JP2008061317A - 充電装置 - Google Patents

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Hiroyuki Ideno
広之 出野
Tatsuji Tanabe
辰治 田辺
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Abstract

【課題】 逆流防止回路を有する小型の充電装置を提供する。
【解決手段】 第1電源E1と第2電源E2との間に接続され、第1電源E1から第2電源E2に向かう充電電流Ifを設定する充電電流設定手段11と、充電電流設定手段11の出力端11aと第2電源E2との間に接続され、第2電源E2から第1電源E1側へ向かう逆方向の電流Irを阻止する逆流防止ダイオードと、第1電源E1の電位が第2電源E2の電位より高い場合に導通するスイッチング素子との並列回路を有する電流制限手段12とを具備する。スイッチング素子と逆流防止ダイオードを、第4MOSトランジスタM4と基板b4・ドレインd4間の寄生ダイオードDp4で実現する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、充電装置に係り、特に逆流防止回路を有する充電装置に関する。
リチウム(Li)イオン電池のような2次電池の充電電流出力用の絶縁ゲート電界効果トランジスタ(以後、MOSトランジスタという)を有する充電装置では、十分な電位を有する充電電源が接続されていない場合に、MOSトランジスタの寄生ダイオードが導通して2次電池から充電電源側に向かう逆方向電流が流れる問題がある。
この逆方向電流を防止するためには、逆流防止ダイオードを挿入するのが簡易であるが、充電時に逆流防止ダイオードによる電力損失が生じる問題がある。
これに対して、充電電流出力用のMOSトランジスタの基板電位を制御して、寄生ダイオードが導通することを防止した定電流充電回路が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
特許文献1に開示された定電流充電回路は、ゲートおよびソースを共通接続されてカレントミラー回路を構成する第1および第2MOSトランジスタと、第2MOSトランジスタのソース電位とドレイン電位を比較する電圧比較回路と、電圧比較回路の出力に基づいて第2MOSトランジスタのドレイン(ソース)−基板間の寄生ダイオードが導通しない極性に第1および第2MOSトランジスタの基板電位を切り替える基板電位設定回路とを具備している。
これにより、第1および第2MOSトランジスタの基板電位は常に最低電位に保たれるので、寄生ダイオードは常に逆方向にバイアスされ、充電電源が充電回路に接続されていないときに、第2MOSトランジスタの寄生ダイオードを介して2次電池から電流が逆方向に流れるのを防止している。
然しながら、特許文献1に開示された定電流充電回路は、基板電位を切り替えるために回路が複雑となり、1チップに集積する場合、チップサイズが大きくなるという問題がある。また、回路の誤動作などにより、信頼性が低下する恐れがある。
特開平5−236669号公報
本発明は、逆流防止回路を有する小型の充電装置を提供することを目的とする。
本発明の一態様の充電装置は、第1電源と第2電源との間に接続され、前記第1電源から前記第2電源に向かう充電電流を設定する充電電流設定手段と、前記充電電流設定手段の出力端と前記第2電源との間に接続され、前記第2電源から前記第1電源側へ向かう逆方向の電流を阻止する逆流防止ダイオードと、前記第1電源の電位が前記第2電源の電位より高い場合に導通するスイッチング素子との並列回路を有する電流制限手段と、を具備することを特徴としている。
本発明によれば、逆流防止回路を有する小型の充電装置が得られる。
以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明する。
図1は本発明の実施例1に係る充電装置を示す回路図である。
図1に示すように、本実施例の充電装置10は、第1電源E1と第2電源E2との間に接続され、第1電源E1から第2電源E2に向かう充電電流を設定する充電電流設定手段11と、充電電流設定手段11の出力端11aと前記第2電源E2との間に接続され、第2電源E2から第1電源E1へ向かう逆方向の電流を阻止する逆流防止ダイオードと、第1電源E1の電位が第2電源E2より高い場合に導通するスイッチング素子との並列回路を有する電流制限手段12とを具備している。
