JP2008037686A - 結晶製造装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】単結晶や多結晶を連続的に低コストで容易に良質に製造できる結晶製造装置を提供する。
【解決手段】加熱炉11内に原料の入った坩堝本体14を配置してこれを不活性ガス雰囲気中で酸化を防止しつつ原料の融点以上の温度に保ち、坩堝本体14の底部に形成した通孔17から、坩堝本体14下部に配置した溶液受け室23内の昇降テーブル31上に搭載した貯留容器30に溶融した原料融液25を流下させた後、昇降テーブル31とともに貯留容器30を下降させ、その後溶液受け室23に隣接して配置した複数の凝固室41に昇降テーブル31上から貯留容器30を移送し、この凝固室41で所定時間冷却させた後、凝固室41にそれぞれ隣接して配置した冷却室で常温まで冷却し、その後凝固したインゴットを冷却室から搬出する。
【選択図】図1
【解決手段】加熱炉11内に原料の入った坩堝本体14を配置してこれを不活性ガス雰囲気中で酸化を防止しつつ原料の融点以上の温度に保ち、坩堝本体14の底部に形成した通孔17から、坩堝本体14下部に配置した溶液受け室23内の昇降テーブル31上に搭載した貯留容器30に溶融した原料融液25を流下させた後、昇降テーブル31とともに貯留容器30を下降させ、その後溶液受け室23に隣接して配置した複数の凝固室41に昇降テーブル31上から貯留容器30を移送し、この凝固室41で所定時間冷却させた後、凝固室41にそれぞれ隣接して配置した冷却室で常温まで冷却し、その後凝固したインゴットを冷却室から搬出する。
【選択図】図1
Description
この発明は結晶製造装置に関し、特に量産に適した単結晶もしくは多結晶を製造する製造装置に関するものである。
シリコン加工品は、半導体、液晶、光通信機器等に用いられている。このシリコン加工品は、多結晶(熱還元法、キャスト法、電磁キャスト法)、単結晶(CZ法)のほぼ4種の方法で製造され、用途に応じた使い分けをしている。
ちなみに、多結晶および単結晶シリコンの特徴を列記すると、
(1)多結晶シリコン(熱還元法)
原料の三塩化シランを、高精度の蒸留塔で繰り返し蒸留して精製し、別途精製された水素を還元剤として大型還元炉で製造した棒状多結晶である。半導体ウェーハの原料として使用されるもので、9N〜11Nといった非常に高い純度を持っている。
(2)多結晶シリコン(キャスト法)
熱還元法で製造した多結晶シリコンを、ルツボで溶解し、鋳型に入れて凝固させたインゴット状の多結晶シリコンである。大型のルツボを使用することで、直径420φまでのインゴットが製造可能となる。
(3)多結晶シリコン(電磁キャスト法)
熱還元法で製造した多結晶シリコンを、高周波誘導コイルにて溶解し、電磁力によりルツボと非接触のまま連続的に凝固させたインゴット状の多結晶シリコンである。
石英ルツボ等を使用する方法と比較し、生産性の高いインゴットができることが特徴である。
(4)単結晶シリコン(CZ法)
熱還元法で製造した多結晶シリコンを、石英ルツボで溶解し、それをCZ法(チョクラルスキー法)で引き上げて単結晶シリコンのロッドにする。
なお、半導体用シリコンウェーハは、この単結晶シリコンのロッドをスライスして製造されている。
ちなみに、多結晶および単結晶シリコンの特徴を列記すると、
(1)多結晶シリコン(熱還元法)
原料の三塩化シランを、高精度の蒸留塔で繰り返し蒸留して精製し、別途精製された水素を還元剤として大型還元炉で製造した棒状多結晶である。半導体ウェーハの原料として使用されるもので、9N〜11Nといった非常に高い純度を持っている。
(2)多結晶シリコン(キャスト法)
