JP2007303845A - 位置検出方法及び撮像装置 - Google Patents

位置検出方法及び撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007303845A
JP2007303845A JP2006129736A JP2006129736A JP2007303845A JP 2007303845 A JP2007303845 A JP 2007303845A JP 2006129736 A JP2006129736 A JP 2006129736A JP 2006129736 A JP2006129736 A JP 2006129736A JP 2007303845 A JP2007303845 A JP 2007303845A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sine wave
value
wave signals
change rate
values
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2006129736A
Other languages
English (en)
Inventor
Sadafumi Kaneda
禎史 金田
Tomoyuki Suzuki
智之 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Victor Company of Japan Ltd filed Critical Victor Company of Japan Ltd
Priority to JP2006129736A priority Critical patent/JP2007303845A/ja
Publication of JP2007303845A publication Critical patent/JP2007303845A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】 MR素子から出力される正弦波信号の歪みの影響を軽減し、より正確な位置検出を行うことができる位置検出方法及びその位置検出方法を適用した撮像装置を提供する。
【解決手段】 MR素子から出力される、位相角が90度異なる正弦波信号を所定サンプリング周期でサンプリングし、そのサンプル値に基づいて2つの正弦波信号の変化率を示す変化率パラメータRSA及びRSBを算出する。変化率パラメータの絶対値の差が所定値より小さくなったときのサンプル値を用いて、2つの正弦波信号のオフセット値を示す初期化パラメータB,Cを算出する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、磁気抵抗素子(以下「MR素子」という)の出力信号を使った位置検出方法及びその位置検出方法を適用した撮像装置に関する。
ビデオカメラの光学系のレンズ位置を検出する位置検出器などに用いられるMR素子の出力信号は、直流成分に正弦波信号が重畳されたものであるため、レンズ位置の検出を行うためには、交流成分の振幅値と直流成分の大きさを示すオフセット値を求める必要がある。
特許文献1には、MR素子から出力される正弦波信号の1周期に対応する距離以上、位置検出の対象物を移動させて、MR素子から出力される正弦波信号の最大値と最小値を計測し、その最大値と最小値の平均値としてオフセット値を求め、また、最大値と最小値の差として交流成分の振幅値を求める手法が示されている。
特許第3173531号公報
しかしながら、位置検出器内部の部品間の相対的位置が時間的に変化することにより、位置検出器からの出力には、歪みが生じる可能性がある。この歪みは位置検出器出力の最大値及び最小値に最も大きく影響する。従って、位置検出器出力の最大値と最小値を使用して振幅値及びオフセット値を算出する従来手法では、算出された振幅値及びオフセット値が歪みの影響を大きく受けて、精度が低下している可能性がある。
