JP2008015202A - 表示パネルおよび表示パネル検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】簡易に電気的特性を評価できる表示パネルおよび表示パネル検査方法を提供すること。
【解決手段】駆動基板および対向基板の間に電気光学材料ＬＶが封入された表示パネル１であって、駆動基板には、複数の走査線Ｖおよび複数の信号線Ｈと、信号線Ｈの電荷を電気光学材料ＬＶに印加する画素電極ＰＥと、走査線Ｖに接続され、画素電極ＰＥへの印加状態を切り替えるスイッチング素子２１と、検査装置３からの検査信号に応じて電気光学材料の保持電荷の出力状態を切り替える出力状態切替部２２と、走査線に係る出力状態切替部２２により前記保持電荷が出力される電荷出力線ＤＬとが設けられ、各電荷出力線ＤＬには、走査信号が入力すると、当該電荷出力線ＤＬに出力された保持電荷を検査装置３に導通させる導通状態切替部２３と、導通状態切替部２３から延出する電荷出力線ＤＬをまとめる出力線統合部２４とが設けられている。
【選択図】図１

Description

本発明は、表示パネルおよび表示パネル検査方法に関する。

従来、入力する画像情報に応じた画像を形成表示する表示パネルが知られている。このような表示パネルとして、互いに対向する駆動基板および対向基板の間に電気光学材料を密閉封入した構成が知られており、アクティブマトリクス方式の駆動方式を採用した表示パネルが知られている。

このアクティブマトリクス方式の表示パネルは、走査線に接続されたＴＦＴ（Thin Film Transistor）等のスイッチング素子により、信号線から画素電極への電圧印加状態を切り替える表示パネルである。具体的に、スイッチング素子にＴＦＴを用いたアクティブマトリクス方式の表示パネルでは、当該ＴＦＴのゲートは、走査線に接続され、当該走査線を介して走査信号としての所定の電圧が印加されると、ＴＦＴのソース−ドレイン間がローインピーダンス状態となり、当該ソース−ドレイン間を電流が導通する。そして、ＴＦＴのソースは信号線に接続され、ドレインは画素電極に接続されており、当該ソース−ドレイン間がローインピーダンス状態となった際に、信号線に映像信号としての所定の電圧を印加すると、当該電圧に係る電流が画素電極に導通し、電気光学材料に印加される。このような表示パネルにおいては、画素電極に対応する部分が１つの画素とされている。なお、スイッチング素子としてＴＦＴを採用した場合には、画素電極に電気光学材料とともに接続される保持容量を設ける構成が知られている。

このような表示パネルにおいては、電気光学材料の電荷保持が不十分であるなどの欠陥画素が生じてしまう可能性があり、表示パネルの電気的特性を評価する必要がある。
このような評価方法として、保持容量に充電された電荷量を読み取るための線を設け、当該線に外部機器を接続して電荷量を測定する方法が知られている（例えば、特許文献１参照）。

この特許文献１に記載の評価方法は、有機ＥＬ（ElectroLuminescence）ディスプレイの評価を行う方法であるが、当該評価方法では、有機ＥＬの１画素に対する駆動電流値と放電電流値との差を測定して画素の欠陥を評価する。
具体的に、この有機ＥＬディスプレイでは、各画素の駆動時の電流（駆動電流）の電流値と、放電時の電流（放電電流）との動作電流差を算出する。そして、当該動作電流差と平均的な動作電流差とを比較して、それぞれの差が所定レベル範囲内を逸脱する場合には、欠陥画素と判定する。このようにして、有機ＥＬディスプレイの画素検査を行うことができる。

特開２００２−４００７４号公報

しかしながら、特許文献１に記載のディスプレイでは、検査装置に接続される電圧供給線が走査線の数に応じて設けられているため、構成が複雑となるだけでなく、それぞれの電圧供給線を検査装置に接続する必要があるため、検査工程が煩雑になるという問題がある。特に、近年のディスプレイは、小型化および高精細化が進んでおり、走査線ごとに電圧供給線を設け、当該電圧供給線のそれぞれを検査装置に接続することは、物理的に困難であるという問題がある。

本発明の目的は、より簡易に電気的特性の評価を行うことのできる表示パネルおよび表示パネル検査方法を提供することである。

前記した目的を達成するために、本発明の表示パネルは、互いに対向する駆動基板および対向基板と、これら基板間に封入される電気光学材料とを備え、画像を形成表示する表示パネルであって、前記駆動基板には、互いに略直交する複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および前記複数の信号線の各交差部近傍に配置され、前記信号線に出力された電荷を前記電気光学材料に印加する複数の画素電極と、前記走査線に接続され、前記信号線から前記画素電極への電荷の印加状態を切り替える複数のスイッチング素子と、当該表示パネルを検査する検査装置に接続され、当該検査装置から入力する検査信号に応じて、前記電気光学材料の保持電荷の出力状態を切り替える複数の出力状態切替部と、前記走査線に応じて設けられ、当該走査線に係る前記出力状態切替部により、前記電気光学材料の保持電荷が出力される複数の電荷出力線とが設けられ、前記各電荷出力線には、当該電荷出力線に前記保持電荷を出力する前記出力状態切替部に係る前記走査線の後に走査信号が出力される前記走査線に接続され、走査信号が入力すると、当該電荷出力線に出力された前記保持電荷を導通する導通状態切替部と、前記各導通状態切替部から延出する前記各電荷出力線のうち少なくとも２つをまとめる出力線統合部とが設けられていることを特徴とする。

このような表示パネルとして、電気光学材料として液晶が採用された液晶パネルや、ジアミンやアントラセン等の有機物が採用された有機ＥＬパネルを例示することができる。
本発明によれば、検査装置から検査信号が入力すると、表示パネルの各出力状態切替部は、電荷出力線への電気光学材料の保持電荷の出力状態に切り替わる。しかしながら、各電荷出力線に設けられた導通状態切替部に接続された走査線に走査信号が入力していない場合には、当該導通状態切替部を電気光学材料の保持電荷が導通せず、当該保持電荷に係る電流は、検査装置に出力されない。

ここで、各走査線に走査信号が順次入力し、また、各信号線に映像信号が入力する過程で、走査信号が入力したスイッチング素子および画素電極を介して、映像信号に係る電荷が電気光学材料に印加されて保持される。この際、当該走査線に走査信号が出力される前に走査信号が出力された走査線に対してスイッチング素子、画素電極および出力状態切替部を介して接続された導通状態切替部に走査信号が出力されるので、当該導通状態切替部の導通状態が切り替わる。このため、電気光学材料の保持電荷が、出力状態切替部および導通状態切替部を介して、電荷出力線を導通する。

この保持電荷が出力された電荷出力線は、出力線統合部により、他の電荷出力線とまとめられており、当該保持電荷に係る電流は、出力線統合部を介して、検査装置に出力される。そして、当該電流の値を、検査装置が測定および評価することにより、表示パネルの１ラインの電気的特性を評価することができる。
このような電気光学材料への電荷の印加は、各走査線および各信号線に対する走査信号および映像信号が出力される毎に行われ、また、導通状態切替部における保持電荷の導通状態の切り替えは、同じく、各走査線に対して走査信号が出力されるごとに行われる。このため、各走査線に走査信号が出力されるごとに、当該走査線の前に走査信号が出力された走査線に係る電気光学材料の保持電荷が、出力状態切替部および導通状態切替部を導通して、電荷出力線を介して検査装置に出力される。

すなわち、所定の走査線に走査信号が印加されると、当該所定の走査線に係る電気光学材料に信号線からの電荷が保持され、この走査線の後に走査信号が出力される走査線に走査信号が出力されると、当該電気光学材料の保持電荷に係る電流が、検査装置に出力される。
これによれば、検査装置が入力する電流の値を測定することにより、当該値の変化を指標として、表示パネルの電気光学材料の電荷保持に係る異常等を検出することができる。従って、走査線に応じた表示パネルの電気的特性を、当該走査線に係る各電気光学材料を備えて形成されるライン毎に評価することができ、表示パネルの良否を適切に検査することができる。

また、このような表示パネルと検査装置とは、各走査線および各信号線のほかに、表示パネルに検査信号が入力する端子と、出力線統合部によりまとめられた電荷出力線を接続し、電荷出力線を導通した電流を検査装置に出力する端子とにより接続される。
このうち、検査信号が入力する端子は、当該検査信号は各出力状態切替部に対して同時に出力してもよいため、各出力状態切替部のそれぞれと検査装置とを個別に接続する必要はない。このため、出力状態切替部に接続される端子数を削減することができる。また、電荷出力線に接続される端子は、出力線統合部によりまとめられた電荷出力線を含めて接続されるので、前述の特許文献１に記載のディスプレイのように、出力線統合部によりまとめられる前の電荷出力線のそれぞれと検査装置とを個別に接続する場合に比べ、当該電荷出力線に接続される端子数を削減することができる。

これによれば、表示パネルにおいて、走査線および信号線以外に検査装置に接続される端子数を削減することができるので、表示パネルと検査装置とを容易に接続することができる。従って、表示パネルの検査工程を簡略化することができる。
また、これにより、小型の表示パネルおよび高精細な表示パネルに対しても、当該表示パネルと検査装置とを容易かつ適切に接続することができる。従って、表示パネルの電気的特性を適切かつ確実に検査することができ、表示パネルの小型化および高精細化を促進することができる。

本発明では、前記検査信号の入力に応じて、前記走査線に応じて設けられた前記各出力状態切替部による前記保持電荷の出力状態をそれぞれ独立して切り替える切替手段を備えることが好ましい。
本発明によれば、切替手段により、各出力状態切替部による電気光学材料の保持電荷の出力状態をそれぞれ独立して制御することができるので、各出力状態切替部から、電気光学材料に保持された電荷を、それぞれ個別に出力することができる。すなわち、所定の走査線に係る各出力状態切替部から電気光学材料の保持電荷が一度に出力されるのではなく、切替手段が各出力状態切替部の保持電荷の出力状態を個別に切り替えることにより、当該各出力状態切替部から電気光学材料の保持電荷を、それぞれ個別に検査装置に出力することができる。従って、各出力状態切替部に接続された電気光学材料や画素電極等における充放電に係る電気的特性を、表示パネルの画素ごとに評価することができる。

