JP2008060377A - 半導体洗浄用洗浄剤 - Google Patents
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Abstract
【課題】金属配線をエッチングしない半導体洗浄用洗浄剤を提供することを目的とする。
【解決手段】テトラアルキルアンモニウムヒドロキシド(A1)、(ヒドロキシアルキル)トリアルキルアンモニウムヒドロキシド(A2)、ビス(ヒドロキシアルキル)ジアルキルアンモニウムヒドロキシド(A3)及びトリス(ヒドロキシアルキル)アルキルアンモニウムヒドロキシド(A4)からなる群より選ばれる少なくとも1種の第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)を含有してなり、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)の重量に基づいて、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)の含有量が0.1〜9重量%、脂肪族アミン(B)の含有量が0.01〜0.15重量%、水(W)の含有量が90.9〜99.8重量%であり、25℃でのpHが12.0〜14.0である半導体洗浄用洗浄剤を用いる。
【選択図】なし
【解決手段】テトラアルキルアンモニウムヒドロキシド(A1)、(ヒドロキシアルキル)トリアルキルアンモニウムヒドロキシド(A2)、ビス(ヒドロキシアルキル)ジアルキルアンモニウムヒドロキシド(A3)及びトリス(ヒドロキシアルキル)アルキルアンモニウムヒドロキシド(A4)からなる群より選ばれる少なくとも1種の第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)を含有してなり、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)の重量に基づいて、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)の含有量が0.1〜9重量%、脂肪族アミン(B)の含有量が0.01〜0.15重量%、水(W)の含有量が90.9〜99.8重量%であり、25℃でのpHが12.0〜14.0である半導体洗浄用洗浄剤を用いる。
【選択図】なし
Description
本発明は、半導体洗浄用洗浄剤に関する。さらに詳しくはCMP(化学的機械的研磨)工程後に、超小型電子回路基板を清浄化するための洗浄剤として好適な半導体洗浄用洗浄剤に関する。
CMP(化学的機械的研磨)工程後に、超小型電子回路基板を清浄化するための半導体洗浄用洗浄剤として、水酸化テトラアルキルアンモニウム0.05〜12.4重量%、極性有機アミン0.2〜27.8重量%及び有効量の腐食防止剤を含有し、残りの部分が水である清浄化液が知られている(特許文献1)。
特表2003−536258号公報
しかし、従来の半導体洗浄用洗浄剤は、金属配線材料(銅及びタングステン等)をエッチング(溶解)するという問題がある。金属配線がエッチングすると、半導体の配線抵抗が増大するという問題がある。
本発明は、金属配線材料をエッチングしない(エッチング抑制効果が優れる)半導体洗浄用洗浄剤を提供することを目的とする。
本発明は、金属配線材料をエッチングしない(エッチング抑制効果が優れる)半導体洗浄用洗浄剤を提供することを目的とする。
本発明の半導体洗浄用洗浄剤の特徴は、テトラアルキルアンモニウムヒドロキシド(A1)、(ヒドロキシアルキル)トリアルキルアンモニウムヒドロキシド(A2)、ビス(ヒドロキシアルキル)ジアルキルアンモニウムヒドロキシド(A3)及びトリス(ヒドロキシアルキル)アルキルアンモニウムヒドロキシド(A4)からなる群より選ばれる少なくとも1種の第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、炭素数2〜6の脂肪族アミン(B)及び水(W)を含有してなり、
第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)の重量に基づいて、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)の含有量が0.1〜9重量%、脂肪族アミン(B)の含有量が0.01〜0.15重量%、水(W)の含有量が90.9〜99.8重量%であり、
25℃でのpHが12.0〜14.0である点を要旨とする。
第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)の重量に基づいて、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)の含有量が0.1〜9重量%、脂肪族アミン(B)の含有量が0.01〜0.15重量%、水(W)の含有量が90.9〜99.8重量%であり、
25℃でのpHが12.0〜14.0である点を要旨とする。
本発明の半導体洗浄用洗浄剤は、金属配線材料をエッチングしない。すなわち、エッチング抑制効果に優れている。したがって、本発明の半導体洗浄用洗浄剤を用いて半導体を製造すると、金属配線がエッチングしないため、半導体の配線抵抗が増大しない。
<第4級アンモニウムヒドロキシド(A)>
テトラアルキルアンモニウムヒドロキシド(A1)、(ヒドロキシアルキル)トリアルキルアンモニウムヒドロキシド(A2)、ビス(ヒドロキシアルキル)ジアルキルアンモニウムヒドロキシド(A3)及びトリス(ヒドロキシアルキル)アルキルアンモニウムヒドロキシド(A4)において、アルキル基又はヒドロキシアルキル基1個あたりの炭素数は、半導体基板又は半導体素子に対する洗浄性(研磨粒子等の除去性)等の観点から、1〜4が好ましく、さらに好ましくは1〜3、特に好ましくは1〜2である。
