JP2008066493A - Lead wire, lead terminal for aluminum electrolytic capacitors, and aluminum electrolytic capacitor - Google Patents
Lead wire, lead terminal for aluminum electrolytic capacitors, and aluminum electrolytic capacitor Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008066493A JP2008066493A JP2006242240A JP2006242240A JP2008066493A JP 2008066493 A JP2008066493 A JP 2008066493A JP 2006242240 A JP2006242240 A JP 2006242240A JP 2006242240 A JP2006242240 A JP 2006242240A JP 2008066493 A JP2008066493 A JP 2008066493A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead
- tin
- lead wire
- aluminum
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Non-Insulated Conductors (AREA)
- Insulated Conductors (AREA)
Abstract
Description
本発明はリード線、アルミニウム電解コンデンサ用リード端子およびアルミニウム電解コンデンサに関する。 The present invention relates to a lead wire, a lead terminal for an aluminum electrolytic capacitor, and an aluminum electrolytic capacitor.
従来、電子部品たとえばコンデンサのリード線はプリント基板に容易に半田付けできるように、銅線や銅被覆鋼線などの金属芯線の表面に半田めっき(錫−鉛合金めっき)を施していた。半田めっきは安価で半田付け性がよい上、高温高湿などの悪環境に置かれても半田付け性が劣化しないという優れた特性を持っているので広く使われてきた。しかし半田に含まれる鉛は有毒であるため、電気製品に鉛を含む半田の使用を禁止する流れとなっている。 Conventionally, solder plating (tin-lead alloy plating) has been applied to the surface of a metal core wire such as a copper wire or a copper-clad steel wire so that the lead wire of an electronic component such as a capacitor can be easily soldered to a printed circuit board. Solder plating has been widely used because it has low cost and good solderability and has excellent characteristics that solderability does not deteriorate even when placed in a bad environment such as high temperature and high humidity. However, since lead contained in solder is toxic, the use of solder containing lead in electrical products is prohibited.
リード線の半田めっきから鉛を除き錫めっきとすると毒性はなくなるが、錫めっき層からウィスカ(ひげ状の錫単結晶)が成長して電気ショート事故を起こす恐れがある。それを防止するため例えば錫めっきの表面に錫−パラジウム合金めっきを施す発明が提案されている(特許文献1)。 When lead plating is used to remove lead from the lead plating and tin plating is no longer toxic, whiskers (whisker-shaped tin single crystals) grow from the tin plating layer, which may cause an electrical short circuit accident. In order to prevent this, for example, an invention in which tin-palladium alloy plating is applied to the surface of tin plating has been proposed (Patent Document 1).
アルミニウム電解コンデンサはアルミニウム箔を巻くための芯材としてアルミニウムリード(アルミニウム線)を用い、外部接続のためアルミニウムリードにリード線を溶接している。従来のリード線は銅被覆鋼線などの表面に半田めっきをしたものであったが、半田めっきの中の鉛が有毒であるので、半田めっきは使用できなくなりつつある。半田めっきであればウィスカの発生はないが、錫めっきであると特にアルミニウムリードとリード線の溶接部分からウィスカが発生しやすい。この対策としてリード線の錫めっき表面を酸化して酸化錫にする発明が提案されている(特許文献2)。
リード線の錫めっき層からウィスカが成長するのを防止するため錫めっきの表面に錫−パラジウム合金めっきを施す構成は、パラジウムが現在でも希少金属で高価であり、将来もし広く使われるとパラジウム資源が不足する恐れがある。このため希少金属を用いないでウィスカを防止することが望まれる。 The structure in which tin-palladium alloy plating is applied to the surface of the tin plating to prevent whisker growth from the tin plating layer of the lead wire is a rare metal and expensive palladium. There is a risk of shortage. For this reason, it is desired to prevent whiskers without using rare metals.
アルミニウム電解コンデンサのアルミニウムリードとリード線の溶接部分のウィスカ対策としてリード線の錫めっき表面を酸化して酸化錫にする方法は、酸化錫が少なすぎるとウィスカが発生し、酸化錫が多すぎるとリード線の半田付け性が低下する。そのため適切な量の酸化錫を形成しなければならないが、それを制御するのが難しい。 As a countermeasure against whisker in the welded part of aluminum lead and lead wire of aluminum electrolytic capacitor, the method of oxidizing tin plating surface of lead wire to tin oxide is that whisker is generated if there is too little tin oxide and if there is too much tin oxide Lead wire solderability is reduced. Therefore, an appropriate amount of tin oxide must be formed, but it is difficult to control.
