JP2007288210A - 半導体集積回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 ICの高周波部に対してダイオード接続のトランジスタを多段接続した保護回路を設ける。更に、そのトランジスタは、サイリスタ動作を防止できる絶縁物で素子間を分離したものを適用する。
【選択図】図1
Description
以上のようにしてIC全体の静電気に対する高耐圧化を実現できる。
図1〜6は、本発明の実施例である。
61aはシリコン上に二酸化シリコン層61b等の絶縁物を積層して作られるSOI(Silicon on Insulator)基板である。上記基板をドライエッチングして形成された溝に二酸化シリコン62がCVD(Chemical Vapor Deposition)方法で充填される。SOI基板上にN型エピタキシャル層63を形成したのち、N型拡散層64、P型拡散層65を形成してベース、エミッタ、コレクタをそれぞれ構成する。その上部に二酸化シリコン層66を積層してコレクタ電極67a、ベース電極67b、エミッタ電極67cの各電極を設ける。
MOSFETで構成したもので、バイポーラトランジスタと同じように、421から42nのn個と431から43mのm個のダイオード接続したMOSFETを用いる。図6で示したバイポーラと同様にMOSFETは電気的に分離されている。集積回路をMOSFETで構成する時に適用可能である。
以上のようにしてIC全体の静電気に対する高耐圧化を実現できる。
121、12n、131、13m…電気的に分離されダイオード接続されたバイポーラトランジスタ
14…信号線、15…内部回路
21…本発明の保護回路構成の一例
22a、22b、22c、22d…保護回路内の、電気的に分離され、ダイオード接続されたバイポーラトランジスタ
23…増幅器のトランジスタ
24…増幅器のトランジスタのコレクタ端子
25…入力整合回路、26…出力整合回路
421、42n、431、43m…電気的に分離され、ダイオード接続されたMOSFET
50a…高周波部回路用保護回路
50b…中間周波数帯回路用保護回路
51…高周波部と中間周波数帯を含むIC回路
52…低雑音増幅器、53…受信ミキサ
54…復調器、55…変調器、56…送信ミキサ
57…送信前段増幅器、
58a、58b、58c…フィルタ
60a、60b…保護回路、6la…SOI基板
61b…二酸化シリコン層、62…溝
63…N型エピタキシャル層、64…P型拡散層
65…n型拡散層、66…二酸化シリコン層
67a…コレクタ電極、67b…ベース電極
67c…エミッタ電極、68…配線、70…保護回路
71…低雑音増幅器、72…受信ミキサ
73、76…自動利得制御増幅器、74…復調器
75…変調器、77…送信ミキサ
78…送信前段増幅器、79…高出力増幅器、81…保護回路
82、83…ダイオード接続されたMOSFET、84…信号線
85…内部回路、86、88…高周波電圧
87、89…高周波電流
91、92…保護回路、93…信号線、94…保護回路
100…サイリスタ接続、101…P型基板
102…N型エピタキシャル層、103…P型拡散層
104…N型拡散層、105…P型分離拡散層
106…二酸化シリコン膜、107…カソード電極
108…アノード電極、109…信号線
Claims (16)
- 複数個の入出力端子を持つ半導体集積回路であって、
少なくとも2種類以上の電気的特性を持つ複数の静電破壊保護回路を有し、
上記複数の静電破壊保護回路は、上記入出力端子から見た寄生容量が互いに異なり、かつ、周波数の高い信号が入出力される入出力端子に接続された静電破壊保護回路ほど上記寄生容量が小さい
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1において、
上記複数の静電破壊保護回路は、更に耐圧が互いに異なることを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1又は2において、
ダイオード接続されたトランジスタを一段有する第1の静電破壊防止保護回路と、
ダイオード接続されたトランジスタを多段に直列に接続した第2の静電破壊防止保護回路とを有し、
該第2の静電破壊防止保護回路は電源電圧を越える出力信号の回路の出力に設けられている
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1又は2において、
入力電位が負のオン電圧を越えて動作する回路と、
該回路の入力に設けられ、絶縁物の障壁で電気的に分離されたトランジスタをダイオード接続し、多段に直列に接続した静電破壊防止保護回路と
を有することを特徴とする半導体集積回路。 - ダイオード接続されたトランジスタを一段有する第1の静電破壊防止保護回路と、
内部回路と、
該内部回路の入力及び出力の少なくとも一方と電源及び接地の少なくとも一方との間にダイオード接続されたトランジスタを多段に直列に接続した第2の静電破壊保護回路と
が1チップに設けられ、
上記第1および第2の静電破壊保護回路は、互いに入出力端子から見た寄生容量が異なり、かつ、周波数の高い信号が入出力される入出力端子に接続された静電破壊保護回路ほど上記寄生容量が小さい
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項5において、
上記第1および第2の静電破壊保護回路は、更に互いに耐圧が異なることを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項5又は6において、
上記内部回路は、電源電位以上の信号を出力することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項5又は6において、
上記内部回路は、オープンコレクタで上記半導体集積回路の外部と接続されていることを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項5又は6において、
上記ダイオード接続されたトランジスタは、絶縁物の障壁で互いに電気的に分離されていることを特徴とする半導体集積回路。 - 内部回路と、
該内部回路の入力及び出力の少なくとも一方と電源及び接地の少なくとも一方との間にダイオード接続されたトランジスタを多段に直列に接続した複数の静電破壊保護回路と
が1チップに設けられ、
上記複数の静電破壊保護回路は、該静電破壊保護回路が接続された入力又は出力から見た寄生容量が互いに異なり、かつ、周波数の高い信号が入出力される上記入力又は出力に接続された静電破壊保護回路ほど上記寄生容量が小さい
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項10において、
上記複数の静電破壊保護回路は、更に耐圧が互いに異なることを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項10又は11において、
上記内部回路は、電源電位以上の信号を出力することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項10又は11において、
上記内部回路は、オープンコレクタで上記半導体集積回路の外部と接続されていることを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項10又は11において、
上記ダイオード接続されたトランジスタは、絶縁物の障壁で互いに電気的に分離されていることを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項5乃至14のいずれか1項において、
上記内部回路が高周波回路であることを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項15において、
上記高周波回路は、低雑音増幅器、受信ミキサ、送信ミキサ、及び送信前段増幅器の少なくとも1つを含んで構成されていることを特徴とする半導体集積回路。
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US10361183B2 (en) | 2014-07-25 | 2019-07-23 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Electrostatic protective device and electrostatic protective circuit |
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2007
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