充電電流設定手段11は、第1電源E1にソースs1、s2(第1電極)が共通接続され、ゲートg1、g2(制御電極)が共通接続されたp型の第1および第2MOSトランジスタM1、M2を有するカレントミラー回路13と、ゲートg3(制御電極)にカレントミラー回路13の制御電流(第1電流)をオンまたはオフするための第1制御信号V1が入力されるp型の第3MOSトランジスタM3を介して、第1MOSトランジスタM1のドレインd1(第2電極)に接続された定電流源14とを具備している。
第3MOSトランジスタM3は、ドレインd3(第2電極)が第1MOSトランジスタM1のドレインd1に接続され、ソースs3(第1電極)が定電流源14に接続されている。
電流制限手段12のスイッチング素子は、ドレインd4(第2電極)が第2MOSトランジスタM2のドレインd2(第2電極)に接続され、ソースs4(第1電極)が第2電源E2に接続され、ゲートg4(制御電極)にカレントミラー回路13のミラー電流(第2電流)をオンまたはオフするための第2制御信号V2が入力されるp型の第4MOSトランジスタM4である。
本明細書では、p型MOSトランジスタにおいては、ソースを第1電極、ドレインを第2電極、ゲートを制御電極としている。
また、n型MOSトランジスタにおいては、ドレインを第1電極、ソースを第2電極、ゲートを制御電極とする。
電流制限手段12の逆流防止ダイオードは、基板b4がソースs4に接続された第4MOSトランジスタM4の基板b4とドレインd4との間の寄生ダイオードDp4である。
更に、第4MOSトランジスタM4のソースs4とゲートg4との間に、抵抗R1が接続されている。
また、第1乃至第3MOSトランジスタの基板b1、b2、b3も、それぞれソースs1、s2、s3に接続されている。
第1電源E1は、例えばACアダプタまたはパーソナルコンピュータ(パソコン)のUSB(Universal Serial Bus)端子等から供給される5Vの直流電源であり、第2電源E2は、例えば電圧が3.3〜4.2V程度の2次電池である。
第1電源E1の電位が第2電源E2の電位より高いので、充電装置10を介して、第1電源E1から第2電源E2に向かう充電電流が流れ、第2電源E2が充電される。
充電電流設定手段11は、第1電源E1から第2電源E2に向かう充電電流を設定するもので、定電流源14で発生させた電流Ioをカレントミラー回路13の制御電流として第1MOSトランジスタM1に流し、制御電流のミラー比倍、例えば30倍のミラー電流を第2MOSトランジスタM2に流すことにより、充電電流Ifを第2電源E2に供給する。
第3MOSトランジスタM3は、制御信号入力端子15を介して入力される第1制御信号V1が“L”のときにオン、“H”のときにオフになるスイッチで、第1MOSトランジスタM1に流れる電流Ioをオンまたはオフして、第2電源E2の充電を開始または停止させる。
第4MOSトランジスタM4は、第2電源E2の充電時にオンになるように、制御信号入力端子16を介して第2制御信号V2、例えば第1制御信号V1に等しい信号が入力される。
第2電源E2の充電停止時、即ち第1および第2制御信号V1、V2がともに“H”で、第3および第4MOSトランジスタM3、M4がともにオフ状態の時に、第1電源E1の電位が第2電源E2の電位より低くなる場合がある。
例えば、ACアダプタの電源ケーブルがACコンセントから抜かれた場合、またはUSB端子からUSBケーブルが抜かれた場合などである。
第1電源E1の電位が第2電源E2の電位より低くなると、第2MOSトランジスタM2の寄生ダイオードDp2を介して第2電源E2から第1電源E1側に向かう逆方向の電流が流れるパスが生じる。
しかし、第4MOSトランジスタM4の寄生ダイオードDp4が逆流防止ダイオードとして機能するので、第2電源E2から第1電源E1側に向かう逆方向の電流Irを阻止することが可能である。
抵抗R1は、制御信号入力端子16がオープンになった場合に、第4MOSトランジスタM4が不安定状態になるのを避けるためのプルアップ抵抗である。
即ち、制御信号入力端子16がオープンになると、第4MOSトランジタスM4のゲートg4に第2電源E2の電位が与えられるので、ゲートg4は“H”になり、第4MOSトランジタスM4を確実にオフすることができる。