請求項1記載のリード線は、鋼素線表面に内側から順に、銅層、ニッケル層、錫層が積層されてなるリード線である。 The lead wire according to claim 1 is a lead wire formed by laminating a copper layer, a nickel layer, and a tin layer in order from the inside on the surface of the steel element wire.
本発明のリード線は最も錫ウィスカの発生しやすいアルミニウムリードと溶融一体化した部分でも、錫原子がニッケル原子と金属間化合物をつくり、鉄原子、銅原子、アルミニウム原子と原子的尺度で溶け合う。このため錫原子が集まってウィスカの発生源となる錫粒子をつくることが防止される。また希少金属を必要としないので安価であり資源不足の心配もない。またニッケル層はめっき法により精度良く形成できるので、適切な量の酸化錫を形成するような難しい制御をする必要がない。 In the lead wire of the present invention, even in the portion fused and integrated with the aluminum lead where tin whisker is most likely to be generated, the tin atom forms an intermetallic compound with the nickel atom and melts with the iron atom, copper atom and aluminum atom on an atomic scale. For this reason, it is possible to prevent tin atoms from gathering to form tin particles that become a whisker generation source. Moreover, since no rare metal is required, it is inexpensive and there is no fear of resource shortage. Further, since the nickel layer can be formed with high precision by a plating method, it is not necessary to perform difficult control to form an appropriate amount of tin oxide.
請求項2記載のリード線は請求項1に記載のリード線において、更に最外層に、銀、ビスマス、銅、インジウム、亜鉛の内少なくとも一つを含む錫合金層が積層されてなるリード線である。 The lead wire according to claim 2 is a lead wire according to claim 1, wherein a tin alloy layer containing at least one of silver, bismuth, copper, indium and zinc is further laminated on the outermost layer. is there.
リード線の最外層を銀、ビスマス、銅、インジウム、亜鉛の内少なくとも一つを含む錫合金層とすることにより、純粋な錫のときより融点を下げて半田付け性を向上させることができる。純粋な錫の融点は232℃であるが、錫−5重量%ビスマス合金の融点は228℃、錫−0.7重量%銅合金の融点は229℃というように融点を下げられる。錫−銀合金、錫−インジウム合金、錫−亜鉛合金も同様に融点を下げられる。 By using a tin alloy layer containing at least one of silver, bismuth, copper, indium, and zinc as the outermost layer of the lead wire, the melting point can be lowered and solderability can be improved as compared with pure tin. The melting point of pure tin is 232 ° C., but the melting point of the tin-5 wt% bismuth alloy is 228 ° C., the melting point of the tin—0.7 wt% copper alloy is 229 ° C., and so on. Similarly, tin-silver alloy, tin-indium alloy, and tin-zinc alloy can be lowered in melting point.
請求項3記載のリード線は、請求項1または2のいずれかに記載のリード線において、前記ニッケル層の厚さが0.5μm〜5μmであるリード線である。 A lead wire according to claim 3 is the lead wire according to claim 1 or 2, wherein the nickel layer has a thickness of 0.5 μm to 5 μm.
ニッケル層の厚さが0.5μm未満であると錫原子がニッケル原子と金属間化合物をつくるときニッケル原子が不足するおそれがあり、ニッケル層の厚さが5μmを越えるとリード線が硬くなりすぎて折れやすくなる。このためニッケル層の厚さは0.5μm〜5μmが適当である。 If the thickness of the nickel layer is less than 0.5 μm, there may be a shortage of nickel atoms when the tin atom forms an intermetallic compound with the nickel atom. If the thickness of the nickel layer exceeds 5 μm, the lead wire becomes too hard. Easily break. For this reason, the thickness of the nickel layer is suitably 0.5 μm to 5 μm.