本発明では、前記導通状態切替部は、前記走査線に接続されるゲートと、当該ゲートに走査信号が印加される前記走査線より前に走査信号が印加される前記走査線に係る前記出力状態切替部に接続されるソースと、前記出力線統合部に接続されるドレインと、を有するトランジスタで構成されることが好ましい。

本発明によれば、導通状態切替部としてのトランジスタのゲートに走査線を介して走査信号が入力した際に、当該走査線より前に走査信号が印加される走査線に係る出力状態切替部に接続されたソース、および、出力線統合部に接続されたドレインの間の電流の導通が許容される。この際、当該トランジスタのゲートに走査信号が印加された場合には、ソースに出力状態切替部を介して接続された電気光学材料には、電荷が既に保持されているので、走査信号の印加によってローインピーダンス状態となったトランジスタのソース−ドレイン間を電気光学材料の保持電荷が導通し、当該保持電荷に係る電流が、出力線統合部を介して電荷出力線から検査装置に出力される。一方、走査信号がゲートに印加されていない場合には、当該トランジスタのソース−ドレイン間は、ハイインピーダンス状態となるので、電気光学材料の保持電荷に係る電流は、ソース−ドレイン間を導通せず、検査装置には出力されない。

これによれば、走査線に走査信号が順次印加されるごとに、各電荷出力線にそれぞれ設けられたトランジスタにおける電気光学材料の保持電荷の導通状態を切り替えることができ、当該保持電荷に係る電流の検査装置への出力状態を順次切り替えることができる。このため、それぞれの電荷出力線に出力された電流を、表示パネルのラインごとに確実に検査装置に出力することができ、当該電流の値を評価することにより、適切に表示パネルの電気的特性を評価することができる。
従って、導通状態切替部を簡易に構成することができるだけでなく、検査装置への保持電荷に係る電流の導通状態を確実に切り替えることができる。また、これにより、保持電荷に係る電流が出力される電荷出力線を選択して検査装置に接続するような構成を設ける必要がなく、適切かつ確実に、電気光学材料の保持電荷に係る電流を、検査装置に自動的に順次出力することができる。

本発明では、前記出力状態切替部は、前記検査信号に係る信号が入力するゲートと、前記画素電極に接続されるソースと、前記導通状態切替部に接続されるドレインとを有するトランジスタで構成されることが好ましい。
本発明によれば、出力状態切替部としてのトランジスタのゲートに、検査装置から出力された検査信号に係る信号が入力することにより、画素電極に接続されたソースと、導通状態切替部に接続されたドレインとの間をローインピーダンス状態とすることができ、当該ソース−ドレイン間の電流の導通が許容される。ここで、電気光学材料に電荷が保持された状態で、当該トランジスタのゲートに信号が印加され、ソース−ドレイン間がローインピーダンス状態となると、当該トランジスタのソースに接続された画素電極を介して、電気光学材料の保持電荷に係る電流がソース−ドレイン間を導通し、電荷出力線を介して導通状態切替部に出力される。

これによれば、ソース−ドレイン間をローインピーダンス状態として電気光学材料の保持電荷を検査装置に出力する検査状態と、当該ソース−ドレイン間をハイインピーダンス状態にして電荷の放出を抑え、通常の画像形成を行わせる通常駆動状態とを切り替える出力状態切替部を、簡易に構成することができる。また、このようなトランジスタを設けることにより、これら各状態の切り替えを確実に行うことができる。従って、表示パネルを簡易に構成することができるとともに、当該表示パネルの電気的特性検査における信頼性の向上、および、表示パネルの汎用性を向上することができる。

あるいは、本発明の表示パネル検査方法は、互いに対向する駆動基板および対向基板と、これら基板間に密閉封入される電気光学材料とを備え、画像を形成表示する表示パネルを検査する検査装置により実行され、前記表示パネルの良否を検査する表示パネル検査方法であって、前記駆動基板には、互いに略直交する複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および前記複数の信号線の各交差部近傍に配置され、前記信号線に出力された電荷を前記電気光学材料に印加する複数の画素電極と、前記走査線に接続され、前記信号線から前記画素電極への電荷の印加状態を切り替える複数のスイッチング素子と、前記検査装置に接続され、当該検査装置から入力する検査信号に応じて、前記電気光学材料の保持電荷の出力状態を切り替える複数の出力状態切替部と、前記走査線に応じて設けられ、当該走査線に係る前記出力状態切替部により、前記電気光学材料の保持電荷が出力される複数の電荷出力線とが設けられ、前記各電荷出力線には、当該電荷出力線に前記保持電荷を出力する前記出力状態切替部に係る前記走査線の後に走査信号が出力される前記走査線に接続され、走査信号が入力すると、当該電荷出力線に出力された前記保持電荷を導通する導通状態切替部と、前記各導通状態切替部から延出する前記各電荷出力線のうち少なくとも２つをまとめる出力線統合部とが設けられ、前記検査信号を出力して、前記複数の出力状態切替部のうち、少なくともいずれかを前記保持電荷の出力状態に切り替える検査信号出力ステップと、複数の走査線に走査信号を順次出力する走査信号出力ステップと、前記信号線に所定の電荷を印加する信号線電荷出力ステップと、前記電荷出力線に出力された電荷に係る電流の値を測定する値測定ステップとを実行することを特徴とする。

本発明によれば、前述の表示パネルと同様の効果を奏することができる。
すなわち、検査信号出力ステップで、検査信号を出力することにより、各画素電極に接続された出力状態切替部を、当該画素電極により電荷が印加される電気光学材料により保持された電荷を出力させる電荷出力状態（検査状態）に切り替える。そして、走査信号出力ステップで、各走査線に走査信号を順次出力し、信号線電荷出力ステップにて、信号線に電荷を印加することで、電気光学材料に電荷が保持される。この際、走査線に走査信号が順次出力されることで、電荷を保持した電気光学材料に接続された画素電極および出力状態切替部に係る電荷出力線に設けられた導通状態切替部が、導通状態に切り替わる。このため、電気光学材料に保持された電荷が、当該導通状態切替部を導通して、電荷出力線を介して、検査装置に出力される。そして、当該電荷に係る電流の値を、値測定ステップにて、検査装置が測定することにより、表示パネルにおける各走査線に係るラインの電気的特性を適切に評価することができる。

また、この際、前述のように、表示パネルと検査装置とは、各走査線および各信号線のほかに、表示パネルに検査信号が入力する端子と、統合された電荷出力線を含む電荷出力線に接続され、かつ、電気光学材料に保持された電荷が検査装置に出力される端子とによって接続される。
これによれば、表示パネルにおける各出力状態切替部および各導通状態切替部を、検査装置にそれぞれ個別に接続せずに、表示パネルと検査装置との接続に係る端子数を少なくすることができる。従って、表示パネルと検査装置との接続を容易に行うことができるので、表示パネルの検査工程を簡略化することができる。また、少ない端子数で表示パネルと検査装置とを接続できるので、表示パネルが小型である場合や、高精細な場合でも、当該表示パネルと検査装置とを適切に接続して検査することができる。従って、表示パネルの小型化および高精細化を促進することができる。

〔１．第１実施形態〕
以下、本発明の第１実施形態を図面に基づいて説明する。
（１）全体構成
図１は、本実施形態の表示パネル１の構成を示す模式図である。
表示パネル１は、外部から入力する画像情報に応じた走査信号および映像信号に応じた画像を形成表示する一方で、検査装置３から入力する検査信号、走査信号および映像信号に応じて駆動し、各ラインに保持された電荷を出力するものである。また、検査装置３は、表示パネル１に対して走査信号および映像信号とともに後述する検査信号を出力し、表示パネル１から出力される電流の値に基づいて、当該表示パネル１の電気的特性を評価して、良否を検査するものである。なお、検査装置３の構成については、後に詳述する。

（２）表示パネル１の構成
表示パネル１は、本実施形態では液晶パネルで構成され、詳しい図示を省略したが、筐体内に配置された一対の透明基板と、当該透明基板およびスペーサ等によって仕切られたセルとを有し、当該セル内には電気光学材料としての液晶が密閉封入されている。
これら一対の透明基板のうち、一方の透明基板は駆動基板とされ、当該駆動基板には、図１に示すように、互いに略直交する複数の走査線Ｖ（走査信号が印加される順に、Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ０とする）および複数の信号線Ｈ（Ｈ１〜Ｈ３）とが設けられている。これら走査線Ｖおよび信号線Ｈは、後述する検査装置３の走査線接続端子３１１および信号線接続端子３１２（それぞれ図２参照）に接続される。

走査線Ｖ（走査線Ｖ０を除く）と信号線Ｈとの各交差部近傍には、セルに封入された液晶（液晶容量ＬＶ）に映像信号としての電圧を印加する画素電極ＰＥが、複数形成されている。これら画素電極ＰＥは、ＩＴＯ（Indium Tin Oxide）膜等により形成されている。
また、当該駆動基板には、それぞれの信号線Ｈと、それぞれの画素電極ＰＥとを接続し、信号線Ｈに出力された映像信号としての電圧の当該画素電極ＰＥへの印加状態を切り替えるスイッチング素子としてのＴＦＴ（Thin Film Transistor）２１が設けられている。これらＴＦＴ２１は、走査線Ｖに接続されるゲートと、信号線Ｈに接続されるソースと、画素電極ＰＥに接続されるドレインとを有している。

これらＴＦＴ２１は、ゲートに走査線Ｖを介して、表示パネル１を駆動する図示しないドライバや検査装置３から走査信号として＋１２Ｖの電圧が印加されるとオン状態（ソース−ドレイン間がローインピーダンスの状態）となり、ソース−ドレイン間の電流の導通が許容される。この状態で、信号線Ｈを介して、ドライバや検査装置３から映像信号がソースに印加されると、当該映像信号に係る電荷がソース−ドレイン間を導通する。そして、ドレインに導通した映像信号に係る電荷は、当該ドレインに接続された画素電極ＰＥに印加される。

一方、ゲートに走査線Ｖを介してドライバや検査装置３から−１０Ｖの電圧が印加されると、ＴＦＴ２１はオフ状態（ソース−ドレイン間がハイインピーダンスの状態）となり、ソース−ドレイン間の電流の導通が規制される。このため、ソースに接続された信号線Ｈに映像信号に係る電荷が印加された場合でも、当該電流がソース−ドレイン間を導通せず、画素電極ＰＥへの映像信号の印加が規制される。

