JP2008021384A - ディスク供給装置及びディスク供給方法 - Google Patents

Abstract

【課題】光ピックアップの検査作業に係る作業工数を短縮しコストを削減する。
【解決手段】ディスク供給装置を備えた光ピックアップ検査装置１は、被検査光ピックアップ２と、信号処理部３と、ディスク供給装置としてのディスク供給部４及びディスク移動部５と、制御部６とを備えている。ディスク供給部４は、各光ディスクについてそれぞれの検査工程に際して連続的にスピンドルに対して供給すると共に、検査完了後にスピンドルから引き上げる。ディスク移動部５は、各光ディスクについてディスク供給部４により供給された所定位置から被検査光ピックアップ２の検査位置まで精度良く搬送する。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ピックアップの特性を実際の光ディスクを用いて検査する光ピックアップ検査装置に対して光ディスクを供給するディスク供給装置及びディスク供給方法に関し、特に検査作業に係る全体の作業工数を短縮しコストを削減することができるディスク供給装置及びディスク供給方法に関する。

近年、複数種類の光ディスクを一つの光ピックアップで読み書きする技術が普及し、これに伴い光ピックアップの検査工程においては、数種類の検査用ディスクを光ピックアップ上で回転させて、光ピックアップの特性が所定の範囲内にあるか否かを検査することが行われている。このような光ピックアップ検査装置は、例えば、つぎのように検査をおこなっている。

即ち、光ピックアップ検査装置は、光ディスクを一定回転させた状態で信号切替スイッチによりフォーカスエラーアンプの出力をフォーカスドライバアンプに印加し、光ディスクが回転により上下に位置変動したずれ量を光ディスクの回転位置に対応したフレームメモリ位置に記憶させる。次に、信号切替スイッチを加算器の信号側に切り替え、フレームメモリに記憶された光ディスクの回転位置に対応する位置変動のずれ量とランプ信号発生回路の信号出力の和をフォーカスドライバアンプに印加する。

そして、光ピックアップ検査装置は、ランプ信号発生回路のランプ信号と光ピックアップから出力されフォーカスエラーアンプにより増幅されたフォーカスエラー信号とによってフォーカスエラー特性を得ることで、簡単な回路で精度良く光ピックアップの検査を行うことができるとされている（例えば、特許文献１参照。）。

特開平９−３０６００６号公報

しかしながら、上述した従来の光ピックアップ検査装置では、一つの光ピックアップを検査するに際して複数種類の光ディスクに対して検査を行う場合、一台の光ピックアップ検査装置において複数種類の光ディスクをその都度交換して検査を行ったり、複数種類の光ピックアップ検査装置を用意して一つの光ピックアップをそれぞれの検査装置に適用して検査を行ったりする必要があった。

このため、前者の場合は、光ディスクとこの光ディスクを回転させるスピンドルとの回転偏芯寸法を所定の寸法に維持しつつ光ディスクを交換しなければならないため、ディスク交換作業に偏芯寸法調整という工程が入ってしまい、検査作業に係る作業工数が増えてしまうと共に作業時間が長引いてしまうという問題がある。また、後者の場合は、光ピックアップ検査装置の台数が光ディスクの種類分必要となると共に光ピックアップの着脱作業が必要となるため、コストアップに繋がってしまうと共に前者の場合と同様に作業工数が増えてしまうという問題がある。

本発明は、このような点に鑑みてなされたもので、光ピックアップの検査作業に係る作業工数を短縮しコストを削減することができるディスク供給装置及びディスク供給方法を提供することを目的とする。

本発明に係る光ピックアップ検査装置は、複数種類の光ディスクに対する情報の読み書きを行う光ピックアップの特性を検査する光ピックアップ検査装置であって、前記光ディスクの中心孔にそれぞれ偏芯量が調整された上で取り付けられたハブと係合し、所定の回転軸を中心として回動する回転アームを複数有し、これらの回転アームを円周方向に回動させると共に垂直方向に移動させて前記光ディスクを前記ハブと嵌合するスピンドルに対して供給するディスク供給手段と、前記ディスク供給手段によって前記ハブと共に前記スピンドルに供給された前記光ディスクを、前記スピンドルごと被検査光ピックアップの検査位置に対して移動させるディスク移動手段と、を備えることを特徴とする。