熱還元法で製造した多結晶シリコンを、ルツボで溶解し、鋳型に入れて凝固させたインゴット状の多結晶シリコンである。大型のルツボを使用することで、直径420φまでのインゴットが製造可能となる。
(3)多結晶シリコン(電磁キャスト法)
熱還元法で製造した多結晶シリコンを、高周波誘導コイルにて溶解し、電磁力によりルツボと非接触のまま連続的に凝固させたインゴット状の多結晶シリコンである。
石英ルツボ等を使用する方法と比較し、生産性の高いインゴットができることが特徴である。
(4)単結晶シリコン(CZ法)
熱還元法で製造した多結晶シリコンを、石英ルツボで溶解し、それをCZ法(チョクラルスキー法)で引き上げて単結晶シリコンのロッドにする。
なお、半導体用シリコンウェーハは、この単結晶シリコンのロッドをスライスして製造されている。
しかしながら、熱還元法では設備が大型となり、キャスト法および電磁キャスト法では鋳型に入れて成形するために品質が安定しにくいという問題があり、チョクラルスキー法では引き上げの際にインゴットの上部において折れにくくするため、吊下げ機構を特殊な構造とする必要があり、他の方法による結晶製造装置に比べて一般に高価であるという問題もあった。
この発明と同様に、種子結晶を下降させる結晶製造方法としては、特開平11−240789号公報(特許文献1参照)およびWO99/063132(特許文献2参照)に記載のように、電気炉内に原料を溶かすための坩堝を配置してこれを当該原料の融点以上の温度に保ち、坩堝の底部に形成された細孔から漏れ出た原料融液に種子結晶の上端部を接触させた状態で種子結晶を回転させながら引き下げることによって結晶を成長させる単結晶製造装置が知られている。
特開平11−240789号公報
WO99/063132
しかしながら、上記いずれの育成方法においても原料融液の凝固のために20時間程度必要であり、原料融液の溶解あるいは精製時間に比べて多大な時間を要していて、例えばシリコンインゴットを連続的に製造することはできなかった。
この発明は上記問題を解決すべく創案されたものであり、単結晶や多結晶を連続的に低コストで容易かつ良質に製造できる結晶製造装置を提供することにある。
この発明は上記問題を解決すべく創案されたものであり、単結晶や多結晶を連続的に低コストで容易かつ良質に製造できる結晶製造装置を提供することにある。
上記課題を解決するために、請求項1に記載の発明に係る結晶製造装置は、加熱炉内に原料の入った坩堝本体を配置してこれを不活性ガス雰囲気中で酸化を防止しつつ当該原料の融点以上の温度に保ち、坩堝本体の底部に形成した通孔から、坩堝本体下部に配置した溶液受け室内の昇降テーブル上に搭載した貯留容器に溶融した原料融液を流下させた後、昇降テーブルとともに貯留容器を下降させ、その後溶液受け室に隣接して配置した複数の凝固室に昇降テーブル上から貯留容器を移送し、この凝固室で所定時間冷却させた後、該凝固室にそれぞれ隣接して配置した冷却室で常温まで冷却し、その後凝固したインゴットを冷却室から搬出するようにしたことを特徴とするものである。
請求項2に記載の発明に係る結晶製造装置は、加熱炉内に原料の入った坩堝本体を配置してこれを不活性ガス雰囲気中で酸化を防止しつつ当該原料の融点以上の温度に保ち、坩堝本体の底部に形成した通孔から、坩堝本体下部に配置した溶液受け室内の昇降テーブル上に搭載した貯留容器に溶融した原料融液を流下させた後、昇降テーブルとともに貯留容器を下降させ、その後溶液受け室に隣接して配置した複数の凝固室に昇降テーブル上から貯留容器を移送し、この凝固室で所定時間冷却させた後、該凝固室にそれぞれ隣接して配置した冷却室で常温まで冷却し、その後凝固したインゴットを冷却室から搬出するようにした結晶製造装置であって、
原料を融解させて原料融液を生成するための原料融解槽と、
この原料融解槽に原料を供給する原料供給手段と、
