JP2008035048A - 周波数比較回路、pll周波数シンセサイザテスト回路及びそのテスト方法 - Google Patents
周波数比較回路、pll周波数シンセサイザテスト回路及びそのテスト方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】NCLP信号の分周信号であるNCLP2信号と、MCLP信号の分周信号であるMCLP2信号とを生成する。次に、MCLP2信号がHレベルのときはNCLP信号をアップ信号としてカウントし、MCLP2信号がLレベルのときはNCLP信号をダウン信号としてカウントし、そのカウント値をQN1、QN0信号で出力する。また、NCLP2信号がHレベルのときはMCLP信号をアップ信号としてカウントし、NCLP2信号がLレベルのときはMCLP信号をダウン信号としてカウントし、そのカウント値をQM1、QM0信号で出力する。そして、QN1、QN0、QM1、QM0の各信号に基づいて、NCLP信号とMCLP信号の各周波数が一致しているか否かを判定する。
【選択図】 図2
Description
図6を参照すると、PLL回路20の入力信号X1の所定サイクル期間にわたり、アップダウンカウンタ24で前記出力信号Φのサイクル数を計数した計数結果が、PLL回路20の逓倍数と前記計数期間とで定められる値(逓倍数保持レジスタ22の値)と一致するか否か比較し、前記計数結果から、前記入力信号X1の次の前記計数期間にわたり、前記出力信号Φを1サイクル計数する毎に減算していった結果が、零値(“0”値保持レジスタ21の値)と一致するか否か比較し、両方の結果が共に一致する時、ロック状態であることを示す判定信号が比較回路23より出力される。
図7を参照すると、第1の入力端子Aと第2の入力端子Bにはそれぞれ周波数を比較するための基準入力信号と被比較入力信号が印加される。第1の入力端子Aに基準入力信号のリーディングエッジ(即ち、パルスの立ち上がり)が到来し、第2の入力端子Bに印加される被比較入力信号のレベルが‘1’に移行しないうちに、基準入力信号のリーディングエッジが再び到来する場合は、SRフリップフロップ30がセットされ端子Gは‘1’のレベルとなる(図8の実線)。また、図8の破線で示すように、基準入力信号のリーディングエッジが到来して、さらに次のリーディングエッジが到来するまでの間に被比較入力信号のリーディングエッジが到来する場合は、SRフリップフロップ30がセットされることはなく、端子Gは‘0’のレベルとなる。
また、第2の従来例では、図9に示すように、被比較入力信号が‘1’のレベルとなった後で基準入力信号のリーディングエッジが到達し、被比較入力信号が‘0’のレベルとなる前に基準入力信号のトレーリングエッジ(即ち、パルスの立下り)が到達するようなタイミングで、基準入力信号及び被比較入力信号が入力端子A及びBにそれぞれ入力されると、これら各信号の周波数が一致しているにも関わらず出力がセットされる(即ち、‘1’のレベルを出力する)期間が発生し、周波数を正しく比較できないおそれがあった(問題点2)。
発明3のPLL周波数シンセサイザテスト回路は、PLL周波数シンセサイザに付随してPLLループの引き込み状態をテストするテスト回路であって、発明1または発明2に記載の周波数比較回路、を有することを特徴とするものである。
図1は、本発明に係るPLL(phase−locked loop)周波数シンセサイザ10の構成例を示す図である。
図1に示すように、PLL周波数シンセサイザ10は、第1の分周期(DIV1)101と、第2の分周期(DIV2)102と、位層周波数比較器(PFC)103と、チャージポンプ(charge pump)104と、ループフィルタ(LPF)105と、電圧制御発振器(VCO)106とを含んだ構成となっている。このPLL周波数シンセサイザ10は、基準クロック(基準信号)を分周器(DIV1)101で分周することによってNCLK信号を生成すると共に、電圧制御発振器(VCO)106の出力Φを分周器(DIV2)102で分周することによってMCLK信号を生成する。そして、これらNCLK信号とMCLK信号とを位層周波数比較器(PFC)103で比較し、この比較の結果に基づいて前記NCLK信号と前記MCLK信号との位相及び周波数が一致するように出力Φを制御する。
また、この実施形態では、PLL周波数シンセサイザ10から周波数比較回路12にNCLK信号及びMCLK信号が入力されるようになっており、これらNCLK信号及びMCLK信号の周波数が一致しているか否かの判定信号が周波数比較回路12から出力されるようになっている。
このような構成を有する周波数比較回路12では、一方の信号の分周信号を、(他方の信号で動作する)2ビットアップダウンカウンタのアップダウン制御信号に用いることで、周波数を比較する動作が実現される。
図4は、NCLK信号の周波数とMCLK信号の周波数とが一致しているときの、周波数比較回路12の回路動作例を示すタイミング図である。図4に示すように、各信号の周波数が一致している場合、MCLK2信号のNCLK信号の立ち下がりエッジにおける状態は、‘1’、‘0’を交互に繰り返す。つまり、2ビットアップダウンカウンタ122の出力QN1、QN0は初期値(QN1=‘0’、QN0=‘1’)の±1の値で変化することになり、QN1=‘1’かつQN0=‘1’の状態に遷移することはない。そのため、図3(a)に示した検出回路124の出力信号ERR1は常に‘0’出力となる。