また、ディスク供給手段は、複数の回転アームにそれぞれ取り付けられた光ディスクのうち、全ての光ディスクのそれぞれについて、回転アームを回動させてハブを所定位置のスピンドル上に配置した後、回転アームを下方に移動させてハブとの係合状態を解除すると共にハブとスピンドルとを嵌合させて光ディスクをスピンドルに対して供給する供給動作と、回転アームの配置状態を保持したまま検査完了後にディスク移動手段によって検査位置から所定位置へスピンドルが移動された後に、回転アームを上方に移動させてハブとスピンドルとの嵌合状態を解除すると共にハブと回転アームとを係合させて光ディスクをスピンドルから引き上げる引上動作とを連続的に行う。

また、回転アームは、例えばアーム先端部にハブと係合するＵ字状に形成されたハブ係合部を有する。また、ハブは、光ディスクの中心孔に挿入されるハブ芯金に対し、光ディスクをハブ芯金と共にクランプするディスククランパが光ディスクの板厚方向に摺動可能に形成されている。ハブは、例えばハブ芯金とディスククランパとによって光ディスクを板厚方向に挟み込んだ状態で光ディスクの中心孔に取り付けられており、スピンドルに対して直接嵌合されるものである。

更に、スピンドルは、ハブとの嵌合部に、当該ハブとの嵌合方向に向かって外周径が小さくなるように形成されたテーパ部を有する。また、ハブは、ハブ芯金におけるスピンドルとの嵌合部に、当該スピンドルとの嵌合方向に向かって内周径が大きくなるように形成されたテーパ面を有する。

本発明に係るディスク供給方法は、複数種類の光ディスクに対する情報の読み書きを行う光ピックアップの特性を検査する光ピックアップ検査装置に対して前記光ディスクを供給するディスク供給方法であって、前記光ディスクの中心孔にそれぞれ偏芯量が調整された上で取り付けられたハブを複数の回転アームにそれぞれ係合し、これらの回転アームを円周方向に回動させると共に垂直方向に移動させて前記ハブと嵌合するスピンドルに対して前記光ディスクを取り付ける取付工程と、前記取付工程によって前記スピンドルに対して取り付けられた前記光ディスクを、前記スピンドルと共に被検査光ピックアップの検査位置に対して移動する移動工程とを含むことを特徴とする。

本発明によれば、ディスク供給手段によって、予めハブにより偏芯量が調整された種々の光ディスクをそれぞれの検査工程に際してスピンドルに対して供給し、ディスク移動手段によって、所定位置で供給された光ディスクをスピンドルごと被検査光ピックアップの検査位置へ自動的に移動させると共に、検査完了後に光ディスクをスピンドルと共に検査位置から所定位置へ自動的に移動させ、ディスク供給手段によって光ディスクをスピンドルから引き上げることを連続的に行って光ピックアップの検査に用いる光ディスクを供給することができる。このため、このディスク供給装置によって、複数種類の光ディスクを一つの光ピックアップ検査装置に対して連続的に供給することができ、光ピックアップの検査作業全体の工数の短縮を実現することができると共にコストの削減を図ることが可能となる。

