JP2008014914A - 光ファイバ干渉計の動作検証装置、およびｏｃｔ装置 - Google Patents

Abstract

【課題】簡単な構成で迅速且つ正確に光ファイバ干渉計の動作検証を行い、ＯＣＴ装置における診断ミスを軽減する。
【解決手段】ＯＣＴ装置２のプロセッサ部１１は、プローブ１０の先端が嵌入される嵌入穴５０、および信号光Ｌ１を反射させるミラー５１が複数埋設された移動体５２を有する検証部２７と、信号光Ｌ１のミラー５１への光路長が変化するように、プローブ１０に対して移動体５２をプローブ１０の軸方向に沿って移動させるラックギヤ５６、ピニオンギヤ５８、およびステッピングモータ５７と、移動体５２を移動させた際の、ミラー５１で反射された信号光Ｌ１の反射光Ｌ２の強度を検出する光検出部２５と、光検出部２５の検出結果に基づいて、信号光Ｌ１が正常に出射されているか否かを判定する判定部２８とを備える。判定部２８で異常と判定された場合は、警告ランプ３５が点灯され、術者にその旨が報知される。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ファイバ干渉計の動作検証装置、およびＯＣＴ装置に関する。

光ファイバ干渉計を応用した機器として、ＯＣＴ（Optical Coherence Tomography）装置が実用化されている（特許文献１および２参照）。ＯＣＴ装置は、ＳＬＤ(Super Luminescent Diode）などの光源から発せられた低コヒーレンス光を、信号光として被検体の被観察部位に照射するためのプローブ、および、被観察部位で反射された信号光の反射光と、参照光との合波光に含まれる干渉光の強度を測定し、これに基づいて光断層画像を生成するプロセッサ部からなる。
特開２００２−１４８１８５号公報 特開２００６−０２６０１５号公報

プローブの先端には、レンズやミラー、プリズムなどの光学系が配されているが、この光学系が故障して信号光の焦点位置や出射角がずれたりなどすると、光断層画像の画質が劣化し、正確な診断を行うことができなくなる。しかしながら、特許文献１および２に記載の発明では、この問題への対策がなされておらず、診断ミスを引き起こすおそれがあった。

本発明は、上記課題を鑑みてなされたものであり、簡単な構成で迅速且つ正確に光ファイバ干渉計の動作検証を行うことができる光ファイバ干渉計の動作検証装置を提供することを目的とする。

また、本発明は、診断ミスを軽減することができるＯＣＴ装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明は、被検体の被観察部位に信号光を照射するとともに、前記被観察部位からの反射光を受光するための光学系が先端に配されたプローブを有する光ファイバ干渉計の動作検証装置であって、前記プローブの先端が嵌入される嵌入穴、および前記信号光を反射させる反射部材が設けられた検証部と、前記信号光の前記反射部材への光路長が変化するように、前記プローブと前記反射部材とを相対的に移動させる移動手段と、前記移動手段で前記プローブと前記反射部材とを相対的に移動させた際の、前記反射部材で反射された前記信号光の反射光の強度を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出結果に基づいて、前記信号光が正常に出射されているか否かを判定する判定手段とを備えることを特徴とする。

前記反射部材は、前記プローブの軸方向に亘って、前記光路長が段階的に異なるように設けられており、前記移動手段は、前記プローブと前記検証部とを、前記軸方向に沿って相対的に移動させるこが好ましい。

あるいは、前記反射部材は、前記プローブの周方向に亘って、前記光路長が段階的に異なるように設けられており、前記移動手段は、前記プローブと前記検証部とを、前記周方向に沿って相対的に移動させることが好ましい。

前記反射部材は、その反射面が、前記信号光の光軸に対して直交するように配されていることが好ましい。

前記判定手段は、前記光検出手段で検出された前記反射光の強度の最大値と、予め設定された閾値とを比較し、前記最大値が前記閾値よりも大きい場合は正常、前記最大値が前記閾値よりも小さい場合は異常と判定することが好ましい。

前記反射部材で反射された前記信号光の反射光の強度を前記光検出手段で検出している際に、参照光を前記反射光に合波される前に遮光する遮光手段を備えることが好ましい。

前記判定手段の判定結果を表示する表示手段を備えることが好ましい。

また、本発明は、被検体の被観察部位に信号光を照射するとともに、前記被観察部位からの反射光を受光するための光学系が先端に配されたプローブ、および、前記反射光と参照光との合波光に含まれる干渉光の強度に基づいて、前記被観察部位の光断層画像を生成するプロセッサ部を有するＯＣＴ装置において、請求項１ないし７のいずれかに記載の光ファイバ干渉計の動作検証装置が組み込まれていることを特徴とする。

本発明の光ファイバ干渉計の動作検証装置によれば、プローブの先端が嵌入される嵌入穴、および信号光を反射させる反射部材が設けられた検証部と、信号光の反射部材への光路長が変化するように、プローブと反射部材とを相対的に移動させる移動手段と、移動手段でプローブと反射部材とを相対的に移動させた際の、反射部材で反射された信号光の反射光の強度を検出する光検出手段と、光検出手段の検出結果に基づいて、信号光が正常に出射されているか否かを判定する判定手段とを備えるので、簡単な構成で迅速且つ正確に光ファイバ干渉計の動作検証を行うことができる。

また、本発明のＯＣＴ装置によれば、請求項１ないし７のいずれかに記載の光ファイバ干渉計の動作検証装置が組み込まれているので、診断前に信号光が正常に出射されているか否かを判定することができる。したがって、診断ミスを軽減することができる。

図１において、ＯＣＴ装置２は、プローブ１０と、プロセッサ部１１と、モニタ１２とを備えている。プローブ１０は、電子内視鏡１３に設けられた鉗子チャネル１４に挿通される略円筒状の被覆管１５を有し、この被覆管１５が電子内視鏡１３の挿入部１３ａを介して被検体１６内に挿入される。

被覆管１５には、光ファイバ１７が貫通されている。光ファイバ１７の先端部、すなわちプローブ１０の先端部には、レンズ１８が設けられており、レンズ１８のさらに先端部には、ミラー１９が設けられている。光ファイバ１７、レンズ１８、およびミラー１９は、被覆管１５内に固定されて組み込まれている。

レンズ１８は、光ファイバ１７から出射された信号光Ｌ１を集光するとともに、被検体１６の被観察部位２０から反射された信号光Ｌ１の反射光Ｌ２を光ファイバ１７に導光させる。ミラー１９は、信号光Ｌ１および反射光Ｌ２を直角に反射させる。なお、レンズ１８およびミラー１９は、光学系を構成している。

被覆管１５の根本部分には、被覆管１５を周方向に回転、および軸方向にスライド移動させる走査機構２１が取り付けられている。走査機構２１は、コントローラ（図示せず）に接続され、コントローラの制御の下に被覆管１５をスライド移動および回転移動させて、信号光Ｌ１によるラジアル走査を行わせる。

プロセッサ部１１は、光源部２２、ファイバカプラ２３、参照光反射系２４、光検出部２５、画像生成部２６、検証部２７、および判定部２８などからなる。光源部２２は、低コヒーレンス光Ｌ０を発する。

ファイバカプラ２３は、低コヒーレンス光Ｌ０を信号光Ｌ１と参照光Ｌ３とに分岐し、また、反射光Ｌ２と参照光Ｌ３とを合波し、合波光Ｌ４を得る。ファイバカプラ２３は、光ファイバ２９ａで光源部２２と、光ファイバ２９ｂで光検出部２５と、光ファイバ３０ａで参照光反射系２４と、光ファイバ３０ｂでプローブ１０と、それぞれ繋がれている。なお、光ファイバ２９ａ、２９ｂ、３０ａ、３０ｂには、シングルモード型光ファイバが用いられている。

参照光反射系２４は、レンズ３１と、ミラー３２と、駆動部３３と、シャッタ３４とからなる。レンズ３１は、光ファイバ３０ａから出射された参照光Ｌ３を平行光にしてミラー３２に照射するとともに、ミラー３２で反射された参照光Ｌ３を集光して光ファイバ３０ａに導光させる。駆動部３３は、ミラー３２を図の水平方向に移動させ、参照光Ｌ３の光路長を変化させる。シャッタ３４は、詳しくは後述するように、プローブ１０の動作を検証する際に閉じられる。

光検出部２５は、干渉光の強度を検出する。そして、この強度の検出結果を画像生成部２６に出力する。画像生成部２６は、光検出部２５からの干渉光の強度に基づいて、光断層画像を生成する。そして、生成した光断層画像をモニタ１２に出力する。

図２に示すように、検証部２７は、プローブ１０の先端が嵌入される嵌入穴５０と、内部に複数のミラー５１が埋設された移動体５２とを有する。嵌入穴５０は、例えば、プロセッサ部１１の前面から内部に向けて突設された円柱５３内に穿たれており、その一端は、プロセッサ部１１の前面に開口している。

嵌入穴５０には、クリックストップ機構などの抜け止め機構（図示せず）が設けられている。この抜け止め機構により、円柱５３の軸方向に水平なＡ方向に押し込まれたプローブ１０が図示する位置に固定され、Ａ方向と反対のＢ方向にプローブ１０が引っ張られたときに、固定が解除されてプローブ１０が嵌入穴５０から抜かれる。

移動体５２は、円柱５３が挿通される挿通穴５４が中心に穿たれた円筒状をしており、プロセッサ部１１の内部に形成された空間５５内に収容されている。移動体５２、および円柱５３は、信号光Ｌ１を透過する材料、例えば、透明プラスチックなどからなる。

移動体５２の上部には、ラックギヤ５６が取り付けられている。ラックギヤ５６は、ステッピングモータ５７により回転駆動されるピニオンギヤ５８に噛合している。また、ラックギヤ５６に対向する移動体５２の下部には、ガイド突起５９が形成されている。ガイド突起５９は、空間５５を構成する面に穿たれたガイド溝６０に嵌合している。ラックギヤ５６、ガイド突起５９、およびガイド溝６０は、Ａ、Ｂ方向に水平に設けられている。

ミラー５１は、それぞれ直径が僅かに異なる円環状をしており、直径が大きい方から順にＡ方向からＢ方向に掛けて隙間なく並べられている。また、ミラー５１は、移動体５２の中心にその中心が一致しており、反射面５１ａが信号光Ｌ１の光軸に対して直交している。ミラー５１は、光ファイバ１７からレンズ１８、ミラー１９を経て出射された信号光Ｌ１を反射させ、この反射光Ｌ２をミラー１９、レンズ１８を経て再び光ファイバ１７に導光させる。

ステッピングモータ５７が駆動してピニオンギヤ５８が回転駆動されると、移動体５２は、ラックギヤ５６により、ガイド溝６０に沿ってＡ、Ｂ方向、すなわちプローブ１０の軸方向に沿って空間５５内を移動する。ステッピングモータ５７は、ミラー５１の一個一個が信号光Ｌ１を反射する位置で停止するように、移動体５２の移動を制御する。

光検出部２５は、ステッピングモータ５７により移動体５２が停止する毎に、ミラー５１で反射された信号光Ｌ１の反射光Ｌ２の強度を検出し、この検出結果を判定部２８に出力する。

上記のようにして光検出部２５で検出された反射光Ｌ２の強度は、例えば、図３に示すような特性となる。すなわち、信号光Ｌ１のミラー５１への光路長（信号光Ｌ１の出射面からミラー５１までの距離）が、光学系による信号光Ｌ１の焦点位置と一致したときに強度が最大となり、信号光Ｌ１のミラー５１への光路長が焦点位置よりも大きく（＋側）、あるいは小さく（−側）なるにつれて強度が減衰する。

判定部２８は、光検出部２５で検出した反射光Ｌ２の強度の最大値と、予め設定された閾値とを比較する。そして、最大値が閾値よりも大きい場合は、信号光Ｌ１の出射状態が正常であると判定する。一方、最大値が閾値よりも小さい場合は、信号光Ｌ１の出射状態が異常であると判定する。なお、信号光Ｌ１の出射状態が異常となる原因としては、例えば、光学系が故障して信号光Ｌ１の焦点位置や出射角がずれた場合、あるいは、光ファイバ１７や光ファイバ３０ｂが故障して信号光Ｌ１の強度自体が減衰した場合などが考えられる。