請求項4記載のアルミニウム電解コンデンサ用リード端子は、鋼素線表面に内側から順に、銅層、ニッケル層、錫層が積層されてなるリード線と、アルミニウムリードとを溶接したアルミニウム電解コンデンサ用リード端子である。 The lead terminal for an aluminum electrolytic capacitor according to claim 4, wherein the lead wire formed by laminating a copper layer, a nickel layer, and a tin layer in this order from the inside to the surface of the steel element wire and an aluminum lead are welded. Terminal.
本発明のアルミニウム電解コンデンサ用リード端子はリード線とアルミニウムリードを溶接した部分も含め全ての箇所でウィスカの発生が防止されるので、アルミニウム電解コンデンサのリード端子として好適である。 The lead terminal for an aluminum electrolytic capacitor of the present invention is suitable as a lead terminal for an aluminum electrolytic capacitor because whisker generation is prevented at all locations including the portion where the lead wire and the aluminum lead are welded.
請求項5記載のアルミニウム電解コンデンサ用リード端子は請求項4に記載のアルミニウム電解コンデンサ用リード端子において、更に最外層に、銀、ビスマス、銅、インジウム、亜鉛の内少なくとも一つを含む錫合金層が積層されてなるリード線と、アルミニウムリードとを溶接したアルミニウム電解コンデンサ用リード端子である。 The lead terminal for an aluminum electrolytic capacitor according to claim 5, wherein the lead terminal for the aluminum electrolytic capacitor according to claim 4 is a tin alloy layer further comprising at least one of silver, bismuth, copper, indium and zinc as an outermost layer. Is a lead terminal for an aluminum electrolytic capacitor in which a lead wire formed by laminating and an aluminum lead are welded.
本発明のアルミニウム電解コンデンサ用リード端子はリード線とアルミニウムリードを溶接した部分も含め全ての箇所でウィスカの発生が防止され、さらにリード線の半田付け性が特に良いのでアルミニウム電解コンデンサのリード端子として好適である。 The lead terminal for an aluminum electrolytic capacitor of the present invention prevents whiskers from occurring at all locations including the portion where the lead wire and the aluminum lead are welded, and the lead wire has particularly good solderability. Is preferred.
請求項6記載のアルミニウム電解コンデンサは、鋼素線表面に内側から順に、銅層、ニッケル層、錫層が積層されてなるリード線と、アルミニウムリードとを溶接したアルミニウム電解コンデンサ用リード端子を有するアルミニウム電解コンデンサである。 The aluminum electrolytic capacitor according to claim 6 has a lead terminal for an aluminum electrolytic capacitor in which a lead wire formed by laminating a copper layer, a nickel layer, and a tin layer in this order from the inside to the surface of a steel element wire and an aluminum lead are welded. It is an aluminum electrolytic capacitor.
本発明のアルミニウム電解コンデンサはリード線のウィスカ発生がないのでプリント基板に実装したあとの電気ショート事故を予防できる。 Since the aluminum electrolytic capacitor of the present invention does not generate whiskers in the lead wires, it is possible to prevent an electrical short accident after being mounted on a printed circuit board.
請求項7記載のアルミニウム電解コンデンサは請求項6に記載のアルミニウム電解コンデンサにおいて、更に最外層に、銀、ビスマス、銅、インジウム、亜鉛の内少なくとも一つを含む錫合金層が積層されてなるリード線と、アルミニウムリードとを溶接したアルミニウム電解コンデンサ用リード端子を有するアルミニウム電解コンデンサである。 The aluminum electrolytic capacitor according to claim 7 is the aluminum electrolytic capacitor according to claim 6, further comprising a tin alloy layer containing at least one of silver, bismuth, copper, indium, and zinc laminated on the outermost layer. An aluminum electrolytic capacitor having a lead terminal for an aluminum electrolytic capacitor in which a wire and an aluminum lead are welded.
本発明のアルミニウム電解コンデンサはプリント基板に実装するときリード線の半田付け性が特に良い。またリード線のウィスカ発生がないのでプリント基板に実装したあとの電気ショート事故を予防できる。 The aluminum electrolytic capacitor of the present invention has particularly good lead wire solderability when mounted on a printed circuit board. Moreover, since there is no whisker generation of the lead wire, it is possible to prevent an electrical short accident after being mounted on the printed circuit board.