また、本発明によれば、回転アームの先端部にＵ字状のハブ係合部が設けられているため、光ディスクに取り付けられスピンドルに嵌合されたハブと回転アームとの着脱を容易に行うことが可能となる。また、本発明によれば、ハブのディスククランパがハブ芯金に対して光ディスクの板厚方向に摺動することができるため、寸法精度の異なる光ディスクに対して同一のハブによってクランプすることが可能となる。また、本発明によれば、ハブが、ハブ芯金とディスククランパとによって光ディスクを板厚方向に挟み込んだ状態で光ディスクの中心孔に取り付けられており、スピンドルに対して直接嵌合されるため、光ディスク板面の平坦度などの製造精度にかかわらず、良好に光ディスクを供給することができる。更に、本発明によれば、スピンドルのハブとの嵌合部に、嵌合方向に向かって外周径が小さくなるように形成されたテーパ部が設けられているため、光ディスクの中心とスピンドルの中心との偏芯寸法を所定の寸法に保った状態で光ディスクを回転させて光ピックアップの検査を行うことが可能となる。なお、この場合、ハブのハブ芯金におけるスピンドルとの嵌合部に、嵌合方向に向かって内周径が大きくなるように形成されたテーパ面を設ければ、更に良好に上述した偏芯寸法を所定の寸法に保った状態で検査を行うことが可能となる。

以下、添付の図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。

図１は、本発明の一実施形態に係るディスク供給装置を備えた光ピックアップ検査装置の機能的構成を示すブロック図である。図２は、この光ピックアップ検査装置の一部を示す上面図である。また、図３は、この光ピックアップ検査装置の一部を示す正面図である。図４は、この光ピックアップ検査装置の一部を示す背面図である。

図１に示すように、光ピックアップ検査装置１は、被検査光ピックアップ２と、信号処理部３と、ディスク供給装置としてのディスク供給部４及びディスク移動部５と、制御部６とを備えて構成されている。被検査光ピックアップ２は、例えばＣＤやＤＶＤなどの複数種類の光ディスク（以下、「各光ディスク」と呼ぶ。）を読み書きすることができるレーザダイオードや受光素子などの光学部品を備えている。この被検査光ピックアップ２は、光ピックアップ検査装置１によって、各光学部品の製造精度や各光ディスクからの信号検出精度などが検査される光ピックアップである。

信号処理部３は、被検査光ピックアップ２からの出力信号を入力してサーボエラー信号などを検出するアンプや、Ａ／Ｄ変換器及びＤ／Ａ変換器などを備えている。また、信号処理部３は、図示しない光ピックアップ位置センサなどからの検出信号に基づいて、被検査光ピックアップ２の駆動を制御する制御信号を生成し、後述する制御部６に出力する。この信号処理部３は、光ピックアップ検査装置１における各種信号の処理を行う。

ディスク供給装置のディスク供給部４は、各光ディスクに取り付けられたハブと係合し、所定の中心軸を中心として円周方向に回動すると共に垂直方向に移動して、ハブと嵌合するスピンドルに対して各光ディスクを供給すると共に各光ディスクをスピンドルから引き上げるための後述する複数の回転アームと、これらの回転アームを駆動するアーム駆動部とを備えている。このディスク供給部４によって、各光ディスクはそれぞれの検査工程に際して連続的にスピンドルに対して供給され、検査完了後にスピンドルから引き上げられる。

ディスク移動部５は、各光ディスクに取り付けられたハブと嵌合すると共にこれら各光ディスクを回転させるスピンドルと、ディスク供給部４の回転アームによってハブと共に所定位置のスピンドルに対して供給された各光ディスクを、スピンドルごと被検査光ピックアップ２の検査位置に対して移動させると共に検査位置から所定位置まで戻すように移動させるスピンドル駆動部とを備えている。このディスク移動部５によって、各光ディスクはディスク供給部４により供給された所定位置から被検査光ピックアップ２の検査位置まで精度良く運ばれる。

制御部６は、信号処理部３からの出力信号に基づいて、ディスク供給部４及びディスク移動部５の動作を制御すると共に、光ピックアップ検査装置１の全体を制御するＣＰＵやＲＯＭ、ＲＡＭなどのメモリを備えて構成されている。また、図示は省略するが、制御部６は、信号処理部３からの被検査光ピックアップ２を駆動するための制御信号に基づいて、被検査光ピックアップ２の動作を制御する。この制御部６によって制御されるディスク供給部４及びディスク移動部５からなるディスク供給装置を備えた光ピックアップ検査装置１は、具体的には次のように構成されている。

