JP2007305252A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】安定したリードライト性能を得ることのできる光ディスク装置を実現すること。
【解決手段】光源２１と、光源２１から射出される光束を光ディスク２の記録面に集光させる対物レンズ２２と、光ディスクの記録面から反射される光束を受光する光検出器２３を有する光ピックアップ２０と、対物レンズ２２を光ディスク２の半径方向に移動させる微動アクチュエータ２６と、光ピックアップ２０を光ディスク２の半径方向に移動させる粗動アクチュエータ３１と、対物レンズ２２と光ピックアップ２０とを相対的に移動させ、対物レンズ２２と光ピックアップ２０との移動距離に対するエラーレートを測定する制御部１００と、測定されたエラーレートに基づいて、対物レンズ２２の位置を当該エラーレートが低い値を示す位置に設定する制御部１００と、を備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ディスク装置に関する。

従来から、光情報記憶媒体であるＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＭＯ（Magneto-Optical disc）などにデータを記録し、或いは記録されたデータを再生する光ディスク装置が知られている。当該光ディスク装置は、光源から出射された光束をプリズム等で反射させて対物レンズに導く。そして、当該対物レンズから光情報記憶媒体（以下、光ディスク）の情報記録面に光を集光させ、その反射光を光検出器で受光する。これにより、光ディスクにデータの再生又は記憶を行うことが出来る。

データの再生又は記憶（以下、データの再生をリード、データの記憶をライトとする）については、ＢＥＲ（Bit Error Rate）に基づいて性能が判断される（以下、ＢＥＲをエラーレートとする）。ここで、エラーレートとは、ライトデータに対するリードデータの誤り率のことをいう。即ち、光ディスクに記憶したデータを再生した際、記憶したデータに対する再生データの誤り率のことをいう。当該エラーレートに基づいて、データのリードライト性能が判断される。

データのリードライト性能は、トラッキング制御のオフセットに影響する。ここで、トラッキング制御とは、光束の光軸を光ディスクのトラック（溝）の中心に合わせるようにサーボ制御することをいう。オフセットとは、光束の光軸と対物レンズの中心の位置とのズレに応じて生じるトラッキングエラー信号の基準値に対するズレのことをいう。オフセットは、対物レンズの自重によるズレ、トラッキング動作時の対物レンズの移動によるズレ、装置組み立て時における組み立て誤差などによるズレ、外界の温度変化の影響によるズレ、等により生じる。
例えば、トラッキング制御をオフセットが生じた状態で行うと、誤った位置をトラック位置と誤認識した状態でトラッキング制御が行われることとなり、データのリードライト性能が低下してしまう。

このような、オフセットを補償するため、対物レンズがシフトした状態（対物レンズの中心が光束の光軸からずれた状態）でも、当該オフセットの補償を可能にする技術が知られている（例えば、特許文献１参照）。
特開２００４−１９２７７６号公報

しかしながら、上述した従来技術では、オフセット補償後、データのリードライト性能が最適であるか否かの測定は行っていない。つまり、オフセット補償を行った後の対物レンズの位置において、安定したデータのリードライト性能が得られるか否かは不明であった。

そこで、本発明の課題は、安定したリードライト性能を得ることのできる光ディスク装置を実現することである。

上記課題を解決するため、請求項１に記載の発明の光ディスク装置は、
光源と、
前記光源から射出される光束を光ディスクの記録面に集光させる対物レンズと、
前記光ディスクの記録面から反射される光束を受光する光検出器を有する光ピックアップと、
前記対物レンズを前記光ディスクの半径方向に移動させる微動アクチュエータと、
前記光ピックアップを前記光ディスクの半径方向に移動させる粗動アクチュエータと、
前記対物レンズと前記光ピックアップとを相対的に移動させ、前記対物レンズと前記光ピックアップとの移動距離に対するエラーレートを測定する測定手段と、
前記測定手段により測定されたエラーレートに基づいて、前記対物レンズの位置を当該エラーレートが低い値を示す位置に設定する制御手段と、
を備えることを特徴とする。

請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記制御手段は、
前記測定手段により測定したエラーレートが最下値時の前記対物レンズの位置を設定値として選択する選択手段と、
前記光ディスクの半径方向に沿って中心側から外側へ前記光ピックアップ上における対物レンズの位置を前記選択された設定値から一定量シフトさせたときの第１のエラーレートと、前記光ディスクの半径方向に沿って外側から中心側へ前記光ピックアップ上における前記対物レンズの位置を前記設定値から前記一定量と同じ量シフトさせたときの第２のエラーレートと、を前記測定したエラーレートから取得するエラーレート取得手段と、
前記第１のエラーレート及び第２のエラーレートと、エラーレートの閾値と、の比較を行う第１の比較手段と、
前記第１の比較手段による比較の結果、前記第１のエラーレート及び第２のエラーレートが前記エラーレートの閾値よりも小さい場合は、前記設定値を前記対物レンズの位置として決定する決定手段と、
を備えることを特徴とする。

請求項３に記載の発明は、請求項１又は２に記載の光ディスク装置において、
前記制御手段は、
前記第１の比較手段による比較の結果、前記第１のエラーレート及び第２のエラーレートのいずれかが前記エラーレートの閾値以上の場合は、当該エラーレートの閾値よりも大きなエラーレートに対応する対物レンズ位置の方向から前記設定値の方向に、前記対物レンズを前記設定値から所定量シフトさせた位置を設定値として更新し、当該更新した設定値を前記選択手段に選択させることを特徴とする。

請求項４に記載の発明は、請求項２又は３に記載の光ディスク装置において、
前記制御手段は、
前記第１のエラーレートと前記設定値のエラーレートとの差である第１の差分値と、前記第２のエラーレートと前記設定値のエラーレートとの差である第２の差分値と、を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された第１の差分値及び第２の差分値と、エラーレートの差分値の閾値と、の比較を行う第２の比較手段と、を更に備え、
前記決定手段は、
前記第２の比較手段による比較の結果、前記第１の差分値及び第２の差分値が前記エラーレートの差分値の閾値よりも小さい場合は、前記設定値を前記対物レンズの位置として決定することを特徴とする。

