JP2007298313A - 放射線検出器および放射線検査装置 - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 63
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title abstract description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 365
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 365
- 238000003491 array Methods 0.000 claims abstract description 67
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 5
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 18
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract description 13
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 35
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 19
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 7
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 6
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 6
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 5
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 5
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 4
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 4
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 238000002603 single-photon emission computed tomography Methods 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010028980 Neoplasm Diseases 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000740 bleeding effect Effects 0.000 description 1
- 201000011510 cancer Diseases 0.000 description 1
- 150000001720 carbohydrates Chemical class 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002109 crystal growth method Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 1
- 201000010099 disease Diseases 0.000 description 1
- 208000037265 diseases, disorders, signs and symptoms Diseases 0.000 description 1
- 238000009513 drug distribution Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000002595 magnetic resonance imaging Methods 0.000 description 1
- 230000004060 metabolic process Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000008722 morphological abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000010827 pathological analysis Methods 0.000 description 1
- 230000007170 pathology Effects 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- PGAPATLGJSQQBU-UHFFFAOYSA-M thallium(i) bromide Chemical compound [Tl]Br PGAPATLGJSQQBU-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/249—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors specially adapted for use in SPECT or PET
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/242—Stacked detectors, e.g. for depth information
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2985—In depth localisation, e.g. using positron emitters; Tomographic imaging (longitudinal and transverse section imaging; apparatus for radiation diagnosis sequentially in different planes, steroscopic radiation diagnosis)
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/037—Emission tomography
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
【解決手段】配線基板21上に奥行き方向(Y軸方向)に沿って第1および第2半導体検出素子アレイ22a,22bを配置する。第1および第2半導体検出素子アレイ22a,22bの各々は6個の半導体検出素子231〜236をその配列方向(X軸方向)に一列に配列してなり、その配列方向の両端部にガード部材28a,28bを設ける。第1および第2半導体検出素子アレイ22a,22bのそれぞれの半導体検出素子231〜236は、基準線Xaからk番目(kは1〜6のいずれか)の半導体検出素子23kが配列方向に半導体検出素子231〜236の間隔PTの1/2だけ互いに変位して配置される。
【選択図】図5
Description
図3は、本発明の第1の実施の形態に係るPET装置の構成を示すブロック図である。
次に本発明の第2の実施の形態に係るPET装置を説明する。第2の実施の形態に係るPET装置は、第1の実施の形態に係るPET装置の変形例であり、図4および図5で示した半導体検出部20の半導体検出素子アレイの数をn個に拡張した例である。第2の実施の形態の半導体検出部は、半導体検出素子アレイの数および配列が図4および図5で示した半導体検出部と異なる以外は同様である。
11,111〜118 放射線検出器
12 情報処理部
13 表示部
14 制御部
15 入出力部
20、40、50 半導体検出部
21 配線基板
22、221〜22n 半導体検出素子アレイ
22a 第1半導体検出素子アレイ
22b 第2半導体検出素子アレイ
23、231〜236 半導体検出素子
24 半導体結晶体
24a 入射面
24b,24c 溝部
25 第1電極
26 第2電極
27 導電性接着層
28a,28b,281〜28n ガード部材
29 コネクタ
30 検出回路
PT 半導体検出素子の配列方向の間隔
Claims (9)
- 放射線の入射により電子正孔対を生成する複数の半導体検出素子を有する半導体検出部を備える放射線検出器であって、
