JP2008081768A - 真空成膜装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】着脱容易であって、比較的小型の遮蔽体により、無用な蒸発粒子を遮蔽および捕捉することができる真空成膜装置を提供することを課題とする。
【解決手段】真空チャンバ2内に、ワークWと蒸発材料源4とを上下に対向位置して配置した真空蒸着装置1において、蒸発材料源4を囲むと共に、上端開口部において蒸発材料源4からの蒸発流Aの拡散範囲をワークWの大きさに対応するように規制する筒状の遮蔽体5を、備えたことものである。
【選択図】図1
【解決手段】真空チャンバ2内に、ワークWと蒸発材料源4とを上下に対向位置して配置した真空蒸着装置1において、蒸発材料源4を囲むと共に、上端開口部において蒸発材料源4からの蒸発流Aの拡散範囲をワークWの大きさに対応するように規制する筒状の遮蔽体5を、備えたことものである。
【選択図】図1
Description
本発明は、真空状態にて成膜対象物に対して成膜処理を行う蒸着装置やスパッタリング装置等の真空成膜装置に関するものである。
従来、この種の真空成膜装置として、真空チャンバと、真空チャンバ内に設けられ、蒸発粒子を発生する蒸発材料源と、蒸発材料源に対向配置され成膜対象物を保持するワーク保持部と、蒸発材料源とワーク保持部との間に隔板様に介設され、蒸発材料源からの蒸発流を成膜対象物(ワーク保持部)に対応するように規制する開口部を有した遮蔽板と、を備えたものが知られている。(特許文献1参照)。遮蔽板は、真空チャンバの内壁に形成した左右の取付部に引出し式で着脱自在に取り付けられており、蒸発材料源から拡散し、上方放射状に流れる蒸発粒子のうち、成膜対象物(ワーク保持部)から外れるものを遮蔽および捕捉するようになっている。この遮蔽板を定期的に交換・再生することにより、捕捉された蒸発粒子により生成されるパーティクルの剥離を防止し、剥離したパーティクルが成膜対象物に付着して製品の歩留まりを悪化させることを抑えている。
特開平5−70931号公報
しかしながら、このような遮蔽板では、真空チャンバを上下に分断するように設けられているため、真空チャンバの開口部幅を両内壁の離間寸法と同寸法にしないかぎり、遮蔽板の取り外しが不可能であり、且つ交換作業が煩雑になる問題があった。また、遮蔽板が真空チャンバの両内壁の離間寸法と同寸法を有しているため、過剰な大きさになってしまい、メンテナンスに時間がかかると共に、コストがかかる問題があった。
本発明は、着脱容易であって、比較的小型の遮蔽体により、無用な蒸発粒子を遮蔽および捕捉することができる真空成膜装置を提供することを課題としている。
本発明の真空成膜装置は、真空チャンバ内に、成膜対象物と蒸発材料源とを上下に対向位置して成る真空成膜装置において、蒸発材料源を囲むと共に、上端開口部において蒸発材料源からの蒸発流の拡散範囲を成膜対象物の大きさに対応するように規制する遮蔽体を、備えたことを特徴とする。
この構成によれば、真空チャンバの内壁および構成部品に蒸発粒子が付着することを確実に防止することができると共に、遮蔽体自体をコンパクトに構成することができる。そのため、メンテナンスにかかる時間およびコストを軽減することができる。また、遮蔽体の設置構造を単純化することができる。
この場合、遮蔽体が、円筒状に形成されていることが好ましい。
この構成によれば、より一層遮蔽体の構造を単純化することができると共に、その設置構造も単純化することができる。また、真空チャンバの内壁および構成部品に蒸発粒子が付着するのを、効果的に防止することができる。
この場合、遮蔽体は、真空チャンバの底壁の上面に着座しており、底壁の上面には、中心部に蒸発材料源が位置するように遮蔽体を位置決めする位置決め部材が配設されていることが好ましい。
この構成によれば、遮蔽体を位置決め状態で簡単に設置することができると共に簡単に取り外すことができる。
この場合、遮蔽体の内周面は、微小な凹凸形状に形成されていることが好ましい。
