JP2007281642A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007281642A JP2007281642A JP2006102727A JP2006102727A JP2007281642A JP 2007281642 A JP2007281642 A JP 2007281642A JP 2006102727 A JP2006102727 A JP 2006102727A JP 2006102727 A JP2006102727 A JP 2006102727A JP 2007281642 A JP2007281642 A JP 2007281642A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- signal
- system clock
- input
- clock signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Abstract
【課題】外部からクロック信号と非同期にリセット信号等の入力信号が入力される半導体集積回路において、入力信号に混入したノイズを高精度に除去する。
【解決手段】この半導体集積回路は、入力回路から出力される外部入力信号が活性化されたときにシステムクロック信号の生成を開始するシステムクロック信号生成回路と、システムクロック信号に同期して、外部入力信号を初段のフリップフロップにおいてサンプリングし、サンプリングによって得られた信号を順に伝播する従属接続された複数のフリップフロップ、及び、入力回路から出力される外部入力信号と終段のフリップフロップの出力信号とが活性化されているときに、内部回路に供給する内部入力信号を活性化する論理回路を含むサンプリング回路と、内部入力信号に基づいて、外部入力信号がノイズにより活性化されたのか否かを判定する制御回路とを具備する。
【選択図】図2
【解決手段】この半導体集積回路は、入力回路から出力される外部入力信号が活性化されたときにシステムクロック信号の生成を開始するシステムクロック信号生成回路と、システムクロック信号に同期して、外部入力信号を初段のフリップフロップにおいてサンプリングし、サンプリングによって得られた信号を順に伝播する従属接続された複数のフリップフロップ、及び、入力回路から出力される外部入力信号と終段のフリップフロップの出力信号とが活性化されているときに、内部回路に供給する内部入力信号を活性化する論理回路を含むサンプリング回路と、内部入力信号に基づいて、外部入力信号がノイズにより活性化されたのか否かを判定する制御回路とを具備する。
【選択図】図2
Description
本発明は、MCU(Micro Controller Unit:マイクロ・コントローラ・ユニット)の外部リセット信号、又は、特定の活性化レベルを有する入力信号に混入したノイズを除去するノイズ除去回路を含む半導体集積回路に関する。
一般に、電子機器においては、電源ラインや信号ラインにノイズが発生し、ノイズの影響によって、電子機器に搭載されている半導体集積回路が誤動作するという問題がある。特に、半導体集積回路のリセット端子にノイズが印加されて半導体集積回路が誤動作すると、内部回路が初期化されてしまうので、電子機器に大きな支障が生じてしまう。
例えば、音声又は映像機器等の電子機器に使用されているMCUには、演算処理を行うCPU(Central Processing Unit:中央演算処理装置)と、プログラムやデータを格納するメモリと、外部回路の制御等を行う周辺回路とが搭載されており、電源投入時等に内部回路をリセットするために、外部からリセット信号が入力されるリセット端子が設けられている。
半導体集積回路の入力端子にノイズが印加され、入力端子が接続されている入出力セルにおいて入力信号の論理レベルが反転しても、内部回路がクロック信号に同期して動作する場合には、内部回路の論理動作によってノイズの影響を排除することも可能であるが、リセット信号や割り込み信号等に対しては、内部回路がクロック信号と非同期に動作するので、そのような信号の論理レベルがノイズによって反転すると、ノイズの影響が内部回路に伝播して半導体集積回路が誤動作してしまうという問題がある。
このような問題に対処するために、様々な技術が開発されている。例えば、パルス的ノイズを除去するために、抵抗とコンデンサとによって構成されたアナログフィルタを付加することが行われている。また、リセット信号が正論理の場合には、外部から供給されるリセット信号と、これを遅延させて得られた遅延リセット信号との論理積を求めたり、リセット信号が負論理の場合には、リセット信号と遅延リセット信号との論理和を求めたりすることにより、短期間(1ナノ秒程度)のノイズパルスを除去することができる。しかしながら、パルス幅が大きくなるとノイズを除去できなくなるし、アナログフィルタや遅延回路の面積が大きいのでチップ面積が増加してしまう。