当該原料融解槽内の原料融液を前記坩堝本体内に導入する原料融液導入手段と、
坩堝本体内の原料融液を回転攪拌する回転攪拌手段と、
坩堝本体下部において昇降テーブルとともに貯留容器を下降させる溶液受け室を温度調整する温度管理手段とを有する、
ことを特徴とするものである。
請求項3に記載の発明に係る結晶製造装置は、溶液受け室は方形の輪郭を備え、その各辺にそれぞれ凝固室を配置し、また凝固室にそれぞれ冷却室を隣接配置して、溶液受け室において貯留容器に溶融した原料融液を流下させ、当該貯留容器を順次前記複数の凝固室、冷却室を経由して、凝固したインゴットを搬出するようにしたことを特徴とするものである。
請求項2に記載の発明に係る結晶製造装置は、加熱炉内に原料の入った坩堝本体を配置してこれを不活性ガス雰囲気中で酸化を防止しつつ当該原料の融点以上の温度に保ち、坩堝本体の底部に形成した通孔から、坩堝本体下部に配置した溶液受け室内の昇降テーブル上に搭載した貯留容器に溶融した原料融液を流下させた後、昇降テーブルとともに貯留容器を下降させ、その後溶液受け室に隣接して配置した複数の凝固室に昇降テーブル上から貯留容器を移送し、この凝固室で所定時間冷却させた後、該凝固室にそれぞれ隣接して配置した冷却室で常温まで冷却し、その後凝固したインゴットを冷却室から搬出するようにした結晶製造装置であって、
原料を融解させて原料融液を生成するための原料融解槽と、
この原料融解槽に原料を供給する原料供給手段と、
当該原料融解槽内の原料融液を前記坩堝本体内に導入する原料融液導入手段と、
坩堝本体内の原料融液を回転攪拌する回転攪拌手段と、
坩堝本体下部において昇降テーブルとともに貯留容器を下降させる溶液受け室を温度調整する温度管理手段とを有する、
ことを特徴とするものである。
請求項3に記載の発明に係る結晶製造装置は、溶液受け室は方形の輪郭を備え、その各辺にそれぞれ凝固室を配置し、また凝固室にそれぞれ冷却室を隣接配置して、溶液受け室において貯留容器に溶融した原料融液を流下させ、当該貯留容器を順次前記複数の凝固室、冷却室を経由して、凝固したインゴットを搬出するようにしたことを特徴とするものである。
上記のように請求項1に記載の発明に係る結晶製造装置によれば、溶液受け室に隣接して配置した複数の凝固室に昇降テーブル上から貯留容器を移送し、この凝固室で所定時間冷却させた後、該凝固室にそれぞれ隣接して配置した冷却室で常温まで冷却し、その後凝固したインゴットを冷却室から搬出するようにしたことにより、単結晶や多結晶を連続的に低コストで製造できるようになった。
上記のように請求項2に記載の発明に係る結晶製造装置によれば、坩堝本体とは別に設けた原料融液を生成するための原料融解槽から原料融液を坩堝本体に導入し、これを回転攪拌により精製した後、坩堝本体の底部に形成した通孔から流下した原料融液を、坩堝本体下部において貯留容器に収容するようにしたことにより、単結晶や多結晶を連続的に容易かつ良質で製造できるようになった。
また、請求項3に記載の発明に係る結晶製造装置によれば、溶液受け室の各辺にそれぞれ凝固室を配置し、また凝固室にそれぞれ冷却室を隣接配置して、溶液受け室において貯留容器に溶融した原料融液を流下させ、当該貯留容器を順次前記複数の凝固室、冷却室を経由して、凝固したインゴットを搬出するようにしたので、各室の配置が極めて省スペースであり、しかも凝固したインゴットの搬送距離を短くすることができるので、ワークや製造装置におけるトラブルの発生を大幅に低減することができるようになった。
以下、図面に示す実施の形態によりこの発明をより詳細に説明する。
図1はこの発明に係る結晶製造装置の実施の形態の一例を示す概略図である。この例では、シリコン単結晶を製造する場合について説明する。また図2はこの発明に係る結晶製造装置の各室の配置例を示す概略平面図、図3はこの発明に係る結晶製造装置の他の例を示す概略図である。