請求項５に記載の発明は、請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記制御手段は、
前記測定手段により測定したエラーレートが最下値時の前記対物レンズの位置を設定値として選択する選択手段と、
前記光ディスクの半径方向に沿って中心側から外側へ前記光ピックアップ上における対物レンズの位置を前記選択された設定値から一定量シフトさせたときの第１のエラーレートと、前記光ディスクの半径方向に沿って外側から中心側へ前記光ピックアップ上における前記対物レンズの位置を前記設定値から前記一定量と同じ量シフトさせたときの第２のエラーレートと、を前記測定したエラーレートから取得するエラーレート取得手段と、
前記第１のエラーレートと前記設定値のエラーレートとの差である第１の差分値と、前記第２のエラーレートと前記設定値のエラーレートとの差である第２の差分値と、を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された第１の差分値及び第２の差分値と、エラーレートの差分値の閾値と、の比較を行う第２の比較手段と、
前記第２の比較手段による比較の結果、前記第１の差分値及び第２の差分値が前記エラーレートの差分値の閾値よりも小さい場合は、前記設定値を前記対物レンズの位置として決定する決定手段と、
を備えることを特徴とする。

請求項６に記載の発明は、請求項４又は５に記載の光ディスク装置において、
前記制御手段は、
前記第２の比較手段による比較の結果、前記第１の差分値及び第２の差分値のいずれかが前記エラーレートの差分値の閾値以上の場合は、当該エラーレートの差分値の閾値よりも大きな差分値に対応する対物レンズ位置の方向から前記設定値の方向に、前記対物レンズを前記設定値から所定量シフトさせた位置を設定値として更新し、当該更新した設定値を前記選択手段に選択させることを特徴とする。

請求項１に記載の発明によれば、測定されたエラーレートを用いてキャリブレーションを行うことにより、安定したリードライト性能を得ることができる。

請求項２に記載の発明によれば、第１のエラーレート及び第２のエラーレートがエラーレートの閾値よりも小さい場合は、エラーレートが最下値時を示す位置を対物レンズの位置とすることができる。これにより、エラーレートの最下値を用いてキャリブレーションを行うことができ、安定したリードライト性能を得ることができる。

請求項３に記載の発明によれば、第１のエラーレート及び第２のエラーレートのいずれかがエラーレートの閾値以上の場合は、当該エラーレートの閾値よりも大きなエラーレートに対応する対物レンズ位置から設定値の方向に所定量、当該対物レンズをシフトさせた位置を設定値として更新し、当該更新した設定値を前記選択手段に選択させることができる。これにより、光ディスクの半径方向に対物レンズが振れた場合でも、エラーレートのマージンのある位置を対物レンズの位置として設定することができる。

請求項４、５に記載の発明によれば、算出された第１の差分値及び第２の差分値がエラーレートの差分値の閾値よりも小さい場合は、エラーレートが最下値時を示す位置を対物レンズの位置とすることができる。これにより、エラーレートの最下値を用いてキャリブレーションを行うことができ、安定したリードライト性能を得ることができる。

請求項６に記載の発明によれば、第１の差分値及び第２の差分値のいずれかがエラーレートの差分値の閾値以上の場合は、当該エラーレートの差分値の閾値よりも大きな差分値に対応する対物レンズ位置から設定値の方向に所定量、当該対物レンズをシフトさせた位置を設定値として更新し、当該更新した設定値を前記選択手段に選択させることができる。これにより、光ディスクの半径方向に対物レンズが振れた場合でも、エラーレートのマージンのある位置を対物レンズの位置として設定することができる。

（第１の実施の形態）
以下、添付図面を参照して本発明に係る第１の実施の形態を詳細に説明する。ただし、発明の範囲は、図示例に限定されない。

図１〜図８を参照して、本発明に係る第１の実施の形態を説明する。先ず、図１と図２とを参照して本実施の形態の装置構成を説明する。図１に本実施の形態の光ディスク装置１の概略断面構成図を示す。

図１に示すように、光ディスク装置１は、ディスクトレイ（不図示）に固定されたＣＤやＤＶＤ等の光ディスク２を回転させるスピンドルモータ１１を有するディスク駆動機構部１０と、光ピックアップ２０と、光ピックアップ２０を光ディスク２の半径方向Ｘに移動させる微動アクチュエータ２６及び粗動アクチュエータ３１に一端が結合され他端が回転自在に光ピックアップ２０に結合された送りネジ３２を有する光ピックアップ駆動機構部３０とを備えて構成されている。

光ピックアップ２０は、光源２１、対物レンズ２２、光検出器２３、光学レンズ系２４、レンズホルダ２５等を備えて構成されている。

光源２１は、レーザ光を発生する半導体レーザダイオードであり、対物レンズ２２は、光源２１から射出された光束を光ディスク２の記録面に集光させると共に光ディスク２の記録面から反射された反射光束を集光する。

光検出器２３は、対物レンズ２２が集光した反射光束を受光して、反射光束に応じた電気信号に変換する。

光学レンズ系２４は、光源２１から射出された光束をコリメータレンズ（不図示）により平行光束とし、ビームスプリッタ２４ａを介して対物レンズ２２に平行光束を導くと共に、対物レンズ２２が集光した反射光束をビームスプリッタ２４ａを介して光検出器２３に導く。

レンズホルダ２５は、対物レンズ２２を光ピックアップ２０に対してバネやワイヤ等の弾性支持部材２５ａにより支持すると共に、対物レンズ２２を光ディスク２の半径方向Ｘ及び光ディスク２の記録面と垂直な方向に移動させる微動アクチュエータ（不図示）を備える。

微動アクチュエータは、対物レンズ２２を光ディスク２の記録面と垂直な方向に移動させて光ディスク２の記録面に集光される光束の焦点を調整（フォーカシング）するためのフォーカスコイルと、対物レンズ２２を光ディスク２の半径方向に移動させて光ディスク２のトラックに対物レンズ２２により集光された光束を照射させるトラッキングを行うトラッキングコイルと、フォーカスコイル及びトラッキングコイル夫々と磁気回路を形成するように配置されたヨークマグネットを備えている。

従って、微動アクチュエータの駆動により移動されることによって弾性支持部材２５ａに力が加わり、弾性支持部材２５ａが支持している対物レンズ２２が移動されることとなる。

光ピックアップ駆動機構部３０の粗動アクチュエータ３１は、高精度位置決め用のモータを用いることが好ましく、特に、光ピックアップ２０の移動距離や移動速度を、一定角度（基本ステップ角）のパルス数及びこのパルスの周波数で制御可能なステッピングモータを用いることが好ましい。

次いで、図２に本実施の形態における光ディスク装置１の制御ブロック図を示す。
図２に示すように、光ディスク装置１は、測定手段、制御手段、選択手段、エラーレート取得手段、第１の比較手段、決定手段、第２の比較手段、算出手段としての制御部１００、メモリ１１０、スピンドルモータ１１を駆動させる第１ドライバ１２１、微動アクチュエータ２６を駆動させる第２ドライバ１２２、粗動アクチュエータ３１を駆動させる第３ドライバ１２３、駆動検出回路部１３０、信号処理回路部１４０等を備えて構成されている。