あるいは、クロック信号を用いてリセット信号や割り込み信号をサンプリングするようにすればノイズを除去することもできるが、半導体集積回路が節電モード等の待機状態にあるときには、クロック信号が停止するのでサンプリングを行うことができない。
関連する技術として、下記の特許文献1には、ノイズ除去回路のフィルタリング時間をリングオシレータ及び分周回路を用いて変化させることにより、マイクロプロセッサのリセット信号等に印加されるノイズを除去するノイズ除去回路、及び、これを利用したチップリセット信号発生回路が開示されている。
このチップリセット信号発生回路は、リセットバー信号を入力して第1ノードに反転された信号を出力する第1インバータと、第1ノードの信号に含まれたノイズを除去するため、第1ノードから受信された信号を分周させた信号を第2ノードに出力するノイズ除去部と、第1ノードの信号を反転させて出力する第2インバータと、第1ノードの信号と第2ノードの信号とをAND論理演算して出力するANDゲートと、第2インバータの出力信号をセット信号として、ANDゲートの出力信号をリセット信号として入力し、出力端子にチップリセット信号を発生するDフリップフロップ回路部とを備えている。
このチップリセット信号発生回路によれば、リセットバー信号に印加されるノイズの期間がフィルタリング時間より小さくなるようにリングオシレータ部及び分周回路部を調節してノイズを除去することにより、ノイズによる誤動作を防止することができる。しかしながら、このチップリセット信号発生回路は、2つの時点におけるリセットバー信号の状態に基づいてチップリセット信号を発生しているに過ぎず、これら2つの時点においてパルスノイズが印加された場合には誤動作する。また、このチップリセット信号発生回路は、ノイズを除去する対象となる入力信号が複数存在する場合には対応していない。
特開2002−314386号公報(第1、4頁、図6)
そこで、上記の点に鑑み、本発明は、外部からクロック信号と非同期にリセット信号等の入力信号が入力される半導体集積回路において、入力信号に混入したパルスノイズ等のノイズを高精度に除去することが可能で、かつ、複数の入力信号にも対応できるノイズ除去回路を実現することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明の1つの観点に係る半導体集積回路は、外部からシステムクロック信号と非同期に外部入力信号が入力され、該外部入力信号をバッファして出力する入力回路と、通常動作モードにおいて、システムクロック信号を生成し、待機モードにおいて、入力回路から出力される外部入力信号が活性化されたときにシステムクロック信号の生成を開始するシステムクロック信号生成回路と、システムクロック信号生成回路によって生成されるシステムクロック信号に同期して、入力回路から出力される外部入力信号を初段のフリップフロップにおいてサンプリングし、サンプリングによって得られた信号を順に伝播する従属接続された複数のフリップフロップ、及び、少なくとも入力回路から出力される外部入力信号と終段のフリップフロップの出力信号とが活性化されているときに、内部回路に供給する内部入力信号を活性化する論理回路を含むサンプリング回路と、入力回路から出力される外部入力信号が活性化されたときに、サンプリング回路から供給される内部入力信号に基づいて、外部入力信号がノイズにより活性化されたのか否かを判定すると共に、待機モードにおいて、外部入力信号がノイズにより活性化されたと判定したときに、システムクロック信号の生成を停止するようにシステムクロック信号生成回路に信号を供給する制御回路とを具備する。
また、この半導体集積回路は、外部からシステムクロック信号と非同期に複数の外部入力信号がそれぞれ入力される複数の入力回路と、複数の入力回路からそれぞれ出力される複数の外部入力信号に基づいて、内部回路に供給する複数の内部入力信号をそれぞれ活性化する複数のサンプリング回路と、少なくとも1つの入力回路から出力される外部入力信号が活性化されたときに、対応するサンプリング回路から供給される内部入力信号に基づいて、外部入力信号がノイズにより活性化されたのか否かを判定すると共に、待機モードにおいて、外部入力信号がノイズにより活性化されたと判定したときに、システムクロック信号の生成を停止するようにシステムクロック信号生成回路に信号を供給する制御回路とを具備するようにしても良い。
以上において、システムクロック信号生成回路が、半導体集積回路の外部の発振用素子が接続されたときに発振動作を行ってシステムクロック信号を生成するようにしても良いし、発振動作を行ってシステムクロック信号を生成する発振回路を含むようにしても良い。
本発明によれば、外部入力信号が活性化されたときでも、制御回路が、サンプリング回路から供給される内部入力信号に基づいて、外部入力信号がノイズにより活性化されたのか否かを判定することにより、入力信号に混入したパルスノイズ等のノイズを高精度に除去することが可能で、かつ、複数の入力信号にも対応できるノイズ除去回路を実現することができる。