図1はこの発明に係る結晶製造装置の実施の形態の一例を示す概略図である。この例では、シリコン単結晶を製造する場合について説明する。また図2はこの発明に係る結晶製造装置の各室の配置例を示す概略平面図、図3はこの発明に係る結晶製造装置の他の例を示す概略図である。
図1において加熱炉11は、耐熱性素材からなる筒状の外壁12と、外壁12の内部に高周波加熱手段等を筒状に配設してなる、例えばカーボンヒータ等からなる加熱装置13と、その内部にモリブデン−ランタン合金からなり、その内壁から底部にかけて窒化ケイ素等からなる耐熱性の内張りを配設した筒状の坩堝本体14とで構成されている。15は上記カーボンヒータの電極、16は、坩堝本体14の底部に形成した通孔17に向けて昇降可能とした棒状の開閉弁で、筒状の外壁12上に取り付けた上蓋18中央の貫通孔19にはめ込まれている。棒状の開閉弁16、上蓋18等もカーボン材や窒化ケイ素等からなる耐熱性素材で形成されている。図において20は原料融液の供給口、21は覗き窓である。
上記棒状開閉弁16の周囲には、これを包み込むように取付けた筒状本体101と、該筒状本体101の下部に形成した攪拌翼102とからなる回転攪拌手段が装着されている。この回転攪拌手段もカーボン材等の耐熱性素材からなるものである。
攪拌翼102の回転駆動機構としては、上記筒状本体101の上部に歯車等を取付け、加熱炉11上のハウジング111に設置した駆動モータ103の駆動力を歯車等を介して伝達する構成を採用している。
したがって、駆動モータ103を駆動させて、筒状本体101とともに攪拌翼102を回転させることにより、坩堝本体14内の原料融液25を回転攪拌することができるようになり、酸素や炭素、窒素等に起因する軽元素不純物を坩堝本体14の上方に移動させて、原料融液25の精製度を大幅に向上させ、高品質のインゴットを得ることができるようになる。
104は上記棒状開閉弁16の上端に取り付けた過負荷防止用スプリング、105は押圧調整ハンドルである。
攪拌翼102の回転駆動機構としては、上記筒状本体101の上部に歯車等を取付け、加熱炉11上のハウジング111に設置した駆動モータ103の駆動力を歯車等を介して伝達する構成を採用している。
したがって、駆動モータ103を駆動させて、筒状本体101とともに攪拌翼102を回転させることにより、坩堝本体14内の原料融液25を回転攪拌することができるようになり、酸素や炭素、窒素等に起因する軽元素不純物を坩堝本体14の上方に移動させて、原料融液25の精製度を大幅に向上させ、高品質のインゴットを得ることができるようになる。
104は上記棒状開閉弁16の上端に取り付けた過負荷防止用スプリング、105は押圧調整ハンドルである。
上記坩堝本体14下部において外壁12の底部には、後述する昇降テーブル31とともに貯留容器30を下降させる溶液受け室23が設けられており、その周囲にはこの溶液受け室23を温度調整する温度管理手段、例えば温度管理可能な加熱装置が取り付けられている。24はゲートバルブである。
図2に示すように、溶液受け室23はほぼ方形に形成されており、その側壁開口部分には水平方向にスライド(矢印⇔)するシャッタ34が取り付けられていて、溶液受け室23を開閉自在としている。
溶液受け室23内に配設した昇降テーブル31は、溶液受け室23の下部に配設した操作室32に収納された昇降シリンダ33によって昇降自在となっている。
原料融液25を収容した貯留容器30は、上記昇降テーブル31上に搭載されており、貯留容器30は側壁開口部分に向けて押し出す排出シリンダ(図示せず)によって凝固室41に送り出される。