本発明はこの点に着目してなされたものであり、MR素子から出力される正弦波信号の歪みの影響を軽減し、より正確な位置検出を行うことができる位置検出方法及びその位置検出方法を適用した撮像装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため請求項1に記載の発明は、2つの磁気抵抗素子から出力される、位相角が90度ずれた2つの正弦波信号に基づいて、磁性体が固定され、直線的に移動する移動部材の位置を検出する位置検出方法において、前記移動部材を前記正弦波信号の1周期に対応する距離以上移動させ、前記周期より十分に短い所定サンプリング周期で前記2つの正弦波信号のレベルをサンプリングし、該サンプリングしたサンプル値に基づいて、前記2つの正弦波信号の時間変化率を示す変化率パラメータを算出し、前記2つの変化率パラメータの絶対値の差が所定値より小さくなったときの、前記サンプル値を少なくとも2組取得し、該取得したサンプル値に基づいて、前記2つの正弦波信号のオフセット値を示す初期化パラメータを算出し、該初期化パラメータ及び前記2つの正弦波信号に基づいて、前記移動部材の位置を検出することを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の位置検出方法において、前記初期化パラメータは、2組の前記サンプル値を用いて算出され、該2組のサンプル値は、前記1周期に対応する期間に取得したサンプル値の中から、前記2つの変化率パラメータの互いの符号が同一であるか、もしくは相異なるサンプル値系列の中より、絶対値の差が小さい方から2組選択されたものであることを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、レンズの位置をリニアモータにより移動可能な光学系と、前記レンズの位置を検出する位置検出手段と、検出されたレンズ位置に応じて前記リニアモータの駆動制御を行う制御手段とを備える撮像装置において、前記光学系は、磁性体が固定された、前記レンズの支持部材と、位相角が90度ずれた2つの正弦波信号を出力するように配置された2つの磁気抵抗素子とを備え、前記制御手段は、前記移動部材を前記正弦波信号の1周期に対応する距離以上移動させる初期化移動手段を備え、前記位置検出手段は、前記周期より十分に短い所定サンプリング周期で前記2つの正弦波信号のレベルをサンプリングするサンプリング手段と、該サンプリングしたサンプル値に基づいて、前記2つの正弦波信号の時間変化率を示す変化率パラメータを算出する変化率パラメータ算出手段と、前記2つの変化率パラメータの絶対値の差が所定値より小さくなったときの、前記サンプル値を少なくとも2組取得するサンプル値取得手段と、該取得したサンプル値に基づいて、前記2つの正弦波信号のオフセット値を示す初期化パラメータを算出する初期化パラメータ算出手段とを備え、該初期化パラメータ及び前記2つの正弦波信号に基づいて、前記レンズ位置を検出することを特徴とする。
請求項1または3に記載の発明によれば、移動部材を正弦波信号の1周期に対応する距離以上移動させ、その周期より十分に短い所定サンプリング周期で2つの正弦波信号のレベルがサンプリングされ、サンプリングされたサンプル値に基づいて、2つの正弦波信号の時間変化率を示す変化率パラメータが算出される。この2つの変化率パラメータの絶対値の差が所定値より小さくなったときの、サンプル値が少なくとも2組取得され、取得されたサンプル値に基づいて、2つの正弦波信号のオフセット値を示す初期化パラメータが算出される。初期化パラメータ及び2つの正弦波信号に基づいて、移動部材の位置が検出される。2つの変化率パラメータの絶対値の差が小さくなるのは、正弦波信号の最大値または最小値に対応する位相角から約45度ずれた位相であり、この位相のサンプル値は最大値または最小値より、波形歪みの影響を受け難い。したがって、MR素子から出力される正弦波信号の歪みの影響を軽減し、より正確な位置検出を行うことができる。

請求項2に記載の発明によれば、初期化パラメータは、2組のサンプル値を用いて算出され、その2組のサンプル値は、正弦波信号の1周期に対応する期間に取得されたサンプル値の中から、前記2つの変化率パラメータの互いの符号が同一であるか、もしくは相異なるサンプル値系列の中より、絶対値の差が小さい方から2組選択されたものである。この2組のサンプル値が前記正弦波信号の最大値または最小値に対応する位相角から約45度ずれた位相のサンプル値となり、正確な位置検出を行うことができる。
以下本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図1は本発明の一実施形態にかかる位置検出方法を適用した、ビデオカメラ(撮像装置)の要部の構成を示すブロック図である。このビデオカメラは、レンズ鏡筒(光学系)1と、制御用メインマイコン8と、増幅器6、7、13とを備えている。レンズ鏡筒1はレンズ(図示せず)と、該レンズを支持する支持部材(図示せず)と、支持部材を駆動するリニアモータ部2を備えている。リニアモータ部2は、可動コイル3と、該可動コイル3とともに移動する位置検出マグネット(磁性体)4と該位置検出マグネット4と常に一定の距離を隔てて対峙するように固定された2つのMR素子からなる位置センサ5とを備えている。前記支持部材は、可動コイル3に固定されており、前記支持部材(移動部材)は、可動コイル3とともに移動する。