以下に、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。なお、同一の構成要素には同一の参照番号を付して、説明を省略する。
図1は、本発明の第1〜2の実施形態に係る半導体集積回路の概略構成を示すブロック図である。以下の実施形態においては、本発明をMCU(Micro Controller Unit:マイクロ・コントローラ・ユニット)に適用した例について説明する。
図1は、本発明の第1〜2の実施形態に係る半導体集積回路の概略構成を示すブロック図である。以下の実施形態においては、本発明をMCU(Micro Controller Unit:マイクロ・コントローラ・ユニット)に適用した例について説明する。
図1に示すように、MCU100は、複数の入出力セルが形成された入出力セル領域1と、ノイズ除去回路2と、内部領域3とを含む1チップ化されたMCUであって、これらの入出力セルに接続された複数の入出力端子を有している。内部領域3は、演算処理を行うと共に制御回路としても機能するCPU31と、プログラムやデータを格納するメモリが形成されたメモリ領域32と、外部回路の制御等を行う周辺回路が形成された周辺回路領域33とを含んでいる。
実際のレイアウトにおいては、複数の入出力セルがチップの周辺部に形成され、複数の入出力端子がチップの4辺に沿って配置される。なお、複数の入出力端子及び入出力セルは、入力専用と出力専用とに分けて設けられても良いし、入出力兼用として設けられても良い。以下においては、入力専用の入力端子及び入力セルが設けられている場合について説明する。
図2は、本発明の第1の実施形態に係る半導体集積回路に内蔵されているノイズ除去回路の構成例を示す回路図である。ノイズ除去回路は、システムクロック信号生成回路21と、サンプリング回路22とを含んでいる。一般に、システムクロック信号とは、CPUと周辺回路との間の同期を確立するために使用されるクロック信号のことをいう。
入力端子(パッド)PD1には、外部からシステムクロック信号SCLKと非同期にリセット信号等の入力信号が入力される。本実施形態においては、負論理(ローアクティブ)の外部入力信号SIG11が入力端子PD1に入力される場合について説明する。外部入力信号SIG11は、入力セル内に設けられた入力バッファ11を介して、システムクロック信号生成回路21及びサンプリング回路22に入力される。
システムクロック信号生成回路21は、発振用素子211と、NAND回路212と、Dフリップフロップ213とによって構成される。ここで、発振用素子211とNAND回路212とは、発振回路を形成している。例えば、発振用素子211は、水晶等の振動子と抵抗とコンデンサとを含んでおり、半導体集積回路の外部に配置され、発振用素子接続端子P1及びP2を介してNAND回路212の出力端子と一方の入力端子との間に接続される。あるいは、発振用素子211として、半導体集積回路の内部に配置され、直列接続された複数のバッファを用いることにより、発振用素子211とNAND回路212とがリングオシレータを形成しても良い。
本実施形態に係る半導体集積回路は、システムクロック信号が生成されて通常の動作を行う通常動作モードと、消費電力を低減するためにシステムクロック信号の生成が一旦停止される待機モードとを有している。例えば、有効な外部入力信号が最後に供給されてからの経過時間を、CPU31に接続されたタイマー回路によって計測し、計測された時間が所定の値に達したら、通常動作モードから待機モードへの移行が行われる。あるいは、外部回路からの指示によって、通常動作モードから待機モードへの移行が行われるようにしても良い。待機モードにおいて、外部入力信号が活性化されると、システムクロック信号の生成が開始される。
NAND回路212の他方の入力端子には、フリップフロップ213の反転データ出力端子Qバーから出力される外部入力検出信号SIGDETが入力される。発振用素子211とNAND回路212とによって形成される発振回路は、外部入力検出信号SIGDETがハイレベルに活性化されたときに、所定の周波数で発振する。これにより、NAND回路212の出力端子から、システムクロック信号SCLKが出力される。
フリップフロップ213のデータ入力端子Dには、CPU31から出力されるポート出力信号POUTが入力され、クロック信号入力端子には、システムクロック信号SCLKが入力される。フリップフロップ213は、システムクロック信号SCLKの立上がりエッジに同期してポート出力信号POUTを保持し、反転されたポート出力信号POUTを外部入力検出信号SIGDET(正論理)として反転データ出力端子Qバーから出力する。フリップフロップ213から出力される外部入力検出信号SIGDETは、NAND回路212の他方の入力端子に入力される他に、CPU31にも入力される。