テトラアルキルアンモニウムヒドロキシド(A1)、(ヒドロキシアルキル)トリアルキルアンモニウムヒドロキシド(A2)、ビス(ヒドロキシアルキル)ジアルキルアンモニウムヒドロキシド(A3)及びトリス(ヒドロキシアルキル)アルキルアンモニウムヒドロキシド(A4)において、アルキル基又はヒドロキシアルキル基1個あたりの炭素数は、半導体基板又は半導体素子に対する洗浄性(研磨粒子等の除去性)等の観点から、1〜4が好ましく、さらに好ましくは1〜3、特に好ましくは1〜2である。
テトラアルキルアンモニウムヒドロキシド(A1)としては、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH)、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、テトラプロピルアンモニウムヒドロキシド、テトラブチルアンモニウムヒドロキシド、モノメチルトリエチルアンモニウムヒドロキシド、ジメチルジエチルアンモニウムヒドロキシド、トリメチルモノエチルアンモニウムヒドロキシド、モノメチルトリプロピルアンモニウムヒドロキシド、ジメチルジプロピルアンモニウムヒドロキシド、トリメチルモノプロピルアンモニウムヒドロキシド、モノメチルトリブチルアンモニウムヒドロキシド、ジメチルジブチルアンモニウムヒドロキシド、トリメチルモノブチルアンモニウムヒドロキシド、モノエチルトリプロピルアンモニウムヒドロキシド、ジエチルジプロピルアンモニウムヒドロキシド、トリエチルモノプロピルアンモニウムヒドロキシド、モノエチルトリブチルアンモニウムヒドロキシド、ジエチルジブチルアンモニウムヒドロキシド、トリエチルモノブチルアンモニウムヒドロキシド、モノプロピルトリブチルアンモニウムヒドロキシド、ジプロピルジブチルアンモニウムヒドロキシド及びトリプロピルモノブチルアンモニウムヒドロキシド等が含まれる。
(ヒドロキシアルキル)トリアルキルアンモニウムヒドロキシド(A2)としては、コリン{(2−ヒドロキシエチル)トリメチルアンモニウムヒドロキシド}、(2−ヒドロキシエチル)トリエチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシエチル)ジメチルエチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシエチル)メチルジエチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシエチル)トリプロピルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシエチル)トリブチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシプロピル)トリメチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシプロピル)トリエチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシプロピル)メチルジエチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシプロピル)ジメチルエチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシプロピル)トリプロピルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシプロピル)トリブチルアンモニウムヒドロキシド、(4−ヒドロキシブチル)トリメチルアンモニウムヒドロキシド、(4−ヒドロキシブチル)トリエチルアンモニウムヒドロキシド、(4−ヒドロキシブチル)ジメチルエチルアンモニウムヒドロキシド、(4−ヒドロキシブチル)メチルジエチルアンモニウムヒドロキシド、(4−ヒドロキシブチル)トリプロピルアンモニウムヒドロキシド、(4−ヒドロキシブチル)トリブチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシブチル)トリメチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシブチルトリエチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシブチル)ジメチルエチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシブチル)メチルジエチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシブチル)トリプロピルアンモニウムヒドロキシド及び(2−ヒドロキシブチル)トリブチルアンモニウムヒドロキシド等が含まれる。
ビス(ヒドロキシアルキル)ジアルキルアンモニウムヒドロキシド(A3)としては、ビス(2−ヒドロキシエチル)ジメチルアンモニウムヒドロキシド、ビス(2−ヒドロキシエチル)ジエチルアンモニウムヒドロキシド、ビス(2−ヒドロキシエチル)メチルエチルアンモニウムヒドロキシド、ビス(2−ヒドロキシプロピル)ジメチルアンモニウムヒドロキシド、ビス(2−ヒドロキシプロピル)ジエチルアンモニウムヒドロキシド、ビス(2−ヒドロキシプロピル)メチルエチルアンモニウムヒドロキシド、ビス(4−ヒドロキシブチル)ジメチルアンモニウムヒドロキシド、ビス(4−ヒドロキシブチル)ジエチルアンモニウムヒドロキシド、ビス(4−ヒドロキシブチル)メチルエチルアンモニウムヒドロキシド、ビス(2−ヒドロキシブチル)ジメチルアンモニウムヒドロキシド、ビス(2−ヒドロキシブチル)ジエチルアンモニウムヒドロキシド及びビス(2−ヒドロキシブチル)メチルエチルアンモニウムヒドロキシド等が含まれる。