凝固室41は、上記方形の溶液受け室23に隣接してその各辺ごとに複数配設されており、溶液受け室23の水平方向にスライドするシャッタ34を開放して、当該凝固室41に昇降テーブル31上から原料融液25を収容した貯留容器30を移送し、この凝固室41で所定時間原料融液25を冷却させる。この凝固時間は約20時間程度である。
該凝固室41において貯留容器30内で凝固したインゴットは、貯留容器30に入れたまま、昇降するシャッタ35を開放して、凝固室41にそれぞれ隣接して配置した冷却室42に送り込まれ、ここで常温まで冷却した後、蝶番で解放可能に取り付けた開閉扉36を開放して冷却室42から搬出される。
図において、106は各種機器類を制御するための制御盤、107は制御盤106の前面に設けた操作パネルである。
溶液受け室23内に配設した昇降テーブル31は、溶液受け室23の下部に配設した操作室32に収納された昇降シリンダ33によって昇降自在となっている。
原料融液25を収容した貯留容器30は、上記昇降テーブル31上に搭載されており、貯留容器30は側壁開口部分に向けて押し出す排出シリンダ(図示せず)によって凝固室41に送り出される。
凝固室41は、上記方形の溶液受け室23に隣接してその各辺ごとに複数配設されており、溶液受け室23の水平方向にスライドするシャッタ34を開放して、当該凝固室41に昇降テーブル31上から原料融液25を収容した貯留容器30を移送し、この凝固室41で所定時間原料融液25を冷却させる。この凝固時間は約20時間程度である。
該凝固室41において貯留容器30内で凝固したインゴットは、貯留容器30に入れたまま、昇降するシャッタ35を開放して、凝固室41にそれぞれ隣接して配置した冷却室42に送り込まれ、ここで常温まで冷却した後、蝶番で解放可能に取り付けた開閉扉36を開放して冷却室42から搬出される。
図において、106は各種機器類を制御するための制御盤、107は制御盤106の前面に設けた操作パネルである。
上記図2示すように、この実施例においては方形の溶液受け室23の各辺にそれぞれ凝固室41を配置し、また凝固室41にそれぞれ冷却室42を隣接配置して、溶液受け室23において貯留容器30に溶融した原料融液を流下させ、当該貯留容器30を順次、前記複数の凝固室41、冷却室42を経由させて、凝固したインゴットを搬出するようにしてある。
すなわち、溶液受け室23において貯留容器30に溶融した原料融液を流下させ、当該貯留容器30を順次、第1の凝固室41−1から第1の冷却室42−1へ搬送する。その際の所要時間は20時間以上である。
上記溶液受け室23、および複数の凝固室41、複数の冷却室42はそれぞれ加温あるいは冷却媒体を給送する配管43をその周囲に配設されており、それぞれ所定の温度勾配で冷却するよう構成されている。
すなわち、溶液受け室23において貯留容器30に溶融した原料融液を流下させ、当該貯留容器30を順次、第1の凝固室41−1から第1の冷却室42−1へ搬送する。その際の所要時間は20時間以上である。
上記溶液受け室23、および複数の凝固室41、複数の冷却室42はそれぞれ加温あるいは冷却媒体を給送する配管43をその周囲に配設されており、それぞれ所定の温度勾配で冷却するよう構成されている。
次に溶液受け室23において貯留容器30に溶融した原料融液を流下させ、当該貯留容器30を順次、第2の凝固室41−2から第2の冷却室42−2へ搬送する。そしてその作業を第4の凝固室41−4から第4の冷却室42−4まで繰返す。そうすることによって、貯留容器30に溶融した原料融液を流下させる時間を上記20時間に合わせることなく、効率よく凝固したインゴットを得ることができるようになるのである。
また溶液受け室23、凝固室41、冷却室42の各室の配置が極めて省スペースであり、しかも凝固したインゴットの搬送距離を短くすることができるので、ワークや製造装置におけるトラブルの発生を大幅に低減することができるようになった。