サンプリング回路22は、複数のDフリップフロップ221〜223と、OR回路224とによって構成される。ここでは、3つのフリップフロップを示しているが、フリップフロップの数は2つ以上であれば良く、望ましくは3つ以上とする。バッファ11から出力される外部入力信号SIG11は、フリップフロップ221のデータ入力端子Dと、OR回路224の一方の入力端子とに入力される。また、NAND回路212から出力されるシステムクロック信号SCLKは、CPU31のシステムクロック信号入力端子と、フリップフロップ221〜223のクロック信号入力端子とに入力される。
電源投入時には、通常動作モードとなって、CPU31がフリップフロップ213を強制リセットすることによって、その後は、CPU31がローレベルのポート出力信号POUTを出力することによって、外部入力検出信号SIGDETがハイレベルに活性化される。その結果、システムクロック信号生成回路21においてシステムクロック信号SCLKが生成され、システムクロック信号SCLKがサンプリング回路22のフリップフロップ221〜223に供給される。
一方、待機モードにおいて、外部入力信号SIG11がハイレベルに非活性化されている間は、外部入力検出信号SIGDETがローレベルに非活性化される。なお、通常動作モードから待機モードに移行する際に外部入力検出信号SIGDETがハイレベルであったとしても、CPU31がハイレベルのポート出力信号POUTを出力することによって、外部入力検出信号SIGDETがローレベルとなる。その結果、システムクロック信号生成回路21においてシステムクロック信号SCLKが生成されず、サンプリング回路22のフリップフロップ221〜223には、システムクロック信号SCLKが供給されない。
外部入力信号SIG11がローレベルに活性化されると、フリップフロップ213のリセット端子Rバー(負論理)が活性化されて、外部入力検出信号SIGDETがハイレベルに活性化される。その結果、システムクロック信号生成回路21においてシステムクロック信号SCLKが生成されて、サンプリング回路22のフリップフロップ221〜223に、システムクロック信号SCLKが供給される。システムクロック信号SCLKに含まれている第1のパルスの立上がりエッジに同期して、フリップフロップ221が、外部入力信号SIG11をサンプリングして、その結果をデータQ1としてデータ出力端子Qから出力する。
システムクロック信号SCLKに含まれている第2のパルスの立上がりエッジに同期して、フリップフロップ222が、フリップフロップ221から出力されたデータQ1を保持して、その結果をデータQ2としてデータ出力端子Qから出力する。また、フリップフロップ221が、外部入力信号SIG11をサンプリングして、その結果を新たなデータQ1としてデータ出力端子Qから出力する。
システムクロック信号SCLKに含まれている第3のパルスの立上がりエッジに同期して、フリップフロップ223が、フリップフロップ222から出力されたデータQ2を保持して、その結果をデータQ3としてデータ出力端子Qから出力する。同様に、フリップフロップ222が、フリップフロップ221から出力された新たなデータQ1を保持して、その結果を新たなデータQ2としてデータ出力端子Qから出力する。また、フリップフロップ221が、外部入力信号SIG11をサンプリングして、その結果をさらに新たなデータQ1としてデータ出力端子Qから出力する。
フリップフロップ223のデータ出力端子Qから出力されるデータQ3は、OR回路224の他方の入力端子に入力される。これにより、OR回路224は、外部入力信号SIG11がローレベルに活性化されていて、かつ、フリップフロップ223から出力されるデータQ3がローレベルであるときに限り、内部入力信号SIG12をローレベルに活性化する。ここでは、OR回路224が、入力バッファ11から出力される外部入力信号SIG11とフリップフロップ223から出力されるデータQ3との論理和を求めているが、さらに、フリップフロップ221から出力されるデータQ1及び/又はフリップフロップ222から出力されるデータQ2を多入力のOR回路に入力して、該OR回路が、3つ以上の入力信号の論理和を求めるようにしても良い。
次に、図2に示すノイズ除去回路の動作について、図2〜図4を参照しながら説明する。ここでは、待機モードにおける動作について説明するが、通常動作モードにおいても、システムクロック信号SCLKが常に生成されている他は、同様の動作が行われる。
図3は、外部入力信号が活性化された場合の各信号の波形を示すタイミングチャートである。外部入力信号SIG11は、ハイレベルに非活性化された状態から、所定の期間、ローレベルに活性化される。システムクロック信号生成回路21において、外部入力信号SIG11がハイレベルに非活性化されているときに、フリップフロップ213から出力される外部入力検出信号SIGDETがローレベルとなって、NAND回路212の他方の入力端子に入力される。従って、NAND回路212の出力信号は、ハイレベルに固定されて、クロック信号を形成しない。
外部入力信号SIG11がローレベルに活性化されると、フリップフロップ213から出力される外部入力検出信号SIGDETがハイレベルとなって、NAND回路212の他方の入力端子に入力される。従って、NAND回路212がインバータとして機能するので、NAND回路212の出力信号は、所定の時間間隔で反転を繰り返し、システムクロック信号SCLKを形成する。
