JP2008057025A - 微粒化装置 - Google Patents

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剛 織田
Masaya Tokuhira
雅也 得平
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Abstract

【課題】円柱状プリフォームを製造する際に、外周縁部に至るまで上面を平坦に成形することができる微粒化装置を提供する。
【解決手段】微粒化装置を揺動させるカム機構を有し、このカム機構に使用されるカムが、下記式
Figure 2008057025

を満足するカム形状に構成されていることを特徴とする。
【選択図】なし

Description

本発明は、スプレーフォーミングによってプリフォームを形成するのに好適な微粒化装置に関するものである。
スプレーフォーミングは、溶融した金属の液滴群を基材上に堆積させながら急冷凝固させて円柱状または板状などの素形材(プリフォーム)を製造する方法である。
スプレーフォーミングにはいくつかの手法があるが、最も実用化が進んでいるのはオスプレー法であり、その原理を図9および図10に示す。
両図において、溶融金属等の液体流Sは、環状の微粒化装置50を通過して注がれるようになっており、この微粒化装置50はその直径方向に突出している支持体51によって支持されている(例えば、特許文献1参照)。
上記支持体51は、液体流Sを噴霧Saに微粒化するためのガスを供給する管路としても機能しており、支持体51をその中心軸まわりに回動させる(矢印R参照)と、微粒化装置50を図10の(b)に示す中立姿勢から同図(a)または(c)に示す傾斜姿勢に揺動させることができ、それにより、噴霧Saに対し横方向の運動を与えることができるようになっている。
上記微粒化装置50は、基材の幅方向に噴霧Saを偏向させることができるため、帯状のプリフォームを製造するのに特に有用である。
なお、上記支持体51の回動動作は、回転するカム52の周面に、支持体51から突設された従動体53を当接させることによって得られるようになっている。
一方、プリフォームの空孔層の厚さを低減することを目的として、微粒化装置を揺動させるカムの周期を制御するようにした噴霧堆積法も知られている(例えば、特許文献2参照)。
上記噴霧堆積法も、液体流に対し高圧の不活性ガスを吹き付けて噴霧化する微粒化装置を有しており、高圧ガスのジェット流を円柱状プリフォームの中心部と外周部との間で往復移動(揺動)させるように構成されているが、その往復移動1周期のうち、外周部については1/18〜1/3周期、カムを停止させる点を特徴としている。
この噴霧堆積法によれば、円柱状プリフォームの上面の形状を制御することができる。
特開昭62−156206号公報 特開平8−66759号公報
しかしながら、上記した従来の噴霧堆積方法はプリフォームの輪郭をある程度制御することは可能であるが、円柱状プリフォームの頭部上面を中心部から最外周縁部まで精度良く平坦に形成することが難しいという課題がある。
製造されたプリフォームは通常、カプセルに収納され、後工程としてのHIP(熱間静水圧プレス)によって密度100%に緻密化されるが、プリフォームの頭部が凸状になっていると、HIP処理の過程において丸みを帯びた外周縁部にてカプセルに亀裂が生じ真空が破壊されたり、また、その外周縁部のみ圧縮が不足して空孔が残ったりすることがある。また、カプセルが不規則に変形すると、カプセルからプリフォームを抜き出す脱カプセルが困難になる。
本発明は以上のような従来の噴霧堆積装置または堆積方法における課題を考慮してなされたものであり、円柱状プリフォームを製造する際に、中心部から外周縁部に至るまでその頭部上面を精度良く平坦に成形することができる微粒化装置を提供するものである。
本発明は、流下する金属溶湯に対し、水平軸まわりに揺動動作する微粒化装置のノズルから高圧ガスを吹き付けてこれを噴霧化する微粒化装置において、
上記微粒化装置を揺動させるカム機構を有し、このカム機構に使用されるカムが、下記式