位置センサ5の2つのMR素子は、位置検出マグネット4からの磁界を受けることにより、この磁界の変化に応じて変化する信号を出力する。位置検出マグネット4は、一定距離間隔で磁極のNとSが交互に並ぶように着磁されている。そのため、リニアモータ部2が動作したとき、2つのMR素子はそれぞれ正弦波信号を出力し、同時刻における2つのMR素子の出力信号SA及びSBはAsinθ+B及びAcosθ+Cとなるように、2つのMR素子の間隔が調整されている。ここでAは正弦波信号の振幅値パラメータであり、B及びCは正弦波信号に重畳されている直流成分を示すオフセット値である。出力信号SA、SBはそれぞれ増幅器6、7により増幅されて、制御用メインマイコン8に供給される。
制御用メインマイコン8は、2チャンネルのA/D変換器9と、波形補正部10と、位置計算部11と、位置制御部12とを備えている。波形補正部10、位置計算部11、位置制御部12は、実際にはCPUで実行されるソフトウェア処理で実現される。増幅器6、7で増幅された出力信号SA及びSBは2チャンネルのA/D変換器9に入力され、それぞれデジタル値DSA及びDSBに変換され、波形補正部10に入力される。波形補正部10では、あらかじめビデオカメラの起動時及びリセット時に行う初期化動作において検出し、記憶されているオフセット値B、Cを使い出力信号DSA及びDSBの補正を行う。位置計算部11は、補正出力信号DSA及びDSBからレンズの位置を算出し、算出結果を位置制御部12に出力する。位置制御部12は、レンズの位置情報と、レンズの目標位置とに応じて可動コイル3の駆動信号を出力する。位置制御部12から出力された駆動信号は増幅器13にて増幅され、可動コイル3に入力される。このようにして、フィードバック制御によるレンズの位置制御が行われる。
次に、波形補正部10で使われる正弦波のオフセット値B、C(以下これらを「初期化パラメータ」という)の算出について説明する。この初期化パラメータの算出はビデオカメラの電源投入時またはリセット時に行われる。まず、モータを一方方向に一定速度で動作させ、2つのMR素子の出力信号SA、SBを1周期以上観測する。この時の観測データから初期化パラメータB、Cを算出する。従来の算出方法では、出力信号SAの最大値と最小値をそれぞれMAXSA、MINSAとし、出力信号SBの最大値と最小値をそれぞれMAXSB、MINSBとすると、振幅値パラメータA及び初期化パラメーB、Cは次の式(2)、(3)により求められる。
B=(MAXSA+MINSA)/2 (2)
C=(MAXSB+MINSB)/2 (3)
図2は出力信号SAの最大値MAXSA、最小値MINSA、振幅値パラメータA、及びオフセット値Bの関係を説明するための波形図である。なお、図示しない出力信号SBについても同様の関係が成り立つ。図2に示す出力信号SAの波形は理想的な状態を示したものである。リニアモータ部2内に設置されているMR素子は、位置検出マグネット4と常に一定距離を隔てて対峠するように固定されており、前述したように、この位置検出マグネット4からの磁界を受ける事により、この磁界の変化に応じて変化する信号がMR素子から出力される。理想的には、MR素子は位置検出マグネット4と常に一定距離を隔てて対峙するように固定されるべきであるが、実際には工作精度などの原因により、MR素子と位置検出マグネット4との距離DMMは常に一定になっているわけではない。MR素子と位置検出マグネット4との距離DMMの変動は出力信号SA、SBの波形Asinθ+B、Acosθ+Cの振幅値パラメータAの変動として現われる。
図3はMR素子と位置検出マグネット4との距離DMMの変動が出力信号SAに与える影響について説明するための波形図である。図3に示す破線の正弦波は理想的な波形を表し、実線の正弦波は距離DMMが変化し、歪みが発生した出力信号SAを表している。出力信号SAは理想的な正弦波に対して、歪みの影響で振幅が減少しているようすが示されており、出力信号SAの最大値及び最小値が歪みの影響を最も大きく受ける。従来の手法では初期化パラメータB、Cの算出に出力信号SAの最大値及び最小値を用いているため、算出した数値は求めたい本来の数値からずれる。これに対して、以下に説明する本実施形態の手法によれば、MR素子と位置検出マグネットとの距離DMMに変動が発生し、出力信号SA、SBに距離DMMの変動による歪みが発生しても初期化パラメータB、Cの算出値に生じる誤差を低減することが可能である。