図２〜図４に示すように、光ピックアップ検査装置１は、ディスク供給部４として、例えば回転軸２２を中心として半径方向に等間隔で放射状に延びる形状で形成された３つの回転アーム２０と、これら回転アーム２０を垂直方向に上下動させるステッピングモータ７と、これら回転アーム２０を回転軸２２を中心として円周方向に回動させるステッピングモータ９とを備えて構成されている。

各回転アーム２０は、そのアーム先端部に、複数種類の光ディスク９０にそれぞれ取り付けられた後述するハブ３０と係合するＵ字状に形成されたハブ係合部２１をそれぞれ備えている。また、各回転アーム２０は、光ピックアップ検査装置１に備えられた制御部６としての制御回路５０によって、フォトセンサ８からの検出信号によりその上下位置が認識されると共に、フォトセンサ１０からの検出信号によりその回転位置が認識される。なお、各回転アーム２０は、電源回路遮断時にこれら回転アーム２０が落下することを防止するためのコイルバネ１３によって、上方に付勢されている。

ここで、制御回路５０は、光ピックアップ検査装置１全体の動作を制御する。また、制御回路５０は、光ピックアップ検査装置１に備えられた反射センサ１１からの検出信号によって、各回転アーム２０を回動させた時に、各回転アーム２０に光ディスク９０が備えられているか否かを判断し、反射センサ１２からの検出信号によって、ハブ３０と嵌合する後述するスピンドル４０に光ディスク９０が供給されたか否かを判断する。これにより、制御回路５０は、各回転アーム２０やスピンドル４０を適切に駆動させて光ディスク９０を連続的に供給させることが可能となる。

ハブ３０は、各光ディスク９０の交換作業を簡易化するために、各光ディスク９０の中心孔に予めディスクの偏芯量が調整された上で取り付けられている。スピンドル４０は、各光ディスク９０を被検査光ピックアップ２の検査位置において回転させるための回転軸の役割を担い、スピンドル基台部４８上に配置され、このスピンドル基台部４８と共にガイドレール４９上を、図示しないモータの駆動力によって図２及び図３中矢印で示す方向に移動する。これらハブ３０とスピンドル４０とは、それぞれの中心点が自動的に合致するような自動調芯機能を備えて構成されている。ハブ３０やスピンドル４０の構成と回転アーム２０及びスピンドル４０の動作については後述する。

なお、光ピックアップ検査装置１は、各ステッピングモータ７，９などを制御回路５０からのパルス信号によって位置決めするためのモータ用ドライバ１４と、スピンドル４０上に取り付けられた光ディスク９０に対する検査が行われる被検査光ピックアップ２を有するピックアップユニット９１とを備え、制御回路５０は、外部のモニタやパーソナルコンピュータなどの他の装置との間の通信や、光ピックアップ検査装置１を構成する各構成部への電力供給などを行うポート１５を備えている。また、ピックアップユニット９１は光ピックアップ検査装置１に対して着脱自在に設けられている。

図５及び図６は、ハブ３０とスピンドル４０との構成を説明するための断面図である。なお、図５はハブ３０とスピンドル４０とが嵌合した状態を示し、図６はハブ３０とスピンドル４０とが離脱した状態を示している。図５及び図６に示すように、ハブ３０は、各光ディスク９０の中心孔に挿入され光ディスク９０を下面側から押えるハブ芯金３１と、このハブ芯金３１と共に光ディスク９０を上面側から押えてクランプするディスククランパ３３と、このディスククランパ３３の外周側に設けられ、永久磁石などからなるマグネット３２が備えられたディスク押え３４と、ハブ芯金３１及びディスククランパ３３をボルト３６，３７によって一体的に接続するための上蓋３５とを備えて構成されている。

なお、ディスク押え３４のマグネット３２が設けられた部分以外の外周部に対して各回転アーム２０のハブ係合部２１が嵌り、上蓋３５と共に係合することで各光ディスク９０は回転アーム２０に取り付けられる構造となっている。また、ディスク押え３４は、マグネット３２と共にディスククランパ３３の外周側において上下方向に多少移動することができるように、遊びを持たせて取り付けられている。