これら画素電極ＰＥには、前述の液晶容量ＬＶが接続されるとともに、保持容量ＣＶが接続されている。この保持容量ＣＶは、表示パネル１の駆動に必要な電圧の振幅を低く抑え、表示パネル１の省電力化およびフリッカ防止を図るためのものである。これら液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶは、画素電極ＰＥだけでなく、当該画素電極ＰＥが設けられた駆動基板に対向する透明基板である対向基板に設けられた共通電極ＣＯＭ（図３参照）に接続されている。そして、液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶには、信号線ＨからＴＦＴ２１を介して画素電極ＰＥに印加された映像信号としての電流電圧と、共通電極ＣＯＭに印加された電流電圧との電位差に相当する電荷が書き込まれ、保持される。

また、駆動基板には、画素電極ＰＥに応じて、本発明の出力状態切替部としての複数のＴＦＴ２２が設けられている。これらＴＦＴ２２は、後述する検査信号線ＴＬに接続されるゲートと、画素電極ＰＥに接続されるソースと、後述する電荷出力線ＤＬに接続されるドレインとを有している。そして、これらＴＦＴ２１，２２、画素電極ＰＥ、液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶにより、１つの画素Ｐが構成され、これら全ての画素Ｐにより、表示部２が構成されている。また、同じ走査線Ｖに接続された各画素Ｐをまとめてラインと称する。

ＴＦＴ２２は、ゲートに検査信号線ＴＬを介して検査信号としての＋１２Ｖの電流が印加すると、当該ＴＦＴ２２がオン状態（ソース−ドレイン間がローインピーダンスの状態）になり、当該ソース−ドレイン間の電流の導通が許容される。一方、ゲートに−１０Ｖの電流が印加すると、当該ＴＦＴ２２がオフ状態（ソース−ドレイン間がハイインピーダンスの状態）になり、当該ソース−ドレイン間の電流の導通が規制される。このため、ＴＦＴ２２がオン状態となると、ソースに接続された画素電極ＰＥを介して、液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに保持された電荷に係る電流が、画素電極ＰＥおよびＴＦＴ２２を介して、電荷出力線ＤＬに出力可能な状態となる。

さらに、駆動基板には、前述のように、検査装置３に接続される検査信号線ＴＬおよび複数の電荷出力線ＤＬ（ＤＬ１，ＤＬ２，ＤＬ３，ＤＬＸ）が設けられている。
このうち、検査信号線ＴＬは、各ＴＦＴ２２のゲートと検査装置３とを接続し、当該検査装置３から入力する検査信号としての＋１５Ｖの電流を、当該各ゲートに印加するための信号線である。すなわち、検査装置３から検査信号が入力した場合に、ＴＦＴ２２はオン状態となる。なお、本実施形態では、図１に示すように、検査信号線ＴＬは、一端が検査装置３に接続され、他端が分岐して各ＴＦＴ２２のゲートに接続されている。

電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３は、一端がそれぞれの走査線Ｖに係る各ＴＦＴ２２、すなわち、同じラインの各画素Ｐを構成する各ＴＦＴ２２のドレインに接続され、他端が検査装置３に接続されている。例えば、電荷出力線ＤＬ１は、走査線Ｖ１に接続された各ＴＦＴ２１のドレインに画素電極ＰＥを介してソースが接続された各ＴＦＴ２２のドレインに接続されている。これら各電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３には、各ＴＦＴ２２がオン状態となった場合に、当該各ＴＦＴ２２のソースに画素電極ＰＥを介して接続された液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに保持された電荷が出力される。

また、電荷出力線ＤＬＸは、一方が各電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３を結線して統合する出力線統合部２４に接続され、他端が検査装置３の後述する電荷入力端子３４に接続される。この電荷出力線ＤＬＸは、それぞれの電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３に出力された液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶの電荷に係る電流を、検査装置３に出力する。なお、本実施形態では、電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３は、出力線統合部２４により、１つの電荷出力線ＤＬＸにまとめられている。

これら各電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３には、本発明の導通状態切替部としてのＴＦＴ２３が設けられている。このＴＦＴ２３は、走査線Ｖに接続されるゲートと、ＴＦＴ２２のドレインに接続されるソースと、後述する出力線統合部２４を介して検査装置３に接続されるドレインとを有している。そして、これらＴＦＴ２３は、検査装置３に液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶの保持電荷に係る電流の導通状態、すなわち、当該電流を検査装置３に出力する電荷出力線ＤＬを切り替える機能を有している。

これらＴＦＴ２３のゲートに接続される走査線Ｖは、当該ＴＦＴ２３のソースに接続されるＴＦＴ２２に係る走査線Ｖ、すなわち、当該ＴＦＴ２２に画素電極ＰＥを介して接続されたＴＦＴ２１が接続された走査線Ｖではなく、当該走査線Ｖの次に走査信号が印加される走査線Ｖである。
例えば、ある電荷出力線ＤＬに接続されたＴＦＴ２２のソースに、画素電極ＰＥを介して接続されたＴＦＴ２１のゲートに接続された走査線Ｖが、走査線Ｖ１である場合には、当該電荷出力線ＤＬは、電荷出力線ＤＬ１であり、当該電荷出力線ＤＬ１に設けられたＴＦＴ２３のゲートには、走査線Ｖ２が接続されている。このため、当該ＴＦＴ２３は、ゲートに走査線Ｖ２から走査信号が印加されるまではオフ状態（ソースードレイン間がハイインピーダンスの状態）であり、走査線Ｖ１への走査信号の印加、および、各信号線Ｈへの映像信号の印加により、液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに保持された電荷は、ＴＦＴ２２がオン状態であっても、ＴＦＴ２３を介して検査装置３に出力されることはなく、当該液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに保持されたままとなる。

一方、当該ＴＦＴ２３のゲートに走査線Ｖ２から走査信号としての＋１２Ｖの電圧が印加され、当該ＴＦＴ２３がオン状態（ソースードレイン間がローインピーダンスの状態）となり、かつ、ＴＦＴ２２がオン状態である場合には、液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶの保持電荷に係る電流が、画素電極ＰＥ、ＴＦＴ２２，２３および電荷出力線ＤＬ１を導通する。そして、当該電流は、出力線統合部２４および電荷出力線ＤＬＸを介して、検査装置３に流れる。

ここで、本実施形態の表示パネル１の各走査線Ｖが配設された駆動基板には、１フレーム期間中の最後に走査信号が印加され、かつ、ＴＦＴ２１が接続されていない走査線Ｖ０が設けられている。この走査線Ｖ０は、当該走査線Ｖ０の直前に走査信号が印加される走査線Ｖ（図１では走査線Ｖ３）に係るＴＦＴ２２に接続された電荷出力線ＤＬ３に設けられたＴＦＴ２３に接続され、当該ＴＦＴ２３のゲートに走査信号を印加して、ＴＦＴ２３をオン状態（導通状態）にする。

（３）検査装置３の構成
図２は、検査装置３の構成を示すブロック図である。
検査装置３は、前述のように、表示パネル１に走査信号および映像信号を出力して当該表示パネル１を駆動するとともに、表示パネル１に検査信号を出力して検査状態とし、当該表示パネル１から入力する電流値に基づいて表示パネル１の電気的特性を評価する。
この検査装置３は、図２に示すように、駆動手段３１、検査信号出力端子３２、検査信号出力手段３３、電荷入力端子３４、評価手段３５および記憶手段３６を備えて構成されている。
このうち、検査信号出力端子３２は、表示パネル１の検査信号線ＴＬに接続され、また、電荷入力端子３４は、当該表示パネル１の電荷出力線ＤＬＸに接続される。

駆動手段３１は、表示パネル１に走査信号および映像信号を出力して、当該表示パネル１を駆動するドライバに相当するものである。この駆動手段３１は、走査線接続端子３１１、信号線接続端子３１２、走査信号出力部３１３および映像信号出力部３１４を備えて構成されている。
走査線接続端子３１１は、表示パネル１の各走査線Ｖ１〜Ｖ０とそれぞれ独立して接続され、信号線接続端子３１２は、各信号線Ｈ１〜Ｈ３とそれぞれ独立して接続されている。

走査信号出力部３１３は、走査線接続端子３１１を介して、各走査線Ｖ１〜Ｖ０に所定の周期で、走査信号としての＋１２Ｖの電圧を順次印加する。また、当該電圧を印加しない時の走査線Ｖに対しては、−１０Ｖの電圧を印加する。
映像信号出力部３１４は、シフトレジスタやサンプル・ホールド回路等を有し、所定の映像信号を、各信号線Ｈ１〜Ｈ３にそれぞれ印加する。なお、本実施形態では、映像信号出力部３１４が出力する映像信号は、＋５Ｖと−５Ｖとが所定周期で交互に切り替わる電流が設定されている。
このような駆動手段３１により、表示パネル１の各走査線Ｖ１〜Ｖ３から走査信号が印加されて各走査線Ｖ１〜Ｖ３に接続されたＴＦＴ２１が順次オン状態となり、当該各ＴＦＴ２１に画素電極ＰＥを介して接続された液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに、信号線Ｈに出力された映像信号としての電荷が印加されて保持される。

検査信号出力手段３３は、表示パネル１の検査を実行する際に、当該表示パネル１の検査信号線ＴＬに対して、表示パネル１を検査状態とする検査信号、すなわち、各ＴＦＴ２２をオン状態とする検査信号としての＋１２Ｖの電圧を印加する。これにより、各ＴＦＴ２２がオン状態となり、液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶの保持電荷が、電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３に出力可能な状態となる。
なお、液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶから出力された電荷は、ＴＦＴ２２，２３がそれぞれオン状態とならない限り、検査装置３には出力されない。

記憶手段３６は、検査装置３の駆動に必要な各種データやプログラム等が記憶されているほか、当該検査装置３による表示パネル１の検査処理において利用されるデータ等を記憶する。このようなデータとして、表示パネル１から出力され、後述する評価手段３５により測定された電流の電圧値を記憶する。また、この記憶手段３６は、評価手段３５により参照される基準値を記憶している。この基準値は、表示パネル１の正常なラインおよび正常な１画素Ｐにおける液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶから出力された電流の電圧値を、それぞれ予め測定して得られたライン基準値および画素基準値である。さらに、記憶手段３６は、評価手段３５による良否判定結果を記憶する。