本実施形態では、歪みの影響を最も大きく受ける可能性がある正弦波信号の最大値と最小値を使用せず、歪みの影響をより受けにくい波形の肩の部分(最大値または最小値に対応する位相角から45度ずれた位置)の測定値を使用して初期化パラメータB、Cを算出する。これにより歪みの影響による初期化パラメータB、Cの算出精度の低下を減少させる事ができる。図4は理想的な正弦波と歪みの影響を受けた正弦波の違いについて説明するための波形図であり、破線が歪みのない理想的な正弦波信号の波形を示し、実線が歪みが発生した出力信号SAの波形を示す。図4に示すように歪みの絶対量は正弦波信号が最大値をとる時刻(位相)において最大になっており、正弦波信号が減少するにしたがって歪みの絶対量は減少し、最大値と最小値の中間で「0」になり、その後歪みの絶対量はふたたび増大してゆく。
図5は歪みの影響が少ないサンプリング時刻について説明するための図である。サンプリング周期TSで離散化した時刻を「k」としている。図5には歪みの影響が少なくなる正弦波の肩の部分をサンプリングするときのサンプリング時刻k1〜k4が示されている。時刻k1〜k4は出力信号SA、SBそれぞれの時間変化率の絶対値が等しくなる時刻である。実際には、信号SA、SBの時間変化率を示す変化率パラメータRSA、RSBを下記式(4)、(5)により算出し、これらの変化率パラメータRSA、RSBの絶対値の差を比較して、初期化パラメータB、Cの算出に使用するサンプリング値を決定する。
RSA=SA[k]−SA[k−1] (4)
RSB=SB[k]−SB[k−1] (5)
変化率パラメータRSA、RSBが、信号SA、SBの時間変化率を精度良く近似するためには、サンプリング周期TSを信号SA、SBの周期より十分に短く設定する必要がある。
図6には図5に示した出力信号SA(Asinθ+B)及び出力信号SB(Acosθ+C)から作られるリサージュ図形が描かれている。図6に示すグラフは縦軸に出力信号SA、横軸に出力信号SBをとっている。リサージュ図形は2つの出力信号の振幅値、周波数比、位相差によってさまざまな形に変化するが、本実施形態の場合、2つの信号SA、SBの振幅及び周波数比が等しく、位相差が90度のためリサージュ図形は円となる。そして、図6に示すように振幅値パラメータAはこの円の半径となり、出力信号SA、SBのそれぞれのオフセット値B、Cは円の中心P0における信号SAの値と信号SBの値となる。図6には図5に示す時刻k1〜k4に対応するリサージュ図形上の4つの点P1〜P4が示されている。図6に示される点P1〜P4は、図5に示す時刻k1〜k4に対応する座標点を示し、円の中心P0は、2つのサンプル点P1,P3またはP2,P4の重心として求められる。
初期化パラメータの算出に使う時刻k1における信号SAの値をSA[k1]としたとき、SA[k1]は式(4)で使用した2つのサンプル値の相加平均とし、下記式(6)で求められる値とする。また、時刻k2〜k4における信号SAの値SA[k2]〜SA[k4]についても同様に下記式(7)〜(9)で求められる値とする。
SA[k1]=(SA[ki]+SA[ki−1])/2 (6)
SA[k2]=(SA[kj]+SA[kj−1])/2 (7)
SA[k3]=(SA[km]+SA[km−1])/2 (8)
SA[k4]=(SA[kn]+SA[kn−1])/2 (9)
信号SBについても初期化パラメータ算出に使う値SB[k1]〜SB[k4]は信号SAの場合と同様に式(5)で使用した2つのサンプル値の相加平均とし、下記式(10)〜(13)により算出する。
SB[k1]=(SB[ki]+SB[ki−1])/2 (10)
SB[k2]=(SB[kj]+SB[kj−1])/2 (11)
SB[k3]=(SB[km]+SB[km−1])/2 (12)
SB[k4]=(SB[kn]+SB[kn−1])/2 (13)
初期化パラメータB、Cは下記式(14)、(15)で算出することができる。
Figure 2007303845
また、くり返し述べるが、時刻k1〜k4におけるサンプルデー夕は正弦波の最大値と最小値よりも歪みの影響が小さくなる波形の肩の部分でのデータである。従って、これらのサンプルデータを使って初期化パラメータB、Cを算出することにより、正弦波の最大値と最小値を使って初期化パラメータB、Cを算出する場合よりも、歪みの影響を小さくすることができる。
本実施形態では、図1に示す位置センサ5からの出力信号SA、SBはA/D変換器9で時系列の離散化データとして採り込まれ、演算処理される。そのため、実際には信号SA及びSBの時間変化率の絶対値が完全に等しくなることは保証されていない。従って、2つの出力信号のサンプル値系列の変化率の絶対値の差が所定の値より小さくなったときの各センサ出力のサンプル値を用いて初期化パラメータB、Cを算出する。これにより、波形の歪みの影響を減少させ、初期化パラメータB、Cを正確に求めることができる。