トリス(ヒドロキシアルキル)アルキルアンモニウムヒドロキシド(A4)としては、トリス(2−ヒドロキシエチル)メチルアンモニウムヒドロキシド、トリス(2−ヒドロキシエチル)エチルアンモニウムヒドロキシド、トリス(2−ヒドロキシエチル)プロピルアンモニウムヒドロキシド、トリス(2−ヒドロキシエチル)ブチルアンモニウムヒドロキシド、トリス(2−ヒドロキプロピル)メチルアンモニウムヒドロキシド、トリス(2−ヒドロキプロピル)エチルアンモニウムヒドロキシド、トリス(2−ヒドロキプロピル)プロピルアンモニウムヒドロキシド、トリス(2−ヒドロキプロピル)ブチルアンモニウムヒドロキシド、トリス(4−ヒドロキブチル)メチルアンモニウムヒドロキシド、トリス(4−ヒドロキブチル)エチルアンモニウムヒドロキシド、トリス(4−ヒドロキブチル)プロピルアンモニウムヒドロキシド、トリス(4−ヒドロキブチル)ブチルアンモニウムヒドロキシド、トリス(2−ヒドロキブチル)メチルアンモニウムヒドロキシド、トリス(2−ヒドロキブチル)エチルアンモニウムヒドロキシド、トリス(2−ヒドロキブチル)プロピルアンモニウムヒドロキシド及びトリス(2−ヒドロキブチル)ブチルアンモニウムヒドロキシド等が含まれる。
これらのうち、洗浄性及びエッチング抑制効果等の観点から、テトラアルキルアンモニウムヒドロキシド(A1)及び(ヒドロキシアルキル)トリアルキルアンモニウムヒドロキシド(A2)が好ましく、さらに好ましくは(ヒドロキシアルキル)トリアルキルアンモニウムヒドロキシド(A2)、特に好ましくはコリンである。
第4級アンモニウムヒドロキシド(A)の含有量(重量%)は、洗浄性、エッチング抑制効果及び製造コスト等の観点から、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)の重量に基づいて、0.1〜9が好ましく、さらに好ましくは0.3〜2.9、特に好ましくは0.5〜2である。
炭素数2〜6の脂肪族アミン(B)としては、炭素数2〜6のアルキレンジアミン(B1)、炭素数4〜6のポリアルキレンポリアミン(B2)及び炭素数2〜6のアルカノールアミン(B3)等が含まれる。
アルキレンジアミン(B1)としては、特開2003−234315号公報等に記載のアルキレンジアミン等が含まれる。
ポリアルキレンポリアミン(B2)としては、特開2003−234315号公報等に記載のポリアルキレンポリアミンが含まれ、特開2003−234315号公報に記載されているもの以外に、ヘキサメチレンテトラミン等が使用できる。
アルカノールアミン(B3)としては、特許文献1等に記載のアルカノールアミンが含まれ、特許文献1に記載されているもの以外に、ジメチルアミノエタノール、ジエチルアミノエタノール及び2−アミノ−2−メチル−1−プロパノール等が使用できる。
これらのうち、エッチング抑制効果等の観点から、アルキレンジアミン(B1)及びアルカノールアミン(B3)が好ましく、さらに好ましくはアルカノールアミン(B3)、特に好ましくはモノエタノールアミン及びトリエタノールアミンである。
脂肪族アミン(B)の含有量(重量%)は、エッチング抑制効果及び洗浄性等の観点から、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)の重量に基づいて、0.01〜0.15が好ましく、さらに好ましくは0.03〜0.14、特に好ましくは0.05〜0.13である。
第4級アンモニウムヒドロキシド(A)及び脂肪族アミン(B)の重量比(A/B)は、エッチング抑制効果及びウォーターマーク抑制効果等の観点から、1〜80が好ましく、さらに好ましくは3〜60、特に好ましくは6〜40である。
ウォーターマークは、絶縁膜に付着した水に絶縁膜成分(シリコン等)又は絶縁膜成分の酸化物(酸化ケイ素等)等が溶解し、水が蒸発した後に残留するクレータ状の残留物であり、半導体の配線抵抗を増大させる傾向がある。特に、半導体が多層配線構造を有する場合に、配線抵抗が増大し易い。
ウォーターマークは、絶縁膜に付着した水に絶縁膜成分(シリコン等)又は絶縁膜成分の酸化物(酸化ケイ素等)等が溶解し、水が蒸発した後に残留するクレータ状の残留物であり、半導体の配線抵抗を増大させる傾向がある。特に、半導体が多層配線構造を有する場合に、配線抵抗が増大し易い。
本発明の半導体洗浄用洗浄剤は、半導体基板又は半導体素子に設けられた絶縁膜(例えば、金属配線間の絶縁に用いる層間絶縁膜)が低誘電率絶縁膜である場合、特に優れたウォーターマーク抑制効果を奏する。
低誘電率絶縁膜は、大規模集積回路(LSI)をさらに高集積化した、超大規模集積回路(ULSI)に好適な絶縁膜であり、従来、LSIに広く使用されてきたシリカ膜(比誘電率4〜5)よりも比誘電率が小さい絶縁膜(比誘電率1〜3)であり、シリカ膜よりもウォーターマークが生じやすいことが知られている(特開2005−45035号公報等)。
低誘電率絶縁膜としては、HSQ(ヒドロゲンシルセスキオキサン)膜、MSQ(メチルシルセスキオキサン)膜、SiOF(フッ素含有シリカ)膜、SiOC(カーボン含有シリカ)膜及び芳香族ポリアリールエーテル膜、ポーラスMSQ、ポーラスSiOC及びポーラス芳香族ポリアリールエーテル膜等が含まれる。ここに例示した低誘電率絶縁膜は、全て比誘電率が1〜3である。
低誘電率絶縁膜は、大規模集積回路(LSI)をさらに高集積化した、超大規模集積回路(ULSI)に好適な絶縁膜であり、従来、LSIに広く使用されてきたシリカ膜(比誘電率4〜5)よりも比誘電率が小さい絶縁膜(比誘電率1〜3)であり、シリカ膜よりもウォーターマークが生じやすいことが知られている(特開2005−45035号公報等)。