また、ディスククランパ３３は、光ディスク９０の厚さ誤差に対応するために、ハブ芯金３１に対して光ディスク９０の厚さ方向（即ち、上下方向）に摺動可能に接続されている。このように、ハブ芯金３１とディスククランパ３３とによって光ディスク９０をその板厚方向に挟み込んだ状態でハブ３０が光ディスク９０の中心孔に取り付けられており、後述するようにスピンドル４０に対してハブ３０が直接嵌合されるため、光ディスク９０板面の平坦度などの製造精度にかかわらず、良好に光ディスク９０を供給することができる。また、製造誤差のある光ディスク９０に対しても、このハブ３０を同様に適用することができ、容易に偏芯量を調整することが可能となる。更に、ハブ芯金３１のスピンドル４０との嵌合側開口部には、後述するスピンドル４０の円錐部４４との嵌合方向に向かって徐々に内周径が大きくなるように形成されたテーパ面３８が設けられている。

一方、スピンドル４０は、回転軸となるスピンドル軸４２と、このスピンドル軸４２の外周側に取り付けられた円錐部４４と、この円錐部４４の外周側に設けられたチャッキング部４３とを備えて構成されている。円錐部４４は、上述したハブ３０のハブ芯金３１と直接嵌合する部材であり、この円錐部４４は、チャッキング部４３の凹状内部空間において、コイルバネ４１によって上下方向に揺動自在に配設されている。

また、円錐部４４のハブ芯金３１との嵌合側端部には、上述したテーパ面３８と当接するように、ハブ芯金３１との嵌合方向に向かって徐々に外周径が小さくなるように形成されたテーパ部４７が設けられている。これらテーパ面３８及びテーパ部４７と、コイルバネ４１とにより、光ディスク９０の中心とスピンドル軸４２の中心との偏芯寸法が所定の寸法内に保たれるため、ディスク偏芯などの精度誤差の少ない検査を実現することが可能となる。また、ハブ３０のディスク押え３４とスピンドル４０のチャッキング部４３とは、マグネット３２によって良好に吸着され、光ディスク９０はスピンドル４０に対して確実に取り付けられる。次に、回転アーム２０とスピンドル４０との動作による光ピックアップ検査工程における光ディスク９０の供給動作について説明する。

図７〜図９は、光ディスク９０の供給動作を説明するための図である。まず、図７（Ａ）に示すように、光ピックアップ検査装置１の制御回路５０によって、ステッピングモータ９を駆動して光ディスク９０に取り付けられたハブ３０とハブ係合部２１が係合した状態の回転アーム２０を所定位置に配置されたスピンドル４０上に移動させる。そして、ステッピングモータ７を駆動して図中白抜き矢印で示す方向（下方）へ回転アーム２０を移動させる。

回転アーム２０を下方へ移動させ、ハブ３０とスピンドル４０とを嵌合させると、自動的に光ディスク９０の中心とスピンドル４０の中心とが調芯されると共に、図７（Ｂ）に示すように、回転アーム２０のハブ係合部２１とハブ３０との係合状態が解除される。その後、制御回路５０によって、図示しないモータを駆動して光ディスク９０が取り付けられたスピンドル４０を図中白抜き矢印で示す方向へ移動させ、ピックアップユニット９１の検査位置へ光ディスク９０を搬送し、スピンドル軸４２を回転させて被検査光ピックアップ２のフォーカスエラー検査やサーボ検査などの各種検査を行う。このとき、回転アーム２０は、ハブ３０との係合状態が解除された時の配置状態を保持したままとなるように駆動制御される。