制御部１００は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）、第１〜３ドライバ１２１、１２２、１２３等に対応する各種コントローラ、Ａ／Ｄ変換及びＤ／Ａ変換回路等により構成されている（例えば、システムＬＳＩ（Large Scale Integration））。

制御部１００は、ＲＯＭに記憶されているシステムプログラム及び各種アプリケーションプログラムの中から指定されたプログラムをＲＡＭに展開する。そして、ＲＡＭに展開されたプログラムとの協働で、各種処理を実行する。特にＲＯＭには、後述する第１の対物レンズ位置設定プログラムが記憶される。

また、制御部１００は対物レンズの位置設定処理により、対物レンズを移動させて、エラーレートを測定し、当該エラーレートの測定値に基づいて対物レンズのベストの設定値を決定する。ここで、ベストの設定値とは、データのリードライト動作を行う対物レンズの基準となる位置のことをいう。対物レンズのベストの設定値でリードライト動作を行うことにより、光ディスク２の半径方向に対物レンズの位置が振れた（移動した）場合でも、エラーレートのマージンをある程度確保することができる。また、対物レンズの移動とは、微動アクチュエータ２６と粗動アクチュエータ３１とを駆動させ、光束の焦点を調整するフォーカシング制御、光束を光ディスク２の記録面上のトラックに沿わせるトラックトラッキング制御、光ディスク２の記録面上の特定位置へ光束を移動させるシーク制御、等をプッシュプル方式と呼ばれる信号処理を用いて対物レンズの位置を移動させることをいう。

メモリ１１０は、例えば、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable and Programmable ROM）やフラッシュメモリなどにより構成される。
メモリ１１０は、対物レンズシフト量を記憶する。ここで、対物レンズシフト量とは、対物レンズ２２と光ピックアップ２０との相対的な位置ズレのことをいう。また、メモリ１１０は、エラーレートの測定値及びＦＡ（Fine Actuator）駆動検出信号を記憶する。ここで、エラーレートの測定値とは、制御部１００で測定されたエラーレートの値のことをいう。ＦＡ駆動検出信号については、後述する。
なお、メモリ１１０は、着脱自在に装着可能な構成としてもよい。

第１ドライバ１２１は、制御部１００内のＣＰＵによる指示に基づく第１ドライバ１２１に対応するコントローラからの制御信号に応じた駆動信号をスピンドルモータ１１に出力し、スピンドルモータ１１を駆動させる。

第２ドライバ１２２は、制御部１００内のＣＰＵによる指示に基づく第２ドライバ１２２に対応するコントローラからの制御信号に応じたＦＡ駆動信号を微動アクチュエータ２６に出力し、微動アクチュエータ２６を駆動させる。

ＦＡ駆動信号は、高周波のパルス信号であり、デューティー比や駆動周波数を調整することにより微動アクチュエータ２６を駆動させ対物レンズ２２を移動させる。この対物レンズ２２の移動により対物レンズ２２を支持している弾性支持部材２５ａに加わる力が変更されることとなる。

第３ドライバ１２３は、制御部１００内のＣＰＵによる指示に基づく第３ドライバ１２３に対応するコントローラからの制御信号に応じた駆動信号を粗動アクチュエータ３１に出力し、粗動アクチュエータ３１を駆動させる。

駆動検出回路部１３０は、第２ドライバ１２２から微動アクチュエータ２６に出力される高周波のパルス信号であるＦＡ駆動信号を検出し、検出したＦＡ駆動信号（以下、ＦＡ駆動検出信号という。）に基づいて対物レンズ２２の移動距離を算出する。

対物レンズ２２の移動距離の算出は、例えば、第２ドライバ１２２と微動アクチュエータ２６との間に電流検出抵抗を設けてＦＡ駆動検出信号の電流値を検出し、検出した電流値に基づいて算出したり、ＦＡ駆動検出信号の電圧値を検出し、検出した電圧値に基づいて算出したり、第２ドライバ１２２に対する制御部１００から出力される制御信号をデジタルフィルタにて積分を行い、この積分値に基づいて算出することができる。

このように、本実施の形態においてＦＡ駆動検出信号に基づいて対物レンズ２２の移動距離を算出することができるため、対物レンズ２２の位置を検出する検出器を設ける必要がなくなり、光ディスク装置１を小型化することができる。

信号処理回路部１４０は、光検出器２３から入力される電気信号に基づいてサーボ機構系に用いられる信号処理と、データ系の信号処理とを行う。サーボ機構系の信号処理では、光検出器２３から入力される電気信号を処理し、トラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカシングエラー信号ＦＥ、トラッククロス信号ＴＣを検出する。例えば、トラッキングエラー信号ＴＥを用いたトラッキングサーボ技術としては、プッシュプル方法、３ビーム法等がある。また、フォーカシングエラー信号を用いたフォーカシングサーボ技術としては、非点収差法、臨界角法等がある。データ系の信号処理では、光検出器２３から入力される電気信号に基づいて、光ディスク２の記録面上のアドレス情報ＩＤやデータ信号ＲＦ等を検出する。信号処理回路部１４０は、検出した各種信号を制御部１００に出力する。

次に本実施の形態の動作について図３〜図７を参照して説明する。先ず、図３を参照して、光ディスク装置１で実行される第１の対物レンズ位置設定処理について説明する。第１の対物レンズ位置設定処理は、対物レンズ２２の位置がベストの設定値となるように、対物レンズ２２の位置を設定する処理である。

例えば、光ディスク装置１において、ユーザより第１の対物レンズ位置設定処理の実行指示が図示しない操作部を介して入力される。すると、当該入力をトリガとして、制御部でＲＯＭから読み出されて適宜ＲＡＭに展開された第１の対物レンズ位置設定プログラムと、ＣＰＵとの協働により第１の対物レンズ位置設定処理が実行される。

先ず、電気的オフセットのキャリブレーション、光源２１の確認処理、光ピックアップ２０のフォーカスサーボ位置への移動等、フォーカシング制御処理が実行される前の光ディスク装置１内の各部の初期化処理が実行される（ステップＳ１０１）。初期化処理が終了されると、フォーカシング制御処理が実行される（ステップＳ１０２）。次いで、トラッキング制御処理が実行される（ステップＳ１０３）。ここで、トラッキング制御処理とは、光ディスク２の記録面上のトラックに対して光束の焦点を追従させる処理のことをいう。