実用的には、負入力端が第1電源E1に接続され、正入力端が第2電源E2に接続された電圧比較器17の出力を第2制御信号V2とすることができる。
電圧比較器17は、第1電源E1の電位が第2電源E2の電位より高い場合に、“L”を出力し、第4MOSトランジスタM4をオンする。
一方、第1電源E1の電位が第2電源E2の電位より低い場合に、“H”を出力し、第4MOSトランジスタM4をオフする。
図2は、充電電流設定手段11の定電流源14を示す回路図である。
図2に示すように、定電流源14は、n型MOSトランジスタM21〜M23と、p型MOSトランジスタM24〜M26と、抵抗R2とを有する基準電流発生回路20と、n型MOSトランジスタM30〜M34を有する多連出力型のカレントミラー回路21と、MOSトランジスタM30〜M34にそれぞれ直列に接続されたn型MOSトランジスタM40〜M44を有する電流比選択回路22とを具備している。
基準電流発生回路20は、下記式で定まる基準電流Irefをカレントミラー回路21のMOSトランジスタM30に制御電流として供給する。
Iref=Vds(M22)/R2={Vgs(M21)−Vgs(M22)}/R2
ここで、VdsはMOSトランジスタのドレイン・ソース間の電圧、Vgsはゲート・ソース間の電圧である。
多連出力型のカレントミラー回路21は、MOSトランジスタ30、31により第1カレントミラー回路が構成され、MOSトランジスタ30、32により第2カレントミラー回路が構成され、MOSトランジスタ30、33により第3カレントミラー回路が構成され、MOSトランジスタ30、34により第4カレントミラー回路が構成されている。
第1乃至第4カレントミラー回路は、それぞれミラー比が、例えば、2、4、8、16に設定されている。
MOSトランジスタM31、M32、M33、M34には、それぞれ基準電流Irefのミラー比倍のミラー電流が流れる。
電流比選択回路22は、制御信号C0によりMOSトランジスタM40のオン、オフを行い、カレントミラー回路21の全体の電流Ioをオンまたはオフする。
電流比選択回路22は、制御信号C1〜C4により、第1乃至第4カレントミラー回路のそれぞれのミラー電流をオンまたはオフし、第1乃至第4カレントミラー回路のそれぞれのミラー電流が合算されたカレントミラー回路21の全体の電流Ioを各種の値に設定する。
これにより、カレントミラー回路13の第1MOSトランジスタM1に、制御電流として基準電流Irefの2倍から30倍までの電流Ioを流すことができる。
図3は充電装置10が同一チップ上にモノリシックに集積された半導体集積装置を示す図、図4は半導体集積装置の電流制限手段12を示す断面図である。
図3に示すように、本実施例の半導体集積装置30は、第1電源E1と第2電源E2との間に接続され、第1電源E1から第2電源E2に向かう充電電流を設定する充電電流設定手段11と、充電電流設定手段11の出力端と第2電源E2との間に接続され、第2電源E2から第1電源E1へ向かう逆方向の電流を阻止する逆流防止ダイオードと、第1電源E1の電位が第2電源E2の電位より高い場合に導通するスイッチング素子との並列回路を有する電流制限手段12とが同一チップ31上にモノリシックに集積して形成されている。
更に、半導体集積装置30は、負入力端が第1電源E1に接続され、正入力端が第2電源E2に接続され、出力端が制御信号入力端16に接続された電圧比較器17が同一チップ31上にモノリシックに集積して形成されている。
また、半導体チップ31上には、第1および第2電源E1、E2に接続し、充電開始または停止を指示する第1制御信号V1を入力するために必要なボンディングパッド32a〜32dが形成されている。
図4に示すように、電流制限手段12の第4MOSトランジスタM4は、例えばp型シリコン基板41に形成されたn型ウェル領域42内にp型シリコン基板41と絶縁分離して形成されている。
このn型ウェル領域42内に、ソースs4、ドレインd4およびゲートg4がそれぞれ所定の領域に設けられ、第4MOSトランジスタM4を形成している。
n型ウェル領域42の電位を固定するために、基板b4がソースs4に接続されており、ドレインd4をアノードとし、基板b4をカソードとするドレイン・ソース間の寄生ダイオードDp4が形成されている。
そして、ソースs4は第2電源E2に接続され、ゲートg4は制御信号入力端子16に接続され、ドレインd4は第2MOSトランジスタM2のドレインd2に接続され、ゲートg4とソースs4との間に抵抗R1が接続されている。