各種検査が完了した後、図８に示すように、制御回路５０によって、図示しないモータを駆動して光ディスク９０が取り付けられたスピンドル４０を図中白抜き矢印で示す方向へ移動させ、ピックアップユニット９１の検査位置から回転アーム２０が配置された所定位置へ光ディスク９０を搬送する。そして、図９（Ａ）に示すように、ハブ３０と回転アーム２０のハブ係合部２１とが当接する状態までスピンドル４０を戻した後、制御回路５０によって、ステッピングモータ７を駆動して図中白抜き矢印で示す方向（上方）へ回転アーム２０を移動させる。

回転アーム２０を上方へ移動させ、ハブ３０とハブ係合部２１とを係合させると、図９（Ｂ）に示すように、ハブ３０とスピンドル４０との嵌合状態が解除され光ディスク９０が引き上げられて再び回転アーム２０に取り付けられる。その後、制御回路５０によって、ステッピングモータ９を駆動して光ディスク９０が引き上げられた状態の回転アーム２０を図中白抜き矢印で示す方向に回動させ、他の光ディスク９０が取り付けられた回転アーム２０を所定位置に配置されたスピンドル４０上に移動させる。

このような動作を各回転アーム２０に取り付けられた各光ディスク９０の検査工程において連続的に行うことにより、各光ディスク９０の交換作業や被検査光ピックアップ２の交換作業などを行うことなく、一つの光ピックアップ検査装置１において複数種類の光ディスク９０を用いて被検査光ピックアップ２の検査を行うことが可能となる。これにより、検査作業全体の作業工数や作業時間を短縮することができ、コストの削減を図ることが可能となる。

図１０は、ハブ３０とスピンドル４０との他の構成を説明するための断面図である。図１０に示すように、ここでは、光ディスク９０を下面側から押えるハブ芯金３１が、スピンドル４０のチャッキング部４３と直接当接するように、光ディスク９０を押える部分が光ディスク９０の外周側へ広がる形状で形成され、マグネット３２がこの広がった部分のチャッキング部４３と当接する箇所に設けられている点と、ディスククランパ３３およびディスク押え３４が一体化されたディスク押え３４Ａとなっている点とが、上述した構成とは相違している。このようにすれば、光ディスク９０の板面の平坦度などの製造精度にかかわらず、比較的製造精度が安定しているハブ３０とスピンドル４０とを当接させて光ディスク９０を間に介さずに直接嵌合させる構造を実現することができる。このため、スピンドル４０に対するハブ３０の取付再現性が良好で、一定の偏芯寸法内において光ディスク９０を回転させて検査を行うことが可能となる。

なお、上述した実施の形態のディスク供給装置を備えた光ピックアップ検査装置１は、外部のモニタやパーソナルコンピュータなどの他の装置と別体構成であるとして説明したが、これらの他の装置を一体的に備えている構成としても良い。また、被検査光ピックアップ２は、ＣＤやＤＶＤの他、ＨＤＤＶＤやＢｌｕ-ｒａｙＤｉｓｃなどのいわゆる次世代ＤＶＤと呼ばれるものに適用できるものであっても良い。

本発明の一実施形態に係るディスク供給装置を備えた光ピックアップ検査装置の機能的構成を示すブロック図である。 同光ピックアップ検査装置の一部を示す上面図である。 同光ピックアップ検査装置の一部を示す正面図である。 同光ピックアップ検査装置の一部を示す背面図である。 ハブとスピンドルとの構成を説明するための断面図である。 ハブとスピンドルとの構成を説明するための断面図である。 光ディスクの供給動作を説明するための図である。 光ディスクの供給動作を説明するための図である。 光ディスクの供給動作を説明するための図である。 ハブとスピンドルとの他の構成を説明するための断面図である。

符号の説明

１…光ピックアップ検査装置、２…被検査光ピックアップ、３…信号処理部、４…ディスク供給部、５…ディスク移動部、６…制御部、７，９…ステッピングモータ、８，１０…フォトセンサ、１１，１２…反射センサ、１３，４１…コイルバネ、１４…モータ用ドライバ、１５…ポート、２０…回転アーム、２１…ハブ係合部、２２…回転軸、３０…ハブ、３１…ハブ芯金、３２…マグネット、３３…ディスククランパ、３４，３４Ａ…ディスク押え、３５…上蓋、３８…テーパ面、４０…スピンドル、４２…スピンドル軸、４３…チャッキング部、４４…円錐部、４７…テーパ部

