JP2008102900A - メモリ装置内のアドレッシング可能な空間を再配置させる方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】不揮発性メモリ装置(例えば、フラッシュEEPROM装置)とプロセッサとを含む集積回路システムを提供する。
【解決手段】プロセッサは、不揮発性メモリ装置と電気的に接続される。プロセッサは、不揮発性メモリ装置のアドレッシング可能な空間を再配置させる。このような再配置は、 プロセッサが受信された容量調整命令に応答して不揮発性メモリ装置内に余分のメモリアドレスに予備された物理的アドレスの個数を増加させることで実行される。
【選択図】図1
【解決手段】プロセッサは、不揮発性メモリ装置と電気的に接続される。プロセッサは、不揮発性メモリ装置のアドレッシング可能な空間を再配置させる。このような再配置は、 プロセッサが受信された容量調整命令に応答して不揮発性メモリ装置内に余分のメモリアドレスに予備された物理的アドレスの個数を増加させることで実行される。
【選択図】図1
Description
本発明は、集積回路システムに係り、特に、メモリ装置を制御するプロセッサと前記メモリ装置を駆動する方法とに関する。
フラッシュEEPROM(Flash Electrically Erasable Programmable Read−Only Memory)のような不揮発性メモリは、低電力動作に適した特性を有する。このような低電力動作特性のために、不揮発性メモリは、カメラ、MP3プレーヤー、携帯電話機、またはPDA(Personal Digital Assistant)のような携帯用情報機器で多く使われている。
当業者によく知られたように、フラッシュEEPROM装置は、新たなプログラムデータをプログラムする前に当該装置内のセルに対する消去動作(すなわち、ブロック消去)を先に実行する。EEPROM装置において、セルのブロックをプログラムする前にセル内でリセットスレショルド電圧状態を作るためにセルのブロックを消去することは一般的である。
ここで、EEPROMセルのブロックに多数回にわたって消去動作を実行することは、一つまたはそれ以上のEEPROMセル内でスレショルド電圧不良(defect)を発生させうる。これによってEEPROM装置の寿命が減少しうる。EEPROM装置に対するブロック消去動作回数が増加するにつれてEEPROMセル不良の個数が増加しうるので、多くのEEPROM装置は一つまたはそれ以上のEEPROMセルの予備メモリブロック(reserved memory blocks)を有する。
予備メモリブロックは、一般的に多くの記録、読み取り、及び消去動作を実行するEEPROMセルの活性メモリブロック(active memory block)に対する余分のメモリブロックとして動作する。EEPROM装置の使用中に不良になった活性メモリブロックのそれぞれは、予備メモリブロックによって代替されうる。しかし、すべての利用可能な予備ブロックが活性メモリブロックを代替するのために利用され、今後の消去及びプログラム動作の実行においてEEPROM装置で不良がさらに発生すれば、EEPROM装置全体が不良になる。
一つまたはそれ以上の活性メモリブロックに対する過度な消去/プログラム動作に起因して発生するEEPROM装置不良を減少させるために、活性メモリブロック全体にわたって消去/プログラム動作を相対的に均一に分散させる技術が発展してきた。
このような技術は、消去/プログラム動作の相対的な均一な分散を実行するために、FTL(Flash Translation Layer)技術を利用できる。それにもかかわらず、多数の活性メモリブロックは、消去/プログラム動作に起因して発生する不良に対して相異なる敏感度を有しうる。したがって、多数の活性メモリブロックにわたって相対的に均一に消去/プログラム動作を分散させるこのような技術は、相対的に長いEEPROM装置の寿命を完全に成功的に保証することはできない。