そして、試し読み・書き対物シフト特性の測定がおこなわれる（ステップＳ１０４）。ここで、試し読み・書き対物シフト特性とは、対物レンズ２２を光ディスク２の半径方向へ移動させて得られた試し読みデータ又は試し書きデータのことをいう。ここで、試し読みとは、光ディスク２に予め記録されたデータを読み出すことをいう。また、試し書きとは、光ディスク２にデータを記録して、当該記録したデータを読み出すことをいう。ステップＳ１０４の実行後、第１の対物レンズ位置設定処理が終了する。

次に、図４及び図５を参照して、ステップＳ１０４の試し読み・書き対物シフト性能の測定処理について説明する。図４にステップＳ１０４の試し読み・書き対物シフト性能の流れを示す。図５（Ａ）に、対物レンズシフト量とエラーレートの特性を示す。図５（Ｂ）に対物レンズシフト量とＦＡ駆動検出信号の特性を示す。

先ず、対物レンズのシフト量の初期値設定が行われる（ステップＳ２０１）。ここで、対物レンズシフト量の初期値とは、予めメモリ１１０に記憶されている対物レンズシフト量のことをいう。この対物レンズシフト量の初期値がメモリ１１０から読み出されて、対物レンズ２２の移動が行われる。例えば、図５（Ａ）のｘ０が対物レンズシフト量の初期値としてメモリ１１０に記憶されているとする。この場合、対物レンズシフト量の初期値ｘ０の位置へ対物レンズ２２が移動する。ここで、対物レンズ２２の移動は、微動アクチュエータ２６により、同一トラック上に光束が追従する状態が保持された状態で、粗動アクチュエータ３１が規定ステップ数だけ光ディスク２の半径方向に往復駆動される。この場合、粗動アクチュエータ３１が１ステップ駆動される際の対物レンズ２２と光ピックアップ２０との距離は予め定められていることから、粗動アクチュエータ３１の駆動ステップ数に基づいて、対物レンズ２２と光ピックアップ２０との移動距離が算出される。

次いで、光ピックアップ部２０により光ディスク２の試し読み、又は試し書きがおこなわれる（ステップＳ２０２）。ここで、光ディスク２の試し読みとは、光ディスク２に予め記録されたデータを読み出すことをいう。また、光ディスク２の試し書きとは、光ディスク２にデータを記録して、当該記録したデータを読み出すことをいう。そして、エラーレート及びＦＡ駆動検出信号の測定が行われる。

ステップＳ２０２において測定されたエラーレートの測定値及びＦＡ駆動検出信号の測定値がメモリ１１０に記憶される（ステップＳ２０３）。ここで、エラーレートの測定とは、光ディスク２に記録した試し書きデータに対する試し読みデータの誤り率を測定することをいう。また、エラーレートの測定は、光ディスク２に予め記録されたデータに対する読み出しデータの誤り率を測定してもよい。例えば、図５（Ａ）に示すように、光ディスク２の半径方向へ移動させた対物レンズシフト量ｘ０の時のエラーレートの測定値はｙ０となる。また、ＦＡ駆動検出信号の測定とは、駆動検出回路部１３０で検出したＦＡ駆動検出信号を測定することをいう。例えば、図５（Ｂ）に示すように、対物レンズシフト量ｘ０の時のＦＡ駆動検出信号の測定値はｚ０となる。また、メモリ１１０には、対物レンズシフト量に対応するエラーレート及びＦＡ駆動検出信号が対応付けられて記憶される。例えば、対物レンズシフト量ｘ０と、エラーレートｙ０及びＦＡ駆動検出信号ｚ０が対応付けられてメモリ１１０に記憶される。

そして、規定パラメータ全てで測定終了したか否かが判別される（ステップＳ２０４）。ここで、規定パラメータとは、エラーレート及びＦＡ駆動検出信号を測定する対物レンズシフト量の測定ポイントのことをいう。例えば、図５（Ａ）及び（Ｂ）のｘ０，ｘ１・・・ｘ６が規定パラメータである。この場合、規定パラメータｘ０，ｘ１・・・ｘ６の時のエラーレートｙ０，ｙ１・・・ｙ６及びＦＡ駆動検出信号ｚ０，ｚ１，・・・ｚ６がそれぞれ測定される。

規定パラメータ全てで測定終了していない場合（ステップＳ２０４；ＮＯ）、規定パラメータの変更が行われる（ステップＳ２０６）。ここで、規定パラメータの変更とは、対物レンズシフト量の測定ポイントを変更することをいう。

規定パラメータ全てで測定終了している場合（ステップＳ２０４；ＹＥＳ）、第１のベストの設定値決定処理が行われる（ステップＳ２０５）。ここで、ベストの設定値決定処理とは、ベストの設定値となる対物レンズ２２の位置を決定する処理のことをいう。ステップＳ２０５の終了後、試し読み書き対物シフト特性の測定処理は終了する。

次に図６を参照して、図４のステップＳ２０５のベストの設定値の決定処理を説明する。先ず、メモリ１１０に記憶されているエラーレートから、エラーレートの最下値が選択される。そして、当該最下値に対応する対物レンズ２２の位置が読み出される。このエラーレートが最下値のときの対物レンズ２２の位置が設定値ｘＡとして選択される（ステップＳ３０１）。ここで、設定値とは、リードライト動作を行う対物レンズ２２のベストの設定値を求めるための暫定的な対物レンズ２２の位置のことをいう。

そして、設定値ｘＡのときのエラーレート値がメモリ１１０から読み出されて、エラーレートｙＡとして確認される（ステップＳ３０２）。次いで、ｘＡ±ΔｘのエラーレートｙＢ，ｙＣが確認される（ステップＳ３０３）。ここで、ｘＡ±Δｘは、設定値ｘＡを中心として、光ディスク２の半径方向に沿って所定量分±Δｘだけ移動させた対物レンズ２２の位置のことをいう。例えば、ｘＡ−Δｘは、設定値ｘＡから光ディスク２の半径方向へ−Δｘ分移動させたときの対物レンズ２２の位置ｘＢ（ｘＢ＝ｘＡ−Δｘ）となる。また、ｘＡ＋Δｘは、設定値ｘＡから光ディスク２の半径方向へ＋Δｘ分移動させたときの対物レンズ２２の位置ｘＣ（ｘＣ＝ｘＡ＋Δｘ）となる。また、第１のエラーレートとしてのエラーレートｙＢは、対物レンズ２２の位置がｘＢ＝ｘＡ−Δｘのときのエラーレートである。また、第２のエラーレートとしてのエラーレートｙＣは、対物レンズ２２の位置がｘＣ＝ｘＡ＋Δｘのときのエラーレートである。