低誘電率絶縁膜としては、HSQ(ヒドロゲンシルセスキオキサン)膜、MSQ(メチルシルセスキオキサン)膜、SiOF(フッ素含有シリカ)膜、SiOC(カーボン含有シリカ)膜及び芳香族ポリアリールエーテル膜、ポーラスMSQ、ポーラスSiOC及びポーラス芳香族ポリアリールエーテル膜等が含まれる。ここに例示した低誘電率絶縁膜は、全て比誘電率が1〜3である。
水(W)としては、特に限定されないが、JIS K0552−1994に準拠して測定される電気伝導率が0.055〜1μS/cmの水が好ましく、さらに好ましくは0.056〜0.1μS/cm、特に好ましくは0.057〜0.08μS/cmの水である。この範囲であると、洗浄性がさらに優れる。また、洗浄剤をさらに低コストで製造できる。
水(W)の含有量(重量%)は、洗浄性及びウォーターマーク抑制効果等の観点から、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)の重量に基づいて、
90.9〜99.8が好ましく、さらに好ましくは97〜99.7、特に好ましくは97.9〜99.5である。
90.9〜99.8が好ましく、さらに好ましくは97〜99.7、特に好ましくは97.9〜99.5である。
半導体洗浄用洗浄剤の25℃でのpHは12.0〜14.0が好ましく、さらに好ましくは12.5〜13.5、特に好ましくは12.8〜13.3である。この範囲であると、エッチング抑制効果及びウォーターマーク抑制効果が優れる。
本発明において、半導体洗浄用洗浄剤のpHは、半導体洗浄用洗浄剤を希釈せずに、JIS Z8802−1984に準拠して、pHメーターを用いて25℃で測定する。
pHは、pHは第4級アンモニウムヒドロキシド(A)の含有量等で調整することができる。例えば、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)の含有量が多い程、pHが大きくなる傾向があり、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)の含有量が少ない程、pHが小さくなる傾向がある。
pHは、pHは第4級アンモニウムヒドロキシド(A)の含有量等で調整することができる。例えば、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)の含有量が多い程、pHが大きくなる傾向があり、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)の含有量が少ない程、pHが小さくなる傾向がある。
本発明の半導体洗浄用洗浄剤は、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)以外に、さらに必要により添加剤を含有してもよい。
添加剤としては、界面活性剤、特開2003−234315号公報に記載の添加剤(キレート剤、防錆剤及び有機溶剤等)及び特許文献1に記載の腐食防止剤等が含まれる。
界面活性剤としては、公知の界面活性剤(「界面活性剤 物性・性能要覧、株式会社技術情報協会、2003年5月29日発行」又は「新・界面活性剤入門、三洋化成工業株式会社、1996年10月発行」等に記載のもの等)が使用でき、例えば、非イオン性界面活性剤、アニオン性界面活性剤、カチオン性界面活性剤及び両性界面活性剤が含まれる。
添加剤としては、界面活性剤、特開2003−234315号公報に記載の添加剤(キレート剤、防錆剤及び有機溶剤等)及び特許文献1に記載の腐食防止剤等が含まれる。
界面活性剤としては、公知の界面活性剤(「界面活性剤 物性・性能要覧、株式会社技術情報協会、2003年5月29日発行」又は「新・界面活性剤入門、三洋化成工業株式会社、1996年10月発行」等に記載のもの等)が使用でき、例えば、非イオン性界面活性剤、アニオン性界面活性剤、カチオン性界面活性剤及び両性界面活性剤が含まれる。
界面活性剤としては、洗浄性及び半導体の絶縁抵抗を低下させないという観点等から、非イオン性界面活性剤が好ましく、さらに好ましくはポリオキシアルキレングリコールモノアルキルエーテル、特に好ましくはポリオキシエチレングリコールモノアルキルエーテル及びポリオキシプロピレングリコールモノアルキルエーテルである。
添加剤を加える場合、添加剤の含有量(重量%)は、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)の重量に基づいて、0.001〜0.1が好ましく、さらに好ましくは0.005〜0.05、特に好ましくは0.01〜0.03である。この範囲であると、エッチング抑制効果を損なわずに、添加剤の効果(洗浄性、腐食防止性等)を高めることができる。
本発明の半導体洗浄用洗浄剤は、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)と、必要により添加剤とを混合装置内で均一混合すること等により製造できる。
第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び添加剤は、水溶液としたものを使用してもよい。第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び/又は添加剤を水溶液として混合する場合、水溶液中の水は、水(W)の一部となる。
第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)と、必要により添加剤を混合する方法としては、特に限定されないが、容易かつ短時間で均一に混合できるという観点等から、混合装置内で水(W)、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)及び脂肪族アミン(B)を混合し、さらに必要により添加剤を混合する方法が好ましい。添加剤が水溶液であると、混合性が優れるため好ましい。均一混合する際の温度及び時間には制限はなく、製造する規模や設備等に応じて適宜決めることができ、例えば、製造規模が数kg程度の場合、5〜40℃で0.1〜5時間程度が好ましい。