以上説明したように、本実施例の充電装置10は、第2電源E2から第1電源E1側へ向かう逆方向の電流を阻止する逆流防止ダイオードと、第1電源E1の電位が第2電源E2の電位より高い場合に導通するスイッチング素子との並列回路を有する電流制限手段12として、第4MOSトランジスタM4を具備している。
その結果、第1電源E1の電位が第2電源E2の電位より低い場合に、寄生ダイオードDp4により第2電源E2から第1電源E1側へ向かう逆方向の電流を阻止することができる。
また、個別の逆流防止ダイオードが不要であり、逆流防止ダイオードの設置スペースとムダな消費電力を削減することができる。従って、逆流防止回路を有する小型の充電装置が得られる。
ここでは、第1乃至第4MOSトランジスタの基板b1〜b4が、それぞれソースs1〜s4に接続されている場合について説明したが、少なくとも第4MOSトランジスタの基板b4がソースs4に接続されていればよい。
第3MOSトランジスタM3のドレインd3が第1MOSトランジスタのドレインd1に接続され、ソースs3が定電流源14に接続されている場合ついて説明したが、接続を反転し、ソースs3がドレインd1に接続され、ドレインd3が定電流源14に接続されていても構わない。前者であれば、第4MOSトランジスタM4とレイアウトパターンを揃えられる利点が得られる。
第1および第2制御信号V1、V2が“H“のときに、第3および第4MOSトランジスタがオフされる場合について説明したが、例えばゲートg3、g4にそれぞれn型MOSトランジスタによるインバータを接続して、反対の極性の第1および第2制御信号V1、V2を用いることもできる。
第1電源E1側に充電電流設定手段11を接続し、第2電源E2側に電流制限手段12を接続した場合について説明したが、接続を反転し、充電電流設定手段11を第2電源E2側に接続し、電流制限手段12を第1電源E1側に接続することもできる。
電流制限手段12が、第4MOSトランジスタM4とその寄生ダイオードである場合について説明したが、例えばシリコンpn接合ダイオードと機械的なマイクロスイッチ、例えばシリコン基板を加工して形成したバネを接点として、静電引力により接点を駆動するMEMS(Micro Electro-Mechanical Systems)スイッチとの並列回路とすることも可能である。
MEMSスイッチは、バネに電圧をかけると静電引力が発生してバネが電極に引寄せられ、接点が信号線に接触するため電流が流れる(オンの状態)。
反対にバネにかけた電圧を切れば静電引力はなくなりバネの力でもとに戻るため、接点が離れ電流が流れなくなる(オフの状態)。
図5は本発明の実施例2に係る充電装置を示す回路図である。本実施例において、上記実施例1と同一の構成部分には同一符号を付してその部分の説明は省略し、異なる部分について説明する。
本実施例が実施例1と異なる点は、p型の第1乃至第4MOSトランジスタをn型のMOSトランジスタに置き換えたことにある。
即ち、図5に示すように、本実施例の充電装置50は、p型の第1乃至第4MOSトランジスタM1〜M4を、それぞれn型の第5乃至第8MOSトランジスタM5〜M8に置き換えている。
充電装置50は、第1電源E1と第2電源E2との間に接続され、第1電源E1から第2電源E2に向かう充電電流を設定する充電電流設定手段51と、充電電流設定手段51の出力端11aと前記第2電源E2との間に接続され、第2電源E2から第1電源E1側へ向かう逆方向の電流を阻止する逆流防止ダイオードと、第1電源E1の電位が第2電源E2の電位より高い場合に導通するスイッチング素子との並列回路を有する電流制限手段52とを具備している。
充電電流設定手段51は、第1電源E1にドレインd5、d6(第1電極)が共通接続され、ゲートg5、g6(制御電極)が共通接続されたn型の第5および第6MOSトランジスタM5、M6を有するカレントミラー回路53と、ゲートg7(制御電極)にカレントミラー回路53の制御電流をオンまたはオフするための第1制御信号V1が入力されるn型の第7MOSトランジスタM7を介して、第5MOSトランジスタM5のソースs7(第2電極)に接続された定電流源14とを具備している。
第7MOSトランジスタM7は、ソースs7(第2電極)が第5MOSトランジスタM5のソースs5に接続され、ドレインd7(第1電極)が定電流源14に接続されている。