評価手段３５は、電荷入力端子３４を介して表示パネル１から入力する電流の電圧値を測定し、当該測定した電圧値と、記憶手段３６に記憶された基準値とに基づいて、表示パネル１の電気的特性を評価して、当該表示パネル１の良否を判定する。
この評価手段３５は、値測定部３５１、良否判定部３５２および結果出力部３５３を備えて構成されている。
このうち、値測定部３５１は、電荷入力端子３４から表示パネル１のラインごとに入力する電流の電圧値を測定する。そして、値測定部３５１は、測定した電圧値を、表示パネル１のラインを示す情報とともに記憶手段３６に記憶させる。

良否判定部３５２は、値測定部３５１により測定された表示パネル１のラインごとの電圧値または１画素Ｐごとの電圧値と、記憶手段３６に記憶されたライン基準値または画素基準値とに基づいて、当該測定された電圧値（測定値）に係るラインまたは画素Ｐの良否判定を行う。この良否判定は、良否判定部３５２が、記憶手段３６に記憶された各測定値と基準値とを取得し、当該各測定値が基準値を含む所定範囲内にあるか否かを判定することにより行われる。

そして、良否判定部３５２は、全ての測定値が当該所定範囲内にある場合には、表示パネル１は正常であると判断し、検査対象の表示パネル１は正常である旨の良否判定結果を記憶手段３６に記憶させる。
一方、良否判定部３５２は、１つでも測定値が所定範囲内にないラインまたは画素が存在すると判断した場合には、当該所定範囲内にないラインまたは画素を示す情報（例えば、ラインの番号や画素の座標値）とともに、表示パネル１が正常でない旨の良否判定結果を記憶手段３６に記憶させる。

結果出力部３５３は、記憶手段３６に記憶された良否判定結果を出力する。具体的に、結果出力部３５３は、検査装置３に設けられた図示しない表示手段に当該良否判定結果を出力して表示させる。なお、結果出力部３５３は、良否判定結果を他の態様で出力してもよく、例えば、記録媒体等にデータとして出力したり、あるいは、印刷により出力するようにしてもよい。

（４）表示パネル１および検査装置３の動作
以下、表示パネル１および検査装置３の動作について説明する。
表示パネル１は、通常動作時、すなわち、外部機器から入力する画像情報に応じた画像を形成表示する際には、図示しないドライバから、各走査線Ｖに走査信号が順次入力するとともに、各信号線Ｈに画像情報に係る映像信号が入力する。
ここで、通常動作時においては、ＴＦＴ２２をオフ状態に設定しておく必要があるので、当該表示パネル１を駆動するドライバは、検査信号線ＴＬを介して各ＴＦＴ２２のゲートに対して−１０Ｖの電圧を印加する。これにより、当該ＴＦＴ２２はオフ状態のままとなり、各ＴＦＴ２３のゲートに走査信号が入力し、当該ＴＦＴ２３がオン状態となった場合でも、各画素Ｐを構成する液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに印加された電荷は、電荷出力線ＤＬに出力されずに保持される。
このようにして、表示パネル１は、ドライバから入力する映像信号に係る画像を形成表示する。

図３は、表示パネル１および検査装置３に入出力する電流のタイミングチャートを示す図である。
一方、検査装置３を表示パネル１に接続し、当該検査装置３により表示パネル１の電気的特性を評価する際には、検査装置３の検査信号出力手段３３が、表示パネル１の検査信号線ＴＬに検査信号を出力する。これにより、検査信号としての＋１２Ｖの電圧がゲートに印加した各ＴＦＴ２２はオン状態となり、当該各ＴＦＴ２２のソース−ドレイン間の電流の導通が許容される。

この際、検査装置３の走査信号出力部３１３が、図３に示すように、各走査線Ｖ（図３においてはＶ１〜Ｖ３）に対して走査信号としての＋１２Ｖの電圧を順次印加し、映像信号出力部３１４が、各信号線Ｈ１〜Ｈ３に対して、＋５Ｖおよび−５Ｖが所定周期で交互に切り替わる映像信号としての電圧をそれぞれ印加すると、当該走査信号が印加された走査線Ｖに接続されたＴＦＴ２１がオン状態となる。これにより、当該ＴＦＴ２１のソース−ドレイン間の電流の導通が許容され、信号線Ｈ１〜Ｈ３に印加された映像信号が、当該ＴＦＴ２１を介して、画素電極ＰＥに印加される。

ここで、例えば、走査線Ｖ１に走査信号が印加されたとすると、信号線Ｈ１〜Ｈ３に出力され、画素電極ＰＥに印加された電圧と、共通電極ＣＯＭに印加された電圧との電位差が、当該画素電極ＰＥに接続された液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに印加されて保持される。この際、ＴＦＴ２２がオン状態となっているので、当該画素電極ＰＥに印加された電荷は、ＴＦＴ２２のソース−ドレイン間を導通して電荷出力線ＤＬ１に出力可能となる。しかしながら、前述のように、当該電荷出力線ＤＬ１に設けられたＴＦＴ２３のゲートに接続された次の走査線Ｖ２には、走査信号である＋１２Ｖの電圧がまだ印加されていないので、当該ＴＦＴ２３はオフ状態のままである。このため、画素電極ＰＥに印加された電荷は、液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに印加されて保持されたままとなり、ＴＦＴ２３が設けられた電荷出力線ＤＬ１および電荷出力線ＤＬＸを介して、検査装置３に出力されることはない。

そして、検査装置３の走査信号出力部３１３により、次の走査線Ｖ２に走査信号が出力されると、当該走査線Ｖ２に接続されたＴＦＴ２１がオン状態となるとともに、電荷出力線ＤＬ１に設けられたＴＦＴ２３のゲートに走査信号が印加され、当該ＴＦＴ２３はオン状態となる。ここで、当該ＴＦＴ２３のソースに、電荷出力線ＤＬ１を介して接続されたＴＦＴ２２はオン状態のままであるので、これらＴＦＴ２２，２３はローインピーダンス状態となり、それぞれのソース−ドレイン間の電流の導通が許容される。このため、走査線Ｖ１に係るラインの電荷、すなわち、走査線Ｖ１に係る各液晶容量ＬＶおよび各保持容量ＣＶに保持された電荷は、電流となってＴＦＴ２２，２３および電荷出力線ＤＬ１，ＤＬＸを介して検査装置３に出力される。

この後、各走査線Ｖ３，Ｖ０に走査信号が順次印加され、各走査線Ｖ２，Ｖ３に係るラインの電荷も、電荷出力線ＤＬ２，ＤＬ３に出力される。このため、検査装置３において、これら電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３に接続された電荷出力線ＤＬＸには、図３における最下段に示したように、各電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３に出力された電荷が合わさった電流として出力される。この電流は、検査装置３の電荷入力端子３４を介して、評価手段３５に入力し、当該評価手段３５の値測定部３５１によって測定される。

ここで、各走査線Ｖに係る各画素Ｐのうち、いずれかの画素Ｐを構成する液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶの少なくともいずれかに欠陥が生じている場合、当該走査線Ｖに係るラインから電荷出力線ＤＬＸに出力される電流の電圧値は、前述の記憶手段３６に記憶されたライン基準値とは異なることとなる。
例えば、走査線Ｖ１に係るラインの少なくともいずれかの画素Ｐを構成するＴＦＴ２１，２２、画素電極ＰＥ、液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶのいずれかに電荷漏出や導通異常等の欠陥があった場合、電荷出力線ＤＬ１に出力された電流の値は、図３において「○」で示したように、全てが正常な画素Ｐである他のラインに係る電荷出力線ＤＬ２，ＤＬ３に出力された電流の電圧値とは絶対値が異なる。このため、検査装置３の評価手段３５を構成する値測定部３５１が、当該電流の電圧値を測定し、良否判定部３５２が、測定された各ラインの電圧値とライン基準値とを比較することにより、各ラインの良否を判定することができる。

（５）検査装置３による検査処理
次に、検査装置３により実行される表示パネル１の良否を検査する検査処理について説明する。
図４は、検査処理の処理フローを示す図である。また、図５は、検査処理に含まれる値測定処理の処理フローを示す図である。なお、図５においては、検査装置３の動作に応じた表示パネル１の動作も合わせて示している。
検査処理は、検査装置３と、表示パネル１とを接続した状態で実行され、検査装置３から検査信号を表示パネル１に対して出力して、当該表示パネル１から検査装置３に入力する電流の電圧値を測定および評価することにより、表示パネル１の各ラインの良否を判定する処理である。

この検査処理では、図４に示すように、検査装置３が値測定処理Ｓ１を実行する。
この値測定処理Ｓ１では、図５に示すように、まず、検査装置３の検査信号出力手段３３が、検査信号出力端子３２を介して、検査信号線ＴＬに検査信号を出力する（検査信号出力ステップＳ１１）。これにより、表示パネル１の各ＴＦＴ２２はオン状態となり（ステップＳＸ１）、当該ＴＦＴ２２のソース−ドレイン間が、ローインピーダンス状態となる。

この後、検査装置３の駆動手段３１を構成する走査信号出力部３１３が、走査線Ｖ１に走査信号としての＋１２Ｖの電圧を印加し（走査信号出力ステップＳ１２）、映像信号出力部３１４が、各信号線Ｈ１〜Ｈ３に対して映像信号としての＋５Ｖと−５Ｖとが交互に反転する電荷を出力する（信号線電荷出力ステップＳ１３）。
この各信号線Ｈ１〜Ｈ３への映像信号の印加により、ステップＳ１２にて走査信号が印加された走査線Ｖ１にＴＦＴ２１を介して接続された画素電極ＰＥに、当該映像信号としての電荷が印加され、当該電荷が液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに充電、保持される（ステップＳＸ２）。