混合装置としては、撹拌機又は分散機等が使用できる。
撹拌機としては、メカニカルスターラー及びマグネチックスターラー等が含まれる。
分散機としては、ホモジナイザー、超音波分散機、ボールミル及びビーズミル等が含ま れる。
撹拌機としては、メカニカルスターラー及びマグネチックスターラー等が含まれる。
分散機としては、ホモジナイザー、超音波分散機、ボールミル及びビーズミル等が含ま れる。
本発明の半導体洗浄用洗浄剤は、高濃度の洗浄剤{例えば、脂肪族アミン(B)の含有量が0.1〜7.5重量%の半導体洗浄用洗浄剤}を製造しておいて、これを使用前に水で10〜50倍に希釈して所望の濃度にすることで、本発明の半導体洗浄用洗浄剤としてもよい。このようにすると、輸送及び保管等のコストを低くすることができる。
本発明の半導体洗浄用洗浄剤は、半導体基板又は半導体素子の製造方法において、未実装の半導体基板又は半導体素子に、連続的又は断続的に供給して、半導体基板又は半導体素子を洗浄する工程を含む製造方法に適している。このような洗浄工程は、公知の洗浄方法及び装置(特開2004−50119号公報、特開平10−321572号公報及び特開2001−358110号公報等)を用いて行うことができる。
洗浄工程としては、レジスト現像後、ドライエッチング後、ウェットエッチング後、ドライアッシング後、レジスト剥離後、CMP処理前後又はCVD処理前後の洗浄工程等が含まれる。これらのうち、CMP処理前後の洗浄工程に適している。
洗浄工程としては、レジスト現像後、ドライエッチング後、ウェットエッチング後、ドライアッシング後、レジスト剥離後、CMP処理前後又はCVD処理前後の洗浄工程等が含まれる。これらのうち、CMP処理前後の洗浄工程に適している。
以下、実施例により本発明をさらに説明するが、本発明はこれらによって限定されるものではない。以下において、部及び%はそれぞれ重量部及び重量%を表す。
pHはpHメータ(型番:HM−30V、東亜電波工業株式会社)を用いて、前記の方法により測定した。
イオン交換水は、電気伝導率0.06μS/cmのものを使用した。
pHはpHメータ(型番:HM−30V、東亜電波工業株式会社)を用いて、前記の方法により測定した。
イオン交換水は、電気伝導率0.06μS/cmのものを使用した。
<実施例1>
イオン交換水69.9部、コリン(a1)の4%水溶液(商品名:コリン4%、多摩化学工業株式会社)30部及びモノエタノールアミン(商品名:2−アミノエタノール、純度97%以上、和光純薬工業株式会社)(b1)0.1部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(1)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(1)のpHは13.0であった。
イオン交換水69.9部、コリン(a1)の4%水溶液(商品名:コリン4%、多摩化学工業株式会社)30部及びモノエタノールアミン(商品名:2−アミノエタノール、純度97%以上、和光純薬工業株式会社)(b1)0.1部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(1)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(1)のpHは13.0であった。
<実施例2>
イオン交換水80部、コリン(a1)の4%水溶液20部及びモノエタノールアミン(b1)0.03部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(2)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(2)のpHは12.8であった。
イオン交換水80部、コリン(a1)の4%水溶液20部及びモノエタノールアミン(b1)0.03部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(2)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(2)のpHは12.8であった。
<実施例3>
イオン交換水49.9部、コリン(a1)の4%水溶液50部及びモノエタノールアミン(b1)0.13部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(3)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(3)のpHは13.3であった。
イオン交換水49.9部、コリン(a1)の4%水溶液50部及びモノエタノールアミン(b1)0.13部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(3)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(3)のpHは13.3であった。
<実施例4>
イオン交換水50部、コリン(a1)の4%水溶液50部及びトリエタノールアミン(純度97%、和光純薬工業株式会社)(b2)0.05部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(4)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(4)のpHは13.2であった。
イオン交換水50部、コリン(a1)の4%水溶液50部及びトリエタノールアミン(純度97%、和光純薬工業株式会社)(b2)0.05部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(4)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(4)のpHは13.2であった。