図5は、NCLK信号の周波数とMCLK信号の周波数とが一致していない(即ち、異なる)ときの、周波数比較回路12の回路動作例を示すタイミング図である。図5に示すように、NCLK信号の周波数がMCLK信号の周波数よりも高い場合、MCLK2信号のNCLK信号の立ち下がりエッジにおける状態は、‘1’あるいは‘0’が連続する状態が存在することになり、2ビットアップダウンカウンタ122はアップ動作あるいはダウン動作を連続して行うことになる。つまり、2ビットアップダウンカウンタ122はQN1=‘1’かつQN0=‘1’を出力することになり、これを受けて検出回路124は出力信号ERR1=‘1’を出力し保持することとなる。これにより、検出回路124の後段に配置されているOR回路129は判定信号‘1’を出力することになるので、NCLK信号の周波数とMCLK信号の周波数とが一致していないことが検知可能となる。
12 周波数比較回路
20 PLL回路
21 “0”値保持レジスタ
22 逓倍数保持レジスタ
23 比較回路
24 アップダウンカウンタ
30 SRフリップフロップ
101 分周器(DIV1)
102 分周器(DIV2)
103 位相周波数比較器(PFC)
104 チャージポンプ(Charge Pump)
105 ループフィルタ(LPF)
106 電圧制御発振器(VCO)
121 2分周回路
122 (第1の)2ビットアップダウンカウンタ1
123 (第2の)2ビットアップダウンカウンタ2
124 (第1の)検出回路
125 (第2の)検出回路
127、128 NOT回路
129 OR回路
Claims (4)
- 第1の信号と第2の信号とを比較してその周波数が一致しているか否かを判定する周波数比較回路であって、
前記第1の信号を分周し、第1の分周信号を生成する第1の分周手段と、
前記第2の信号を分周し、第2の分周信号を生成する第2の分周手段と、
前記第1の信号が入力され、前記第2の分周信号が論理値レベルの一方のときは前記第1の信号をアップ信号としてカウントし、前記第2の分周信号が論理値レベルの他方のときは前記第1の信号をダウン信号としてカウントし、そのカウント値を第1のカウント信号として出力する第1のカウント信号出力手段と、
前記第2の信号が入力され、前記第1の分周信号が論理値レベルの一方のときは前記第2の信号をアップ信号としてカウントし、前記第1の分周信号が論理値レベルの他方のときは前記第2の信号をダウン信号としてカウントし、そのカウント値を第2のカウント信号として出力する第2のカウント信号出力手段と、
前記第1のカウント信号と前記第2のカウント信号とに基づいて、前記第1の信号の周波数と前記第2の信号の周波数とが一致しているか否かを判定する判定手段と、を有することを特徴とする周波数比較回路。 - 前記判定手段によって得られた判定結果を信号として外部に出力する出力手段、をさらに有することを特徴とする請求項1に記載の周波数比較回路。
- PLL周波数シンセサイザに付随してPLLループの引き込み状態をテストするテスト回路であって、
請求項1または請求項2に記載の周波数比較回路、を有することを特徴とするPLL周波数シンセサイザテスト回路。 - PLL周波数シンセサイザに付随してPLLループの引き込み状態をテストする方法であって、
前記PLL周波数シンセサイザによって周波数が制御される第1の信号を分周し、第1の分周信号を生成するステップと、
前記PLL周波数シンセサイザの電圧制御発信器から出力された第2の信号を分周し、第2の分周信号を生成するステップと、
前記第2の分周信号が論理値レベルの一方のときは前記第1の信号をアップ信号としてカウントし、前記第2の分周信号が論理値レベルの他方のときは前記第1の信号をダウン信号としてカウントし、そのカウント値を第1のカウント信号として出力するステップと、
前記第1の分周信号が論理値レベルの一方のときは前記第2の信号をアップ信号としてカウントし、前記第1の分周信号が論理値レベルの他方のときは前記第2の信号をダウン信号としてカウントし、そのカウント値を第2のカウント信号として出力するステップと、
前記第1のカウント信号と前記第2のカウント信号とに基づいて、前記第1の信号の周波数と前記第2の信号の周波数とが一致しているか否かを判定するステップと、を有することを特徴とするPLL周波数シンセサイザのテスト方法。
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JPH1188162A (ja) * | 1997-09-11 | 1999-03-30 | Mitsubishi Electric Corp | 内部クロック信号発生回路装置、内部クロック信号発生方法、およびメモリ装置 |
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JPH112666A (ja) * | 1997-06-13 | 1999-01-06 | Nec Corp | テスト回路 |
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