電流制限手段52のスイッチング素子は、ソースs8(第2電極)が第6MOSトランジスタM6のソースs6(第2電極)に接続され、ドレインd8(第1電極)が第2電源E2に接続され、ゲートg8(制御電極)にカレントミラー回路53のミラー電流をオンまたはオフするための第2制御信号V2が入力されるn型の第8MOSトランジスタM8である。
電流制限手段52の逆流防止ダイオードは、基板b8がソースs8に接続された第8MOSトランジスタM8の基板b8とドレインd8との間の寄生ダイオードDp8である。また、第5乃至第7MOSトランジスタの基板b5、b6、b7も、それぞれソースs5、s6、s7に接続されている。
第5および第6MOSトランジスタM5、M6は、ゲートg5、g6が第1電源E1に直接接続されているので、ESD(Electro Static Discharge)耐量を考慮して選択されていることが望ましい。
第7および第8MOSトランジスタM7、M8は、ドレインd7、d8がソースs7、s8より低電位側に接続されているので、オンするには第1および第2制御信号V1、V2として、第1電源E1の電位と等しいまたは高い電位の信号を供給すればよい。
第8トランジスタM8のソースs8とゲートg8との間に、抵抗R1は不要である。これは、第2制御信号V2が“H”になったときに、第6MOSトランジスタM6の寄生ダイオードDp6を介して、第1電源E1側への電流パスが形成されるのを防止するためである。
以上説明したように、本実施例の充電装置50は、n型MOSトランジスタM5〜M8で構成されているので、n−MOS集積回路に組み込むのに適している。
図6乃至図8は本発明の実施例3に係る充電装置を示す回路図である。本実施例において、上記実施例1と同一の構成部分には同一符号を付してその部分の説明は省略し、異なる部分について説明する。
本実施例が実施例1と異なる点は、p型の第1乃至第4MOSトランジスタの一部をn型のMOSトランジスタに置き換えたことにある。
即ち、図6に示すように、本実施例の充電装置60は、p型の第3および第4MOSトランジスタM3、M4を、n型の第7および第8MOSトランジスタM7、M8に置き換えている。
具体的には、充電装置60は、n型の第7MOSトランジスタM7を有する充電電流設定手段61と、n型の第8MOSトランジスタM8を有する電流制限手段52とを具備している。
図7に示すように、本実施例の別の充電装置70は、p型の第1および第2MOSトランジスタM1、M2を、n型の第5および第6MOSトランジスタM5、M6に置き換えている。
具体的には、充電装置70は、n型の第5および第6MOSトランジスタM5、M6を有するカレントミラー回路53を備えた充電電流設定手段71と、電流制限手段12とを具備している。
図8に示すように、本実施例の別の充電装置80は、p型の第3MOSトランジスタM3を、n型の第7MOSトランジスタM7に置き換えている。
具体的には、充電装置80は、n型の第7MOSトランジスタM7を有する充電電流設定手段81と、電流制限手段12とを具備している。
以上説明したように、本実施例は、p型の第1乃至第4MOSトランジスタM1〜M4の一部をn型のMOSトランジスタに置き換えたので、p−MOS、n−MOS混載集積回路に組み込むのに適している。
図9は本発明の実施例4に係る充電装置を示す回路図である。本実施例において、上記実施例1と同一の構成部分には同一符号を付してその部分の説明は省略し、異なる部分について説明する。
本実施例が実施例1と異なる点は、第2電源E2の充電モードを定電流モードから定電圧モードにしたことにある。
即ち、図9に示すように、本実施例の充電装置90は、一端がカレントミラー回路13の第1MOSトランジスタM1のドレインd1にスイッチS1を介して接続され、他端が設置された第3電源E3を有する充電電圧設定手段91を具備している。
スイッチS1は、第2電源E2の充電を開始または停止させるためのスイッチである。第3電源E3は、例えば第1電源E1の電位を抵抗分圧回路により分圧することにより得られ、第3電源E3の電位は、例えば4.2Vと第2電源E2の電位と等しく設定されている。
カレントミラー回路13の第1MOSトランジスタM1には、第1電源E1の電位と第3電源E3の電位との差に応じた制御電流が流れ、第2MOSトランジスタM2には制御電流のミラー比倍のミラー電流が流れる。