そして、エラーレートｙＢと予めメモリ１１０に記憶された閾値αとが比較（ｙＢ＜α）される。同様に、エラーレートｙＣと予めメモリ１１０に記憶された閾値αとが比較（ｙＣ＜α）される（ステップＳ３０４）。ここで、閾値αとは、予め定められたエラーレートの閾値のことをいう。

ステップＳ３０４において、エラーレートｙＢ，ｙＣの両方がエラーレートの閾値αよりも小さい場合（ステップＳ３０４；ＹＥＳ）、ｘＡが設定値として決定される（ステップＳ３０５）。

ステップＳ３０４において、エラーレートｙＢ及びｙＣのどちらか１つがエラーレートの所定の閾値αよりも大きい場合（ステップＳ３０４；ＮＯ）、設定値ｘＡがｘＡ＋ｄに更新される（ステップＳ３０７）。ここで、ｄとは、予め設定された値であり、対物レンズ２２の位置を光ディスク２の半径方向へ設定値から所定量移動させる値のことをいう。ステップＳ３０７の実行後、ステップＳ３０２へ移行される。この場合、設定値ｘＡはｘＡ＝ｘＡ＋ｄとしてＳ３０２以降の処理が実行される。例えば、ｘＡ＝ｘＡ＋ｄでステップＳ３０４；ＹＥＳの場合、ｘＡ＝ｘＡ＋ｄがベストの設定値であると決定される。

ステップＳ３０５の実行後、ベストの設定値ｘＡと基準値とのオフセット量が算出される（ステップＳ３０６）。ここで、基準値とは、図５の駆動検出信号がＺ３のとき、即ち、微動アクチュエータ２６に力が加わっていない状態の対物レンズシフト量のことをいう。例えば、図５（Ａ）のグラフでは、ベストの設定値ｘＡはｘ４、基準値はｘ３となる。この場合、ｘ４−ｘ３に対応する駆動検出信号ｚ４−ｚ３がオフセット量として算出される。算出されたオフセット量は、ＲＡＭ等に記憶される。対物レンズの位置をベストの位置へ移動させるときは、当該オフセット量をＲＡＭ等から読み出すことにより実現される。ステップＳ３０６の実行後、第１のベストの設定値決定処理は終了する。

次に、図７を参照して、図６のステップＳ３０４；ＹＥＳの場合に実行される動作について説明する。図７（Ａ），（Ｂ）は横軸に対物レンズシフト量、縦軸にエラーレートを示したグラフである。図７（Ａ），（Ｂ）は、対物レンズ２２をシフトしたときのエラーレートを示す一例である。図７（Ａ）に対物レンズ２２の設定値ｘＡ、エラーレートの最下値ｙＡを示す。図７（Ｂ）に、エラーレートの最下値（ｘＡ，ｙＡ）を中心として、対物レンズ２２の位置を所定量Δｘ移動したときのエラーレート値（ｘＢ，ｙＢ）、（ｘＣ，ｙＣ）を示す。

この場合、図７（Ｂ）に示す通り、エラーレートｙＢは、エラーレートの閾値αよりも小さい（ｙＢ＜α：ＯＫ）。同様にエラーレートｙＣも、エラーレートの閾値αよりも小さい（ｙＣ＜α：ＯＫ）。したがって、エラーレートの最下値に対応する対物レンズ２２の位置ｘＡがリードライト動作を行う位置となる。

同様に、図８を参照して図５のステップＳ３０４；ＮＯの場合に実行される動作について説明する。図８（Ａ），（Ｂ）は、横軸に対物レンズシフト量、縦軸にエラーレートを示した図である。図８（Ａ），（Ｂ）は、対物レンズ２２をシフトしたときのエラーレートを示す一例である。図８（Ａ）に対物レンズ２２の設定値ｘＡ、エラーレートの最下値ｙＡ（ｘＡ、ｙＡ）を示す。また、（ｘＢ、ｙＢ）、（ｘＣ、ｙＣ）は、（ｘＡ、ｙＡ）を中心として、対物レンズ２２の位置を所定量移動したときのエラーレート値である。図８（Ｂ）に、エラーレートの最下値（ｘＡ、ｙＡ）からｄ分移動したとき（即ちｘＡ＝ｘＡ＋ｄに更新されたとき）の（ｘＡ、ｙＡ）を示す。

この場合、図８（Ａ）に示すとおり、エラーレートｙＢは、エラーレートの閾値αよりも大きい（ｙＢ＞α：ＮＧ）。また、エラーレートｙＣはエラーレートの閾値αよりも小さい（ｙＣ＜α：ＯＫ）。即ち、対物レンズ２２の位置がｘＢ方向のエラーレートの変化量は急峻である。これにより、エラーレートの最下値をベストの設定値とすると、ｘＢ方向にはエラーレートのマージンが取れなくなる。したがって、対物レンズ２２が所定量Δｘ振れても（移動しても）エラーレートのマージンが取れるポイントを中心として求める必要がある。ここで、エラーレートが最下値である対物レンズ２２の位置ｘＡを、エラーレートの閾値αよりも大きなエラーレートに対応する対物レンズ位置ｘＢの方向から設定値ｘＡの方向に、対物レンズ２２を設定値ｘＡから所定量ｄだけシフトする。即ち、対物レンズ２２の設定値はｘＡ＝ｘＡ＋ｄとなる。設定値をｘＡ＝ｘＡ＋ｄとすることにより図８（Ｂ）に示す通り、対物レンズ２２のベストの設定値は、所定量±Δｘ振れたとしてもマージンを取ることができる。また、所定量ｄの移動量は、ＦＡ駆動検出信号に基づいて検出される。

以上、本実施の形態によれば、制御部１００により測定されたエラーレートを用いてキャリブレーションを行うことにより、安定したリードライト性能を得ることができる。

また、エラーレートｙＢ及びｙＣがエラーレートの閾値α以下の場合は、設定値ｘＡを対物レンズ２２の位置と決定することができる。これにより、エラーレートの最下値を用いてキャリブレーションを行うことができ、安定したリードライト性能を得ることができる。