その結果、図3に示すように、外部入力信号SIG11がハイレベルに非活性化されているときには、システムクロック信号SCLKが発生せずに、外部入力信号SIG11がローレベルに活性化されたときに、システムクロック信号SCLKが発生する。図3においては、システムクロック信号SCLKの1周期を「T」で表している。
サンプリング回路22において、フリップフロップ221が、外部入力信号SIG11を入力し、システムクロック信号SCLKの立上がりエッジに同期してデータQ1の状態をローレベルに変移させる。同様に、フリップフロップ222が、データQ1を入力し、システムクロック信号SCLKの立上がりエッジに同期してデータQ2の状態をローレベルに変移させる。また、フリップフロップ223が、データQ2を入力し、システムクロック信号SCLKの立上がりエッジに同期してデータQ3の状態をローレベルに変移させる。
即ち、図3に示すように、データQ2は、データQ1よりも1クロック周期Tだけ遅れてローレベルに変移する。同様に、データQ3は、データQ2よりも1クロック周期Tだけ遅れてローレベルに変移する。従って、データQ3は、外部入力信号SIG11が活性化された直後のシステムクロック信号の立上がりエッジから2クロック周期分だけ遅れてローレベルに変移する。
OR回路224は、外部入力信号SIG11とデータQ3との論理和を内部入力信号SIG12として出力するので、図3に示すように、内部入力信号SIG12は、外部入力信号SIG11が活性化された直後のシステムクロック信号の立上がりエッジから2クロック周期分だけ遅れてローレベルに変移し、外部入力信号SIG11が再び非活性化されるとハイレベルに変移する。
図4は、外部入力信号に短いパルス幅のパルスノイズが混入した場合の各信号の波形を示すタイミングチャートである。ノイズによって外部入力信号SIG11が短い期間ローレベルに変化すると、NAND回路212は、システムクロック信号SCLKの出力を開始する。
フリップフロップ221は、外部入力信号SIG11を入力し、システムクロック信号SCLKの立上がりエッジに同期して、データQ1の状態をローレベルに変移させる。同様に、フリップフロップ222は、データQ1を入力し、システムクロック信号SCLKの立上がりエッジに同期して、データQ2の状態をローレベルに変移させる。
データQ2は、データQ1の変移から1クロック周期Tだけ遅れてローレベルに変移する。同様に、データQ3は、データQ2の変移から1クロック周期Tだけ遅れてローレベルに変移する。外部入力信号SIG11に混入したノイズは、2クロック周期に満たない短いパルスノイズであるので、外部入力信号SIG11は、データQ3がローレベルに変移する前にハイレベルに戻っている。従って、OR回路224から出力される内部入力信号SIG12は、ローレベルに変移せず、ハイレベルを維持する。即ち、外部入力信号SIG11に混入したノイズは、フィルタリングされて、内部領域3(図1)に伝播しない。
ここで、ノイズをフィルタリングする期間は、システムクロック信号生成回路21における発振周波数と、サンプリング回路22におけるフリップフロップの段数とによって調節することができる。
内部入力信号SIG12は、CPU31のリセット信号入力端子等に入力される他に、CPU31の汎用ポート入力端子にも入力される。また、外部入力検出信号SIGDETが、CPU31の割込み入力端子に入力される。従って、CPU31は、割込み入力とポート入力とに基づいて、入力信号が真正なものであるかノイズによるものであるかを判定することができる。
例えば、外部入力検出信号SIGDETが一旦活性化されると、CPU31は、システムクロック信号SCLKを継続させるためにポート出力信号POUTをローレベルにすると共に、予めプログラミングされた割込みルーチンを起動させることにより、ポート入力レベルに基づいて入力信号の判定を行う。
外部入力信号SIG11がローレベルである期間が短ければ、内部入力信号SIG12がローレベルになることはないので、CPU31は、入力信号がノイズによるものであると判定し、再びシステムクロック信号SCLKを停止させるために、ポート出力信号POUTをハイレベルにする。
一方、外部入力信号SIG11が設定期間以上にローレベルを維持する場合には、内部入力信号SIG12がローレベルになるので、CPU31は、入力信号が真正なものであると判定する。例えば、入力信号がリセット信号である場合には、CPU31が半導体集積回路内の各回路をリセットし、CPU31に対する割込み信号が機能しなくなり、CPU31がリブート動作を行う。
以上説明したように、本実施形態によれば、待機モードにおいてシステムクロック信号SCLKが停止している状態であっても、外部入力信号SIG11が活性化されると、システムクロック信号SCLKが生成されて、CPU31が内部入力信号SIG12に基づいて入力信号の判定を行うので、誤動作を防止することができる。
また、待機モードにおいて、入力信号がノイズによるものと判定された場合には、CPU31がポート出力信号POUTをハイレベルにするので、システムクロック信号生成回路21の発振動作が停止して、余分な消費電流の発生を抑えることができる。一方、通常動作モードにおいては、入力信号がノイズによるものと判定された場合でも、CPU31がポート出力信号POUTをローレベルに維持するので、システムクロック信号生成回路21の発振動作は停止しない。なお、外部入力信号SIG11が正論理(ハイアクティブ)の場合であっても、それに合わせて論理回路を変更することにより、本実施形態におけるのと同様の効果を奏するノイズ除去回路を実現することができる。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
図5は、本発明の第2の実施形態に係る半導体集積回路に内蔵されているノイズ除去回路の構成例を示す回路図である。第2の実施形態においては、複数の外部入力信号(例として、2つの外部入力信号SIG11及びSIG21を示す)が、ノイズ除去回路に入力される。ノイズ除去回路は、システムクロック信号生成回路51と、複数のサンプリング回路(例として、第1及び第2のサンプリング回路22a及び22bを示す)とを含んでいる。各々のサンプリング回路22a及び22bの構成は、図2に示す第1の実施形態におけるサンプリング回路22と同一である。
図5は、本発明の第2の実施形態に係る半導体集積回路に内蔵されているノイズ除去回路の構成例を示す回路図である。第2の実施形態においては、複数の外部入力信号(例として、2つの外部入力信号SIG11及びSIG21を示す)が、ノイズ除去回路に入力される。ノイズ除去回路は、システムクロック信号生成回路51と、複数のサンプリング回路(例として、第1及び第2のサンプリング回路22a及び22bを示す)とを含んでいる。各々のサンプリング回路22a及び22bの構成は、図2に示す第1の実施形態におけるサンプリング回路22と同一である。
複数の外部入力信号SIG11及びSIG21が、入力端子PD1及びPD2、及び、入力セル内に設けられた入力バッファ11及び12をそれぞれ介して、システムクロック信号生成回路51及び対応するサンプリング回路22a〜22bに入力される。ここで、外部入力信号SIG11及びSIG21は負論理であるものとする。
システムクロック信号生成回路51は、発振用素子211と、NAND回路212と、Dフリップフロップ213と、AND回路511とによって構成される。発振用素子211とNAND回路212とは、図2に示すシステムクロック信号生成回路21におけるのと同様に、発振回路を構成している。
AND回路511は、いずれかの外部入力信号が活性化されているときに、外部入力検出信号SIGDETをハイレベルに活性化する。外部入力検出信号SIGDETが活性化されると、発振用素子211とNAND回路212とによって構成される発振回路が発振動作を開始する。NAND回路212から出力される発振信号は、システムクロック信号SCLKとして、CPU31と第1及び第2のサンプリング回路22a及び22bに供給される。
第1及び第2のサンプリング回路22a及び22bは、第1の実施形態において説明をしたのと同様に、それぞれの外部入力信号SIG11及びSIG21に混入しているノイズを、所定の期間においてフィルタリングして、第1及び第2の内部入力信号SIG12及びSIG22をそれぞれ出力する。
本実施形態においては、例えば、第1の内部入力信号SIG12が、CPU31のリセット信号として用いられ、第2の内部入力信号SIG22が、CPU31に対する割込み信号として用いられるものとする。第1及び第2の内部入力信号SIG12及びSIG22は、CPU31のリセット信号入力端子及び割込み信号入力端子の他に、汎用ポート入力端子にそれぞれ入力される。
また、外部入力検出信号SIGDETが、CPU31の割込み入力端子に入力される。従って、CPU31は、割込み入力とポート入力とに基づいて、それぞれの入力信号が真正なものであるかノイズによるものであるかを判定することができる。
例えば、外部入力検出信号SIGDETが一旦活性化されると、CPU31は、システムクロック信号SCLKを継続させるためにポート出力信号POUTをローレベルにすると共に、予めプログラミングされた割込みルーチンを起動させることにより、ポート入力レベルに基づいてそれぞれの入力信号の判定を行う。
第1又は第2の外部入力信号SIG11又はSIG21が設定期間以上にローレベルを維持する場合には、第1又は第2の内部入力信号SIG12又はSIG22がローレベルになるので、CPU31は、入力信号が真正なものであると判定する。例えば、CPU31は、第1の内部入力信号SIG12が活性化されると、半導体集積回路内の各回路をリセットし、第2の内部入力信号SIG22が活性化されると、第2の内部入力信号SIG22に対応する割込み動作を開始する。