この構成によれば、遮蔽体の内周面の表面積を大きくすることができる。これにより、蒸発粒子が付着しやすくなり、より多くの蒸発粒子を捕捉することができるため、真空チャンバの内壁や構成部品に蒸発粒子が付着することを更に防止することができる。また、遮蔽体の内周面に付着したパーティクルが剥離し難くなるため、遮蔽体の交換周期を長くすることができ、メンテナンスにおける時間およびコストを更に軽減することができる。
以下、添付図面を参照して、本発明の真空成膜装置を適用した真空蒸着装置について説明する。この真空蒸着装置は、内部を真空にした状態で、蒸発材料を蒸発させ、これにより発生した蒸発粒子をワーク(成膜対象物)に付着、推積させて薄膜を形成する、いわゆる真空蒸着を行うものである。
図1で示すように、真空蒸着装置1は、箱形の真空チャンバ2と、真空チャンバ2に外部から接続され、チャンバ内を真空もしくは大気圧に調整可能な圧力調整機構3と、真空チャンバ2の底壁21上に配設され、蒸発粒子を発生させる蒸発材料源4と、蒸発材料源4を囲むように底壁21上に設置した遮蔽体5と、蒸発材料源4に対向配置されると共に成膜されるワークWを保持するワーク保持部6と、蒸発材料源4からの蒸発流Aを遮断するシャッタ機構7と、各装置を統括制御する制御装置(図示省略)と、を備えている。
真空チャンバ2は、天壁20、底壁21、奥壁22および両側壁23,23を有すると共に、正面に図外の開閉扉を有し、箱状に形成されている。真空チャンバ2の底壁21上には、遮蔽体5を位置決め保持する位置決め部材25が設けられている(詳細は後述する)。また、真空チャンバ2の側壁23には、チャンバ内部を真空引きするための真空吸引口27と、内部に不活性ガスを供給するためのガス供給口28が形成されている。
圧力調整機構3は、真空チャンバ2内部を真空引きする真空吸引機構31と、真空チャンバ2内部に不活性ガスを供給することで、内部圧力を大気圧に調整するガス供給機構32を備えている。
真空吸引機構31は、真空チャンバ2の真空吸引口27に接続されており、真空ポンプ81と、真空吸引口27と真空ポンプ81を接続する真空配管82とを有している。真空配管82には真空チャンバ2側から真空計83、圧力調整バルブ84およびメインバルブ85が介設されている。メインバルブ85は電磁弁で構成されており、メインバルブ85が「開」状態の時、真空チャンバ2と真空ポンプ81が連通するため、この状態において、真空チャンバ2内の真空引きが行われる。
ガス供給機構32は、真空チェンバ2のガス供給口28に接続されており、不活性ガスである窒素ガスを収納するガスボンベ91と、ガスボンベ91とガス供給口28を接続するガス供給管92とを有している。ガス供給管92には、電磁弁で構成されたガスバルブ93および不活性ガスの供給量を制御するためのマスフローコントローラ94が介設されている。これら装置により、ワーク交換等の作業に際し、真空チャンバ2内に不活性ガスを導入することで真空チャンバ2内部を大気圧と同圧にして、開閉扉を開放する。
蒸発材料源4は、蒸発粒子の蒸発流Aを発生させるアルミニウムなどの蒸発材料41と、蒸発材料41を保持するルツボ42を有している。また、蒸発材料源4は、加熱機構を有しており、蒸発材料41を加熱させ、蒸発させることにより、蒸発粒子を発生させる。なお、蒸発材料源4から発生した蒸発流Aは、一定の立体角内で上方放射状に流れる。
ワーク保持部6は、天壁20に設置されており、ワークWをその表面が蒸発材料41側に向く様に上側から保持している。また、本実施形態においては、ワーク保持部6が真空チャンバ2に固定されたものであり、1枚のワークWを保持するものを使用しているが、成膜処理時に回転駆動するものを使用してもよいし、複数枚のワークWをいっしょに保持するものでもよい。
シャッタ機構7は、蒸発材料源4からの蒸発流Aをウォーミングアップ時等において遮断制御するものであり、直接、蒸発流Aを遮断する円板状のシャッタ板71と、シャッタ板71を縁部で支持するシャッタ支持軸72と、シャッタ支持軸72を介して、シャッタ板71を旋回運動させるシャッタモータ73を備えている。シャッタ板71は水平に配設される一方、シャッタ支持軸72は鉛直に配設され、底壁21を貫通したシャッタ支持部72の下端部にシャッタモータ73が連結されている。シャッタモータ73は、真空チャンバ2の外部に配設されており、制御装置(図示省略)の開閉指令により、シャッタ支持軸72を介して、シャッタ板71を、ワークWへの蒸発流Aを完全に遮断する遮断位置と非遮断位置との間で旋回させる。