また、エラーレートｙＢ及びｙＣのいずれかがエラーレートの閾値α以上の場合は、当該エラーレートの閾値αよりも大きなエラーレートに対応する対物レンズ位置の方向から設定値ｘＡの方向に、対物レンズ２２を設定値ｘＡから所定量ｄ移動させた位置を設定値ｘＡ＝ｘＡ＋ｄとして更新し、当該更新した設定値ｘＡ＝ｘＡ＋ｄを制御部１００に選択させることができる。これにより、光ディスク２の半径方向に対物レンズ２２が振れた場合でも、エラーレートのマージンのある位置を対物レンズ２２の位置として設定することができる。

（第２の実施の形態）
図９〜図１１を参照して、本発明に係る第２の実施の形態を説明する。図９に、第２のベストの設定値決定処理の流れを示す。図１０に図９のステップＳ４０６：ＹＥＳの場合に実行される光ディスク装置１の動作について説明する。図１１に図９のステップＳ４０６：ＮＯの場合に実行される動作について説明する。

本実施の形態は、第１の実施の形態と同様な部分には同一の符号を付し、その詳細な説明を援用し、異なる部分について以下説明する。

光ディスク装置１において、制御部１００のＲＯＭに第２の対物レンズ位置設定プログラムが記憶される。

先ず、図９を参照して、本実施の形態における光ディスク１で実行される第２の対物レンズ位置設定処理について説明する。第２の対物レンズ位置設定処理は、対物レンズ２２の位置がベストの設定値となるように、対物レンズ２２の位置を設定する処理である。第２の対物レンズ位置設定処理は、第１の対物レンズ位置設定処理と比較して、第１のベストの設定値決定処理（図４のステップＳ２０５）が異なる。その他の処理は、第１の対物レンズ位置設定処理と同様である。以下、図９を参照して、第２の対物レンズ設定処理における第２のベストの設定値決定処理を説明する。

先ず、メモリ１１０に記憶されているエラーレートから、エラーレートの最下値が選択される。そして、当該最下値に対応する対物レンズ２２の位置が読み出される。このエラーレートが最下値のときの対物レンズ２２の位置が設定値ｘＡとして選択される（ステップＳ４０１）。ここで、設定値とは、リードライト動作を行う対物レンズ２２のベストの設定値を求めるための暫定的な対物レンズ２２の位置のことをいう。

そして、設定値ｘＡのときのエラーレート値がメモリ１１０から読み出されて、エラーレートｙＡとして確認される（ステップＳ４０２）。次いで、ｘＡ±ΔｘのエラーレートｙＢ，ｙＣが確認される（ステップＳ４０３）。ここで、ｘＡ±Δｘは、設定値ｘＡを中心として、光ディスク２の半径方向に沿って所定量分±Δｘだけ移動させた対物レンズ２２の位置のことをいう。例えば、ｘＡ−Δｘは、設定値ｘＡから光ディスク２の半径方向へ−Δｘ分移動させたときの対物レンズ２２の位置ｘＢ（ｘＢ＝ｘＡ−Δｘ）となる。また、ｘＡ＋Δｘは、設定値ｘＡから光ディスク２の半径方向へ＋Δｘ分移動させたときの対物レンズ２２の位置ｘＣ（ｘＣ＝ｘＡ＋Δｘ）となる。また、エラーレートｙＢは、対物レンズ２２の位置がｘＢ＝ｘＡ−Δｘのときのエラーレートである。また、エラーレートｙＣは、対物レンズ２２の位置がｘＣ＝ｘＡ＋Δｘのときのエラーレートである。

そして、エラーレートｙＢと予めメモリ１１０に記憶された閾値αとが比較（ｙＢ＜α）される。同様に、エラーレートｙＣと予めメモリ１１０に記憶された閾値αとが比較（ｙＣ＜α）される（ステップＳ４０４）。ここで、閾値αとは、予め定められたエラーレートの閾値のことをいう。

ステップＳ４０４において、エラーレートｙＢ及びｙＣのどちらか１つがエラーレートの所定の閾値αよりも大きい場合（ステップＳ４０４；ＮＯ）、設定値ｘＡがｘＡ＋ｄに更新される（ステップＳ４０７）。ここで、ｄとは、予め設定された値であり、対物レンズ２２の位置を光ディスク２の半径方向へ設定値から所定量移動させる値のことをいう。

ステップＳ４０７の実行後、ステップＳ４０２へ移行される。この場合、設定値ｘＡはｘＡ＝ｘＡ＋ｄとしてＳ４０２以降の処理が実行される。

ステップＳ４０４において、エラーレートｙＢ，ｙＣの両方がエラーレートの閾値αよりも小さい場合（ステップＳ４０４；ＹＥＳ）、エラーレートｙＢとエラーレートｙＡとの第１の差分値としての差分値ｙＢ−ｙＡが算出される。さらに、エラーレートｙＣとエラーレートｙＡとの第２の差分値としての差分値ｙＣ−ｙＡが算出される（ステップＳ４０５）。そして、算出された差分値ｙＢ−ｙＡと予めメモリ１１０に記憶された閾値βとが比較（ｙＢ−ｙＡ＜β）される。同様に、算出された差分値ｙＣ−ｙＡと予めメモリ１１０に記憶された閾値βとが比較（ｙＣ−ｙＡ＜β）される（ステップＳ４０６）。ここで、閾値βとは、予め定められたエラーレートの差分値の閾値のことをいう。

ステップＳ４０６において、算出された差分値ｙＢ−ｙＡ及びｙＣ−ｙＡの両方がエラーレートの差分値の閾値βよりも小さい場合（ステップＳ４０６；ＹＥＳ）、ｘＡが設定値として決定される（ステップＳ４０８）。

ステップＳ４０６において、算出された差分値ｙＢ−ｙＡ及びｙＣ−ｙＡのどちらか１つがエラーレートの所定の閾値βよりも大きい場合（ステップＳ４０６；ＮＯ）、設定値ｘＡがｘＡ＋ｄに更新される（ステップＳ４０７）。ステップＳ４０７の実行後、ステップＳ４０２へ移行される。この場合、設定値ｘＡはｘＡ＝ｘＡ＋ｄとしてＳ４０２以降の処理が実行される。例えば、ｘＡ＝ｘＡ＋ｄでステップＳ４０４及びステップＳ４０６；ＹＥＳの場合、ｘＡ＝ｘＡ＋ｄがベストの設定値であると決定される。

ステップＳ４０８の実行後、ベストの設定値ｘＡと基準値とのオフセット量が算出される（ステップＳ４０９）。ここで、基準値とは、光束の光軸中心と対物レンズの中心とが一致する対物レンズの位置のことをいう。例えば、図５（Ａ）のグラフでは、ベストの設定値ｘＡはｘ４、基準値はｘ３となる。この場合、ｘ４−ｘ３に対応する駆動検出信号ｚ４−ｚ３がオフセット量として算出される。算出されたオフセット量は、ＲＡＭ等に記憶される。対物レンズの位置をベストの位置へ移動させるときは、当該オフセット量をＲＡＭ等から読み出すことにより実現される。ステップＳ４０９の実行後、第２のベストの設定値決定処理は終了する。

次に、図１０を参照して、図９のステップＳ４０４；ＹＥＳ及びステップＳ４０６；ＹＥＳの場合に実行される動作について説明する。図１０（Ａ），（Ｂ）は横軸に対物レンズシフト量、縦軸にエラーレートを示したグラフである。図１０（Ａ），（Ｂ）は、対物レンズ２２をシフトしたときのエラーレートを示す一例である。図１０（Ａ）に対物レンズ２２の設定値ｘＡ、エラーレートの最下値ｙＡを示す。図１０（Ｂ）に、エラーレートの最下値（ｘＡ，ｙＡ）を中心として、対物レンズ２２の位置を所定量Δｘ移動したときのエラーレート値（ｘＢ，ｙＢ）、（ｘＣ，ｙＣ）を示す。

この場合、図１０（Ｂ）に示す通り、エラーレートｙＢ及びｙＣはエラーレートの閾値αよりも小さい。また、エラーレートの最下値ｙＡとｙＢとの差分値ｙＢ−ｙＡは、エラーレートの閾値αよりも小さい（ｙＢ−ｙＡ＜β：ＯＫ）。同様に差分値ｙＣ−ｙＡも、エラーレートの閾値αよりも小さい（ｙＣ−ｙＡ＜β：ＯＫ）。したがって、エラーレートの最下値に対応する対物レンズ２２の位置ｘＡがリードライト動作を行う位置となる。

同様に、図１１を参照して図９のステップＳ４０４；ＹＥＳ及びステップＳ４０６；ＮＯの場合に実行される動作について説明する。図１１（Ａ），（Ｂ）は、横軸に対物レンズシフト量、縦軸にエラーレートを示した図である。図１１（Ａ），（Ｂ）は、対物レンズ２２をシフトしたときのエラーレートを示す一例である。図１１（Ａ）に対物レンズ２２の設定値ｘＡ、エラーレートの最下値ｙＡ（ｘＡ、ｙＡ）を示す。また、（ｘＢ、ｙＢ）、（ｘＣ、ｙＣ）は、（ｘＡ、ｙＡ）を中心として、対物レンズ２２の位置を所定量移動したときのエラーレート値である。図１１（Ｂ）に、エラーレートの最下値（ｘＡ、ｙＡ）からｄ分移動したとき（即ちｘＡ＝ｘＡ＋ｄに更新されたとき）の（ｘＡ、ｙＡ）を示す。

この場合、図１１（Ａ）に示すとおり、エラーレートｙＢ及びｙＣはエラーレートの閾値αよりも小さい。しかし、エラーレートの最下値ｙＡとｙＢとの差分値ｙＢ−ｙＡは、エラーレートの差分値の閾値βよりも大きい（ｙＢ−ｙＡ＞β：ＮＧ）。また、差分値ｙＣ−ｙＡはエラーレートの差分値の閾値βよりも小さい（ｙＣ―ｙＡ＜β：ＯＫ）。即ち、対物レンズ２２の位置がｘＢ方向のエラーレートの変化量は急峻である。これにより、エラーレートの最下値をベストの設定値とすると、ｘＢ方向にはエラーレートのマージンが取れなくなる。したがって、対物レンズ２２が所定量Δｘ振れても（移動しても）エラーレートのマージンが取れるポイントを中心として求める必要がある。ここで、エラーレートが最下値である対物レンズ２２の位置ｘＡを、エラーレートの差分値の閾値βよりも大きな差分値ｙＢ−ｙＡに対応する対物レンズ位置ｘＢの方向から設定値ｘＡの方向に、対物レンズ２２を設定値ｘＡから所定量ｄだけシフトする。即ち、対物レンズ２２の設定値はｘＡ＝ｘＡ＋ｄとなる。設定値をｘＡ＝ｘＡ＋ｄとすることにより図１１（Ｂ）に示す通り、対物レンズ２２のベストの設定値は、所定量±Δｘ振れたとしてもマージンを取ることができる。また、所定量ｄの移動量は、ＦＡ駆動検出信号に基づいて検出される。

以上、本実施の形態によれば、制御部１００により測定されたエラーレートを用いてキャリブレーションを行うことにより、安定したリードライト性能を得ることができる。

また、算出されたｙＢ−ｙＡ及びｙＣ−ｙＡがエラーレートの差分値の閾値β以下の場合は、設定値ｘＡを対物レンズ２２の位置と決定することができる。これにより、エラーレートの最下値を用いてキャリブレーションを行うことができ、安定したリードライト性能を得ることができる。

また、ｙＢ−ｙＡ及びｙＣ−ｙＡのいずれかがエラーレートの差分値の閾値β以上の場合は、当該エラーレートの閾値βよりも大きな差分値に対応する対物レンズ位置の方向から設定値ｘＡの方向に、対物レンズ２２を設定値ｘＡから所定量ｄ移動させた位置を設定値ｘＡ＝ｘＡ＋ｄとして更新し、当該更新した設定値ｘＡ＝ｘＡ＋ｄを制御部１００に選択させることができる。これにより、光ディスク２の半径方向に対物レンズ２２が振れた場合でも、エラーレートのマージンのある位置を対物レンズ２２の位置として設定することができる。

なお、上記実施の形態における記述は、本発明に係る光ディスク装置１の一例であり、これに限定されるものではない。

例えば、図９のステップＳ４０４でエラーレートｙＢ，ｙＣのどちらか１つがエラーレートの閾値αよりも大きいか否かを判別してから、ステップＳ４０６でエラーレートの差分値の閾値βよりも大きいか否かを判別する構成としたが、図９のステップＳ４０４を除いた構成としてもよい。即ち、エラーレートｙＢ及びｙＣを確認した後（ステップＳ４０３）、ステップＳ４０５に移行する構成としてもよい。