Figure 2008057025
ただし、
P(x′):スキャニングを考慮したスプレー流束分布式
max:−∞<x′<∞におけるスプレー流束分布式P(x′)の最大値
10:Pmaxの10%
x′max:Pmaxとなる無次元化されたx方向距離
x′10:P10となる無次元化されたx方向距離
x′:プリフォーム直径で無次元化されたx方向距離
を満足するカム形状に構成されている微粒化装置である。
本発明において、上記カム形状に沿って移動する従動節は、リンクを介して上記微粒化装置と連結することができる。
本発明の微粒化装置によれば、円柱状プリフォームを製造する際に、外周縁部に至るまで頭部上面を精度良く平坦に成形することができるため、脱カプセル工程に有利なプリフォームを提供することができるという長所を有する。
以下、図面に示した実施の形態に基づいて本発明を詳細に説明する。
図1は、本発明に係る微粒化装置の構成を示した原理図である。
同図において、微粒化装置は基本的に図9に示した微粒化装置と同じ構成からなり、筋状に注がれる溶鋼流を、中心に通過させることができる環状の微粒化装置2を有している。
この微粒化装置2の下部には複数のノズル2aが円周方向に配設されており、各ノズル2aから噴射される高速ガスが上記溶鋼流に吹き付けられ、溶鋼流が微粒化されるようになっている。
微粒化装置2の下方には、コレクター3上にセットされた基板4が配置されており、この基板4は、中心軸caまわりに回転自在であり、且つ中心軸caに沿って矢印b方向に進退することができるように構成されている。この基板4上にプリフォームpfが円柱状に形成される。
また、微粒化装置2のスプレー中立軸saに対し上記基板4の中心軸caは角度αを持って交差しており、このようにプリフォームpfを傾斜姿勢とすることでその中心部から外周部に至るまで効率良く粒子を堆積することができるようになっている。
また、基板4は中心軸caまわりに回転するため、プリフォームpfの直径をDとすると、微粒化装置2は、c点を中心としてプリフォームpfの1/2D分の範囲について矢印d方向に揺動させることができればよい。
上記微粒化装置2は、カム5と、このカム5の周面に沿って移動する従動体6と、この従動体6と上記微粒化装置2とを連結しているリンク機構7とによって揺動するようになっている。
カム5および従動体6は、偏心カム5の外周面に沿って従動体6が移動できる構成であれば、任意の構成を採用することができるが、例えば、従動体6のピン6a,6bがカム5の外周縁を挟んだ状態、あるいは外周縁に沿って形成された溝に嵌合された状態で移動するいわゆる確動カムで構成することが好ましい。
従動体6はe点を支点とするアーム7aに接続されており、他方、微粒化装置2からはアーム7bが立設され、アーム7aの連結部7cとアーム7bの連結部7dはそれぞれ連結アーム7eによって接続されている。
それにより、カム5が回転すると、アーム7aが矢印f方向に揺動し、連結アーム7eを介して微粒化装置2が矢印d方向に揺動する。
なお、アーム7bにおける連結部7dの位置は複数の連結部7d′のいずれか一つに変更することができ、それにより、微粒化装置2の揺動範囲を調整することができるようになっている。
次に、上記微粒化装置2の特徴部分であるカム5の構成について詳しく説明する。
本発明は、スプレーフォーミングを行うにあたり、後工程としてのHIP処理に有利なように、プリフォーム頭部を平坦に形成することができるカム形状を提供するものである。
そのための構成として、下記式(1)
Figure 2008057025
を満たすカム形状としている。
なお、以下の説明で使用する記号の一覧を予め以下に示す。
θ:カム角度
ζ(θ):基準径からのカム変位
ζmax:カム最大変位
H:スプレー高さ
m:スプレー位置でのカム変位倍率……図1の例ではm=hH/h
ξ:x軸上でのスプレー変位……ξ=mζ(θ)/cos(α)
D:プリフォーム直径
x:プリフォーム頭部を通りプリフォーム回転軸caに対して垂直となる垂直平面内で
、且つスプレー中立軸(ζ(θ)=0.5ζmaxとなるカム角度でのスプレー中心軸)との交点を原点とし、プリフォーム回転軸caとの交点へ向かう方向の距離