前記半導体検出部は、基板上に、前記複数の半導体検出素子が第1の方向に所定の間隔で配列された半導体検出素子アレイをn個備え、
前記n個の半導体検出素子アレイは、第1の方向に対して直交する第2の方向に第1列から第n列に配列され、
前記第1列から第n列の半導体検出素子アレイは、各々、第1の方向の基準位置から前記所定の間隔の0、1/n、…、(n−1)/nのいずれかだけ変位して配置されてなることを特徴とする放射線検出器(但し、nは2以上の整数である)。 - 前記半導体検出素子アレイは、第1列から第n列まで順次、前記所定の間隔の1/nだけ変位して配置されてなることを特徴とする請求項1記載の放射線検出器。
- 前記半導体検出素子アレイは、各々m個の半導体検出素子からなり、
前記第2の方向に沿って隣接する2つの半導体検出素子アレイは、前記基準位置からk番目の各々の半導体検出素子が互いに前記所定の間隔の1/nだけ変位して配置されてなることを特徴とする請求項1記載の放射線検出器(但し、mは2以上の整数、kは、1〜mのいずれかの整数)。 - 前記第1列〜第n列の半導体検出素子アレイは、その第1の方向の一端部が前記基準位置から同等の距離となるように、該一端部側に保護部材をさらに備えることを特徴とする請求項1〜3のうち、いずれか一項記載の放射線検出器。
- 前記第1列〜第n列の半導体検出素子アレイは、その第1の方向の前記一端部とは反対側の他端部に、当該半導体検出素子アレイの第1の方向の長さが同等となるように、他の保護部材をさらに備えることを特徴とする請求項4記載の放射線検出器。
- 前記半導体検出素子アレイは、第2の方向に沿って互いに離隔してなることを特徴とする請求項1〜5のうち、いずれか一項記載の放射線検出器。
- 前記所定の間隔をPTとすると、該PTと前記nとの比PT/nが0.5mm以上1.0mm以下に設定されてなることを特徴とする請求項1〜6のうち、いずれか一項記載の放射線検出器。
- 前記nは2であり、
前記第1列の半導体検出素子アレイの半導体検出素子と、前記第1列の半導体検出素子アレイの半導体検出素子とが第1の方向に互いに前記所定の間隔の1/2だけずれて配置されてなることを特徴とする請求項1〜7のうち、いずれか一項記載の放射線検出器。 - 放射性同位元素を含む被検体から発生する放射線を検出する請求項1〜8のうちいずれか一項記載の放射線検出器と、
前記放射線検出器から取得した放射線の入射時刻および入射位置を含む検出情報に基づいて前記放射性同位元素の被検体内における分布情報を取得する情報処理手段と、を備える放射線検査装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006124653A JP4619985B2 (ja) | 2006-04-28 | 2006-04-28 | 放射線検出器および放射線検査装置 |
CN2007800152483A CN101432636B (zh) | 2006-04-28 | 2007-04-23 | 放射线检测器及放射线检查装置 |
EP07742165.9A EP2015108A4 (en) | 2006-04-28 | 2007-04-23 | Radiation detector and radiation inspecting apparatus |
PCT/JP2007/058730 WO2007125862A1 (ja) | 2006-04-28 | 2007-04-23 | 放射線検出器および放射線検査装置 |
US12/296,709 US8110809B2 (en) | 2006-04-28 | 2007-04-23 | Radiation detector and radiographic inspection apparatus |
KR1020087026223A KR101104173B1 (ko) | 2006-04-28 | 2007-04-23 | 방사선 검출기 및 방사선 검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006124653A JP4619985B2 (ja) | 2006-04-28 | 2006-04-28 | 放射線検出器および放射線検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007298313A true JP2007298313A (ja) | 2007-11-15 |
JP4619985B2 JP4619985B2 (ja) | 2011-01-26 |
Family
ID=38655386
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006124653A Expired - Fee Related JP4619985B2 (ja) | 2006-04-28 | 2006-04-28 | 放射線検出器および放射線検査装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8110809B2 (ja) |
EP (1) | EP2015108A4 (ja) |
JP (1) | JP4619985B2 (ja) |
KR (1) | KR101104173B1 (ja) |
CN (1) | CN101432636B (ja) |
WO (1) | WO2007125862A1 (ja) |
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- 2006-04-28 JP JP2006124653A patent/JP4619985B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
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- 2007-04-23 US US12/296,709 patent/US8110809B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-04-23 CN CN2007800152483A patent/CN101432636B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-04-23 KR KR1020087026223A patent/KR101104173B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-04-23 WO PCT/JP2007/058730 patent/WO2007125862A1/ja active Application Filing
- 2007-04-23 EP EP07742165.9A patent/EP2015108A4/en not_active Withdrawn
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---|---|
JP4619985B2 (ja) | 2011-01-26 |
CN101432636A (zh) | 2009-05-13 |
CN101432636B (zh) | 2012-03-07 |
EP2015108A1 (en) | 2009-01-14 |
US8110809B2 (en) | 2012-02-07 |
EP2015108A4 (en) | 2017-01-25 |
KR20090007733A (ko) | 2009-01-20 |
KR101104173B1 (ko) | 2012-01-12 |
WO2007125862A1 (ja) | 2007-11-08 |
US20090050816A1 (en) | 2009-02-26 |
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Date | Code | Title | Description |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091126 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100316 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100517 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |