JP2007527990A - 温度較正の方法および構成 - Google Patents
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Abstract
Description
−チップの実際の温度T1に比例する、第1の信号(Iptat1、Vptat1、fptat1)の読み出し、
−第2の信号(Iptat2、Vptat2、fptat2)を特徴付ける第1の信号(Iptat1、Vptat1、fptat1)と結合する信号オフセット(Ivirt、Vvirt、fvirt)を生成し、
−第1の信号(Iptat1、Vptat1、fptat1)から第1の実際の温度T1を抽出するとともに、第2の信号(Iptat2、Vptat2、fptat2)から第2の実際の温度T2を抽出する。
は、仮想のそして較正されていない温度T2に対応する電流Iptat2に変換される。
式(1)は、第1の温度点を計算するためのものである。
ΔvbeTtest= 第1の温度TtestでのBT1とBT2との間の電圧
Vbe1= 基準エミッタ電圧BT1
Vbe2= 基準エミッタ電圧BT2
k= ボルツマン定数
T= 絶対温度(K)
q= 電子の電荷
n1、n2、n3= いくつの単位トランジスタが並列に接続されたかを示す増倍率(multiplication factor)
x= 精度、回路構成のサイズ等のようなパラメータに依存する変数
Δvbe2= Vbe1 - Vbe2 = (k*T/q)*ln((n1+n3)*n2)|T=Ttest (2)
式(1)および式(2)を用いることにより、仮想の温度T2は、式(3)で計算される。
T2= Ttest*ln((n1+n3)*n2)/ ln(n1*n2) (3)
温度に比例する電流信号は、測定され、そして物理的な法則に基づく。
Iptat= Δvbe/R (4)
式(1)および式(4)を用いることにより、仮想温度T2が式(5)で計算され得る。
T2= Ttest*ln((n1−n3)*n2)/ ln(n1*n2)
Claims (8)
- 温度設定曲線を較正するための半導体チップ上の構成であって、
前記チップの実際の温度に比例する第1の信号を供給する信号生成ユニットを備え、第2の信号を特徴付ける前記第1の信号と結合される信号オフセットが前記信号生成ユニットにより生成可能であり、
前記第1の信号に基づいて第1の温度点を計算するとともに前記第2の信号に基づいて第2の温度点を計算するために、前記第1の信号および前記第2の信号を受信する信号抽出ユニットを備える構成。 - 前記チップの実際の温度に比例する前記第1の信号は、電流、電圧、または、周波数であることを特徴とする請求項1に記載の構成。
- 前記第1の信号および前記第2の信号は、デジタル信号に変換可能であり、前記温度抽出ユニットは、温度設定曲線を較正するために第1および第2の温度点を計算することを特徴とする請求項1に記載の構成。
- 半導体チップ上の温度センサ構成の温度設定曲線を較正する方法であって、
前記チップの実際の温度に比例する第1の信号の読み出し、
第2の信号を特徴付ける前記第1の信号と結合する信号オフセットを生成し、
前記第1の信号から第1の実際の温度を抽出するとともに、前記第2の信号から第2の実際の温度を抽出する方法。 - 結果として得られる前記温度は、前記チップに対する較正パラメータを供給するために用いられることを特徴とする請求項4に記載の方法。
- 較正パラメータの計算は、チップ上でまたはチップ外で実行されることを特徴とする請求項5に記載の方法。
- 追加の信号オフセットは、2つ以上の温度点を計算するとともに非線形の温度設定曲線を較正するために供給されることを特徴とする請求項4に記載の方法。
- 前記信号オフセットは、前記第1の信号から減算されるか、または、温度抽出ユニットに供給される前記第2の信号を特徴付ける前記第1の信号に加算されることを特徴とする請求項4に記載の方法。
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