A処理部
18 コマンド群B処理部
19 コマンド群C処理部
Claims (5)
- 不揮発性メモリセルが行および列方向に繰り返し配置されたセルアレイを有する記憶手段と、
外部から入力されたデータが前記不揮発性メモリセルに格納されるデータ格納領域と、
前記データ格納領域の管理情報が前記不揮発性メモリセルに格納されるデータ管理領域と、
前記データ管理領域を前記セルアレイに設定するために外部から入力される第1のコマンド群を処理し、前記記憶手段に対して所定の制御信号を出力する第1のコマンド群処理手段と、
前記データ管理領域に前記管理情報を書き込み、または、前記データ管理領域に格納されている前記管理情報を読み出し、または、前記データ管理領域に格納されている前記管理情報を消去するために外部から入力される第2のコマンド群を処理し、前記記憶手段に対して所定の制御信号を出力する第2のコマンド群処理手段を有することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 前記データ格納領域に前記データを書き込み、または、前記データ格納領域に格納されている前記データを読み出し、または、前記データ格納領域に格納されている前記データを消去するために外部から入力される第3のコマンド群を処理し、前記記憶手段に対して所定の制御信号を出力する第3のコマンド群処理手段をさらに有することを特徴とする請求項1に記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記コマンド群は、
前記セルアレイのブロックタグに当該ブロックが前記データ管理領域の候補であることを示す候補フラグを設定する第1のコマンドと、
前記データ管理領域を確定するために、前記ブロックタグに当該ブロックが前記データ管理領域であることを示す確定フラグを設定する第2のコマンドを備えていることを特徴とする請求項1に記載の不揮発性半導体記憶装置。 - 不揮発性メモリセルが行および列方向に繰り返し配置されたセルアレイを備えた不揮発性半導体記憶装置の制御方法であって、
データ格納領域の管理情報が格納されるデータ管理領域を前記セルアレイに設定するために外部から入力された第1のコマンドに基づいて、前記セルアレイのブロックタグに当該ブロックが前記データ管理領域の候補であることを示す候補フラグを設定する第1のステップと、
前記第1のステップで確保された前記データ管理領域に前記管理情報を書き込むために外部から入力された第2のコマンドに基づいて、当該データ管理領域に前記管理情報の初期値を書き込む第2のステップと、
前記第2のステップで前記初期値が書き込まれた前記データ管理領域を確定するために外部から入力された第3のコマンドに基づいて、当該データ管理領域の前記ブロックタグに確定フラグを設定する第3のステップを有することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置の制御方法。 - 不揮発性メモリセルが行および列方向に繰り返し配置されたセルアレイを備えた不揮発性半導体記憶装置の制御方法であって、
データ格納領域の管理情報が格納されるデータ管理領域を前記セルアレイに設定するために外部から入力された第1のコマンドに基づいて、前記セルアレイのブロックタグに当該ブロックが前記データ管理領域の候補であることを示す候補フラグを設定する第1のステップと、
外部から入力された第2のコマンドに基づいて、すでに前記管理情報が格納されている別の前記データ管理領域から当該管理情報を読み出す第2のステップと、
外部から入力された第3のコマンドに基づいて、前記第2のステップで読み出された前記管理情報を前記第1のステップで確保された前記データ管理領域に書き込む第3のステップと、
前記第3のステップで前記管理情報が書き込まれた前記データ管理領域を確定するために外部から入力された第4のコマンドに基づいて、前記第3のステップで前記管理情報が書き込まれた前記データ管理領域の前記ブロックタグに確定フラグを設定する第4のステップと、
外部から入力される第5のコマンドに基づいて、前記第2のステップで前記管理情報が読み出された前記データ管理領域をデータ消去する第5のステップを有することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置の制御方法。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2006296858A JP2008117003A (ja) | 2006-10-31 | 2006-10-31 | 不揮発性半導体記憶装置およびその制御方法 |
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JP2006296858A JP2008117003A (ja) | 2006-10-31 | 2006-10-31 | 不揮発性半導体記憶装置およびその制御方法 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN101763309A (zh) * | 2008-12-25 | 2010-06-30 | 索尼株式会社 | 非易失性存储装置、信息记录系统及信息记录方法 |
US8255643B2 (en) | 2009-02-24 | 2012-08-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory system and data processing method thereof |
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2006
- 2006-10-31 JP JP2006296858A patent/JP2008117003A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN101763309A (zh) * | 2008-12-25 | 2010-06-30 | 索尼株式会社 | 非易失性存储装置、信息记录系统及信息记录方法 |
JP2010152703A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Sony Corp | 不揮発性記憶装置、情報記録システム、及び情報記録方法 |
US8255643B2 (en) | 2009-02-24 | 2012-08-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory system and data processing method thereof |
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