判定部２８には、警告ランプ３５が接続されている。警告ランプ３５は、判定部２８の判定結果が異常であった場合に点灯し、術者にその旨を報せる。

次に、上記構成を有するＯＣＴ装置２において、ラジアル光断層画像を表示する際の動作について説明する。まず、電子内視鏡１３の挿入部１３ａを被検体１６内に挿入し、続いてプローブ１０を鉗子口１４に挿入する。

ＯＣＴ装置２の電源が投入されると、低コヒーレンス光Ｌ０が光源部２２から出射される。出射された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ２９ａに導入される。

光ファイバ２９ａを透過した低コヒーレンス光Ｌ０は、ファイバカプラ２３により、光ファイバ３０ｂ内をプローブ１０へと進行する信号光Ｌ１と、光ファイバ３０ａ内を参照光反射系２４へと進行する参照光Ｌ３とに分岐される。

プローブ１０に向かった信号光Ｌ１は、光ファイバ１７を経て、レンズ１８で集光されてミラー１９で直角に反射され、被観察部位２０に照射される。

被観察部位２０の所定の深度で反射された信号光Ｌ１の反射光Ｌ２は、ミラー１９、レンズ１８を経て、光ファイバ１７に導光せしめられる。光ファイバ１７に導光された反射光Ｌ２は、光ファイバ３０ｂに導光される。

一方、参照光反射系２４に向かった参照光Ｌ３は、レンズ３１を介してミラー３２に入射され、ミラー３２で反射される。ミラー３２で反射された参照光Ｌ３は、再度レンズ３１を透過して、光ファイバ３０ａに導光せしめられる。光ファイバ３０ａに導光された参照光Ｌ３と、上述のようにして光ファイバ３０ｂに導光された反射光Ｌ２とは、ファイバカプラ２３によって合波される。

低コヒーレンス光Ｌ０が信号光Ｌ１と参照光Ｌ３とに分岐された後、ファイバカプラ２３に反射光Ｌ２が到達するまでの光路長が、ファイバカプラ２３に参照光Ｌ３が到達するまでの光路長に等しい場合に両光が干渉する。

合波光Ｌ４は、光ファイバ２９ｂを伝搬し、光検出部２５により検出される。光検出部２５では、合波光Ｌ４から、干渉光の強度が検出される。この干渉光の強度の検出は、駆動部３３によりミラー３２がその光軸方向に水平移動されながら行われる。これにより、参照光Ｌ３がファイバカプラ２３に到達するまでの光路長が変化し、参照光Ｌ３と干渉する反射光Ｌ２の光路長も変化するため、断層情報を取得する深度も変化する。

上記のようなミラー３２の動作により、被観察部位２０の表面から所望の深度（例えば、２ｍｍ）までの断層情報が取得される。被観察部位２０における上記一連の検出が終了すると、走査機構２１によって、被覆管１６が僅かに回転またはスライド移動され、被観察部位２０から僅かにずれた点における所定の深度までの断層情報が、上記同様の手順で取得される。このようにして、走査機構２１による微小移動が繰り返されながら、所望の走査範囲の断層情報が取得される。

そして、画像生成部２６において、光検出部２５での干渉光の強度の検出結果に基づいて、光断層画像が生成され、生成された光断層画像がモニタ１２に表示される。

プローブ１０の動作検証を行う際には、まず、ＯＣＴ装置２の電源を投入して、プローブ１０の先端部を嵌入穴５０に差し込んで固定する。そして、ステッピングモータ５７を駆動させてピニオンギヤ５８を回転駆動させ、プローブ１０の軸方向に沿って、移動体５２を空間５５内で移動させる。このとき、ステッピングモータ５７により、ミラー５１の一個一個が信号光Ｌ１を反射する位置で停止するように、移動体５２の移動が制御される。

そして、ステッピングモータ５７により移動体５２が停止する毎に、ミラー５１で反射された信号光Ｌ１の反射光Ｌ２の強度が光検出部２５で検出され、この検出結果が判定部２８に出力される。なお、このとき、シャッタ３４が閉じられ、参照光Ｌ３は参照光反射系２４で遮光される。したがって、光検出部２５で検出される反射光Ｌ２には、参照光Ｌ３は合波されていない。