図3はこの発明の結晶製造装置へ原料融液を供給する手段を説明するためのもので、原料を融解させて原料融液を生成するための原料融解槽51が、加熱炉11上のハウジング111に付設されており、粉末化した、あるいは粒状のシリコン素材を融解させて原料融液を生成するようになっている。この原料融解槽51は、上部を開放した耐熱性素材からなる容器状の外壁と、その内部に高周波加熱手段等を筒状に配設してなる加熱装置と、その内部に配設したモリブデン−ランタン合金からなる筒状の坩堝と、その内壁から底部にかけて配設した窒化ケイ素等からなる耐熱性の内張りとで構成されているが、いずれも上記坩堝本体14と同様の構造であるため省略する。
坩堝の底部に形成した通孔に向けて昇降可能とした棒状の開閉弁も同様である。棒状の開閉弁、上蓋52等も窒化ケイ素等からなる耐熱性素材で形成されている。
坩堝の底部に形成した通孔に向けて昇降可能とした棒状の開閉弁も同様である。棒状の開閉弁、上蓋52等も窒化ケイ素等からなる耐熱性素材で形成されている。
加熱炉11およびその上に設けたハウジング111には、各部を取巻くように通路53,54が設置されており、またこの通路53,54への階段55,56も付設されている。
したがって、加熱炉11や原料融解槽51の状況をオペレータが目視で確認することができ、より正確に本製造装置を維持管理することができる。
なお、得ようとするインゴットの外径方向のサイズや厚さは、溶液受け室23の大きさや、加熱炉11に投入する原料融液の投入量によって変えることができ、例えば一般的な単結晶の外径方向のサイズにほぼ等しいものから、より大きいものあるいは小さいもの等や、種々の厚さのインゴットを得ることができる。
したがって、加熱炉11や原料融解槽51の状況をオペレータが目視で確認することができ、より正確に本製造装置を維持管理することができる。
なお、得ようとするインゴットの外径方向のサイズや厚さは、溶液受け室23の大きさや、加熱炉11に投入する原料融液の投入量によって変えることができ、例えば一般的な単結晶の外径方向のサイズにほぼ等しいものから、より大きいものあるいは小さいもの等や、種々の厚さのインゴットを得ることができる。
この結晶製造装置の使用に際しては、次のように操作が行なわれる。
図3に示した原料融解槽51に所定量の原料を投入し、これを融解させて原料融液を生成する。次いで原料融解槽51から原料融液が迅速に加熱炉11に供給される。これらの原料融解槽51および加熱炉11においては、原料および原料融液を融点以上の温度(例えば、1450゜C)に加熱している。
その際、駆動モータ103を駆動させて、筒状本体101とともに攪拌翼102を回転させることにより、坩堝本体14内の原料融液を回転攪拌することができる。そうすることによって、酸素や炭素、窒素等に起因する軽元素不純物を坩堝本体14の上方に移動させることができ、原料融液の精製度を大幅に向上させ、高品質のインゴットを得ることができるようになる。
他方、坩堝本体14下部に設けた溶液受け室23内に昇降テーブル31が配置されており、昇降テーブル31上には貯留容器30が搭載されていて、坩堝本体14の底部に形成した通孔17に臨む状態に、貯留容器30の開口部が位置決めされている。
加熱炉11に供給された原料融液は、棒状開閉弁16を上昇させて通孔17を開放することにより昇降テーブル31上の貯留容器30内に流下し、所定量の原料に応じた厚みに積層される。
図3に示した原料融解槽51に所定量の原料を投入し、これを融解させて原料融液を生成する。次いで原料融解槽51から原料融液が迅速に加熱炉11に供給される。これらの原料融解槽51および加熱炉11においては、原料および原料融液を融点以上の温度(例えば、1450゜C)に加熱している。