一方、第1及び第2の外部入力信号SIG11及びSIG21のいずれかがローレベルになったとしても、その期間が短ければ、第1及び第2の内部入力信号SIG12及びSIG22のいずれもローレベルになることはないので、CPU31は、入力信号がノイズによるものであると判定し、再びシステムクロック信号SCLKを停止させるために、ポート出力信号POUTをハイレベルにする。
本実施形態によれば、待機モードにおいてシステムクロック信号SCLKが停止している状態であっても、第1の外部入力信号SIG11にリセット信号が印加された場合や、又は、第2の外部入力信号SIG21に割込み信号が印加された場合には、システムクロック信号SCLKが生成されて、CPU31に対して、リセット動作、又は、割込み動作が実行される。
また、第1の外部入力信号SIG11、又は、第2の外部入力信号SIG21にノイズが混入した場合にも、システムクロック信号SCLKが生成される。しかしながら、CPU31が、第1又は第2の内部入力信号SIG12又はSIG22と外部入力検出信号SIGDETとを比較し、ノイズを検出することによって、システムクロック信号SCLKが再度停止するようにポート出力信号POUTを出力する。
従って、CPU31は、ノイズによって初期化や誤動作することなく、また、待機モードにおいて、余分なシステムクロック信号SCLKによって発生する消費電流を抑制することができる。一方、通常動作モードにおいては、入力信号がノイズによるものと判断された場合でも、CPU31がポート出力信号POUTをローレベルに維持するので、システムクロック信号生成回路51の発振動作は停止しない。
本実施形態によれば、複数の外部入力信号が入力される場合でもシステムクロック信号生成回路51を共有できるので、回路規模の増大を抑えることができる。また、負論理(ローアクティブ)の外部入力信号と正論理(ハイアクティブ)の外部入力信号とが混在する場合には、AND回路511の前段にインバータを配置する等して論理調整を行うことにより、これらの外部入力信号に対応することができる。
また、本実施形態においては、2つの外部入力信号SIG11及びSIG21が用いられているが、3つ以上の外部入力信号が用いられても良い。その場合には、3つ以上の外部入力信号がAND回路511のそれぞれの入力端子に接続され、また、サンプリング回路22a又は22bと同じ構成の3つ以上のサンプリング回路が配置され、それらのサンプリング回路の出力がCPU31に入力される。
1 入出力セル領域、 2 ノイズ除去回路、 3 内部領域、 11、12 入力バッファ、 21、51 システムクロック信号生成回路、 22、22a、22b サンプリング回路、 31 CPU、 32 メモリ領域、 33 周辺回路領域、 100 MCU、 211 発振用素子、 212 NAND回路、 213、221〜223 フリップフロップ、 224 OR回路、 511 AND回路、 PD1、PD2 入力端子、 P1、P2 発振用素子接続端子
Claims (4)
- 外部からシステムクロック信号と非同期に外部入力信号が入力され、該外部入力信号をバッファして出力する入力回路と、
通常動作モードにおいて、システムクロック信号を生成し、待機モードにおいて、前記入力回路から出力される外部入力信号が活性化されたときにシステムクロック信号の生成を開始するシステムクロック信号生成回路と、
前記システムクロック信号生成回路によって生成されるシステムクロック信号に同期して、前記入力回路から出力される外部入力信号を初段のフリップフロップにおいてサンプリングし、サンプリングによって得られた信号を順に伝播する従属接続された複数のフリップフロップ、及び、少なくとも前記入力回路から出力される外部入力信号と終段のフリップフロップの出力信号とが活性化されているときに、内部回路に供給する内部入力信号を活性化する論理回路を含むサンプリング回路と、
前記入力回路から出力される外部入力信号が活性化されたときに、前記サンプリング回路から供給される内部入力信号に基づいて、外部入力信号がノイズにより活性化されたのか否かを判定すると共に、待機モードにおいて、外部入力信号がノイズにより活性化されたと判定したときに、システムクロック信号の生成を停止するように前記システムクロック信号生成回路に信号を供給する制御回路と、
を具備する半導体集積回路。 - 外部からシステムクロック信号と非同期に複数の外部入力信号がそれぞれ入力される複数の前記入力回路と、
前記複数の入力回路からそれぞれ出力される複数の外部入力信号に基づいて、内部回路に供給する複数の内部入力信号をそれぞれ活性化する複数の前記サンプリング回路と、
少なくとも1つの入力回路から出力される外部入力信号が活性化されたときに、対応するサンプリング回路から供給される内部入力信号に基づいて、外部入力信号がノイズにより活性化されたのか否かを判定すると共に、待機モードにおいて、外部入力信号がノイズにより活性化されたと判定したときに、システムクロック信号の生成を停止するように前記システムクロック信号生成回路に信号を供給する前記制御回路と、