判定部２８では、光検出部２５で検出した反射光Ｌ２の強度の最大値と、予め設定された閾値とが比較される。最大値が閾値よりも大きい場合は、信号光Ｌ１の出射状態が正常であると判定される。一方、最大値が閾値よりも小さい場合は、信号光Ｌ１の出射状態が異常であると判定され、警告ランプ３５が点灯されて術者にその旨が報知される。

以上説明したように、ＯＣＴ装置２は、信号光Ｌ１のミラー５１への光路長が変化するように、移動体５２をプローブ１０の軸方向に沿って移動させながら、ミラー５１で反射された信号光Ｌ１の反射光Ｌ２の強度を検出し、この検出結果に基づいて、信号光Ｌ１が正常に出射されているか否かを判定するので、術者は電源を投入してプローブ１０を嵌入穴５０に差し込むだけで動作検証を行うことができる。また、異常と判定された場合は、診断を中止してプローブ１０を修理に出すなどの対策を講じることができる。

反射面５１ａが信号光Ｌ１の光軸に対して直交するようにミラー５１を配するので、ミラー５１で反射された反射光Ｌ２を、光ファイバ１７に確実に導光させることができる。また、ミラー５１で反射された反射光Ｌ２の強度を検出している際に、シャッタ３４を閉じて参照光Ｌ３を遮光するので、参照光Ｌ３の影響を考慮することなく、信号光Ｌ１が正常に出射されているか否かを判定することができる。

上記実施形態では、直径が僅かに異なる円環状をした複数のミラー５１が埋設された移動体５２を有する検証部２７を例に挙げて説明したが、図４に示す検証部７０を採用してもよい。検証部７０は、検証部２７と同様に、プローブ１０の先端が嵌入される嵌入穴７１と、内部に複数のミラー７２が埋設された移動体７３とを有する。

移動体７３は、移動体５２と同様に、嵌入穴７１が穿たれた円柱７４が挿通される挿通穴７５が中心に穿たれた円筒状をしており、プロセッサ部１１の内部に形成された空間７６内に収容されている。移動体７３、および円柱７４は、信号光Ｌ１を透過する材料、例えば、透明プラスチックなどからなる。移動体７３には、中心に回転軸７７が軸着されており、回転軸７７には、ステッピングモータ７８が接続されている。

ミラー７２は、移動体７３の中心から放射状に等角で延びた八本の直線上に配されており、それぞれ移動体７３の中心からの距離が僅かに異なるように、移動体７３の中心に関して渦巻き状に配されている。また、ミラー７２は、八本の直線に対して反射面７２ａが直交するように配されている。ミラー７２は、ミラー５１と同様に、光ファイバ１７からレンズ１８、ミラー１９を経て出射された信号光Ｌ１を反射させ、この反射光Ｌ２をミラー１９、レンズ１８を経て再び光ファイバ１７に導光させる。

ステッピングモータ７８が駆動して回転軸７７が回転駆動されると、移動体７３は、Ｃ、Ｄ方向、すなわちプローブ１０の周方向に沿って空間７６内を回転する。ステッピングモータ７８は、ミラー７２の一個一個が信号光Ｌ１を反射する位置で停止するように、移動体７３の移動を制御する。以下、上記実施形態と同様にして、ステッピングモータ７８により移動体７３が停止する毎に、光検出部２５で反射光Ｌ２の強度を検出し、判定部２８で信号光Ｌ１が正常に出射されているか否かを判定する。

上記実施形態では、信号光Ｌ１のミラー５１、７２への光路長を変化させる間隔（ミラー５１、７２個々の配置間隔）は特に規定していないが、図３に示す特性において、光学系の開口率ＮＡが０．１程度のとき、焦点位置から±０．３ｍｍで強度の減衰が１ｄＢ程度となるので、この場合は上記間隔を０．２ｍｍとすれば、信号光Ｌ１が正常に出射されているか否かの判定を行うのに充分な反射光Ｌ２の強度のデータを得ることができる。また、ミラー５１、７２の個数や形状、移動体５２、７３の形状などの検証部２７、７０の構成は、上記実施形態で特に限定されるものではない。