より具体的には、正弦波信号の1周期に対応する期間に取得したサンプル値の中から、前記2つ変化率の互いの符号が同一であるか、もしくは相異なるサンプル値系列の中より、絶対値の差が最小となるものから2組のサンプル値を用いて初期化パラメータB、Cを算出する。これにより、図6に示した2つの点P1,P3もしくはP2,P4に対応するサンプル値を用いて、初期化パラメータB、Cを正確に求めることができる。
本発明の一実施形態にかかる位置検出方法を適用した、ビデオカメラのレンズ駆動装置の構成を示すブロック図である。 MR素子から出力される信号の波形図である。 MR素子の出力信号の歪みの影響について説明するための波形図である。 MR素子の出力信号の歪みの大きさについて説明するための波形図である。 歪みの影響が少ないサンプリング時刻について説明するための波形図である。 2つのMR素子の出力信号からなるリサージュ図形について説明するための図である。
符号の説明
1 レンズ鏡筒
2 リニアモータ部
3 可動コイル
4 位置検出マグネット
5 位置センサ
6,7,13 増幅器
8 制御用メインマイコン(初期化手段)
9 A/D変換器(サンプリング手段)
10 波形補正部
11 位置計算部(位置検出手段、変化率パラメータ算出手段、サンプル値取得手段、初期化パラメータ算出手段)
12 位置制御部(制御手段)

Claims (3)

  1. 2つの磁気抵抗素子から出力される、位相角が90度ずれた2つの正弦波信号に基づいて、磁性体が固定され、直線的に移動する移動部材の位置を検出する位置検出方法において、
    前記移動部材を前記正弦波信号の1周期に対応する距離以上移動させ、
    前記周期より十分に短い所定サンプリング周期で前記2つの正弦波信号のレベルをサンプリングし、
    該サンプリングしたサンプル値に基づいて、前記2つの正弦波信号の時間変化率を示す変化率パラメータを算出し、
    前記2つの変化率パラメータの絶対値の差が所定値より小さくなったときの、前記サンプル値を少なくとも2組取得し、
    該取得したサンプル値に基づいて、前記2つの正弦波信号のオフセット値を示す初期化パラメータを算出し、
    該初期化パラメータ及び前記2つの正弦波信号に基づいて、前記移動部材の位置を検出することを特徴とする位置検出方法。
  2. 前記初期化パラメータは、2組の前記サンプル値を用いて算出され、該2組のサンプル値は、前記1周期に対応する期間に取得したサンプル値の中から、前記2つの変化率パラメータの互いの符号が同一であるか、もしくは相異なるサンプル値系列の中より、絶対値の差が小さい方から2組選択されたものであることを特徴とする位置検出方法。
  3. レンズの位置をリニアモータにより移動可能な光学系と、前記レンズの位置を検出する位置検出手段と、検出されたレンズ位置に応じて前記リニアモータの駆動制御を行う制御手段とを備える撮像装置において、
    前記光学系は、磁性体が固定された、前記レンズの支持部材と、位相角が90度ずれた2つの正弦波信号を出力するように配置された2つの磁気抵抗素子とを備え、
    前記制御手段は、前記移動部材を前記正弦波信号の1周期に対応する距離以上移動させる初期化移動手段を備え、
    前記位置検出手段は、
    前記周期より十分に短い所定サンプリング周期で前記2つの正弦波信号のレベルをサンプリングするサンプリング手段と、
    該サンプリングしたサンプル値に基づいて、前記2つの正弦波信号の時間変化率を示す変化率パラメータを算出する変化率パラメータ算出手段と、
    前記2つの変化率パラメータの絶対値の差が所定値より小さくなったときの、前記サンプル値を少なくとも2組取得するサンプル値取得手段と、
    該取得したサンプル値に基づいて、前記2つの正弦波信号のオフセット値を示す初期化パラメータを算出する初期化パラメータ算出手段とを備え、
    該初期化パラメータ及び前記2つの正弦波信号に基づいて、前記レンズ位置を検出することを特徴とする撮像装置。
JP2006129736A 2006-05-09 2006-05-09 位置検出方法及び撮像装置 Withdrawn JP2007303845A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006129736A JP2007303845A (ja) 2006-05-09 2006-05-09 位置検出方法及び撮像装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006129736A JP2007303845A (ja) 2006-05-09 2006-05-09 位置検出方法及び撮像装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007303845A true JP2007303845A (ja) 2007-11-22