y:プリフォーム回転軸caに対して上記垂直平面内でxと直交する軸方向の、上記原
点からの距離
z:プリフォーム回転軸方向の原点からの距離
r:プリフォーム半径……r=x+y
x′:プリフォーム直径Dで除算することにより無次元化したx方向距離
……x′=x/D
y′:プリフォーム直径Dで除算することにより無次元化したy方向距離
……y′=y/D
z′:プリフォーム直径Dで除算することにより無次元化したz方向距離
……z′=z/D
r′:プリフォーム直径Dで除算することにより無次元化したr方向距離
……r′=r/D
α:プリフォーム傾斜角度
σ:スキャニング無しでのスプレー流束分布標準偏差
P(x)′:スキャニングを考慮したスプレー流束分布式、下記式(2)
Figure 2008057025
max:−∞<x′<∞におけるスプレー流束分布式P(x′)の最大値
x′max:P(x′max)=Pmaxとなる無次元化したx方向距離
10:Pmaxの10%……P10=0.1Pmax
x′10:x′>x′maxにてP(x′10)=P10となる無次元化されたx方向距離
P′:無次元化されたスプレー流束分布……P′=P/Pmax
図2はカム形状の決定を説明するための流束分布図である。
同図において、横軸x′は無次元化したx方向距離であり、縦軸p′は無次元化したスプレー流束分布である。
後工程のHIP処理を行うに際しプリフォームはカプセル内に収納されるが、圧縮時に亀裂等の欠陥が生じることを避けるため、プリフォームの上面は平坦であることが望ましい。
このようなプリフォームの表面形状(輪郭)を制御するのにカムを使用することは好適である。
従来の微粒化装置においてもカムは使用されているが、この種のカムは微粒化装置をスプレー中立軸を境として左右に揺動させることを目的として使用されている。
これに対し本発明のカムは、微粒化装置を左右に揺動させるだけでなく、基材へのスプレー流束分布を調節する、すなわち堆積させる粒子の量を調節するように構成されている。
具体的には、流束分布を中心から変位させるとともに、分布曲線を直線状に立ち上げることによって基材上に堆積する粒子が、プリフォームの中心から外周部に至るまで同じ速度で成長するようにしている。
上記流束分布を直線状にするとは、図2において、点イと点ロを結ぶ線分ハに対して流束分布の分布曲線ニを極力近づけることであり、具体的には、分布曲線ニにおいて線分ハとの距離dを0.03以下に保持することである。
なお、点イは流束分布式P(x′)の最大値(x′max,1.0)を示し、点ロは流束分布式においてPmaxの10%の点(x′10,0.1)に設定している。
このように、流束分布の曲線を直線的にする意図は以下の通りである。
流束分布とは単位面積当たりに降り注ぐ単位時間当たりの粒子の質量(kg/s/m)であり、カムの形状を変更することで様々な流束分布にて粒子が降り注ぐように制御することができるが、回転する円柱に粒子が降り注いだときに、回転体が半径方向に等しい速度で成長するためには、流束分布は半径に比例させる必要がある。
具体的には、回転体において半径方向に微小幅Δrをとった場合、半径rの位置における面積ΔSは、
ΔS=r・Δr
で表され、回転体の外周に近づくほど微小面積ΔSは増加する。
他方、等しい成長速度になるためには、
流束Pについて
P∝(ΔS/lΔr=r/l)
である必要がある。ただし、ここでlはスキャニングなしでのスプレー直径である。
したがって、P ∝ r
とすることで半径方向に等しい速度でプリフォームを成長させることが可能になる。
上述したP ∝ rは、換言すれば、流束分布の曲線を直線的にすることになる。
次に、図3の(a)〜(d)に示すように、変位線図で示した各カムを用意し検討を行った。また、図4に比較例としてのカムの変位線図を示している。
図3および図4に示したそれぞれのカムの最大d値を下記表1に示す。
Figure 2008057025
上記カムA〜Dは本実施形態に係るカムである。
カムE〜Gは比較例のカムであり、その中のカムGは特許文献2に使用されているカムである。なお、図2に示した直線ハからの最大のずれが表1に示した最大d値に相当する。