なお、移動体５２、７３を移動させる機構としては、上記実施形態のラックギヤ５６およびピニオンギヤ５８や回転軸７７、ステッピングモータ５７、７８を用いる機構に代えて、ローラやワイヤなどを用いた周知の移動機構を採用してもよい。また、上記実施形態では、プローブ１０を嵌入穴５０、７１に固定して移動体５２、７３を移動させているが、信号光Ｌ１のミラー５１、７２への光路長が変化すればよく、走査機構２１などによって、ミラー５１、７２に対してプローブ１０を移動させてもよい。

また、信号光Ｌ１の出射状態の正常・異常を判定する方法としては、上記実施形態のように閾値と比較する方法に代えて、あるいはこれに加えて、ミラー５１、７２で反射された反射光Ｌ２の強度のピーク位置や、強度特性の形状などを元に判定してもよい。

上記実施形態では、警告ランプ３５を点灯させて判定結果が異常である旨を術者に報知しているが、警告音や音声ガイドなどで判定結果を報知してもよいし、モニタ１２に判定結果を示すメッセージを表示するなどしてもよい。

さらに、プローブ１０が嵌入穴５０、７１に差し込まれたことをセンサなどで検知して、自動的にステッピングモータ５７、７８を駆動させて動作検証を行うように構成してもよい。

上記実施形態では、ミラー５１、７２で反射された反射光Ｌ２の強度の検出結果を元に動作検証を行う例を挙げて説明したが、図５および図６に示すＯＣＴ装置８０、９０のように、参照光Ｌ３の強度の検出結果を元に動作検証を行ってもよい。

図５において、ＯＣＴ装置８０のプロセッサ部８１には、参照光反射系２４から光ファイバ３０ａに導光された参照光Ｌ３を分岐するファイバカプラ８２と、ファイバカプラ８２に光ファイバ８３を介して接続された光検出部８４と、光検出部８４の検出結果に基づいて、正常・異常の判定を行う判定部８５とが設けられている。

ファイバカプラ８２は、ファイバカプラ２３に向かう光ファイバ３０ａと、光検出部８４に向かう光ファイバ８３とに参照光Ｌ３を分岐する。光検出部８４は、光ファイバ８３からの参照光Ｌ３の強度を常時検出し、この検出結果を判定部８５に出力する。判定部８５は、光検出部８４の検出結果に基づいて、参照光反射系２４が正常に動作しているか否かを判定する。判定部８５で異常と判定された場合は、判定部８５に接続された警告ランプ８６が点灯され、術者にその旨が報知される。

図６において、ＯＣＴ装置９０のプロセッサ部９１には、プロセッサ部８１のファイバカプラ８２および光検出部８４と同様に、参照光反射系２４から光ファイバ３０ａに導光された参照光Ｌ３を分岐するファイバカプラ９２と、ファイバカプラ９２に光ファイバ９３を介して接続された光検出部９４とが設けられている。

光検出部９４には、補正部９５が接続されている。補正部９５は、光検出部９４における参照光Ｌ３の強度の検出結果を元に、光検出部２５で検出された合波光Ｌ４の強度の振幅補正を行う。具体的には、光検出部９４における参照光Ｌ３の強度の検出結果と、正常時の参照光Ｌ３の強度とを比較し、検出結果が正常時の参照光Ｌ３の強度となるように適当な補正値を求め、この補正値を用いて上記振幅補正を行う。

このように、参照光Ｌ３の強度の検出結果を元に動作検証を行えば、プローブ１０を用いて被検体１６内の光断層画像を取得している最中でも、動作検証を行うことができる。

なお、上記実施形態では、プローブ１０をラジアル走査してラジアル光断層画像を取得する例を挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、リニア断層画像や、三次元光断層画像を取得するものに適用することも可能である。例えば、リニア断層画像は、被覆管１５を回転させずにスライド移動のみを行うことにより取得される。