を具備する請求項1記載の半導体集積回路。 - 前記システムクロック信号生成回路が、前記半導体集積回路の外部の発振用素子が接続されたときに発振動作を行ってシステムクロック信号を生成する、請求項1又は2記載の半導体集積回路。
- 前記システムクロック信号生成回路が、発振動作を行ってシステムクロック信号を生成する発振回路を含む、請求項1又は2記載の半導体集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006102727A JP2007281642A (ja) | 2006-04-04 | 2006-04-04 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006102727A JP2007281642A (ja) | 2006-04-04 | 2006-04-04 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007281642A true JP2007281642A (ja) | 2007-10-25 |
Family
ID=38682676
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006102727A Withdrawn JP2007281642A (ja) | 2006-04-04 | 2006-04-04 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007281642A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8841954B2 (en) | 2012-06-15 | 2014-09-23 | Denso Corporation | Input signal processing device |
-
2006
- 2006-04-04 JP JP2006102727A patent/JP2007281642A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8841954B2 (en) | 2012-06-15 | 2014-09-23 | Denso Corporation | Input signal processing device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1451666B1 (en) | Glitch free clock selection switch | |
JP5317356B2 (ja) | クロック制御信号生成回路、クロックセレクタ、及び情報処理装置 | |
JP5905243B2 (ja) | 集積回路、クロックゲート回路、および方法 | |
JP2008311767A (ja) | 半導体装置 | |
JP2008059193A (ja) | クロック切替回路 | |
JP3898371B2 (ja) | 同期式dram半導体装置 | |
JP2002251227A (ja) | クロック監視回路、データ処理装置、データ処理システム | |
JP5123150B2 (ja) | トリガー信号検出装置 | |
US7003683B2 (en) | Glitchless clock selection circuit | |
JP2005157883A (ja) | リセット回路 | |
JP2007281642A (ja) | 半導体集積回路 | |
JP2007251603A (ja) | 半導体集積回路 | |
JP2000013206A (ja) | クロックモニタ回路及び同期式半導体メモリ装置 | |
US7243244B2 (en) | Microprocessor and operation mode switching method for the microprocessor | |
JP4192485B2 (ja) | マイクロコンピュータ | |
JP2006072777A (ja) | 半導体論理回路におけるクロック分配回路およびその方法 | |
JP3779073B2 (ja) | クロック制御装置 | |
JP5029161B2 (ja) | 半導体集積装置 | |
JP2008283248A (ja) | ホールドフリーレジスタセル | |
JP2004078642A (ja) | 割込み制御回路 | |
JP2964704B2 (ja) | クロック停止回路 | |
JP2001035148A (ja) | データ処理装置 | |
JP2001216047A (ja) | 遅延調整回路 | |
JP4894218B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
JP4750505B2 (ja) | クロック切り換え回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20090707 |