本発明が果たそうとする技術的な課題は、例えば、メモリ装置の寿命を増加させるために、前記メモリ装置の使用状況に応じて活性メモリ容量と予備メモリ容量とを調節できる方法と装置とを提供することである。
本発明の実施形態による集積回路システムは、不揮発性メモリ装置及びプロセッサを含む。前記不揮発性メモリ装置は、フラッシュEEPROM装置を含む。前記プロセッサは、不揮発性メモリ装置と電気的に接続される。
前記プロセッサは、前記不揮発性メモリ装置内のアドレッシング可能な(addressable)空間を再配置させる。このような再配置は、前記プロセッサが受信された容量調整命令に応答して前記不揮発性メモリ装置内に余分のメモリアドレスとして確保される物理的アドレスの個数を増加させることで実行される。
本発明の実施形態による集積回路システムにおいて、前記プロセッサは、アドレス変換テーブルを備える。前記アドレス変換テーブルは、受信された論理的アドレスに応答して前記不揮発性メモリ装置に位置する物理的アドレスを発生する。
前記プロセッサは、前記不揮発性メモリ装置内の前記活性メモリ領域の容量と前記予備メモリ領域の容量とを決定するために前記不揮発性メモリ装置内のメモリ配置領域を読み取る。前記読み取り動作は、前記受信された容量調整命令に応答して実行される。
前記プロセッサは、前記受信された容量調整命令に応答して前記不揮発性メモリ装置内の前記メモリ配置領域にデータを記録する。このような方法で、前記プロセッサは、前記不揮発性メモリ装置内の活性メモリブロックと予備メモリブロックとの間の第1配置を決定するために前記不揮発性メモリ装置内のメモリ配置領域を読み取り、前記不揮発性メモリ装置内の前記活性メモリブロックと前記予備メモリブロックとの間の変更された配置を前記メモリ配置領域に記録する。
本発明の他の実施形態による集積回路システムは、少なくとも一つの活性メモリ領域と少なくとも一つの予備メモリ領域とを含む不揮発性メモリ装置及びプロセッサを備える。前記プロセッサは、受信された容量調整命令に応答して前記活性メモリ領域の容量と前記予備メモリ領域の容量とを調整する。
前記プロセッサは、前記活性メモリ領域の容量と前記予備メモリ領域とを調整する前に、前記活性メモリ領域の容量と前記予備メモリ領域の容量とを決定するために前記集積回路システム内のメモリ配置領域を読み取る。前記プロセッサは、受信された論理的アドレスに応答して前記不揮発性メモリ装置に位置する物理的アドレスを発生するアドレス変換テーブルを含む。
本発明によるメモリ装置内のアドレッシング可能な空間を再配置する方法及び装置は、メモリ装置の活性メモリ容量と予備メモリ容量とを調節することで前記メモリ装置の寿命を延長させうる。
以下、添付した図面を参照して、本発明を詳しく説明する。
図1は、本発明の実施形態による集積回路システムのブロック図である。この集積回路システム10は、ホスト20、プロセッサ30、及び不揮発性メモリ装置40を含む。本明細書では、プロセッサ30と不揮発性メモリ装置40は、メモリ容量調節装置として表現されうる。
システム10は、例えば、ビデオカメラ、TVセット、オーディオシステム、ゲーム機、携帯電話機、PC、PDA(Personal Digital Assistant)、ボイスレコーダー(voice recorder)、メモリカードまたはSSD(Solid State Disk)、または不揮発性メモリ(装置)を用いる他の装置であり得る。
ホスト20は、例えば、ファイルシステム(file system)またはファイルシステム素子を含むことができ、プロセッサ30は、例えば、FTLとして動作する素子及びアドレス変換テーブル31を含みうる。アドレス変換テーブル31は、例えば、揮発性メモリ装置(例えば、SRAM)として具現可能である。
FTLは、フラッシュEEPROMとして具現可能なメモリ装置40に対するバックグラウンド消去動作を実行できる。そして、FTLは、メモリ記録動作中にホスト20によって発生する論理的アドレス(LA;Logical Addresses)を不揮発性メモリ装置40に対応する物理的アドレス(PA;Physical Addresses)に変換することもできる。