この後、走査信号出力部３１３は、直前に走査信号を出力した走査線Ｖが、最終ラインに係る走査線Ｖ（本実施形態では走査線Ｖ３）であるか否かを判定する（ステップＳ１４）。そして、走査信号出力部３１３は、最終ラインではないと判断した場合には、次の走査線Ｖ（この時点では、走査線Ｖ２）に走査信号を出力する（走査信号出力ステップＳ１５）。
ここで、走査線Ｖ２は、当該走査線Ｖ２に接続されたＴＦＴ２１のゲートに走査信号を印加するだけでなく、電荷出力線ＤＬ１に設けられたＴＦＴ２３のゲートにも走査信号を印加するので、当該走査線Ｖ２に接続されたＴＦＴ２１および電荷出力線ＤＬ１に設けられたＴＦＴ２３が、それぞれオン状態となる（ステップＳＸ３）。このため、走査線Ｖ１に係るラインのＴＦＴ２２，２３の各ソース−ドレイン間がローインピーダンスの状態となり、ステップＳＸ２にて保持された走査線Ｖ１に係るラインの液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶの電荷が、ＴＦＴ２２，２３を導通して、電荷出力線ＤＬ１，ＤＬＸを介して、検査装置３に出力される（ステップＳＸ４）。

この検査装置３に出力された走査線Ｖ１に係るラインの電荷は、検査装置３の電荷入力端子３４を介して評価手段３５に入力し、当該評価手段３５の値測定部３５１が、入力した電荷に係る電流の電圧値を測定する（値測定ステップＳ１６）。そして、値測定部３５１は、測定した電圧値を、ラインごとに記憶手段３６に記憶させる。例えば、この時点で測定された電圧値は、記憶手段３６に、走査線Ｖ１に係るラインの電圧値として記憶される。

また、この値測定部３５１の電圧値測定とともに、映像信号出力部３１４が、各信号線Ｈ１〜Ｈ３に前述と同じ映像信号としての電圧を印加する（信号線電荷出力ステップＳ１７）。これにより、ステップＳ１５で走査信号が印加された走査線Ｖ（この時点では、走査線Ｖ２）に係るラインの液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに、当該映像信号に係る電荷が充電される（ステップＳＸ５）。
そして、検査装置３は、ステップＳ１４に戻り、走査信号出力部３１３が、直前に走査信号を印加した走査線Ｖが最終ラインに係る走査線であるか否かを再び判定する。

一方、ステップＳ１４にて、走査信号出力部３１３が、直前に走査信号を印加した走査線Ｖが最終ラインであると判断した場合、すなわち、直前に走査信号を印加した走査線Ｖが、本実施形態では、走査線Ｖ３であると判断した場合には、走査線Ｖ０に走査信号を出力する（走査信号出力ステップＳ１８）。この走査線Ｖ０への走査信号の出力により、表示パネル１の最終ラインに保持された電荷、すなわち、走査線Ｖ３に係る各液晶容量ＬＶおよび各保持容量ＣＶに保持された電荷が、電荷出力線ＤＬ３，ＤＬＸを介して、検査装置３の電荷入力端子３４に出力される（ステップＳＸ６）。そして、当該電荷入力端子３４に入力した電流の電圧値は、ステップＳ１６での場合と同様に、値測定部３５１により測定され、最終ラインの電圧値として記憶手段３６に記憶される（値測定ステップＳ１９）。
これにより、値測定処理Ｓ１が終了する。

図４に戻り、値測定処理Ｓ１の後、検査装置３の評価手段３５を構成する良否判定部３５２が、記憶手段３６に記憶された各ラインに係る電圧値と、同じく記憶手段３６に記憶された基準値（ライン基準値）とを比較し、それぞれの電圧値が、基準値を含む所定範囲内にあるか否かを判定する（ステップＳ２）。
そして、良否判定部３５２は、当該所定範囲内に各電圧値が含まれると判断した場合には、当該検査処理の検査対象である表示パネル１の各ラインが全て正常である旨の情報を、記憶手段３６に記憶させる（ステップＳ３）。

一方、良否判定部３５２は、当該所定範囲内に含まれない電圧値が存在すると判断した場合には、当該含まれないと判断された全ての電圧値に係るラインの情報（例えば、ライン番号）を、異常なラインとして記憶手段３６に記憶する（ステップＳ４）。
これらステップＳ３またはステップＳ４の後、結果出力部３５３が、記憶手段３６に記憶された良否判定結果を参照して、図示しない表示手段に出力する（ステップＳ５）。
以上により、検査処理が終了する。

（６）実施形態の効果
以上のような本実施形態の表示パネル１によれば、以下の効果を奏することができる。
（Ｉ）すなわち、検査装置３から検査信号が入力し、表示パネル１の各ＴＦＴ２２がオン状態となることにより、当該各ＴＦＴ２２のソースに画素電極ＰＥを介して接続された液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶの保持電荷が、当該ＴＦＴ２２のソース−ドレイン間を導通できるようになり、当該保持電荷の電荷出力線ＤＬへの出力が可能となる。この状態で、各走査線Ｖ（Ｖ１〜Ｖ３）に走査信号が順次出力され、各信号線Ｈ１〜Ｈ３に映像信号としての電荷が出力されることで、各走査線Ｖに係るラインの液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに当該電荷が保持される。この際、電荷を保持したラインに係る走査線Ｖの次に走査信号が印加される走査線Ｖに対して走査信号を印加すると、当該ラインの電荷出力線ＤＬに設けられたＴＦＴ２３がオン状態となる。このため、当該ラインの保持電荷が、ＴＦＴ２２，２３および電荷出力線ＤＬを導通して、検査装置３に出力される。これら各走査線Ｖに係るラインの保持電荷の出力は、当該走査線Ｖの次に走査信号が出力される走査線Ｖへの走査信号の出力ごとに行われる。

これによれば、表示パネル１の各走査線Ｖに係るラインごとに、それぞれのラインに保持された電荷に係る電流の電圧値を、検査装置３の評価手段３５を構成する値測定部３５１が測定することにより、表示パネル１の各ラインの電圧値を測定することができる。これにより、良否判定部３５２が測定された電圧値と基準値とを比較することにより、表示パネル１のラインごとの電気的特性を評価して、当該表示パネル１の良否判定を行うことができる。従って、表示パネル１の各ラインの電気的特性の評価および良否判定を、適切に行うことができる。

（II）このような表示パネル１と検査装置３とは、表示パネル１の各走査線Ｖおよび各信号線Ｈと、検査装置３の走査線接続端子３１１および信号線接続端子３１２とを接続するほか、表示パネル１の検査信号線ＴＬおよび電荷出力線ＤＬＸと、検査装置３の検査信号出力端子３２および電荷入力端子３４とを接続する。
このうち、検査信号線ＴＬについては、一端が検査信号出力端子３２に接続され、他端が各ＴＦＴ２２に接続されているので、検査装置３と表示パネル１とは１つの検査信号線ＴＬで接続されている。
また、電荷出力線ＤＬについては、ＴＦＴ２３が設けられた各電荷出力線ＤＬは、出力線統合部２４において１つの電荷出力線ＤＬＸにまとめられているので、検査装置３と表示パネル１とは１つの電荷出力線ＤＬＸで接続されている。

これによれば、表示パネル１の駆動時に通常接続される走査線Ｖおよび信号線Ｈの他に、表示パネル１におけるそれぞれ１つの検査信号線ＴＬおよび電荷出力線ＤＬＸを検査装置３に接続することにより、当該表示パネル１の検査を行うことができるので、各ＴＦＴ２２と検査装置３とを個別に接続する複数の検査信号線、および、各電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３により、表示パネルと検査装置３とを接続する場合に比べ、表示パネル１の検査工程を簡略化することができる。また、これにより、表示パネル１が小型である場合、あるいは、高精細で走査線および信号線が微細に配置されている場合でも、検査装置３と表示パネル１との接続を容易に行うことができる。従って、表示パネル１の小型化および高精細化を促進することができる。

（III）検査信号の入力により、各液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに保持された電荷の電荷出力線ＤＬへの出力状態を切り替える出力状態切替部、および、各走査線Ｖからの走査信号の入力により、直前に映像信号の印加が行われた液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶの保持電荷の検査装置３への導通状態を切り替える導通状態切替部が、それぞれＴＦＴ２２，２３で構成されている。これによれば、これらＴＦＴ２２，２３のローインピーダンス状態およびハイインピーダンス状態の切替を行うことにより、各液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶの保持電荷の出力状態および導通状態を、適切かつ確実に制御することができる。また、これらがＴＦＴで構成されていることにより、表示パネル１の構成を簡略化することができるとともに、当該表示パネル１の小型化を一層促進することができる。また、出力状態切替部および導通状態切替部をＴＦＴで構成したことにより、これらの応答速度を向上することができる。

〔２．第２実施形態〕
次に、本発明の第２実施形態に係る表示パネル１Ａおよび検査装置３Ａについて説明する。
本実施形態の表示パネル１Ａおよび検査装置３Ａは、表示パネル１および検査装置３と同様の構成を備えるが、各ラインを構成する各画素から出力された保持電荷を検査装置３Ａが測定し、表示パネル１Ａの良否を画素ごとに行う点で相違する。なお、以下の説明では、既に説明した部分と同一または略同一である部分については、同一の符号を付して説明を省略する。

図６は、本実施形態に係る表示パネル１Ａの構成を示す模式図である。また、図７は、表示パネル１Ａの表示部２Ａの一部を拡大して示す模式図である。
表示パネル１Ａは、表示パネル１と同様に、互いに対向する駆動基板および対向基板間に電気光学材料としての液晶がセル内に封入された構成を有している。このうち、駆動基板には、図６および図７に示すように、互いに略直交する複数の走査線Ｖ（Ｖ１〜Ｖ０）および複数の信号線Ｈ（Ｈ１〜Ｈ３）が設けられており、これらの各交差部近傍に、前述のＴＦＴ２１，２２、画素電極ＰＥ、液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶが配置され、これらにより、画素Ｐが形成されている。
なお、説明の便宜上、走査線Ｖ１に接続され、かつ、各信号線Ｈ１〜Ｈ３に接続された画素Ｐを、それぞれ画素Ｐ（１，１）、画素Ｐ（１，２）および画素Ｐ（１，３）とする。また、走査線Ｖ２に接続され、かつ、各信号線Ｈ１〜Ｈ３に接続された画素Ｐを、それぞれ画素Ｐ（２，１）、画素Ｐ（２，２）および画素Ｐ（２，３）とし、走査線Ｖ３に接続され、かつ、各信号線Ｈ１〜Ｈ３に接続された画素Ｐを、それぞれ画素Ｐ（３，１）、画素Ｐ（３，２）および画素Ｐ（３，３）とする。