<実施例5>
イオン交換水63.9部、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(a2)の25%水溶液(商品名:25%TMAH、多摩化学工業株式会社)36部及びエチレンジアミン(純度99%、和光純薬工業株式会社)(b3)0.15部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(5)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(5)のpHは14.0であった。
イオン交換水63.9部、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(a2)の25%水溶液(商品名:25%TMAH、多摩化学工業株式会社)36部及びエチレンジアミン(純度99%、和光純薬工業株式会社)(b3)0.15部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(5)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(5)のpHは14.0であった。
<実施例6>
イオン交換水99.5部、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(a2)の25%水溶液0.4部及びモノエタノールアミン(b1)0.1部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(6)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(6)のpHは12.0であった。
イオン交換水99.5部、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(a2)の25%水溶液0.4部及びモノエタノールアミン(b1)0.1部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(6)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(6)のpHは12.0であった。
<実施例7>
イオン交換水88.3部、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(a2)の25%水溶液11.6部及びトリエタノールアミン(b2)0.14部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(7)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(7)のpHは13.5であった。
イオン交換水88.3部、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(a2)の25%水溶液11.6部及びトリエタノールアミン(b2)0.14部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(7)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(7)のpHは13.5であった。
<実施例8>
イオン交換水87.4部、コリン(a1)の4%水溶液12.5部及びエチレンジアミン(b3)0.15部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(8)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(8)のpHは12.5であった。
イオン交換水87.4部、コリン(a1)の4%水溶液12.5部及びエチレンジアミン(b3)0.15部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(8)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(8)のpHは12.5であった。
<実施例9>
イオン交換水92.5部、コリン(a1)の4%水溶液7.5部及びモノエタノールアミン(b1)0.05部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(9)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(9)のpHは12.3であった。
イオン交換水92.5部、コリン(a1)の4%水溶液7.5部及びモノエタノールアミン(b1)0.05部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(9)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(9)のpHは12.3であった。
<実施例10>
イオン交換水86.5部、コリン(a1)の4%水溶液13.5部及びトリエタノールアミン(b2)0.01部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(10)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(10)のpHは12.7であった。
イオン交換水86.5部、コリン(a1)の4%水溶液13.5部及びトリエタノールアミン(b2)0.01部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(10)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(10)のpHは12.7であった。