図1に図示されたように、プロセッサ30は、チェック動作、読出動作、再構成(reconstruction)動作、または保存動作のうちの少なくとも一つを実行しうる。これらの動作については、以下で詳しく説明される。
不揮発性メモリ装置40は、少なくとも二つのメモリ領域を含む。このようなメモリ領域は、活性メモリ領域(または、ユーザー利用可能メモリ領域)41及び予備メモリ領域43を含む。活性メモリ領域41のメモリ容量は、以下では活性メモリ容量と言い、これはユーザーが利用できるメモリ容量を表わす。予備メモリ領域43のメモリ容量は、以下では予備メモリ容量と言う。
活性メモリ容量及び予備メモリ容量は、プロセッサ30によって実行されるメモリマッピング(memory mapping)動作を変更することで調整されうる。例えば、メモリ装置40は、製造時に16ギガバイト(GB)の総メモリ容量を有しうる。総メモリ容量から15ギガバイトの初期領域が活性メモリ領域41に割り当てられ、1ギガバイトの初期領域が予備メモリ領域43に割り当てられうる。
このような活性メモリ領域41と予備メモリ領域43との間の15:1の比率は、メモリ割り当て領域45に保存された情報によって確認されうる。メモリ割り当て領域45は、図1に図示されたように、予備メモリ領域43内に位置することができ、プロセッサ30内のメモリ装置(図示せず)に位置することもできる。
製造時に特定される初期比率は、ユーザーからの要請によって調整されうる。特に、相対的に高い周波数で書き込み(及び書込み前の消去(pre−write erase))動作と関連したユーザーからの要請は、予備メモリ領域43の大きさ(size)に対して活性メモリ領域41の大きさを減少させる相異なる比率から利益を得られる。
例えば、メモリ装置40にオペレーティングシステム(OS)がインストールされる場合には、前記の比率は、製造時に設定された15:1から14:2または14:2よりさらに低い比率に変更されうる。このようなさらに低い比率は、このような場合において、予備メモリ領域43にさらに多いメモリを割り当てる結果をもたらす。何故ならば、相対的に高い周波数で書き込み動作(及び対応する書き込み前の消去)が実行される場合には、活性メモリ領域41にメモリ不良が発生する可能性がさらに高いためである。
前記の比率に対するこのような変化を実行するために、容量調整命令がホスト20によってプロセッサ30に印加される。容量調整命令を実行するための動作のシーケンスは、プロセッサ30によって実行されることができ、特に、FTLと関連したロジックによって実行されうる。
容量調整命令を発生する前に、ホスト20は、プロセッサ30に容量チェック命令(または、コマンド)を印加する。容量チェック命令に応答して、プロセッサ30は、メモリ配置領域45から前記の比率を表わす情報を読み取り可能である。
例えば、メモリ配置領域45から読み取られた情報は、予備メモリ領域43の容量、予備メモリ領域43に対するメモリ装置40の相対的な容量の比率、または予備メモリ領域43に対する活性メモリ領域41の相対的な比率であり得る。
メモリ配置領域45から読み取られた情報に基づいて、プロセッサ30は、予備メモリ領域43の容量または活性メモリ領域41の容量を決定できる。このような容量は、ホスト20から受信されうる。
容量チェック命令に応答して、ホスト20は、パラメータとともに容量調整命令(または、コマンド)CMDを出力する。このパラメータは、活性メモリ領域41と予備メモリ領域43との間の変更された比率を表わすことができる。
特に、パラメータは、活性メモリ領域41の容量、予備メモリ領域43の容量、または活性メモリ領域41と予備メモリ領域43との比率であり得る。ユーザーによって特定されうるパラメータは、ホスト20とのインターフェースから受信される情報から決定されうる。