本発明のリード線は最も錫ウィスカの発生しやすいアルミニウムリードと溶接した部分でも、ウィスカの発生が防止できる。また希少金属を必要としないので安価であり資源不足の心配もない。ニッケル層はめっき法により精度良く形成できるので、適切な量の酸化錫を形成するような難しい制御をする必要がない。本発明のコンデンサ用リード端子はリード線とアルミニウムリードを溶接した部分も含め全ての箇所でウィスカの発生が防止されるのでアルミニウム電解コンデンサのリード端子として好適である。本発明のアルミニウム電解コンデンサはリード線のウィスカ発生がないのでプリント基板に実装したあとの電気ショート事故を予防できる。 The lead wire of the present invention can prevent the generation of whiskers even at the welded portion with the aluminum lead where tin whiskers are most likely to occur. Moreover, since no rare metal is required, it is inexpensive and there is no fear of resource shortage. Since the nickel layer can be formed with high accuracy by a plating method, it is not necessary to perform difficult control to form an appropriate amount of tin oxide. The lead terminal for a capacitor of the present invention is suitable as a lead terminal for an aluminum electrolytic capacitor because whisker generation is prevented at all locations including a portion where a lead wire and an aluminum lead are welded. Since the aluminum electrolytic capacitor of the present invention does not generate whiskers in the lead wires, it is possible to prevent an electrical short accident after being mounted on a printed circuit board.
まず従来の錫めっきリード線の錫めっき層からウィスカの成長するメカニズムについて説明する。図1は銅被覆鋼線の半田めっきから単に鉛を除き錫めっきとしただけの、ウィスカ対策を施していない従来のリード線100の模式図である。図1に示すように、鋼素線101の表面に同心円状に順次、銅層102を厚さ20μm、錫層103を厚さ12μm、めっき法により積層し、直径0.5mmのリード線100としている。
First, the mechanism of whisker growth from the tin plating layer of a conventional tin plating lead will be described. FIG. 1 is a schematic view of a
従来から銅下地層と錫層の組み合わせの場合、最も錫のウィスカの発生しやすい温度は常温であることが分かっている。しかし発明者の実験によればウィスカ対策を施していない従来のリード線100であっても、溶接などの加工を加えていない状態ならば、常温で60日間放置してもウィスカの発生は全く見られなかった。ウィスカは、発生する場合は数日で発生することが知られているから、このまま長期間放置しても発生しないと予測される。
Conventionally, in the case of a combination of a copper underlayer and a tin layer, it is known that the temperature at which tin whiskers are most likely to occur is room temperature. However, according to the inventor's experiment, even if the
ところが同じ従来のリード線100の一端を図2(a)に示すようにアルミニウムリード20の一端に突き合わせ、抵抗溶接したものを作り、同じように常温放置したところ僅か1日でウィスカが発生することが分かった。なおこれはリード線100をアルミニウム電解コンデンサに使用するときの実際の構造を模したものであり、同じようなウィスカが実際のアルミニウム電解コンデンサでも発生して問題となっている。
However, one end of the same
図2(b)は溶接直後のリード線100とアルミニウムリード20の突き合わせ溶接部(図2(a)の破線の円21の部分)の拡大模式図である。抵抗溶接の際、突き合わせた部分は2000℃もの高温になるので、リード線100とアルミニウムリード20の先端が溶融一体化して固化している。