また、対物レンズ２２の移動は、微動アクチュエータ２６のみを駆動させて対物レンズ２２を光ディスク２の半径方向に移動させる構成としてもよい。具体的には、粗動アクチュエータ３１に駆動信号が出力されていない状態（即ち、光ピックアップ２０の位置を変えない状態）を保ちつつ、第２ドライバ１２２により微動アクチュエータ２６が規定トラック数だけ光ディスク２の半径方向に往復移動され、対物レンズ２２と光ピックアップ２０とが相対的に移動される。また、光ディスク２の規格により予めトラック幅が定められていることから、当該トラック幅とトラック数を示す情報に基づいて、対物レンズ２２の移動量を求めることができる。

その他、上記実施の形態における光ディスク装置１の細部構成及び詳細動作に関しても、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。

本発明に係る光ディスク装置１の概要断面構成図である。 本発明に係る光ディスク装置１の制御ブロック図である。 対物レンズ位置設定処理を示すフローチャートである。 試し読み・書き対物シフト特性の測定処理を示すフローチャートである。 対物レンズシフト量とエラーレートとの特性及び対物レンズシフト量とＦＡ駆動検出信号との特性を示す図である。 第１のベストの設定値決定処理を示すフローチャートである。 対物レンズのシフト量とエラーレートの特性の一例を示す図である。 対物レンズのシフト量とエラーレートの特性の一例を示す図である。 第２のベストの設定値決定処理を示すフローチャートである。 対物レンズのシフト量とエラーレートの特性の一例を示す図である。 対物レンズのシフト量とエラーレートの特性の一例を示す図である。

符号の説明

１ 光ディスク装置
２ 光ディスク
１０ ディスク駆動機構部
１１ スピンドルモータ
２０ 光ピックアップ
２１ 光源
２２ 対物レンズ
２３ 光検出器
２４ 光学レンズ系
２４ａ ビームスプリッタ
２５ レンズホルダ
２５ａ 弾性支持部材
２６ 微動アクチュエータ
３０ 光ピックアップ駆動機構部
３１ 粗動アクチュエータ
３２ 送りネジ
１００ 制御部
１１０ メモリ
１２１ 第１ドライバ
１２２ 第２ドライバ
１２３ 第３ドライバ
１３０ 駆動検出回路部
１４０ 信号処理回路部

Claims (6)

1. 光源と、
   前記光源から射出される光束を光ディスクの記録面に集光させる対物レンズと、
   前記光ディスクの記録面から反射される光束を受光する光検出器を有する光ピックアップと、
   前記対物レンズを前記光ディスクの半径方向に移動させる微動アクチュエータと、
   前記光ピックアップを前記光ディスクの半径方向に移動させる粗動アクチュエータと、
   前記対物レンズと前記光ピックアップとを相対的に移動させ、前記対物レンズと前記光ピックアップとの移動距離に対するエラーレートを測定する測定手段と、
   前記測定手段により測定されたエラーレートに基づいて、当該エラーレートが低い値を示す位置に前記対物レンズの位置を設定する制御手段と、
   を備えることを特徴とする光ディスク装置。
2. 前記制御手段は、
   前記測定手段により測定したエラーレートが最下値時の前記対物レンズの位置を設定値として選択する選択手段と、
   前記光ディスクの半径方向に沿って中心側から外側へ前記光ピックアップ上における対物レンズの位置を前記選択された設定値から一定量シフトさせたときの第１のエラーレートと、前記光ディスクの半径方向に沿って外側から中心側へ前記光ピックアップ上における前記対物レンズの位置を前記設定値から前記一定量と同じ量シフトさせたときの第２のエラーレートと、を前記測定したエラーレートから取得するエラーレート取得手段と、
   前記第１のエラーレート及び第２のエラーレートと、エラーレートの閾値と、の比較を行う第１の比較手段と、
   前記第１の比較手段による比較の結果、前記第１のエラーレート及び第２のエラーレートが前記エラーレートの閾値よりも小さい場合は、前記設定値を前記対物レンズの位置として決定する決定手段と、
   を備えることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 前記制御手段は、
   前記第１の比較手段による比較の結果、前記第１のエラーレート及び第２のエラーレートのいずれかが前記エラーレートの閾値以上の場合は、当該エラーレートの閾値よりも大きなエラーレートに対応する対物レンズ位置の方向から前記設定値の方向に、前記対物レンズを前記設定値から所定量シフトさせた位置を設定値として更新し、当該更新した設定値を前記選択手段に選択させることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク装置。
4. 前記制御手段は、
   前記第１のエラーレートと前記設定値のエラーレートとの差である第１の差分値と、前記第２のエラーレートと前記設定値のエラーレートとの差である第２の差分値と、を算出する算出手段と、
   前記算出手段により算出された第１の差分値及び第２の差分値と、エラーレートの差分値の閾値と、の比較を行う第２の比較手段と、を更に備え、
   前記決定手段は、
   前記第２の比較手段による比較の結果、前記第１の差分値及び第２の差分値が前記エラーレートの差分値の閾値よりも小さい場合は、前記設定値を前記対物レンズの位置として決定することを特徴とする請求項２又は３に記載の光ディスク装置。
5. 前記制御手段は、
   前記測定手段により測定したエラーレートが最下値時の前記対物レンズの位置を設定値として選択する選択手段と、
   前記光ディスクの半径方向に沿って中心側から外側へ前記光ピックアップ上における対物レンズの位置を前記選択された設定値から一定量シフトさせたときの第１のエラーレートと、前記光ディスクの半径方向に沿って外側から中心側へ前記光ピックアップ上における前記対物レンズの位置を前記設定値から前記一定量と同じ量シフトさせたときの第２のエラーレートと、を前記測定したエラーレートから取得するエラーレート取得手段と、
   前記第１のエラーレートと前記設定値のエラーレートとの差である第１の差分値と、前記第２のエラーレートと前記設定値のエラーレートとの差である第２の差分値と、を算出する算出手段と、
   前記算出手段により算出された第１の差分値及び第２の差分値と、エラーレートの差分値の閾値と、の比較を行う第２の比較手段と、
   前記第２の比較手段による比較の結果、前記第１の差分値及び第２の差分値が前記エラーレートの差分値の閾値よりも小さい場合は、前記設定値を前記対物レンズの位置として決定する決定手段と、
   を備えることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
6. 前記制御手段は、
   前記第２の比較手段による比較の結果、前記第１の差分値及び第２の差分値のいずれかが前記エラーレートの差分値の閾値以上の場合は、当該エラーレートの差分値の閾値よりも大きな差分値に対応する対物レンズ位置の方向から前記設定値の方向に、前記対物レンズを前記設定値から所定量シフトさせた位置を設定値として更新し、当該更新した設定値を前記選択手段に選択させることを特徴とする請求項４又は５に記載の光ディスク装置。

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