本発明の実施形態において、パラメータは、例えば、予備メモリ領域43の大きさを決めるための予備メモリパラメータPRMとして特定されうる。したがって、ユーザーが予備メモリ領域43の容量を2GBに増加させることを要求する場合に、ホスト20は、2GB値を特定するパラメータPRMをプロセッサ30に出力できる。
図2のフローチャートに図示されたように、プロセッサ30によって容量調整命令CMD及びパラメータPRMが受信されれば(S10)、パラメータPRMが有效であるかを決定するためにチェック動作が実行される(S20〜S30)。チェック動作は、必須的動作ではなく選択的動作である。このようなチェック動作は、プロセッサ30のチェックロジック回路32によって実行されうる。
パラメータPRMが無効であれば、すなわち、パラメータPRMが不適切な形式を有するか、既定の範囲を外れれば、プロセッサ30は、エラーメッセージを出力する(S31)。しかし、パラメータPRMが有効であれば、プロセッサ30は、メモリ配置領域45から情報を読み取る動作を実行する(S40)。読み取り動作は、選択的動作である。読み取り動作は、プロセッサ30内の読み取りロジック回路34によって実行されうる。
次いで、プロセッサ30内の再構成ロジック回路36は、新たなパラメータPRMに基づいてマッピング情報(例えば、メモリマップ)を再構成する(S50)。このような再構成に基づいて活性メモリ領域41の新たな容量(例えば、14GB)と予備メモリ領域43の新たな容量(例えば、2GB)とが設定されることができ、このような新たな配置比率に応答して変更されたアドレス変更テーブル31が再構成されうる。
次いで、保存ロジック回路38は、新たな比率をメモリ配置領域45に保存するために活性化されうる(S60)。次いで、メモリ装置40が、変更されたアドレス変更テーブル31によって決まる位置に新たなメモリ構造を設定させるために、リセット動作が実行される(S70)。
図2に図示されたこのような動作は、プロセッサ30及び/またはホスト20内の単純なハードウェアまたはハードウェアとソフトウェアとの組合せによって実行されうる。本発明による実施形態において、ソフトウェアは、コンピュータで読み取り可能な記録媒体にコンピュータで読み取り可能なプログラムとして具現可能である。
また、予備メモリ領域43の容量を増加させるためのこのような動作は、メモリ装置40の動作中に予備メモリ領域43内のメモリ空間の枯渇検出に応答して実行されうる。
例えば、プロセッサ30が一般的な使用中に活性メモリ領域41内の不良が累積することで発生する予備メモリ領域43の空き空間の枯渇を検出すれば、プロセッサ30は、予備メモリ領域43の容量増加を開始できる。メモリ装置40の寿命を増加させるためにこのような予備メモリ領域43の増加は、複数回発生できる。
一方、ユーザーが予備メモリ領域43の容量を0.1GBに減少させることを要求すれば、ホスト20は、0.1GB値を特定するパラメータPRMをプロセッサ30に出力する。0.1GBのような小さな予備メモリ領域43の容量は、一般的な動作中に高い周波数の消去/書き込み動作を実行していないメモリ装置40に対する応用に望ましい。
このような応用は、書き込み動作がほとんど実行されていないデータバックアップ目的としてメモリ装置40が利用される場合に望ましい。このとき、活性メモリ領域41は、15.9GBの容量を割り当てられる。この場合に、パラメータPRMは、予備メモリ領域43に対する0.1GB値を指定して図2に図示された動作が反復して実行されうる。
本発明は、図面に図示された一実施形態を参考にして説明されたが、これは例示的なものに過ぎず、当業者ならば、これより多様な変形及び均等な他実施形態が可能であるという点を理解できるであろう。したがって、本発明の真の技術的保護範囲は、特許請求の範囲の技術的思想によって決まるべきである。
本発明の実施形態による装置と方法は、不揮発性メモリ装置とプロセッサとを含む集積回路システムで使用可能である。
20:ホスト 30:プロセッサ