FIG. 2B is an enlarged schematic view of a butt-welded portion between the
図2(c)はリード線100とアルミニウムリード20の溶接部の、溶接から24時間後の拡大模式図である。図2(c)に示すようにリード線100とアルミニウムリード20が溶融一体化した部分22だけに特徴的に錫のウィスカ104が多数発生している。しかし同じリード線100でも溶融一体化した部分22から離れたところには全くウィスカが見られない。
FIG. 2C is an enlarged schematic view of a welded portion between the
発明者の推定によれば、リード線100とアルミニウムリード20が溶融一体化した部分22だけにウィスカ104が発生する原因は次のとおりである。図3(a)の溶融一体化した部分22の断面図に示すように、リード線100とアルミニウムリード20が溶融一体化した部分22では、リード線100由来の鉄原子、銅原子と、アルミニウムリード20由来のアルミニウム原子が原子的尺度で溶け合っている。しかしリード線100の錫層103由来の錫原子はそれらと溶け合わないため、集まって径が数μm〜数十μmの錫粒子105となっている。溶融した部分が固化すると錫粒子105には強い圧縮応力が働くようになる。
According to the inventor's estimation, the reason why the
図3(b)の溶融一体化した部分22の断面図に示すように、この圧縮応力を緩和するため錫のひげ状単結晶ができて溶融一体化した部分22の表面から押し出されウィスカ104となる。溶融一体化した部分22から離れたリード線100表面の錫層103には圧縮応力がかからないのでウィスカが全く発生しない。
As shown in the cross-sectional view of the melt-integrated
次に図4はウィスカ対策を施した本発明の第一実施例のリード線10の模式図である。図4に示すように、本発明のリード線10は鋼素線11の表面に順次、銅層12を厚さ20μm、ニッケル層13を厚さ2μm、錫層14を厚さ12μm、めっき法で積層し、直径0.5mmのリード線10としている。このときニッケル層13の厚さは0.5μm〜5μmが適当である。その理由は、ニッケル層13の厚さが0.5μm未満であると錫原子がニッケル原子と金属間化合物をつくるときニッケル原子が不足するおそれがあり、ニッケル層13の厚さが5μmを越えるとリード線が硬くなりすぎて折れやすくなるためである。
Next, FIG. 4 is a schematic view of the
本発明のリード線10の一端を図5(a)に示すようにアルミニウムリード20の一端に突き合わせ、抵抗溶接したものを作り60日間常温放置しておいたが、ウィスカは全く見られなかった。図5(b)は本発明のリード線10とアルミニウムリード20の溶接部23の溶接直後の拡大模式図である。抵抗溶接の際、突き合わせた溶接部分は2000℃もの高温になるので、リード線10とアルミニウムリード20の先端が共に溶融一体化して固化している。溶接直後の外観はウィスカ対策を施していない従来のリード線100(図2(b))と同じであるが、本発明のリード線10では60日放置後も溶融一体化した部分24からもウィスカが発生することはなかった。すなわち60日放置後の外観も図5(b)のままである。これにより本発明のリード線10は長期間放置してもウィスカは発生しないと予測される。
One end of the
本発明のリード線10で溶融一体化した部分24からウィスカが発生しない理由を発明者は次のように推定している。図5(c)の溶融一体化した部分24の断面図に示すように、リード線10とアルミニウムリード20が溶融一体化した部分24では、リード線10由来の鉄原子、銅原子とアルミニウムリード20由来のアルミニウム原子が原子的尺度で溶け合っている。一方錫層14由来の錫原子はニッケル層13由来のニッケル原子と金属間化合物(Ni3Sn4と推定される)をつくり、鉄原子、銅原子、アルミニウム原子と原子的尺度で溶け合うことができる。このためウィスカ対策を施していない従来のリード線100とは異なり、錫原子が集まって錫粒子をつくることがない。錫粒子がウィスカの発生源であるため、錫粒子が形成されない本発明のリード線10ではウィスカの発生源がない。そのため長期間放置しても本発明のリード線10では溶融一体化した部分24からもウィスカが発生することがない。
The inventor presumes why the whisker does not occur from the
リード線はアルミニウム電解コンデンサの外部接続に必要であり、アルミニウムリードはアルミニウム電解コンデンサの芯材として必要であるから、アルミニウム電解コンデンサには必ず図5(b)のようにリード線10とアルミニウムリード20の溶融一体化した部分24がある。リード線10とアルミニウムリード20の溶融一体化した部分に図3(a)のように錫粒子105が形成されると、錫粒子105に圧縮応力が加わるため、錫のウィスカ104が発生する確率が非常に高くなる。したがってアルミニウム電解コンデンサにおいて錫のウィスカ104を防ぐためには、リード線とアルミニウムリードの溶融一体化した部分に錫粒子105が形成されていないことが必要である。ただし錫粒子105の粒径が1μm程度以下であれば、錫粒子105に加わる圧縮応力が小さいためウィスカ104は発生しにくい。また、たとえウィスカ104が発生しても錫粒子105に含まれる錫原子が少量であるため長い(数十μm以上)ウィスカ104は形成されない。それらからすると粒径1μm程度以下の錫粒子105は存在してもウィスカ104による実害はないと考えられる。