上記実施形態では、検証部や判定部などの動作検証に関わる部分を一体的に組み込んだＯＣＴ装置を例示して説明したが、動作検証に関わる部分をＯＣＴ装置とは別体に構成してもよい。また、本発明は、ＯＣＴ装置に限らず、光ファイバ干渉計を応用した全ての機器についても、適用することが可能である。

ＯＣＴ装置の構成を示す概略図である。 検証部の構成を示す拡大断面図である。 反射光の強度の検出結果の一例を示すグラフである。 検証部の別の実施形態を示す拡大断面図である。 参照光の強度の検出結果を元に動作検証を行う例を示す概略図である。 参照光の強度の検出結果を元に動作検証を行う例を示す概略図である。

符号の説明

２、８０、９０ ＯＣＴ装置
１０ プローブ
１１、８１、９１ プロセッサ部
１２ モニタ
１６ 被検体
１８ レンズ
１９ ミラー
２０ 被観察部位
２５、８４、９４ 光検出部
２７、７０ 検証部
２８、８５ 判定部
３４ シャッタ
３５、８６ 警告ランプ
５０、７１ 嵌入穴
５１、７２ ミラー
５１ａ、７２ａ 反射面
５６ ラックギヤ
５７、７８ ステッピングモータ
５８ ピニオンギヤ
７７ 回転軸
９５ 補正部
Ｌ０ 低コヒーレンス光
Ｌ１ 信号光
Ｌ２ 反射光
Ｌ３ 参照光
Ｌ４ 合波光

Claims (8)

1. 被検体の被観察部位に信号光を照射するとともに、前記被観察部位からの反射光を受光するための光学系が先端に配されたプローブを有する光ファイバ干渉計の動作検証装置であって、
   前記プローブの先端が嵌入される嵌入穴、および前記信号光を反射させる反射部材が設けられた検証部と、
   前記信号光の前記反射部材への光路長が変化するように、前記プローブと前記反射部材とを相対的に移動させる移動手段と、
   前記移動手段で前記プローブと前記反射部材とを相対的に移動させた際の、前記反射部材で反射された前記信号光の反射光の強度を検出する光検出手段と、
   前記光検出手段の検出結果に基づいて、前記信号光が正常に出射されているか否かを判定する判定手段とを備えることを特徴とする光ファイバ干渉計の動作検証装置。
2. 前記反射部材は、前記プローブの軸方向に亘って、前記光路長が段階的に異なるように設けられており、
   前記移動手段は、前記プローブと前記検証部とを、前記軸方向に沿って相対的に移動させることを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ干渉計の動作検証装置。
3. 前記反射部材は、前記プローブの周方向に亘って、前記光路長が段階的に異なるように設けられており、
   前記移動手段は、前記プローブと前記検証部とを、前記周方向に沿って相対的に移動させることを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ干渉計の動作検証装置。
4. 前記反射部材は、その反射面が、前記信号光の光軸に対して直交するように配されていることを特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載の光ファイバ干渉計の動作検証装置。
5. 前記判定手段は、前記光検出手段で検出された前記反射光の強度の最大値と、予め設定された閾値とを比較し、
   前記最大値が前記閾値よりも大きい場合は正常、前記最大値が前記閾値よりも小さい場合は異常と判定することを特徴とする請求項１ないし４のいずれかに記載の光ファイバ干渉計の動作検証装置。
6. 前記反射部材で反射された前記信号光の反射光の強度を前記光検出手段で検出している際に、参照光を前記反射光に合波される前に遮光する遮光手段を備えることを特徴とする請求項１ないし５のいずれかに記載の光ファイバ干渉計の動作検証装置。
7. 前記判定手段の判定結果を表示する表示手段を備えることを特徴とする請求項１ないし６のいずれかに記載の光ファイバ干渉計の動作検証装置。
8. 被検体の被観察部位に信号光を照射するとともに、前記被観察部位からの反射光を受光するための光学系が先端に配されたプローブ、および、前記反射光と参照光との合波光に含まれる干渉光の強度に基づいて、前記被観察部位の光断層画像を生成するプロセッサ部を有するＯＣＴ装置において、
   請求項１ないし７のいずれかに記載の光ファイバ干渉計の動作検証装置が組み込まれていることを特徴とするＯＣＴ装置。

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