これら画素Ｐは、図７に示すように、走査線Ｖにゲートが接続され、信号線Ｈにソースが接続されるＴＦＴ２１と、当該ＴＦＴ２１のドレインに接続される画素電極ＰＥと、当該画素電極ＰＥおよび対向基板の共通電極ＣＯＭに接続される液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶと、同じく画素電極ＰＥにソースが接続され、電荷出力線ＤＬにドレインが接続されるＴＦＴ２２とを備えて構成されている。

また、同一の走査線Ｖに係る各ＴＦＴ２２に接続される各電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３には、当該電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３にソースおよびドレインが接続され、かつ、当該電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３を流れる電荷の導通状態を切り替えるＴＦＴ２３が設けられている。なお、これらＴＦＴ２３のゲートには、前述のように、当該ＴＦＴ２３が設けられた電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３が接続されたＴＦＴ２２に係る走査線Ｖの次に走査信号が出力される走査線Ｖが接続され、当該走査線Ｖへの走査信号の出力に伴ってＴＦＴ２３がオン状態となるように構成されている。さらに、電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３は、出力線統合部２４により１つの電荷出力線ＤＬＸにまとめられ、当該電荷出力線ＤＬＸは、検査装置３Ａに接続される。

また、表示パネル１Ａには、検査装置３Ａから検査信号が入力すると、各ＴＦＴ２２に、当該各ＴＦＴ２２の導通状態を切り替える切替手段２５と、当該切替手段２５と各ＴＦＴ２２とを接続する複数の切替信号線ＣＬ（ＣＬ１〜ＣＬ３）が設けられている。
このうち、切替信号線ＣＬは、信号線Ｈ（Ｈ１〜Ｈ３）に応じて設けられ、それぞれ同じ信号線Ｈ（Ｈ１〜Ｈ３）に接続された画素ＰのＴＦＴ２２のゲートに接続されている。

具体的に、切替信号線ＣＬ１は、信号線Ｈ１に接続された画素Ｐ（１，１）、画素Ｐ（２，１）および画素Ｐ（３，１）の各ＴＦＴ２２のゲートに接続されている。また、切替信号線ＣＬ２は、信号線Ｈ２に接続された画素Ｐ（１，２）、画素Ｐ（２，２）および画素Ｐ（３，２）の各ＴＦＴ２２のゲートに接続され、切替信号線ＣＬ３は、信号線Ｈ３に接続された画素Ｐ（１，３）、画素Ｐ（２，３）および画素Ｐ（３，３）の各ＴＦＴ２２のゲートに接続されている。そして、これら切替信号線ＣＬ１〜ＣＬ３は、切替手段２５の切替信号出力部２５２に接続されている。

図８は、表示パネル１Ａおよび検査装置３Ａの構成を示すブロック図である。
切替手段２５は、図８に示すように、カウンタ２５１および切替信号出力部２５２を備えて構成されている。
カウンタ２５１は、走査線Ｖ１と接続され、検査信号線ＴＬを介して検査装置３Ａから検査信号が入力すると、走査線Ｖ１から走査信号が入力した回数をカウントする。そして、カウンタ２５１は、複数のカウント出力線ＣＮ（ＣＮ１〜ＣＮ３）を介して、切替信号出力部２５２に、カウント値を出力する。なお、カウンタ２５１は、切替信号出力部２５２に、カウント値を、カウント出力線ＣＮ１〜ＣＮ３に出力する高レベルおよび低レベルの電圧の信号により表される２進数の情報として出力する。
なお、カウンタ２５１は、検査信号が入力していない状態では、「０」のカウント値を切替信号出力部２５２に出力する。

具体的に、カウント出力線ＣＮ１に出力される信号は、２進数の下１桁目を表しており、当該カウント出力線ＣＮ１に出力された高レベルの信号は、１０進数で「２の０乗」すなわち「１」を表し、低レベルの信号は、同じく「０」を示している。また、カウント出力線ＣＮ２に出力される信号は、２進数の下２桁目を表しており、当該カウント出力線ＣＮ２に出力された高レベルの信号は、１０進数で「２の１乗」すなわち「２」を表し、低レベルの信号は、同じく「０」を表している。さらに、カウント出力線ＣＮ３に出力される信号は、２進数の下３桁目を表しており、当該カウント出力線ＣＮ３に出力された高レベルの信号は、１０進数で「２の２乗」すなわち「４」を表しており、低レベルの信号は、同じく「０」を表している。このように、各カウント出力線ＣＮ１〜ＣＮ３に出力された信号により表される値を合計することにより、カウント値がカウンタ２５１から取得される。

切替信号出力部２５２は、カウンタ２５１から入力するカウント値に基づいて、ＴＦＴ２２をオン状態にする切替信号を出力する切替信号線ＣＬを選択し、当該選択された切替信号線ＣＬに切替信号としての＋１２Ｖの電圧を印加し、他の切替信号線ＣＬに対して、ＴＦＴ２２をオフ状態にする−１０Ｖの電圧を印加する。

例えば、カウンタ２５１からカウント出力線ＣＮを介して入力したカウンタ値が、１０進数で「１」である場合には、切替信号出力部２５２は、切替信号線ＣＬ１を選択し、当該切替信号線ＣＬ１に対して＋１２Ｖの電圧を印加し、他の切替信号線ＣＬ２，ＣＬ３に対して−１０Ｖの電圧を印加する。これにより、画素Ｐ（１，１）、画素Ｐ（２，１）および画素Ｐ（３，１）の各ＴＦＴ２２がオン状態となり、他の画素Ｐの各ＴＦＴ２２はオフ状態となる。
また、入力したカウント値が、１０進数で「２」である場合には、切替信号出力部２５２は、切替信号線ＣＬ２に対して＋１２Ｖの電圧を印加し、他の切替信号線ＣＬ１，ＣＬ３に対して−１０Ｖの電圧を印加する。これにより、画素Ｐ（１，２）、画素Ｐ（２，２）および画素Ｐ（３，２）の各ＴＦＴ２２がオン状態となり、他の画素Ｐの各ＴＦＴ２２は、オフ状態となる。

このように、ある走査線Ｖに係るラインを構成する各画素Ｐにおいて、切替信号としての＋１２Ｖの電圧が印加されてオン状態となるＴＦＴ２２の画素Ｐは１つであるので、当該画素Ｐの保持電荷が電荷出力線ＤＬに出力されることとなる。このため、当該画素Ｐの保持電荷が検査装置３Ａに入力し、当該検査装置３Ａが、当該画素Ｐの保持電荷の電圧値を測定することにより、表示パネル１Ａの電気的特性を画素Ｐごとに評価することが可能となる。
なお、入力したカウント値が、１０進数で「０」である場合には、表示パネル１Ａの検査中ではないと判断して、切替信号出力部２５２は、各切替信号線ＣＬ１〜ＣＬ３に、−１０Ｖの電圧を印加する。

検査装置３Ａは、図８に示すように、走査線接続端子３１１、信号線接続端子３１２、走査信号出力部３１３および映像信号出力部３１４を有する駆動手段３１と、検査信号出力端子３２と、検査信号出力手段３３Ａと、電荷入力端子３４と、評価手段３５と、記憶手段３６とを備えて構成されている。
このうち、検査信号出力手段３３Ａは、表示パネル１Ａの切替手段２５に対して、所定電圧の検査信号を出力する。なお、検査信号出力手段３３Ａが出力する検査信号は、検査信号出力手段３３が検査信号として出力した＋１２Ｖの電圧の信号でなくとも、切替手段２５により入力が検出可能な電圧レベルの信号であればよく、＋１２Ｖの信号に限定されない。

ここで、表示パネル１Ａおよび検査装置３Ａの動作について説明する。
表示パネル１Ａは、通常動作時、すなわち、外部機器から入力する画像情報に応じた画像を形成表示する際には、図示しないドライバから、走査線Ｖおよび信号線Ｈに、画像情報に応じた走査信号および映像信号が順次入力する。この際、表示パネル１Ａの検査信号線ＴＬには、検査信号が入力しないので、切替手段２５のカウンタ２５１によってカウントされるカウント値は「０」のままである。このため、切替信号出力部２５２は、各切替信号線ＣＬ１〜ＣＬ３に、−１０Ｖの電圧を印加する。これにより、各ＴＦＴ２２がオフ状態となるので、表示パネル１Ａは、入力する走査信号および映像信号に基づく画像を形成表示することができる。

図９は、表示パネル１Ａおよび検査装置３Ａに入出力する電流のタイミングチャートを示す図である。
一方、表示パネル１Ａの各画素Ｐの電気的特性を検査する場合には、当該表示パネル１Ａと検査装置３Ａとを接続した状態で、検査装置３Ａの検査信号出力手段３３が所定の電圧の信号を、検査信号出力端子３２を介して、表示パネル１Ａの切替手段２５に出力する。この検査信号の入力により、表示パネル１Ａの切替手段２５を構成するカウンタ２５１が、走査信号の入力回数のカウントを開始する。

ここで、検査装置３Ａの走査信号出力部３１３が、各走査線Ｖ１〜Ｖ０に走査信号としての＋１２Ｖの電圧を順次印加し、映像信号出力部３１４が、各信号線Ｈ１〜Ｈ３に映像信号としての＋５Ｖおよび−５Ｖの電圧を印加する。
この際、走査線Ｖ１に走査信号が出力されると、カウンタ２５１が、走査信号の入力回数であるカウント値を１繰上げ、当該繰り上がったカウント値「１」をカウント出力線ＣＮを介して、切替信号出力部２５２に出力する。すると、切替信号出力部２５２が、切替信号線ＣＬ１に切替信号としての＋１２Ｖの電圧を印加し、他の切替信号線ＣＬ２，ＣＬ３に−１０Ｖの電圧を印加する。