Since the lead wire is necessary for external connection of the aluminum electrolytic capacitor and the aluminum lead is necessary as a core material of the aluminum electrolytic capacitor, the
次に図6はウィスカ対策を施した本発明の第二実施例のリード線30の模式図である。図6に示すように、本発明の第二実施例のリード線30は鋼素線31の表面に順次、銅層32を厚さ20μm、ニッケル層33を厚さ2μm、錫層34を厚さ12μm、錫−5重量%ビスマス合金層35を厚さ2μm、めっき法で積層し、直径0.5mmのリード線30としている。このときニッケル層33の厚さは0.5μm〜5μm、錫−5重量%ビスマス合金層35の厚さは1μm〜3μmが適当である。
Next, FIG. 6 is a schematic view of the
本発明の第二実施例のリード線30における錫ウィスカ発生防止メカニズムは、第一実施例のリード線10の場合と同様である。第二実施例のリード線30のメリットは最外層が錫−5重量%ビスマス合金35であるため、最外層が純粋な錫層14の第一実施例のリード線10よりも融点が低く半田付け性が良いことである。このため第二実施例のリード線30を用いたアルミニウム電解コンデンサは、プリント基板に実装したとき、半田付けの歩留まり、信頼性がより高い。
The mechanism for preventing tin whisker generation in the
本発明のリード線とアルミニウムリードの溶接は従来の抵抗溶接法により実施でき、アルミニウム電解コンデンサ用リード端子が製造できる。 The lead wire and aluminum lead of the present invention can be welded by a conventional resistance welding method, and a lead terminal for an aluminum electrolytic capacitor can be manufactured.
また本発明のアルミニウム電解コンデンサ用リード端子を用いて、従来の製法により、アルミニウム電解コンデンサが製造できる。 Moreover, an aluminum electrolytic capacitor can be manufactured by the conventional manufacturing method using the lead terminal for aluminum electrolytic capacitors of this invention.
本発明のリード線は最も錫ウィスカの発生しやすいアルミニウムリードと溶接した部分でも、ウィスカの発生が防止できる。また希少金属を必要としないので安価であり資源不足の心配もない。本発明のアルミニウム電解コンデンサ用リード端子は、リード線とアルミニウムリードを溶接した部分も含め全ての箇所でウィスカの発生が防止されるのでアルミニウム電解コンデンサのリード端子として好適である。本発明のアルミニウム電解コンデンサはリード線のウィスカ発生がないのでプリント基板に実装したあとの電気ショート事故を予防できる。 The lead wire of the present invention can prevent the generation of whiskers even at the welded portion with the aluminum lead where tin whiskers are most likely to occur. Moreover, since no rare metal is required, it is inexpensive and there is no fear of resource shortage. The lead terminal for an aluminum electrolytic capacitor of the present invention is suitable as a lead terminal for an aluminum electrolytic capacitor because whisker generation is prevented at all locations including the portion where the lead wire and the aluminum lead are welded. Since the aluminum electrolytic capacitor of the present invention does not generate whiskers in the lead wires, it is possible to prevent an electrical short accident after being mounted on a printed circuit board.