Claims (8)

1. 複数種類の光ディスクに対する情報の読み書きを行う光ピックアップの特性を検査する光ピックアップ検査装置に対して前記光ディスクを供給するディスク供給装置であって、
   前記光ディスクの中心孔にそれぞれ偏芯量が調整された上で取り付けられたハブと係合し、所定の回転軸を中心として回動する回転アームを複数有し、これらの回転アームを円周方向に回動させると共に垂直方向に移動させて前記光ディスクを前記ハブと嵌合するスピンドルに対して供給するディスク供給手段と、
   前記ディスク供給手段によって前記ハブと共に前記スピンドルに供給された前記光ディスクを、前記スピンドルごと被検査光ピックアップの検査位置に対して移動させるディスク移動手段とを備える
   ことを特徴とするディスク供給装置。
2. 前記ディスク供給手段は、
   前記複数の回転アームにそれぞれ取り付けられた前記光ディスクのうち、全ての光ディスクのそれぞれについて、
   前記回転アームを回動させて前記ハブを所定位置の前記スピンドル上に配置した後、前記回転アームを下方に移動させて前記ハブとの係合状態を解除すると共に前記ハブと前記スピンドルとを嵌合させて前記光ディスクを前記スピンドルに対して供給する供給動作と、
   前記回転アームの配置状態を保持したまま検査完了後に前記ディスク移動手段によって前記検査位置から前記所定位置へ前記スピンドルが移動された後に、前記回転アームを上方に移動させて前記ハブと前記スピンドルとの嵌合状態を解除すると共に前記ハブと前記回転アームとを係合させて前記光ディスクを前記スピンドルから引き上げる引上動作とを連続的に行う
   ことを特徴とする請求項１記載のディスク供給装置。
3. 前記回転アームは、アーム先端部に前記ハブと係合するＵ字状に形成されたハブ係合部を有することを特徴とする請求項１又は２記載のディスク供給装置。
4. 前記ハブは、前記光ディスクの中心孔に挿入されるハブ芯金に対し、前記光ディスクを前記ハブ芯金と共にクランプするディスククランパが前記光ディスクの板厚方向に摺動可能に形成されていることを特徴とする請求項１から請求項３のうちいずれか１項記載のディスク供給装置。
5. 前記ハブは、前記ハブ芯金と前記ディスククランパとによって前記光ディスクを前記板厚方向に挟み込んだ状態で前記光ディスクの中心孔に取り付けられており、前記スピンドルに対して直接嵌合されるものであることを特徴とする請求項４記載のディスク供給装置。
6. 前記スピンドルは、前記ハブとの嵌合部に、当該ハブとの嵌合方向に向かって外周径が小さくなるように形成されたテーパ部を有することを特徴とする請求項１から請求項５のうちいずれか１項記載のディスク供給装置。
7. 前記ハブは、前記ハブ芯金における前記スピンドルとの嵌合部に、当該スピンドルとの嵌合方向に向かって内周径が大きくなるように形成されたテーパ面を有することを特徴とする請求項６記載のディスク供給装置。
8. 複数種類の光ディスクに対する情報の読み書きを行う光ピックアップの特性を検査する光ピックアップ検査装置に対して前記光ディスクを供給するディスク供給方法であって、
   前記光ディスクの中心孔にそれぞれ偏芯量が調整された上で取り付けられたハブを複数の回転アームにそれぞれ係合し、これらの回転アームを円周方向に回動させると共に垂直方向に移動させて前記ハブと嵌合するスピンドルに対して前記光ディスクを取り付ける取付工程と、
   前記取付工程によって前記スピンドルに対して取り付けられた前記光ディスクを、前記スピンドルと共に被検査光ピックアップの検査位置に対して移動する移動工程とを含む
   ことを特徴とするディスク供給方法。

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