この状態で、走査線Ｖ２に走査信号が出力されると、画素Ｐ（１，１）を構成する液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに保持された電荷が、ＴＦＴ２２を介して電荷出力線ＤＬ１に出力される。この際、画素Ｐ（１，２）および画素Ｐ（１，３）の各ＴＦＴ２２はオフ状態であるので、当該画素Ｐ（１，２）および画素Ｐ（１，３）の液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに保持された電荷は、電荷出力線ＤＬ１に出力されない。この電荷出力線ＤＬ１に出力された電荷に係る電流は、オン状態のＴＦＴ２３を導通し、電荷出力線ＤＬＸを介して検査装置３Ａに出力される。そして、同様に、走査線Ｖ３，Ｖ０に走査信号が順次出力されることにより、画素Ｐ（２，１）および画素Ｐ（３，１）の保持電荷が、電荷出力線ＤＬ２、ＤＬ３に順次出力され、当該電荷に係る電流が、電荷出力線ＤＬＸを介して、検査装置３Ａに出力される。

この後、再び走査線Ｖ１に走査信号が出力されると、カウンタ２５１がカウント値を１繰上げ、当該繰り上がったカウント値「２」をカウント出力線ＣＮを介して、切替信号出力部２５２に出力する。すると、切替信号出力部２５２は、切替信号線ＣＬ２に＋１２Ｖの電圧を印加し、他の切替信号線ＣＬ１，ＣＬ３に−１０Ｖの電圧を印加する。
この状態で、各走査線Ｖ２〜Ｖ０に走査信号が出力され、各信号線Ｈ１〜Ｈ３に映像信号がそれぞれ出力されると、前述の場合と同様に、画素Ｐ（１，２）、画素Ｐ（２，２）および画素Ｐ（３，２）の保持電荷のみが、各ＴＦＴ２２を介して電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３にそれぞれ出力される。そして、これら電荷に係る電流が、電荷出力線ＤＬＸを介して検査装置３Ａに出力される。

なお、走査線Ｖ１に再度走査信号が出力され、切替信号線ＣＬ３に切替信号が出力された場合でも同様に、画素Ｐ（１，３）、画素Ｐ（２，３）および画素Ｐ（３，３）の保持電荷のみが、電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３に出力される。そして、当該電荷に係る電流が、電荷出力線ＤＬＸを介して、検査装置３Ａに出力され、当該電流の電圧値が、検査装置３Ａの値測定部３５１により測定される。なお、図９の最下段に示した電荷出力線ＤＬＸに出力された電流において、「○」で示した部分が、測定された電圧値に異常が見られ、欠陥が生じている画素Ｐに係る波形であり、図９の最下段に示した波形からは、画素Ｐ（２，１）、画素Ｐ（２，２）および画素Ｐ（１，３）に欠陥が生じている可能性があると判断される。

次に、検査装置３Ａにより実行される表示パネル１Ａの検査処理について説明する。
図１０は、本実施形態に係る検査処理の処理フローを示す図である。また、図１１は、検査処理に含まれる値測定処理ＳＡ１の処理フローを示す図である。なお、図１１においては、検査装置３Ａの動作に応じた表示パネル１Ａの動作も合わせて示している。
本実施形態の検査処理においては、画素Ｐごとに表示パネル１Ａの電気的特性を評価する点において、前述の検査処理と相違する。
具体的に、本実施形態の検査処理においては、図１０に示すように、まず、検査装置３Ａが、表示パネル１Ａの各画素Ｐの保持電荷に係る電流の電圧値を測定する値測定処理ＳＡ１を実行する。

この値測定処理ＳＡ１においては、図１１に示すように、検査装置３Ａの検査信号出力手段３３Ａが、検査信号出力端子３２を介して、表示パネル１Ａの検査信号線ＴＬに検査信号を出力する（検査信号出力ステップＳＡ１１）。
この検査信号が表示パネル１Ａの切替手段２５に入力すると、当該切替手段２５のカウンタ２５１は、カウンタ値を初期化（「０」に設定）する（ステップＳＹ０１）。

この後、検査装置３Ａの走査信号出力部３１３は、まず、走査線Ｖ１に走査信号を出力する（走査信号出力ステップＳＡ１２）。ここで、走査線Ｖ１は、カウンタ２５１に接続されており、当該走査線Ｖ１から走査信号が入力すると、カウンタ２５１が、カウンタ値を１繰り上げ（ステップＳＹ０２）、当該カウンタ値を切替信号出力部２５２に出力する。そして、切替信号出力部２５２が、カウンタ値に基づいて切替信号を出力する切替信号線ＣＬを選択し（ステップＳＹ０３）、当該選択された切替信号線ＣＬに対して切替信号としての＋１２Ｖの電圧を、また、選択されていない切替信号線ＣＬに対して−１０Ｖの電圧を印加する（ステップＳＹ０４）。これにより、選択された切替信号線ＣＬに接続された画素のＴＦＴ２２がオン状態となり、他の切替信号線ＣＬに接続された画素のＴＦＴ２２は、オフ状態が維持される（ステップＳＹ０５）。

例えば、この時点では、カウンタ２５１によってカウントされるカウンタ値は「１」であるので、切替信号出力部２５２は、切替信号線ＣＬ１を選択する。そして、切替信号出力部２５２は、選択した切替信号線ＣＬ１に＋１２Ｖの電圧を印加し、他の切替信号線ＣＬ２，ＣＬ３に−１０Ｖの電圧を印加する。

この際、映像信号出力部３１４は、各信号線Ｈ１〜Ｈ３に、＋５Ｖおよび−５Ｖの電圧が交互に切り替わる映像信号としての電圧を印加する（信号線電荷出力ステップＳＡ１３）。これにより、表示パネル１Ａにおいて、走査信号が出力された走査線Ｖに係る各画素Ｐの液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶに、映像信号としての電荷が印加される。このため、当該走査信号が出力された走査線に係る各画素Ｐによって構成されるラインに、電荷が充電される（ステップＳＹ０６）。

ここで、走査信号出力部３１３は、直前に走査信号を出力した走査線が、表示パネル１Ａにおける最終ラインであるか否かを判定する（ステップＳＡ１４）。
この判定処理において、走査信号出力部３１３が、最終ラインではないと判断した場合には、当該走査信号出力部３１３は、次のラインに係る走査線Ｖ（この時点では、走査線Ｖ２）に走査信号を出力する（走査信号出力ステップＳＡ１５）。

このステップＳＡ１５における走査信号の出力により、直前に走査信号が印加された走査線Ｖ（この時点では、走査線Ｖ１）に係る電荷出力線ＤＬ（この時点では、電荷出力線ＤＬ１）に設けられたＴＦＴ２３がオン状態となる（ステップＳＹ０７）。これにより、ステップＳＹ０５において選択された画素ＰのＴＦＴ２２がオン状態となっていることと合わせて、選択された画素Ｐの保持電荷が、電荷出力線ＤＬに出力される（ステップＳＹ０８）。
具体的に、この時点では、走査線Ｖ２への走査信号の出力により、電荷出力線ＤＬ１に設けられたＴＦＴ２３がオン状態となる。ここで、走査線Ｖ１に係るラインの各画素Ｐのうち、切替信号出力部２５２からの切替信号が入力し、ＴＦＴ２２がオン状態となっている画素Ｐは、画素Ｐ（１，１）である。このため、当該画素Ｐ（１，１）の液晶容量ＬＶおよび保持容量ＣＶの保持電荷が電荷出力線ＤＬ１に出力され、他の画素Ｐ（１，２）および画素Ｐ（１，３）の保持電荷は出力されない。

この電荷出力線ＤＬに出力された電荷に係る電流は、検査装置３Ａの電荷入力端子３４を介して評価手段３５に入力し、当該評価手段３５の値測定部３５１により、当該電流の電圧値が測定される（値測定ステップＳＡ１６）。そして、値測定部３５１は、測定した電圧値を、当該電圧値に係る画素Ｐの位置情報とともに、記憶手段３６に記憶させる。具体的に、値測定部３５１は、電流の入力に際して経過した時間や、入力する電流の振幅および出力した走査信号の回数等に基づいて当該電流に係る画素Ｐの位置（座標値）を算出し、当該画素Ｐの位置とともに測定した電圧値を、記憶手段３６に記憶させる。
このステップＳＡ１６の後、検査装置３Ａにおける処理はステップＳＡ１３に戻り、映像信号出力部３１４が、各信号線Ｈに映像信号を再度印加する。

一方、ステップＳＡ１４の判定処理において、走査信号出力部３１３が、直前に走査信号を出力した走査線Ｖに係るラインが最終ラインであると判断した場合、すなわち、本実施形態では、直前に走査信号を出力した走査線Ｖが、走査線Ｖ３であると判断した場合、当該走査信号出力部３１３は、ＴＦＴ２１が接続されていない末端の走査線Ｖ０に走査信号を出力する（走査信号出力ステップＳＡ１７）。
この走査線Ｖ０への走査信号の出力により、当該走査線Ｖ０の直前に走査信号が出力された最終ラインに係る電荷出力線ＤＬのＴＦＴ２３がオン状態となり（ステップＳＹ０９）、当該最終ラインにおいて選択された画素Ｐの保持電荷が、電荷出力線ＤＬ（本実施形態では、電荷出力線ＤＬ３）に出力される（ステップＳＹ１０）。そして、この電荷出力線ＤＬに出力された電荷は、前述のように、検査装置３Ａに入力し、評価手段３５の値測定部３５１により当該電荷に係る電流の電圧値が測定される（値測定ステップＳＡ１８）。

このステップＳＡ１８の後、検査装置３Ａは、表示パネル１Ａの全画素Ｐの保持電荷に係る電流の電圧値を測定したか否かを判定する（ステップＳＡ１９）。
そして、検査装置３Ａが、電圧値測定が終了していない画素Ｐが１つでも存在すると判断した場合には、検査装置３Ａにおける処理は、ステップＳＡ１２に戻り、再び、走査信号出力部３１３が、走査線Ｖ０に走査信号を印加する。
一方、検査装置３Ａが、全ての画素Ｐの電圧値測定を終了したと判断した場合には、値測定処理ＳＡ１を終了する。

図１０に戻り、値測定処理ＳＡ１の後、評価手段３５を構成する良否判定部３５２が、記憶手段３６に記憶された各画素Ｐの電圧値と、同じく記憶手段３６に記憶された基準値（画素基準値）とを比較し、各画素Ｐの電圧値が、基準値を含む所定範囲内にあるか否かを判定する（ステップＳＡ２）。
そして、良否判定部３５２は、当該所定範囲内に各電圧値が含まれると判断した場合には、当該検査処理の評価対象である表示パネル１の各画素Ｐが全て正常である旨の情報を、記憶手段３６に記憶させる（ステップＳＡ３）。