これにより、第2電源E2が満充電近くになると定電圧で充電されるようになり、第2電源E2を定格電圧一杯まで充電することが可能である。
以上説明したように、本実施例は、定電圧モードで第2電源E2を充電するようにしたので、定電流源14が不要であり、半導体チップのサイズを小さくできる利点がある。
本発明の実施例1に係る充電装置を示す回路図。 本発明の実施例1に係る充電装置の定電流源を示す回路図。 本発明の実施例1に係る充電装置が同一チップ上に集積して形成された半導体集積装置を示す図。 本発明の実施例1係る半導体集積装置の電流制限手段の構成を示す断面図。 本発明の実施例2に係る充電装置を示す回路図。 本発明の実施例3に係る充電装置を示す回路図。 本発明の実施例3に係る別の充電装置を示す回路図。 本発明の実施例3に係る別の充電装置を示す回路図。 本発明の実施例4に係る充電装置を示す回路図。
符号の説明
10、50、60、70、80、90 充電装置
11、51、61、71、81 充電電流設定手段
12、52 電流制限手段
13、21、53 カレントミラー回路
14 定電流回路
15、16 制御信号入力端子
17 電圧比較器
20 基準電流発生回路
22 電流比選択回路
30 半導体集積装置
31 半導体チップ
32a〜32d ボンディングパッド
40 p型シリコン基板
41 n型ウェル領域
91 充電電圧設定手段
E1 第1電源
E2 第2電源
E3 第3電源
Dp1〜Dp8 寄生ダイオード
M1 p型第1MOSトランジスタ
M2 p型第2MOSトランジスタ
M3 p型第3MOSトランジスタ
M4 p型第4MOSトランジスタ
M5 n型第5MOSトランジスタ
M6 n型第6MOSトランジスタ
M7 n型第7MOSトランジスタ
M8 n型第7MOSトランジスタ
R1、R2 抵抗
S1 スイッチ

Claims (5)

  1. 第1電源と第2電源との間に接続され、前記第1電源から前記第2電源に向かう充電電流を設定する充電電流設定手段と、
    前記充電電流設定手段の出力端と前記第2電源との間に接続され、前記第2電源から前記第1電源側へ向かう逆方向の電流を阻止する逆流防止ダイオードと、前記第1電源の電位が前記第2電源の電位より高い場合に導通するスイッチング素子との並列回路を有する電流制限手段と、
    を具備することを特徴とする充電装置。
  2. 前記充電電流設定手段が、
    前記第1電源に第1電極が共通接続され、制御電極が共通接続された同一導電型の第1および第2絶縁ゲート電界効果トランジスタを有するカレントミラー回路と、
    制御電極に前記カレントミラー回路の第1電流をオンまたはオフするための第1制御信号が入力される第3絶縁ゲート電界効果トランジスタを介して、前記第1絶縁ゲート電界効果トランジスタの第2電極に接続された定電流源と、
    を具備することを特徴とする請求項1に記載の充電装置。
  3. 前記スイッチング素子が、第2電極が前記充電電流設定手段の出力端に接続され、第1電極が前記第2電源に接続され、制御電極に前記カレントミラー回路の第2電流をオンまたはオフするための第2制御信号が入力される第4絶縁ゲート電界効果トランジスタであり、
    前記逆流防止ダイオードが、前記第4絶縁ゲート電界効果トランジスタの前記第1電極と基板との間の寄生ダイオードであることを特徴とする請求項1に記載の充電装置。
  4. 前記第4絶縁ゲート電界効果トランジスタの導電型がp型であり、前記第2電極と前記制御電極との間に、抵抗が接続されていることを特徴とする請求項3に記載の充電装置。
  5. 前記第3絶縁ゲート電界効果トランジスタは、第2電極が前記第1絶縁ゲート電界効果トランジスタの前記第2電極に接続され、第1電極が前記定電流源に接続されていることを特徴とする請求項2に記載の充電装置。
JP2006232795A 2006-08-29 2006-08-29 充電装置 Withdrawn JP2008061317A (ja)

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JP2014016711A (ja) * 2012-07-06 2014-01-30 Asahi Kasei Electronics Co Ltd レギュレータ
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