また、図5に示すように、カム変位線図からカムの形状は容易に描くことができ、同図(a)において、Aは本実施形態のカムAを代表して同図(b)に示す変位線図からその輪郭を描いたものであり、Eは比較例のカムEを代表して同じく変位線図からその輪郭を描いたものである。
図6はカムA〜Dについて、また、図7はカムE〜Gについてスキャニングを考慮したスプレー流束分布を示したものであ。
図6において、本実施形態のカムA〜Dについては、x′max<x′<x′10において、P(x′)はほぼ直線になっている。
一方、図7に示したカムE〜Gについては流束P ∝ rが成立していないことがわかる。
次に、カムA〜Gを用いてスプレーフォーミングを行った場合に得られるプリフォーム頭部形状を数値計算によって求めた。
図8の(a)〜(f)はその計算結果を示したグラフであり、同図の(a)〜(d)は本実施形態を説明した図3の(a)〜(d)に対応し、図8の(e)および(f)は比較例を説明した図4の(e)および(f)に対応している。
数値計算結果では式(2)を2次元に展開した式(3)を用いてスプレー流束分布を構成し、プリフォームpfの回転軸caまわりに積分してプリフォームpfの半径方向成長速度分布を計算して求めている。
Figure 2008057025
図8(a)は、カムAにおける数値計算によるプリフォームの頭部形状と、実際に形成されたプリフォームの頭部形状を示しているが、数値計算結果は実際のプリフォーム頭部形状をよく再現している。
また、図8(e)は、カムEにおける数値計算によるプリフォームの頭部形状と、実際に形成されたプリフォームの頭部形状を示しているが、この場合も両形状はよく一致している。
本発明に係る微粒化装置の構成を示す原理図である。 図1に示したカム形状を説明するための流束分布図である。 (a)〜(d)は本発明に係る各カムの変位線図である。 (e)〜(g)は比較例に係る各カムの変位線図である。 (a)は本実施形態と比較例のカム形状を示す説明図、(b)はそれらの変位線図である。 (a)〜(d)はカムA〜Dのスプレー流束分布図である。 (e)〜(g)はカムE〜Gのスプレー流束分布図である。 (a)〜(f)はカムA〜Fによる流束分布を計算により求めたグラフである。 従来の微粒化装置の構成を示す斜視図である。 (a)〜(c)は図9に示す微粒化装置の揺動動作を示す説明図である。
符号の説明
1 微粒化装置
2 微粒化装置
2a ノズル
3 コレクター
4 基板
5 カム
6 従動体
7 リンク機構
7a,7b アーム
7e 連結アーム

Claims (2)

  1. 流下する金属溶湯に対し、水平軸まわりに揺動動作する微粒化装置のノズルから高圧ガスを吹き付けてこれを噴霧化する微粒化装置において、
    上記微粒化装置を揺動させるカム機構を有し、このカム機構に使用されるカムが、下記式
    Figure 2008057025
    ただし、
    P(x′):スキャニングを考慮したスプレー流束分布式
    max:−∞<x′<∞におけるスプレー流束分布式P(x′)の最大値
    10:Pmaxの10%
    x′max:Pmaxとなる無次元化されたx方向距離
    x′10:P10となる無次元化されたx方向距離
    x′:プリフォーム直径で無次元化されたx方向距離
    を満足するカム形状に構成されていることを特徴とする微粒化装置。
  2. 上記カム形状に沿って移動する従動節が、リンクを介して上記微粒化装置と連結されている請求項1記載の微粒化装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62161464A (ja) * 1985-11-12 1987-07-17 オスピリ−.メタルス.リミテツド 噴霧蒸着バーまたはインゴットの製造方法及びその装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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