Family

ID=38837902

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006129736A Withdrawn JP2007303845A (ja) 2006-05-09 2006-05-09 位置検出方法及び撮像装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007303845A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012189350A (ja) * 2011-03-09 2012-10-04 Hamamatsu Koden Kk エンコーダ装置及びエンコーダ装置のための補正方法
JP2013036795A (ja) * 2011-08-05 2013-02-21 Tamron Co Ltd 位置検出ユニット、及びそれを備えたレンズユニット、カメラ、及びレンズユニットの製造方法、位置検出方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012189350A (ja) * 2011-03-09 2012-10-04 Hamamatsu Koden Kk エンコーダ装置及びエンコーダ装置のための補正方法
JP2013036795A (ja) * 2011-08-05 2013-02-21 Tamron Co Ltd 位置検出ユニット、及びそれを備えたレンズユニット、カメラ、及びレンズユニットの製造方法、位置検出方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101995279B1 (ko) 자기장 센서에 사용되는 한계 신호를 발생시키기 위한 회로들 및 방법들
CN110793430B (zh) 绝对电角度检测方法、系统及计算机可读存储介质
JP4277887B2 (ja) エンコーダ信号の補正回路
JP5837201B2 (ja) 位置を求める方法および装置
KR20150142322A (ko) 레졸버 위치 오차를 보상하기 위한 장치 및 방법
WO2014188894A1 (en) Method for self-calibrating a rotary encoder
JP4508103B2 (ja) 位置検出方法
JP2006177966A (ja) 角度情報を伝送するための方法及びその方法を実施するための装置
JP2008058252A (ja) エンコーダ信号の補正回路
JP5182309B2 (ja) 位置データ補正装置、エンコーダ、モータシステム及び位置データ補正方法
EP3064903B1 (en) Encoder
JP2007303845A (ja) 位置検出方法及び撮像装置
EP2908101B1 (en) Encoder with origin detection
EP3611476A1 (en) Position detection device and position detection method
JP2008241345A (ja) 位相検出装置及び位置検出装置
TW201727199A (zh) 編碼器
JP6289192B2 (ja) 位置検出装置及びそれを有するレンズ装置及び光学操作装置
JP2839340B2 (ja) 位置信号の校正装置
JP2008003041A (ja) 位置検出方法及び撮像装置
JP2015179051A5 (ja)
JP5162739B2 (ja) エンコーダ信号処理方法、エンコーダ装置及びサーボモータ
JP2006310925A (ja) オフセット値算出方法
JP2004219333A (ja) エンコーダ出力信号補正装置
JP5578115B2 (ja) 磁気センサ調整方法、及び、磁気センサ調整装置
JP2020012634A (ja) ロータリーエンコーダ信号処理装置及びその信号処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20080630

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20100303