<実施例11>
イオン交換水96.8部、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(a2)の25%水溶液3.2部及びトリエタノールアミン(b2)0.01部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(11)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(11)のpHは12.8であった。
イオン交換水96.8部、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(a2)の25%水溶液3.2部及びトリエタノールアミン(b2)0.01部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(11)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(11)のpHは12.8であった。
<比較例1>
イオン交換水97.2部、コリン(a1)の4%水溶液2.5部及びモノエタノールアミン(b1)0.3部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(H1)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(H1)のpHは11.9であった。
イオン交換水97.2部、コリン(a1)の4%水溶液2.5部及びモノエタノールアミン(b1)0.3部を、25℃で均一混合して、本発明の半導体洗浄用洗浄剤(H1)を得た。この半導体洗浄用洗浄剤(H1)のpHは11.9であった。
半導体洗浄用洗浄剤(1)〜(11)及び(H1)の組成及びpHを表1にまとめた。表1において、A/Bは第4級アンモニウムヒドロキシド(A)と脂肪族アミン(B)との重量比である。
<エッチング抑制効果の評価>
実施例及び比較例で作成した半導体洗浄用洗浄剤を用いて、銅膜付きシリコン基板{ブランケットCu8インチウェハ(銅膜厚0.40μm)、アドバンストマテリアルズテクノロジー社製}を1cm四方に切断して得た銅膜付きシリコン基板小片を、下記の洗浄条件で洗浄し、半導体洗浄用洗浄剤の銅に対するエッチング抑制効果を評価した。洗浄条件及び評価方法を下記に示す。評価結果を表1に示す。
なお、銅膜付きシリコン基板小片は、銅膜付きシリコン基板の裏面(銅膜が無い面)に1cm×1cmの升目状にダイヤモンドカッターで切れ目を入れ、手で割ることで容易に作成できる。
実施例及び比較例で作成した半導体洗浄用洗浄剤を用いて、銅膜付きシリコン基板{ブランケットCu8インチウェハ(銅膜厚0.40μm)、アドバンストマテリアルズテクノロジー社製}を1cm四方に切断して得た銅膜付きシリコン基板小片を、下記の洗浄条件で洗浄し、半導体洗浄用洗浄剤の銅に対するエッチング抑制効果を評価した。洗浄条件及び評価方法を下記に示す。評価結果を表1に示す。
なお、銅膜付きシリコン基板小片は、銅膜付きシリコン基板の裏面(銅膜が無い面)に1cm×1cmの升目状にダイヤモンドカッターで切れ目を入れ、手で割ることで容易に作成できる。
洗浄条件:半導体洗浄用洗浄剤200mlに、銅膜付きシリコン基板小片の全体を浸漬し、3分間静置した。銅膜付きシリコン基板小片を半導体洗浄用洗浄剤から取り出した後、イオン交換水200mlで銅膜付きシリコン基板小片に付着した半導体洗浄用洗浄剤を洗い流し、窒素ブローして乾燥し、洗浄済み銅膜付きシリコン基板小片を得た。
評価方法:洗浄済み銅膜付きシリコン基板小片の裏面に、ダイヤモンドカッターで切れ目を入れて手で割り、0.5cm×1cmに切断した銅膜厚測定用基板を得た。この銅膜厚測定用基板の切断面の銅膜厚(μm)を、SEM(JSM−7000、JEOL社製、倍率:50000倍、分解能0.01μm)で1箇所測定した。銅膜厚が大きい程、エッチング抑制効果が優れている。
<ウォーターマークの評価>
カーボン含有シリカ(SiOC)膜付きシリコン基板{ブランケットBD8インチウェハ(SiOC膜の比誘電率2.8、膜厚0.80μm)、アドバンストマテリアルズテクノロジー社製}について、半導体洗浄用洗浄剤で洗浄したときのウォーターマークを評価した。洗浄条件及び評価方法を下記に示す。評価結果を表1に示す。
カーボン含有シリカ(SiOC)膜付きシリコン基板{ブランケットBD8インチウェハ(SiOC膜の比誘電率2.8、膜厚0.80μm)、アドバンストマテリアルズテクノロジー社製}について、半導体洗浄用洗浄剤で洗浄したときのウォーターマークを評価した。洗浄条件及び評価方法を下記に示す。評価結果を表1に示す。
洗浄条件:CMP後洗浄装置(MAT社製)に、SiOC膜が上になるようにしてSiOC膜付きシリコン基板を水平に設置し、100rpmで回転させ(同基板を上から見たときの中心が回転軸である)、SiOC膜付きシリコン基板の上から、SiOC膜付きシリコン基板の中心に向けて半導体洗浄用洗浄剤を1リットル/分で60秒間供給することで、SiOC膜付きシリコン基板を洗浄した。
引き続き、半導体洗浄用洗浄剤1リットル/分をイオン交換水1.5リットル/分に替えた以外は同様にして洗浄することで、SiOC膜付きシリコン基板に付着した半導体洗浄用洗浄剤を洗い流した。次いで、SiOC膜付きシリコン基板を、回転数3000rpmで20秒間スピン乾燥して、洗浄済みSiOC膜付きシリコン基板を得た。半導体洗浄用洗浄剤及びイオン交換水は、25℃のものを用いた。