一方、良否判定部３５２は、当該所定範囲内に含まれない電圧値が存在すると判断した場合には、当該含まれないと判断された全ての電圧値に係る画素Ｐの情報（座標値）を、異常画素Ｐの情報として記憶手段３６に記憶する（ステップＳＡ４）。
これらステップＳＡ３またはステップＳＡ４の後、結果出力部３５３が、記憶手段３６に記憶された良否判定結果を参照して、図示しない表示手段に出力する（ステップＳＡ５）。
以上により、検査処理が終了する。

以上のような本実施形態の表示パネル１Ａによれば、前述の表示パネル１が奏することのできる効果（Ｉ）〜（III）と同様の効果を奏することができるほか、以下の効果を奏することができる。
すなわち、表示パネル１Ａの切替手段２５を構成する切替信号出力部２５２が、走査線Ｖ１からの走査信号の入力回数（カウンタ値）に応じて、保持された電荷を出力させる画素Ｐを選択し、当該選択された画素ＰのＴＦＴ２２に対して、切替信号としての＋１２Ｖの電圧を印加する。このため、各走査線Ｖに係るラインを構成する画素Ｐのうち、切替信号が入力した画素ＰのＴＦＴ２２だけがオン状態となり、当該画素Ｐに保持された電荷に係る電流が、電荷出力線ＤＬ（ＤＬ１〜ＤＬ３）に出力され、電荷出力線ＤＬＸを介して、検査装置３Ａに入力する。

これによれば、各走査線Ｖに走査信号が順次印加されるごとに、同一の信号線Ｈ（Ｈ１〜Ｈ３）に接続された画素Ｐの保持電荷に係る電流が、検査装置３Ａに入力することとなるので、当該電流の電圧値を測定することにより、同一の信号線Ｈに係る画素Ｐの電気的特性を検査することができる。
また、走査線Ｖ０への走査信号の出力ごとに、カウンタ２５１によってカウントされるカウント値が１ずつ繰り上がるので、切替信号出力部２５２によって切替信号が出力される切替信号線ＣＬのそれぞれに切替信号が順次出力されることとなり、当該切替信号が入力した各画素Ｐの保持電荷が、各走査線Ｖへの走査信号の出力に伴って、検査装置３Ａに入力することとなる。これによれば、表示パネル１Ａの各画素Ｐの保持電荷を、検査装置３Ａの値測定部３５１が測定することができるので、当該測定値に基づいて、当該各画素Ｐの電気的特性を評価することができる。
従って、表示パネル１Ａの各画素Ｐの電気的特性を詳細に評価することができるので、表示パネル１Ａの良否判定を詳細に検査することができる。

〔３．実施形態の変形〕
本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、前記各実施形態では、表示パネル１，１Ａの各走査線Ｖ（Ｖ１〜Ｖ３）に接続されるスイッチング素子としてＴＦＴ２１を用いたが、本発明はこれに限らない。また、前記各実施形態では、出力状態切替部および導通状態切替部として、ＴＦＴ２２，２３を用いたが、本発明はこれに限らない。例えば、これらに代えて異なる種類のトランジスタを用いてもよく、あるいは、ＴＦＤ（Thin Film Diode）等のダイオードにより構成してもよい。すなわち、電流の導通状態を切替可能な構成であれば、他の構成を適用してもよい。

前記各実施形態では、表示パネル１，１Ａは、電気光学材料として液晶を採用した液晶パネルで構成されるとしたが、本発明はこれに限らない。例えば、ジアミンやアントラセン等の有機物が採用された有機ＥＬパネルで構成してもよい。

前記各実施形態では、表示パネル１，１Ａの出力線統合部２４は、電荷出力線ＤＬ１〜ＤＬ３を１つの電荷出力線ＤＬＸにまとめるとしたが、本発明はこれに限らない。すなわち、出力線統合部２４は、複数の電荷出力線をまとめるのであれば、その本数は適宜設定してよい。

前記各実施形態では、表示パネル１，１Ａは、３つの走査線Ｖ１〜Ｖ３および３つの信号線Ｈ１〜Ｈ３のそれぞれと接続される９つの画素Ｐを備えて構成されるとしたが、本発明はこれに限らない。すなわち、走査線および信号線は、それぞれ３つ以上設けられていてもよく、これらに接続されて構成される画素の数は、適宜設定してよい。

本発明の第１実施形態に係る表示パネルの構成を示す模式図。 前記実施形態における検査装置の構成を示すブロック図。 前記実施形態における表示パネルおよび検査装置に入出力する電流のタイミングチャートを示す図。 前記実施形態における検査処理の処理フローを示す図。 前記実施形態における値測定処理の処理フローを示す図。 本発明の第２実施形態に係る表示パネルの構成を示す模式図。 前記実施形態における表示パネルの表示部の一部を拡大して示す模式図。 前記実施形態における表示パネルおよび検査装置の構成を示すブロック図。 前記実施形態における表示パネルおよび検査装置に入出力する電流のタイミングチャートを示す図。 前記実施形態における検査処理の処理フローを示す図。 前記実施形態における値測定処理の処理フローを示す図。

符号の説明

１，１Ａ…表示パネル、３…検査装置、２１…ＴＦＴ（スイッチング素子）、２２…ＴＦＴ（出力状態切替部、トランジスタ）、２３…ＴＦＴ（導通状態切替部、トランジスタ）、２４…出力線統合部、２５…切替手段、ＤＬ（ＤＬ１，ＤＬ２，ＤＬ３，ＤＬＸ）…電荷出力線、Ｈ（Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３）…信号線、ＬＶ…液晶容量（電気光学材料）、ＰＥ…画素電極、Ｖ（Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ０）…走査線、Ｓ１１，ＳＡ１１…検査信号出力ステップ、Ｓ１２，Ｓ１５，Ｓ１８，ＳＡ１２，ＳＡ１５，ＳＡ１７…走査信号出力ステップ、Ｓ１３，Ｓ１７，ＳＡ１３…信号線電荷出力ステップ、Ｓ１６，Ｓ１９，ＳＡ１６，ＳＡ１８…値測定ステップ。

Claims (5)

1. 互いに対向する駆動基板および対向基板と、これら基板間に封入される電気光学材料とを備え、画像を形成表示する表示パネルであって、
   前記駆動基板には、
   互いに略直交する複数の走査線および複数の信号線と、
   前記複数の走査線および前記複数の信号線の各交差部近傍に配置され、前記信号線に出力された電荷を前記電気光学材料に印加する複数の画素電極と、
   前記走査線に接続され、前記信号線から前記画素電極への電荷の印加状態を切り替える複数のスイッチング素子と、
   当該表示パネルを検査する検査装置に接続され、当該検査装置から入力する検査信号に応じて、前記電気光学材料の保持電荷の出力状態を切り替える複数の出力状態切替部と、
   前記走査線に応じて設けられ、当該走査線に係る前記出力状態切替部により、前記電気光学材料の保持電荷が出力される複数の電荷出力線とが設けられ、
   前記各電荷出力線には、
   当該電荷出力線に前記保持電荷を出力する前記出力状態切替部に係る前記走査線の後に走査信号が出力される前記走査線に接続され、走査信号が入力すると、当該電荷出力線に出力された前記保持電荷を導通する導通状態切替部と、
   前記各導通状態切替部から延出する前記各電荷出力線のうち少なくとも２つをまとめる出力線統合部とが設けられていることを特徴とする表示パネル。
2. 請求項１に記載の表示パネルにおいて、
   前記検査信号の入力に応じて、前記走査線に応じて設けられた前記各出力状態切替部による前記保持電荷の出力状態をそれぞれ独立して切り替える切替手段を備えることを特徴とする表示パネル。
3. 請求項１または請求項２に記載の表示パネルにおいて、
   前記導通状態切替部は、
   前記走査線に接続されるゲートと、
   当該ゲートに走査信号が印加される前記走査線より前に走査信号が印加される前記走査線に係る前記出力状態切替部に接続されるソースと、
   前記出力線統合部に接続されるドレインと、を有するトランジスタで構成されることを特徴とする表示パネル。
4. 請求項１から請求項３のいずれかに記載の表示パネルにおいて、
   前記出力状態切替部は、
   前記検査信号に係る信号が入力するゲートと、
   前記画素電極に接続されるソースと、
   前記導通状態切替部に接続されるドレインとを有するトランジスタで構成されることを特徴とする表示パネル。
5. 互いに対向する駆動基板および対向基板と、これら基板間に密閉封入される電気光学材料とを備え、画像を形成表示する表示パネルを検査する検査装置により実行され、前記表示パネルの良否を検査する表示パネル検査方法であって、
   前記駆動基板には、
   互いに略直交する複数の走査線および複数の信号線と、
   前記複数の走査線および前記複数の信号線の各交差部近傍に配置され、前記信号線に出力された電荷を前記電気光学材料に印加する複数の画素電極と、
   前記走査線に接続され、前記信号線から前記画素電極への電荷の印加状態を切り替える複数のスイッチング素子と、
   前記検査装置に接続され、当該検査装置から入力する検査信号に応じて、前記電気光学材料の保持電荷の出力状態を切り替える複数の出力状態切替部と、
   前記走査線に応じて設けられ、当該走査線に係る前記出力状態切替部により、前記電気光学材料の保持電荷が出力される複数の電荷出力線とが設けられ、
   前記各電荷出力線には、
   当該電荷出力線に前記保持電荷を出力する前記出力状態切替部に係る前記走査線の後に走査信号が出力される前記走査線に接続され、走査信号が入力すると、当該電荷出力線に出力された前記保持電荷を導通する導通状態切替部と、
   前記各導通状態切替部から延出する前記各電荷出力線のうち少なくとも２つをまとめる出力線統合部とが設けられ、
   前記検査信号を出力して、前記複数の出力状態切替部のうち、少なくともいずれかを前記保持電荷の出力状態に切り替える検査信号出力ステップと、
   前記複数の走査線に走査信号を順次出力する走査信号出力ステップと、
   前記信号線に所定の電荷を印加する信号線電荷出力ステップと、
   前記電荷出力線に出力された電荷に係る電流の値を測定する値測定ステップとを実行することを特徴とする表示パネル検査方法。

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