その際、駆動モータ103を駆動させて、筒状本体101とともに攪拌翼102を回転させることにより、坩堝本体14内の原料融液を回転攪拌することができる。そうすることによって、酸素や炭素、窒素等に起因する軽元素不純物を坩堝本体14の上方に移動させることができ、原料融液の精製度を大幅に向上させ、高品質のインゴットを得ることができるようになる。
他方、坩堝本体14下部に設けた溶液受け室23内に昇降テーブル31が配置されており、昇降テーブル31上には貯留容器30が搭載されていて、坩堝本体14の底部に形成した通孔17に臨む状態に、貯留容器30の開口部が位置決めされている。
加熱炉11に供給された原料融液は、棒状開閉弁16を上昇させて通孔17を開放することにより昇降テーブル31上の貯留容器30内に流下し、所定量の原料に応じた厚みに積層される。
貯留容器30内に所定の厚みに積層された原料融液は、昇降テーブル31とともに溶液受け室23内に下降し、所定の位置で停止する。
その後、昇降テーブル31上に搭載した原料融液を収容した貯留容器30は、図2に示すように、シャッタ34を開放して側壁開口部分に向けて排出シリンダ(図示せず)によって押し出され、第1の凝固室41−1に送り出される。
昇降テーブル31上から、第1の凝固室41−1内に移送された原料融液を収容した貯留容器30は、この凝固室41−1において所定時間、所定の温度勾配で冷却され、原料融液は凝固したインゴットとなる。この凝固時間は約20時間程度で、結晶が成長する好適な温度勾配をインゴットに与えることができるよう調整する。
該第1の凝固室41−1において貯留容器30内で凝固したインゴットは、貯留容器30に入れたまま、凝固室41−1に隣接して配置した第1の冷却室42−1に送り込まれ、ここで常温まで冷却した後、冷却室42−1から搬出される。
その後、昇降テーブル31上に搭載した原料融液を収容した貯留容器30は、図2に示すように、シャッタ34を開放して側壁開口部分に向けて排出シリンダ(図示せず)によって押し出され、第1の凝固室41−1に送り出される。
昇降テーブル31上から、第1の凝固室41−1内に移送された原料融液を収容した貯留容器30は、この凝固室41−1において所定時間、所定の温度勾配で冷却され、原料融液は凝固したインゴットとなる。この凝固時間は約20時間程度で、結晶が成長する好適な温度勾配をインゴットに与えることができるよう調整する。
該第1の凝固室41−1において貯留容器30内で凝固したインゴットは、貯留容器30に入れたまま、凝固室41−1に隣接して配置した第1の冷却室42−1に送り込まれ、ここで常温まで冷却した後、冷却室42−1から搬出される。
次に、再度溶液受け室23において貯留容器30に溶融した原料融液を流下させ、当該貯留容器30を順次、第2の凝固室41−2から第2の冷却室42−2へ搬送する。そしてその作業を第4の凝固室41−4から第4の冷却室42−4まで繰返す。そうすることによって、貯留容器30に溶融した原料融液を流下させる時間を上記20時間に合わせることなく、効率よく凝固したインゴットを得ることができるようになるのである。
なお、上記実施の形態ではシリコン単結晶を製造する場合を例にとり説明したが、上記構成の結晶製造装置は、シリコン単結晶のみならず、シリコン多結晶、光アイソレータの材料に使用されるルチル、シンチレータの材料に使用されるBGO、BSO、非線形光学材料の一種であるCLBO、圧電・光学材料として知られるLN、LT、等の単結晶製造用としても応用できるものである。
11 加熱炉
12 外壁
13 加熱装置
14 坩堝本体
15 電極
16 棒状開閉弁
17 通孔
18 上蓋
19 貫通孔
21 原料融液の供給口
22 覗き窓
23 溶液受け室
24 ゲートバルブ