32:チェックロジック回路 34:読み取りロジック回路
36:再構成ロジック回路 38:保存ロジック回路
40:不揮発性メモリ装置 41:活性メモリ領域
43:予備メモリ領域 45:メモリ割り当て領域
32:チェックロジック回路 34:読み取りロジック回路
36:再構成ロジック回路 38:保存ロジック回路
40:不揮発性メモリ装置 41:活性メモリ領域
43:予備メモリ領域 45:メモリ割り当て領域
Claims (12)
- 少なくとも一つの活性メモリ領域と少なくとも一つの予備メモリ領域とを含む不揮発性メモリ装置と、
受信された容量調整命令に応答して前記活性メモリ領域の容量と前記予備メモリ領域の容量とを調整するプロセッサと、
を含むことを特徴とする集積回路システム。 - 前記プロセッサは、前記活性メモリ領域の容量と前記予備メモリ領域の容量とを調整する前に、前記活性メモリ領域の容量と前記予備メモリ領域の容量とを決定するために前記集積回路システム内のメモリ配置領域を読み取ることを特徴とする請求項1に記載の集積回路システム。
- 前記プロセッサは、前記活性メモリ領域の容量と前記予備メモリ領域の容量とを調整する前に、前記活性メモリ領域の容量と前記予備メモリ領域の容量とを決定するために前記不揮発性メモリ装置内のメモリ配置領域を読み取ることを特徴とする請求項1に記載の集積回路システム。
- 前記不揮発性メモリ装置は、フラッシュEEPROM(Electrically Erasable Programmable Read−Only Memory)であることを特徴とする請求項3に記載の集積回路システム。
- 前記プロセッサは、受信された論理的アドレスに応答して前記不揮発性メモリ装置に位置する物理的アドレスを発生するアドレス変換テーブルを含むことを特徴とする請求項4に記載の集積回路システム。
- 前記プロセッサは、受信された論理的アドレスに応答して前記不揮発性メモリ装置に位置する物理的アドレスを発生するアドレス変換テーブルを含むことを特徴とする請求項2に記載の集積回路システム。
- 不揮発性メモリ装置と、
前記不揮発性メモリ装置と電気的に接続されるプロセッサと、を含み、
前記プロセッサは、受信された容量調整命令に応答して前記不揮発性メモリ装置内において余分のメモリアドレスとして確保される物理的アドレスの個数を増加させることで前記不揮発性メモリ装置内のアドレッシング可能な(addressable)空間を再配置することを特徴とする集積回路システム。 - 前記プロセッサは、受信された論理的アドレスに応答して前記不揮発性メモリ装置に位置する物理的アドレスを発生するアドレス変換テーブルを含むことを特徴とする請求項7に記載の集積回路システム。
- 前記プロセッサは、前記受信された容量調整命令に応答して前記不揮発性メモリ装置内の前記活性メモリ領域の容量と前記予備メモリ領域の容量とを決定するために前記集積回路システム内のメモリ配置領域を読み取ることを特徴とする請求項8に記載の集積回路システム。
- 前記プロセッサは、前記受信された容量調整命令に応答して前記不揮発性メモリ装置内の前記活性メモリ領域の容量と前記予備メモリ領域の容量とを決定するために前記不揮発性メモリ装置内のメモリ配置領域を読み取ることを特徴とする請求項7に記載の集積回路システム。
- 前記プロセッサは、前記受信された容量調整命令に応答して前記不揮発性メモリ装置内の前記メモリ配置領域にデータを記録することを特徴とする請求項10に記載の集積回路システム。
- 不揮発性メモリ装置内の活性メモリブロックと予備メモリブロックとの間の第1配置を決定するために前記不揮発性メモリ装置内のメモリ配置領域を読み取る段階と、
前記不揮発性メモリ装置内の前記活性メモリブロックと前記予備メモリブロックとの間の変更された配置を前記メモリ配置領域に記録する段階と、を含むことを特徴とする不揮発性メモリ駆動方法。
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