次に、図2を参照して遮蔽体5廻りおよび遮蔽体5について詳細に説明する。上記したように、真空チャンバ2の底壁21上には、遮蔽体5を位置決めする位置決め部材25が設けられている。位置決め部材25は、蒸発材料源4を中心にして三方に1個ずつ配設された位置決め突起101で構成されており、この3つの位置決め突起101により、遮蔽体5は中心部に蒸発材料源4がくるよう、かつ、外周面が3つの位置決め突起101により位置規制されるように位置決めされる。すなわち、遮蔽体5は、3つの位置決め突起101を案内にして、底壁21上に着座するようになっている。なお、本実施形態の位置決め部材25は、遮蔽体5を外側から押さえるよう位置規制しているが、遮蔽体5の内周面を位置規制するように形成しても良い。
このように位置決め部材25を、3つの位置決め突起101で構成することにより、位置決め部材25の構造を単純化することができる。また、遮蔽体5の着脱が極めて容易に行うことができる。
遮蔽体5は、円筒状の形状を有しており、アルミニウム・ステンレス・チタン等の金属パイプを切断して形成されている。遮蔽体5の内径L3および長さL4は、上端開口部において、蒸発材料源4からの蒸発流Aの拡大範囲を、ワークWの大きさに対応するように規制するべく形成されている(詳細は後述する)。そのため、蒸発材料源4から発生した蒸発粒子のうち、ワークWを達しないものは、遮蔽体5に捕捉されるようになっている。
このような、遮蔽体5を使用することにより、真空チャンバ2の内壁および構成部品に蒸発粒子が付着することを防止することができると共に、遮蔽体5の交換が容易な上、体積および付着面の面積を抑えることができるため、メンテナンスにかかる時間およびコストを軽減することができる。
また、遮蔽体5の内周面は、微小な凹凸形状に加工されている。例えば、遮蔽体5の内周面をローレット加工等により荒げるようにしている。これにより、遮蔽体5の内周面の表面積が多くなるため、遮蔽体5の内周面に蒸発粒子が付着しやすくなる。そのため、より大きくの蒸発粒子を捕捉することができ、真空チャンバ2の内壁や構成部品に蒸発粒子が付着することを更に防止することができる。また、遮蔽体5の内周面に付着したパーティクルが剥離し難くなるため、遮蔽体5の交換周期を長くすることができ、メンテナンスにおける時間およびコストを更に軽減することができる。
なお、本実施形態においては、遮蔽体5が円筒状に形成されているが、例えば、角筒状に形成しても良いし、上部が開口したドーム状に形成されていてもよい。さらには、胴部に対し上端開口部が細径となる形状であっても良い。しかしながら、本実施形態のように、遮蔽体5が円筒状に形成されていることにより、より一層遮蔽体5の構造を単純化することができると共に、その設置構造も単純化することができ、また、真空チャンバ2の内壁および構成部品に蒸発粒子が付着するのを、効果的に防止することができる。
ここで、図3を参照して、遮蔽体5の内径L3および長さL4における条件について詳細に説明する。上記したように、遮蔽体5の内径L3および長さL4は、上端開口部において蒸発材料源4からの蒸発流Aの拡大範囲をワークWの大きさに対応するように規制するべく形成されている。このように形成するためには、蒸発材料源4の蒸発材料41が実質的に点とみなせる場合、ワークWの直径L1と、ワークWと蒸発材料41との距離L2との比が、遮蔽体5の内径L3と、遮蔽体5の高さL4から底壁21と蒸発材料41との距離L5を除いた値との比と、等しくなる必要がある(L1:L2=L3:L4−L5)。たとえば、ワークWの直径L1が40cm、ワークWと蒸発材料41との距離L2が80cm、底壁21と蒸発材料41との距離L5が4.3cmであり、内径L3が7.5cmの金属パイプを切断して遮蔽体5を形成しようとした場合、遮蔽体5の長さL4は、上記式より、L4=(L2×L3÷L1)+L5=(80cm×7.5cm÷40cm)+4.3cm=19.3cmとなる。