引き続き、半導体洗浄用洗浄剤1リットル/分をイオン交換水1.5リットル/分に替えた以外は同様にして洗浄することで、SiOC膜付きシリコン基板に付着した半導体洗浄用洗浄剤を洗い流した。次いで、SiOC膜付きシリコン基板を、回転数3000rpmで20秒間スピン乾燥して、洗浄済みSiOC膜付きシリコン基板を得た。半導体洗浄用洗浄剤及びイオン交換水は、25℃のものを用いた。
評価方法:洗浄する直前のSiOC膜付きシリコン基板、及び洗浄済みSiOC膜付きシリコン基板について、SiOC膜上の異物数(個/ウエハ)を異物検査装置(WM−2500、TOPCON社製、測定下限:長径0.2μm)で測定し、洗浄前後の異物数の差を、洗浄で生じたウォーターマーク数(個/ウエハ)とした。ウォーターマーク数が少ない程、ウォーターマーク抑制効果が優れている。
<洗浄性の評価>
銅膜付きシリコン基板{ブランケットCu8インチウェハ(銅膜厚0.40μm)、アドバンストマテリアルズテクノロジー社製}をCMP装置(商品名:MAT−ARW681M、MAT社製)にセットし、CMPスラリー{研磨粒子:コロイダルシリカ(平均粒子径70nm、カタログ値)、商品名:PlanarChem OS−70KL、ATMI(アドバンストテクノロジーマテリアル)社製}を用いて研磨{研磨条件:基板回転数75rpm、パッド回転数70rpm、ウエハ荷重30kPa、CMPスラリー流量150ml/分、研磨温度25℃、研磨時間1分、研磨パッド:IC1000(材質:ポリウレタン)、ニッタ・ハース社製}して、研磨後銅基板を得た。研磨後銅基板について、前記ウォーターマークの評価の洗浄条件と同様にして、半導体洗浄用洗浄剤で洗浄したときの研磨粒子数を評価した。評価方法を下記に示す。評価結果を表1に示す。
評価方法:研磨後銅基板上の異物数(個/ウエハ)を異物検査装置(WM−2500、TOPCON社製、測定下限:長径0.2μm)で測定し、異物数を洗浄性(個/ウエハ)とした。異物数が少ない程、洗浄性が優れている。なお、研磨粒子であるコロイダルシリカの平均粒子径が70nmであり、この評価で測定される異物は、研磨粒子の凝集物であると推定される。
銅膜付きシリコン基板{ブランケットCu8インチウェハ(銅膜厚0.40μm)、アドバンストマテリアルズテクノロジー社製}をCMP装置(商品名:MAT−ARW681M、MAT社製)にセットし、CMPスラリー{研磨粒子:コロイダルシリカ(平均粒子径70nm、カタログ値)、商品名:PlanarChem OS−70KL、ATMI(アドバンストテクノロジーマテリアル)社製}を用いて研磨{研磨条件:基板回転数75rpm、パッド回転数70rpm、ウエハ荷重30kPa、CMPスラリー流量150ml/分、研磨温度25℃、研磨時間1分、研磨パッド:IC1000(材質:ポリウレタン)、ニッタ・ハース社製}して、研磨後銅基板を得た。研磨後銅基板について、前記ウォーターマークの評価の洗浄条件と同様にして、半導体洗浄用洗浄剤で洗浄したときの研磨粒子数を評価した。評価方法を下記に示す。評価結果を表1に示す。
評価方法:研磨後銅基板上の異物数(個/ウエハ)を異物検査装置(WM−2500、TOPCON社製、測定下限:長径0.2μm)で測定し、異物数を洗浄性(個/ウエハ)とした。異物数が少ない程、洗浄性が優れている。なお、研磨粒子であるコロイダルシリカの平均粒子径が70nmであり、この評価で測定される異物は、研磨粒子の凝集物であると推定される。
本発明の半導体洗浄用洗浄剤は、優れたエッチング抑制効果を有する。さらに、洗浄性及びウォーターマーク抑制効果が優れている。これに対して、従来の半導体洗浄用洗浄剤は、エッチング抑制効果が低いために銅膜厚が減少し、また、ウォーターマーク抑制効果も低い。
本発明の半導体洗浄用洗浄剤は、エッチング抑制効果が優れるため、半導体基板又は半導体素子の製造に好適である。さらに、低誘電率絶縁膜に対するウォーターマーク抑制効果が優れるため、大規模集積回路(LSI)の製造だけでなく、超大規模集積回路(ULSI)の製造に好適である。
Claims (3)
- テトラアルキルアンモニウムヒドロキシド(A1)、(ヒドロキシアルキル)トリアルキルアンモニウムヒドロキシド(A2)、ビス(ヒドロキシアルキル)ジアルキルアンモニウムヒドロキシド(A3)及びトリス(ヒドロキシアルキル)アルキルアンモニウムヒドロキシド(A4)からなる群より選ばれる少なくとも1種の第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、炭素数2〜6の脂肪族アミン(B)及び水(W)を含有してなり、
第4級アンモニウムヒドロキシド(A)、脂肪族アミン(B)及び水(W)の重量に基づいて、第4級アンモニウムヒドロキシド(A)の含有量が0.1〜9重量%、脂肪族アミン(B)の含有量が0.01〜0.15重量%、水(W)の含有量が90.9〜99.8重量%であり、
25℃でのpHが12.0〜14.0である半導体洗浄用洗浄剤。 - 第4級アンモニウムヒドロキシド(A)と脂肪族アミン(B)との重量比(A/B)が、1〜80である請求項1に記載の半導体洗浄用洗浄剤。
- 請求項1又は2に記載の半導体洗浄用洗浄剤を半導体基板又は半導体素子に連続的又は断続的に供給して、半導体基板又は半導体素子を洗浄する工程を含む、半導体基板又は半導体素子の製造方法。
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JP2012506457A (ja) * | 2008-10-21 | 2012-03-15 | アドバンスド テクノロジー マテリアルズ,インコーポレイテッド | 銅の洗浄及び保護配合物 |
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-
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