25 原料融液
30 貯留容器
31 昇降テーブル
32 操作室
33 昇降シリンダ
34 シャッタ
35 シャッタ
36 開閉扉
41,41−1,41−2,41−3,41−4 凝固室
42,42−1,42−2,42−3,42−4 冷却室
43 配管
51 原料融解槽
52 上蓋
53,54 通路
55,56 階段
101 筒状本体
102 攪拌翼
103 駆動モータ
104 過負荷防止用スプリング
105 押圧調整ハンドル
106 制御盤
107 操作パネル
12 外壁
13 加熱装置
14 坩堝本体
15 電極
16 棒状開閉弁
17 通孔
18 上蓋
19 貫通孔
21 原料融液の供給口
22 覗き窓
23 溶液受け室
24 ゲートバルブ
25 原料融液
30 貯留容器
31 昇降テーブル
32 操作室
33 昇降シリンダ
34 シャッタ
35 シャッタ
36 開閉扉
41,41−1,41−2,41−3,41−4 凝固室
42,42−1,42−2,42−3,42−4 冷却室
43 配管
51 原料融解槽
52 上蓋
53,54 通路
55,56 階段
101 筒状本体
102 攪拌翼
103 駆動モータ
104 過負荷防止用スプリング
105 押圧調整ハンドル
106 制御盤
107 操作パネル
Claims (3)
- 加熱炉内に原料の入った坩堝本体を配置してこれを不活性ガス雰囲気中で酸化を防止しつつ当該原料の融点以上の温度に保ち、坩堝本体の底部に形成した通孔から、坩堝本体下部に配置した溶液受け室内の昇降テーブル上に搭載した貯留容器に溶融した原料融液を流下させた後、昇降テーブルとともに貯留容器を下降させ、その後溶液受け室に隣接して配置した複数の凝固室に昇降テーブル上から貯留容器を移送し、この凝固室で所定時間冷却させた後、該凝固室にそれぞれ隣接して配置した冷却室で常温まで冷却し、その後凝固したインゴットを冷却室から搬出するようにしたことを特徴とする結晶製造装置。
- 加熱炉内に原料の入った坩堝本体を配置してこれを不活性ガス雰囲気中で酸化を防止しつつ当該原料の融点以上の温度に保ち、坩堝本体の底部に形成した通孔から、坩堝本体下部に配置した溶液受け室内の昇降テーブル上に搭載した貯留容器に溶融した原料融液を流下させた後、昇降テーブルとともに貯留容器を下降させ、その後溶液受け室に隣接して配置した複数の凝固室に昇降テーブル上から貯留容器を移送し、この凝固室で所定時間冷却させた後、該凝固室にそれぞれ隣接して配置した冷却室で常温まで冷却し、その後凝固したインゴットを冷却室から搬出するようにした結晶製造装置であって、
原料を融解させて原料融液を生成するための原料融解槽と、
この原料融解槽に原料を供給する原料供給手段と、
当該原料融解槽内の原料融液を前記坩堝本体内に導入する原料融液導入手段と、
坩堝本体内の原料融液を回転攪拌する回転攪拌手段と、
坩堝本体下部において昇降テーブルとともに貯留容器を下降させる溶液受け室を温度調整する温度管理手段とを有する、
ことを特徴とする結晶製造装置。 - 溶液受け室は方形の輪郭を備え、その各辺にそれぞれ凝固室を配置し、また凝固室にそれぞれ冷却室を隣接配置して、溶液受け室において貯留容器に溶融した原料融液を流下させ、当該貯留容器を順次前記複数の凝固室、冷却室を経由して、凝固したインゴットを搬出するようにしたことを特徴とする請求項1または2に記載の結晶製造装置。
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- 2006-08-04 JP JP2006212848A patent/JP2008037686A/ja active Pending
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