次に、図4を参照して、本発明の第2実施形態に係る真空蒸着装置1について、特に異なる部分を主に説明する。この実施形態において、位置決め部材25は、蒸発材料源4を中心にして四方に1個ずつ配設され、断面L字状に形成されたL字位置決め具102で構成されている。この4つのL字位置決め具102により、遮蔽体5は中心部に蒸発材料源4がくるよう、かつ、外周面が4つのL字位置決め具102により位置規制されるように位置決めされる。すなわち、遮蔽体5は、4つのL状位置決め具102を案内にして、底壁21上に着座するようになっている。なお、本実施形態においては、4つのL字位置決め具102により位置決めされているが、3つの位置決め具102により、三方から位置決めするものでも良い。
これらの構成によれば、真空チャンバ2の内壁および構成部品に蒸発粒子が付着することを確実に防止することができると共に、遮蔽体5自体をコンパクトに構成することができる。そのため、メンテナンスにかかる時間およびコストを軽減することができる。また、遮蔽体5の設置構造を単純化することができる。
1:真空蒸着装置、 2:真空チャンバ、 4:蒸発材料源、 5:遮蔽体、 21:底壁、 25:位置決め部材、 A:蒸発流、 W:ワーク
Claims (4)
- 真空チャンバ内に、成膜対象物と蒸発材料源とを上下に対向位置して成る真空成膜装置において、
前記蒸発材料源を囲むと共に、上端開口部において前記蒸発材料源からの蒸発流の拡散範囲を前記成膜対象物の大きさに対応するように規制する遮蔽体を、備えたことを特徴とする真空成膜装置。 - 前記遮蔽体が、円筒状に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の真空成膜装置。
- 前記遮蔽体は、前記真空チャンバの底壁の上面に着座しており、
前記底壁の上面には、中心部に前記蒸発材料源が位置するように前記遮蔽体を位置決めする位置決め部材が配設されていることを特徴とする請求項1または2に記載の真空成膜装置。 - 前記遮蔽体の内周面は、微小な凹凸形状に形成されていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の真空成膜装置。
Priority Applications (1)
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JP2006261307A JP2008081768A (ja) | 2006-09-26 | 2006-09-26 | 真空成膜装置 |
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CN102086505A (zh) * | 2009-12-03 | 2011-06-08 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 镀膜修正板 |
US9395625B2 (en) * | 2012-02-27 | 2016-07-19 | Kuraray Co., Ltd. | Acrylic acid ester derivative and method for producing same, intermediate and method for producing same, high-molecular-weight compound, and photoresist composition |
CN110029311A (zh) * | 2019-03-29 | 2019-07-19 | 新冶高科技集团有限公司 | 一种蒸镀装置及方法 |
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2006
- 2006-09-26 JP JP2006261307A patent/JP2008081768A/ja active Pending
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