10 リード線
11 鋼素線
12 銅層
13 ニッケル層
14 錫層
20 アルミニウムリード
21 溶接部
22 リード線とアルミニウムリードが溶融一体化した部分
23 溶接部
24 リード線とアルミニウムリードが溶融一体化した部分
30 リード線
31 鋼素線
32 銅層
33 ニッケル層
34 錫層
35 錫−5重量%ビスマス合金層
100 リード線
101 鋼素線
102 銅層
103 錫層
104 ウィスカ
105 錫粒子
DESCRIPTION OF
Claims (7)
The aluminum electrolytic capacitor according to claim 6, wherein a lead wire in which a tin alloy layer containing at least one of silver, bismuth, copper, indium, and zinc is further laminated on the outermost layer, and an aluminum lead are welded. An aluminum electrolytic capacitor having lead terminals for an aluminum electrolytic capacitor.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006242240A JP2008066493A (en) | 2006-09-07 | 2006-09-07 | Lead wire, lead terminal for aluminum electrolytic capacitors, and aluminum electrolytic capacitor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006242240A JP2008066493A (en) | 2006-09-07 | 2006-09-07 | Lead wire, lead terminal for aluminum electrolytic capacitors, and aluminum electrolytic capacitor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008066493A true JP2008066493A (en) | 2008-03-21 |
Family
ID=39288931
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006242240A Withdrawn JP2008066493A (en) | 2006-09-07 | 2006-09-07 | Lead wire, lead terminal for aluminum electrolytic capacitors, and aluminum electrolytic capacitor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008066493A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012134366A (en) * | 2010-12-22 | 2012-07-12 | Niyuucentral Kk | Manufacturing method of lead wire for capacitor, the lead wire for the capacitor, manufacturing method of capacitor, and the capacitor |
CN103093854A (en) * | 2011-10-28 | 2013-05-08 | 常州瑞通新型线材有限公司 | Novel copper-clad steel wire |
CN103093853A (en) * | 2011-10-28 | 2013-05-08 | 常州瑞通新型线材有限公司 | Copper-clad steel wire |
WO2023019850A1 (en) * | 2021-08-17 | 2023-02-23 | 深圳江浩电子有限公司 | Aluminum electrolytic capacitor and manufacturing method therefor |
-
2006
- 2006-09-07 JP JP2006242240A patent/JP2008066493A/en not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012134366A (en) * | 2010-12-22 | 2012-07-12 | Niyuucentral Kk | Manufacturing method of lead wire for capacitor, the lead wire for the capacitor, manufacturing method of capacitor, and the capacitor |
CN103093854A (en) * | 2011-10-28 | 2013-05-08 | 常州瑞通新型线材有限公司 | Novel copper-clad steel wire |
CN103093853A (en) * | 2011-10-28 | 2013-05-08 | 常州瑞通新型线材有限公司 | Copper-clad steel wire |
WO2023019850A1 (en) * | 2021-08-17 | 2023-02-23 | 深圳江浩电子有限公司 | Aluminum electrolytic capacitor and manufacturing method therefor |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4904953B2 (en) | WIRING CONDUCTOR, MANUFACTURING METHOD THEREOF, TERMINAL CONNECTION UNIT AND Pb FREE SOLDER ALLOY | |
JP5376553B2 (en) | Wiring conductor and terminal connection | |
JP5943066B2 (en) | Bonding method and manufacturing method of bonded structure | |
JP2008021501A (en) | Electrical part for wiring, manufacturing method thereof, and terminal connecting part | |
JP4911254B2 (en) | Wiring conductor and terminal connection | |
JP2001353590A (en) | Composition of solder and soldered article | |
EP3021357A1 (en) | Method of joining a semiconductor element to a joined member by reacting a tin-containing solder material with a copper layer on the joined member and corresponding semiconductor device | |
JP2007196289A (en) | Lead-free metallic material for electronic component | |
JP2017501879A (en) | Zinc-based lead-free solder composition | |
JP2008066493A (en) | Lead wire, lead terminal for aluminum electrolytic capacitors, and aluminum electrolytic capacitor | |
JP4895827B2 (en) | Plating member and manufacturing method thereof | |
JP2001205477A (en) | Soldering structure and feed-through ceramic capacitor | |
JP2009097053A (en) | Metal strip, connector, and mehod of manufacturing metal strip | |
JP2008150690A (en) | Metal strip, connector, and method of manufacturing metal strip | |
JP2006167790A (en) | Producing method for solder material | |
JP5042717B2 (en) | Capacitor lead wire manufacturing method | |
JP2019136776A (en) | Solder joint method | |
JP5019596B2 (en) | Printed wiring board and printed circuit board | |
WO2000075940A1 (en) | Electronic component, and electronic apparatus in which the electronic component is mounted and its manufacturing method | |
JP5724638B2 (en) | Pb-free solder, solder-coated conductor, and electrical parts using the same | |
JP2007329224A (en) | Coil component | |
JP5719946B2 (en) | Metal strip, connector, and method of manufacturing metal strip | |
JP2008218317A (en) | Wiring conductor, manufacturing method therefor | |
JP2005193294A (en) | Lead-free solder | |
JP2004260147A (en) | Soldering method and method for manufacturing component-packaged substrate |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20091110 |